[0001] Die Erfindung betrifft ein Messverfahren an Druckerzeugnissen gemäss dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1. Des Weiteren betrifft die Erfindung ein Messsystem gemäss dem Oberbegriff des Patentanspruchs 6.
[0002] Zur Steuerung von Druckprozessen sowie zur Qualitätsanalyse an Druckerzeugnissen ist es bereits bekannt, neben dem eigentlichen Sujet Messfelder mit auf den Bedruckstoff zu drucken, die mittels Messgeräten abgetastet werden. Vorzugsweise werden dazu Messfelder zumindest abschnittsweise zu sogenannten Messstreifen zusammengefasst, das heisst, die einzelnen Messfelder reihen sich zu einem Streifen. Die EP 0 925 917 B1 offenbart ein Messsystem zur Erfassung von Remissionen an Druckerzeugnissen, wobei das Messsystem ein Densitometer zur Erfassung bzw. Messung polarisierten Remissionsdichtewerte und ein Spektralphotometer zur Erfassung bzw.
Messung eines unpolarisierten Remissionsspektrums aufweist. Mit diesem aus dem Stand der Technik bekannten Messsystem lassen sich demnach polarisierte Remissionsdichtewerte sowie ein unpolarisiertes Remissionsspektrum ermitteln. Weiterhin ist es aus dem Stand der Technik bereits bekannt, aus dem unpolarisiertes Remissionsspektrum Dichtewerte nach verschiedenen Normen, zum Beispiel nach DIN- oder ANSI-Normen, zu berechnen. Diese Berechnung erfolgt durch numerische Integration des unpolarisierten Remissionsspektrums mit in den Normen definierten Filterkurven.
[0003] Hiervon ausgehend liegt der vorliegenden Erfindung das Problem zugrunde, ein neuartiges Messverfahren an Druckerzeugnissen sowie ein neuartiges Messsystem zu schaffen.
[0004] Dieses Problem wird durch ein Messverfahren an Druckerzeugnissen gemäss Patentanspruch 1 gelöst.
Erfindungsgemäss wird aus den gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerten und dem gemessenen, unpolarisierten Remissionsspektrum ein polarisiertes Remissionsspektrum errechnet.
[0005] Mit dem erfindungsgemässen Messverfahren wird erstmals vorgeschlagen, aus gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerten und aus einem gemessenen, unpolarisierten Remissionsspektrum ein polarisiertes Remissionsspektrum zu errechnen. Aus dem polarisierten Remissionsspektrum lassen sich für beliebige Wellenlängen unter beliebigen Normen polarisierte Remissionsdichtewerte errechnen. Hierdurch wird die Möglichkeit geschaffen, Messwerte nach beliebigen Normen bereitzustellen und so einen Druckprozess nach beliebigen Normen zu steuern bzw. zu regeln sowie eine Qualitätsanalyse an Druckerzeugnissen nach beliebigen Normen vorzunehmen.
Auch ist es möglich, die gemessenen Werte, also die polarisierten Remissionsdichtewerte und das unpolarisierten Remissionsspektrum, in einer Datenbank abzulegen und zu einem späteren Zeitpunkt die Dichteberechnung nach unterschiedlichen Normen durchzuführen. So können die gemessenen Daten eines einzelnen Druckauftrags zeitlich versetzt nach unterschiedlichen Normen bewertet werden.
Ein nach dem erfindungsgemässen Verfahren arbeitendes Messsystem ist daher flexibel einsetzbar.
