CH318890A - Imaging mirror system, in particular for X-rays - Google Patents

Imaging mirror system, in particular for X-rays

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CH318890A
CH318890A CH318890DA CH318890A CH 318890 A CH318890 A CH 318890A CH 318890D A CH318890D A CH 318890DA CH 318890 A CH318890 A CH 318890A
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CH
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mirror system
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rotation
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German (de)
Inventor
Wolter Hans Dr Prof
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Siemens Reiniger Werke Ag
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    • GPHYSICS
    • G21NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21KTECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K7/00Gamma- or X-ray microscopes

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Lenses (AREA)

Description

  

      Abbildendes    Spiegelsystem, insbesondere für Röntgenstrahlen    Der Bau eines     Röntgenstrahlmikroskops     scheiterte bisher im wesentlichen daran, dass  ein für Röntgenstrahlen     geeignetes    Abbil  dungssystem nicht existierte. Alle bekannten  Materialien brechen die     Röntgenstrahlen    nur  um sehr kleine Winkel;     dioptrische    Abbil  dungssysteme, die von     :dieser    Brechung Ge  brauch machen, scheinen     praktisch    ausge  schlossen zu sein.  



       Wesentlich        aussichtsreicher    erscheint von       vornherein    der Versuch, ein reines Spiegel  system für     Röntgenstrahlen    zu entwickeln,  denn in     Luft    oder Vakuum verlaufende Rönt  genstrahlen erleiden bei ihrem     Auffall        aiü     verschiedene Materialien (z. B. Gläser, Me  talle oder Salze) eine Totalreflexion.

   Aller  dings tritt diese nur bei fast     streifendem    Ein  fall ein, und die zur Verfügung stehenden       Einfallswinkel    unterscheiden sich dann bei  weichen     Röntgenstrahlen    nur     um    wenige Grad  und bei harten Röntgenstrahlen nur um Bo  genminuten von 90 .  



  Unter Ausnutzung dieser Totalreflexion  wurde     bereits    von anderer Seite ein abbilden  des Spiegelsystem gebaut, das aus zwei Hohl  spiegeln mit annähernd senkrecht aufeinan  der stehenden Achsen     bestand.    Doch ist die  Güte der Abbildung ausserordentlich schlecht;  Rechnungen über -die     optischen    Eigenschaften       des    Systems, z. B. über die Erfüllung der       Abbeschen        Sinusbedingung,    scheinen nicht  angestellt worden zu sein.

      Die vorliegende     Erfindung    betrifft ein ab  bildendes Spiegelsystem, insbesondere für       Röntgenstrahlen,        das    dadurch     gekennzeich-          net    ist, dass zwei oder mehr spiegelnde Rota  tionsflächen mit     gemeinsamer    Rotationsachse  auf     .dieser    Achse nacheinander angeordnet  sind und solche Krümmungen besitzen, dass  alle zur     Bildgebung    dienenden Strahlen  nahezu streifend auf die Rotationsflächen  einfallen und dabei jeweils von     einer    Rota  tionsfläche zur nachfolgenden     totalreflektiert     werden.

      Während     Spiegelsysteme    dieser Art im,  allgemeinen zufolge der geringen     Qualität     des     Bildes    nur zur     Fokussierung    von     Strahlen     verwendet werden können, kann ein zur Er  zeugung von brauchbaren     Abbildungen    ge  eigneten     Spiegelsystem    dadurch geschaffen  werden,     dass    die in ihm vorhandenen :

  Spiegel  die     Abbesche        Sinusbedingung    mit sehr guter       Näherung    .erfüllen.     Bei        Verwendung,        einer          einzelnen        spiegelnden    Rotationsfläche ist die  Erfüllung der     Abbeschen        Sinusbedingung    mit  der     Bedingung    streifenden Einfalles an sich  unvereinbar;

   bei     Zusammenwirken    von zwei  oder mehr spiegelnden Rotationsflächen     lässt     sich jedoch trotz streifenden Einfalles die       Abbesche        Sinusbedingung    mit sehr     guter     Näherung erfüllen.         Fig.    1 zeigt schematisch ein Ausführungs  beispiel des erfindungsgemässen Spiegel-      Systems.

