CN100422769C - 利用核共振荧光成像的自适应材料扫描 - Google Patents

利用核共振荧光成像的自适应材料扫描 Download PDF

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Abstract

一种用于通过利用核共振荧光进行自适应扫描来检测样品中的核素的方法可包括：利用来自源(12)的光子照射目标样品；在能量通道中检测信号；利用检测到的信号确定扫描评估参数；确定扫描评估参数是否符合检测效率标准；调整一个或多个系统参数，使得扫描评估参数符合检测效率标准；以及，把能量中的信号与预定核素检测标准进行比较，以便识别核素检测事件。在另一实施例中，在能量通道中检测信号还可包括检测从目标样品(22)散射的光子(48)。在另一实施例中，检测能量通道中的信号还可包括检测经目标样品透射的和从至少一种参考散射物质(28)散射的光子(48)。

Description

利用核共振荧光成像的自适应材料扫描
参照相关申请
本申请要求2003年11月24日提交的美国临时申请No.60/524,551的优先权，因此将该临时申请引入作为参考。
背景
本发明涉及非侵入式材料扫描(诸如，在机场、海港或其他运输集散站的爆炸物、核材料或违禁品的检测)，并且尤其涉及用于利用核共振荧光来进行自适应扫描的方法和设备。
存在扫描方法可能希望满足的许多要求。首先，可能是希望的是，在以高的检测概率(DP)和低的得到误报(FP，false positive)的概率来检测威胁或违禁品时，测量结果是可靠的。此外，可能希望的是，在具有高的检测率和低的误报事件率的同时，扫描方法尽可能快速地工作。而且，搜索可希望地是非侵入式的和非破坏式的。由于要被检查的物品可能是相当大的(诸如装运集装箱)，因此利用穿透性辐射是有吸引力的；然而，这种辐射优选地不应使被扫描的物品有放射性。成像目标的能力可能也是有价值的。这里提出用于利用核共振荧光成像(NRFI)来最佳地实现这些目的的自适应方法。
概要
在此公开用于通过利用核共振荧光的自适应扫描来检测目标样品中感兴趣的一种或多种核素的方法和设备。在此还公开用于为检测违禁品、诸如爆炸物或核材料或其他材料的威胁而进行的自适应非侵入式目标样品扫描的方法和设备。
在一个示例性实施例中，用于检测目标样品中的核素(species)的方法可包括：利用来自源的光子照射目标样品；在至少一个能量通道中检测信号；利用在该至少一个能量通道中所检测到的信号来确定扫描评估参数；确定该扫描评估参数是否符合检测效率标准；调整一个或多个系统参数，使得该扫描评估参数符合检测效率标准；以及，把至少一个能量通道中的信号与预定核素检测标准进行比较，以便识别核素检测事件。在另一示例性实施例中，利用所检测到的信号来确定扫描评估参数还可包括确定对该至少一个能量通道中的信号的本底(background)贡献。在再一示例性实施例中，利用所检测到的信号来确定扫描评估参数还可包括确定该至少一个能量通道中的信噪比。在再一示例性实施例中，在该至少一个能量通道中检测信号还可包括在该至少一个能量通道中检测从至少一部分目标样品散射的光子。在再一示例性实施例中，在至少一个能量通道中检测信号还可包括检测经目标样品透射和从至少一种参考散射物质散射的光子。
在另一示例性实施例中，用于针对潜在威胁而进行目标样品的扫描的方法可包括：提供入射到目标样品上的光子的源；测量从该目标样品散射的光子的能谱；利用从该目标样品散射的光子的能谱来计算至少一个扫描评估参数；利用从该目标样品散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到威胁。如果已检测到威胁，则该方法还可包括确定该至少一个扫描评估参数是否符合检测效率标准。如果扫描评估参数并不符合检测效率标准，则该方法还可包括：调整一个或多个系统参数并重复测量所散射的光子的能谱、计算扫描评估参数、确定是否已检测到威胁、以及确定该扫描评估参数是否符合检测效率标准的步骤。如果该至少一个扫描评估参数符合检测效率标准，则该方法还可包括识别确定的威胁检测事件。
在再一示例性实施例中，扫描评估参数可包括检测概率，而检测效率标准可包括超过最小要求的检测概率的检测概率。在再一示例性实施例中，扫描评估参数可包括得到误报结果的概率，而检测效率标准可包括小于最大要求的得到误报结果的概率的得到误报结果的概率。在再一示例性实施例中，扫描评估参数可包括检测概率和得到误报结果的概率，而检测效率标准可包括超过最小要求的检测概率的检测概率和小于最大要求的得到误报结果的概率的得到误报结果的概率。
在另一示例性实施例中，用于针对潜在威胁而进行目标样品的扫描的方法可包括：提供入射到目标样品上的光子的源，使得至少一些光子经该样品透射；允许经该样品透射的光子中的至少一些从至少一种参考散射物质散射；测量从该至少一种参考散射物质散射的光子的能谱；利用从该至少一种参考散射物质散射的光子的能谱来计算至少一个扫描评估参数；利用从该参考散射物质散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到威胁。如果已检测到威胁，则该方法还可包括确定该至少一个扫描评估参数是否符合检测效率标准。如果该至少一个扫描评估参数并不符合检测效率标准，则该方法还可包括：调整一个或多个系统参数并重复计算扫描评估参数、确定是否已检测到威胁、以及确定该扫描评估参数是否符合检测效率标准的步骤。如果该至少一个扫描评估参数符合检测效率标准，则该方法还可包括识别确定的威胁检测事件。在再一示例性实施例中，扫描评估参数可包括检测概率，而检测效率标准可包括超过最小要求的检测概率的检测概率。在再一示例性实施例中，扫描评估参数可包括得到误报结果的概率，而检测效率标准可包括小于最大要求的得到误报结果的概率的得到误报结果的概率。在再一示例性实施例中，扫描评估参数可包括检测概率和得到误报结果的概率，而检测效率标准可包括超过最小要求的检测概率的检测概率和小于最大要求的得到误报结果的概率的得到误报结果的概率。
在另一示例性实施例中，用于检测目标样品中的潜在威胁的方法可包括：提供光子源；利用来自该源的光子照射目标样品；提供至少一个光子检测器来在至少一个能量通道中测量从至少一部分目标样品散射的光子的强度；确定所述至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道中的标称本底信号；计算所述至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道中的信噪比；调整一个或多个系统参数来改善所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所收集的数据的信噪比；以及，如果在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子强度符合预定威胁检测标准，则识别威胁检测事件。在又一示例性实施例中，调整一个或多个系统参数的步骤还可包括下述中的一个或多个：改变光子在目标样品区域中的有效停留时间；把过滤物质插入到光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素；在光子源包括由电子束冲击的韧致辐射目标的地方，改变电子束的能量；改变光子源的强度和/或准直；改变一个或多个光子检测器的准直；在一个或多个光子检测器之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素；改变一个或多个光子检测器以其来观测目标样品的角度；和/或改变光子束在其入射到目标样品上的地方的斑点面积。
在另一示例性实施例中，用于检测目标样品中的潜在威胁的方法可包括：提供光子源；利用来自该源的光子照射目标样品；提供至少一个光子检测器来在至少一个能量通道中测量从至少一部分目标样品散射的光子的强度；提供透射检测器，用于根据光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来测量经目标样品透射的光子的强度；根据光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来利用经目标样品透射的光子的强度而识别用于进一步进行扫描的至少一个感兴趣区域；确定从至少一个感兴趣区域中的至少一个散射到至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道的光子的标称本底信号；计算至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道中的信噪比；调整一个或多个系统参数，以便改善至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的信噪比和/或统计学精度；以及，如果在至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子强度符合预定威胁检测标准，则识别威胁检测事件。在又一示例性实施例中，透射检测器可包括X-射线成像器。在再一示例性实施例中，调整一个或多个系统参数的步骤可还包括下述中的一个或多个：改变光子在目标样品区域中的有效停留时间；把过滤物质插入到光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素；在光子源包括由电子束冲击的韧致辐射目标的地方，改变电子束的能量；改变光子源的强度和/或准直；改变一个或多个光子检测器的准直；在一个或多个光子检测器之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素；改变一个或多个光子检测器以其来观测目标样品的角度；和/或改变光子束在其入射到目标样品上的地方的斑点面积。
在另一示例性实施例中，用于检测目标样品中的潜在威胁的方法可包括：提供光子源；利用来自该源的光子照射目标样品；提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包含至少一种感兴趣的核素；允许经目标样品透射的光子从至少一种参考散射物质散射；提供至少一个光子检测器来在至少一个能量通道中测量从至少一种参考散射物质散射的光子的强度；确定所述至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道中的标称本底信号；计算所述至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道中的信噪比；调整一个或多个系统参数，以便改善所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的信噪比；以及，如果在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子强度符合预定威胁检测标准，则识别威胁检测事件。在又一示例性实施例中，调整一个或多个系统参数的步骤可还包括下述中的一个或多个：改变光子在目标样品区域中的有效停留时间；把过滤物质插入到光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素；在光子源包括由电子束所冲击的韧致辐射目标的地方，改变电子束的能量；改变光子源的强度和/或准直；改变一个或多个光子检测器的准直；在一个或多个光子检测器之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素；改变一个或多个光子检测器以其来观测目标样品的角度；和/或改变光子束在其入射到目标样品上的地方的斑点面积。