[0006] Nach einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung wird das polarisierte Remissionsspektrum wie folgt errechnet:
a) für die Wellenlängen, für welche die polarisierten Remissionsdichtewerte gemessen werden, werden die polarisierten Remissionsdichtewerte mit den entsprechenden Werten des unpolarisierten Remissionsspektrums zur Bestimmung von Verhältniswerten ins Verhältnis gesetzt;
b) für die Wellenlängen, die unterhalb der Wellenlänge des polarisierten Remissionsdichtewerts mit der kleinsten Wellenlänge liegen, werden zur Errechung des polarisierten Remissionsspektrums die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums mit dem für den Remissionsdichtewert mit der kleinsten Wellenlänge bestimmten Verhältniswert multipliziert;
c) für die Wellenlängen, die zwischen den Wellenlängen von zwei aufeinanderfolgenden, polarisierten Remissionsdichtewerten liegen, werden zur Errechung des polarisierten Remissionsspektrums die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums mit Verhältniswerten multipliziert, die durch Interpolation zwischen den Verhältniswerten der beiden aufeinanderfolgenden, polarisierten Remissionsdichtewerte ermittelt werden;
d) für die Wellenlängen, die oberhalb der Wellenlänge des polarisierten Remissionsdichtewerts mit der grössten Wellenlänge liegen, werden zur Errechung des polarisierten Remissionsspektrums die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums mit dem für den Remissionsdichtewert mit der grössten Wellenlänge bestimmten Verhältniswert multipliziert.
[0007] Das erfindungsgemässe Messsystem ist im unabhängigen Patentanspruch 6 definiert.
[0008] Bevorzugte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen und der nachfolgenden Beschreibung. Ausführungsbeispiele der Erfindung werden, ohne hierauf beschränkt zu sein, anhand der Zeichnung näher erläutert. Dabei zeigt:
<tb>Fig. 1a<sep>ein für die Druckfarbe Schwarz gemessenes, unpolarisiertes Remissionsspektrum zusammen mit drei gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerten;
<tb>Fig. 1b<sep>neben den gemessenen Werten ein im Sinne der Erfindung errechnetes, polarisiertes Remissionsspektrum für die Druckfarbe Schwarz;
<tb>Fig. 2a<sep>ein für die Druckfarbe Cyan gemessenes, unpolarisiertes Remissionsspektrum zusammen mit drei gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerten;
<tb>Fig. 2b<sep>neben den gemessenen Werten ein im Sinne der Erfindung errechnetes, polarisiertes Remissionsspektrum für die Druckfarbe Cyan;
<tb>Fig. 3a<sep>ein für die Druckfarbe Gelb gemessenes, unpolarisiertes Remissionsspektrum zusammen mit drei gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerten;
<tb>Fig. 3b<sep>neben den gemessenen Werten ein im Sinne der Erfindung errechnetes, polarisiertes Remissionsspektrum für die Druckfarbe Gelb;
<tb>Fig. 4a<sep>ein für die Druckfarbe Magenta gemessenes, unpolarisiertes Remissionsspektrum zusammen mit drei gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerten; und
<tb>Fig. 4b<sep>neben den gemessenen Werten ein im Sinne der Erfindung errechnetes, polarisiertes Remissionsspektrum für die Druckfarbe Magenta.Nachfolgend wird die hier vorliegende Erfindung unter Bezugnahme auf Fig. 1a bis 4b in grösserem Detail beschrieben.
[0009] Fig. 1a zeigt für die Druckfarbe Schwarz Messwerte, die zum Beispiel mit dem in der EP 0 925 917 B1 offenbarten Messsystem ermittelt werden. So ist auf der horizontal verlaufenden Achse 10 die Wellenlänge in Nanometer (nm) aufgetragen, auf der vertikal verlaufenden Achse 11 sind Remissionswerte aufgetragen. Mit der Bezugsziffer 12 ist ein mit Hilfe eines Spektralphotometers gemessenes, unpolarisiertes Remissionsspektrum gekennzeichnet, mit den Bezugsziffern 13, 14 und 15 sind mit Hilfe eines Densitometers polarisiert gemessene Remissionsdichtewerte gekennzeichnet.
Wie Fig. 1a entnommen werden kann, werden polarisierte Remissionsdichtewerte 13, 14 und 15 bei Wellenlängen von in etwa 430 nm, 540 nm sowie 620 nm erfasst. Das unpolarisierte Remissionsspektrum 12 wird in einem Wellenlängenbereich zwischen 380 nm und 730 nm gemessen.
