CN100592407C - 用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器、以及缺陷管理的记录介质 - Google Patents

Abstract

一种用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器，以及一种缺陷管理记录介质。该缺陷管理方法包括：当TDMS的更新开始时写入指定临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期被打开的第一状态信息，TDMS包含关于临时缺陷管理的信息；当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质中被读取时更新TDMS；和当TDMS的更新完成时写入指定TDMS的更新周期被关闭的第二状态信息。

Description

用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器、以及缺陷管理的记录介质

本申请是申请日为2004年4月22日、申请号为200480001804.8、发明名称为“用于记录介质缺陷管理的方法和驱动器、以及缺陷管理的记录介质”的发明专利申请的分案申请。

技术领域

本发明涉及一种用于记录介质的缺陷管理方法、记录介质驱动器、以及用于其的记录介质，更具体地讲，涉及一种缺陷管理方法，其中第一临时缺陷管理区和第二临时缺陷管理区被记录在记录介质上。

背景技术

缺陷管理是将存储在存在缺陷的盘的用户数据区中的数据重写在用户数据区的新的部分中的处理，从而补偿由缺陷引起的数据丢失。

通常，使用线性替换或滑动替换来执行缺陷管理。在线性替换中，其中存在缺陷的用户数据区用没有缺陷的备用数据区替换。在滑动替换中，具有缺陷的用户数据区被滑动，没有缺陷的下一用户数据区被使用。

然而，线性替换和滑动替换都可仅被应用到如DVD-RAM/RW的盘，在DVD-RAM/RW上，数据可被重复记录并且记录可使用随机访问方法被执行。

在一次写入多次读取(WORM)存储介质(以下称为“一次写入记录介质”)的情况下，由于这些介质的记录容量有限，所以数据不能被重写入相同的位置。因此，需要有效的缺陷管理，已经进行很多努力来研发通过使用记录介质驱动器的用于一次写入记录介质的缺陷管理方法。

使用写入后检验方法对一次写入记录介质执行缺陷管理。更具体地讲，记录介质驱动器将数据以特定单位记录在一次写入记录介质上，随后检验记录的数据以检测在其中存在缺陷的介质的部分的位置。接下来，驱动器将记录在具有缺陷的部分中的数据重新记录在备用区中。然后，驱动器创建描述具有缺陷的区和用于替换具有缺陷的区的备用区的位置的临时缺陷列表(TDFL)，创建定义TDFL的记录位置的临时缺陷管理信息(TDDS)。TDFL和TDDS的组合被称为临时缺陷管理结构(TDMS)。

接下来，当存储在存储器中的信息量达到预定级别时，驱动器将创建的TDFL或TDDS存储在存储器中，并将存储的信息记录在一次写入记录介质的临时缺陷管理区(TDMA)中。每当数据被记录在一次写入记录介质上时TDMS被更新。

当数据不能再被记录在一次写入记录介质上或用户不想要再将数据记录在其上时，一次写入记录介质完成。在一次写入记录介质的完成期间，最后记录在TDMA中的TDMS被复制到缺陷管理区(DMA)。

然而，当供应到记录介质驱动器的电源由于如掉电的不正常事件中断时，记录介质驱动器对一次写入记录介质执行的缺陷管理被不正常中止。例如，记录介质驱动器在将TDFL或TDDS记录在TDMA之前可经受缺电，TDFL或TDDS在将数据记录在一次写入记录介质上时被创建。在这种情况下，TDMS将不被成功地更新。另外，当一次写入记录介质在供电恢复之后被重新装入记录介质驱动器时，驱动器不能检查缺陷管理是否已经被不正常结束。

发明内容

本发明提供一种用于一次写入记录介质的缺陷管理方法，期间由于通过缺电的非限制例子的不正常事件引起的缺陷管理的不正常终止被检查。

本发明还提供一种能够对由不可避免事故引起的缺陷管理的不正常终止进行容易的检查的记录介质驱动器。

本发明还提供一种信息存储介质，在其中，由不可避免事故引起的缺陷管理的不正常终止可被容易地检查到。

根据本发明的一方面，提供一种用于信息存储介质的缺陷管理方法，包括：当TDMS的更新开始时写入指定临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期的第一状态信息，TDMS包含关于临时缺陷管理的信息；当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质中被读取时更新TDMS；和当TDMS的更新完成时写入指定TDMS的更新周期被关闭的第二状态信息。

