CN101068006A - 用于为组内器件协调测试结果的系统和方法 - Google Patents

用于为组内器件协调测试结果的系统和方法 Download PDF

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CN101068006A CNA2007100981040A CN200710098104A CN101068006A CN 101068006 A CN101068006 A CN 101068006A CN A2007100981040 A CNA2007100981040 A CN A2007100981040A CN 200710098104 A CN200710098104 A CN 200710098104A CN 101068006 A CN101068006 A CN 101068006A
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Abstract

本发明公开了用于协调组内器件的测试结果的系统和方法。在一个实施例中,系统700可以包括为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码710、接收用户规定的起点的代码715和为第二测试操作的测试结果指派标识符的代码725。对于第一测试操作的测试结果和对于第二测试操作的测试结果,每个器件被指派相同的标识符。在一个实施例中,方法1000可以包括为第一测试操作的测试结果指派标识符(1010);规定起点(1015);以及为第二测试操作的测试结果指派标识符(1025)。对于第一测试操作的测试结果和对于第二测试操作的测试结果,器件中的每一个被指派相同的标识符。还公开了其他实施例。

Description

用于为组内器件协调测试结果的系统和方法
技术领域
本发明涉及用于为组内器件协调测试结果的系统和方法。
背景技术
一般来说,片上系统(SOC)器件没有用于唯一标识的条形码或其他物理属性。为了测试成组的器件,测试器可以允许输入用于个体结果中的每一个的唯一器件标识符(ID)。例如,可以在测试一批内的器件期间使用自动编号系统。系统可以为该批中的第一器件指派器件ID1。随后的器件可以被系统指派器件ID2。每个随后的器件可以被指派预定递增值的器件ID,例如3至N,其中N是被测试器件的总数。
在测试一组器件当中可能出现问题。例如,在测试器上可能出现连接问题。可能不希望返回到第一器件然后测试整批器件。用户可以决定从问题的出现点或者从刚好在问题出现之前的点开始测试。然而,用户也可能希望让整批器件的结果在单个文件中被报告。而且,用户可能想要让对该组(或者组的一部分)的第二测试过程的结果与对该组(或者组的一部分)的第一测试过程的结果相关联。
发明内容
在一个实施例中,提供了一种为组内器件协调测试结果的系统,该系统包括为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码,标识符中的每一个对应于器件中的一个;接收所述标识符中用户规定的一个作为对一部分器件进行第二测试操作的起点的代码;以及为第二测试操作的测试结果指派标识符的代码,所述标识符中的每一个对应于所述部分器件中的一个,其中对于第一测试操作和第二测试操作中相应器件的测试结果指派标识符中的相似标识符。
在另一实施例中,提供了一种为组内器件协调测试结果的方法,该方法包括为第一测试操作的测试结果指派标识符,所述标识符中的每一个对应于器件中的一个;接收所述标识符中用户规定的一个作为对一部分器件进行第二测试操作的起点;以及为第二测试操作的测试结果指派标识符,所述标识符中的每一个对应于所述部分器件中的一个,其中对于第一测试操作和第二测试操作中相应器件的测试结果指派标识符中的相似标识符。
还公开了其他实施例。
附图说明
本发明的说明性实施例在附图中示出,其中:
图1是一示例性表,一组器件标识符被指派给对一组器件的第一测试操作的测试结果,不同一组的器件标识符被指派给对该组器件的子集的第二测试操作的测试结果;
图2是一示例性表,一组器件标识符被指派给对一组器件的第一测试操作的测试结果,相应一组的器件标识符被指派给对该组器件的子集的第二测试操作的测试结果,该组相应的器件标识符与第一测试操作的标识符相关联;
图3示出了在晶片上的一组器件;
图4示出了在附着到匣盒(cassette)的数个晶片上的成组器件;
图5示出了收纳盒(magazine)内的一组匣盒;
图6示出了许多晶片,晶片中的每一个都具有安装在其上的器件;
图7示出了为组内器件的测试结果指派标识符的示例性系统;