   E ist ein Stück eines     R-otations-          ellipsoids    oder     eines        Rotationsparaboloids,-ir@it     H     ist    ein Stück eines     Rotationshyp.erboloids     bezeichnet,     Il    ist die     gemeinsame    Achse dieser       Rotationsflächen.    Beide Flächen sind so zu  einander angeordnet, dass der     Brennpunkt    F'  des     Rotationsellipsoids    bzw.

   des     Rotations-          paraboloids    E zugleich     rüekseitiger        Brenn-          punkt        des        Rotationshyperboloids    H ist. Die  von dem zweiten     Brennpunkt    F des     Rota-          tionshyperboloids    ausgehenden Strahlen wer  den zunächst am     Hyperboloid    und dann am       Ellipsoid    bzw.     Paraboloid    so reflektiert, dass  sie in en rechts liegenden     Brennpunkt    F"  des     Ellipsoids    zielen.

   Der Punkt F wird daher  in den Punkt F" abgebildet, falls es sich bei  der Rotationsfläche E     tun    ein     Paraboloid    han  delt,     liegt    der     BildpLulkt        E"'    im Unendlichen.  



       Jedes    kleine Flächenelement bei F,     das     senkrecht zur Achse orientiert ist,     wird    in ein       dazu.    ähnliches     Flächenelement    ebenfalls senk  recht zur Achse liegend bei F" abgebildet, so  fern :

  das     Hyperboloid    und das     Ellipsoid    eine  hinreichend     grosse    lineare Exzentrizität be  sitzen, da in diesem Falle die     Abbesche          Sinitsbedingung    mit     grosser    Näherung     erfäll-          bar    ist.

       Beispielsweise    kann bei einem     Ellip-          soid    zur Totalreflexion von Röntgenstrahlen       (Wellenlänge    bis 20     AE)        e        '-_    10b     sein,    wo  bei e die lineare     Exzentrizität        und    b     die     kleine     Halbachse_    des     Ellipsoids    ist, während  die grosse     Halbachse        m,    die mit e und b durch  die Beziehung e2 - a2 - b2 verknüpft ist, die  optische Achse darstellt.

      Vorteilhaft ist es, bei     Spiegelsystemen,    be  stehend aus zwei reflektierenden Rotations  flächen, deren Form so zu wählen, dass die  Bildfehler möglichst klein werden. Unter die  sen Systemen befinden sich auch streng     apla-          natische    Systeme.  



  Geht man von zwei Rotationsflächen zwei  ten     Grades    aus; wie sie in     Fig.    1 dargestellt  sind, so kann man die Bildfehler in einem       ringförmigen    Gebiet der Bildebene noch ver  ringern, indem man eine der beiden Flächen  etwas deformiert:

   Dabei werden     zwangläufig     die Bildfehler in unmittelbarer     Achsennä,he     etwas vergrössert; insbesondere wird auch der       Achsenpunkt    dann zu einem Zerstreuungs  kreise     auseinandergezogen.    Da- jedoch ohnehin  eine gewisse Unschärfe infolge der Beugung  unvermeidbar ist, führt die genannte     Verrin-          gerung    .der grösseren Bildfehler     unter    gleich  zeitiger     Vergrösserung    der kleinen     Bildfehler     zu einem     zweckmässigen    Ausgleich,

   bei dem in  einem verhältnismässig grossen Gesichtsfeld  alle Fehler erträglich     bleiben.     



  Noch vollkommenere Bilder werden durch  Deformation     @    beider Flächen erreicht. Man  kann dann auch streng     aplanatische    Spiegel  systeme streifender Reflexion     gewinnen,    die  sowohl die sphärische     Aberrationsfreiheit    auf  der Achse als auch die strenge     Erfüllung        der          Sinusbedingung    gewährleisten.

