CN100389328C - 测速方法及测速装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种测速方法及测速装置。首先，利用测距装置在一测量时段内取得对一物体的特定次数的测距资料，然后取得一新测量精度单位，使所述物体在所述测量时段中的第一时段内及第二时段内的预估移动距离小于所述新测量精度单位。根据所述新测量精度单位在所述第一时段及第二时段内的所述测距资料中取样，以算出所述物体在所述第一时段内的第一概略距离D1以及在所述第二时段内的第二概略距离D2。根据所述D1及所述D2确定一个范围，用以过滤所述测距资料。根据过滤后的所述测距资料算出所述物体的距离。使用这种测速方法及测速装置可有效地滤除噪声的干扰，并可在短时间内测算出移动物体的速度。

Description

测速方法及测速装置

技术领域

本发明是有关于一种电子装置，特别是有关于一种测速方法及装置。

背景技术

光学测距是利用对一物体发射的光束以及其反射光束以算出该物体与测距装置的距离。利用移动物体在不同时间上的两份距离资料除以时间差可以求出物体的速度。图1显示理想状况下对一移动物体发射的测速光束的反射讯号示意图。假设对所述物体测距200次，图1只显示其中一部分。图1中横轴为距离，纵轴为测速光束发射的次序，即测距次序。每次对所述物体发射的光束的时间间隔固定。每个反射讯号对应的距离可以由距离计算公式求得。根据图1中的反射讯号的分布可以算出该物体的速度。但是取得的反射光束通常包含由日光或其它因素造成的噪声，因此，实际上反射讯号的分布可能如图2所示(只显示其中一部分)。若要从图2中求取该物体的速度，需要滤除噪声。

美国专利号6466307B2揭示一种测距方法，利用噪声是以随机方式分布，而对固定物体发射的测距光束的反射信号分布位置则是固定的特性，以统计方式取得实际的反射信号。然而，一般的测距装置测出物体距离需要一定的时间，例如0.5秒。在这段测距时间内，移动物体的位置持续改变，因此反射信号分布位置不固定会造成取样上的问题。

另外，由于测速装置测出移动物体速度的时间也被要求在相当短的时间以内，例如0.6秒。这段时间不足以让传统的测距装置测出移动物体的两份距离资料。因此，亦不适用以传统的测距装置求出计算移动物体速度所需的两份距离资料。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种利用测距装置的测速方法。

为了实现上述目的，本发明提供一种测速方法，执行于一测速装置中，包括以下步骤：利用一测距装置在一测量时段内取得对一物体的特定次数的测距资料；取得一新测量精度单位，所述物体在所述测量时段中的第一时段内的第一预估移动距离及第二时段内的第二预估移动距离均小于所述新测量精度单位的长度；根据所述新测量精度单位分别在所述第一时段内的所述测距资料及所述第二时段内的所述测距资料中取样，以算出所述物体在所述第一时段内的第一概略距离D1以及在所述第二时段内的第二概略距离D2；根据所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2确定一个范围，用以过滤所述测距资料；根据过滤后的所述测距资料算出所述物体的速度。

本发明提供的测速方法，所述测距资料中包含所述测距装置对所述物体的数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置发射的用以测距的光束的取样反射信号，每个所述取样反射信号对应以所述新测量精度单位为单位的一个刻度，所述第一概略距离为对应最多所述第一时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离，所述第二概略距离为对应最多所述第二时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离。

本发明提供的测速方法，所述测距资料包含所述测距装置对所述物体的所述特定次数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置在一特定测距次序发射的用以测距的光束的数个取样反射信号，每个取样反射信号对应一个以原测量精度单位为单位的测量距离，所述原测量精度单位小于所述新测量精度单位，每个取样反射信号分布于由一个次序轴及一个距离轴展开的平面上，并以其测距次序为所述次序轴坐标，以其对应的测量距离为所述距离轴坐标，上述方法更包含：根据所述第一时段、所述第二时段、所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2在所述平面上画出一条直线，所述范围以所述直线为基础。

本发明提供的测速方法，所述范围为在所述平面上以所述直线为基础的两条平行线，在所述过滤步骤中，保留所述测距资料在所述两条平行线之间的取样反射信号，滤除其它的取样反射信号。

