CH642489A5 - Sprung contact module for measurement and test purposes - Google Patents
Sprung contact module for measurement and test purposes Download PDFInfo
- Publication number
- CH642489A5 CH642489A5 CH1176878A CH1176878A CH642489A5 CH 642489 A5 CH642489 A5 CH 642489A5 CH 1176878 A CH1176878 A CH 1176878A CH 1176878 A CH1176878 A CH 1176878A CH 642489 A5 CH642489 A5 CH 642489A5
- Authority
- CH
- Switzerland
- Prior art keywords
- contact
- sleeve
- contact module
- casing tube
- piston
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
- H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
- H01R11/11—End pieces or tapping pieces for wires, supported by the wire and for facilitating electrical connection to some other wire, terminal or conductive member
- H01R11/18—End pieces terminating in a probe
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07357—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with flexible bodies, e.g. buckling beams
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen federnden Kontaktbaustein für Mess- und Prüfzwecke, insbesondere zum Prüfen elektrischer Leiterplatten, mit einer Hülse, in deren einem Ende ein Anschlussstift befestigt ist und in deren anderem Ende ein Kolben unter Verspannen einer am Anschlussstift anliegenden Schraubenfeder längsbeweglich geführt ist. Sie betrifft ausserdem einen Prüfadapter mit mehreren Kontaktbausteinen. The invention relates to a resilient contact module for measuring and testing purposes, in particular for testing electrical circuit boards, with a sleeve in one end of which a connecting pin is fastened and in the other end of which a piston is guided so as to be longitudinally movable while bracing a helical spring resting on the connecting pin. It also relates to a test adapter with several contact modules.
Ein derartiger Kontaktbaustein ist aus DE-OS 2657016 bekannt. Der Kolben ist mit einem aus der Hülse herausragenden Fortsatz versehen, dessen Spitze zur Kontaktierung mit elektrischen Leiterplatten dient. Dabei sind viele solcher Kontaktbausteine parallel in die Platte eines Prüfadapters eingebaut, der relativ zu den Leiterplatten beweglich ist. Such a contact block is known from DE-OS 2657016. The piston is provided with an extension protruding from the sleeve, the tip of which serves for contacting electrical circuit boards. Many such contact modules are installed in parallel in the plate of a test adapter, which is movable relative to the circuit boards.
Wenn die Abstände der zu überprüfenden Schaltelemente bzw. der zugehörigen Anschlüsse wie z.B. bei einem IC-Glied sehr klein sind, ergeben sich Schwierigkeiten, weil die Kolben und damit auch die Abstände der Kontaktspitzen nicht beliebig klein gemacht werden können. If the distances between the switching elements to be checked or the associated connections, e.g. Difficulties arise with an IC element, because the pistons and thus the spacing of the contact tips cannot be made arbitrarily small.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, durch eine besondere Gestaltung des Kontaktbausteins auch die Prüfung von IC- .. Anschlüssen zu ermöglichen. It is therefore an object of the invention to enable the testing of IC .. connections by a special design of the contact block.
Eine weitere, bisher unzureichend gelöste Aufgabe besteht darin, eine Vielzahl von nach Grösse und Gestalt unterschiedlichen Lötpunkten einer elektrischen Leiterplatte mit entsprechend vielen Kontaktbausteinen so abzutasten, dass an jeder Lötstelle ein guter Kontakt erzielt wird, ohne dass die Federn benachbarter Kontaktbausteine überbeansprucht werden. Another problem, which has so far been insufficiently solved, is to scan a large number of soldering points of an electrical circuit board with different sizes and shapes with a corresponding number of contact modules in such a way that good contact is achieved at each soldering point without the springs of adjacent contact modules being overstressed.
Zur Lösung bei der Aufgaben ist der erfindungsgemässe Kontaktbaustein dadurch gekennzeichnet, dass am Kolben in entgegengesetzter Richtung zum Anschlussstift ein biegeelastischer Kontaktdraht fest angebracht ist, der in einem mit der Hülse verbundenen Mantelrohr geführt ist und dessen Kontaktspitze aus dem Mantelrohr herausragt. To solve the problem, the contact module according to the invention is characterized in that a flexurally elastic contact wire is fixedly attached to the piston in the opposite direction to the connecting pin, which is guided in a jacket tube connected to the sleeve and whose contact tip protrudes from the jacket tube.