   In dem Falle       grossen        Bildabstandes    (im     Vergleich    zur  Brennweite) sind die     Meridiankurven    dieser  Spiegel I und     II        dann    im     kartasischen        Ko-          ordinatensystem    darstellbar in den     Parameter-          darstellungen:     
EMI0002.0095     
         Darin    ist a der Parameter;

   u1 ist die     Abszisse          '4s        (in        Richtung        der    optischen     Systemachse    ge-    messen) und     y,    die Ordinate für :die     Meri-          diankurve    des     Spiegels    I;     u2    und y2 haben      die entsprechende     Bedeutung    für den Spiegel       II.    D und g     sind    wählbare reelle oder kom  plexe     Konstanten;    f ist die Brennweite.

   In    einigen     Ausführungsbeispielen    hatten die  Grössen<I>f, D</I> und g folgende Werte:  
EMI0003.0006     
  
    1. <SEP> Beispiel: <SEP> f <SEP> = <SEP> 4014; <SEP> D <SEP> = <SEP> 13,8; <SEP> g <SEP> = <SEP> 1450
<tb>  z. <SEP> Beispiel: <SEP> <I>f <SEP> =</I> <SEP> 4014; <SEP> <I>D <SEP> = <SEP> 14;</I> <SEP> g <SEP> = <SEP> 1600.
<tb>  3. <SEP> Beispiel: <SEP> . <SEP> f <SEP> = <SEP> 1000; <SEP> D <SEP> = <SEP> 1; <SEP> g <SEP> = <SEP> 500 <SEP> # <SEP> e-i- <SEP> 998
<tb>  999
<tb>  4. <SEP> Beispiel: <SEP> <I>f</I> <SEP> = <SEP> 1000; <SEP> <I>D <SEP> =</I> <SEP> 10; <SEP> g <SEP> = <SEP> 500 <SEP> <I># <SEP> e-!-</I> <SEP> 980
<tb>  990
<tb>  5. <SEP> Beispiel: <SEP> f <SEP> = <SEP> 1000; <SEP> D <SEP> = <SEP> 100; <SEP> g <SEP> = <SEP> 10000 <SEP> # <SEP> e-i- <SEP> 800  900
<tb>  6. <SEP> Beispiel: <SEP> f <SEP> = <SEP> 1000;

   <SEP> D <SEP> = <SEP> 40; <SEP> g <SEP> = <SEP> 25 <SEP> 000 <SEP> . <SEP> e <SEP> 920
<tb>  960       Die streng     aplanatischen        Spiegelsysteme     ergeben besonders kleine Bildfehler in Achsen  nähe; ihre Flächen weichen von Flächen       zweiten        Grades    meist nur sehr wenig ab.  Durch günstige Wahl in der     Lage    der Objekt  ebene oder :der Bildebene lässt sich zwischen  den     Bildfehlern    am -Rande und in der Bild  mitte ein Ausgleich erzielen.  



  Gute     Bildqualität        kann    man auch durch       Verwendung    von drei oder besser vier Rota  tionsflächen erreichen, von denen in dem       Ausführungsbeispiel    .der     F,ig.    3 die beiden       innern    Flächen annähernd     Rotationshyper-          boloide    und die äussere     annähernd    ein     Rota-          tionselläpsoid    bzw. ein     Rotationsparaboloid     sind.

   Um mit einem solchen     Spiegelsystem        ein          Röntgenstrahlmikroskop    zu     verwirklichen,          kann    man bei. F das abzubildende Objekt an  ordnen; bei F" ist dann der Leuchtschirm  bzw. die Photoplatte oder der Film     aufzustel-          len.    Die Beleuchtung des Objektes wird dann       zweckmässig        .in    Anpassung an die Eigenschaf  ten des     abbildenden.    Spiegelsystems kegelför  mig gewählt. Das kann z.