本发明提供的测速方法，所述第一时段包含测距次序Ti～Tj，所述第二时段包含测距次序Tk～Tl，所述直线为根据所述平面上(Tn，D1)及(Tm，D2)二坐标画出的直线，其中Ti≤Tn≤Tj且Tk≤Tm≤Tl，所述两条平行线为根据所述平面上(Tn，D1+ΔD)及(Tm，D2+ΔD)二坐标画出的直线以及根据所述平面上(Tn，D1-ΔD)及(Tm，D2-ΔD)二坐标画出的直线，其中ΔD为误差距离。

本发明提供的测速方法，Tj-Ti＝Tl-Tk，且|Tk-Ti|＝|Tm-Tn|。

本发明提供的测速方法，算出所述物体的速度的所述步骤中，以最小二乘法或加权平均法算出所述物体的速度。

为了实现本发明的目的，本发明提供一种测速方法，执行于一测速装置中，包括以下步骤：利用一测距装置取得对一物体的特定次数个测量样本，所述特定次数个所述测量样本构成测距资料，每个测量样本包含所述测距装置在一特定测距次序发射的用以测距的光束的数个取样反射信号，每个取样反射信号对应一个测量距离，每个取样反射信号分布于由一个次序轴及一个距离轴展开的平面上，并以其测距次序为所述次序轴坐标，以其对应的测量距离为所述距离轴坐标；利用所述测距资料分别在第一时段中的第一量测样本及第二时段中的第二测量样本中取样，计算出所述物体对应所述第一时段的第一概略距离D1及对应所述第二时段的第二概略距离D2；根据所述第一时段、所述第二时段、所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2在所述平面上画出一条直线；根据所述直线确定一个范围，用以过滤所述测距资料；根据过滤后的所述测距资料算出所述物体的速度。

本发明提供的测速方法，所述范围为在所述平面上以所述直线为基础的两条平行线，在所述过滤步骤中，保留所述测距资料在所述两条平行线之间的取样反射信号，滤除其它的取样反射信号。

本发明提供的测速方法，所述第一时段包含测距次序Ti～Tj，所述第二时段包含测距次序Tk～T1，所述直线为根据所述平面上(Tn，D1)及(Tm，D2)二坐标画出的直线，其中Ti≤Tn≤Tj且Tk≤Tm≤T1，所述两条平行线为根据所述平面上(Tn，D1+ΔD)及(Tm，D2+ΔD)二坐标画出的直线以及根据所述平面上(Tn，D1-ΔD)及(Tm，D2-ΔD)二坐标画出的直线，其中ΔD为误差距离。

本发明提供的测速方法，Tj-Ti＝Tl-Tk，且|Tk-Ti|＝|Tm-Tn|。

本发明提供的测速方法，算出所述物体的速度的所述步骤中，以最小二乘法或加权平均法算出所述物体的速度。

为了实现本发明的目的，本发明提供一种测速装置，包括：一个测距装置，在一个测量时段内取得对一物体的特定次数的测距资料；一个处理器，耦接于所述测距装置，用以取得一新测量精度单位，使得所述物体在所述测量时段中的第一时段内的第一预估移动距离及第二时段内的第二预估移动距离均小于所述新测量精度单位的长度，所述处理器根据所述新测量精度单位在所述第一时段内的所述测距资料及所述第二时段内的所述测距资料中取样，以算出所述物体在所述第一时段内的第一概略距离D1以及在所述第二时段内的第二概略距离D2，并根据所述D1及所述D2确定一个范围，用以过滤所述测距资料，根据过滤后的所述测距资料计算出所述物体的速度。

本发明提供的测速装置，所述测距资料包含所属测距装置对所述物体的数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置发射的用以测距的光束的取样反射信号，每个所述取样反射信号对应以所述新测量精度单位为一单位的一个刻度，所述第一概略距离为对应最多所述第一时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离，所述第二概略距离为对应最多所述第二时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离。

本发明提供的测速装置，所述测距资料包含所述测距装置对所述物体的所述特定次数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置在一特定测距次序发射的用以测距的光束的数个取样反射信号，每个取样反射信号对应以一原测量精度单位为单位的一个测量距离，所述原测量精度单位小于所述新测量精度单位，每个取样反射信号分布于由一个次序轴及一个距离轴展开的平面上，并以其测距次序为所述次序轴坐标，以其对应的测量距离为所述距离轴坐标，所述处理器根据所述第一时段、所述第二时段、所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2在所述平面上画出一条直线，所述范围以所述直线为基础。