Der erfindungsgemässe Prüfadapter ist im Patentanspruch 7 definiert. Wenn die biegsame Kontaktspitze auf eine Lötkuppe auftrifft, kann sie bis zu einem gewissen Mass seitlich ausweichen und schabt dabei gleichzeitig die Lötstelle von Schmutzpartikeln und Oxidationsprodukten frei, die eine gute Kontaktierung behindern könnten. The test adapter according to the invention is defined in claim 7. If the flexible contact tip hits a soldering tip, it can move sideways to a certain extent and at the same time scrapes the soldering point free of dirt particles and oxidation products that could hinder good contacting.
In einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist auch das den Kontaktdraht umhüllende Metallrohr biegeelastisch ausgebildet. Dadurch wird es möglich, bei einem erfin-dungsgemässen Prüfadapter mit einer Vielzahl von Kontaktbausteinen die freien Enden der Mantelrohre soweit zusammenzubiegen und in die Vorderplatte mit so engem Abstand einzustecken, dass die sehr eng zusammenliegenden IC-Anschlüsse einzeln kontaktiert und überprüft werden können. Wenn der Kolben in der Hülse mittels eines an einer wendeiförmigen Führungsfläche entlang bewegten Zapfens mit der Längsbewegung zugleich eine Drehbewegung ausführt, wird die Reibung des Kolbens und Kontaktdrahtes verringert; ausserdem wird durch die bohrende Bewegung der Kontaktspitze der Übergangswiderstand an der Kontaktstelle herabgesetzt. In a further embodiment of the invention, the metal tube enveloping the contact wire is also designed to be flexible. This makes it possible in a test adapter according to the invention with a large number of contact modules to bend the free ends of the jacket tubes to such an extent and to insert them into the front plate with such a small distance that the IC connections which are very close together can be contacted and checked individually. If the piston in the sleeve simultaneously rotates with the longitudinal movement by means of a pin which is moved along a helical guide surface, the friction of the piston and contact wire is reduced; in addition, the contact resistance at the contact point is reduced by the drilling movement of the contact tip.
Einige Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung dargestellt und werden im folgenden näher erläutert. Es zeigen: Some embodiments of the invention are shown in the drawing and are explained in more detail below. Show it:
Fig. 1 einen Kontaktbaustein mit starrem Mantelrohr und biegsamem Kontaktdraht; Figure 1 shows a contact block with a rigid jacket tube and flexible contact wire.
Fig. 2 einen Prüfadapter bei Kontaktierung einer elektronischen Leiterplatte; 2 shows a test adapter when contacting an electronic circuit board;
Fig. 3 einen Kontaktbaustein mit biegeelastischem Mantelrohr; 3 shows a contact module with a flexible jacket tube;
Fig. 4 eine Ausführungsform des erfindungsgemässen Prüfadapters. Fig. 4 shows an embodiment of the test adapter according to the invention.
Bei dem Kontaktbaustein nach Fig. 1 ist in einer Hülse 1 ein Kolben 2 unter Verspannen einer Schraubenfeder 3 längsbeweglich geführt. Die Schraubenfeder 3 stützt sich gegen einen Anschlussstift 4 ab, der in die Hülse 1 eingerollt ist und über Steck- oder Lötverbindung an ein Messgerät angeschlossen ist (nicht gezeichnet). In the contact module according to FIG. 1, a piston 2 is guided in a sleeve 1 so as to be longitudinally movable while tensioning a coil spring 3. The helical spring 3 is supported against a connecting pin 4 which is rolled into the sleeve 1 and is connected to a measuring device via a plug or solder connection (not shown).
In einem starren, einstückig mit der Hülse 1 ausgebildeten Mantelrohr 5 ist ein biegeelastischer Kontaktdraht 6 geführt, der in den Kolben 2 eingepresst und gegebenenfalls zusätzlich mit ihm verschweisst ist. Der Kontaktdraht ist aus hochfestem, im Vakuum wärmebehandelten Stahl oder aus einer ausgehärteten Palladium-Silber-Gold-Legierung gefertigt. Der Durchmesser des Kontaktdrahtes beträgt ca. 0,3-0,45 mm, der Aussendurchmesser des Mantelrohres ca. 1,0-1,5 mm. A flexurally elastic contact wire 6, which is pressed into the piston 2 and optionally additionally welded to it, is guided in a rigid jacket tube 5 formed in one piece with the sleeve 1. The contact wire is made of high-strength, vacuum-heat-treated steel or a hardened palladium-silver-gold alloy. The diameter of the contact wire is approx. 0.3-0.45 mm, the outside diameter of the casing tube is approx. 1.0-1.5 mm.