图8是一示例性表,其中一组器件标识符被指派给对一组器件的第一测试操作的测试结果,相应的一组器件标识符被指派给对该组器件的子集的第二测试操作的测试结果,该子集从作为起点的一个选定器件到在第一测试操作中所测试的最后一个器件;
图9示出了一示例性表,其中一组器件标识符被指派给对一组器件的第一测试操作的测试结果,相应的一组器件标识符被指派给对该组器件的子集的第二测试操作的结果,该子集从作为起点的一个选定器件到作为终点的一个选定器件;以及
图10示出了为组内器件的测试结果指派标识符的示例性方法。
具体实施方式
参照图1,示出了具有第一列105、第二列110和第三列115的表100。第一列105标识组中的一系列器件。第二列110标识指派给对组内器件的第一测试操作的测试结果的器件ID。第三列115标识指派给对组内被测试器件的第二测试操作的测试结果的器件ID。
通常,测试系统将在用户第一次测试该批器件时自动将器件从1至N编号。为了该批中的一部分器件的再测试,系统一般重新开始将正在被测试的器件从1至N编号。如图1所示,如果每个测试操作开始于测试不同的器件,则用于第一测试操作的器件标识符或ID和用于第二测试操作的器件标识符或ID将彼此不匹配。
在一个实施例中,用户向系统指示用于指派器件标识符的起点,例如整数或其他ID号码。参照图2,示出了具有第一列205、第二列210和第三列215的表200。第一列205标识组内的一系列器件。第二列210标识指派给对组内被测试器件的第一测试操作的测试结果的器件标识符或ID。第三列215标识指派给对组内被测试器件的第二测试操作的测试结果的器件标识符或ID。
仍然参照图2,在一个实施例中,用户将“3”规定为用于从“器件3”(如列205中所示)开始的第二测试操作的起始器件标识符或ID,从而获得与第一测试操作相关联的结果。因此,当测试器从“器件3”开始第二测试操作时,测试结果被指派标识符“3”并且对“器件4”和“器件5”的随后测试结果被分别指派标识符“4”和“5”,以便提供对于第一测试操作和第二测试操作而言彼此关联的标识符。
应该知道用户可以通过仅重新测试组的一部分而节省大量的时间。此外,用于对特定一组器件的多个测试操作的所有测试结果可以被关联和组合。
例如,这里所公开的用于测试器件的系统和方法的实施例可以包括但不局限于测试提供一组N个器件305的晶片300(图3)。测试器件的系统和方法可以包括测试具有一组晶片405的匣盒400(图4),晶片405提供一组器件410。测试器件的系统和方法可以包括具有一组匣盒400的收纳盒500(图5),从而提供多组晶片和多组器件(图5)。测试器件的系统和方法可以包括具有一组晶片605的批600(图6),从而提供多组器件610。
在一个实施例中,提供了用于为组内器件协调测试结果的系统700。系统700可以包括用于对器件进行第一测试操作的代码705。系统700还可以包括用于为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码710,标识符中的每一个对应于器件中的一个。系统700还可以包括用于允许用户将标识符中的一个规定为对一部分器件进行第二测试操作的起点的代码715。系统700可以包括用于进行开始于一个器件的第二测试操作的代码720,该器件对应于被规定为起点的一个标识符。系统700可以包括用于为第二测试操作的测试结果指派标识符的代码725,标识符中的每一个对应于所述部分器件中的一个,其中对于第一测试操作的测试结果和对于第二测试操作的测试结果,器件中的每一个被指派相同的标识符。
如图8的表800所示,列805可以表示一组N个被系统700测试的器件。如在上文中所讨论的,可以提供这些器件作为晶片300(图3)上的器件305。可以提供这些器件作为匣盒400(图4)中的数个晶片405上的器件410。可以提供这些器件作为收纳盒500(图5)内多组匣盒400上的器件。可以提供这些器件作为批600(图6)内数个晶片605上的器件610。可以以其他组的器件来提供这些器件。
仍然见图8,可以由用于对器件进行第一测试操作的代码705和用于为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码710产生列810。然后代码715允许用户规定标识符中的一个(在本示例中是器件ID“11”)作为进行第二测试操作的起点。
再次见图8,可以由用于进行第二测试操作的代码720和用于为第二测试操作的测试结果指派标识符的代码725产生列815。如图所示,所指派的用于第二测试操作的器件ID与所指派的用于第一测试操作的器件ID相关联。