本发明提供的测速装置，所述范围为在所述平面上以所述直线为基础的两条平行线，在所述处理器过滤所述测距资料时，保留所述测距资料在所述两条平行线之间的取样反射信号，滤除其它的取样反射信号。

本发明提供的测速装置，所述第一时段包含测距次序Ti～Tj，所述第二时段包含测距次序Tk～Tl，所述直线为根据所述平面上(Tn，D1)及(Tm，D2)二坐标画出的直线，其中Ti≤Tn≤Tj且Tk≤Tm≤Tl，所述两条平行线为根据所述平面上(Tn，D1+ΔD)及(Tm，D2+ΔD)二坐标画出的直线以及根据所述平面上(Tn，D1-ΔD)及(Tm，D2-ΔD)二坐标画出的直线，其中ΔD为误差距离。

本发明提供的测速装置，Tj-Ti＝Tl-Tk，且|Tk-Ti|＝|Tm-Tn|。

本发明提供的测速装置，所述处理器以最小二乘法或加权平均法算出所述物体的速度。

本发明提供的测速方法及测速装置，可以在物体位置持续改变的情况下，在短时间内对测距资料取样并滤除噪声的干扰，从而较为准确地测算出物体的速度。

附图说明

图1是理想状况下对一移动物体发射的测速光束的反射讯号示意图。

图2是对一移动物体发射的测速光束的反射讯号实例示意图。

图3是本发明测速装置实施例的结构方块图。

图4是本发明测速方法实施例的流程图。

图5是对一移动物体发射的测速光束的反射讯号及过滤测距资料的范围的实例示意图。

具体实施方式

本发明实施例提供一种测速方法，执行于一测速装置中。

如图3所示，测速装置10中包含数个实体(entity)，分别为处理器1、光束发射器2、光束接收器3、测距资料4及测距装置9。图3中各实体也可采用其它的配置方式，例如测距资料可以存在于测距装置中，处理器可以在测距装置之外，或测距装置及测速装置中各包含一处理器。处理器1耦接光束发射器2及光束接收器3。光束发射器2用以发射测距光束。光束接收器3用以接收取样反射信号，包含所述测距光束的反射信号及噪声。

图4是本发明测速方法实施例的流程图。测速装置10利用测距装置9在一测量时段内取得对一物体的N次的测距资料4，例如一部分显示于图2中(步骤S2)。测距装置9是以原测量精度单位(例如1米)测量所述物体的距离资料。假设测速装置10测出移动物体速度的时间被要求在t秒以内，而且测距装置9可以每秒测n1次。所述测量时间可以小于或等于t。所述N可以小于等于n1×t，其中t为实数，N与n1为正整数。

测速装置10测量的移动物体可以是车辆或任何移动物体，可以按照移动物体的特性预估其速度并将其限定在一最快速度以下。

处理器1取得一新测量精度单位(例如10米)，以及在所述测量时段内的第一时段及第二时段(步骤S4)，以使得所述物体在所述测量时段的所述第一时段内及所述第二时段内的预估移动距离小于所述新测量精度单位。新测量精度单位大于所述原测量精度单位。关于所述预估移动距离，举例来说，可以利用所述最快速度乘以所述第一时段或所述第二时段来估算所述预估移动距离。所述新测量精度单位、第一时段及第二时段可以被预先确定，并储存于测速装置10中，也可以由处理器1动态决定。

所述第一时段及第二时段为不同时段。所述第一时段包含测距次序Ti～Tj，所述第二时段包含测距次序Tk～Tl。Ti、Tj、Tk及Tl为正整数。所述第一时段及第二时段的时间长度可以相同，即Tj-Ti＝Tl-Tk，也可以不同。