   B. in der Weise       geschehen"da.ss    zwischen der     Röntgenstrahlen-          quelle    R und dem bei F liegenden Objekt ein  dem abbildenden Spiegelsystem im Prinzip  ähnlicher     Kondensor,    wie     Fig:    2     ihn        andeu-          tet,        Verwendung    findet.         ,Sieht    man keinen     Kondensor    vor, so eignet  sich mit     Vorteil    eine     Röntgenstrahlenquelle     nach Art der     Fig.    4.

   Es ist dort     eine    Elektro  nenquelle     in    Ringform;     vorzugswei;1se    ein  glühender Blechzylinder, der     gegebenenfalls     an der     Innenseite    eine Schicht hoher     Elektro-          nenemission    trägt;     a    ist die Antikathode. Die       Röntgenstrahlquelle    kann auch ohne     Katho-          denheizung    als     reine        Ionenröhre        ausgebildet     werden.  



  Röntgenstrahlung mit für das Spiegel  system geeigneter Wellenlänge lässt sieh auch  durch     Funkenentladungen    erzeugen. Strah  lung, die zur Abbildung nicht beiträgt, wird  zweckmässig in jedem Fall zur Verringerung  störender Streustrahlung abgeblendet.  



  Das     Spiegelsystem    kann natürlich bei Um  kehrung     des        Strahlenganges    .auch zur Herstel  lung     verkleinerter    Abbildungen verwendet       werden.    Statt für     Röntgenstrahlen    -ist das     be-          schriebene        ;Spiegelsystem    auch für Licht,       Schall,    Ultraschall und andere     Strahlenarten     anwendbar.

   Eine     Totalreflexion        dieser    Strah  len an dem     beschriebenen    Spiegelsystem ge  lingt, wenn     das    Innere des     Spiegelsystems    mit  einem Stoff ausgefüllt ist, der     optisch        dichter     ist als der Stoff, aus :dem das     Spiegelsystem     besteht.



      Imaging mirror system, in particular for X-rays The construction of an X-ray microscope has hitherto essentially failed because an imaging system suitable for X-rays did not exist. All known materials refract X-rays only by very small angles; Dioptric imaging systems that make use of this refraction seem to be practically excluded.



       From the outset, the attempt to develop a pure mirror system for X-rays appears to be much more promising, because X-rays traveling in air or vacuum suffer total reflection when they are incident on various materials (e.g. glasses, metals or salts).

   However, this only occurs when the incident is almost grazing, and the available angles of incidence then differ by only a few degrees for soft X-rays and only by arc minutes of 90 for hard X-rays.



  Taking advantage of this total reflection, a mapping of the mirror system has already been built from another side, which consisted of two hollow mirrors with approximately perpendicular axes. But the quality of the image is extremely poor; Calculations on the optical properties of the system, e.g. B. on the fulfillment of the Abbe sine condition, do not seem to have been employed.

      The present invention relates to an imaging mirror system, in particular for X-rays, which is characterized in that two or more reflective surfaces of rotation with a common axis of rotation are arranged one after the other on this axis and have such curvatures that all the rays used for imaging are almost grazing fall on the surfaces of revolution and are totally reflected from one surface of rotation to the next.

      While mirror systems of this type can generally only be used to focus rays due to the poor quality of the image, a mirror system suitable for generating useful images can be created by using the following:

  Mirrors fulfill the Abbe sine condition with a very good approximation. When using a single reflective surface of revolution, the fulfillment of Abbe's sine condition is in itself incompatible with the condition of grazing incidence;

   however, when two or more reflective surfaces of revolution work together, the Abbe's sine condition can be met with a very good approximation despite grazing incidence. Fig. 1 shows schematically an embodiment of the mirror system according to the invention.