在另一示例性实施例中，用于检测目标样品中的潜在威胁的方法可包括：提供光子源；利用来自该源的光子照射目标样品；提供透射检测器，用于根据光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来测量经目标样品透射的光子的强度；根据光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来利用经目标样品透射的光子的强度识别用于进一步进行扫描的至少一个感兴趣区域；提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包含至少一种感兴趣的核素；允许经目标样品的至少一个感兴趣区域透射的光子从该至少一种参考散射物质散射；提供至少一个光子检测器来在至少一个能量通道中测量从该至少一种参考散射物质散射的光子的强度；确定该至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道中的标称本底信号；计算该至少一个感兴趣的能量通道中的每个能量通道中的信噪比；调整一个或多个系统参数，以便改善至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的信噪比；以及，如果在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子的强度符合预定威胁检测标准，则识别威胁检测事件。在又一示例性实施例中，透射检测器可包括X-射线成像器。在再一示例性实施例中，调整一个或多个系统参数的步骤可还包括下述中的一个或多个：改变光子在目标样品区域中的有效停留时间；把过滤物质插入到光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素；在光子源包括由电子束所冲击的韧致辐射目标的地方，改变电子束的能量；改变光子源的强度和/或准直；改变一个或多个光子检测器的准直；在一个或多个光子检测器之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素；改变一个或多个光子检测器以其来观测目标样品的角度；和/或改变光子束在其入射到目标样品上的地方的斑点面积。
在另一示例性实施例中，用于检测目标样品中的潜在威胁的方法可包括：提供光子源；利用来自该源的光子照射目标样品；提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包含至少一种感兴趣的核素；允许经目标样品透射的光子从该至少一种参考散射物质散射；提供至少一个参考光子检测器，以便根据光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来测量至少一个参考光子能量通道中的从该至少一种参考散射物质散射的光子的强度；利用参考光子检测器在所述至少一个感兴趣的参考光子能量通道中的每个能量通道中所测量的光子的强度来识别用于进一步进行扫描的至少一个感兴趣区域；提供至少一个散射光子检测器来在至少一个散射光子能量通道中测量从目标样品中的感兴趣区域散射的光子的强度；确定由至少一个散射光子检测器在该至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的每个能量通道中所测量的光子的标称本底信号；计算所述至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的每个能量通道中的信噪比；调整一个或多个系统参数，以便改善所述至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的至少一个中的信噪比和/或统计学精度；以及，如果在所述至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的至少一个中所检测到的光子强度符合预定威胁检测标准，则识别威胁检测事件。在又一示例性实施例中，调整一个或多个系统参数的步骤可还包括下述中的一个或多个：改变光子在目标样品区域中的有效停留时间；把过滤物质插入到光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素；在光子源包括由电子束所冲击的韧致辐射目标的地方，改变电子束的能量；改变光子源的强度和/或准直；改变一个或多个光子检测器的准直；在一个或多个光子检测器之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素；改变一个或多个光子检测器以其来观测目标样品的角度；和/或改变光子束在其入射到目标样品上的地方的斑点面积。
在另一示例性实施例中，用于针对潜在威胁而进行目标样品的扫描的方法可包括：提供入射到目标样品上的光子的源，使得一些光子从样品散射而一些光子经样品透射；测量经至少一部分目标样品透射的光子的强度；以及，利用经该至少一部分目标样品透射的光子的所测量的强度来识别用于进一步研究的至少一个感兴趣区域。在又一示例性实施例中，该方法还可包括为至少一个所识别的感兴趣区域进行以下步骤：测量从感兴趣区域散射的光子的能谱；利用从该感兴趣区域散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率；以及，利用从该感兴趣区域散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到威胁。如果还没检测到威胁，则该方法还可包括确定检测概率是否符合或超过预定要求的检测概率。如果检测概率符合或超过预定要求的检测概率，则该方法还可包括结束感兴趣区域的扫描。如果检测概率并不符合或超过预定要求的检测概率，则该方法还可包括调整一个或多个系统参数并重复测量从该感兴趣区域散射的光子的能谱、利用从该感兴趣区域散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率、以及利用从该感兴趣区域散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到威胁的步骤。如果已检测到威胁，则该方法还可包括确定威胁检测为误报信号的概率是否超过预定要求的得到误报结果的概率。如果威胁检测为误报信号的概率符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则该方法还可包括调整一个或多个系统参数并重复测量从该感兴趣区域散射的光子的能谱、利用从该感兴趣区域散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率、以及利用从该感兴趣区域散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到威胁的步骤。如果威胁检测为是误报信号的概率并不符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则该方法还可包括识别确定的威胁检测事件。
附图简述
参照以下结合附图的详细说明将更全面地理解在此所公开的利用核共振荧光自适应扫描材料的方法的这些和其他特征及优点。这些附图举例说明在此所公开的设备的原理，并且未按比例绘制。
图1是可被用于利用核共振荧光来自适应扫描材料的系统的实施例的示意图；
图2举例说明利用4.1MeV和11MeV的电子束产生的韧致辐射光子束进行的48Ti和27Al的NRF谱；
图3举例说明利用2.72MeV的电子束产生的韧致辐射光子束进行的209Bi和208Pb的NRF谱；以及
图4举例说明针对30个计数的信号(图4a)和42个计数的信号(图4b)所计算的三个信噪比的典型接收器操作机构特性(ROC，Receiver Operator Characteristic)曲线；以及
图5是举例说明自适应扫描方法的示例性实施例的流程图。
示例性实施例的详述
为了提供全面理解，现在将说明某些举例说明的实施例；然而，本领域普通技术人员将理解，能够修改和改进在此所说明的装置和方法，以便提供用于其他适当应用的装置和方法，而且，在不偏离在此所说明的系统的范围的情况下能够做出其他添加和修改。
除非另外详细说明，能够把这些举例说明的实施例理解为提供改变某些实施例的细节的示例性特征，并且因此，除非另外详细说明，在不偏离所公开的装置或方法的情况下能够把说明的特征、部件、模块和/或方面以另外的方式组合、说明、互换和/或重新安排。另外，部件的形状和尺寸也是示例性的，并且除非另外详细说明，在不影响所公开的装置或方法的情况下能够改变这些部件的形状和尺寸。
入射到目标上的具有连续能谱的光子束能够激励目标中的核共振或状态，随后该核共振或状态发荧光。由此产生的发射光谱唯一地依赖于目标中所包括的特定同位素。当由能够解析空间信息的检测器系统或检测器阵列来检测时，这些光谱供测量照射区中所包括的同位素的空间分布之用。
在美国专利No.5,115,459“Explosive Detection UsingResonance Fluorescence of Bremsstrahlung Radiation(利用韧致辐射的共振荧光的爆炸物检测)”和美国专利No.5,420,905“Detection of Explosives and Other Materials Using ResonanceFluorescence，Resonance Absorption，and OtherElectromagnetic Processes with Bremsstrahlung Radiation(利用共振荧光、共振吸收和其他带有韧致辐射的电磁过程的爆炸物和其他材料的检测)”中，讨论了用于在非侵入式扫描应用中采用共振散射测量(也称为核共振荧光或NRF)的一些示例性系统，因此把这两篇专利的内容引入作为参考。
在图1中示出核共振荧光成像(NRFI)扫描仪配置的示例性实施例的示意图。
该系统包括光子源12，该光子源12产生具有在某个能量范围上的能谱的光子。合适的光子源包括：韧致辐射源；利用来自放射源的核衰变的康普顿扩展(Compton-broadened)光子源；相干韧致辐射；自由电子激光；来自高能电子的激光反向散射；或者其他本领域技术人员已知的光子源。
