CN101119501A - 调制传递函数值测量装置及方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种调制传递函数值测量装置，用于测量待测镜头的调制传递函数值，其包括一个测试板，一个图像传感器，以及至少一个驱动装置。所述测试板上具有至少一个第一条纹阵列，该第一条纹阵列包括多个间隔排布的明暗条纹。所述图像传感器用于感测该测试板上多个间隔排布的明暗条纹经由所述待测镜头在该图像传感器上的明暗条纹成像。所述驱动装置用于驱动所述图像传感器沿平行于该图像传感器上的成像中的明暗条纹排布方向移动。本发明还提供一种调制传递函数值测量方法。

Description

调制传递函数值测量装置及方法
技术领域
本发明涉及一种调制传递函数值测量装置及方法，尤其涉及一种测量镜头的调制传递函数值的装置及方法。
背景技术
调制传递函数(Modulation Transfer Function，简称MTF)值是对镜头的锐度，反差及分辨率进行综合评价的参数。在光学产业里，MTF的数值介于0到1(0％到100％)之间，通常MTF值愈高(例如90％)的镜头，代表愈能解析待测影像里更细微的变化。
现有的调制传递函数值测量装置通常包括一个图像传感器及一个测试板，所述测试板上具有间隔排布的明暗条纹。采用上述调制传递函数值测量装置测量镜头的调制传递函数值时，通常先将所述测试板上间隔排布的明暗条纹经待测镜头成像在所述图像传感器上，之后，由图像传感器的像素所感测的条纹亮度的强度值计算出待测镜头的调制传递函数值。
所述镜头的调制传递函数值可由下述公式算得：
MTF＝(Imax-Imin)/(Imax+Imin)
其中，Imax为图像传感器的像素所感测的最亮条纹的强度值，Imin为图像传感器的像素所感测的最暗条纹的强度值。
但是，采用上述调制传递函数值测量装置测量镜头的调制传递函数值时，所述测试板上的明暗条纹在所述图像传感器上所形成的像通常会位于该图像传感器的像素之间，而不能与该图像传感器的像素对正，使得所测得的最亮条纹与最暗条纹的强度值均不准确，进而使得最终所测得镜头的调制传递函数值也不准确。
有鉴于此，有必要提供一种调制传递函数值测量装置及方法，以准确测量镜头的调制传递函数值。
发明内容
下面将以具体实施例说明一种可准确测量镜头的调制传递函数值的调制传递函数值测量装置及方法。
一种调制传递函数值测量装置，用于测量待测镜头的调制传递函数值，其包括一个测试板，一个图像传感器，以及至少一个驱动装置。所述测试板上具有至少一个第一条纹阵列，该第一条纹阵列包括多个间隔排布的明暗条纹，所述图像传感器用于感测该测试板上多个间隔排布的明暗条纹经由所述待测镜头在该图像传感器上的明暗条纹成像。所述驱动装置用于驱动所述图像传感器沿平行于该图像传感器上的成像中的明暗条纹排布方向移动。
以及，一种调制传递函数值测量方法，用于测量待测镜头的调制传递函数值，其包括步骤：
提供一个测试板，该测试板上具有至少一个第一条纹阵列，该第一条纹阵列包括多个间隔排布的明暗条纹；
将所述测试板放置于待测镜头的一侧；
提供一个图像传感器，并将该图像传感器放置于待测镜头的与所述测试板相对的另一侧，以使测试板上的明暗条纹成像在该图像传感器上；
记录该图像传感器的一个选定像素所感测的强度值；
驱动所述图像传感器沿平行于该图像传感器上的成像中的明暗条纹排布方向移动；
连续记录所选定像素感测的强度值；
比较每连续记录的三个强度值，若中间位置的强度值大于其前后位置的强度值，则该中间位置的强度值为所选定像素所感测的最大强度值；若中间位置的强度值小于其前后位置的强度值，则该中间位置的强度值为所选定像素所感测的最小强度值；
依据上述所得到的最大强度值及最小强度值，计算得到待测镜头的调制传递函数值。
与现有技术相比，所述调制传递函数值测量装置包括至少一个驱动装置，在使用该调制传递函数值测量装置测量镜头的调制传递函数值的过程中，该至少一个驱动装置可驱动所述图像传感器沿平行于该图像传感器上的成像中的明暗条纹排布方向移动，以准确获得最亮条纹及最暗条纹的强度值，进而提高待测镜头的调制传递函数值测量精度。
附图说明
图1是本发明第一实施例所提供的调制传递函数值测量装置使用状态示意图。
图2是图1所示测试板上明暗条纹分布示意图。
图3是本发明第二实施例所提供的调制传递函数值测量装置使用状态示意图。
图4是图3所示测试板上明暗条纹分布示意图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明实施例作进一步的详细说明。
