CN101304485B - 一种坏点补偿的方法及装置 - Google Patents

Abstract

本发明的实施例中公开了一种坏点补偿的方法，该方法包括：A、确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值；B、根据当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿。本发明的实施例中还公开了一种坏点补偿的装置，该装置包括：获取模块和补偿模块。通过使用上述的方法和装置，可提高图像传感器的成像质量，同时还可对坏点进行快速搜索，节省检测的时间。

Description

一种坏点补偿的方法及装置

技术领域

本发明涉及数字图像处理技术，尤其是指一种坏点补偿的方法及装置。

背景技术

由于目前图像传感器的制造工艺所限，因此制造出来的图像传感器中将不可避免地存在一些坏点(dead pixel)。所谓坏点，是指不随感光度变化，始终呈现同一种颜色(例如，白色、黑色或彩色)的像素点。坏点的存在，是图像质量下降的原因之一，因此对坏点进行补偿，对于提高成像质量是非常必要的。

在现有技术中，对图像传感器进行坏点检测的一般方法为：

步骤1，通过图像传感器获取在均匀光照条件下的某一均匀、白色物体(例如，一张白板)的单张或多张图像，如果是多张图像，则根据所获取的多张图像合成一张图像；求取整个或部分图像的平均亮度值avg1，对该图像中的每个像素点进行判断，如果当前像素点的亮度值和avg1的差值的绝对值大于阈值th1，则该点为暗的坏点；

步骤2，在完全黑暗的环境中(例如，可通过盖上相机的镜头盖来获得完全黑暗的环境)，通过图像传感器获取单张或多张图像，如果是多张图像，则根据所获取的多张图像合成一张图像；求取整个或部分图像的平均亮度值avg2，对每个像素点判断，如果当前像素点的亮度值和avg2的差值的绝对值大于阈值th2，则该点为亮的坏点；

步骤3，合并上述的亮的坏点和暗的坏点，得到所有的坏点。

当检测到图像传感器中的坏点时，还需要对所检测的坏点进行补偿，从而提高成像质量。一般来说，对图像传感器的坏点进行检测和补偿有如下所述的两类方法：

1、实时的检测和补偿。在该方法中，将实时地对图像传感器进行检测，并对检测到的坏点进行补偿，即每检测到一个坏点则立即对该坏点进行补偿。但是，由于该方法是一种实时的检测，容易受到内存、检测时间以及算法复杂度等的影响，无法进行非常准确的坏点检测，从而无法对检测到的坏点进行高质量的补偿。

2、基于表格的检测和补偿方法。在该方法中，对坏点的检测过程可进行离线处理，因此受内存、检测时间以及算法复杂度等的影响较小，从而可以更加准确地进行坏点检测。当坏点检测完毕后，将检测到的坏点的坐标存储在一个坏点表格中，并将该坏点表格存储在闪存(Flash)或电可擦写可编程只读存储器(EEPROM)等存储器中，从而保证系统掉电后该坏点表格中的数据不会丢失。此外，在该方法中，当对检测到的坏点进行补偿时，可根据上述所存储的的坏点表格，来判断图像传感器中的当前像素点是否是坏点，如果是坏点，则对该当前点进行补偿；否则，不对该当前像素点进行补偿。

在上述的第二种方法中，对检测到的坏点进行补偿时，将直接对坏点进行简单的补偿，而不考虑该坏点附近的其他像素点的情况；而且，当需要判断图像传感器的当前像素点是否为坏点时，一般是将当前像素点的坐标与坏点表格中所存储的每个坏点的坐标进行比较，如果坐标相符，则该当前像素点为坏点；如果与坏点表格中所有坏点的坐标都不相符，则表示该当前像素点不是坏点。

因此，在上述的第二种方法中，由于是直接对坏点进行简单的补偿，而不考虑该坏点附近的其他像素点的情况，因此补偿效果欠佳，从而影响成像质量；此外，由于需要将该当前像素点的坐标与整个表格中所有坏点的坐标都比较一遍后才可确定该当前像素点不是坏点，期间需要进行多次比较，因此非常费时。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的主要目的在于提供一种坏点补偿的方法及装置，从而提高图像传感器的成像质量。

为达到上述目的，本发明实施例中的技术方案是这样实现的：

一种坏点补偿的方法，该方法包括：

A、确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值；

B、将同一方向上的两个参照点组成一个参照点组；

当有至少一个参照点组中没有坏点时，计算没有坏点的参照点组中的两个参照点的强度值之差的绝对值；选取绝对值最小的参照点组；将所选取的参照点组中的两个参照点的平均强度值作为当前需补偿的坏点的强度值；

当所有的参照点组中都有至少一个坏点时，从所有非坏点的参照点中选取与当前需补偿的坏点距离最近的参照点；如果有两个距离最近的参照点可供选取，则随机选取其中的一个参照点；将所选取的参照点的强度值作为当前需补偿的坏点的强度值；