第一状态信息可响应于打开TDMS更新周期的命令或将数据写入信息存储介质或从信息存储介质读取数据的命令被写入。

更新步骤可包括基于更新的TDMS写入状态信息。

第二状态信息可响应于弹出信息存储介质的命令被写入。

根据本发明的另一方面，提供一种用于信息存储介质的缺陷管理方法，该方法包括：当在将数据写入信息存储介质或从信息存储介质读取数据期间数据的更新开始时，将指定数据的更新周期被打开的第一状态信息写入该信息存储介质的区中；通过将数据写入信息存储介质来更新当数据被写入信息存储介质或被从信息存储介质读取时产生的预定数据；和当信息的更新完成时，将指定数据的更新周期被关闭的第二状态信息写入该区中。

根据本发明的另一方面，提供一种驱动器，包括：拾取器，将数据写入装入的信息存储介质或从装入的信息存储介质读取数据；和控制器，控制拾取器以当包含关于临时缺陷管理的信息的TDMS的更新开始时将指定临时缺陷管理结构(TDMS)更新周期被打开的第一状态信息写入该信息存储介质的区中；控制拾取器以当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质被读取时更新TDMS；和控制拾取器以当TDMS的更新被完成时将指定TDMS更新周期被关闭的第二状态信息写入该区。

控制器可响应于打开TDMS更新周期的命令或写/读命令来控制拾取器以将第一状态信息写入该区。

控制器可控制拾取器以当在数据写入信息存储介质或从信息存储介质读取数据期间TDMS被更新时基于更新的TDMS将第一状态信息写入该区。

控制器可响应于弹出信息存储介质的命令或关闭TDMS更新周期的命令来控制拾取器以将第二状态信息写入该区中。

根据本发明的另一方面，提供一种驱动器，包括：拾取器，将数据写入装入的信息存储介质或者从装入的信息存储介质读取数据；和控制器，其：控制拾取器以当将数据写入信息存储介质或者从信息存储介质读取数据期间信息的更新开始时将指定信息的更新周期被打开的第一状态信息写入该信息存储介质的区中；控制拾取器以通过将信息写入信息存储介质来更新当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质读取数据时产生的预定数据；和控制拾取器以当信息的更新完成时将指定信息的更新周期被关闭的第二状态信息写入该区中。

根据本发明的另一方面，提供一种信息存储介质，包括导入区、用户数据和导出区，在其上写入包含关于临时缺陷管理的信息和关于TDMS的更新周期状态信息的临时缺陷管理结构(TDMS)，更新周期状态信息指定TDMS的更新周期被打开或关闭。

TDMS可包含临时缺陷管理信息(TDDS)和临时缺陷列表(TDFL)，TDMS更新周期状态信息被包含在TDDS中。

至少一个TDMA可被形成在导入区、用户数据区和导出区中的至少一个中，TDMS和TDMS更新周期状态信息可被写入TDMA中。

根据本发明另一方面，提供一种信息存储介质，包括：在数据的写入或写入数据的读取中期间被涉及并产生的信息；和指定信息的更新周期是被打开还是被关闭，并且基于该信息被写入的更新周期状态信息。

根据本发明的另一方面，提供一种确定关于信息存储介质的数据的记录是否由于不正常事件被不正常终止的方法。该方法包括：当TDMS的更新被完成时，读取指定TDMS的更新周期被关闭的第二状态信息。当TDMS的更新开始时，指定临时缺陷管理结构(TDMS)的更新周期被打开的第一状态信息被写入，TDMS包含关于临时缺陷管理的信息。当数据被写入信息存储介质或从信息存储介质读取数据时，TDMS被更新。