在该举例说明的实施例中，光子源12是韧致辐射源并且可包括电子源14，该电子源14提供入射到韧致辐射目标16上的电子束32，以产生韧致辐射光子束34。韧致辐射目标16后面有束霖止器(beamstopper)(未示出)，以阻止电子32。过滤物质52可跟随该束霖止器，例如以从韧致辐射束34中滤出低能量光子，或者优先地吸收对应于特定的NRF线的能量范围中的光子。可应用准直器18来对韧致辐射束32进行准直。防护罩(未示出)可包围光子源12。在美国专利No.5,115,459中可以找到示例性的合适的韧致辐射光子源的说明。
要被扫描的目标20(诸如货物集装箱、装运集装箱、行李、包裹或者其他容器或对象)可被放置在韧致辐射束34的路径中。在一个实施例中，可以例如通过传送带来将目标移过射束的路径。在另一实施例中，例如通过移动光子源12或操纵电子束32，可以跨越目标20扫描射束34。目标20可包含目标内含物(content)22。本领域技术人员会认识到实现在目标集装箱20上扫描光子束34的其他方式。入射光子束34共振地激励目标的内含物22的原子核，而光子48既可以从内含物22又可以从目标20被散射，以及可经内含物22和目标20被透射。散射光子的能量表征目标内含物22和目标20的原子核的量子化能量状态之间的间隔。目标内含物22中存在的每种同位素共振地散射唯一能量组中的光子。
可以包括检测器阵列42的检测设备38和40可以捕获、测量、计数和/或记录在给定的一个或多个方向上散射的光子的能量。在美国专利No.5,115,459中可以找到若干示例性的适当的检测设备的说明。检测设备38或40还可包括过滤物质和防护罩(未示出)，该过滤物质在每个检测器的表面上，以吸收低能量光子。当从准直孔径18散射会引起大量指向检测设备38或40的光子时，可应用准直器和检测设备38或40之间的遮光板(未示出)。可以设置束流收集器30来吸收射束34穿过目标20时未被吸收的射束34的能量。在允许方便的进出目标的方式的同时，防护罩(未示出)可包围整个装置。来自检测设备38或40的数据被发送到可以分析这些数据的处理器46。处理器46可包括个人计算机(PC)、微型计算机或其他适当的处理器。一种分析可包括确定特定的感兴趣的核素的丰度。这些数据可由预处理电子设备44来预处理，该预处理电子设备44可包括前置放大器、滤波器、定时电子设备或其他适当的预处理电子设备。处理器46可适于评估这些数据，以便确定目标体积的内含物是否符合或超过一个或多个预定检测阈值。例如，处理器46可把针对每个被照射的目标体积的数据与“正常的”目标体积的分布(profile)进行比较，以便确定被照射的目标体积是否应被认为是“可疑的”。另外，处理器46可利用如下所述的其他威胁检测启发法来进行编程。此外，如在下面更详细地说明的那样，处理器46可以控制系统的光子束、扫描、检测和/或其他方面的各种各样的参数。
为了使康普顿散射和其他散射过程的效应最小以及使信噪比最大，检测设备38或40可以相对于光子束方向以大于90度的相对韧致辐射束34的角度来放置，优选地基本上以大于90度的角度来放置。
射束34穿过目标内含物22。该射束可以在束流收集器30中被吸收，该束流收集器30被设计来基本上吸收所有残余能量。例如，10MeV的适当的束流收集器可包括非常深的空腔中的含有硼或锂的水成物质层、碳层和铁层，该空腔形成在铅和/或铁的护罩中，以防护侧面和检测器免受返流低能量光子影响。含有硼或锂的水成物质层可围绕该护罩的外侧。该空腔的深度、射束尺寸、检测器的定向准直和检测器的精确位置是相关的参数，可以使这些参数兼容，以便使进入检测器的来自束流收集器的反向流光子的数目最小。为了有助于符合该目的，可设立另外的遮光板。
利用本发明的技术能以各种各样的方式来实现成像。通过移动整个光子源12、目标20、或者简单地移动孔径18，就能利用射束来扫描行李。也可以由磁铁来偏转电子束，以摆动韧致辐射束方向。优选的光子束几何形状包括斑点(锥体)和条纹。其他适当的扫描配置、几何形状和图案为本领域技术人员所认识并可以被应用。
例如，如果利用小圆孔径18把射束34准直成大致为1/20弧度(约3度)的平均角度，离孔径1米的斑点的直径将约10cm，这为用于成像一件行李的内含物或集装箱20的内含物22的适当尺寸。
如果利用垂直缝隙孔径对光子束34进行准直以便在与一件行李的入射点处产生10cm宽的薄条，则，例如，当60cm长的手提箱在传送带上移动时，就能用几秒钟时间来扫描该手提箱。可替换地，由可调准直器或由用来产生光子束34的电子束32的磁偏转能把射束34准直成垂直摆动的斑点。即使准直为垂直条的形式，中央强度也仍然是最高强度，这反映自然准直，并且电子束32的磁偏转对成像可能是有用的。如果准直是垂直条或另外取向的条纹，该条纹与检测器42的准直视域的交叉限定对于成像也是有用的体元。
在另外的技术中，通过使用大孔径可利用韧致辐射来浸溃大部分目标集装箱20，并且例如通过在每个检测器42之前引入准直器，检测器42可适于是方向特定的。这样，能把每个检测器设计成只在特定方向上检测从目标内含物22的小特定区50散射的光子。每个这样的特定区或“体元”50都可被概念化为光子束34与准直检测器42的瞄准线的三维交叉。能把这样的检测器的阵列设计成把整个目标20成像到要求的分辨度。
本领域技术人员会认识到适于获得目标内含物的空间解析图像的可替换的检测系统。例如，这样的检测系统可包括配备有能够使二维或三维空间信息被解析的编码孔径系统的检测器阵列。也可以应用诸如在处理器46断层摄影(CT)中所应用的成像技术那样的成像技术来获得目标20及其内含物22的二维或三维图像。
上述成像技术的组合导致本发明的另外实施例。例如，细小的缝隙孔径能被用于随目标20在传送带上移动而照射目标20的薄垂直条。条纹的宽度将确定成像的水平分辨率。通过使用以沿照明区的垂直高度的间隔瞄准的定向检测器，会增加垂直分辨率。这样的方法将导致高分辨率的快速测量。
使用可迅速调整的光子束准直孔径18导致带有重要优点的其他实施例。例如，在致力于检测薄片形状的爆炸物和/或获得其内含物中的各种元素丰度的初始估计的过程中，能首先利用韧致辐射浸溃目标20。在致力于检测更局部化的爆炸物质的过程中，能缩小准直孔径18的光圈来成像手提箱。在一个实施例中，响应于用初始低分辨率扫描检测到的任何确定的信号(positive signal)，处理器46可以控制准直孔径18的大小，如将在下面进一步讨论的那样。
处理器46可适于分析由38和/或40的任何组合的检测设备所获得的数据。如同其他爆炸物检测装置一样，可以模型化或以实验方式确定如在“正常的”目标体积或体元中出现的诸如氮和氧这样的元素的分布。明显偏离这些分布的目标体积或体元50或者体积或体元50的组合可被识别为“可疑的”。处理器46能适于把数据与所存储的分布进行比较。如果这些分布是精确确定的，则可实现伴随有低的假报警(“误报”或“FP”)率的高的爆炸物检测概率(“检测概率”或“DP”)。如果目标的一区域显示出明晰的爆炸物的元素分布，就可确定威胁识别。
这样说明的检测方法(其中由检测器40检测从目标20和目标内含物22共振散射)可以被应用于获得目标内含物22的三维NRF成像。例如，如果每个检测器40适于是定向的(例如，如通过准直)，那么在每个检测器中所检测到的NRF谱提供每个体元50中所含有的同位素的测量，在体元50中，每个检测器40的视场交叉光子束34。如果被要求的话，这些谱可被重建为目标内含物22的3D同位素图像。由于这个原因，上述检测方法可被称为3D NRF成像。
为了提取关于NRF谱中所识别的每种核素的丰度的信息，对于系统必要的是，首先获得入射到每个体元50上的光子流量的近似。在一个实施例中，这可通过以下方式来实现：沿光子束34的路径观测从每个体元50散射的光子谱；并且利用观测到的谱来计算每个体元50中的射束34的平均衰减；以及，根据每个上述体元中的衰减来调整每个相继体元50上的所估计的入射流量。因而，在示例性实施例中，已知其中射束34最初冲击目标20的第一体元50上的入射流量。那么可拟合从第一体元散射的光子的谱。在一个实施例中，拟合可以是完整的模型，该模型包括诸如由于康普顿散射、电子偶产生和检测器中的光电效应引起的共振散射峰值加本底的贡献以及非共振的本底贡献。利用如已知的第一体元上的入射流量、已知的对于所观测的NRF共振的相互作用横截面、已知的检测器效率等这样的信息，可从那个拟合的结果中提取第一体元的同位素成分。从所测量的谱和/或从所测量的第一体元的同位素成分，穿过该第一体元时的光子束34的衰减可被确定并可被用于计算第二体元上的入射流量的估计。然后，可对第二体元重复该拟合过程，并根据第二体元的衰减确定下一个相继体元的入射流量，沿光子束34穿过目标20的路径依此类推。在一些实施例中，利用已知的吸收特性和在沿光子束34的以前体元中所识别的同位素的所测量的丰度，可根据能量来确定沿射束的每个体元上的入射光子流量。如将在下面被进一步讨论的那样，这些所计算的入射光子流量可被用于计算从会被认为是威胁的特定体元在特定能量通道中所散射的最小光子数目。这个过程可被迭代，以及例如通过测量总透射流量和把这个信息合并到从每个体元50到完整能谱的拟合中来被进一步约束。
在图1中也举例说明可替换的检测方案。该可替换的方案能够提供目标内含物22的同位素成分的2D NRF图像。当光子束34穿过目标20时，光子将由目标内含物22的原子核共振吸收。所吸收的光子的能量对应于目标20中的每个核素的量子化能量状态之间的间隔。对于这些特定能量，所透射的射束将耗尽光子。例如，如果目标含有氮，则对应于氮中的核能量状态之间的间隔的能量的光子将被有选择地吸收。被吸收的光子数量取决于目标20中的氮的数量。因此，经目标透射的特定能量的光子的强度含有关于目标的核成分的信息。可在目标20之后布置一系列参考共振散射物质28。每种参考散射物质28可由一种或多种爆炸物检测装置要检测的元素组成。检测设备42的阵列36可适于捕获、测量、计数和记录从参考散射物质28的每种散射物资共振散射的光子48。例如，在简单的实施例中，提供两种参考散射物质，一种是氮，另一种是氧。在这样的实施例中，检测设备可适于检测从氮散射物质中的原子核共振散射的光子；而另一个检测设备可适于检测从氧散射物质中的原子核共振散射的光子。可替换地，单个检测设备42可适于检测从所有参考散射物质28中的原子核共振散射的光子。
这个检测方案如下工作。如果没有目标20被放在射束34的路径中，则光子束将直接冲击参考共振散射物质28中的第一种散射物资。与第一种参考散射物质相关的检测设备36将检测到相对大数量的、对应于在第一种参考散射物质中所包含的核素的光子，因为实质上会已没有在对应于这样的核素的能量处的吸收。同样，如果含有仅相对小数量的第一种参考散射物质中所含有的核素的目标20被放在射束的路径中，则第一检测设备处的这个强信号将减弱仅相对小数量。然而，如果具有相对大数量的第一种参考散射物质中所含有的核素的目标20被放在射束的路径中，则由于对应于这种核素的能量的光子在目标20中的共振吸收，该信号将显著被减弱。