当所有的参照点均为坏点时，保持当前需补偿的坏点的强度值不变。

本发明的实施例中还提供了一种坏点补偿的装置，该装置包括：获取模块和补偿模块；

附图说明

所述获取模块，用于获取当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，将所获取的强度值发送给所述补偿模块；

所述补偿模块，用于根据所接收到的当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿；

其中，所述补偿模块包括：选取单元和补偿单元；

所述选取单元，用于当所有的参照点均为坏点时，将当前需补偿的坏点的强度值发送给所述补偿单元；当所有的参照点中至少有一个为非坏点时，将同一方向上的两个参照点组成一个参照点组，根据当前需补偿的坏点的各个非坏点的参照点的强度值，选取一个参照点组或参照点；将所选取的参照点组或参照点发送给所述补偿单元；

所述补偿单元，用于当所接收到的为强度值时，将该强度值作为该当前需补偿的坏点的强度值；当所接收到的为参照点组时，将所接收到的参照点组中的两个参照点的平均强度值作为当前需补偿的坏点的强度值；当所接收到的为参照点时，将所接收到的参照点的强度值作为当前需补偿的坏点的强度值。

综上可知，本发明的实施例中提供了一种坏点补偿的方法及装置。由于在本发明实施例中所提供的方法和装置中，可根据当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿，因此可按照最平滑的方向对图像传感器中当前需补偿的坏点进行补偿，从而可大大提高图像传感器的成像质量。

图1为本发明实施例中坏点的补偿方法的流程图。

图2为本发明实施例中当前需补偿的坏点的各邻近点的示意图。

具体实施方式

图3为本发明实施例中当前需补偿的坏点的参照点的示意图.

图4所示为本发明实施例中两个坏点具有部分相同的参照点的示意图。

图5为本发明实施例中第二种坏点的补偿方法的流程图。

图6为本发明实施例中第三种坏点的补偿方法的流程图。

图7为本发明实施例中的坏点判断方法的流程图。

图8为本发明实施例中坏点补偿的装置的示意图。

为使本发明的目的、技术方案和优点表达得更加清楚明白，下面结合附图及具体实施例对本发明再作进一步详细的说明。

为了提高成像质量，在本发明的实施例中提出了一种坏点的补偿方法。图1为本发明实施例中坏点的补偿方法的流程图。如图1所示，本发明实施例中坏点的补偿方法包括如下所述的步骤：

步骤101，确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值。

在本发明的实施例中，所述像素点的强度值用于表示该像素点的像素值的大小。例如，在灰度图像中，所述的强度值即为像素点的灰度值；而在RGB图像中，所述的强度值即为像素点的颜色分量值。

在本发明的实施例中，可为每个需补偿的坏点选取预定数目的像素点作为参照点，用于对需补偿的坏点进行补偿。所选取的参照点是与当前需补偿 的坏点属于同种类型的像素点。例如，在拜尔(Bayer)原始数据或RGB图像数据中，参照点是与当前需补偿的坏点属于同种颜色分量的像素点；在YUV、Ycbcr、YIQ或Lab等类型的图像数据中，参照点是与当前需补偿的坏点属于同种分量的像素点。另外，所选取的参照点的数目一般为偶数，且所选取的参照点以需补偿的坏点为中心呈中心对称分布。

例如，可将当前需补偿的坏点的邻近点作为当前需补偿的坏点的参照点。而所述当前需补偿的坏点的邻近点是指在图像传感器上与当前需补偿的坏点分别在各方向上距离最近的，与当前需补偿的坏点都属于拜尔(Bayer)原始数据中的同种颜色分量的像素点，一般情况下，一个坏点的周围有8个邻近点，但如果该坏点位于图像传感器的边缘，则其邻近点的数目将小于8个。图2为本发明实施例中当前需补偿的坏点的各邻近点的示意图。如图2所示，如果当前需补偿的坏点为P4，则P4的各个邻近点分别为P0～P3、P5～P8。其中，图2中所示的空格表示与当前需补偿的坏点不属于同种分量的其他像素点。

在本发明的实施例中，可将当前需补偿的坏点的8个邻近点按垂直、水平、正对角、反对角等四个方向对应地分成4个邻近点组，即将同一方向上的两个邻近点组成一个邻近点组。如图2所示，如果当前需补偿的坏点为P4，则P4在垂直、水平、正对角、反对角四个方向上的邻近点组分别为：(P1，P7)、(P3，P5)、(P0，P8)、(P2，P6)。

在本发明的实施例中，还可根据上述的图2进行水平方向的扩展，为当前需补偿的坏点选取更多的参照点。图3为本发明实施例中当前需补偿的坏点的参照点的示意图。如图3所示，设当前像素点为P10，则可选取图3中的P00～P09、P11～P20等20个像素点作为P10的参照点；然后，可将上述所选取的20个参照点相应地分成10个参照点组，每个参照点组包括两个在同一方向上的参照点，同一参照点组中的两个参照点之间的连线的中点为当前像素点P10，例如，对上述20个参照点进行分组后可得到(P00，P20)、(P01，P19)、…、(P09，P11)等10个参照点组。