将在接下来的描述中部分阐述本发明另外和/或其它方面，还有一部分通过描述将是清楚的，或者可以经过本发明的实施而得知。

附图说明

通过下面结合附图进行的描述，本发明的这些和/或其他方面和优点将会变得更加清楚和更容易理解，其中：

图1示出根据本发明实施例的一次写入记录介质的单一记录层的数据结构；

图2示出记录在临时缺陷管理区(TDMA)中的信息的数据结构的例子；

图3示出临时缺陷管理信息(TDDS)的数据结构的例子；

图4是根据本发明实施例的对一次写入记录介质执行缺陷管理的驱动器的方框图；

图5是图4中显示的驱动器的详细方框图；

图6示出根据本发明实施例的在其上执行缺陷管理的一次写入记录介质的状态；和

图7是根据本发明实施例的用于信息存储介质的缺陷管理方法的流程图。

具体实施方式

现在，详细描述本发明的实施例，其示例在附图中表示，其中，相同的标号始终表示相同的部件。以下通过参考附图描述实施例以解释本发明。

在此公开中，关于作为信息存储介质的例子的一次写入记录介质，描述了根据本发明多个实施例的缺陷管理。然而，将理解其它介质也可被使用。

图1示出根据本发明实施例的一次写入记录介质的单一记录层表示的数据结构。参照图1，一次写入记录介质包括导入区、数据区和导出区。导入区包括缺陷管理区(DMA)#1、DMA#2、写条件测试区、第一临时缺陷管理区(TDMA)和驱动器信息区。

在数据区中，备用区#1、备用区#2、第二TDMA和用户数据区被形成。在导出区中，DMA#3和DMA#4被形成。

通常，可重写记录介质包括DMA，但是不包括临时DMA(TDMA)，然而，由于一次写入记录介质的特征，除DMA之外，TDMA被附加地分配给一次写入记录介质。

更具体地讲，在一次写入记录介质的情况下，在数据已经被记录的位置不容许数据记录。因此，当关于新产生的缺陷的信息在数据记录期间需要被更新时，记录介质驱动器读取最后记录的缺陷信息，并且通过附加地将新产生的缺陷信息记录在新的簇中来更新当前的缺陷信息。由于这个原因，当数据被更频繁地记录在一次写入记录介质时，缺陷信息的量累积并且变得更多。

同时，由于形成在传统记录介质中的DMA具有小的记录容量，因此DMA可被用作在其中执行缺陷管理的区。因此，其记录容量大于DMA的记录容量的TDMA被附加地分配给一次写入记录介质。

在一次写入记录介质的完成期间，最后记录在TDMA中的临时缺陷管理结构(TDMS)被记录在DMA中。这样，能够使用记录介质驱动器将数据记录在一次写入记录介质上，并且减少花费在一次写入记录介质的初始化上的时间。

记录介质的初始化是从导入区或导出区读取数据并且确定如何管理记录介质以及将数据写入记录介质或从记录介质读取数据的处理。因此，当记录在记录介质的导入区或导出区中的信息的量增加时，在将记录介质装入记录介质驱动器之后更多的时间被花费在记录介质的初始化上。搜索记录在DMA中的数据的速度仍然比搜索记录在具有大的记录容量的TDMA中的数据的速度快。

参照图1，一次写入记录介质包括两个TDMA，即第一TDMA和第二TDMA，在其中TDMS被记录。如上提到，TDMS包含临时缺陷列表(TDFL)和临时缺陷管理信息(TDDS)。TDFL指定具有缺陷的区和替换具有缺陷的区的备用区的位置，TDDS指定TDFL的记录位置。

除了TDDS和TDFL之外，TDMS包含：空间比特映射(SBM)，使用比特值来指示数据是否被记录在包括构成一次写入记录介质的整个记录区的簇中。SBM在附加簇或者在包含TDMS的簇中是可记录的。

根据用户或驱动器生产者的决定，第二TDMA在数据区的包括是可选的。第二TDMA的包括根据用户或驱动器生产者的决定的原因在于使用户/盘生产者能够适当地使用一次写入记录介质。

