CH533292A - Procédé et dispositif de mesure de l'épaisseur d'un revêtement - Google Patents

Procédé et dispositif de mesure de l'épaisseur d'un revêtement

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CH533292A
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CH
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measuring
thickness
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CH1701370A
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Dedianne Guy
Fougea Denis
Salvi Antoine
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Commissariat Energie Atomique
Ct Scient Tech Batiment Cstb
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B7/00Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques
    • G01B7/02Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B7/06Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness
    • G01B7/10Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance
    • G01B7/105Measuring arrangements characterised by the use of electric or magnetic techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness using magnetic means, e.g. by measuring change of reluctance for measuring thickness of coating

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CH1701370A 1969-12-19 1970-11-17 Procédé et dispositif de mesure de l'épaisseur d'un revêtement CH533292A (fr)

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