由此可知，图2中所示的8个邻近点属于图3中所述的参照点的一种特例。同理，还可根据上述的图2进行垂直方向的扩展，为当前需补偿的坏点选取参照点，并将所选取的参照点分成相应的参照点组，选取和分组的方法与图3所示的方法相同，因此不再赘述。

理论上来说，所选取的参照点越多，对当前需补偿的坏点的补偿就更精确、更平滑。但是，考虑到计算复杂度、存储空间的限制等方面的因素，所选取的参照点的数目不宜太大，因此，在实际应用中，可根据实际情况设定所选取的参照点的数目。

步骤102，根据上述各个参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿。

在本发明的实施例中，在对当前需补偿的坏点进行补偿之前，可通过多种方法来判断当前需补偿的坏点的各个参照点是否为坏点，例如，可通过如下所述的步骤501或步骤602、603中所记录的各个像素点的标志位来判断各个参照点是否为坏点；或者，也可通过将各个参照点的坐标与坏点表格中的坏点的坐标逐个进行对比(即遍历坏点表格)的方式来进行判断。

此外，如果当前需补偿的坏点与已进行补偿的坏点具有至少一个相同的参照点时，可直接利用上述已进行补偿的坏点对所述相同的参照点的判断结果，而只需判断不相同的参照点是否为坏点。图4所示为本发明实施例中两个坏点具有部分相同的参照点的示意图。如图4所示，已进行补偿的坏点P4与当前需补偿的坏点P5具有相同的参照点(此时，所述的参照点为邻近点)P1、P2、P7、P8，且P4已被判断为坏点，因此，当对当前需补偿的坏点P5进行补偿时，可直接利用在对P4进行补偿时对参照点P1、P2、P7、P8的判断结果(即P1、P2、P7、P8是否为坏点的判断结果)以及P4是坏点的判断结果，而只需判断参照点P9、P10、P11是否为坏点，从而可节省对参照点是否为坏点进行判断的时间。

此外，在步骤101中，有多种选取参照点的方法。为了叙述的简便，在以下的步骤中，将以图2所示的情况为例(即设P4为当前需补偿的坏点， 选取P4周围的8个邻近点作为参照点)，对本发明实施例中提出的坏点的补偿方法进行详细地说明，此时，所选择的参照点即为邻近点，参照点组即为邻近点组。对于其他的选取参照点的情况，也同样可通过如下所述的方法对当前需补偿的坏点进行补偿，因此不再赘述。

在本发明的实施例中，对当前需补偿的坏点进行补偿的方法可以分为如下所述的几种情况来进行描述：

1)有至少一个参照点组(即邻近点组)中没有坏点。

在此情况下，先分别计算没有坏点的邻近点组中的两个邻近点的强度值之差的绝对值，选取绝对值最小的邻近点组；将所选取的邻近点组中的两个邻近点的平均强度值作为当前需补偿的坏点的强度值，从而完成对当前需补偿的坏点的补偿。

示例1.1：

如果当前需补偿的坏点P4的邻近点P0～P3、P5～P8均不是坏点，则可求出以P4为中心的，在垂直、水平、正对角、反对角等四个方向的梯度：

DV＝abs(P1_out-P7_out)；DH＝abs(P3_out-P5_out)；

DDL＝abs(P0_out-P8_out)；DDR＝abs(P2_out-P6_out).

其中，DV为垂直方向的梯度；DH为水平方向的梯度；DDL为正对角方向的梯度；DDR为反对角方向的梯度；函数abs表示取绝对值的操作；“P1_out”表示邻近点P1的强度值，并依此类推。

从上述四个方向的梯度中选取绝对值最小的梯度；如果DV是绝对值最小的梯度值，则选取邻近点组(P1，P7)，并将P1、P7的平均强度值作为当前需补偿的坏点P4的强度值，即P4_out＝(P1_out+P7_out)/2，从而完成对当前需补偿的坏点P4的补偿；依此类推，如果DH是绝对值最小的梯度值，则P4_out＝(P3_out+P5_out)/2；如果DDL是绝对值最小的梯度值，则P4_out＝(P0_out+P8_out)/2；如果DDR是绝对值最小的梯度值，则P4_out＝(P2_out+P6_out)/2。

示例1.2：

如果当前需补偿的坏点P4的邻近点P1、P7、P2、P6、P3不是坏点，其他的邻近点均为坏点，则上述5个邻近点可组成两个邻近点组(P1，P7)和(P2，P6)，因此将只计算DV和DDR，但不考虑邻近点P3的强度值，即不计算DH，而且：