Der in Fig. 2 dargestellte Prüfadapter enthält eine Vielzahl solcher Kontaktbausteine, die parallel nebeneinander in eine Adapterplatte 7 eingesetzt sind. (Der Übersichtlichkeit halber sind nur drei Kontaktbausteine gezeichnet.) Die aus dem Mantelrohr herausragenden Kontaktspitzen 6' sind leicht seitwärts durchgebogen und kontaktieren die unterschiedlich geformten Lötstellen 8, 9,10 der elektrischen Leiterplatte 10'. The test adapter shown in FIG. 2 contains a large number of such contact modules, which are inserted in parallel into an adapter plate 7. (For the sake of clarity, only three contact modules are drawn.) The contact tips 6 'protruding from the casing tube are bent slightly sideways and contact the differently shaped solder joints 8, 9, 10 of the electrical circuit board 10'.
Der Kontaktbaustein gemäss Fig. 3 besteht aus einer Hülse 11, einem Kolben 12, einer Schraubenfeder 13 und einem Anschlussstift 14. Hier ist jedoch das Mantelrohr 15, durch das der am Kolben 12 befestigte Kontaktdraht 16 hin5 3 consists of a sleeve 11, a piston 12, a helical spring 13 and a connecting pin 14. Here, however, is the jacket tube 15 through which the contact wire 16 attached to the piston 12 passes
10 10th
15 15
20 20th
25 25th
30 30th
35 35
40 40
45 45
50 50
55 55
60 60
65 65
3 3rd
642 489 642 489
durchgeführt ist, als getrenntes biegeelastisches Teil gefertigt und in der Hülse 11 befestigt. Dadurch wird es möglich, einen Prüfadapter zu bauen, wie er in Fig. 4 dargestellt ist. Er besteht aus einer Hinterplatte 17, einer Vorderplatte 18 und Distanzstücken 19. Gegenüber den in die Hinterplatte 17 fächerförmig eingesetzten Hülsen 11 sind die in die Vorderplatte 18 eingesetzten freien Enden 15' der Mantelrohre 15 auf engstem Raum soweit zusammengebogen, dass der Abstand der Kontaktspitzen 16' weniger als 0,5 mm beträgt. is carried out, manufactured as a separate flexurally elastic part and fastened in the sleeve 11. This makes it possible to build a test adapter as shown in FIG. 4. It consists of a rear plate 17, a front plate 18 and spacers 19. Compared to the sleeves 11, which are inserted in the form of a fan in the rear plate 17, the free ends 15 ′ of the casing tubes 15 inserted into the front plate 18 are bent to such an extent in a confined space that the distance between the contact tips 16 'is less than 0.5 mm.
Auf diese Weise lassen sich die eng nebeneinanderliegenden IC-Anschlüsse einzeln überprüfen. Um die Reibung des Kontaktdrahtes 16 und Kolben 12 beim Kontaktieren zu vermindern und den Übergangswiderstand an der Kontaktstelle her-5 abzusetzen, ist der Kolben mit einer Spiralnut 20 versehen, in die ein an der Hülse angebrachter Zapfen 21 eingreift und somit bei der Längsbewegung des Kontaktdrahtes und Kolbens zugleich deren Drehung verursacht. In this way, the closely spaced IC connections can be checked individually. In order to reduce the friction of the contact wire 16 and piston 12 when making contact and to reduce the contact resistance at the contact point 5, the piston is provided with a spiral groove 20 into which a pin 21 attached to the sleeve engages and thus during the longitudinal movement of the contact wire and piston causes their rotation at the same time.