参见图1，本发明第一实施例所提供的调制传递函数值测量装置100，其包括一个测试板110，一个图像传感器120，以及一个驱动装置130。该调制传递函数值测量装置100用于测量镜头200的调制传递函数值。
所述测试板110上具有一个第一条纹阵列112(如图2所示)，该第一条纹阵列112包括多个间隔排布的暗条纹1122及明条纹1124。
所述图像传感器120用于感测所述测试板110上多个间隔排布的暗条纹1122及明条纹1124经由所述待测镜头200在该图像传感器120上的明暗条纹成像。该图像传感器120可为电荷耦合图像传感器或互补金属氧化物半导体图像传感器。
所述驱动装置130设于所述图像传感器120的一侧，用于驱动该图像传感器120沿平行于该图像传感器120上的成像中的明暗条纹排布方向移动。该驱动装置130可为压电元件或电机。压电元件可经由压电效应驱动所述图像传感器移动；电机可经由其传动件驱动所述图像传感器移动。
参见图3，本发明第二实施例所提供的调制传递函数值测量装置300，其包括一个测试板310，一个图像传感器320，以及两个驱动装置330。该调制传递函数值测量装置300用于测量镜头200的调制传递函数值。
所述测试板310上具有一个第一条纹阵列312及一个第二条纹阵列314(如图4所示)，所述第一条纹阵列312包括多个间隔排布的暗条纹3122及明条纹3124，所述第二条纹阵列314也包括多个间隔排布的暗条纹3142及明条纹3144。所述第一条纹阵列312的多个间隔排布的暗条纹3122及明条纹3124的排布方向与所述第二条纹阵列314的多个间隔排布的暗条纹3142及明条纹3144的排布方向相交，例如，正交等。
当然，可以理解的是，所述测试板310上第一条纹阵列312及第二条纹阵列314的数量可以不相同，且分别都可为多个。
所述图像传感器320用于感测所述测试板310上多个间隔排布的暗条纹3122及明条纹3124或暗条纹3142及明条纹3144经由所述待测镜头200在该图像传感器320上的明暗条纹成像。该图像传感器320可为电荷耦合图像传感器或互补金属氧化物半导体图像传感器。
所述驱动装置330设于所述图像传感器310的相邻两侧，用于驱动该图像传感器320沿平行于该图像传感器320上的成像中的明暗条纹排布方向移动。该驱动装置330可为两个压电元件或两个电机。
当然，可以理解的是，所述驱动装置330可以为单个电机，其可在所述图像传感器320的相邻两侧分别设置一传动件，所述单个电机驱动所述传动件，进而驱动所述图像传感器320沿平行于该图像传感器320上的成像中的明暗条纹排布方向移动。
下面将具体描述一种使用所述调制传递函数值测量装置300测量所述镜头200的调制传递函数值的方法，其大致包括以下步骤：
(1)将测试板310放置于待测镜头200的一侧，将图像传感器320放置于待测镜头200的与所述测试板310相对的另一侧，以使测试板310上的暗条纹3122或3142及明条纹3124或3144成像在该图像传感器320上；
(2)记录该图像传感器320上的一个选定像素所感测的强度值；
(3)经由驱动装置330驱动所述图像传感器320沿平行于该图像传感器320上的成像中的明暗条纹排布方向移动；
(4)连续记录所选定像素感测的强度值，通常，所述图像传感器320每次移动的距离小于该图像传感器320的一个像素宽度；
(5)比较每连续的三个强度值，若中间位置的强度值大于其前后位置的强度值，则该中间位置的强度值为所选定像素所感测的最大强度值；若中间位置的强度值小于其前后位置的强度值，则该中间位置的强度值为所选定像素所感测的最小强度值；
(6)依据上述所得到的最大强度值及最小强度值，计算得到所述镜头200的调制传递函数值。
本发明实施例所提供的调制传递函数值测量装置100，300，其包括驱动装置130，330，该驱动装置130，330设于所述图像传感器120，320的侧部，在使用该调制传递函数值测量装置100，300测量待测镜头200的调制传递函数值过程中，所述驱动装置130，330可驱动所述图像传感器120，320沿平行于该图像传感器120，320上的成像中的明暗条纹排布方向移动，以准确获得最亮条纹及最暗条纹的强度值，进而提高待测镜头的调制传递函数值测量精度。
另外，本领域技术人员还可在本发明精神内做其它变化，如适当变更驱动装置的数量、位置及测试板上明暗条纹的分布方式等，只要其不偏离本发明的技术效果均可。这些依据本发明精神所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (7)