如果DV是绝对值最小的梯度值，则P4_out＝(P1_out+P7_out)/2；

如果DDR是绝对值最小的梯度值，则P4_out＝(P2_out+P6_out/2。

2)所有的参照点组(即邻近点组)中都有至少一个坏点。

在此情况下，则从所有非坏点的邻近点中选取与当前需补偿的坏点距离最近的邻近点，如果有两个距离最近的邻近点可供选取，则随机选取其中的一个邻近点；将所选取的邻近点的强度值作为当前需补偿的坏点的强度值，从而完成对当前需补偿的坏点的补偿。

示例2.1：

如果当前需补偿的坏点P4的邻近点P0、P1、P2、P3不是坏点，其他的邻近点均为坏点，则由于P0、P2离P4的距离大于P1、P3离P4的距离，因此可P1、P3中随机选取一个邻近点，并将所选取的邻近点的强度值作为P4的强度值。

3)所有的参照点(即邻近点)均为坏点。

在此情况下，则可将当前需补偿的坏点的强度值作为该当前需补偿的坏点的强度值(即保持当前需补偿的坏点的强度值不变，相当于没有对当前需补偿的坏点进行补偿)。

示例3.1：

如果当前需补偿的坏点P4的邻近点均为坏点，则：P4_out＝P4_out。

以上所述为根据非坏点的参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿的方法。通过上述的补偿方法，可实现在最平滑的方向对当前需补偿的坏点进行补偿，从而大大提高图像传感器的成像质量。

此外，在本发明的实施例中，还提出了两种先判断当前像素点是否为坏点，再对相应的坏点进行补偿的方法。下面将结合具体实施例，对本发明实 施例中另外两种坏点的补偿方法进行详细介绍。

在本发明实施例中的第二种坏点的补偿方法中，可先按预设的顺序将坏点坐标存储在坏点表格中，再根据坏点检测的结果设置图像传感器中的每一个像素点的标识位的值；然后根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点，当当前像素点为坏点时，再通过步骤101～102的方法对坏点进行补偿。

图5为本发明实施例中第二种坏点的补偿方法的流程图。如图5所示，本发明实施例中第二种坏点的补偿方法包括如下所述的步骤：

步骤501，对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中。

在本发明的实施例中，将对图像传感器的坏点检测过程进行离线处理。本步骤中的对坏点的检测方法与背景技术中的对坏点的检测方法相同。所述的坏点坐标可以表示成(X，Y)或(Y，X)的形式，其中，X表示该坏点的横坐标，Y表示该坏点的纵坐标。另外，上述预设的顺序是预先设定的存储坏点的顺序，例如，按坐标递增的方式存储坏点，即可以将坏点按横坐标从小到大的顺序依次存储到坏点表格中，而如果多个坏点的横坐标相同，则将所述的横坐标相同的坏点按纵坐标从小到大的顺序依次存储在坏点表格中；或者，可以将坏点按纵坐标从小到大的顺序依次存储到坏点表格中，而如果有多个坏点的纵坐标相同，则将纵坐标相同的坏点按横坐标从小到大的顺序依次存储在坏点表格中。此外，所述的坏点表格可以是一维形式的表格，也可以是二维形式的表格。

另外，在本步骤中，还可为图像传感器的每一个像素点设置一个相应的标识位，并根据上述坏点检测的结果设置并存储各个像素点的标识位的值，该标识位用于标识该像素点是否为坏点。例如，当标识位的值为1时，表示该像素点为坏点；而当标识位的值为0时，则表示该像素点不是坏点。存储所述的各个像素点的标识位，例如，可将所有的标识位存储在存储器(例如，缓存)中，该存储器中的存储单元的数目与图像传感器中所有像素点的总数目相同，且存储单元与像素点之间是一一对应的；或者，也可将的标识位存 储在一个表格中，该表格的记录单元的数目与图像传感器中所有像素点的总数目相同，且记录单元与像素点之间也是一一对应的。例如，如果图像传感器具有(640×480)个像素点时，则所需存储的标识位也将有(640×480)个。因此，在步骤101中，可根据与每个邻近点(即参照点)相对应的标识位来判断各个邻近点是否为坏点。

步骤502，根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点，如果是，则执行步骤505；否则，执行步骤503；

在本发明的实施例中，可在需要对上述检测到的坏点进行补偿时，再实时进行上述的判断。在进行第一次判断时，所述的当前像素点为图像传感器的第一个需要进行判断的像素点(即图像传感器中第一行的第一个像素点)。

由于在步骤501中，已经存储了各个像素点的标识位，因此，在本步骤中，可根据当前像素点所对应的标识位来判断该当前像素点是否为坏点。

步骤503，判断当前像素点是否为图像传感器中的最后一个像素点，如果是，则执行步骤506；否则，执行步骤504；

步骤504，将图像传感器中当前像素点的下一个像素点作为当前像素点，返回步骤502；

步骤505，对当前像素点进行补偿，返回执行步骤503。

在本发明的实施例中，对当前像素点的补偿过程与上述步骤101～步骤102相同。在此不再赘述。其中，在步骤102中，可根据步骤501中所存储的与每个邻近点相对应的标识位来判断各个邻近点是否为坏点，也可根据其他的方式判断各个邻近点是否为坏点。