G G
1 Blatt Zeichnungen 1 sheet of drawings
Claims (7)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19782839982 DE2839982C2 (en) | 1978-09-14 | 1978-09-14 | Spring-loaded contact module |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CH642489A5 true CH642489A5 (en) | 1984-04-13 |
Family
ID=6049424
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CH1176878A CH642489A5 (en) | 1978-09-14 | 1978-11-16 | Sprung contact module for measurement and test purposes |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
CH (1) | CH642489A5 (en) |
DE (1) | DE2839982C2 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018142170A1 (en) | 2017-02-02 | 2018-08-09 | Equip-Test Kft. | Contacting device, head unit for the same, and methods for manufacturing a contacting device and a head unit |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2933862A1 (en) * | 1979-08-21 | 1981-03-12 | Paul Mang | DEVICE FOR ELECTRONICALLY CHECKING CIRCUIT BOARDS. |
DE3103077A1 (en) * | 1981-01-30 | 1982-08-26 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Sprung contact module |
CH661129A5 (en) * | 1982-10-21 | 1987-06-30 | Feinmetall Gmbh | CONTACT DEVICE. |
DE3332187C2 (en) * | 1983-09-07 | 1986-01-30 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Contact pin |
DE3343274A1 (en) * | 1983-11-30 | 1985-06-05 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | CONTACT DEVICE |
DE3507464A1 (en) * | 1984-03-08 | 1985-09-12 | Feinmetall Gmbh, 7033 Herrenberg | Spring contact pin |
DE8709234U1 (en) * | 1987-07-03 | 1987-10-08 | Nixdorf Computer Ag, 4790 Paderborn, De | |
DE3818728A1 (en) * | 1988-06-01 | 1989-12-14 | Feinmetall Gmbh | Spring contact pin |
CH676898A5 (en) * | 1988-09-02 | 1991-03-15 | Microcontact Ag | |
DE20103967U1 (en) * | 2001-03-07 | 2002-07-11 | Ptr Mestechnik Gmbh & Co Kg | Switching spring contact pin |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
AT268450B (en) * | 1967-06-16 | 1969-02-10 | Franz Zehetner Fa Ing | Test clamp |
US3731191A (en) * | 1969-12-22 | 1973-05-01 | Ibm | Micro-miniature probe assembly |
DE2613858B1 (en) * | 1976-03-31 | 1977-07-14 | Siemens Ag | Multiple probe for testing electronic circuits - has pneumatically-operated rotating plunger for improved electric contact with reduced pressure |
DE2657016A1 (en) * | 1976-12-16 | 1978-06-22 | Feinmetall Gmbh | SPRING CONTACT MODULE FOR MEASURING AND TESTING PURPOSES |
-
1978
- 1978-09-14 DE DE19782839982 patent/DE2839982C2/en not_active Expired
- 1978-11-16 CH CH1176878A patent/CH642489A5/en not_active IP Right Cessation
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2018142170A1 (en) | 2017-02-02 | 2018-08-09 | Equip-Test Kft. | Contacting device, head unit for the same, and methods for manufacturing a contacting device and a head unit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2839982A1 (en) | 1980-03-20 |
DE2839982C2 (en) | 1984-01-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3820795C2 (en) | ||
DE3123627A1 (en) | DEVICE FOR SIMULTANEOUSLY CONTACTING MULTIPLE CLOSE-UP CHECK POINTS, IN PARTICULAR OF GRID FIELDS | |
DE2213823C3 (en) | Method and device for mounting electrical components on a printed circuit board | |
DE2312749A1 (en) | LOET SOCKET FOR PRINTED CIRCUITS | |
CH642489A5 (en) | Sprung contact module for measurement and test purposes | |
EP0915342A2 (en) | Test head for microstructures with interface | |
CH667925A5 (en) | SPRING CONTACT PIN FOR TEST ADAPTER FOR CONTACTING TEST UNITS FOR THE TEST ON THEIR ELECTRICAL ERROR-FREE. | |
EP1031841A2 (en) | Test adapter for contacting populated printed circuit boards | |
DE3340431C2 (en) | Spring-loaded contact pin for testing purposes | |
EP0150327A1 (en) | Contact device | |
DE3427603C2 (en) | Device for cutting and bending connecting wires | |
CH629309A5 (en) | Spring contact for measuring and test purposes | |
DE3319972A1 (en) | TOOL FOR INSERTING A CONTACT ELEMENT INTO A CIRCUIT BOARD | |
DE7633778U1 (en) | 3000 Hanover contact point Heilmann, Werner, 7750 Konstanz | |
DE3507464A1 (en) | Spring contact pin | |
EP0501444A2 (en) | Radiator | |
EP0242542A1 (en) | Test adapter | |
DE3722485C2 (en) | ||
DE2031241B1 (en) | Device for assembling electn see component carriers | |
CH641598A5 (en) | Sprung contact device for measuring or testing electronic components | |
DE2717420C3 (en) | Contact pin | |
DE3144879A1 (en) | TRANSPORT BRACKET FOR TRANSMITTING AT LEAST ONE ELECTRICAL OR ELECTRONIC ITEM TO A PCB | |
DE2920872C2 (en) | ||
DE2525623C3 (en) | Connection element for jumper wires | |
DE102006041224B4 (en) | Measuring arrangement with several strain gauge sensors and method for producing the measuring arrangement |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PL | Patent ceased |