CH615280A5

CH615280A5 - Optical projector

Info

Publication number: CH615280A5
Application number: CH741777A
Authority: CH
Inventors: Walter Guggi; Luitpold Schulz
Original assignee: Wild Heerbrugg Ag
Priority date: 1977-06-16
Filing date: 1977-06-16
Publication date: 1980-01-15
Also published as: DE2824391A1; JPS5417862A

Description

Die Erfindung betrifft ein optisches Vergrösserungsgerät werden, zum Beispiel wie sie dargestellt ist oder wenn die mit grossem Arbeitsabstand. Anordnung der beiden Linsen umgekehrt in den Strahlengang The invention relates to an optical magnification device, for example as it is shown or if it has a large working distance. Arrangement of the two lenses reversed in the beam path

Bekanntlich finden diese Geräte, welche mit entsprechen- eingeführt wird oder wenn die beiden Linsen aus dem Strahlendem optischen Zubehör versehen sind, auf dem Gebiet der 40 gang entfernt werden. Die Strahlenumlenkung im Ausführungs-Mikrophotographie und der Mikroprojektion zur Dokumenta- beispiel bewirkt also mit optischen Mittel dasselbe wie eine tion und Demonstration von Objekten und Vorgängen Verwen- mechanische Verrückung bwz. Verschiebung des bekannten dung. Ferner werden optische Vergrösserungsgeräte, die elek- Mikroskops. As is known, these devices, which are introduced with the corresponding or if the two lenses are provided from the beam of optical accessories, are removed in the area of 40 gears. The beam deflection in the execution photomicrography and the microprojection for the document example thus effects the same with optical means as a tion and demonstration of objects and processes. Postponement of the known manure. Furthermore, optical magnification devices, the electrical microscope.

tronischen Bildwandlern vorgeschaltet oder nachgeschaltet sind, Eine Beleuchtungseinrichtung, welche in der Zeichnung als zur Telekommunikation eingesetzt. Schliesslich dient das opti- 45 Leuchtwendel 10 einer elektrischen Lampe dargestellt ist, tronic image converters upstream or downstream, a lighting device, which in the drawing as used for telecommunications. Finally, the optical filament 10 serves as an electrical lamp,

sehe Vergrösserungsgerät in Verbindung mit einer optischen beleuchtet über den von dieser Seite durchlässigen Spiegel 5 das see magnification device in connection with an optical illuminated over the mirror 5 transparent from this side

Beobachtungseinrichtung in Mikroskopen zur Untersuchung in der Objektebene 0 liegende Objekt. Hiermit wird eine hohe von Objekten und zur Kontrolle von Vorgängen bzw. zur Bear- Beleuchtungsstärke in der Objektebene erzielt. Zur Vermei-beitung von Produkten. Zum Beispiel werden unter dem Mikro- dung von Streulicht, welches den Beobachter in der Bildebene 4 Observation device in microscopes for examination of object lying in object plane 0. This achieves a high level of objects and for checking processes or for Bear illuminance in the object plane. To avoid products. For example, scattering light, which the observer in the image plane 4

skop gedruckte, elektronische Schaltungen mit integrierten 50 stören könnte, ist ein Polarisator 7 vorgesehen, der die Beleuch- skop printed, electronic circuits with integrated 50, a polarizer 7 is provided, which the lighting

Bauteilen kontrolliert, bearbeitet sowie deren Bearbeitung tungsstrahlen in eine bestimmte Ebene polarisiert. Der Analy- Components are checked, processed and their processing polarized in a certain plane. The analy-

gesteuert. Hierbei sind für die Bedienungsperson ein Höchst- sator 8 ist so eingestellt zum Polarisator 7, dass das von der mass an Bedienungskomfort bei gleichzeitiger Adaptibilität an Beleuchtung 10 herrührende Streulicht, welches sich auch durch die maschinellen Gegebenheiten zwingende Voraussetzungen. gewisse Reflexionen an den einzelnen Linsenelementen bilden controlled. A maximum sender 8 is set for the operator in relation to the polarizer 7 in such a way that the scattered light resulting from the degree of ease of use with simultaneous adaptability to lighting 10, which is also a requirement due to the mechanical conditions. form certain reflections on the individual lens elements