步骤506，结束流程。

在本发明实施例中，还提出了第三种坏点的补偿方法。在该方法中，可先按预设的顺序将坏点坐标存储在坏点表格中，根据所述的坏点表格设置当前像素点的预定范围内的每一个像素点的标识位的值；然后，根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点；当当前像素点为坏点时，再通过步骤101～102的方法对坏点进行补偿。

图6为本发明实施例中第三种坏点的补偿方法的流程图。如图6所示，本发明实施例中第三种坏点的补偿方法包括如下所述的步骤：

步骤601，对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中。

该步骤中的检测方法以及坏点表格的生成方法与上述步骤501中的方法相同。但是，由于在步骤501中，需要存储图像传感器中每个像素点的标识位，所需的标识位的数目与图像传感器中所有像素点的总数目相同，从而占用了较大的存储空间。所以，在本发明实施例的步骤601中，不再存储所有像素点的标识位，以节省存储空间。

步骤602，为当前像素点的预定范围内的每一个未设置标识位的像素点设置一个相应的标识位，存储所述的标识位。

在本发明的实施例中，可在需要对上述检测到的坏点进行补偿时，再根据当前像素点实时设定预定范围。所述当前像素点的预定范围则可根据实际应用情况来进行设定，例如，可将当前像素点的预定范围设置为：整个图像传感器中的所有像素点。

在本发明的实施例中，为了节省存储标识位的空间，可将当前像素点的预定范围设置为：

1)如果当前像素点是图像传感器的第一行中的像素点，则所述的预定范围为当前像素点的所在行(即图像传感器的第一行)和当前像素点的后第二行(即图像传感器的第三行)中的所有像素点；

2)如果当前像素点是图像传感器的最后一行中的像素点，则所述的预定范围为当前像素点的所在行(即图像传感器的最后一行)和当前像素点的前第二行(即图像传感器的倒数第三行)中的所有像素点；

3)如果当前像素点不是图像传感器的第一行或最后一行中的像素点，则所述的预定范围为当前像素点的前第二行、当前像素点的所在行和当前像素点的后第二行中的所有像素点。

由上可知，图像传感器的同一行中的像素点的预定范围是相同的，且相 邻两行中的像素点的预定范围有重合的部分，因此，在本步骤中，可利用上述性质，对于预定范围内的已被设置标识位的像素点不再设置标识位，而仅对每一个未设置标识位的像素点设置并存储标识位。

例如，图2中所示的像素点P3、P4、P5的预定范围是相同的，即所述3个像素点的预定范围均为像素点P0所在行、P3所在行和P6所在行内的每一个像素点；此外，像素点P0和P3的预定范围有重合部分(即P0所在行已经P3所在行)。因此，如果当前像素点为P0，且P0为图像传感器的第一行中的第一个像素点，则像素点P0的预定范围为：P0所在行和P3所在行中的每一个像素点；所以，将为预定范围内的每一个像素点设置并存储标识位。而由于P1的预定范围与P0的预定范围相同，因此，如果当前像素点为P1，则无需再设置新的标识位；另外，由于P3的预定范围与P0的预定范围的重合部分中的像素点已经被设置了标识位，因此，如果当前像素点为P3，则只需为P6所在行的每一个像素点设置并存储标识位。

此外，在本发明的实施例中，可预先定义标识位的值所代表的含义。例如，可预先定义：如果某像素点的标识位的值为1，则表示该像素点为坏点；如果某像素点的标识位的值为0，则表示该像素点不是坏点。

步骤603，根据坏点表格逐个判断当前像素点的预定范围内的每一个未被判断的像素点是否为坏点，并根据判断结果设置与被判断的像素点相应的标识位的值。

在本发明的实施例中，可根据如图6所述的方法逐个判断预定范围内的每一个未被判断的像素点是否为坏点，并根据判断结果设置与被判断的像素点相应的标识位的值。图7为本发明实施例中的坏点判断方法的流程图。如图7所示，本发明实施例中的的坏点判断方法包括如下所述的步骤：

步骤6031，将当前被判断的像素点的坐标与坏点表格中的当前坏点的坐标进行比较，如果坐标相同，则表示当前被判断的像素点是坏点，执行步骤6035；如果坐标不相同，则执行步骤6032；

在本发明的实施例中，在进行第一次比较时，所述的当前被判断的像素 点为预定范围内的第一个未被判断的像素点，所述当前坏点为坏点表格中所存储的第一个坏点。

步骤6032，将当前被判断的像素点所对应的标识位设置为表示不是坏点的值。

在本发明的实施例中，可根据步骤602中预先定义的标识位的值所代表的含义来设置当前被判断的像素点所对应的标识位的值。例如，如果标识位的值为0表示该标识位相对应的像素点不是坏点，则在本步骤中，可将当前被判断的像素点所对应的标识位设置为0。