因此，目标20及其内含物22中的感兴趣的核素的丰度将被检测为来自与含有这种核素的参考散射物质相关的检测设备的信号中的减少。不对应于参考散射物质基本上由其组成的核素的能量的光子由于非共振过程将被衰减仅相对小数量。因此，检测第一种参考散射物质的核素的方法推广到每种相继的参考散射物质。这个检测方案的优点是：如果对应于两种或多种感兴趣的核素的能量非常接近，则直接检测散射光子的检测设备38或40可能很难区分来自这两种或多种核素的贡献。然而，利用透射光子和参考散射物质28，分别检测对应于每种核素的能量，大大地减少了这种含混，并且检测设备分辨间隔很近的光子能量不再非常重要。当对应于两种或多种核素的能量并不干扰时，单种参考散射物质能够由这些核素的组合来组成。
这个检测方案的另外优点是，该方案可允许迅速地并利用相对小数目的检测器来测量对应于参考目标中所含有的核素的核素的材料总数量。例如，这可允许在进行更详细的扫描或成像过程之前，针对任何数量的一种或多种感兴趣的核素的存在而允许目标20的快速第一遍扫描。在这样的快速第一遍扫描表示没有感兴趣的核素的威胁数量存在的地方，可为节省时间和资源而回避更详细的扫描。
在图1中举例说明的实施例中，系统也可包括直接透射检测器24(诸如X-射线成像器)，该直接透射检测器24能够根据光子束在其中冲击目标的横向位置来测量经目标20透射的光子的强度和/或能量。能利用这样的测量，例如来获得沿光子束34的轴投影的目标20的平均密度的映射(map)。这样，就能构建非常精密的目标的透射密度图像。这样的图像会识别目标中的特定高材料密度区，这在检测爆炸物或高原子序数的材料方面会是进一步的辅助。(通过检测来自目标20的反向散射也能实现同样的密度成像，特别是以低能量来实现。)
上述的直接透射检测器24或2D NRF检测方案(其中允许经目标20透射的光子从参考散射物质28散射)也可提供光子束34在其穿过目标20时的总衰减的估计。在一些实施例中，光子束34的总衰减可被用作沿射束进入每个体元的光子流量的上述确定的检查(或者提供用于对该确定的迭代校正的方式)，如以前所指出的那样。利用NRF来识别感兴趣的核素的存在
在图2中举例说明识别目标中存在的核素或检测感兴趣的核素的核共振荧光的实用性。在图2中显示从由带有4.1和11MeV终点能量的电子束产生的韧致辐射束中所获得的同位素48Ti和27Al(只在4.1MeV谱中存在)的核共振荧光谱。(在Degener等人的“Nuclear Physics(核物理)”(A513(1990年)的第29-42页)中描述了这些谱，该文献的内容特此引入作为参考。)利用准直高能量分辨率锗检测器，以相对射束方向大于90度的角度测量这些谱。相对连续的和缓慢变化的非共振本底，很容易地检测到48Ti和27Al的所测量的NRF状态的窄峰(具有约4keV的宽度，受检测器分辨率的限制)。当注视固定能量的状态时，对于较高终点能量，从非共振本底过程产生的连续本底明显较高。
来自诸如康普顿散射和电子偶产生的非共振过程的能谱的特性也直接提供关于检查中的体积的密度和平均原子序数(Z)的信息。在图3中举例说明这一点，其中，在相同的实验条件下，209Bi目标的NRF谱与208Pb的NRF谱重叠。(在F.R.Metzger的“Physical Review(物理评论)”第187期、第1680页(1969年)中描述了这些谱，该文献的内容特此引入作为参考。)209Bi谱(实曲线)表示两个强NRF状态的存在(第三个峰值是来自目标中的杂质)，然而208Pb谱(虚曲线)有平滑的连续本底，因为这种同位素在这个能量范围中并没有任何NRF状态。208Pb和209Bi的Z分别是82和83，并且，如从理论预期的和在这些测量结果中所证实的那样，非共振本底过程实质上是相同的。
这些谱和在其他已知的NRF实验中所获得的类似谱举例说明了若干要点：
·高能量分辨率检测器的使用允许直接提取在非共振本底存在时的NRF状态的强度，从而提取在被探测区中的与对其激励NRF状态的每种同位素相关的材料数量。
·非共振本底以能够被测量或模型化的方式取决于目标样品的原子序数(Z)、密度和数量。
·位于NRF状态之下的非共振本底是目标材料的韧致辐射束终点能量和Z的函数。
这里提出的方法也可以并入二维透射检测器24(诸如X-射线成像器)，该二维透射检测器24可以相对高的空间分辨率来采样积分衰减。这个互补检测器实现小的致密对象的检测。与NRF 3D图像和/或NRF 2D透射检测器结合，作为自适应系统的部分或出于其他目的，该互补检测器可被用于动态地识别用于进一步进行扫描的感兴趣区域。
通过上述现象，可以确定相对于非共振本底的给定NRF状态的测量的信噪比。在扫描之前就可知道NRF状态的属性，该NRF状态的属性包括作为每种感兴趣的核素的能量和角度的函数的散射横截面。在与特定的感兴趣的核素相关的一个或多个NRF状态的一个或多个特征能量处的从目标体元50散射的和以特定散射角检测到的光子的数目与目标体元中的这种核素的丰度成比例。在对应于给定NRF状态的能量通道中的计数数目的测量和本底非共振过程对那个能量通道中的计数(诸如，由于在相邻能量间隔中的非共振过程或预期本底的其他估计引起的平均本底计数)的贡献的估计能被用于自适应地估计对于在被检查的空间区域中的给定数量的指定同位素的检测概率(DP)和得到误报结果(FP)的概率。这种信息能被用于修改扫描参数，以便满足要求的DP和FP的标准。在一些实施例中，感兴趣的能量通道中的计数数目的测量和非共振本底对这个计数数目的贡献的估计一起能够提供信噪比的动态评估，该信噪比的动态评估能被用于自适应地修改扫描参数来符合期望的DP和FP标准。例如，如果检查中的区域具有相对高的非共振本底，则信噪比将较低，并且，能够增加韧致辐射束的停留时间来通过收集较多的光子事件进行补偿，以便达到较高的统计学准确度，或者可以调整其他系统参数来改善如在下面更详细讨论的信噪比或统计学准确度。
虽然示例性的自适应扫描方法的下列讨论利用信噪比的动态确定来确定是否达到要求的DP和FP标准，但本领域技术人员应理解，一个或多个感兴趣的能量通道中的计数数目的测量和所测量的、所估计的或所近似的本底(特别是作为能量的函数)在确定DP和FP时可以独立考虑。例如，在其中在感兴趣的能量通道或能量范围中没有可观的本底的情况下，这个通道或范围中的所有计数可归因于对应于这个通道或范围的同位素的存在，并且在没有确定信噪比的步骤的情况下就可进行这种同位素的阈值数量是否存在的确定。
自适应扫描方法的实例
现在将说明识别感兴趣的核素的阈值数量的自适应目标扫描方法的示例性实施例。在所述的实施例中，感兴趣的核素的阈值数量可被描述为“威胁”，而该方法的目的可以是为检测诸如核素材料或常规爆炸物这样的威胁存在而进行货物集装箱、行李或其他目标的自适应扫描。然而，本领域技术人员应理解，在此所公开的方法可被用于其中要求为识别目标的同位素成分或检测特定感兴趣的核素的阈值数量而进行的目标的非侵入式扫描的任何应用。除了针对核材料、大量高密度材料(可指所防护的核材料或其他材料)、爆炸物或违禁品的存在而扫描目标之外，这样的应用还可包括(不限于)扫描货物集装箱以确定其内含物是否和相关的航运舱单相符和/或识别诸如沙林、光气或其他化学药剂这样的有毒物质的存在。
在一个实施例中，可以把光子的初始流量注入到目标20中的体元50中，并通过对说明非共振本底和来自可能存在的任何共振峰值的贡献的曲线的拟合，可以分析在相应检测器42处所检测到的光子谱。处理器46也可以收集对应于感兴趣的核素中的能级间隔的一个或多个感兴趣的能量通道中的计数数目。
处理器46可利用这个初始观测来作出每个感兴趣的能量通道中的本底的第一近似。在一个实施例中，如果在相邻通道中所检测到的计数并不出现在NRF线的能量处，则通过平均该计数数目可以获得对在对应于感兴趣的核素中的核共振跃迁的能量通道中所检测到的信号的本底(即，非共振)贡献的第一近似。也可例如由1/E分布来估计本底，特别是，1/E分布对感兴趣的能量范围局部拟合。也可应用对所估计本底的校正。例如，对于在检测器中所检测到的每个共振光峰，也会有与这个共振信号相关的已知的、非共振的、较低能量散射的光子。因此，通过减去对应于任何特定核素的已知或已识别的检测到的任何共振信号和非共振信号，可以校正所估计的本底。所估计的本底可以把光子束穿过目标内含物20并与该目标内含物22相互作用时在其到观测中的体元50的路径上的衰减考虑进去。在一个实施例中，这个衰减可通过检测器阵列38或40中的直接散射测量来测量，或者通过从参照货运舱单称重目标20中所获得的目标20的平均密度的估计来测量，或者通过利用诸如X-射线成像器24或具有参考散射物质28的透射检测器36这样的设备测量透射光子的强度来测量。
处理器46可与其他参数一起利用该所估计的本底来产生每种感兴趣的核素的阈值威胁信号。这样的阈值威胁信号可能是特定通道中的计数数目或本底上的计数数目。例如，通过查阅在各种数量的入射光子流量处对各种核素标识阈值信号数量的预编程表，可以产生阈值威胁信号。(如以前所述，对于沿光子束34的每个体元50可以确定作为能量的函数的入射光子流量。)例如，在一个实施例中，可以事先对于给定的输入光子流量和/或给定的本底利用表格或装置来编程处理器46，该表格是计算预期的计数数目的表格，该计数数目被检测为在具有以特定数量存在的特定感兴趣的核素的目标区域中的能量的函数，这种装置用于计算预期的计数数目。例如，可以对于给定的输入光子流量和/或给定的本底利用对应于所选择的感兴趣的核素的典型威胁水平的存在的计数数目来编程处理器46。在一个实施例中，这个计数数目可以是在检测器阵列38或40处所测量的从目标20中的体元50散射到一个或多个特定能量通道中的光子的数目(针对所测量的或所估计的光子束穿入目标时的衰减校正)。可替换地，这个计数数目可以是在检测器阵列36中所测量的经目标20透射和离开一种或多种参考散射物质28散射到一个或多个特定能量通道中的光子的数目。
根据一个或多个对本底的第一估计有贡献的因素，处理器46可建立为提供一个或多个感兴趣的能量通道中的特定本底水平而被估计的初始标称光子束参数组。例如，给定所估计的本底，处理器46可确定初始停留时间，该初始停留时间被预期在威胁检测阈值对其是个小信号的能量通道中提供统计上显著的测量结果。
然后，处理器46可以在这个初始停留时间处作出一个体元50(或者沿光子束34的现有位置的一组体元)中的测量，并且根据这个测量的结果命令(dictate)系统响应。例如，如果所检测到的信号不大于对应于任何感兴趣的能量通道中的所估计的预期本底信号的威胁检测阈值，则处理器46可进行到下一个体元。在另一方面，如果检测到的信号超过某个感兴趣的能量通道中的威胁检测阈值，则处理器46可计算这个通道中的信噪比的动态测量(例如，通过把检测到的信号与预期的本底信号或所测量的本底信号进行比较)。处理器46可利用这个信息来确定信号是否表示如下的统计上显著的威胁检测事件。