Die bekannten Mikroskope erfüllen diese Voraussetzungen 55 kann, vollkommen eliminiert ist. Die X/4-Platte 9 wird vor nicht bzw. nur unvollkommen. Diese Mikroskope haben in der Inbetriebsetzung des gesamten Vergrösserungsgerätes so zum The known microscopes can meet these requirements 55, is completely eliminated. The X / 4 plate 9 is not or only imperfect. These microscopes are used for the commissioning of the entire magnification device

Regel eine senkrechte Bauweise und eine geradlinige optische Analysator 8 eingestellt, dass die Strahlen von dem beleuchte- Usually a vertical construction and a straight-line optical analyzer 8 are set so that the rays from the illuminated

Achse vom Objekt bis zum Beobachtertubus. Insbesondere bei ten Objekt in der Objektebene 0 ungehindert durch den Analy- Axis from the object to the observer tube. Especially with th object in object level 0 unhindered by the analysis

der Produktionskontrolle bzw. Produktionssteuerung wirken sator 8 hindurchgehen und somit voll zur Geltung kommen in sich diese Merkmale nachteilig aus. So sind Objekte, die von (1o der Bildebene. the production control or production control act sator 8 go through and thus come into their own, these features come out disadvantageously. So objects are from (1o of the image plane.

ihren Eigenschaften her (gesundheitsschädlich) oder von den Wenn zum Beispiel die Beleuchtungsquelle 10 kein sichtba- in terms of their properties (harmful to health) or if, for example, the lighting source 10 has no visible

Arbeitsbedingungen her (unzugänglich, vorpositioniert) nicht res Licht aussendet, sondern ultraviolettes Licht, so können mit zum Mikroskop hin bewegt werden können, nicht oder nur Anordnung von zusätzlichen Filtern in den Beleuchtungsstrah- Working conditions (inaccessible, pre-positioned) does not emit res light, but ultraviolet light, so it can be moved towards the microscope, not or only arrangement of additional filters in the illuminating beam.

unvollständig mit den herkömmlichen Mikroskopen untersuch- lengang Fluoreszenzmethoden angewandt werden. Hiermit soll bar. Zeitaufwendige Positionierung und Einbusse an Bedie- m verstanden werden, dass das Strahlenbündel, welches vom zu nungskomfort führen zu einer Minderung der Produktionsrate. beobachtenden Objekt in der Objektebene 0 reflektiert wird, fluorescence methods are incompletely applied with the conventional microscopes. Hereby cash. Time-consuming positioning and loss of operator understanding are understood that the radiation beam, which leads to comfort, leads to a reduction in the production rate. observing object is reflected in object plane 0,

In manchen Fällen liegt die Ebene des zu beobachtenden eine kleinere Frequenz hat als das Beleuchtungsstrahlenbündel In some cases, the plane of the object to be observed is at a lower frequency than the illuminating beam

Objektes nicht parallel zu einer horizontalen Bezugsebene, von der zum Beispiel UV-Leuchtquelle 10 emittierte Strahlen- Object is not parallel to a horizontal reference plane, from which, for example, UV light source 10 emits radiation

3 3rd

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bündel. In diesem Fall spricht man von einer Fluoreszenz des Objekts. Diese Fluoreszenz ist in der Bildebene 4 für die Bedienungsperson sichtbar. bunch. In this case one speaks of a fluorescence of the object. This fluorescence is visible to the operator in image plane 4.

Infolge der Konstruktion des Ausführungsbeispiels kann der axiale Bildpunkt auf der Bildebene 4 und der axiale Objektpunkt in der Objektebene 0 bei geeigneter Einstellung der ersten Umlenkeinrichtung 5 im Strahlengang auch dann erzielt werden, wenn die Objektebene 0 nicht parallel zu einer horizontalen Bezugsebene liegt, welche, wie bereits erwähnt, die horizontale Tischplatte ist. In diesem Fall kann zum Beispiel an der ersten Umlenkeinrichtung 5 eine 60°- oder 90°- oder 120°-Reflexion des objektseitigen Strahlenbündels erfolgen. An der zweiten Umlenkeinrichtung 6 erfolgt meistens eine 90°-Refle-xion. As a result of the construction of the exemplary embodiment, the axial image point on the image plane 4 and the axial object point in the object plane 0 can also be achieved with a suitable setting of the first deflection device 5 in the beam path if the object plane 0 is not parallel to a horizontal reference plane which, how already mentioned, the horizontal table top is. In this case, for example, a 60 ° or 90 ° or 120 ° reflection of the object-side radiation beam can take place on the first deflection device 5. A 90 ° reflection usually takes place at the second deflection device 6.

