CN101063950A - 测试及更新系统和方法 - Google Patents
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Abstract
一种测试及更新系统，用以测试及更新一电路板上的待测单元，并与该电路板电性连接，该测试及更新系统包括：一存储单元，用以储存一更新该待测单元的数据；一测试单元，用以测试该待测单元是否无法启动开机，若是则更换该待测单元，否则更新该待测单元的数据；以及一控制单元，用以依据该测试单元测试后需更新该待测单元的结果，而控制该存储单元撷取更新该待测单元的数据，以更新该待测单元的数据。本发明通过测试该待测单元的当前数据情况，并依据测试结果自动执行数据更新作业，不仅可避免待测单元因数据损坏而造成无法启动的异常情形，亦可提高维修工作效率并降低维修成本。
Description
【技术领域】
本发明有关于一种资料测试更新技术，特别是有关一种用以测试及更新主机板数据的测试及更新系统和方法。
【背景技术】
一般服务器的主机板上设置有OBP(OpenBootPROM)芯片，而该OBP芯片焊接于主机板上，其功能与一般计算机的基本输入输出系统(Basic Input/Output System，BIOS)类似，用以控制服务器的开机过程及对相关硬件进行初始化配置并提供诊断工作，该系统程序可保存于可编程只读存储器(Programmable Read Only Memory，PROM)中，以存储服务器外围硬件相关设定，从而使服务器正常运作。开机时，OBP芯片负责提供一套基础指令于服务器，并提供一个单选式的使用界面供使用者自行修改相关硬件的配置设定，从而控制中央处理器和各芯片的运作，及各标准外围装置(例如：打印机、鼠标、键盘、硬盘及软盘)的执行作业。同时，当OBP芯片执行启动作业时，会首先确定所有接设于该服务器上的硬件部件的运作状态是否正常，并在确定无误后，再从硬盘或磁盘驱动器中加载相关操作系统。因此，使用者通过OBP可执行以下操作：(1)调整启动设备及启动参数，例如选择从光驱启动系统；(2)检测硬件故障；(3)在操作系统启动之前完成对硬设备的必要配置工作。
综上所述，现有技术的缺点在于：若OBP芯片中的数据被损坏，则服务器将无法执行启动作业，但由于维修人员无法判断导致服务器无法正常启动的真正原因是否是因为OBP芯片内的数据被损坏所造成，因而现有技术中解决该问题的唯一办法，便是通过电烙铁的方式直接更换该OBP芯片，此种方式不仅使维修作业极为繁杂，且维修处理方式较为盲目，工作效率较差。再者，若仅因为OBP芯片中的数据损坏而更换整块OBP芯片，无疑会造成极大的浪费，不利于节约成本。
综上所述，如何解决现有技术所存在的缺点，实已成为业界亟待解决的首要问题。
【发明内容】
鉴于上述现有技术的缺点，本发明的主要目的在于提供一种测试及更新系统和方法，其可代替主机板上的OBP(OpenBootPROM)芯片执行系统启动作业，从而避免于OBP芯片中的数据被损坏时，系统无法启动的异常情形。
本发明的另一目的在于提供一种测试及更新系统和方法，用以侦测主机板上待测芯片是否为最新的版本以实时更新该待测芯片的数据资料。
本发明的再一目的在于提供一种测试及更新系统和方法，可帮助维修人员快速判断OBP芯片中的资料是否发生损坏，以提高维修工作效率。
为达上述及其它相关目的，本发明提供一种测试及更新系统。本发明测试及更新系统用以测试及更新一电路板上的待测单元，并与该电路板电性连接，该测试及更新系统包括：一存储单元，用以储存一更新该待测单元的数据；一测试单元，用以测试该待测单元是否无法启动开机，若是则更换该待测单元，否则更新该待测单元的数据；以及一控制单元，用以依据该测试单元测试后需更新该待测单元的结果，而控制至该存储单元撷取更新该待测单元的数据，以更新该待测单元的数据。
为达上述及其它相关目的，本发明提供一种测试及更新方法。本发明测试及更新方法用以测试及更新一电路板上的待测单元，该测试及更新方法包括以下步骤：(1)首先，令一存储单元储存一更新该待测单元的数据；(2)令一测试单元，用以测试该待测单元是否无法启动开机，若是则输出一更换信号，并进入步骤(4)，若否则更新该待测单元的数据，并进入步骤(3)；(3)令一控制单元，用以依该测试单元测试后需更新该待测单元的结果，而控制至该存储单元撷取更新该待测单元的数据，以更新该待测单元的数据；以及(4)结束测试及更新该电路板的待测单元。。