参照图7,在一个实施例中,系统700可以可选地包括用于将第一测试操作的测试结果和第二测试操作的测试结果并入单个输出文件的代码730。例如,单个输出文件可以包括但不局限于STDF(标准测试定义格式)文件、ASCII(美国信息交换标准代码)文件、XML(可扩展标记语言)文件和EDL(事件数据记录)文件。
在一个实施例中,用于对器件进行第一测试操作的代码705和用于进行开始于与被规定为起点的一个标识符相对应的一个器件的第二测试操作的代码720可以用自动测试设备对器件执行测试。自动测试设备可以包括但不局限于Agilent系统或Teradyne系统。
在另一实施例中,在第一套自动测试设备上执行用于对器件进行第一测试操作的代码705,在第二套自动测试设备上执行用于对器件进行第二测试操作的代码720。在一个实施例中,第一套自动测试设备和第二套自动测试设备可以具有彼此不同的形态。例如在一个实施例中,Agilent系统可以或者是第一套自动测试设备或者是第二套设备。Teradyne系统可以是另一套自动测试设备。
在一个实施例中,用于为第一操作的测试结果指派标识符的代码710为器件中的每一个指派一个整数(从1开始整数指派),并且对于每一次随后的指派将整数指派增加1。在另一实施例中,用于为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码710和用于为第二测试操作指派标识符的代码725包括为对应于器件的测试结果指派整数。一般来说,用于将整数指派给对应于器件的测试结果的代码710/725对于被成功测试的器件中的每一个将整数增加1。
或者,用于为对应于器件的测试结果指派整数的代码710/725可以对于被成功测试的器件中的每一个将整数增加给定的倍数。例如,可以使用10的给定倍数以使得标识符被指派为10、20、30、40等。
在另一实施例中,器件中的每一个可以被指派一个非整数标识符。例如,非整数标识符可以包括字母数字标识符,例如abc1、abc2、abc3...abcN。
在一个实施例中,可以可选地提供代码735,用于规定标识符中的一个作为对所述部分器件进行第二测试操作的终点。
例如,如图9的表900所示,列905可以表示一组N个被系统700测试的器件。如在上文中所讨论的,可以提供这些器件作为晶片300(图3)上的器件305。可以提供这些器件作为匣盒400(图4)中的数个晶片405上的器件410。可以提供这些器件作为收纳盒500(图5)内多组匣盒400上的器件。可以提供这些器件作为批600(图6)内数个晶片605上的器件610。可以以其他组的器件来提供这些器件。
仍然见图9,可以由用于对器件进行第一测试操作的代码705和用于为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码710产生列910。然后代码715允许用户规定标识符中的一个(在本示例中是器件ID“11”)作为进行第二测试操作的起点。代码735允许用户规定标识符中的一个(在本示例中是器件ID 20)作为对所述部分器件进行第二测试操作的终点。
再次见图9,可以由用于进行第二测试操作的代码720和用于为第二测试操作的测试结果指派标识符的代码725产生列915。如图所示,所指派的用于第二测试操作的器件ID与所指派的用于第一测试操作的器件ID相关联。
如在上文中所讨论的,代码705和代码710可以对多组器件进行测试操作。例如,代码705可以用于对包含在晶片上的器件进行第一测试操作,代码720可以用于对包含在晶片上的器件进行第二测试操作。代码705可以用于对包含在批内的器件进行第一测试操作,代码715可以用于对包含在批内的器件进行第二测试操作。代码705可以用于对包含在批内多个晶片上的器件进行第一测试操作,代码720可以用于对包含在批内多个晶片上的器件进行第二测试操作。
代码705可以用于对包含在匣盒上的多个晶片上的器件进行第一测试操作,代码720可以用于对包含在匣盒上的多个晶片上的器件进行第二测试操作。代码705可以用于对包含在收纳盒中多个匣盒上的多个晶片上的器件进行第一测试操作,代码720可以用于对包含在收纳盒中多个匣盒上的多个晶片上的器件进行第二测试操作。
代码705可以用于对其上没有识别标记(identifying indicia)的器件进行第一测试操作,代码720可以用于对其上没有识别标记的器件进行第二测试操作。例如,在研发项目中所使用的器件经常没有识别标记。
在一个实施例中,用于为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码710/725可以创建标识符,这些标识符对应于可能存在于器件上的物理标记。用于进行第一测试操作和进行第二测试操作的代码705/720可以由未被装配以读取可能存在于器件上的物理标记的自动测试设备执行。