步骤6033，判断当前被判断的像素点是否为预定范围内的最后一个像素点，如果是，则执行步骤6038；否则，执行步骤6034；

步骤6034，将预定范围内当前被判断的像素点的下一个像素点作为当前被判断的像素点，返回步骤6031；

步骤6035，将当前被判断的像素点所对应的标识位设置为表示坏点的值。

在本发明的实施例中，可根据步骤602中预先定义的标识位的值所代表的含义来设置当前被判断的像素点所对应的标识位的值。例如，如果标识位的值为1表示该标识位相对应的像素点是坏点，则在本步骤中，可将当前被判断的像素点所对应的标识位设置为1。

步骤6036，判断当前坏点是否为坏点表格中的最后一个坏点，如果是，则执行步骤6038；否则，执行步骤6037；

步骤6037，将坏点表格中当前坏点的下一个坏点作为当前坏点，返回步骤6034；

步骤6038，结束流程。

通过如上所述的步骤，可完成对预定范围内的每一个像素点是否为坏点的判断。由于同一行中的像素点具有相同的预定范围，因此在实际操作中，只需对同一行中的第一个像素点的预定范围内的每一个未被判断的像素点进行判断，并设置相应的标识位；而对于同一行中的其他像素点，则可直接 利用上述对同一行中的第一个像素点的预定范围内的像素点的判断结果和设置结果。例如，如果当前像素点为某一行中的第一个像素点，则可先执行上述步骤602和603，然后再通过如下所述的步骤完成对当坏点的补偿；而如果当前像素点不是某一行中的第一个像素点，则可直接通过随后所述的方法完成对当坏点的补偿，而可不执行步骤602和603；当然，也可先执行上述步骤602和603，再对坏点进行补偿，但是由于在执行步骤602和603时，当前像素点的预定范围内并没有未设置标识位的像素点，也没有未被判断的像素点，因此在实际效果上也相当于跳过了步骤602和603。

在随后的步骤604～608中，可根据标识位的值判断每个所需判断的像素点是否为坏点，并对判断结果中的坏点进行补偿。所述的补偿方法与步骤101～步骤102中的补偿方法相同。所述的步骤604～608为：

步骤604，根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点，如果是，则执行步骤607；否则，执行步骤605；

在本发明的实施例中，在第一次根据标识位的值判断像素点是否为坏点时，当前像素点即为所需进行坏点判断的第一个像素点(例如，图像传感器的第一行中的第一个像素点)。

另外，由于在步骤603中，已经存储了当前像素点的预定范围内的各个像素点的标识位，因此，在本步骤中，可根据当前像素点所对应的标识位来判断该当前像素点是否为坏点。

步骤605，判断当前像素点是否为图像传感器的一行中的最后一个像素点，如果是，则执行步骤608；否则，执行步骤606；

步骤606，将当前像素点的下一个像素点作为当前像素点，返回执行步骤604。

步骤607，对当前像素点进行补偿，返回执行步骤605。

在本发明的实施例中，对当前像素点的补偿过程与上述步骤101～步骤102相同。在此不再赘述。其中，在步骤102中，可根据步骤603中所存储的与每个参照点(或邻近点)相对应的标识位来判断各个参照点(或邻近点) 是否为坏点，也可根据其他的方式判断各个参照点(或邻近点)是否为坏点。

步骤608，判断当前像素点是否为图像传感器中最后一行中的最后一个像素点，如果是，则结束流程；否则，将当前像素点的下一个像素点作为当前像素点(此时，当前像素点必然为图像传感器中某一行中的第一个像素点)，返回执行步骤602。

在上述的步骤6031～6038中，由于在进行第一次坐标比较时，当前被判断的像素点为图像传感器的第一个未被判断的的像素点，而当前坏点为坏点表格中所存储的第一个坏点，因此，如果当前被判断的像素点的坐标小于坏点表格中的当前坏点的坐标，则该当前被判断的像素点肯定不是坏点；如果当前被判断的像素点的坐标等于坏点表格中的当前坏点的坐标，则该当前被判断的像素点为坏点。此时，根据上述的流程，会将坏点表格中的下一个坏点作为当前坏点，并将图像传感器中当前被判断的像素点的下一个像素点作为当前被判断的像素点，因此当前被判断的像素点的坐标仍然不大于坏点表格中的当前坏点的坐标。所以，在上述的方法中，不必将当前被判断的像素点的坐标与坏点表格中当前坏点之前的坏点的坐标进行比较，而只需将当前被判断的像素点与坏点表格中的当前坏点的坐标进行一次比较就可判断该当前被判断的像素点是否为坏点。例如，如果当前被判断的像素点的坐标与坏点表格中最后一个坏点的坐标相同，按照现有技术中的方法，如果该坏点表格中有p个坏点，则需要进行p次比较后才能确认该当前被判断的像素点为坏点，而在本发明实施例所提供的方法中，只需比较1次即可确认该当前被判断的像素点是否为坏点。因此，使用上述的方法将大大节约进行比较、判断的时间，从而提高工作效率。

