CN101285704A - 使用面板检测紫外线强度的方法与其显示装置 - Google Patents

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CN101285704A
CN101285704A CNA2008100859645A CN200810085964A CN101285704A CN 101285704 A CN101285704 A CN 101285704A CN A2008100859645 A CNA2008100859645 A CN A2008100859645A CN 200810085964 A CN200810085964 A CN 200810085964A CN 101285704 A CN101285704 A CN 101285704A
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盛姿华
罗瑞良
李纯怀
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AU Optronics Corp
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AU Optronics Corp
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Abstract

本发明公开了一种使用面板检测紫外线强度的方法与其显示装置。此方法包括以下步骤:首先,配置第一检测单元、第二检测单元、第三检测单元于面板上,用以检测第一波段、第二波段以及第三波段的光源强度,并且将此第一波段、第二波段以及第三波段的光源强度转换成第一电流、第二电流以及第三电流。接着,提供一个处理单元,用以接收并处理所述第一、第二及第三电流,借以获得紫外线强度值。

Description

使用面板检测紫外线强度的方法与其显示装置
技术领域
本发明涉及一种检测紫外线强度的技术,且尤其涉及一种使用面板检测紫外线强度的方法与其显示装置。
背景技术
近年来,随着人类在享受科技所带来的便利之虞,空气污染的问题却越来越严重,以至于地球大气中的臭氧层的破洞逐渐变大,而使得太阳光中的紫外线(包含UB A/B/C)不但能长驱直入至地球表面,且更会危及到地球生物的健康。基此,为了要能有效地防范紫外线对于人类(例如:眼睛及皮肤)的伤害,世界卫生组织(WHO)、联合国环境组织(UNEO)、世界气象组织(WMO)...等便合力制定出紫外线指标(Ultraviolet Index,UVI),以供人类来防范紫外线伤害的参考依据。
在此值得一提的是,紫外线指标的数值由0至11+(含以上)大致可分为五大级(该些数值的等级可因应不同区域/地区而做适应地调整/变更),其中数值0至2表示紫外线的强度为微量级(low)、数值3至5表示紫外线的强度为一般级(moderate)、数值6至7表示紫外线的强度为高量级(high)、数值8至10表示紫外线的强度为过量级(very high),而数值11+(含以上)表示紫外线的强度为危险级(extreme)。
一般来说,若要得知当下太阳光的紫外线指标的数值以防范紫外线的伤害,除了可以通过专属的紫外线测量仪器(例如紫外线强度计,UV intensitymeter)做一量测得知外,更方便的就是通过网络查询气象局所公布的信息而得知。然而,并不是每个人都拥有专属的紫外线测量仪器,且出门在外时,也不见得可以随即通过网络查询的方式而得知当下太阳光的紫外线指标的数值。
发明内容
有鉴于此,本发明所要解决的技术问题在于提供一种使用面板检测紫外线强度的方法与其显示装置,以让使用者可以通过关联于面板的任一显示装置就可以随时随地的知道当下太阳光的紫外线指标的数值,进而有效地防范紫外线对眼睛及皮肤等器官的伤害。
为实现上述目的,本发明提供一种使用面板检测紫外线强度的方法,包括以下步骤:首先,配置第一检测单元于面板上,用以检测第一波段的光源强度,并且将此第一波段的光源强度转换成第一电流。接着,配置第二检测单元于面板上,用以检测第二波段的光源强度,并且将此第二波段的光源强度转换成第二电流。
之后,配置第三检测单元于面板上,用以检测第三波段的光源强度,并且将此第三波段的光源强度转换成第三电流。最后,提供一个处理单元,用以接收并处理所述第一、第二及第三电流,借以获得紫外线强度值。其中,所述第二与第三波段包含在所述第一波段的范围内。
而且,为实现上述目的,本发明另提供一种具有检测紫外线强度的显示装置,其包括下基板、上基板,以及处理单元。其中,下基板包含第一光传感器、第二光传感器以及第三光传感器,用以检测第一波段、第二波段以及第三波段的光源强度,并且将此第一、第二以及第三波段的光源强度转换成第一电流、第二电流以及第三电流。上基板配置于下基板的对侧。处理单元耦接所述第一、第二以及第三光传感器,用以接收并处理所述第一、第二以及第三电流,借以获得紫外线强度值。
所述处理单元会利用所述第一电流来扣除所述第二与第三电流,借以获得紫外线强度值。
本发明主要是利用面板将太阳光的全波段的光源强度转换成电流,并且将可见光以上(例如是波长超过335nm以上)的多个波段的光源强度也转换成电流。如此一来,处理单元只需将全波段的光源强度所对应的电流扣除波长超过可见光以上的部份波段的光源强度所对应的电流后,就可以得知波长短于可见光以下的紫外线波段的紫外线强度值(亦即UVI)。
以下结合附图和具体实施例对本发明进行详细描述,但不作为对本发明的限定。
附图说明
图1A绘示为本发明一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置的正视示意图;
图1B绘示为图1A的具有检测紫外线强度的显示装置的剖面示意图;
图2绘示为本发明一实施例的太阳光的所有波段的光谱图;
图3A绘示为本发明另一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置的正视示意图;
图3B绘示为图3A的具有检测紫外线强度的显示装置的剖面示意图;
图4A绘示为本发明另一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置的正视示意图;
图4B绘示为图4A的具有检测紫外线强度的显示装置400的剖面示意图;