因此，本发明所揭示的测试及更新系统及方法在系统无法启动时，通过对一主机板上待测单元进行测试，从而使维修人员快速判断该待测单元的当前资料是否损坏，以提高维修效率；同时可避免服务器对因待测单元的数据损坏而无法启动的情形，亦可对该待测单元的数据予以更新，以实现更新作业更为便捷的功效，并可降低硬件成本。
【附图说明】
图1为本发明测试更新系统的方块图。
图2为本发明测试更新方法的流程图。
【具体实施方式】
以下通过特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技艺的人士可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其它优点与功效。本发明亦可通过其它不同的具体实例加以施行或应用，本说明书中的各项细节亦可基于不同观点与应用，在不悖离本发明之的精神下进行各种修饰与变更。请参阅第1图，其显示本发明测试更新装置的方块图。如图所示，本发明测试及更新系统，用以测试及更新一电路板的待测单元13，并与该电路板电性连接，该测试及更新系统包括：一存储单元11、一控制单元12及一测试单元13。
于本实施例中，该待测单元2的数据指设置于电路板上OBP(OpenBootPROM)芯片的信息，而该电路板为一系统的主机板。
该存储单元11用以储存一更新该待测单元的数据，于本实施例中，该存储单元11为一备选的OBP芯片，用以于该主机板无法正常启动时，代替该主机板上的OBP芯片从而令该主机板执行启动作业(请容后详述)。
该控制单元12用以依该测试单元13测试后需更新该待测单元2的结果，而控制该存储单元11撷取更新该待测单元2的数据，以更新该待测单元2的数据。于本实施例中，该控制单元12在接收到需更新该主机板OBP芯片数据的操作指令时，即撷取该备用OBP芯片内的数据，藉以更新该主机板的OBP芯片数据。
该测试单元13用以测试该待测单元2是否无法启动开机，若是则更换该待测单元2，否则更新该待测单元2的数据，并在测试到该待测单元2当前的数据被损坏，或该当前资料不是最新版本时，则通知该控制单元12更新该待测单元2的当前数据。
该参考第2图，其显示本发明测试及更新方法的流程图。于本实施例中，该测试及更新方法通过一搭载有测试更新系统1的测试工具(未予图式)以测试及更新一电路板上的待测单元2的数据，其中，该待测单元2的数据指设置于主机板上OBP芯片内的数据资料。
如图所示，首先执行步骤S10，将待更新的数据储存于该测试工具的存储单元11中，于本实施例中，该存储单元11为一备选的OBP芯片，接着执行步骤S20；
在步骤S20中，判断待测单元2是否能正常启动，若否，则执行步骤S30，否则退出该操作流程；
在步骤S30中，将该搭载有测试更新系统1的测试工具连接至该待测单元2上，于本实施例中，为通过该主机板中用以连接光驱(ROMBO)的接口接合，从而将该测试工具连接于该主机板上，接着进入步骤S40。
在步骤S40中，令该待测单元2读取该测试工具的存储单元11中的更新数据并执行启动作业，于本实施例中，则表示将该测试治具上的存储单元11，亦即备选OBP芯片，代替主机板上的OBP芯片，以令该主机板执行启动作业，换言之，即令该主机板通过用以连接光驱的接口接合，读取储存于该测试工具的存储单元11中的更新数据，以执行启动作业，接着进至步骤S50。
在步骤S50中，判断该待测单元2是否正常启动，亦即，判断主机板是否可通过该测试工具的存储单元11中的更新数据执行正常启动，若是，则代表该待测单元2的数据被损坏，即进行步骤S60，若否，则结束该操作步骤。
于步骤S60中，撷取该存储单元11中的更新数据，并更新该待测单元2的数据，亦即，读取备选OBP芯片内的数据，以更新该主机板上OBP芯片的数据。
此外，通过本发明的测试及更新方法亦可在该待测单元2的数据不时最新版本时，更新该待测单元2的数据，从而使该待测单元2的数据为最新版本。