在一个实施例中，在评估初始威胁检测事件的重要性时，处理器46可参照接收器操作机构特性(ROC)曲线。在图4a和图4b中，以两个不同的被检测为来自给定威胁物质(mass)的信号的平均计数数目(30和42)举例说明示例性的一组ROC曲线，对于每个平均计数数目示出三个信噪比值：2、1和0.5的曲线。利用统计考虑以及对应于每条曲线的假定信噪比，计算了这些示例性曲线。在一般情况下，检测概率(DP)与得到误报结果(FP)的概率的计算能引入系统误差和其他非统计学不确定度。图4a和图4b中举例说明的曲线表示针对在检查体积中的给定最小威胁物质的NRF状态的对于会分别产生30个计数或42个计数的标称射束参数的威胁检测的DP和FP之间的关系。每条ROC曲线上的每点表示对于给定阈值的DP和FP之间的关系。所以，这些曲线反映出，对于固定信噪比来说，如果通过降低检测阈值来增加检测的概率，则相应的误报的可能性必定增加。
参照图4a，其中，如果所要求的检测概率(DP)大于98％，而误报(FP)威胁检测小于2％(也就是说，如果要求系统识别至少98％的含有多于最小检测量的特定核素的体元，最多2％的被识别体元被错误地识别为含有多于这个量)，则对于给定威胁物质的标称射束参数会产生30个信号计数，如果信噪比的自适应测量结果是1或2，则在标称射束参数内可满足这个标准，但是如果信噪比的自适应测量结果是0.5，就不满足这个标准。如参照图4b能够看到的那样，如果累计42个计数而不是30个计数，则以0.5的信噪比就能满足大于98％的DP以及仅仅2％的FP的标准。(与对于0.5信噪比的曲线交叉98％的DP和2％的FP的点相关的威胁阈值对应于103个积分计数(信号和本底)的威胁检测阈值。)因此，一旦确定信噪比为0.5，就通过自适应地调整扫描参数来把特定能量通道中的计数数目从30增加到42，以及把威胁检测阈值设定在103个积分计数，可以达到要求的DP(≥98％)和FP(≤2％)。例如，能增加停留时间约40％。可替换地，能增加光子束强度而不改变停留时间。在任何一种情况下，对最小数量预期的积分计数会从30增加到42。可替换地，通过改变其他射束和/或检测器参数能达到要求的DP和FP标准，以便改善信噪比或计数统计量。系统可进行信噪比测量，并参照像图4a和图4b那样的ROC曲线，自适应地调整一个或多个射束参数，直到达到要求的DP和FP标准为止。
DP和FP独立地或共同地提供描述特定扫描的效率或质量的方式。可以把检测概率DP和得到误报FP的概率各看作“扫描评估参数”。能够用术语“检测效率标准”来指特定要求的DP值、特定要求的FP值或要求的特定DP值和特定FP值的组合。如下面进一步讨论的那样，对于不同的应用，可能希望有DP或FP的不同数值或组合。会认识到，其他扫描评估参数也可被用来评估表面的确定的信号对应于实际的确定的可能性(诸如，最小量的某种核素在扫描中的体元中存在)。
在特定的感兴趣的能量通道中的信号的初始测量超过带有特定信噪比的威胁检测阈值的地方，处理器46能够计算一个或多个扫描评估参数并确定是否符合检测效率标准。如果不符合检测效率标准，则在能以要求的为真确定的概率拉响确定的威胁警报之前，需要改进测量的精度。例如，处理器46可以参照这样的ROC曲线来改变停留时间、强度或其他系统参数(诸如射束能量、射束准直、射束过滤物质、检测器准直、检测器过滤物质等)，以便动态地和/或自适应地达到要求的检测概率(DP)以及要求的对误报(FP)结果的概率的限制。在一些实施例中，该系统也可以自适应地调整其对要求的DP和FP值的选择。例如，系统可以某个值的DP和FP进行快速的第一遍测量，然后根据这个测量的结果决定加严标准和重复该测量，相应地调整系统参数。例如，系统能够取决于检测到的威胁的类型来改变要求的DP和FP。在允许相对错误检测的代价权衡误报事件的代价的某个灵活性方面，这可是有用的。例如，对于诸如爆炸物或核武器这样的威胁来说，误报招致一些代价(诸如，不必要的警察或军事专家的部署)，但错误检测的代价会是灾难性的。对于这样的威胁，可编程该系统来应用相对高的DP和低的FP的严格检测效率标准，这导致初始检测这样的威胁时的较长时间或较详细的扫描。在另一方面，对于错误检测的代价和误报的代价对其都可以是比较来说更低的诸如违禁品这样的威胁，为了扫描系统的速度和成本有效性起见，可编程该系统来应用较不严格的检测标准(比较来说更低的DP和更高的FP)。
能够动态地被改变来达到检测标准的系统参数包括但不限于：
·光子束停留时间
·光子束强度
·韧致辐射源中所使用的电子束的能量
·检测器阵列的空间分辨率
·检测器阵列以其观测目标的角度
·光子束的空间分辨率和/或几何形状
·减少所选同位素的贡献的光子束过滤物质
·光子束中的和/或检测器中的光子过滤物质
·诸如积分时间、空间分辨率、电子聚集等这样的检测器的具体特性
通过调整这些参数中的一个或多个，处理器46能动态地提高特定的感兴趣的能量通道中的信噪比或计数统计量。(本领域技术人员会认识到，能够影响信噪比和/或计数统计量的任何系统参数都可以被调整。)因此，例如，如上所述，如果标称测量表示可能已超过了威胁检测阈值，但该统计量或信噪比不足够，以致能够确信要求的最大比率的误报威胁检测事件，在确定显著威胁检测事件是否已发生的测量期间，处理器46可自适应地调整上面参数中的一个或多个。在另一方面，如果标称测量表示还没有超过威胁检测阈值，则处理器46可继续前进到新的标称测量的下一个体元，而不必调整任何射束参数。
在测量从特定体元50散射的光子期间，处理器46可以不断地收集统计量来改进其本底信号的初始估计，借此改进特定通道中的信噪比的动态测量。因而，处理器46可以实时自适应地调整所估计的检测概率(DP)和得到误报的概率，迅速逼近要求的威胁检测概率和/或误报概率(FP)的测量结果。
如果处理器46确定，特定的感兴趣的能量通道中的威胁检测阈值已被超过，并有足以满足要求的检测概率(DP)标准的信噪比，以及事件是误报的估计概率小于某个要求的FP标准，则该处理器46可以任何数目的方式产生威胁检测告警，这取决于所检测的特定威胁和取决于其中该系统正被使用的设置。例如，在机场或货物堆置场的设置中，系统可立即停止扫描并通知操作员，已检测到确定的威胁检测信号，在此时可移开并搜查该目标。可替换地，为了隔离和稍后的搜查而(用电子学方法或用物理方法)标记特定目标。系统对确定的威胁检测信号所采取的行动可以取决于检测到的特定威胁而不同。本领域技术人员会认识到处理确定的威胁检测信号的其他变型。
上述讨论举例说明了，最有效的非侵入式扫描算法可不必是在完整体积上的均匀扫描或高分辨率扫描。之所以这样是因为以下几个理由：首先，由于减少的入射束的衰减，具有非常低的平均密度的体积花费较少时间来扫描。而且，低密度区对于诸如高密度防护罩(铅)或诸如铀这样强烈放射性材料的存在这样的某些威胁的检查来说，可能不感兴趣。此外，通过相应更大的入射束衰减能够很快地识别非常高Z的区域。能够以低空间分辨率进行对大量散装材料的搜查，诸如用具有宽直径的入射光子束或者通过射束跨越目标的快速扫描或经过射束的目标。
在一些实施例中，可以希望的是，根据从其他检查形式所获得的信息，在某些感兴趣区域上得到高得多的空间分辨率。例如，如图1中所举例说明的那样，可在目标之后放置诸如常规的x-射线成像器24那样的二维成像器来检测透过目标的光子的强度。可替换地，如图1中所举例说明的那样，可以与参考散射物质28一起使用透射NRF检测器36来产生若干种感兴趣的核素的投影图像，识别具有相对高丰度的那些核素的区域。在操作机构或处理器46识别到最终产生的二维投影图像上的感兴趣区域(诸如，表示高密度材料存在的暗区或者表示感兴趣核素存在的高NRF吸收区)的地方，利用上述自适应扫描技术，可以执行这个区的NRF扫描，以便检测那个区域中的感兴趣核素的存在。
在图5的流程图中举例说明自适应扫描方法的示例性实施例的概观。在步骤501，针对下一个或多个要被扫描的体元确定初始扫描参数。例如，根据一份或多份货物舱单、整个集装箱或其部分的平均密度测量(诸如，重量测量、NRF密度测量、或者传统的x-射线或CT图像)，如上所述可以计算这样的初始扫描参数。在步骤501所确定的初始扫描参数也可以考虑要求的检测概率(DP)和得到误报(FP)测量的概率。
在步骤502，利用在步骤501所建立的参数，可以测量散射的或者透射的光子谱。如上所述可以估计本底谱，这允许估计任何检测到的峰值的信噪比。在一个实施例中，通过搜索相邻或附近体元的特定能量通道中的检测信号中的相关性，可以改善所估计的本底(从而因此改善所估计的信噪比)。(例如，如果针对一个特定体元在一个能量通道中检测到相对大的信号，但对于任何相邻体元在同一能量通道中在本底以上观测不到任何信号，相应地，在该特定体元中所检测到的信号很可能是统计波动，这取决于这些体元的相对大小和与检测到的同位素相关的典型威胁的相对大小。)利用所估计的本底信号，考虑所要求的检测概率和得到误报结果的概率，也可以确定每种威胁的检测阈值。例如，这些检测阈值可以是对应于威胁存在的一个或多个能量通道中的本底上的计数数目。
在步骤503，系统可以判定，给定系统参数和每个与威胁相对应的能量通道中的所测量的信噪比，当前的测量状态是否足以在要求的检测概率和得到误报结果的概率内检测到所有威胁和/或排除所有威胁的存在。如果系统判定信噪比不足以满足这些要求，则进行到步骤504，其中，可以自适应地改变任何数目的系统参数，以便改善一个或多个感兴趣的能量通道中的信噪比和/或计数统计量。如上所述，这样的一些系统参数包括射束强度、电子束能量、停留时间、减少来自已知来源的信号贡献的光子束中或在检测器之前的过滤物质的存在或不存在、射束或检测器准直或者其他参数。该系统可以参照要求的检测概率(DP)和得到误报(FP)结果的概率来选择改变的系统参数。(例如，如上所讨论的那样，系统可以参照特定的感兴趣的能量通道中的各种信噪比数值和计数数目计算的ROC曲线来确定哪些增加的计数数目会以所估计的信噪比提供要求的检测概率和得到误报结果的概率，以及相应地增加射束强度。)在设置新的系统参数之后，系统返回到步骤502来重复以下循环：测量光子谱，估计任何感兴趣的能量通道中的本底谱和信噪比，以及确定信噪比是否足以在要求的检测概率和得到误报结果的概率内检测或排除任何威胁。
一旦系统确定，该系统具有一组足以在要求的检测概率和得到误报结果的概率内检测所有威胁的存在和/或排除所有威胁的存在的测量，可以进行到步骤505。在步骤505，系统把每个感兴趣的能量通道中的信号与较早确定的威胁检测阈值进行比较，然后判定这些信号中的任何一个是否超过那些威胁检测阈值。如果超过任何威胁检测阈值，则系统可以采取适当行动(步骤507)，诸如停止扫描并通知操作机构，已检测到确定的威胁检测信号，或者为了隔离和稍后的搜查而用电子学方法或用物理方法标记目标。也可以编程该系统来根据确定的威胁信号的检测做进一步调查。例如，如上所讨论的那样，可以编程该系统，以响应于某些威胁的第一检测使要求的检测概率和误报结果的概率的标准更严格。因此，步骤507可以包括改变要求的检测概率和误报结果的概率以及返回到步骤501来用更严格的标准重复所述一个或多个体元的调查。