图5A绘示为本发明另一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置的正视示意图;
图5B绘示为图5A的具有检测紫外线强度的显示装置的剖面示意图;
图6绘示为本发明一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图;
图7绘示为本发明另一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图;
图8绘示为本发明另一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图。
其中,附图标记:
100、300、400、500:具有检测紫外线强度的显示装置
101、301、401、501:面板
101a、301a、401a、501a:基板
101b、301b、401b、501b:液晶层
101c、301c、401c、501c:下基板
103、303、403、503:处理单元
105、107、305、307、309、405、407、409、505、507、509、511:检测单元
105a、305a、505a:偏光板
105b、305b、407b、505b:第三光传感器
107a、309a、409a、511a:第一滤色片
107b、309b、409b、511b:第二光传感器
109、311、411、513:第一光传感器(检测单元)
307a、407a、509a:第二滤色片
307b、405b、509b:第四光传感器
405a、507a:第三滤色片
507b:第五光传感器
AA:面板的显示区
S601~S607:本发明一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图各步骤
S701~S709:本发明另一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图各步骤
S801~S811:本发明另一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图各步骤
具体实施方式
本发明欲达成的技术功效是为了要让关联于面板的任一显示装置可以随时随地检测出当下太阳光的紫外线指标的数值(亦即紫外线强度值)。而以下内容将针对本发明的技术手段与功效来做一详加描述给本发明相关领域的技术人员参详。
图1A绘示为本发明一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置100的正视示意图。图1B绘示为图1A的具有检测紫外线强度的显示装置100的剖面示意图。请合并参照图1A及图1B,显示装置100(例如为手机,但并不限制于此)包括由上基板101a(例如彩色滤光基板)、液晶层101b以及下基板101c(例如主动阵列基板)所组成的面板101与处理单元103。其中,上基板101a配置于下基板101c的对侧(非限制于图1B的绘示关系),而液晶层101b则配置于上基板101a与下基板101c之间。
当然,显示装置100更可包括其它元件,例如时序控制器(timingcontroller,T-con)、栅极驱动器(gate driver)、源极驱动器(source driver)以及背光模块(backlight module)于其中,但由于该些元件与面板101间相互搭配,而于面板101的显示区AA内显示影像画面的技术实属本领域的技术人员所熟识的技艺,且其并非为本发明所欲阐述的技术重点,所以在此并不再加以赘述的,而以下仅会针对与本发明相关的技术内容来做一描述。
图2绘示为本发明一实施例的太阳光的所有波段的光谱图,其横轴表示为波长(nm),而纵轴表示为穿透率(%),用来描述不同波段的波长范围。其中,
Figure A20081008596400111
表示红光(R)的波长穿透率曲线;
Figure A20081008596400112
表示蓝光(B)的波长穿透率曲线;
Figure A20081008596400113
表示POL的波长穿透率曲线;
Figure A20081008596400114
表示绿光(G)的波长穿透率曲线;——表示GL的波长穿透率曲线;
Figure A20081008596400115
表示PL的波长穿透率曲线。
请合并参照图1A~图2,下基板101c包含第一光传感器109、第二光传感器107b以及第三光传感器105b,用以检测第一波段、第二波段以及第三波段的光源强度,并将其各别转换成第一电流、第二电流以及第三电流。其中,第二波段与第三波段会包含在第一波段的范围内。
于本实施例中,第一光传感器109、第二光传感器107b以及第三光传感器105b为直接制作在下基板101c上,且第一光传感器109用以当作一检测单元来直接检测太阳光的全波段(亦即第一波段,例如波长为0nm~1000nm的波段)的光源强度,并将其转换成第一电流。
上基板101a包含第一滤色片107a,其对应于下基板101c的第二光传感器107b,且此第一滤色片107a与第二光传感器107b会构成一检测单元107。于本实施例中,第一滤色片107a例如是直接制作在上基板101a上的红色滤色片。也亦因如此,第二光传感器107b会检测太阳光的红光波段(亦即第二波段,例如波长为335nm~450nm的波段)的光源强度,并将其转换成第二电流。在此先值得一提的是,由于第二光传感器107b所检测的太阳光的红光波段的波长会受第一滤色片107a(亦即红色滤色片)的浓度的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的红光波段的波长的数值。
上基板101a更包含一片偏光板(polarizer)105a,其对应于下基板101c的第三光传感器105b,且此偏光板105a与第三光传感器105b会构成一检测单元105。于本实施例中,偏光板105a仅为制作在上基板101a的偏光板的部分。也亦因如此,第三光传感器105b会检测出波长例如是375nm以上(不限制于此数值)的波段(亦即第三波段)的光源强度,并将其转换成第三电流。
处理单元103耦接第一光传感器109、第二光传感器107b以及第三光传感器105b,用以接收并处理经由第一光传感器109、第二光传感器107b以及第三光传感器105b各别转换的第一电流、第二电流以及第三电流,借此来获得太阳光的紫外线强度值(亦即UVI)。