当使用记录介质驱动器执行缺陷管理时，在一次写入记录介质的初始化期间备用区#1和#2被分配到数据区。

图2示出记录在TDMA中的信息的数据结构的例子。参照图2，TDDS和TDFL以簇为单位被记录在TDMA中。在TDMA中，记录TDDS的区和记录TDFL的区不被另外分开，即它们被记录在TDMA的相同的空间中。因此，各个TDDS和TDFL以至少一个簇为单位以在其中它们产生的顺序(N和k是大于1的整数)记录。

图3示出图2中示出的TDDS的数据结构的例子。参照图3，TDDS#i(i是大于0的整数)指定可记录写条件测试区的位置、与TDDS#i相应的TDFL#i的位置、写保护信息、指示更新TDDS#i的数量的更新数、分配给数据区的备用区#1和#2的大小、C_flag等。

如使用在此详细描述中，C_flag代表表示TDMS更新周期的状态的“连贯性(consistency)标志”。将在以后详细描述C_flag。

尽管未在附图中显示，但是根据本发明的此实施例，形成在图1的一次写入记录介质的单记录层中的区还被包括在一次写入记录介质的双记录层中。在一次写入记录介质的双记录层中，内部区#0、数据区#0和外部区#0从第一记录层的内部部分向外部部分顺序地形成在第一记录层中，外部区#1、数据区#1和内部区#1从第二记录层的内部部分向外部部分顺序地形成在第二记录层。

因此，根据本发明此实施例的缺陷管理在具有双记录层的一次写入记录介质中可执行。当第一记录层的第一TDMA装满数据时，第二记录层的第一TDMA可使用，当第一记录层的第二TDMA装满数据时，第二记录层的第二TDMA被使用。

图4是根据本发明实施例的对一次写入记录介质执行缺陷管理的驱动器的方框图。参照图4，该设备包括记录/读单元1、控制器2和存储器3。

记录/读单元1将数据写入作为信息存储介质的一次写入记录介质4中，并从一次写入盘4读回数据以检验写入的数据。

控制器2使用形成在一次写入记录介质4中的TDMA对记录在一次写入记录介质4上的数据执行缺陷管理。

在此实施例中，控制器2使用写入后检验方法，在写入后检验方法中，数据以特定单元被写在一次写入记录介质4上，并且写入的数据被检验以检测具有缺陷的一次写入记录介质4的区。更具体地讲，控制器2将用户数据以特定单位写在一次写入记录介质4上，检验写入的用户数据以检测在其中存在缺陷的一次写入盘4的区，并创建描述具有缺陷的区的位置的TDFL和TDDS。接下来，控制器2将创建的TDFL和TDDS存储在存储器3中。如果存储的信息量达到预定级别，则控制器2将存储的信息写入一次写入记录介质4的TDMA中。

图5是根据本发明实施例的如图4所示对一次写入记录介质执行缺陷管理的驱动器的详细方框图。参照图5，记录介质驱动器包括与图4的记录/读单元1相应的拾取器10。一次写入记录介质4被装入拾取器10。另外，驱动器包括控制器2，在控制器2中，安装有PC I/F 21、数字信号处理器(DSP)22、射频(RF)放大器(AMP)23、伺服机24和系统控制器25。存储器3被包括在控制器2的系统控制器25中。

在写操作期间，PC I/F 21从主机(未显示)接收将被记录的数据和写命令。系统控制器25初始化写操作需要的一次写入记录介质4。DSP 22从PC I/F 21接收将被记录的数据；错误修正编码(ECC)通过将如用于错误修正的奇偶校验的附加数据并入数据来对数据编码；和使用特定的方法调制ECC编码的数据。RF AMP 23将从DSP 22输出的数据转换为RF信号。拾取器10将从RF AMP23输出的RF信号写入一次写入记录介质4中。伺服机24从系统控制器25接收伺服控制命令并且对拾取器10执行伺服控制。另外，为了在写操作期间执行缺陷管理，系统控制器25命令拾取器10从一次写入记录介质4读取数据或者将如临时管理信息的信息写入一次写入记录介质4中。