   E is a piece of an ellipsoid of rotation or a paraboloid of rotation, -ir @ it H is a piece of a hyperboloid of rotation, II is the common axis of these surfaces of revolution. Both surfaces are arranged to each other that the focal point F 'of the ellipsoid of revolution or

   of the paraboloid of revolution E is at the same time the back focus of the hyperboloid of revolution H. The rays emanating from the second focal point F of the rotational hyperboloid are first reflected on the hyperboloid and then on the ellipsoid or paraboloid in such a way that they aim at the focal point F ″ on the right-hand side of the ellipsoid.

   The point F is therefore mapped into the point F "; if the surface of revolution E is a paraboloid, the image point E" 'is at infinity.



       Every small surface element at F that is oriented perpendicular to the axis becomes a. Similar surface element also shown perpendicular to the axis at F ", as far as:

  the hyperboloid and the ellipsoid have a sufficiently large linear eccentricity, since in this case the Abbe s sinus condition can be met with a large approximation.

       For example, in the case of an ellipsoid for total reflection of X-rays (wavelength up to 20 AU) e '--_ 10b, where e is the linear eccentricity and b is the small semiaxis_ of the ellipsoid, while the major semiaxis m, denoted by e and b is linked by the relationship e2 - a2 - b2, represents the optical axis.

      It is advantageous in mirror systems, be available from two reflective surfaces of rotation, to choose their shape so that the image errors are as small as possible. These systems also include strictly planning systems.



  Assuming two surfaces of revolution of the second degree; As shown in Fig. 1, the image errors in an annular area of the image plane can be reduced by deforming one of the two surfaces somewhat:

   The image errors in the immediate vicinity of the axis are inevitably enlarged somewhat; in particular, the axis point is then pulled apart to form a circle of confusion. However, since a certain blurring due to the diffraction is unavoidable anyway, the above-mentioned reduction of the larger image errors while at the same time enlarging the small image errors leads to an appropriate compensation.

   in which all errors remain tolerable in a relatively large field of vision.



  Even more perfect images are achieved by deformation @ of both surfaces. One can then also gain strictly aplanatic mirror systems of grazing reflection, which guarantee both the spherical freedom from aberrations on the axis and the strict fulfillment of the sine condition.

   In the case of a large image distance (compared to the focal length) the meridian curves of these mirrors I and II can then be represented in the Cartasian coordinate system in the parameter representations:
EMI0002.0095
         Where a is the parameter;

   u1 is the abscissa '4s (measured in the direction of the optical system axis) and y, the ordinate for: the meridian curve of the mirror I; u2 and y2 have the corresponding meaning for mirror II. D and g are selectable real or complex constants; f is the focal length.

   In some exemplary embodiments, the variables <I> f, D </I> and g had the following values:
EMI0003.0006
  
    1. <SEP> Example: <SEP> f <SEP> = <SEP> 4014; <SEP> D <SEP> = <SEP> 13.8; <SEP> g <SEP> = <SEP> 1450
<tb> e.g. <SEP> Example: <SEP> <I> f <SEP> = </I> <SEP> 4014; <SEP> <I> D <SEP> = <SEP> 14; </I> <SEP> g <SEP> = <SEP> 1600.
<tb> 3. <SEP> Example: <SEP>. <SEP> f <SEP> = <SEP> 1000; <SEP> D <SEP> = <SEP> 1; <SEP> g <SEP> = <SEP> 500 <SEP> # <SEP> e-i- <SEP> 998
<tb> 999
<tb> 4. <SEP> Example: <SEP> <I> f </I> <SEP> = <SEP> 1000; <SEP> <I> D <SEP> = </I> <SEP> 10; <SEP> g <SEP> = <SEP> 500 <SEP> <I> # <SEP> e -! - </I> <SEP> 980
<tb> 990
<tb> 5. <SEP> Example: <SEP> f <SEP> = <SEP> 1000; <SEP> D <SEP> = <SEP> 100; <SEP> g <SEP> = <SEP> 10000 <SEP> # <SEP> e-i- <SEP> 800 900
<tb> 6. <SEP> Example: <SEP> f <SEP> = <SEP> 1000;

   <SEP> D <SEP> = <SEP> 40; <SEP> g <SEP> = <SEP> 25 <SEP> 000 <SEP>. <SEP> e <SEP> 920
<tb> 960 The strictly aplanatic mirror systems result in particularly small image errors near the axis; their surfaces usually deviate very little from surfaces of the second degree. With a favorable choice in the position of the object plane or: the image plane, a balance can be achieved between the image errors at the edge and in the center of the image.