如果系统确定，没有来自当前在扫描中的所述一个或多个体元的信号，那么该系统就能够结束那个体元或那些体元的查询，并进行到另一个体元或其他体元(步骤506)。
图5和上面的讨论举例说明了示例性自适应扫描和威胁检测方法的“内环”的实施例。这样的自适应扫描方法也可以包括“外环”，在该“外环”中，系统可以为用“内环”方法进行调查而选择体元。例如，如上所述，外环可以包括快速扫描或成像步骤，以为进一步扫描而识别意想不到地致密的或在其他方面感兴趣的区域。另外，外环可以包括搜寻诸如相邻或附近体元这样的多个体元中所检测到的信号中的相关性。例如，在任何单独的体元均不包含特定材料的阈值威胁物质但若干邻近体元加在一起的确达到这种阈值物质的地方，系统可以识别统计上重要性的威胁。在另一个实施例中，系统可以利用相邻的多个体元中的信息来校正或改进光子束34在其接近特定体元时的衰减的确定，以改善特定体元上的入射流量的估计，以便适当标准化那个体元中的同位素丰度的确定，或者以便适当设置阈值威胁信号。
外环也可以是自适应的；根据扫描其他体元的结果，系统可以重新评估要查询哪些体元或如何查询这些体元的选择。例如，在一个实施例中，在沿光子束34的一个体元50中有致密的(或高原子序数的)材料，以致在这个体元50之后光子束34已被如此衰减，使得不能对下游体元进行有意义的测量，系统可以确定，应该把目标20旋转(例如，旋转90或180度)，以便观测这样的“隐藏”体元。可替换地，通过分析光子的衰减，系统可以进行这些隐藏体元的密度的间接测量，当射束在目标集装箱20中的别处扫描其他体元时，这些光子必定在其到检测器的路径上穿过这些隐藏的体元。
根据与某些组合的某些材料的存在相关的威胁的预编程的“知识”，系统也可以进行威胁确定。例如，在其舱单表明有大量硝酸铵化肥存在的集装箱中，从其中检测到强的氮和氧信号的包括许多邻近体元的区域不可能触发内环检测事件。然而，如果也存在大量的碳，则外环可以检测到柴油硝酸铵爆炸混合物存在的可能性。
外环也可包括在测量期间自适应调整检测标准(检测概率和得到误报测量的概率)。例如，如上面所讨论的那样，对于一些威胁，可以编程系统来应用严格的检测效率标准(即，相对高的DP值和相对低的FP值)，而对于某些其他威胁，却可以编程该系统来为了扫描系统的速度和成本有效性起见而应用较不严格的检测标准(即，比较低的DP值和比较高的FP值)。
虽然已参照其示例性实施例特定地示出和说明了在此所公开的系统和方法，但本领域技术人员应理解，在不偏离公开内容的精神和范围的情况下，可能在其中做出各种形式和细节上的改变。仅仅利用常规实验方法，本领域技术人员就会认识到或能够查明与在此明确说明的示例性实施例等同的内容。企图把这样的等同内容包括在本公开内容的范围中。

Claims (54)

1. 一种用于针对潜在威胁而进行目标样品的扫描的方法，该方法包括：
a)提供入射到目标样品上的光子的源，以致一些光子从该样品散射而一些光子经该样品透射；
b)测量经至少一部分目标样品透射的光子的强度；
c)利用经至少一部分目标样品透射的光子的所测量的强度来识别用于进一步研究的至少一个感兴趣区域；
d)针对所述至少一个感兴趣区域中的至少一个：
i)测量从该感兴趣区域散射的光子的能谱；
ii)利用从该感兴趣区域散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报(false positive)结果的概率；
iii)利用从该感兴趣区域散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到威胁；
iv)如果还未检测到威胁：
A)则确定所述检测概率是否符合或超过预定要求的检测概率；
B)如果所述检测概率符合或超过预定要求的检测概率，则结束所述感兴趣区域的扫描；以及
C)如果所述检测概率并不符合或超过预定要求的检测概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(iv)；以及
v)如果已检测到威胁：
A)则确定所述威胁检测是误报信号的概率是否超过预定要求的得到误报结果的概率；
B)如果所述威胁检测是误报信号的概率符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(v)；以及
C)如果所述威胁检测是误报信号的概率并不符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则识别确定的威胁检测事件。
2. 一种用于针对潜在的感兴趣项目而进行目标样品的扫描的方法，该方法包括：
a)提供入射到目标样品上的光子的源，以致一些光子从至少一部分样品散射；
b)针对所述至少一部分目标样品：
i)测量从所述至少一部分目标样品散射的光子的能谱；
ii)利用从所述至少一部分目标样品散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率；
iii)利用从所述至少一部分目标样品散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到感兴趣项目；
iv)如果还未检测到感兴趣项目：
A)则确定所述检测概率是否符合或超过预定要求的检测概率；
B)如果所述检测概率符合或超过预定要求的检测概率，则结束所述至少一部分目标样品的扫描；以及
C)如果所述检测概率并不符合或超过预定要求的检测概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(iv)；以及
v)如果已检测到感兴趣项目：
A)则确定所述感兴趣项目检测是误报信号的概率是否超过预定要求的得到误报结果的概率；
B)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(v)；以及
C)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率并不符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则识别确定的感兴趣项目检测事件。
3. 一种用于针对潜在的感兴趣项目而进行目标样品的扫描的方法，该方法包括：
a)提供入射到目标样品上的光子的源，以致一些光子从至少一部分样品散射而一些光子经所述至少一部分目标样品透射；
b)提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包括至少一种感兴趣的核素；
c)针对所述至少一部分目标样品：
i)测量经所述至少一部分目标样品透射和从所述参考散射物质散射的光子的能谱；
ii)利用经所述至少一部分目标样品透射和从所述参考散射物质散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率；
iii)利用经所述至少一部分目标样品透射和从所述参考散射物质散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到感兴趣项目；
iv)如果还未检测到感兴趣项目：
A)则确定所述检测概率是否符合或超过预定要求的检测概率；
B)如果所述检测概率符合或超过预定要求的检测概率，则结束所述至少一部分目标样品的扫描；以及
C)如果所述检测概率并不符合或超过预定要求的检测概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(iv)；以及
v)如果已检测到感兴趣项目：
A)则确定所述感兴趣项目检测是误报信号的概率是否超过预定要求的得到误报结果的概率；
B)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(v)；以及
C)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率并不符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则识别确定的感兴趣项目检测事件。
4. 一种用于针对潜在的感兴趣项目而进行目标样品的扫描的方法，该方法包括：
a)提供入射到目标样品上的光子的源，以致一些光子从所述样品散射而一些光子经所述样品透射；
b)测量经至少一部分目标样品透射的光子的强度；
c)提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包括至少一种感兴趣的核素；
d)利用经至少一部分目标样品透射的光子的所测量的强度来识别用于进一步研究的至少一个感兴趣区域；
e)针对所述至少一个感兴趣区域中的至少一个：
i)测量经所述感兴趣区域透射和从所述至少一种参考散射物质散射的光子的能谱；
ii)利用经所述感兴趣区域透射和从所述至少一种参考散射物质散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率；
iii)利用经所述感兴趣区域透射和从所述感兴趣区域散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到感兴趣项目；
iv)如果还未检测到感兴趣项目：
A)则确定所述检测概率是否符合或超过预定要求的检测概率；
B)如果所述检测概率符合或超过预定要求的检测概率，则结束所述感兴趣区域的扫描；以及
C)如果所述检测概率并不符合或超过预定要求的检测概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(iv)；以及
v)如果已检测到感兴趣项目：
A)则确定所述感兴趣项目检测是误报信号的概率是否超过预定要求的得到误报结果的概率；
B)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(v)；以及
C)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率并不符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则识别确定的感兴趣项目检测事件。
5. 一种用于针对潜在的感兴趣项目而进行目标样品的扫描的方法，该方法包括：
a)提供入射到目标样品上的光子的源，以致一些光子从所述样品散射而一些光子经所述样品透射；
b)提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包括至少一种感兴趣的核素；
c)利用经所述目标样品透射和从所述至少一种参考散射物质散射的光子的所测量的强度来识别用于进一步研究的至少一个感兴趣区域；
d)针对所述至少一个感兴趣区域中的至少一个：
i)测量从所述感兴趣区域散射的光子的能谱；