[0010] Im Sinne der hier vorliegenden Erfindung wird nun vorgeschlagen, aus den polarisierten Remissionsdichtewerten 13, 14 und 15 sowie dem unpolarisierten Remissionsspektrum 12 ein polarisiertes Remissionsspektrum zu errechnen, wobei dieses polarisierte Remissionsspektrum in Fig. 1b für die Prozessfarbe Schwarz gestrichelt dargestellt ist und mit der Bezugsziffer 16 gekennzeichnet ist.
Zur Bestimmung des polarisierten Remissionsspektrums 16 wird so vorgegangen, dass die gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerte 13, 14 und 15 als Stützstellen dienen, und dass durch diese Stützstellen eine Kurve gelegt wird, deren Verlauf sich am Verlauf des unpolarisierten Remissionsspektrums 12 orientiert.
Hierdurch kann auf besonders einfache und effiziente Art und Weise aus gemessenen, polarisierten Remissionsdichtewerten und einem gemessenen, unpolarisierten Remissionsspektrum ein polarisiertes Remissionsspektrum berechnet werden.
[0011] Zur Errechnung des polarisierten Remissionsspektrums 16 wird dabei vorzugsweise im Detail wie folgt vorgegangen:
Zuerst werden für die Wellenlängen, für welche die polarisierten Remissionsdichtewerte gemessen werden, die polarisierten Remissionsdichtewerte mit den entsprechenden Werten des unpolarisierten Remissionsspektrums 12 zur Bestimmung von Verhältniswerten ins Verhältnis gesetzt. Im gezeigten Ausführungsbeispiel wird demnach für die drei Wellenlängen, an welchen die polarisierten Remissionsdichtewerte vorliegen, ein entsprechender Verhältniswert errechnet.
Bei 430 nm (siehe Remissionsdichtewert 13) beträgt dieser Verhältniswert in etwa 0,35 (0,01/0,029), bei 540 nm (siehe Remissionsdichtewert 14) beträgt dieser Verhältniswert in etwa 0,51 (0,019/0,037) und bei 620 nm (siehe Remissionsdichtewert 15) beträgt dieser Verhältniswert in etwa 0,45 (0,013/0,029).
[0012] Für die Wellenlängen, die unterhalb der Wellenlänge des polarisierten Remissionsdichtewerts mit der kleinsten Wellenlänge liegen, werden zur Errechnung des polarisierten Remissionsspektrums die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums mit dem für den Remissionsdichtewert mit der kleinsten Wellenlänge bestimmten Verhältniswert multipliziert.
Im Ausführungsbeispiel der Fig. 1b bedeutet dies, dass für die Wellenlängen, die kleiner als 430 nm sind, die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums 12 mit dem für den polarisierten Remissionsdichtewert 13 berechneten Verhältniswert (hier 0,35) multipliziert werden. Für Wellenlängen, die oberhalb der Wellenlänge des polarisierten Remissionsdichtewerts mit der grössten Wellenlänge liegen, werden zur Errechnung des polarisierten Remissionsspektrums die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums mit dem für den Remissionsdichtewert mit der grössten Wellenlänge bestimmten Verhältniswert multipliziert.
Im Ausführungsbeispiel der Fig. 1b bedeutet dies wiederum, dass für Wellenlängen grösser als 620 nm die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums 12 mit dem Verhältniswert (hier 0,45) multipliziert werden, der für den Remissionsdichtewert 15 bestimmt wurde.
[0013] Für die Wellenlängen, die zwischen den Wellenlängen von zwei aufeinanderfolgenden, polarisierten Remissionsdichtewerten liegen, werden zur Errechnung des polarisierten Remissionsspektrums die Werte des unpolarisierten Remissionsspektrums mit Verhältniswerten multipliziert, die durch Interpolation zwischen den Verhältniswerten der beiden aufeinanderfolgenden, polarisierten Remissionsdichtewerte ermittelt werden.