  Good image quality can also be achieved by using three or better four surfaces of rotation, of which in the exemplary embodiment .der F, ig. 3 the two inner surfaces are approximately rotational hyperboloids and the outer one approximately a rotational ellapoid or a rotational paraboloid.

   To implement an X-ray microscope with such a mirror system, one can use. F arrange the object to be imaged; The fluorescent screen or the photographic plate or the film is then to be set up at F ". The illumination of the object is then expediently selected to be conical, in adaptation to the properties of the imaging mirror system.

   For example, a condenser, similar in principle to the imaging mirror system, as indicated in FIG. 2, is used between the X-ray source R and the object located at F. If no condenser is provided, thus an X-ray source of the type shown in FIG. 4 is advantageously suitable.

   There is a ring-shaped electron source there; preferably a glowing sheet metal cylinder, which optionally has a layer of high electron emission on the inside; a is the anticathode. The X-ray source can also be designed as a pure ion tube without cathode heating.



  X-rays with a wavelength suitable for the mirror system can also be generated by spark discharges. Radiation that does not contribute to the image is expediently masked in each case to reduce disruptive scattered radiation.



  The mirror system can of course also be used to produce scaled-down images when reversing the beam path. Instead of X-rays, the mirror system described can also be used for light, sound, ultrasound and other types of radiation.

   A total reflection of these Strah len on the mirror system described succeeds if the interior of the mirror system is filled with a substance that is optically denser than the substance of which the mirror system is made.

 

Claims (1)