现在说明测距资料4。测距资料4包含测距装置9对所述物体的所述N个测量样本(例如图2中的测量样本P)，1＜(Tj-Ti+1)＜N且1＜(Tl-Tk+1)＜N。每个测量样本包含测距装置9在一特定测距次序发射的用以测距的光束的数个取样反射信号。每个取样反射信号对应以所述原测量精度单位为单位的一个测量距离，所述原测量精度单位小于所述新测量精度单位。每个取样反射信号分布于由一个次序轴和一个距离轴展开的平面上，并以其测距次序为所述次序轴上的坐标，以其对应的测量距离为所述距离轴上的坐标。可以由测距装置9算出取样反射信号对应的测量距离。

举例来说，假设一取样反射讯号为测距次序T的取样反射讯号，且对应距离D，则此取样反射讯号的坐标以(T，D)表示，其中T为次序轴上的坐标，D为距离轴上的坐标。

处理器1根据所述新测量精度单位在所述第一时段及所述第二时段内的测距资料4中取样(步骤S5)，以算出所述物体在所述第一时段内的第一概略距离D1以及在所述第二时段内的第二概略距离D2(步骤S6)。

所述第一时段的测距资料中包含(Tj-Ti+1)个测量样本，所述第二时段的测距资料中包含(Tl-Tk+1)个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置发射的用以测距的光束的取样反射信号。每个取样反射信号对应的测量距离可以转换成新测量精度单位的一个刻度。

所述第一概略距离D1为对应最多所述第一时段的取样反射信号的新测量精度单位刻度所表示的测量距离(即所述新测量精度单位的一个刻度)，所述第二概略距离D2为对应最多所述第二时段的取样反射信号的新测量精度单位刻度所表示的测量距离(即所述新测量精度单位的另一个刻度)。

举例来说，假设所述测距资料以二维阵列RawData[DISTANCE][N]表示，DISTANCE可以是测速装置10中原测量精度单位的最大刻度。以两个一维阵列Dist1[DIST]及Dist2[DIST]表示对在所述第一时段及所述第二时段内的测距资料4的取样结果。DIST＝[DISTANCE/R]，其中R为新测量精度单位。因此，0～DIST表示新测量精度单位的每一个刻度。处理器1分别统计所述(Tj-Ti+1)个测量样本及所述(Tl-Tk+1)个测量样本中对应新测量精度单位第一个刻度内的取样反射信号个数，并将统计结果分别储存在Dist1[0]及Dist2[0]。处理器1分别统计所述(Tj-Ti+1)个测量样本及所述(Tl-Tk+1)个测量样本中对应新测量精度单位第二个刻度内的取样反射信号个数，并将统计结果分别储存在Dist1[1]及Dist2[1]。依同理，处理器1求出Dist1[DIST]及Dist2[DIST]中各元素的数值。处理器1取得分别在Dist1[DIST]及Dist2[DIST]中最大的两个元素Dist1[d1]及Dist2[d2]。所述第一概略距离D1＝d1×R/r，所述第二概略距离D2＝d2×R/r，其中r为原测量精度单位。

根据所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2确定一个范围，用以过滤所述测距资料(步骤S8)。

举例来说，根据所述第一时段、所述第二时段、所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2在所述平面上画出一条直线，所述范围以所述直线为基础。举例来说，所述范围为在所述平面上以所述直线为基础的两条平行线。

所述直线为根据所述平面上(Tn，D1)及(Tm，D2)两个坐标所画出的直线，其中Ti≤Tn≤Tj且Tk≤Tm≤Tl，且|Tk-Ti|＝|Tm-Tn|。如图5所示，所述两条平行线为根据所述平面上(Tn，D1+ΔD)及(Tm，D2+ΔD)两坐标画出的直线L1以及根据所述平面上(Tn，D1-ΔD)及(Tm，D2-ΔD)两坐标画出的直线L2，其中ΔD为误差距离，可以被预先确定，并储存于测速装置10中，也可以由处理器1动态决定。

滤除所述范围以外的测距资料4的取样反射信号(步骤S10)。

以所述两条平行线为例，在所述过滤步骤中，保留所述测距资料在所述两条平行线之间的取样反射信号，滤除其它的取样反射信号。

处理器1判定保留的测距资料4是否足够(步骤S11)。如否，回到步骤S2。如是，处理器1根据过滤后的测距资料4算出所述物体的速度(步骤S12)。举例来说，处理器1以最小二乘法(method of least square)或加权平均法(method of weightedmean)算出所述物体的速度。