Im Ausführungsbeispiel der Fig. 1b wird eine derartige Interpolation einerseits zwischen den Verhältniswerten (hier 0,35 und 0,51) der polarisierten Remissionsdichtewerte 13 und 14 und andererseits zwischen den Verhältniswerten (hier 0,51 und 0,45) der polarisierten Remissionsdichtewerte 14 und 15 durchgeführt. Für Wellenlängen, die demnach einerseits zwischen 430 nm und 540 nm und andererseits zwischen 540 nm und 620 nm liegen, werden demnach die jeweiligen Verhältniswerte durch Interpolation, nämlich durch lineare Interpolation, zwischen den Verhältniswerten für die entsprechenden polarisierten Remissionsdichtewerte 13 und 14 bzw. 14 und 15 errechnet.
Auf diese Art und Weise kann besonders einfach aus den Messgrössen 12, 13, 14 und 15 ein polarisiertes Remissionsspektrum 16 errechnet werden, wobei dieses polarisierte Remissionsspektrum 16 durch die als Stützstellen dienenden, polarisierten Remissionsdichtewerte 13, 14 und 15 verläuft.
[0014] Die oben beschriebene Vorgehensweise kann für alle Prozessfarben gleichermassen durchgeführt werden. So zeigen Fig. 2a und 2b gemessene sowie errechnete Remissionswerte 12 bis 16 für die Druckfarbe Cyan, Fig. 3a und 3b zeigen die Remissionswerte für die Druckfarbe Gelb und Fig. 4a und 4b zeigen die Remissionswerte für die Druckfarbe Magenta.
Die Vorgehensweise zur Errechnung des polarisierten Remissionsspektrums ist demnach für alle Druckfarben gleich, es ergeben sich jedoch unterschiedliche Verhältniswerte an den Wellenlängen, für welche die polarisierten Remissionsdichtewerte 13, 14 und 15 vorliegen.
[0015] Es liegt nun weiterhin im Sinne der hier vorliegenden Erfindung, aus dem errechneten, polarisierten Remissionsspektrum nach unterschiedlichsten Normen polarisierte Remissionsdichtewerte zur errechnen. So kann unter Zuhilfenahme des errechneten, polarisierten Remissionsspektrums an beliebigen Wellenlängen und für beliebige Halbwertsbreiten von beliebigen Filterkennlinien ein polarisierter Remissionsdichtewert errechnet werden. Dies eröffnet die Möglichkeit, mit dem erfindungsgemässen Messverfahren bzw. mit einem nach dem erfindungsgemässen Messverfahren arbeitenden Messsystem eine Regelung bzw.
Steuerung von Druckprozessen bzw. eine Qualitätskontrolle der Druckerzeugnisse nach beliebigen Normen vorzunehmen. Weiterhin eröffnet die hier vorliegende Erfindung die Möglichkeit, die polarisierte Schwarzdichte nach der kompletten V-Lambda-Funktion und nicht lediglich für drei Stützstellen zu errechnen. Weiterhin können mit dem errechneten, polarisierten Remissionsspektrum sogenannte X,Y,Z-Normfarbwerte berechnet werden, die sich unter Berücksichtigung des sogenannten Trocknungseffekts wesentlich weniger verändern als unpolarisierte X,Y,Z-Normfarbwerte.
Weiterhin können beliebige Filterkennlinien nach Nennwellenlänge und Halbwertsbreite definiert werden.
[0016] Mit Hilfe der hier vorliegenden Erfindung wird demnach eine einfache Möglichkeit geschaffen, aus mit Hilfe eines Densitometers für spezielle Wellenlängen ermittelten polarisierten Remissionsdichtewerten und aus einem mit Hilfe eines Spektralphotometers ermittelten, unpolarisierten Remissionsspektrums ein polarisiertes Remissionsspektrum zu errechnen. Anderenfalls wäre hierzu entweder ein zweites Spektralphotometer mit Polfilter erforderlich, oder es müssten mit einem Spektralphotometer einerseits mit eingeschwenktem Polfilter und andererseits mit ausgeschwenktem Polfilter zwei separate Messungen durchgeführt werden. Bei der Verwendung von zwei Spektralphotometern ergibt sich ein deutlicher Kostennachteil.