综上所述，本发明的测试更新系统和方法在主机板无法正常启动时，即可代替该主机板的OBP芯片，从而使该主机板执行启动作业，并同时测试出该主机板的OBP芯片数据是否被损坏，并可在该OBP芯片数据被损坏或不是最新版本时，直接更新该OBP芯片内的数据。如此，不仅可避免主机板因OBP芯片数据损坏而无法启动的异常情形，亦可提高维修人员的工作效率，且可降低维修成本。
Claims (10)
1.一种测试及更新系统，用以测试及更新一电路板的待测单元，并与该电路板电性连接，其特征在于该测试及更新系统包括：
一存储单元，用以储存一更新该待测单元的数据；
一测试单元，用以测试该待测单元是否无法启动开机，若是则更换该待测单元，否则更新该待测单元的数据；以及
一控制单元，用以依据该测试单元测试后需更新该待测单元的结果，而控制至该存储单元撷取更新该待测单元的数据，以更新该待测单元的数据。
2.如权利要求1所述的测试及更新系统，其特征在于：该电路板为一系统的主机板。
3.如权利要求1所述的测试及更新系统，其特征在于：该待测单元为一开机芯片。
4.如权利要求1所述的测试及更新系统，其特征在于：该存储单元为一芯片。
5.如权利要求1所述的测试及更新系统，其特征在于：该测试单元用以测试该待测单元的版本是否为较新版本，若是则结束测试，若否则更新该待测单元为最新版本。
6.一种测试及更新方法，其特征在于该测试及更新方法包括以下步骤：
(1)令一存储单元储存一更新该待测单元的数据；
(2)令一测试单元测试该待测单元是否无法启动开机，若是则输出一更换信号，并进入步骤(4)，若否则更新该待测单元的数据，并进至步骤(3)；
(3)令一控制单元依据该测试单元测试后需更新该待测单元的结果，而控制至该存储单元撷取更新该待测单元的数据，以更新该待测单元的数据；以及
(4)结束测试及更新该电路板的待测单元。。
7.如权利要求6所述的测试及更新方法，其特征在于：该测试单元用以测试该待测单元的版本是否为最新版本，若是则结束测试，否则更新该待测单元为最新版本。
8.如权利要求6所述的测试及更新方法，其特征在于：该电路板为一系统的主机板。
9.如权利要求6所述的测试及更新方法，其特征在于：该待测单元为一开机芯片。
10.如权利要求6所述的测试及更新方法，其特征在于：该存储单元为一芯片。
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| CN 200610026151 CN101063950A (zh) | 2006-04-27 | 2006-04-27 | 测试及更新系统和方法 |
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Publications (1)
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|---|---|---|---|---|
| CN102760092A (zh) * | 2011-04-26 | 2012-10-31 | 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 | 服务器主板的功能测试管控系统及方法 |
| CN108304569A (zh) * | 2018-02-13 | 2018-07-20 | 中国银行股份有限公司 | 一种测试数据积累方法及装置 |
| CN115173569A (zh) * | 2022-09-08 | 2022-10-11 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 基于bs架构的配电设备测试方法、装置、设备及介质 |
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| CN115173569A (zh) * | 2022-09-08 | 2022-10-11 | 北京智芯微电子科技有限公司 | 基于bs架构的配电设备测试方法、装置、设备及介质 |
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