另外，系统控制器25命令拾取器100写最后记录在TDMA中的包含TDDS和TDFL的TDMS，从而当给定用户命令或满足预定盘完成条件时完成一次写入记录介质4。

在读操作期间，PC I/F 21从主机接收读命令。系统控制器25执行读操作需要的盘初始化。拾取器10将激光束照射在一次写入记录介质4上，并且获得和输出来自从一次写入记录介质4反射的激光束的光信号。RF放大器23将从拾取器l0输出的光信号转换为RF信号，将从RF信号调制的数据提供给DSP 22，并且将用于伺服控制从RF信号获得的伺服信号提供给伺服机24。DSP 22解调调制的数据，对解调的数据执行ECC编码，并且输出ECC编码的数据。伺服机24响应于从RF放大器23输出的伺服信号以及从系统控制器25输出的伺服控制命令对拾取器10执行伺服控制。PC I/F 21将从DSP22接收的数据发送到主机。另外，系统控制器25可命令拾取器10在读操作期间从一次写入记录介质4中读取关于缺陷管理的信息。在记录/读操作期间系统控制器25管理整个系统。

现在将描述用于一次写入记录介质的缺陷管理方法。

本发明引入连贯性标志(以下称为‘C_flag’)，连贯性标志是指定TDMS更新周期和TDMS更新周期状态的信息，从而确定缺陷管理是否在将数据记录在信息存储介质期间由于不正常事件被不正常停止。

图6示出根据本发明实施例对其执行缺陷管理的一次写入记录介质的状态。参照图6，TDMS描述一次写入记录介质的两个状态：具有C_flag＝‘1’的TDMS更新周期打开状态和具有C_flag＝‘0’的TDMS更新周期关闭状态。根据更新的TDMS的状态，C_flag的值被确定并且被记录。当一次写入记录介质被装入记录介质驱动器并且关于更新的TDMS的状态信息的C_flag为‘1’时，驱动器认为是在记录介质的使用期间发生的掉电的不正常事件，因此缺陷管理被不正常完成。

现在将参照图4和6对根据本发明另一实施例的用于一次写入记录介质的缺陷管理进行详细描述。首先，当一次写入记录介质4被装入记录介质驱动器时(操作10)，TDMS更新周期达到状态100。状态100指示数据从未记录在一次写入记录介质4上，或者指示当数据已经被记录并且缺陷管理在此被成功执行时一次写入记录介质4进入被最后记录在TDMA中具有C_flag＝0的TDMS更新周期关闭状态。

如果数据从未记录在一次写入记录介质4上，则在一次写入记录介质4的初始化期间，控器器2将C_flag＝0和使用记录介质驱动器执行缺陷管理的信息记录在第一TDMA的第一簇中。C_flag被记录在以上参照图2和3提到的TDDS中。

根据此实施例，具有C_flag＝1的TDDS被记录，并且一次写入记录介质4进入状态110，从而响应于主机命令或根据记录/读操作，TDMS更新周期被打开(操作20)，并且一次写入记录介质4进入TDMA更新周期打开状态。

TDMS更新周期被打开的两种情况如下：

按主机命令的TDMS更新周期的打开

当包含最终TDMS，更具体地讲最后记录的TDDS的具有C_flag＝0的一次写入记录介质4被装入记录介质驱动器时，控制器2从主机(未显示)接收打开TDMS更新周期的命令。然后，控制器2控制记录/读单元1以将下一TDMS位置中的具有C_flag＝1的TDDS记录到最后记录在TDMA中的TDMS中，从而指示TDMS更新周期打开状态。在这种情况下，C_flag的值改变，但是如TDFL的其它信息不改变。因此，仅包含改变的C_flag的TDDS被记录在新的簇中。

根据记录/读操作打开TDMS更新周期

当具有C_flag＝‘0’的具有最后记录的TDDS的一次写入记录介质4被装入记录介质驱动器并且数据的记录或读准备好时，主机将写/读命令发送到记录介质驱动器，记录介质驱动器对一次写入记录介质4执行记录/读命令。如果在记录/读操作期间，TDMS需要被更新，则控制器2控制记录/读单元1以将下一TDMS位置中的具有C_flag＝1的TDDS记录到最后记录在TDMA中的TDMS，从而指示TDMS更新周期打开状态。