虽然本发明已通过较佳实施例说明如上，但该较佳实施例并非用以限定本发明。本领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，应有能力对该较佳实施例做出各种更改和补充，因此本发明的保护范围以权利要求书的范围为准。

附图中符号的简单说明如下：

1：处理器        10：测速装置

2：光束发射器    ΔD：误差距离

3：光束接收器    L1，L2：直线

4：测距资料      P：测量样本

9：测距装置

Claims (19)

1.一种测速方法，执行于一测速装置中，其特征在于包括以下步骤：

利用一测距装置在一测量时段内取得对一物体的特定次数的测距资料；

取得一新测量精度单位，所述物体在所述测量时段中的第一时段内的第一预估移动距离及第二时段内的第二预估移动距离均小于所述新测量精度单位的长度；

根据所述新测量精度单位分别在所述第一时段内的所述测距资料及所述第二时段内的所述测距资料中取样，以算出所述物体在所述第一时段内的第一概略距离D1以及在所述第二时段内的第二概略距离D2；

根据所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2确定一个范围，用以过滤所述测距资料；

根据过滤后的所述测距资料算出所述物体的速度。

2.根据权利要求1所述的测速方法，其特征在于：所述测距资料中包含所述测距装置对所述物体的数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置发射的用以测距的光束的取样反射信号，每个所述取样反射信号对应以所述新测量精度单位为单位的一个刻度，所述第一概略距离为对应最多所述第一时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离，所述第二概略距离为对应最多所述第二时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离。

3.根据权利要求1所述的测速方法，其特征在于：所述测距资料包含所述测距装置对所述物体的所述特定次数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置在一特定测距次序发射的用以测距的光束的数个取样反射信号，每个取样反射信号对应一个以原测量精度单位为单位的测量距离，所述原测量精度单位小于所述新测量精度单位，每个取样反射信号分布于由一个次序轴及一个距离轴展开的平面上，并以其测距次序为所述次序轴坐标，以其对应的测量距离为所述距离轴坐标，上述方法更包含：

根据所述第一时段、所述第二时段、所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2在所述平面上画出一条直线，所述范围以所述直线为基础。

4.根据权利要求3所述的测速方法，其特征在于：所述范围为在所述平面上以所述直线为基础的两条平行线，在所述过滤步骤中，保留所述测距资料在所述两条平行线之间的取样反射信号，滤除其它的取样反射信号。

5.根据权利要求4所述的测速方法，其特征在于：所述第一时段包含测距次序Ti～Tj，所述第二时段包含测距次序Tk～Tl，所述直线为根据所述平面上(Tn，D1)及(Tm，D2)二坐标画出的直线，其中Ti≤Tn≤Tj且Tk≤Tm≤Tl，所述两条平行线为根据所述平面上(Tn，D1+ΔD)及(Tm，D2+ΔD)二坐标画出的直线以及根据所述平面上(Tn，D1-ΔD)及(Tm，D2-ΔD)二坐标画出的直线，其中ΔD为误差距离。

6.根据权利要求5所述的测速方法，其特征在于：Tj-Ti＝Tl-Tk，且|Tk-Ti|＝|Tm-Tn|。

7.根据权利要求1所述的测速方法，其特征在于：算出所述物体的速度的所述步骤中，以最小二乘法或加权平均法算出所述物体的速度。

8.一种测速方法，执行于一测速装置中，其特征在于包括以下步骤：

利用一测距装置取得对一物体的特定次数个测量样本，所述特定次数个所述测量样本构成测距资料，每个测量样本包含所述测距装置在一特定测距次序发射的用以测距的光束的数个取样反射信号，每个取样反射信号对应一个测量距离，每个取样反射信号分布于由一个次序轴及一个距离轴展开的平面上，并以其测距次序为所述次序轴坐标，以其对应的测量距离为所述距离轴坐标；

利用所述测距资料分别在第一时段中的第一测量样本及第二时段中的第二测量样本中取样，计算出所述物体对应所述第一时段的第一概略距离D1及对应所述第二时段的第二概略距离D2；

根据所述第一时段、所述第二时段、所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2在所述平面上画出一条直线；