图8为本发明实施例中坏点补偿的装置的示意图。如图8所示，本发明实施例中的坏点补偿的装置主要包括：获取模块和补偿模块。

获取模块，用于获取当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，将所获取的强度值发送给补偿模块；

补偿模块，用于根据所接收到的当前需补偿的坏点的各个参照点的强度 值，对当前需补偿的坏点进行补偿。

另外，上述的补偿模块还包括：选取单元和补偿单元。

选取单元，用于当所有的参照点均为坏点时，将当前需补偿的坏点的强度值发送给补偿单元；当所有的参照点中至少有一个为非坏点时，将同一方向上的两个参照点组成一个参照点组，根据当前需补偿的坏点的各个非坏点的参照点的强度值，选取一个参照点组或参照点；将所选取的参照点组或参照点发送给补偿单元；

补偿单元，用于当所接收到的为强度值时，将该强度值作为该当前需补偿的坏点的强度值；当所接收到的为参照点组时，将所接收到的参照点组中的两个参照点的平均强度值作为当前需补偿的坏点的强度值；当所接收到的为参照点时，将所接收到的参照点的强度值作为当前需补偿的坏点的强度值。

上述的坏点补偿的装置还可包括：如图8中虚线所示的检测模块和设置处理模块。

检测模块，用于对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中；将所述坏点表格发送给所述比较模块；为当前像素点的预定范围内的每一个未设置标识位的像素点设置一个相应的标识该像素点是否为坏点的标识位，存储所述的标识位；

设置处理模块，用于根据坏点表格判断当前像素点的预定范围内的每一个未被判断的像素点是否为坏点，并根据判断结果设置与被判断的像素点相应的标识位的值；根据标识位的值判断每个所需判断的像素点是否为坏点，如果是坏点，则将该坏点作为当前需补偿的坏点，将当前需补偿的坏点的坐标发送给所述获取模块；

或者，上述的坏点补偿的装置还可包括：如图8中虚线所示的检测模块和设置处理模块。

所述检测模块，用于对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中；将所述坏点表格发送给所述比较模块；为图 像传感器的每一个像素点设置一个相应的标识该像素点是否为坏点的标识位，根据坏点检测的结果设置并存储各个像素点的标识位的值；

所述设置处理模块，用于根据所述标识位的值判断当前像素点是否为坏点，如果是坏点，则将该坏点作为当前需补偿的坏点，将当前需补偿的坏点的坐标发送给所述获取模块。

而所述获取模块，则可读取所述检测模块中所存储的当前需补偿的坏点的每个参照点的标识位，并根据每个参照点的标识位判断该参照点是否为坏点。

由于在本发明实施例中所提供的方法和装置中，可根据当前需补偿的坏点的各个非坏点的参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿，因此可按照最平滑的方向对当前需补偿的坏点进行补偿，从而可大大提高图像传感器的成像质量；同时，还可对当前所检测的像素点是否为坏点进行快速地判断，从而可大大节省用于比较、判断的时间，提高工作效率。

以上所述，仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (14)

1.一种坏点补偿的方法，其特征在于，该方法包括：

A、确定当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值；

B、将同一方向上的两个参照点组成一个参照点组；

当有至少一个参照点组中没有坏点时，计算没有坏点的参照点组中的两个参照点的强度值之差的绝对值；选取绝对值最小的参照点组；将所选取的参照点组中的两个参照点的平均强度值作为当前需补偿的坏点的强度值；

当所有的参照点组中都有至少一个坏点时，从所有非坏点的参照点中选取与当前需补偿的坏点距离最近的参照点；如果有两个距离最近的参照点可供选取，则随机选取其中的一个参照点；将所选取的参照点的强度值作为当前需补偿的坏点的强度值；

当所有的参照点均为坏点时，保持当前需补偿的坏点的强度值不变。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于：所述的强度值用于表示像素点的像素值的大小。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤A之前还包括：

A1、按预设的顺序将坏点坐标存储在坏点表格中；根据所述的坏点表格设置当前像素点的预定范围内的每一个像素点的标识位的值；

A2、根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点，当当前像素点为坏点时，执行步骤A。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述步骤A1包括：

A11、对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中；

A12、为当前像素点的预定范围内的每一个未设置标识位的像素点设置一个相应的标识位，存储所述的标识位；

A13、根据坏点表格判断当前像素点的预定范围内的每一个未被判断的像素点是否为坏点，并根据判断结果设置被判断的像素点的标识位的值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述步骤A13包括：