在写入后检验方法一次或几次之后或者在写入预定量的数据之后更新TDMS。此时，TDMS被更新为包括C_flag＝1并且被记录在TDDS中。

相似地，当在从一次写入记录介质4中读取数据期间簇被确定包含缺陷时，也执行更新TDMS的缺陷管理。

在C_flag被记录为1并且TDMS更新周期被打开的状态110之后，执行记录/读操作(操作30)，新的TDMS被创建并被存储在存储器3中。为了TDMA的有效使用，仅当主机给出更新TDMS的命令(操作50)时，控制器2通过将TDMS记录在TDMA来优选地执行TDMS的更新。此时，TDMS被更新，从而C_flag＝1被包括在TDDS中。

状态120指示盘状态，即具有C_flag＝1的TDMS更新周期打开状态，在其中在记录/读操作(操作30)期间TDMS可被更新。在状态120，当主机给出更新TDMS的命令(操作50)时，控制器2通过将C_flag＝1包括到TDDS中来更新TDMS，并且TDMS更新周期再进入状态100。

在响应于由主机给出或根据记录/读操作的打开TDMS更新周期的命令TDMS更新周期被打开之后，从记录介质驱动器弹出一次写入记录介质4的命令或关闭TDMS更新周期的命令被给定(操作40)。然后，控制器2控制记录/读单元1以将具有C_flag＝0的TDDS记录到TDMA中。这里，C_flag＝0指示TDMS更新周期被关闭。当具有C_flag＝0的TDDS被记录在TDMA中时，一次写入记录介质4进入TDMS更新周期关闭状态130。

如果主机给出关闭TDMS更新周期的命令，而不是弹出一次写入记录介质4的命令，则TDMS更新周期进入状态130并且转回状态100。在状态130，当主机给出弹出一次写入记录介质4的命令时，一次写入记录介质4从记录介质驱动器被弹出(操作70)。

在状态130中，如果用户给出完成一次写入记录介质4的命令，则控制器2控制记录/读单元以将如“ffh”的数据记录在TDMA的空白中，从而防止在TDMA中如TDMS的数据的记录，TDMS包含TDDS、TDFL或SBM。

如上所提到，根据本发明的此实施例，指示TDMS更新周期的两个状态，即TDMS更新周期打开状态和TDMS更新周期关闭状态的C_flag被记录在TDMS中。因此，可检查在一次写入记录介质4的使用期间是否发生如记录介质驱动器中缺电的不正常事件。如果在一次写入记录介质4的使用期间发生记录介质驱动器中的缺电，则指示TDMS更新周期被打开的C_fag一定最后被记录在TDMA中。

TDMS被重复地记录以增加数据检测的可靠性。例如，在TDMS的更新期间，TDMS被重复地记录在TDMA的连续簇中，或者新的TDMS被记录在第一TDMS中，新的TDMS的副本被记录在第二TDMA中。

直到现在，关于一次写入记录介质已经描述了根据本发明实施例的缺陷管理。然而，可对其执行根据本发明的缺陷管理的信息存储介质的类型不限于此类型的介质。即，使用更新周期和周期状态信息的根据本发明的用于信息存储介质的缺陷管理不限于一次写入记录介质的TDMS的更新。

如上所提到，存在当记录介质驱动器记录信息时发生的如掉电的不正常事件的情况，该信息的产生与在记录/读操作期间周期地或任何时间地在装入的信息存储介质上数据记录或数据读取有关。在这种情况下，向记录介质驱动器的电源的供应被中断并且信息的记录被不正常停止。根据本发明的实施例，当信息存储介质被重新装入记录介质驱动器时，记录介质驱动器通过参照最后的更新周期状态信息来确定信息的记录的不正常终止。

图7是示出根据本发明的实施例的用于信息存储介质的缺陷管理方法。图7中显示的缺陷管理可使用例如图4或5中显示的驱动器执行。以下，将参照图4和7描述用于根据本发明实施例的信息存储介质的缺陷管理方法。