Des Weiteren würde die Ermittlung eines polarisierten Remissionsspektrums mit Hilfe eines Spektralphotometers, in welches ein Polfilter eingeschwenkt ist, eine sehr lange Messzeit erfordern, da durch die Verwendung von Polfiltern die zur Verfügung stehende Messenergie deutlich abnimmt. Mit Hilfe der hier vorliegenden Erfindung wird demnach ein preiswertes sowie schnelles Messverfahren zur Ermittlung eines polarisierten Remissionsspektrums bereitgestellt.
Bezugszeichenliste
[0017]
10 : Achse
11 : Achse
12 : unpolarisiertes Remissionsspektrum
13 : polarisierter Remissionsdichtewert
14 : polarisierter Remissionsdichtewert
15 : polarisierter Remissionsdichtewert
16 : polarisiertes Remissionsspektrum
The invention relates to a measuring method of printed products according to the preamble of patent claim 1. Furthermore, the invention relates to a measuring system according to the preamble of patent claim 6.
For controlling printing processes and for quality analysis of printed products, it is already known to print in addition to the actual subject measuring fields on the substrate, which are scanned by measuring devices. Preferably, measuring fields are at least partially combined to form so-called measuring strips, that is to say the individual measuring fields are arranged in rows. EP 0 925 917 B1 discloses a measuring system for detecting remissions of printed products, wherein the measuring system is a densitometer for recording or measuring polarized remission density values and a spectrophotometer for recording or
Measurement of an unpolarized remission spectrum has. With this measurement system known from the prior art, it is thus possible to determine polarized remission density values and an unpolarized remission spectrum. Furthermore, it is already known from the prior art to calculate density values according to various standards, for example according to DIN or ANSI standards, from the unpolarized reflectance spectrum. This calculation is done by numerical integration of the unpolarized reflectance spectrum with filter curves defined in the standards.
On this basis, the present invention is based on the problem to provide a novel measurement method of printed products and a novel measuring system.
This problem is solved by a measuring method of printed products according to claim 1.
According to the invention, a polarized reflectance spectrum is calculated from the measured, polarized reflectance density values and the measured, unpolarized reflectance spectrum.
With the measuring method according to the invention, it is proposed for the first time to calculate a polarized reflectance spectrum from measured, polarized reflectance density values and from a measured, unpolarized reflectance spectrum. From the polarized reflectance spectrum polarized remission density values can be calculated for arbitrary wavelengths under any standard. This provides the possibility to provide measured values according to any standards and thus to control or regulate a printing process according to any standards and to perform a quality analysis of printed products according to any standards.
It is also possible to store the measured values, that is to say the polarized remission density values and the unpolarized reflectance spectrum, in a database and to carry out the density calculation according to different standards at a later time. Thus, the measured data of a single print job can be evaluated offset in time according to different standards.
A working according to the inventive method measuring system is therefore flexible.
According to an advantageous embodiment of the invention, the polarized reflectance spectrum is calculated as follows:
a) for the wavelengths for which the polarized reflectance density values are measured, the polarized reflectance density values are compared with the corresponding unpolarized reflectance spectrum values to determine ratios;
b) for the wavelengths below the wavelength of the smallest wavelength polarized reflectance density value, the values of the unpolarized reflectance spectrum are multiplied by the ratio value determined for the smallest wavelength reflectance density value to obtain the polarized reflectance spectrum;
c) for the wavelengths lying between the wavelengths of two consecutive polarized reflectance density values, to derive the polarized reflectance spectrum, the values of the unpolarized reflectance spectrum are multiplied by ratios obtained by interpolating between the ratios of the two consecutive polarized reflectance density values;
d) for the wavelengths above the wavelength of the polarized reflectance density value with the greatest wavelength, the values of the unpolarized reflectance spectrum are multiplied by the ratio value determined for the remission density value with the largest wavelength in order to calculate the polarized reflectance spectrum.