PATENTANSPRUCIa Abbildendes Spiegelsystem, insbesondere für Röntgenstrahlen, dadurch gekennzeieh- net, dass mindestens zwei spiegelnde Ro- tationsflächen mit gemeinsamer Rotations- a.cllse auf dieser Achse nacheinander ange ordnet sind und solche Krümmungen be sitzen, PATENT CLAIMS An imaging mirror system, in particular for X-rays, characterized in that at least two reflective surfaces of rotation with a common axis of rotation are arranged one after the other on this axis and have such curvatures, dass alle zur Bilderzeugung dienenden Strahlen nahezu streifend auf die Rotations flächen einfallen und dabei jeweils von einer Rotationsfläche zur nachfolgenden total re flektiert werden. UNTERANSPRÜCHE 1. Spiegelsystem nach Patentanspruch, ge kennzeichnet durch eine solche Ausbildung, dass die Abbesche Sinusbedingung praktisch erfüllt ist. 2. that all of the beams used to generate images fall almost grazing on the surfaces of rotation and are totally reflected from one surface of rotation to the next. SUBClaims 1. Mirror system according to patent claim, characterized by such a design that the Abbe sine condition is practically fulfilled. 2. Spiegelsystem nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass die Rotations-Elä- chen Flächen zweiten Grades sind. 3. Spiegelsystem nach Patentanspruch, da durch gekennzeichnet, dass zwei Rotationsflä chen mindestens ungefähr einen ausgezeich neten optischen Punkt gemeinsam haben. Mirror system according to patent claim, characterized in that the rotation surfaces are second-degree surfaces. 3. Mirror system according to claim, characterized in that two Rotationsflä surfaces have at least approximately one excellent optical point in common. 4. Spiegelsystem nach Unteranspruch 3 mit mehr als zwei Spiegeln, dadurch gekenn zeichnet, dass je zwei aufeinanderfolgende Ro tationsflächen mindestens ungefähr einen aus gezeichneten optischen Punkt gemeinsam haben. 5. 4. Mirror system according to dependent claim 3 with more than two mirrors, characterized in that two successive Ro tationsflächen have at least approximately one from drawn optical point in common. 5. Spiegelsystem nach den Unteransprü chen 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, dass. als Rotationsflächen ein Rotationsellipsoid in Verbindung mit einem Rotationshyperboloid vorhanden sind, wobei ein Brennpunkt des Ellipsoids praktisch mit dem rückseitigen Brennpunkt des Hyperboloids zusammenfällt. 6. Mirror system according to dependent claims 2 and 3, characterized in that an ellipsoid of revolution in connection with a hyperboloid of revolution is present as the surfaces of revolution, one focal point of the ellipsoid practically coinciding with the rear focal point of the hyperboloid. 6th Spiegelsystem nach den Unteransprü chen 2 und 3, dadurch gekennzeichnet,, dass als Rotationsflächen ein Rotationspa:raboloid in Verbindung mit einem Rotationshyperbo- loid vorhanden sind, wobei der im Endlichen liegende Brennpunkt des Paraboloids prak tisch mit dein rückseitigen Brennpunkt des Hyperboloids zusammenfällt. 7. Mirror system according to the dependent claims 2 and 3, characterized in that the rotational surfaces are a rotational paraboloid in connection with a rotational hyperboloid, the finite focal point of the paraboloid practically coinciding with the rearward focal point of the hyperboloid. 7th Spiegelsystem nach Unteranspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass diejenigen Br ennpunkte der Rotationsflächen, die nicht mit Brennpunkten anderer Flächen zusam menfallen, die Lage von Gegenstand und Bild bestimmen. B. Spiegelsystem nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Rotations flächen Flächen zweiter Ordnung sind, deren lineare Exzentrizität e #h, _ 10b ist, wobei b die kleine Halbachse bedeutet. 9. Mirror system according to dependent claim 3, characterized in that those focal points of the surfaces of revolution which do not coincide with focal points of other surfaces determine the position of the object and image. B. mirror system according to dependent claim 2, characterized in that the surfaces of rotation are surfaces of the second order, the linear eccentricity e #h, _ 10b, where b is the small semi-axis. 9. Spiegelsystem nach Unteranspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine Rotationsfläche derart deformiert ist, dass ein Ausgleich .der Bildfehler in unmittelbarer Achsennähe und am Rande des Bildfeldes erfolgt. Mirror system according to dependent claim 2, characterized in that at least one surface of rotation is deformed in such a way that the image errors are compensated for in the immediate vicinity of the axis and at the edge of the image field. 10. Spiegelsystem nach Unteranspri.ch 9, dadurch gekennzeichnet, dass zwei aufeinan- derfolgende Rottationsfläehen derart defor miert sind, dass, ein Ausgleich der Bildfehler in unmittelbarer Achsennähe und am Rande des Bildfeldes erfolg. 10. Mirror system according to Unteranspri.ch 9, characterized in that two successive rotations are deformed in such a way that the image errors are compensated for in the immediate vicinity of the axis and at the edge of the image field. 11. Spiegelsystem nach Patentanspruch, dadurch gekennzeichnet, dass es als bilderzeu gendes Objektiv eines R.öntgenstrahlenmikro- skops ausgebildet ist. 12. Spiegelsystem nach Patentanspnich, dadurch gekennzeichnet, dass es als Konden- sor für Röntgenstrahlen ausgebildet ist. 13. 11. Mirror system according to claim, characterized in that it is designed as an image generating lens of an X-ray microscope. 12. Mirror system according to patent claim, characterized in that it is designed as a condenser for X-rays. 13th Spiegelsystem nach Patentanspruch, gekennzeichnet durch eine Blende zur Aus- blendung, der nicht zur Bilderzeugung die nenden Strahlen. Mirror system according to patent claim, characterized by a diaphragm for masking out the rays that are not used for image generation.
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