1.一种调制传递函数值测量装置，用于测量待测镜头的调制传递函数值，其包括一个测试板，以及一个图像传感器，所述测试板上具有至少一个第一条纹阵列，该第一条纹阵列包括多个间隔排布的明暗条纹，所述图像传感器用于感测该测试板上多个间隔排布的明暗条纹经由所述待测镜头在该图像传感器上的明暗条纹成像，其特征在于，所述调制传递函数值测量装置还包括至少一个驱动装置，用于驱动所述图像传感器沿平行于该图像传感器上的成像中的明暗条纹排布方向移动。
2.如权利要求1所述的调制传递函数值测量装置，其特征在于，所述测试板上还具有至少一个第二条纹阵列，该第二条纹阵列包括多个间隔排布的明暗条纹，该第二条纹阵列的多个间隔排布的明暗条纹排布方向与所述第一条纹阵列的多个间隔排布的明暗条纹排布方向相交。
3.如权利要求1所述的调制传递函数值测量装置，其特征在于，所述图像传感器为电荷耦合图像传感器或互补金属氧化物半导体图像传感器。
4.如权利要求1所述的调制传递函数值测量装置，其特征在于，所述驱动装置为压电元件或电机。
5.如权利要求1所述的调制传递函数值测量装置，其特征在于，所述驱动装置设于所述图像传感器的侧部。
6.一种调制传递函数值测量方法，用于测量待测镜头的调制传递函数值，其包括步骤：
提供一个测试板，该测试板上具有至少一个第一条纹阵列，该第一条纹阵列包括多个间隔排布的明暗条纹；
将所述测试板放置于待测镜头的一侧；
提供一个图像传感器，并将该图像传感器放置于待测镜头的与所述测试板相对的另一侧，以使测试板上的明暗条纹成像在该图像传感器上；
记录该图像传感器的一个选定像素所感测的强度值；
驱动所述图像传感器沿平行于该图像传感器上的成像中的明暗条纹排布方向移动；
连续记录所选定像素感测的强度值；
比较每连续记录的三个强度值，若中间位置的强度值大于其前后位置的强度值，则该中间位置的强度值为所选定像素所感测的最大强度值；若中间位置的强度值小于其前后位置的强度值，则该中间位置的强度值为所选定像素所感测的最小强度值；
依据上述所得到的最大强度值及最小强度值，计算得到待测镜头的调制传递函数值。
7.如权利要求6所述的调制传递函数值测量方法，其特征在于，所述图像传感器是采用压电元件或电机驱动的。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105371885A (zh) * 2015-10-14 2016-03-02 凌云光技术集团有限责任公司 一种成像芯片mtf值的自动测试方法及系统
CN113014900A (zh) * 2019-12-19 2021-06-22 宏碁股份有限公司 镜头匹配装置及镜头匹配方法
CN113395511A (zh) * 2020-03-11 2021-09-14 舜宇光学（浙江）研究院有限公司 鱼眼镜头的解像力测试方法及其系统和平台以及电子设备

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105371885A (zh) * 2015-10-14 2016-03-02 凌云光技术集团有限责任公司 一种成像芯片mtf值的自动测试方法及系统
CN105371885B (zh) * 2015-10-14 2018-02-13 凌云光技术集团有限责任公司 一种成像芯片mtf值的自动测试方法及系统
CN113014900A (zh) * 2019-12-19 2021-06-22 宏碁股份有限公司 镜头匹配装置及镜头匹配方法
CN113014900B (zh) * 2019-12-19 2022-12-27 宏碁股份有限公司 镜头匹配装置及镜头匹配方法
CN113395511A (zh) * 2020-03-11 2021-09-14 舜宇光学（浙江）研究院有限公司 鱼眼镜头的解像力测试方法及其系统和平台以及电子设备
CN113395511B (zh) * 2020-03-11 2023-02-17 舜宇光学（浙江）研究院有限公司 鱼眼镜头的解像力测试方法及其系统和平台以及电子设备

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