参照图7,在另一实施例中,可以可选地提供代码740,用于规定标识符中的一个作为对一部分器件进行第三测试操作的起点。用于进行第三测试操作的代码740从对应于被规定为起点的标识符的器件开始。可以可选地提供代码745,用于为第三测试操作的测试结果指派标识符。标识符中的每一个对应于器件中的一个。对于第一测试操作的测试结果、对于第二测试操作的测试结果和对于第三测试操作的测试结果,器件中的每一个被指派一个相同的标识符。
现在见图10,示出了为组内器件协调测试结果的方法1000。在一个实施例中,方法1000可以包括对器件进行第一测试操作(1005)。方法1000可以包括为第一测试操作的测试结果指派标识符(1010),标识符中的每一个对应于器件中的一个。方法1000可以包括规定标识符中的一个作为对一部分器件进行第二测试操作的起点(1015)。方法1000可以包括进行开始于与被规定为起点的一个标识符相对应的一个器件的第二测试操作(1020。方法1000可以包括为第二测试操作的测试结果指派标识符(1025),标识符中的每一个对应于所述部分器件中的一个,其中对于第一测试操作的测试结果和对于第二测试操作的测试结果,器件中的每一个被指派相同的标识符。
可选地,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)中的每一个可以由自动测试设备执行。例如,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)中的每一个可以由Agilent系统或Teradyne系统执行。
进行第一测试操作(1005)可以由第一套自动测试设备执行,进行第二测试操作(1020)可以由第二套自动测试设备进行。第一套自动测试设备和第二套自动测试设备可以具有彼此不同的形态。例如,或者第一套自动测试设备或者第二套自动测试设备可以是Agilent系统。另一套自动测试设备可以是Teradyne系统或者不是由Agilent制造的另一系统。在另一实施例中,两套自动测试设备都可以是除了由Agilent制造的系统之外的系统。
在另一实施例中,方法1000可以可选地包括将第一测试操作的测试结果和第二测试操作的测试结果并入单个输出文件的步骤(1030)。将第一测试操作的测试结果和第二测试操作的测试结果并入单个输出文件(1030)可以创建STDF文件、ASCII文件、XML文件或EDL文件。
为第一测试操作的测试结果指派标识符(1010)可以可选地包括为器件中的每一个指派一个整数(1035)、从1开始整数指派(1040)以及对于每个随后的指派将整数指派增加1(1045)。
为第一测试操作的测试结果指派标识符(1010)和为第二测试操作的测试结果指派标识符(1025)可以包括为对应于器件的测试结果指派整数。为对应于器件的测试结果指派整数(1035)可以包括对于被成功测试的器件中的每一个将整数增加1。
在一个实施例中,方法1000可以可选地包括规定标识符中的一个作为对所述部分器件进行第二测试操作的终点的步骤(1050)。
在一个实施例中,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)中的每一个可以测试包含在晶片上的器件。在另一实施例中,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)中的每一个可以测试包含在批内的器件。在一个实施例中,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)可以测试包含在批内多个晶片上的器件。在一个实施例中,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)中的每一个可以测试包含在匣盒上多个晶片上的器件。在另一实施例中,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)中的每一个可以测试包含在收纳盒中多个匣盒上的多个晶片上的器件。
在一个实施例中,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)中的每一个可以测试其上没有识别标记的器件。在另一实施例中,为第一测试操作的测试结果指派标识符(1010)可以创建对应于器件上的物理标记的标识符。
对于一些测试情形,进行第一测试操作(1005)和进行第二测试操作(1020)可以由未被装配以读取可能存在于器件上的物理标记的自动测试设备执行。例如,规定标识符中的一个作为起点(1015)可以基于可能存在于器件上的物理标记,并且这些物理标记可能是不可由进行第二测试操作(1020)的自动测试设备读取的。