首先，在动作310中，信息存储介质被装入。在动作320中，涉及数据记录或数据读取的特定信息的更新周期被打开。在此实施例中，信息存储介质可以是作为非限制的例子，如数字多用途光盘(DVD)的光学记录介质或硬盘。

另外，涉及数据记录或数据读取的信息是在记录或读取数据期间在信息存储介质上产生并且需要以后记录在信息存储介质上用于数据读取。例如，数据可为关于信息存储介质的数据区的缺陷信息的例子。如先前提到，缺陷信息被记录在形成在一次写入记录介质上的TDMS中或者形成在可重写记录介质上的DMA中。

在此实施例中，信息的更新周期作为对打开更新周期的命令或由主机(未显示)给出的写/读命令的打开的响应被描述。然而，应该理解打开更新周期的条件可被不同地设置。

在动作330中，当信息的更新周期被打开时，控制器2控制记录/读单元1以将更新周期打开状态信息记录在装入的信息存储介质的预定区中。更新周期状态信息使用连贯性标志来指定更新周期的状态。如果连贯性标志的值为1，则更新周期被打开。如果连贯性标志的值是0，则更新周期被关闭。

在动作340中，控制器2控制记录/读单元1以将数据记录在信息存储介质上或从信息存储介质读取数据。

在动作350，控制器2创建每当数据被记录在信息存储介质上或从信息存储介质上读取数据时需要被更新的特定信息。

在动作360中，控制器2确定信息的更新周期是否被完成。如果在动作360中确定更新周期没有被完成，则缺陷管理程序返回到动作330，在动作350中创建的信息被记录在信息存储介质上，更新周期打开状态信息被再次记录在其上。

然而，如果确定更新周期被完成，则在动作350中创建的信息被记录在信息存储介质上，在动作370中更新周期关闭状态信息被再次记录在其上。

当在动作330或动作370中记录更新周期状态信息时，优选地使更新周期状态信息被并入该信息，并且该信息被记录在信息存储介质上。如果在装入信息存储介质之后，更新周期打开状态信息被首先记录，则记录的信息与先前记录的信息比较，在其中仅更新周期状态信息从更新周期关闭状态信息改为更新周期打开状态信息的信息被记录。

如上所述，当信息存储介质被再次装入记录介质驱动器时，根据本发明公开的实施例的缺陷管理使记录介质驱动器能够容易地察觉在信息存储介质上记录数据的不正常终止，这种不正常终止由于如由掉电引起的向记录介质的电源供应的中断的事件引起。

尽管已经显示和描述了本发明几个实施例，但本发明不限于所公开的实施例。然而，本领域的技术人员应该理解，在不脱离由权利要求和其等同物限定的其范围的本发明的原理和精神的情况下，可对其进行改变。

Claims (5)

1、一种用于在其上记录有包括关于临时缺陷管理结构的更新周期状态的信息的临时缺陷管理信息的信息存储介质的缺陷管理方法，包括：

当临时缺陷管理结构的更新完成时，将包括指明临时缺陷管理结构的更新周期状态为关闭的信息的临时缺陷管理信息写入信息记录介质。

2、如权利要求1所述的方法，其中，所述关于临时缺陷管理结构的更新周期状态的信息被指定为“打开”或“关闭”。

3、如权利要求1所述的方法，其中，响应于弹出信息存储介质的命令而完成临时缺陷管理结构的更新。

4、一种用于在其上记录有包括关于临时缺陷管理结构的更新周期状态的信息的临时缺陷管理信息的信息存储介质的缺陷管理方法，包括：

从载入的信息存储介质读取包括关于临时缺陷管理结构的更新周期状态的信息的临时缺陷管理信息；和

当所述临时缺陷管理信息包括指明临时缺陷管理结构的更新周期状态为打开的信息时，确定没有正常地完成所述信息存储介质的缺陷管理。

5、如权利要求4所述的方法，其中，所述关于临时缺陷管理结构的更新周期状态的信息被指定为“打开”或“关闭”。

Images