The inventive measuring system is defined in the independent claim 6.
Preferred embodiments of the invention will become apparent from the dependent claims and the description below. Embodiments of the invention will be described, without being limited thereto, with reference to the drawing. Showing:
<Tb> FIG. 1a <sep> an unpolarized reflectance spectrum measured for the ink black, together with three measured, polarized reflectance density values;
<Tb> FIG. 1b <sep> in addition to the measured values, a polarized reflectance spectrum calculated for the purposes of the invention for the printing ink black;
<Tb> FIG. 2a <sep> an unpolarized reflectance spectrum measured for the cyan ink together with three measured, polarized reflectance density values;
<Tb> FIG. 2b <sep> in addition to the measured values, a polarized reflectance spectrum calculated for the purposes of the invention for the printing ink cyan;
<Tb> FIG. 3a is an unpolarized reflectance spectrum measured for the yellow ink, together with three measured, polarized reflectance density values;
<Tb> FIG. 3b <sep> in addition to the measured values, a polarized reflectance spectrum calculated for the purposes of the invention for the printing ink yellow;
<Tb> FIG. 4a is an unpolarized reflectance spectrum measured for the magenta ink together with three measured, polarized reflectance density values; and
<Tb> FIG. 4b <sep> in addition to the measured values, a polarized reflectance spectrum calculated for the purposes of the invention for the printing ink magenta. The present invention will be described in greater detail below with reference to FIGS. 1a to 4b.
FIG. 1a shows measured values for the printing ink black which are determined, for example, with the measuring system disclosed in EP 0 925 917 B1. Thus, the wavelength in nanometers (nm) is plotted on the horizontal axis 10, and remission values are plotted on the vertical axis 11. The reference numeral 12 denotes a non-polarized reflectance spectrum measured with the aid of a spectrophotometer, the reference numerals 13, 14 and 15 denote polarized reflectance density values measured by means of a densitometer.
As can be seen from FIG. 1a, polarized reflectance density values 13, 14 and 15 are detected at wavelengths of approximately 430 nm, 540 nm and 620 nm. The unpolarized reflectance spectrum 12 is measured in a wavelength range between 380 nm and 730 nm.
For the purposes of the present invention, it is now proposed to calculate from the polarized reflectance density values 13, 14 and 15 and the unpolarized reflectance spectrum 12, a polarized reflectance spectrum, this polarized reflectance spectrum is shown in dashed lines in Fig. 1b for the process color black and with the reference numeral 16 is indicated.
To determine the polarized remission spectrum 16, the procedure is such that the measured, polarized remission density values 13, 14 and 15 serve as support points, and that a curve is laid through these support points, the course of which is based on the course of the unpolarized remission spectrum 12.
As a result, a polarized reflectance spectrum can be calculated in a particularly simple and efficient manner from measured, polarized reflectance density values and a measured, unpolarized reflectance spectrum.
To calculate the polarized remission spectrum 16, the procedure is preferably as follows in detail:
First, for the wavelengths for which the polarized reflectance density values are measured, the polarized reflectance density values are compared with the corresponding values of the unpolarized reflectance spectrum 12 for determining ratios. Accordingly, in the exemplary embodiment shown, a corresponding ratio value is calculated for the three wavelengths at which the polarized reflectance density values are present.
At 430 nm (see remission density value 13) this ratio is approximately 0.35 (0.01 / 0.029), at 540 nm (see remission density value 14) this ratio is approximately 0.51 (0.019 / 0.037) and at 620 nm ( see remission density value 15), this ratio is about 0.45 (0.013 / 0.029).
For the wavelengths which are below the wavelength of the polarized reflectance density value with the smallest wavelength, the values of the unpolarized remission spectrum are multiplied by the ratio value determined for the remission density value with the smallest wavelength in order to calculate the polarized reflectance spectrum.