A131、将当前被判断的像素点的坐标与坏点表格中的当前坏点的坐标进行比较，如果坐标相同，则执行步骤A134；否则，执行步骤A132；

A132，将当前被判断的像素点所对应的标识位设置为表示不是坏点的值；

A133、当当前被判断的像素点不是所述预定范围内的最后一个像素点时，将所述预定范围内当前被判断的像素点的下一个像素点作为当前被判断的像素点，返回步骤A131；

A134、将当前被判断的像素点所对应的标识位设置为表示坏点的值；

A135、当当前坏点不是坏点表格中的最后一个坏点时，将坏点表格中当前坏点的下一个坏点作为当前坏点，将所述预定范围内当前被判断的像素点的下一个像素点作为当前被判断的像素点，返回步骤A131。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述步骤A2包括：

A21、根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点；如果是，则执行步骤A；否则，执行步骤A22；

A22、当当前像素点不是图像传感器的一行中的最后一个像素点时，将当前像素点的下一个像素点作为当前像素点，返回执行步骤A21；否则，执行步骤A23；

A23、当当前像素点不是图像传感器中最后一行中的最后一个像素点时，将当前像素点的下一个像素点作为当前像素点，返回执行步骤A12；否则，结束流程。

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述当前像素点的预定范围为：

所述图像传感器中的所有像素点。

8.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述当前像素点的预定范围为：

如果当前像素点是图像传感器的第一行中的像素点，则所述的预定范围为当前像素点的所在行和当前像素点的后第二行中的所有像素点；

如果当前像素点是图像传感器的最后一行中的像素点，则所述的预定范围为当前像素点的所在行和当前像素点的前第二行中的所有像素点；

如果当前像素点不是图像传感器的第一行或最后一行中的像素点，则所述的预定范围为当前像素点的前第二行、当前像素点的所在行和当前像素点的后第二行中的所有像素点。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤A之前还包括：

A01、按预设的顺序将坏点坐标存储在坏点表格中，根据坏点检测的结果设置图像传感器的每一个像素点的标识位的值；

A02、根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点，当当前像素点为坏点时，执行步骤A。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述步骤A01包括：

对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中；为图像传感器的每一个像素点设置一个相应的标识位，根据坏点检测的结果设置并存储各个像素点的标识位。

11.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述步骤A02包括：

A021、根据标识位的值判断当前像素点是否为坏点；如果是，则执行步骤A；否则，执行步骤A022；

A022、当当前像素点不是图像传感器中的最后一个像素点时，将图像传感器中当前像素点的下一个像素点作为当前像素点，返回步骤A021。

12.一种坏点补偿的装置，其特征在于，该装置包括：获取模块和补偿模块；

所述获取模块，用于获取当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，将所获取的强度值发送给所述补偿模块；

所述补偿模块，用于根据所接收到的当前需补偿的坏点的各个参照点的强度值，对当前需补偿的坏点进行补偿；

其中，所述补偿模块包括：选取单元和补偿单元；

所述选取单元，用于当所有的参照点均为坏点时，将当前需补偿的坏点的强度值发送给所述补偿单元；当所有的参照点中至少有一个为非坏点时，将同一方向上的两个参照点组成一个参照点组，根据当前需补偿的坏点的各个非坏点的参照点的强度值，选取一个参照点组或参照点；将所选取的参照点组或参照点发送给所述补偿单元；

所述补偿单元，用于当所接收到的为强度值时，将该强度值作为该当前需补偿的坏点的强度值；当所接收到的为参照点组时，将所接收到的参照点组中的两个参照点的平均强度值作为当前需补偿的坏点的强度值；当所接收到的为参照点时，将所接收到的参照点的强度值作为当前需补偿的坏点的强度值。

13.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：检测模块和设置处理模块；

所述检测模块，用于对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中；将所述坏点表格发送给所述比较模块；为当前像素点的预定范围内的每一个未设置标识位的像素点设置一个相应的标识该像素点是否为坏点的标识位，存储所述的标识位；

所述设置处理模块，用于根据坏点表格判断当前像素点的预定范围内的每一个未被判断的像素点是否为坏点，并根据判断结果设置与被判断的像素点相应的标识位的值；根据标识位的值判断每个所需判断的像素点是否为坏点，如果是坏点，则将该坏点作为当前需补偿的坏点，将当前需补偿的坏点的坐标发送给所述获取模块；

所述获取模块，还用于读取所述检测模块中所存储的当前需补偿的坏点的每个参照点的标识位，根据每个参照点的标识位判断该参照点是否为坏点。

14.根据权利要求12所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：检测模块和设置处理模块；

所述检测模块，用于对图像传感器进行坏点检测，将检测到的坏点的坐标按预设的顺序存储在坏点表格中；将所述坏点表格发送给所述比较模块；为图像传感器的每一个像素点设置一个相应的标识该像素点是否为坏点的标识位，根据坏点检测的结果设置并存储各个像素点的标识位的值；

所述设置处理模块，用于根据所述标识位的值判断当前像素点是否为坏点，如果是坏点，则将该坏点作为当前需补偿的坏点，将当前需补偿的坏点的坐标发送给所述获取模块；

所述获取模块，还用于读取所述检测模块中所存储的当前需补偿的坏点的每个参照点的标识位，根据每个参照点的标识位判断该参照点是否为坏点。

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