于本实施例中,处理单元103可直接制作在下基板101c上,或者是独立在显示装置100的系统当中,且此处理单元103会利用第一光传感器109所转换的第一电流来扣除第二光传感器107b与第三光传感器105b各别所转换的第二电流与第三电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。但是,较佳的是,处理单元103会各别对第一电流、第二电流以及第三电流乘上对应的一校正系数后,才会利用第一电流来扣除第二电流与第三电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。
如此一来,处理单元103便会获得例如是波长介于280nm~320nm之间的紫外线波段(亦即UVB,)的光源强度所对应紫外线强度值。借此,处理单元103仅需将此紫外线强度值传送至面板101的控制端(例如时序控制器),以让面板101的显示区AA上显示此紫外线强度值的话,使用者就可据以得知当下太阳光的紫外线指标的数值,进而能有效地防范紫外线对其眼睛及皮肤等器官的伤害。
然而,依据本发明的精神,并不限制于上述实施例的实施方式。图3A绘示为本发明另一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置300的正视示意图。图3B绘示为图3A的具有检测紫外线强度的显示装置300的剖面示意图。请合并参照图2及图3A、3B,显示装置300(例如为手机,但并不限制于此)包括由上基板301a(例如彩色滤光基板)、液晶层301b以及下基板301c(例如主动阵列基板)所组成的面板301与处理单元303。其中,上基板301a配置于下基板301c的对侧(非限制于图3B的绘示关系),而液晶层301b则配置于上基板301a与下基板301c之间。
当然,显示装置300更可包括其它元件,例如时序控制器、栅极驱动器、源极驱动器以及背光模块于其中,但由于该些元件与面板301间相互搭配,而于面板301的显示区AA内显示影像画面的技术实属本领域技术人员所熟识的技艺,且其并非为本发明所欲阐述的技术重点,所以在此并不再加以赘述之,而以下仅会针对与本发明相关的技术内容来做一描述。
下基板301c包含第一光传感器311、第二光传感器309b、第三光传感器305b以及第四光传感器307b,用以检测第一波段、第二波段、第三波段以及第四波段的光源强度,并将其各别转换成第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流。其中,第二波段、第三波段以及第四波段会包含在第一波段的范围内。
于本实施例中,第一光传感器311、第二光传感器309b、第三光传感器305b以及第四光传感器307b为直接制作在下基板301c上,且第一光传感器311用以当作一检测单元来直接检测太阳光的全波段(亦即第一波段,例如波长为0nm~1000nm的波段)的光源强度,并将其转换成第一电流。
上基板301a包含第一滤色片309a,其对应于下基板301c的第二光传感器309b,且此第一滤色片309a与第二光传感器309b会构成一检测单元309。于本实施例中,第一滤色片309a例如是直接制作在上基板301a上的红色滤色片。也亦因如此,第二光传感器309b会检测太阳光的红光波段,亦即第二波段的光源强度,并将其转换成第二电流。在此先值得一提的是,由于第二光传感器309b所检测的太阳光的红光波段的波长会受第一滤色片309a(亦即红色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的红光波段的波长的数值。
上基板301a更包含偏光板305a,其对应于下基板301c的第三光传感器305b,且此偏光板305a与第三光传感器305b会构成一检测单元305。于本实施例中,偏光板305a例如是上基板301a偏光板的一部分。也亦因如此,第三光传感器305b会检测出波长例如是375nm以上(不限制于此数值)的波段(亦即第三波段)的光源强度,并将其转换成第三电流。
上基板301a更包含第二滤色片307a,其对应于下基板301c的第四光传感器307b,且此第二滤色片307a与第四光传感器307b会构成一检测单元307。于本实施例中,第二滤色片307a例如是直接制作在上基板301a上的蓝色滤色片。也亦因如此,第四光传感器309b会检测太阳光的蓝光波段(亦即第四波段,例如波长为380nm~550nm波段)的光源强度,并将其转换成第四电流。在此先值得一提的是,由于第四光传感器307b所检测的太阳光的蓝光波段的波长会受第二滤色片307a(亦即蓝色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的蓝光波段的波长的数值。
处理单元303耦接第一光传感器311、第二光传感器309b、第三光传感器307b以及第四光传感器305b,用以接收并处理经由第一光传感器311、第二光传感器309b、第三光传感器307b以及第四光传感器305b各别转换的第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流,借此来获得太阳光的紫外线强度值。
于本实施例中,处理单元303可直接制作在下基板301c上,或者是独立在显示装置300的系统当中,且此处理单元303会利用第一光传感器311所转换的第一电流来扣除第二光传感器309b、第三光传感器307b以及第四光传感器305b各别所转换的第二电流、第三电流以及第四电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。但是,较佳的是,处理单元303会各别对第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流乘上对应的一校正系数后,才会利用第一电流来扣除第二电流、第三电流以及第四电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。
如此一来,处理单元303便会获得波长例如是介于280nm~320nm的紫外线波段(亦即UVB)的光源强度所对应紫外线强度值。借此,处理单元303仅需将此紫外线强度值传送至面板301的控制端(例如时序控制器),以让面板301的显示区AA上显示此紫外线强度值的话,使用者就可据以得知当下太阳光的紫外线指标的数值,进而能有效地防范紫外线对其眼睛及皮肤等器官的伤害。