In the exemplary embodiment of FIG. 1b, this means that for the wavelengths which are smaller than 430 nm, the values of the unpolarized reflectance spectrum 12 are multiplied by the ratio value (here 0.35) calculated for the polarized remission density value 13. For wavelengths above the wavelength of the largest wavelength polarized reflectance density value, the values of the unpolarized reflectance spectrum are multiplied by the ratio value determined for the maximum wavelength reflectance density to calculate the polarized reflectance spectrum.
In the exemplary embodiment of FIG. 1 b this in turn means that for wavelengths greater than 620 nm, the values of the unpolarized reflectance spectrum 12 are multiplied by the ratio value (in this case 0.45), which was determined for the remission density value 15.
For the wavelengths lying between the wavelengths of two consecutive polarized reflectance density values, the values of the unpolarized reflectance spectrum are multiplied by ratio values obtained by interpolating between the ratio values of the two successive polarized reflectance density values to calculate the polarized reflectance spectrum.
In the exemplary embodiment of FIG. 1b, such an interpolation on the one hand between the ratio values (here 0.35 and 0.51) of the polarized reflectance density values 13 and 14 and on the other hand between the ratio values (here 0.51 and 0.45) of the polarized remission density values 14 and 15 performed. Accordingly, for wavelengths which are on the one hand between 430 nm and 540 nm and on the other hand between 540 nm and 620 nm, the respective ratio values are obtained by interpolation, namely by linear interpolation, between the ratio values for the corresponding polarized reflectance density values 13 and 14 or 14 and 15 calculated.
In this way, it is particularly easy to calculate a polarized reflectance spectrum 16 from the measured quantities 12, 13, 14 and 15, this polarized reflectance spectrum 16 passing through the polarized reflectance density values 13, 14 and 15 serving as reference points.
The procedure described above can be performed equally for all process colors. Thus, FIGS. 2a and 2b show measured and calculated remission values 12 to 16 for the printing ink cyan, FIGS. 3a and 3b show the remission values for the printing ink yellow, and FIGS. 4a and 4b show the remission values for the printing ink magenta.
The procedure for calculating the polarized reflectance spectrum is accordingly the same for all printing inks, but different ratio values result at the wavelengths for which the polarized reflectance density values 13, 14 and 15 are present.
It is still within the meaning of the present invention, from the calculated, polarized remission spectrum according to different standards polarized remission density values calculated. Thus, a polarized remission density value can be calculated with the help of the calculated, polarized remission spectrum at arbitrary wavelengths and for any half-value widths of any filter characteristic curves. This opens up the possibility, with the measuring method according to the invention or with a measuring system operating according to the measuring method according to the invention, of a regulation or
Control of printing processes or a quality control of the printed products according to any standards. Furthermore, the present invention opens up the possibility of calculating the polarized black density according to the complete V lambda function and not just for three interpolation points. Furthermore, with the calculated, polarized reflectance spectrum, so-called X, Y, Z standard color values can be calculated, which, considering the so-called drying effect, change much less than unpolarized X, Y, Z standard color values.
Furthermore, any filter characteristic can be defined by nominal wavelength and half-width.
With the aid of the present invention, therefore, a simple possibility is provided to calculate a polarized reflectance spectrum from polarized reflectance density values determined with the aid of a densitometer for specific wavelengths and from a unpolarized reflectance spectrum determined with the aid of a spectrophotometer. Otherwise, this would either require a second spectrophotometer with polarizing filter, or two separate measurements would have to be carried out with a spectrophotometer on the one hand with the polarizer swiveled in and, on the other hand, with the polarizer swiveled out. The use of two spectrophotometers results in a significant cost disadvantage.
Furthermore, the determination of a polarized remission spectrum using a spectrophotometer, in which a polarizing filter is swiveled in, would require a very long measuring time, since the use of polarizing filters significantly reduces the available measuring energy. With the aid of the present invention, therefore, an inexpensive and rapid measuring method for determining a polarized remission spectrum is provided.
LIST OF REFERENCE NUMBERS
[0017]
10: axis
11: axis
12: unpolarized reflectance spectrum
13: polarized remission density value
14: polarized remission density value
15: polarized remission density value
16: polarized reflectance spectrum