ii)利用从所述感兴趣区域散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率；
iii)利用从所述感兴趣区域散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到感兴趣项目；
iv)如果还未检测到感兴趣项目：
A)则确定所述检测概率是否符合或超过预定要求的检测概率；
B)如果所述检测概率符合或超过预定要求的检测概率，则结束针对所述感兴趣区域的扫描；以及
C)如果所述检测概率并不符合或超过预定要求的检测概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(iv)；以及
v)如果已检测到感兴趣项目：
A)则确定所述感兴趣项目检测是误报信号的概率是否超过预定要求的得到误报结果的概率；
B)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率符合或超过得到误报结果的预定要求的概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)至(v)；以及
C)如果所述感兴趣项目检测是误报信号的概率并不符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则识别确定的感兴趣项目检测事件。
6. 一种用于在检查目标样品中的潜在的感兴趣项目中进行检测的方法，该方法包括：
a)针对所述检查提供光子的源；
b)在所述检查期间利用来自所述源的光子照射目标样品；
c)提供至少一个光子检测器来在所述检查期间在至少一个能量通道中测量从至少一部分目标样品散射的光子的强度；
d)在所述检查期间确定至少一个感兴趣的能量通道中的标称本底信号；
e)确定在所述检查期间被收集在至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据是否足够以要求的统计学精度来检测潜在的感兴趣项目；
f)如果所述数据对于所述检测是不足够的，则在所述检查期间基于实际目标样品或一部分实际目标样品的至少一个所测量的特性动态地调整一个或多个系统参数，以改善被收集在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据的信噪比和/或统计学精度；
g)如果所述数据对于所述检测是足够的，则如果在所述检查期间在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子的强度符合预定的感兴趣项目检测标准，则识别感兴趣项目检测事件。
7. 根据权利要求6所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变光子在所述目标样品区域中的有效停留时间。
8. 根据权利要求6所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括把过滤物质插入到所述光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素。
9. 根据权利要求6所述的方法，其中，所述光子源包括具有电子束能量的电子束和韧致辐射目标，以及调整一个或多个系统参数还包括改变该电子束能量。
10. 根据权利要求6所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变所述光子源的强度。
11. 根据权利要求10所述的方法，其中，所述光子源被准直，以及，改变所述光子源的强度还包括改变所述光子源的准直。
12. 根据权利要求6所述的方法，其中，所述光子检测器中的至少一个被准直，以及调整一个或多个系统参数还包括改变所准直的光子检测器的准直。
13. 根据权利要求6所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括在所述至少一个光子检测器中的至少一个之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素。
14. 根据权利要求6所述的方法，其中，所述来自所述源的光子以入射束来照射所述目标样品；其中，所述至少一个光子检测器中的每个光子检测器以相对于该入射束的检测角度来观测所述目标样品；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该检测角度。
15. 根据权利要求6所述的方法，其中，所述来自所述源的光子以入射束来照射目标样品，该入射束在入射到目标样品上的点处具有斑点面积；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该入射束的斑点面积。
16. 一种用于在检查目标样品中的潜在的感兴趣项目中进行检测的方法，该方法包括：
a)对于所述检查提供光子的源；
b)在所述检查期间利用来自该源的光子照射目标样品；
c)提供至少一个光子检测器来在所述检查期间在至少一个能量通道中测量从至少一部分目标样品散射的光子的强度；
d)提供透射检测器，用于根据在所述检查期间光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来测量经目标样品透射的光子的强度；
e)根据在所述检查期间光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来利用经目标样品透射的光子的强度而识别用于进一步进行扫描的至少一个感兴趣区域；
f)在所述检查期间确定在至少一个感兴趣的能量通道中的标称本底信号；
g)确定在所述检查期间被收集在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据是否足够以要求的统计学精度来检测潜在的感兴趣项目；
h)如果所述数据对于所述检测是不足够的，则在所述检查期间基于实际目标样品或一部分实际目标样品的至少一个所测量的特性动态地调整一个或多个系统参数，以改善被收集在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据的信噪比和/或统计学精度；
i)如果所述数据对于所述检测是足够的，则如果在所述检查期间在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子的强度符合预定的感兴趣项目检测标准，则识别感兴趣项目检测事件。
17. 根据权利要求16所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变光子在目标样品区域中的有效停留时间。
18. 根据权利要求16所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括把过滤物质插入到所述光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素。
19. 根据权利要求16所述的方法，其中，所述光子源包括具有电子束能量的电子束和韧致辐射目标，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变该电子束能量。
20. 根据权利要求16所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变光子源的强度。
21. 根据权利要求20所述的方法，其中，所述光子源被准直，以及，改变所述光子源的强度还包括改变光子源的准直。
22. 根据权利要求16所述的方法，其中，所述光子检测器中的至少一个被准直，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变所准直的光子检测器的准直。
23. 根据权利要求16所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括在所述至少一个光子检测器中的至少一个之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素。
24. 根据权利要求16所述的方法，其中，来自所述源的光子以入射束照射目标样品；其中，所述至少一个光子检测器中的每个光子检测器以相对于该入射束的检测角度来观测目标样品；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该检测角度。
25. 根据权利要求16所述的方法，其中，来自所述源的光子以入射束来照射目标样品，该入射束在入射到目标样品上的点处具有斑点面积；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该入射束的斑点面积。
26. 一种用于在检查目标样品中的潜在的感兴趣项目中进行检测的方法，该方法包括：
a)对于所述检查提供光子的源；
b)在所述检查期间利用来自该源的光子照射目标样品；
c)在所述检查期间提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包含至少一种感兴趣的核素；
d)允许经目标样品透射的光子在所述检查期间从所述至少一种参考散射物质散射；
e)提供至少一个光子检测器来在所述检查期间在至少一个能量通道中测量从所述至少一种参考散射物质散射的光子的强度；
f)在所述检查期间确定至少一个感兴趣的能量通道中的标称本底信号；
g)确定在所述检查期间被收集在至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据是否足够以要求的统计学精度来检测潜在的感兴趣项目；
h)如果所述数据对于所述检测是不足够的，则在所述检查期间基于实际目标样品或一部分实际目标样品的至少一个所测量的特性动态地调整一个或多个系统参数，以改善被收集在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据的信噪比和/或统计学精度；
i)如果所述数据对于所述检测是足够的，则如果在所述检查期间在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子的强度符合预定的感兴趣项目检测标准，则识别感兴趣项目检测事件。
27. 根据权利要求26所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变光子在目标样品区域中的有效停留时间。
28. 根据权利要求26所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括把过滤物质插入到所述光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素。
29. 根据权利要求26所述的方法，其中，所述光子源包括具有电子束能量的电子束和韧致辐射目标，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变该电子束能量。
