CN100446556C - 超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,将调试图形固化于存储器中,在进行光机电引擎光学失真校正时,数字光显背投的微处理器(1)将控制指令通过IIC总线(2)传送给解码芯片(3),解码芯片(3)读取存储在EPROM(4)中的调试图形,还原成R、G、B数据,输入到显示驱动电路(5),将调试图形投射在屏幕,根据调试图形的偏移、变形位置调整光路反射机构。本发明实现了在生产组装或者售后维修数字光显背投时,不用任何辅助设备作为信号源也能进行光机电引擎光学失真校正,给生产组装或者售后维修带来了方便。

Description

超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法
【技术领域】:
本发明涉及超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法。
【背景技术】:
数字光显背投在生产组装或者售后维修时,需要对光学失真进行校正,使投射到屏幕上的图象完全准确,没有位置偏移。进行光学失真校正需要标准的几何图形作为调试信号,目前,数字光显背投都是通过VGA输入口接入计算机的几何调试图形作为光学失真校正调试信号,但是,这种方法有很大的缺点,必须要一台安装有几何调试图形软件的计算机作为信号源才能进行光学失真校正调试,这给生产组装,售后服务带来了很大的不便,增加了厂家和商家的资源配置负担,也不利于提高生产、售后服务的效率。
【发明内容】:
本发明的目的就是为了解决以上问题,提供一种可以实现在生产组装或者售后维修时,不用任何辅助设备作为信号源也能进行光学失真校正的全数字光机电引擎光学失真校正方法。
为实现上述目的,本发明提出了一种超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,包括以下步骤:
1)将调试图形固化在数字光显背投存储器内;
2)直接调出固化在存储器中的调试图形,投射在数字光显背投屏幕,根据调试图形校正光机电引擎光学失真。
上述的超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,所述步骤2)包括以下过程:数字光显背投的微处理器(1)将控制指令通过IIC总线(2)传送给解码芯片(3),解码芯片(3)读取存储在EPROM(4)中的调试图形,还原成R、G、B数据,输入到显示驱动电路(5),将调试图形投射在屏幕,根据调试图形的偏移、变形位置调整光路反射机构。
上述的超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,调试图形是标准几何调试图形。上述的超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,调试图形或标准几何调试图形的调用通过OSD菜单来完成。
由于采用了以上的方案,数字光显背投在工厂生产和售后维修时,对其光机电引擎光学失真校正,不需要连接其它设备以输入标准几何调试图形,调整简单易行,节省了生产和维修所需的设备配置,又提高了生产和服务效率。
【附图说明】:
图1本发明的电路示意图;
图2本发明的几何调试图形之一;
图3本发明的几何调试图形之二。
【具体实施方式】:
下面通过具体的实施例并结合附图对本发明作进一步详细的描述。
如图1所示,数字光显背投的微处理器1将控制指令通过IIC总线2传送给解码芯片PixelWork125,读取存储在EPROM中的几何调试图形,还原成R、G、B数据,输入到显示驱动电路5,将几何调试图形投射在电视屏幕。所述IIC总线2是SDA信号和SCL信号。
如图2、图3所示,数字光显背投在生产组装或者售后维修时,通过OSD菜单调出几何调试图形,根据几何调试图形在屏幕上的偏移位置校正光机电引擎光学失真。图2是本发明的其中一个几何调试图形,用来检查是否存在几何变形现象。图3是本发明的另一个几何调试图形,此几何调试图形的每一格是5个像素(Pixel),当投射到屏幕上图象存在梯形偏移,可以根据这个几何调试图形确定梯形偏移量,单位是像素(Pixel)。
所述发明还包括其它标准几何调试图形,为生产组装和售后维修提供了全部的测试信号,满足了光机电引擎光学失真校正要求。

Claims (4)

1、一种超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,其特征是,包括以下步骤:
1)将调试图形固化在数字光显背投存储器内;
2)数字光显背投的微处理器(1)将控制指令通过IIC总线(2)传送给解码芯片(3),解码芯片(3)读取存储在存储器中的调试图形,还原成R、G、B数据,输入到显示驱动电路(5),将调试图形投射在屏幕,根据调试图形的偏移、变形位置调整光路反射机构。
2、如权利要求1所述的超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,其特征是:所述调试图形是标准几何调试图形。
3、如权利要求1所述的超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,其特征是:所述调试图形的调用通过OSD菜单来完成。
4、如权利要求2所述的超大屏全数字光机电引擎光学失真校正方法,其特征是:所述标准几何调试图形的调用通过OSD菜单来完成。
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