根据所述直线确定一个范围，用以过滤所述测距资料；

根据过滤后的所述测距资料算出所述物体的速度。

9.根据权利要求8所述的测速方法，其特征在于：所述范围为在所述平面上以所述直线为基础的两条平行线，在所述过滤步骤中，保留所述测距资料在所述两条平行线之间的取样反射信号，滤除其它的取样反射信号。

10.根据权利要求9所述的测速方法，其特征在于：所述第一时段包含测距次序Ti～Tj，所述第二时段包含测距次序Tk～Tl，所述直线为根据所述平面上(Tn，D1)及(Tm，D2)二坐标画出的直线，其中Ti≤Tn≤Tj且Tk≤Tm≤Tl，所述两条平行线为根据所述平面上(Tn，D1+ΔD)及(Tm，D2+ΔD)二坐标画出的直线以及根据所述平面上(Tn，D1-ΔD)及(Tm，D2-ΔD)二坐标画出的直线，其中ΔD为误差距离。

11.根据权利要求10所述的测速方法，其特征在于：Tj-Ti＝Tl-Tk，且|Tk-Ti|＝|Tm-Tn|。

12.根据权利要求8所述的测速方法，其特征在于：算出所述物体的速度的所述步骤中，以最小二乘法或加权平均法算出所述物体的速度。

13.一种测速装置，其特征在于包括：

一个测距装置，在一个测量时段内取得对一物体的特定次数的测距资料；

一个处理器，耦接于所述测距装置，用以取得一新测量精度单位，使得所述物体在所述测量时段中的第一时段内的第一预估移动距离及第二时段内的第二预估移动距离均小于所述新测量精度单位的长度，所述处理器根据所述新测量精度单位在所述第一时段内的所述测距资料及所述第二时段内的所述测距资料中取样，以算出所述物体在所述第一时段内的第一概略距离D1以及在所述第二时段内的第二概略距离D2，并根据所述D1及所述D2确定一个范围，用以过滤所述测距资料，根据过滤后的所述测距资料计算出所述物体的速度。

14.根据权利要求13所述的测速装置，其特征在于：所述测距资料包含所述测距装置对所述物体的数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置发射的用以测距的光束的取样反射信号，每个所述取样反射信号对应以所述新测量精度单位为单位的一个刻度，所述第一概略距离为对应最多所述第一时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离，所述第二概略距离为对应最多所述第二时段的取样反射信号的刻度所表示的测量距离。

15.根据权利要求13所述的测速装置，其特征在于：所述测距资料包含所述测距装置对所述物体的所述特定次数个测量样本，每个测量样本包含所述测距装置在一特定测距次序发射的用以测距的光束的数个取样反射信号，每个取样反射信号对应以一原测量精度单位为单位的一个测量距离，所述原测量精度单位小于所述新测量精度单位，每个取样反射信号分布于由一个次序轴及一个距离轴展开的平面上，并以其测距次序为所述次序轴坐标，以其对应的测量距离为所述距离轴坐标，所述处理器根据所述第一时段、所述第二时段、所述第一概略距离D1及所述第二概略距离D2在所述平面上画出一条直线，所述范围以所述直线为基础。

16.根据权利要求15所述的测速装置，其特征在于：所述范围为在所述平面上以所述直线为基础的两条平行线，在所述处理器过滤所述测距资料时，保留所述测距资料在所述两条平行线之间的取样反射信号，滤除其它的取样反射信号。

17.根据权利要求16所述的测速装置，其特征在于：所述第一时段包含测距次序Ti～Tj，所述第二时段包含测距次序Tk～Tl，所述直线为根据所述平面上(Tn，D1)及(Tm，D2)二坐标画出的直线，其中Ti≤Tn≤Tj且Tk≤Tm≤Tl，所述两条平行线为根据所述平面上(Tn，D1+ΔD)及(Tm，D2+ΔD)二坐标画出的直线以及根据所述平面上(Tn，D1-ΔD)及(Tm，D2-ΔD)二坐标画出的直线，其中ΔD为误差距离。

18.根据权利要求1 7所述的测速装置，其特征在于：Tj-Ti＝Tl-Tk，且|Tk-Ti|＝|Tm-Tn|。

19.根据权利要求13所述的测速装置，其特征在于：所述处理器以最小二乘法或加权平均法算出所述物体的速度。

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