另外,图4A绘示为本发明另一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置400的正视示意图。图4B绘示为图4A的具有检测紫外线强度的显示装置400的剖面示意图。请合并参照图2及图4A、4B,显示装置400(例如为手机,但并不限制于此)包括由上基板401a(例如彩色滤光基板)、液晶层401b以及下基板401c(例如主动阵列基板)所组成的面板401与处理单元403。其中,上基板401a配置于下基板401c的对侧(非限制于图4B的绘示关系),而液晶层401b则配置于上基板401a与下基板401c之间。
当然,显示装置400还可包括其它元件,例如时序控制器、栅极驱动器、源极驱动器以及背光模块于其中,但由于该些元件与面板401间相互搭配,而于面板401的显示区AA内显示影像画面的技术实属本领域的技术人员所熟识的技艺,且其并非为本发明所欲阐述的技术重点,所以在此并不再加以赘述之,而以下仅会针对与本发明相关的技术内容来做一描述。
下基板401c包含第一光传感器411、第二光传感器409b、第三光传感器407b以及第四光传感器405b,用以检测第一波段、第二波段、第三波段以及第四波段的光源强度,并将其各别转换成第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流。其中,第二波段、第三波段以及第四波段会包含在第一波段的范围内。
于本实施例中,第一光传感器411、第二光传感器409b、第三光传感器407b以及第四光传感器405b为直接制作在下基板401c上,且第一光传感器411用以当作一检测单元来直接检测(亦即没有通过上基板401a及液晶层401b)太阳光的全波段(亦即第一波段,例如波长为0nm~1000nm的波段)的光源强度,并将其转换成第一电流。
上基板401a包含第一滤色片409a,其对应于下基板401c的第二光传感器409b,且此第一滤色片409a与第二光传感器409b会构成一检测单元409。于本实施例中,第一滤色片409a例如是直接制作在上基板401a上的红色滤色片。也亦因如此,第二光传感器409b会检测太阳光的红光波段(亦即第二波段的光源强度,并将其转换成第二电流。由于第二光传感器409b所检测的太阳光的红光波段的波长会受第一滤色片409a(亦即红色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的红光波段的波长的数值。
上基板401a还包含第二滤色片407a,其对应于下基板401c的第三光传感器407b,且此第二滤色片407a与第三光传感器407b会构成一检测单元407。于本实施例中,第二滤色片407a例如是直接制作在上基板401a上的绿色滤色片。也亦因如此,第三光传感器407b会检测太阳光的绿光波段(亦即第三波段,例如波长为450nm~650nm的波段)的光源强度,并将其转换成第三电流。相同地,由于第三光传感器407b所检测的太阳光的绿光波段的波长会受第二滤色片407a(亦即绿色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的绿光波段的波长的数值。
上基板401a还包含第三滤色片405a,其对应于下基板401c的第四光传感器405b,且此第三滤色片405a与第四光传感器405b会构成一检测单元405。于本实施例中,第三滤色片405a是直接制作在上基板401a上的蓝色滤色片。也亦因如此,第四光传感器405b会检测太阳光的蓝光波段(亦即第四波段的光源强度,并将其转换成第四电流。类似于其它滤色片,由于第四光传感器405b所检测的太阳光的蓝光波段的波长会受第三滤色片405a(亦即蓝色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的蓝光波段的波长的数值。
处理单元403耦接第一光传感器411、第二光传感器409b、第三光传感器407b以及第四光传感器405b,用以接收并处理经由第一光传感器411、第二光传感器409b、第三光传感器407b以及第四光传感器405b各别转换的第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流,借此来获得太阳光的紫外线强度值。
于本实施例中,处理单元403可直接制作在下基板401c上,或者是独立在显示装置400的系统当中,且此处理单元403会利用第一光传感器411所转换的第一电流来扣除第二光传感器409b、第三光传感器407b以及第四光传感器405b各别所转换的第二电流、第三电流以及第四电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。但是,较佳的是,处理单元403会各别对第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流乘上对应的一校正系数后,才会利用第一电流来扣除第二电流、第三电流以及第四电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。
如此一来,处理单元403便会获得波长介于280nm~320nm的紫外线波段(亦即UVB,)的光源强度所对应紫外线强度值。借此,处理单元403仅需将此紫外线强度值传送至面板401的控制端(例如时序控制器),以让面板401的显示区AA上显示此紫外线强度值的话,使用者就可据以得知当下太阳光的紫外线指标的数值,进而能有效地防范紫外线对其眼睛及皮肤等器官的伤害。当然,使用者可以根据实际使用的情况,调整各检测单元的检测波段,在此并不限制于上述所举例的紫外线波段。
再者,图5A绘示为本发明另一实施例的具有检测紫外线强度的显示装置500的正视示意图。图5B绘示为图5A的具有检测紫外线强度的显示装置500的剖面示意图。请合并参照图2及图5A、5B,显示装置500(例如为手机,但并不限制于此)包括由上基板501a(例如彩色滤光基板)、液晶层501b以及下基板501c(例如主动阵列基板)所组成的面板501与处理单元503。其中,上基板501a配置于下基板501c的对侧(非限制于图5B的绘示关系),而液晶层501b则配置于上基板501a与下基板501c之间。
