CH445140A - Messeinrichtung für nach einer gleitenden Zeitspanne gebildete Integralwerte - Google Patents

Messeinrichtung für nach einer gleitenden Zeitspanne gebildete Integralwerte

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CH445140A
CH445140A CH221867A CH221867A CH445140A CH 445140 A CH445140 A CH 445140A CH 221867 A CH221867 A CH 221867A CH 221867 A CH221867 A CH 221867A CH 445140 A CH445140 A CH 445140A
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CH
Switzerland
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time
measuring device
integral values
values formed
sliding period
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Application number
CH221867A
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English (en)
Inventor
Schmidt Friedrich
Bilz Wilhelm
Original Assignee
Siemens Ag
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D1/00Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application
    • G01D1/04Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving integrated values
    • G01D1/06Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving integrated values by intermittent summation
    • G01D1/08Measuring arrangements giving results other than momentary value of variable, of general application giving integrated values by intermittent summation over fixed periods of time
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R11/00Electromechanical arrangements for measuring time integral of electric power or current, e.g. of consumption
    • G01R11/56Special tariff meters
    • G01R11/60Subtraction meters; Meters measuring maximum or minimum load hours

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