Die Strahlenführung muss nicht so sein wie sie in der Zeichnung dargestellt ist. In diesem Fall kann die Bildebene 5 eine andere Position zum Planspiegel 6 einnehmen als in der Zeichnung dargestellt ist. Die Bildebene 4 kann z.B. unterhalb des Planspiegels vorgesehen werden. The beam path does not have to be as shown in the drawing. In this case, the image plane 5 can take a different position to the plane mirror 6 than is shown in the drawing. The image plane 4 can e.g. be provided below the plane level.

Wenn auch das Ausführungsbeispiel ein Vergrösserungsgerät mit einer optischen Achse zeigt, so kann die Erfindung ohne io weiteres auf ein Vergrösserungsgerät mit zwei optischen Achsen übertragen werden, wie es beim Stereomikroskop der Fall ist. Even if the exemplary embodiment shows a magnification device with an optical axis, the invention can easily be transferred to a magnification device with two optical axes, as is the case with the stereomicroscope.

C C.

1 Blatt Zeichnungen 1 sheet of drawings

Claims

615 280 2 PATENT REQUESTS which can be, for example, the processing table. The

1. Optical magnification device with a large working object level closes a stand with the horizontal reference plane, characterized in that an angle of, for example, 30 ° or 90 ° is included in the beam path of the device. This is provided for the at least means (5, 6) for beam deflection in such a way, is the case when a printed, electronic circuit that between the axial pixel and the axial object? is not parallel to the table surface. In this case a point succeeds in a transfer occurs. Examination of the object with the known microscopes

2. Optical magnification device according to claim 1, only by tilting the instrument from the vertical position, characterized in that two deflection devices (5, 6) which require special devices and are sometimes provided to extreme in the beam path of the device, each 90 ° - postures the operator or the observer cause reflections so that image-side and object-side m leads.

Beams are parallel to each other. The object of the invention is to overcome the disadvantages mentioned

3. Optical magnification device according to claim 1, eliminate and is characterized in that in the radiation-characterized in that means for beam deflection provided in a first deflecting device of the device (5) are a 120 ° reflection in the beam path of the device that a 90 ° reflection 15 object point occurs between the axial pixel and the axial on a second deflection device (6).

he follows. An usführungsbeispiel the invention is based on the

4. Optical magnification device according to claim 1, drawing explained.

characterized in that on a deflection device (5) the object rays, which emanate from the object plane 0 in the beam path of the device, give a 60 °, 90 ° or 120 ° reflection, are guided by the main objective 1 onto the first deflector. 2ii device 5 given. This deflection device can either

5. Optical magnification device according to claim 1, which is a partially transparent plane mirror or a corresponding, characterized in that means (2) for changing the prism. As will be described in more detail later, this enlargement can be provided in the beam path of the device. Deflection device 5 also a selective mirror or prism

6. Optical magnification device according to claim 1. In the drawing, the deflection device 5 is characterized as a plane pie, characterized in that at least one deflection device 25 is shown. The object beams are so partially transparent at this plane voltage (5, 6) that the object to be examined is coaxially reflected by means of an illuminating device (10) in the present exemplary embodiment and reaches the object via the magnification changer 2, which can be illuminated . - Lens 3 on the second deflection device 6, which also as

7. Optical magnification device according to claim 6, fully reflecting mirror or prism can be formed, characterized in that a polarizer (7) in illumination. In the drawing, this second deflection device is a planning beam path, an analyzer (8) in the image-side beam - Mirror shown. This plane mirror reflects in the present aisle and an X./4 plate (9) in the object-side beam path in the exemplary embodiment the rays are provided by 90 ° in the image plane, 4. This image plane 4, which receives the image-side bundle of rays from the mirror 6 either a tube or a projection screen. With the help of the magnification changer 2, three different magnifications can be set, for example