当然,显示装置500更可包括其它元件,例如时序控制器、栅极驱动器、源极驱动器以及背光模块于其中,但由于该些元件与面板501间相互搭配,而于面板501的显示区AA内显示影像画面的技术实属本领域的技术人员所熟识的技艺,且其并非为本发明所欲阐述的技术重点,所以在此并不再加以赘述的,而以下仅会针对与本发明相关的技术内容来做一描述。
下基板501c包含第一光传感器513、第二光传感器511b、第三光传感器505b、第四光传感器509b以及第五光传感器507b,用以检测第一波段、第二波段、第三波段、第四波段以及第五波段的光源强度,并将其各别转换成第一电流、第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流。其中,第二波段、第三波段、第四波段以及第五波段会包含在第一波段的范围内。
于本实施例中,第一光传感器513、第二光传感器511b、第三光传感器505b、第四光传感器509b以及第五光传感器507b为直接制作在下基板501c上,且第一光传感器511用以当作一检测单元来直接检测太阳光的全波段(亦即第一波段,例如波长为0nm~1000nm的波段)的光源强度,并将其转换成第一电流。然而,依据本发明的精神,当第一光传感器513的上基板501a包含例如是配向膜或绝缘层(未绘示)也可用来检测太阳光的全波段的光源强度,并将其转换成第一电流。
上基板501a包含第一滤色片511a,其对应于下基板501c的第二光传感器511b,且此第一滤色片511a与第二光传感器511b会构成一检测单元511。于本实施例中,第一滤色片511a例如是直接制作在上基板501a上的红色滤色片。也因如此,第二光传感器511b会检测太阳光的红光波段(亦即第二波段,例如波长为335nm~450nm以及560nm以上的波段)的光源强度,并将其转换成第二电流。由于第二光传感器511b所检测的太阳光的红光波段的波长会受第一滤色片511a(亦即红色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的红光波段的波长的数值。
上基板501a还包含一片偏光板505a,其对应于下基板501c的第三光传感器505b,且此偏光板505a与第三光传感器505b会构成一检测单元505。于本实施例中,偏光板505a可为制作在上基板501a的偏光板的部分。也亦因如此,第三光传感器505b会检测出波长为375nm以上(不限制于此数值)的波段(亦即第三波段)的光源强度,并将其转换成第三电流。
上基板501a还包含第二滤色片509a,其对应于下基板501c的第四光传感器509b,且此第二滤色片509a与第四光传感器509b会构成一检测单元509。于本实施例中,第二滤色片509a例如是直接制作在上基板501a上的绿色滤色片。也亦因如此,第四光传感器509b会检测太阳光的绿光波段(亦即第四波段,例如波长为450nm~650nm的波段)的光源强度,并将其转换成第四电流。由于第四光传感器509b所检测的太阳光的绿光波段的波长会受第二滤色片509a(亦即绿色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的绿光波段的波长的数值。
上基板501a还包含第三滤色片507a,其对应于下基板501c的第五光传感器507b,且此第三滤色片507a与第五光传感器507b会构成一检测单元507。于本实施例中,第三滤色片507a是直接制作在上基板501a上的蓝色滤色片。也亦因如此,第五光传感器507b会检测太阳光的蓝光波段(亦即第五波段,例如波长为380nm~550nm以及775nm以上的波段)的光源强度,并将其转换成第五电流。由于第五光传感器507b所检测的太阳光的蓝光波段的波长会受第三滤色片507a(亦即蓝色滤色片)的组成(例如是浓度或厚度)的影响而改变,因此本实施例并不限制于上述所举例的蓝光波段的波长的数值。
处理单元503耦接第一光传感器513、第二光传感器511b、第三光传感器505b、第四光传感器509b以及第五光传感器507b,用以接收并处理经由第一光传感器513、第二光传感器511b、第三光传感器505b、第四光传感器509b以及第五光传感器507b各别转换的第一电流、第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流,借此来获得太阳光的紫外线强度值。
于本实施例中,处理单元503可直接制作在下基板501c上,或者是独立在显示装置500的系统当中,且此处理单元503会利用第一光传感器513所转换的第一电流来扣除第二光传感器511b、第三光传感器505b、第四光传感器509b以及第五光传感器507b各别所转换的第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流间的组合(至少包括上述三个实施例中的组合,但并不限制于只有这三个组合),借以获得太阳光的紫外线强度值。
亦即,处理单元503至少会利用第一光传感器513所转换的第一电流来扣除第二光传感器511b与第三光传感器505b各别所转换的第二电流与第三电流,借以获得太阳光的紫外线强度值;或者,利用第一光传感器513所转换的第一电流来扣除第二光传感器511b、第三光传感器505b以及第五光传感器507b各别所转换的第二电流、第三电流以及第五电流,借以获得太阳光的紫外线强度值;或者,利用第一光传感器513所转换的第一电流来扣除第二光传感器511b、第四光传感器509b以及第五光传感器507b各别所转换的第二电流、第四电流以及第五电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。
但是,较佳的是,处理单元503会各别对第一电流、第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流乘上对应的一校正系数后,才会利用第一电流来扣除第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流间的组合,借以获得太阳光的紫外线强度值。