30. 根据权利要求26所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变所述光子源的强度。
31. 根据权利要求30所述的方法，其中，所述光子源被准直，以及，改变所述光子源的强度还包括改变所述光子源的准直。
32. 根据权利要求26所述的方法，其中，所述光子检测器中的至少一个被准直，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变所准直的光子检测器的准直。
33. 根据权利要求26所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括在所述至少一个光子检测器中的至少一个之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素。
34. 根据权利要求26所述的方法，其中，来自所述源的光子以入射束来照射目标样品，该入射束在入射到目标样品上的点处具有斑点面积；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该入射束的斑点面积。
35. 一种用于在检查目标样品中的潜在的感兴趣项目中进行检测的方法，该方法包括：
a)对于所述检查提供光子的源；
b)在所述检查期间利用来自该源的光子照射目标样品；
c)提供透射检测器，用于根据在所述检查期间光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来测量经目标样品透射的光子的强度；
d)根据在所述检查期间光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来利用经目标样品透射的光子的强度识别用于进一步进行扫描的至少一个感兴趣区域；
e)在所述检查期间提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包含至少一种感兴趣的核素；
f)允许经目标样品的所述至少一个感兴趣区域透射的光子在所述检查期间从所述至少一种参考散射物质散射；
g)提供至少一个光子检测器来在所述检查期间在至少一个能量通道中测量从所述至少一种参考散射物质散射的光子的强度；
h)在所述检查期间确定至少一个感兴趣的能量通道中的标称本底信号；
i)确定在所述检查期间被收集在至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据是否足够以要求的统计学精度来检测潜在的感兴趣项目；
j)如果所述数据对于所述检测是不足够的，则在所述检查期间基于实际目标样品或一部分实际目标样品的至少一个所测量的特性动态地调整一个或多个系统参数，以改善被收集在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中的数据的信噪比和/或统计学精度；
k)如果所述数据对于所述检测是足够的，则如果在所述检查期间在所述至少一个感兴趣的能量通道中的至少一个中所检测到的光子的强度符合预定的感兴趣项目检测标准，则识别感兴趣项目检测事件。
36. 根据权利要求35所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变光子在目标样品区域中的有效停留时间。
37. 根据权利要求35所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括把过滤物质插入到所述光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素。
38. 根据权利要求35所述的方法，其中，所述光子源包括具有电子束能量的电子束和韧致辐射目标，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变该电子束能量。
39. 根据权利要求35所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变所述光子源的强度。
40. 根据权利要求39所述的方法，其中，所述光子源被准直，以及，改变所述光子源的强度还包括改变所述光子源的准直。
41. 根据权利要求35所述的方法，其中，所述光子检测器中的至少一个被准直，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变所准直的光子检测器的准直。
42. 根据权利要求35所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括在所述至少一个光子检测器中的至少一个之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素。
43. 根据权利要求35所述的方法，其中，来自所述源的光子以入射束来照射目标样品，该入射束在入射到目标样品上的点处具有斑点面积；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该入射束的斑点面积。
44. 一种用于在检查目标样品中的潜在的感兴趣项目中进行检测的方法，该方法包括：
a)对于所述检查提供光子的源；
b)在所述检查期间利用来自该源的光子照射目标样品；
c)在所述检查期间提供至少一种参考散射物质，该参考散射物质包含至少一种感兴趣的核素；
d)允许经目标样品透射的光子在所述检查期间从所述至少一种参考散射物质散射；
e)提供至少一个参考光子检测器，以根据在所述检查期间光子在其处照射目标样品的目标样品上的位置来在至少一个感兴趣的参考光子能量通道中测量从所述至少一种参考散射物质散射的光子的强度；
f)利用由至少一个参考光子检测器中的至少一个在所述至少一个感兴趣的参考光子能量通道中的至少一个中所测量的光子的强度来在所述检查期间识别用于进一步进行扫描的至少一个感兴趣区域；
g)提供至少一个散射光子检测器来在所述检查期间在至少一个散射光子能量通道中测量从目标样品中的至少一个感兴趣区域中的至少一个散射的光子的强度；
h)在所述检查期间确定至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的标称本底信号；
i)确定在所述检查期间被收集在至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的至少一个中的数据是否足够以要求的统计学精度来检测潜在的感兴趣项目；
j)如果所述数据对于所述检测是不足够的，则在所述检查期间基于实际目标样品或一部分实际目标样品的至少一个所测量的特性动态地调整一个或多个系统参数，以改善被收集在所述至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的至少一个中的数据的信噪比和/或统计学精度；
k)如果所述数据对于所述检测是足够的，则如果在所述检查期间在所述至少一个感兴趣的散射光子能量通道中的至少一个中所检测到的光子的强度符合预定的感兴趣项目检测标准，则识别感兴趣项目检测事件。
45. 根据权利要求44所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变光子在目标样品区域中的有效停留时间。
46. 根据权利要求44所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括把过滤物质插入到所述光子源中，该过滤物质包含吸收具有所选择的能量或能量范围的光子的一种或多种核素。
47. 根据权利要求44所述的方法，其中，所述光子源包括具有电子束能量的电子束和韧致辐射目标，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变该电子束能量。
48. 根据权利要求44所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变光子源的强度。
49. 根据权利要求48所述的方法，其中，所述光子源被准直，以及，改变所述光子源的强度还包括改变光子源的准直。
50. 根据权利要求44所述的方法，其中，所述散射光子检测器中的至少一个被准直，以及，调整一个或多个系统参数还包括改变所准直的散射光子检测器的准直。
51. 根据权利要求44所述的方法，其中，调整一个或多个系统参数还包括在所述至少一个散射光子检测器中的至少一个之前插入过滤物质，该过滤物质包含吸收具有落入所选择的能量范围中的能量的光子的一种或多种核素。
52. 根据权利要求44所述的方法，其中，来自所述源的光子以入射束来照射目标样品；其中，所述至少一个散射光子检测器中的每个以相对于该入射束的检测角度来观测目标样品；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该检测角度.
53. 根据权利要求44所述的方法，其中，来自所述源的光子以入射束来照射目标样品，该入射束在入射到目标样品上的点处具有斑点面积；以及，其中，调整一个或多个系统参数还包括改变该入射束的斑点面积。
54. 一种用于针对潜在的感兴趣项目而进行目标样品的扫描的方法，该方法包括：
a)提供入射到目标样品上的光子的源，以致一些光子从该样品散射而一些光子经该样品透射；
b)测量经至少一部分目标样品透射的光子的强度；
c)利用经所述至少一部分目标样品透射的光子的所测量的强度来识别用于进一步研究的至少一个感兴趣区域；
d)对于所述至少一个感兴趣区域中的至少一个：
i)测量从所述感兴趣区域散射的光子的能谱；
ii)利用从所述感兴趣区域散射的光子的能谱来计算检测概率和得到误报结果的概率；
iii)利用从所述感兴趣区域散射的光子的所测量的能谱来确定是否已检测到感兴趣项目；
iv)如果还未检测到感兴趣项目：
A)则确定所述检测概率是是否符合或超过预定要求的检测概率；
B)如果所述检测概率符合或超过预定要求的检测概率，则结束所述感兴趣区域的扫描；以及
C)如果所述检测概率并不符合或超过预定要求的检测概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)到(iv)；以及，
v)如果已检测到感兴趣项目：
A)则确定感兴趣项目检测为误报信号的概率是否超过预定要求的得到误报结果的概率；
B)如果感兴趣项目检测为误报信号的概率符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则调整一个或多个系统参数并重复步骤(i)到(v)；以及
C)如果感兴趣项目检测为误报信号的概率并不符合或超过预定要求的得到误报结果的概率，则识别确定的感兴趣项目检测事件。
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