CN101296004A - 微波室外单元的rssi电路 - Google Patents

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张宇
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Abstract

一种微波室外单元的RSSI电路,输入的射频信号经滤波、放大、混频、衰减后,进入二级AGC电路,在前后二级AGC电路中取出信号,分别经放大后,送至一MCU微处理器,另一温度传感器芯片输出,也送至MCU微处理器,MCU微处理器将温度传感器送来的信号,对增益进行修正,并对二级AGC信号进行叠加后,输出接收信号强度指示RSSI。本发明的优点是成本低、高精度、宽范围、高可靠性和体积小。

Description

微波室外单元的RSSI电路
技术领域
本发明涉及一种RSSI电路,特别涉及一种微波室外单元的RSSI电路。
背景技术
微波通信系统室外单元(ODU)的接收的信号强度指示RSSI(Received Signal Strength Indication)是微波通信系统的重要技术指标,RSSI电路是室外单元(ODU)内部的重要电路单元。
微波通信系统室外单元(ODU)一般都需要RSSI检测电路,检测给出RSSI数值,RSSI指示了对端室外单元(ODU)的发送功率情况,以及微波传输通路的情况,也是微波通信系统实现自动功率控制(ATPC)功能的重要依据。
一般的RSSI检测电路,首先从接收的射频信号耦合出部分射频信号,然后与本征进行混频,得到中频信号,最后再使用专门的检波电路,检测得到该信号的幅值,得到RSSI数值,如图1所示,该技术方案需要使用本征信号、混频电路,以及专门的检波电路,电路复杂、成本高、故障点多、模块体积大等缺点。
发明内容
本发明的技术问题是提供一种成本低、精度高的微波室外单元的RSSI电路。
为了解决以上的技术问题,本发明提供了一种微波室外单元的RSSI电路,输入的射频信号经滤波、放大、混频、衰减后,进入二级AGC电路,在前后二级AGC电路中取出信号,分别经放大后,送至一MCU微处理器,另一温度传感器芯片输出,也送至MCU微处理器,MCU微处理器将温度传感器送来的信号,对增益进行修正,并对二级AGC信号进行叠加后,输出接收信号强度指示RSSI。
本发明的优越功效在于:
1)低成本:由于没有使用专门的混频电路和检波电路,整个RSSI电路成本大幅度得到了降低;由于检测对象是室外单元(ODU)的正常接收通路的中频信号,所以检测得到的信号还包括室外单元(ODU)接收电路的大部分特性,使RSSI数值含有更多信息,更能代表整个接收通路的情况,也为室内单元(IDU)提供了更有价值的指示,同时整个电路的成本得到了有效控制;
2)高精度:使用温度校准电路,使得检测精度大幅度提高;
3)宽范围:使用两路信号叠加,不仅更好的满足中频电路的功能需要,也使RSSI检测具有很宽的检测范围,检测范围大于60db;
4)高可靠:电路结构有了很大的简化,故障点大大地降低,模块和设备的可靠性得到了很大的提高;
5)体积小:电路结构更紧凑,有效地减小了电路和设备的体积。
附图说明
图1为现有的RSSI电路的电路原理框图;
图2为本发明的电路原理框图;
图3为温度传感器的电路图;
图中标号说明
1-AGC电路;                2-MCU微处理器;
3-温度传感器芯片。
具体实施方式
请参阅附图所示,对本发明作进一步的描述。
如图2所示,本发明提供了一种微波室外单元的RSSI电路,输入的射频信号经滤波、放大、混频、衰减后,进入二级AGC电路1,在前后二级AGC电路1中取出信号,分别经放大后,送至一MCU微处理器2,另一温度传感器芯片3输出,也送至MCU微处理器2,MCU微处理器2将温度传感器3送来的信号,对增益进行修正,并对二级AGC信号进行叠加后,输出接收信号强度指示RSSI。
室外单元(ODU)从天线接收射频信号,经过滤波放大后,与频率产生电路经过放大滤波送过来的信号进行混频,得到中频信号,中频信号经过多次滤波、放大、衰减后,然后送到两个AGC电路1,然后在经过衰减滤波输出满足要求的中频信号;两个AGC电路1分别得到信号,然后进行放大,送到MCU处理器2,同时MCU采集温度传感器芯片3送过来的信号,得到温度信息,对增益进行修正,并对二级AGC信号进行叠加后,输出接收信号强度指示RSSI。
如图3所示,其中U1为温度传感器芯片3,实现温度传感;C1、C2、C3为滤波电容,R1、R2、R3、R4、U2实现信号放大调理功能。

Claims (1)

1、一种微波室外单元的RSSI电路,输入的射频信号经滤波、放大、混频、衰减后,进入二级AGC电路,其特征在于:
在前后二级AGC电路中取出信号,分别经放大后,送至一MCU微处理器,另一温度传感器芯片输出,也送至MCU微处理器,MCU微处理器将温度传感器送来的信号,对增益进行修正,并对二级AGC信号进行叠加后,输出接收信号强度指示RSSI。
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PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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