如此一来,处理单元503便会获得波长短于335nm以下的紫外线波段(亦即UVB,280nm~320nm)的光源强度所对应紫外线强度值。借此,处理单元503仅需将此紫外线强度值传送至面板501的控制端(例如时序控制器),以让面板501的显示区AA上显示此紫外线强度值的话,使用者就可据以得知当下太阳光的紫外线指标的数值,进而能有效地防范紫外线对其眼睛及皮肤等器官的伤害。
至此,依据上述实施例所揭示的内容,以下将汇整出几种使用面板检测紫外线强度的方法给本领域的技术人员参详。图6绘示为本发明一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图。请参照图6,本实施例的使用面板检测紫外线强度的方法包括以下步骤:首先,如步骤S601所述,配置第一检测单元于面板上,用以检测第一波段的光源强度,并且将第一波段的光源强度转换成第一电流。于本实施例中,配置第一检测单元于面板上的步骤包括配置第一光传感器于面板的下基板(例如为主动元件阵列基板)。
接着,如步骤S603所述,配置第二检测单元于面板上,用以检测第二波段的光源强度,并且将第二波段的光源强度转换成第二电流。于本实施例中,配置第二检测单元于面板上的步骤包括配置第一滤色片(例如为红色滤色片)于面板的上基板(例如为彩色滤光基板);并且对应第一滤色片配置第二光传感器于面板的下基板。
之后,如步骤S605所述,配置第三检测单元于面板上,用以检测第三波段的光源强度,并且将第三波段的光源强度转换成第三电流。于本实施例中,第二波段与第三波段都包含在第一波段的范围内,而配置第三检测单元于面板上的步骤包括配置偏光板于面板的上基板;并且对应偏光板配置第三光传感器于面板的下基板。
最后,如步骤S607所述,提供一个处理单元,用以接收并处理第一电流、第二电流以及第三电流,借以获得紫外线强度值。于本实施例中,处理单元处理第一电流、第二电流以及第三电流的步骤包括先各别对第一电流、第二电流以及第三电流乘上对应的一校正系数;接着,再利用第一电流扣除第二电流与第三电流,借以获得紫外线强度值。
图7绘示为本发明另一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图。请参照图7,本实施例的使用面板检测紫外线强度的方法包括以下步骤:首先,如步骤S701所述,配置第一检测单元于面板上,用以检测第一波段的光源强度,并且将第一波段的光源强度转换成第一电流。于本实施例中,配置第一检测单元于面板上的步骤包括配置第一光传感器于面板的下基板(例如为主动元件阵列基板)。
接着,如步骤S703所述,配置第二检测单元于面板上,用以检测第二波段的光源强度,并且将第二波段的光源强度转换成第二电流。于本实施例中,配置第二检测单元于面板上的步骤包括配置第一滤色片(例如为红色滤色片)于面板的上基板(例如为彩色滤光基板);并且对应第一滤色片配置第二光传感器于面板的下基板。
之后,如步骤S705所述,配置第三检测单元于面板上,用以检测第三波段的光源强度,并且将第三波段的光源强度转换成第三电流。于本实施例中,配置第三检测单元于面板上的步骤包括配置偏光板于面板的上基板;并且对应偏光板配置第三光传感器于面板的下基板。
然后,如步骤S707所述,配置第四检测单元于面板上,用以检测第四波段的光源强度,并将第四波段的光源强度转换成第四电流。于本实施例中,第二波段、第三波段以及第四波段都包含在第一波段的范围内,而配置第四检测单元于面板上的步骤包括配置第二滤色片(例如为蓝色滤色片)于面板的上基板;并且对应第二滤色片配置第四光传感器。
最后,如步骤S709所述,提供一个处理单元,用以接收并处理第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流,借以获得紫外线强度值。于本实施例中,处理单元处理第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流的步骤包括先各别对第一电流、第二电流、第三电流以及第四电流乘上对应的一校正系数;接着,再利用第一电流扣除第二电流、第三电流以及第四电流,借以获得紫外线强度值。
然而,于本发明的另一实施例中,步骤S705中所述的配置第三检测单元于面板上的步骤可换成配置第二滤色片(例如为绿色滤色片)于面板的上基板;并且对应第二滤色片配置第三光传感器于面板的下基板。另外,步骤S707中所述的配置第四检测单元于面板上的步骤也可换成配置第三滤色片(例如为蓝色滤色片)于面板的上基板;并且对应第三滤色片配置第四光传感器于面板的下基板。如此一来,步骤S709中所述的处理单元获得紫外线强度值的处理过程都会与上一实施例类似,故在此并不再加以赘述之。
图8绘示为本发明另一实施例的使用面板检测紫外线强度的方法流程图。请参照图8,本实施例的使用面板检测紫外线强度的方法包括以下步骤:首先,如步骤S801所述,配置第一检测单元于面板上,用以检测第一波段的光源强度,并且将第一波段的光源强度转换成第一电流。于本实施例中,配置第一检测单元于面板上的步骤包括配置第一光传感器于面板的下基板(例如为主动元件阵列基板)。
接着,如步骤S803所述,配置第二检测单元于面板上,用以检测第二波段的光源强度,并且将第二波段的光源强度转换成第二电流。于本实施例中,配置第二检测单元于面板上的步骤包括配置第一滤色片(例如为红色滤色片)于面板的上基板(例如为彩色滤光基板);并且对应第一滤色片配置第二光传感器于面板的下基板。
之后,如步骤S805所述,配置第三检测单元于面板上,用以检测第三波段的光源强度,并且将第三波段的光源强度转换成第三电流。于本实施例中,配置第三检测单元于面板上的步骤包括配置偏光板于面板的上基板;并且对应偏光板配置第三光传感器于面板的下基板。
然后,如步骤S807所述,配置第四检测单元于面板上,用以检测第四波段的光源强度,并将第四波段的光源强度转换成第四电流。于本实施例中配置第四检测单元于面板上的步骤包括配置第二滤色片(例如为绿色滤色片)于面板的上基板;并且对应第二滤色片配置第四光传感器。
紧接着,如步骤S809所述,配置第五检测单元于面板上,用以检测第五波段的光源强度,并将第五波段的光源强度转换成第五电流。于本实施例中,第二波段、第三波段、第四波段以及第五波段都包含在第一波段的范围内,而配置第五检测单元于面板上的步骤包括配置第三滤色片(例如为蓝色滤色片)于面板的上基板;并且对应第三滤色片配置第五光传感器。