在一个实施例中,方法1000可以可选地包括规定标识符中的一个作为对一部分器件进行第三测试操作的起点(1055)。方法1000可以可选地包括进行开始于与被规定为起点的一个标识符相对应的一个器件的第三测试操作(1060)的步骤。方法1000还可以可选地包括为第三测试操作的测试结果指派标识符(1065)。一般来说,标识符中的每一个对应于器件中的一个。对于第一测试操作、第二测试操作和第三测试操作的测试结果,每个器件被指派相同的标识符。

Claims (10)

1.一种用于为组内器件协调测试结果的系统(700),该系统(700)包括:
为第一测试操作的测试结果指派标识符的代码(710),所述标识符中的每一个对应于所述器件中的一个;
接收所述标识符中用户规定的一个作为对部分器件进行第二测试操作的起点的代码(715);以及
为所述第二测试操作的测试结果指派标识符的代码(725),所述标识符中的每一个对应于所述部分器件中的一个,其中所述第一测试操作和所述第二测试操作中相应器件的测试结果被指派所述标识符中的相似标识符。
2.如权利要求1所述的系统(700),还包括对多个器件进行第一测试操作的代码(705)。
3.如权利要求1所述的系统(700),还包括进行开始于与被规定为所述起点的一个标识符相对应的一个器件的所述第二测试操作的代码(720)。
4.如权利要求1所述的系统(700),还包括将所述第一测试操作的测试结果中的至少一些和所述第二测试操作的测试结果中的至少一些并入单个输出文件的代码(730)。
5.如权利要求1所述的系统(700),还包括对所述器件进行所述第一测试操作的代码(705),并且还包括进行开始于与被规定为所述起点的一个标识符相对应的一个器件的所述第二测试操作的代码(720),其中进行所述第一测试操作的代码(705)和进行所述第二测试操作的代码(720)使用自动测试设备对所述器件执行测试。
6.如权利要求1所述的系统(700),其中在第一套自动测试设备上执行对所述器件进行所述第一测试操作的代码(705),并且在第二套自动测试设备上执行对所述器件进行所述第二测试操作的代码(720)。
7.如权利要求1所述的系统(700),其中为所述第一测试操作的测试结果指派标识符的代码(710)和为所述第二测试操作的测试结果指派标识符的代码(720)为对应于所述器件的测试结果指派整数,并且为对应于所述器件的测试结果指派整数的代码(725)对于被成功测试的器件中的每一个将所述整数增加1。
8.一种对组内器件协调测试结果的方法(1000),该方法包括:
为第一测试操作的测试结果指派标识符(1010),所述标识符中的每一个对应于所述器件中的一个;
接收所述标识符中用户规定的一个作为对部分器件进行第二测试操作的起点(1015);以及
为所述第二测试操作的测试结果指派标识符(1025),所述标识符中的每一个对应于所述部分器件中的一个,其中所述第一测试操作和所述第二测试操作中相应器件的测试结果被指派所述标识符中的相似标识符。
9.如权利要求8所述的方法(1000),还包括将所述第一测试操作的测试结果中的至少一些和所述第二测试操作的测试结果中的至少一些并入单个输出文件(1030)。
10.如权利要求8所述的方法1000,其中为所述第一测试操作的测试结果指派标识符(1010)和为所述第二测试操作的测试结果指派标识符包括为对应于所述器件的测试结果指派整数(1035),并且为对应于所述器件的测试结果指派整数(1035)包括对于被成功测试的器件中的每一个将所述整数增加1。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3555859B2 (ja) * 2000-03-27 2004-08-18 広島日本電気株式会社 半導体生産システム及び半導体装置の生産方法
US7225107B2 (en) * 2001-05-24 2007-05-29 Test Advantage, Inc. Methods and apparatus for data analysis
US7167811B2 (en) * 2001-05-24 2007-01-23 Test Advantage, Inc. Methods and apparatus for data analysis
US7047463B1 (en) * 2003-08-15 2006-05-16 Inovys Corporation Method and system for automatically determining a testing order when executing a test flow

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