最后,如步骤S811所述,提供一个处理单元,用以接收并处理第一电流、第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流,借以获得紫外线强度值。于本实施例中,处理单元处理第一电流、第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流的步骤包括先各别对第一电流、第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流乘上对应的一校正系数;接着,再利用第一电流扣除第二电流、第三电流、第四电流以及第五电流间的组合,借以获得紫外线强度值。
于本实施例中,处理单元至少会利用第一光传感器所转换的第一电流来扣除第二光传感器与第三光传感器各别所转换的第二电流与第三电流,借以获得太阳光的紫外线强度值;或者,利用第一光传感器所转换的第一电流来扣除第二光传感器、第三光传感器以及第五光传感器各别所转换的第二电流、第三电流以及第五电流,借以获得太阳光的紫外线强度值;或者,利用第一光传感器所转换的第一电流来扣除第二光传感器、第四光传感器以及第五光传感器各别所转换的第二电流、第四电流以及第五电流,借以获得太阳光的紫外线强度值。然而,依据本发明的精神,并不限制于上述的三种组合。
综上所述,本发明主要是利用面板将太阳光的全波段的光源强度转换成电流,并且将波长超过335nm(亦即可见光)以上的多个波段的光源强度也转换成电流。如此一来,处理单元只需将全波段的光源强度所对应的电流扣除波长超过335nm以上的部份波段的光源强度所对应的电流后,就可以得知波长短于335nm以下的紫外线波段(亦即UVB)的紫外线强度值(亦即UVI)。
除此之外,上述众多实施例仅是本发明的几个具体实施方案,其并不能当作是限制本发明所能主张的范围大小的依据。更清楚来说,只要是利用光侦测器配置在面板的基板以检测紫外线强度值的任何实施手段,就属本发明所欲保护的范畴之一。
当然,本发明还可有其它多种实施例,在不背离本发明精神及其实质的情况下,熟悉本领域的技术人员当可根据本发明作出各种相应的改变和变形,但这些相应的改变和变形都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (29)

1.一种使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,包括以下步骤:
配置一第一检测单元于该面板上,用以检测一第一波段的光源强度,并且将该第一波段的光源强度转换成一第一电流;
配置一第二检测单元于该面板上,用以检测一第二波段的光源强度,并且将该第二波段的光源强度转换成一第二电流;
配置一第三检测单元于该面板上,用以检测一第三波段的光源强度,并且将该第三波段的光源强度转换成一第三电流;
提供一处理单元,用以接收并处理该第一电流、该第二电流以及该第三电流,借以获得一紫外线强度值;
其中,该第二波段与该第三波段包含在该第一波段的范围内。
2.根据权利要求1所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第一检测单元于该面板上的步骤包含配置一第一光传感器于该面板的下基板。
3.根据权利要求2所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第二检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一第一滤色片于该面板的上基板;以及
对应该第一滤色片,配置一第二光传感器于该面板的下基板。
4.根据权利要求3所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第三检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一偏光板于该面板的上基板;以及
对应该偏光板,配置一第三光传感器于该面板的下基板。
5.根据权利要求4所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,处理该第一电流、该第二电流以及该第三电流的步骤包含:
各别对该第一电流、该第二电流以及该第三电流乘上对应的一校正系数;以及
利用该第一电流扣除该第二电流与该第三电流,借以获得该紫外线强度值。
6.根据权利要求3所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,还包括以下步骤:
配置一第四检测单元于该面板上,用以检测一第四波段的光源强度,并将该第四波段的光源强度转换成一第四电流,该第四波段包含在该第一波段的范围内。
7.根据权利要求6所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,该处理单元还用以接收并处理该第一电流、该第二电流、该第三电流以及该第四电流,借以获得该紫外线强度值。
8.根据权利要求7所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第三检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一偏光板于该面板的上基板;以及
对应该偏光板,配置一第三光传感器于该面板的下基板。
9.根据权利要求8所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第四检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一第二滤色片于该面板的上基板;以及
对应该第二滤色片,配置一第四光传感器于该面板的下基板。
10.根据权利要求7所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第三检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一第二滤色片于该面板的上基板;以及
对应该第二滤色片,配置一第三光传感器于该面板的下基板。
11.根据权利要求10所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第四检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一第三滤色片于该面板的上基板;以及
对应该第三滤色片,配置一第四光传感器于该面板的下基板。
12.根据权利要求7所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,处理该第一电流、该第二电流、该第三电流以及该第四电流的步骤包含:
各别对该第一电流、该第二电流、该第三电流以及该第四电流乘上对应的一校正系数;以及
利用该第一电流扣除该第二电流、该第三电流以及该第四电流,借以获得该紫外线强度值。
13.根据权利要求3所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,还包括以下步骤:
配置一第四检测单元于该面板上,用以检测一第四波段的光源强度,并将该第四波段的光源强度转换成一第四电流;以及
配置一第五检测单元于该面板上,用以检测一第五波段的光源强度,并将该第五波段的光源强度转换成一第五电流;
该第四波段与该第五波段系包含在该第一波段的范围内。
14.根据权利要求13所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,该处理单元更用以接收并处理该第一电流、该第二电流、该第三电流、该第四电流以及该第五电流,借以获得该紫外线强度值。
15.根据权利要求14所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第三检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一偏光板于该面板的上基板;以及
对应该偏光板,配置一第三光传感器于该面板的下基板。
16.根据权利要求15所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第四检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一第二滤色片于该面板的上基板;以及
对应该第二滤色片,配置一第四光传感器于该面板的下基板。
17.根据权利要求16所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,配置该第五检测单元于该面板上的步骤包含:
配置一第三滤色片于该面板的上基板;以及
对应该第三滤色片,配置一第五光传感器于该面板的下基板。
18.根据权利要求14所述的使用面板检测紫外线强度的方法,其特征在于,处理该第一电流、该第二电流、该第三电流、该第四电流以及该第五电流的步骤包含:
各别对该第一电流、该第二电流、该第三电流、该第四电流以及该第五电流乘上对应的一校正系数;以及
利用该第一电流扣除该第二电流、该第三电流、该第四电流以及该第五电流间的组合,借以获得该紫外线强度值。
19.一种具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,包括:
一下基板,包含一第一光传感器、一第二光传感器以及一第三光传感器,用以检测一第一波段、一第二波段以及一第三波段的光源强度,并且将该第一波段、该第二波段以及该第三波段的光源强度转换成一第一电流、一第二电流以及一第三电流;
一上基板,配置于该下基板的对侧;以及
一处理单元,耦接该第一光传感器、该第二光传感器以及该第三光传感器,用以接收并处理该第一电流、该第二电流以及该第三电流,借以获得一紫外线强度值;
该第二波段与该第三波段系包含在该第一波段的范围内。
20.根据权利要求19所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该上基板包含一第一滤色片,其对应于该第二光传感器。
21.根据权利要求20所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该上基板还包含一偏光板,其对应于该第三光传感器。
22.根据权利要求21所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该处理单元会利用该第一电流扣除该第二电流与该第三电流,借以获得该紫外线强度值。
23.根据权利要求20所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该下基板还包含一第四光传感器,耦接该处理单元,用以检测一第四波段的光源强度,并且将该第四波段的光源强度转换成一第四电流,该第四波段包含在该第一波段的范围内。
24.根据权利要求23所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该处理单元更会利用该第一电流扣除该第二电流、该第三电流以及该第四电流,借以获得该紫外线强度值。
25.根据权利要求24所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该上基板还包含:
一偏光板,其对应于该第三光传感器;以及
一第二滤色片,其对应于该第四光传感器。
26.根据权利要求24所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该上基板还包含:
一第二滤色片,其对应于该第三光传感器;以及
一第三滤色片,其对应于该第四光传感器。
27.根据权利要求20所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该下基板还包含:
一第四光传感器,耦接该处理单元,用以检测一第四波段的光源强度,并且将该第四波段的光源强度转换成一第四电流;以及
一第五光传感器,耦接该处理单元,用以检测一第五波段的光源强度,并且将该第五波段的光源强度转换成一第五电流;
该第四波段与该第五波段包含在该第一波段的范围内。
28.根据权利要求27所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该处理单元更会利用该第一电流扣除该第二电流、该第三电流、该第四电流以及该第五电流间的组合,借以获得该紫外线强度值。
29.根据权利要求28所述的具有检测紫外线强度的显示装置,其特征在于,该上基板还包含:
一偏光板,其对应于该第三光传感器;
一第二滤色片,其对应于该第四光传感器;以及
一第三滤色片,其对应于该第五光传感器。
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