Appareil de projection destiné au contrôle de pièces dont l'image est projetée sur l'écran.
L'objet de la présente invention est un appareil de projection destiné au contrôle de pièces dont l'image est projetée sur l'écran.
Pour un contrôle de ce genre, on peut mesurer les dimensions de l'image avec une règle de précision graduée et déduire de ces mesures, en tenant compte du grossissement de la projection, les dimensions réelles de la pièce. Ce procédé est un peu compliqué.
On emploie aussi souvent le procédé qui consiste à placer sur l'écran de projection un moyen de repérage, par exemple un dessin exact, convenablement agrandi, de l'objet et de vérifier la conformité de l'image avec le moyen de repérage. Les écarts de conformité sont alors mesurés en déplaçant l'objet par rapport à l'axe de la projection, avec un dispositif micrométrique, jusqu'à ce que son image vienne en coïncidence avec le moyen de repérage. Ce dernier procédé est celui qui est le plus fréquemment employé, mais il offre l'inconvénient que le dispositif micrométrique, agissant sur la position de l'objet par rapport à l'axe du systéme optique, doit fonctionner avec un degré de précision correspondant au fort grossissement normalement obtenu par la projection.
Ce degré de précision est de l'ordre du millième de millimètre, car on peut, avec une optique de qualité grossissant 100 fois, apprécier à 0,1 mm près la position d'un point de l'image sur l'écran. I1 est très- malaisé et coûteux de cons- truire un dispositif micrométrique exact à 0;001 mm sur un appareil de projection.
La présente invention élimine cet inconvénient par la présence d'au moins un dispositif micrométrique agissant sur la position d'un moyen de repérage, sur lequel l'image de la pièce contrôlée est projetée et servant à mesurer les écarts de dimension entre l'image de la pièce et le moyen de repérage.
L'on fait ainsi bénéficier la précision des mesures de la valeur du grossissement em ployé. En ex effet, si l'erreur du dispositif mi- crométrique agissant sur la position du moyen de repérage, et non plus sur la position de l'objet, est de 0,1 mm par exemple, lorsque l'on utilise un grossissement de 100 fois, une erreur de 0,1 mm dans l'appréciation de la dimension de l'image ne correspond qu'là une erreur de 0,001 mm dans l'appréciation de la dimension de la pièce contrôlée. On réalise donc ainsi un progrès technique notable par rapport aux dispositifs connus.
Le dessin annexé représente, à titre d'exemple, une forme d'exécution de l'objet de l'invention.
La fig. 1 en est une élévation en coupe.
Les fig. 2 et 3 en sont des vues de détail.
Dans l'exemple représenté schématiquement, 1 est l'écran translucide sur lequel le dispositif de repérage 2, constitué par une plaque transparente portant des repères appropriés, est fixé par un moyen quelconque
L'écran 1 est maintenu dans un cadre 3 mobilé dans une direction sur un coulisseau 4, sous l'action du dispositif micrométrique représenté schématiquement par une vis 5 munie d'une tête graduée 6 et maintenue par un palier 7 sur le coulisseau 4. Le filetage de la vis 5 est en prise avec le cadre 3.
Le coulisseau 4 est mobile dans une direction perpendiculaire à celle du déplacement du cadre 3 et se déplace sur le bâti 11 sous l'effet d'un deuxième dispositif micrométrique visible en fig. 2. Ce dispositif peut être constitué, comme le premier, par une vis micrométrique 8 s'engageant par son filetage dans le coulisseau 4, portée par un palier 9 solidaire du bâti et munie d'une tête graduée 10.
Les dispositifs micrométriques peuvent aussi être constitués, par exemple, par une réglette graduée avec vernier ou microscope de lecture, ou par un comparateur avec aiguille mobile sur un cadran.
Le guidage du cadre mobile 3 et celui du coulisseau 4 peuvent être obtenus par des moyens connus, tels que, par exemple, queue d'aronde, billes ou rouIeaux.
Le bâti 11 porte, comme d'habitude, un objectif 12, un montant vertical 13 contre lequel une table porte-objet 14 est mobile en hauteur ainsi qu'une source de lumière 15 équipée d'au moins un condensateur 16.
L'objet 17 est supporté par la table porteobjet 14 par l'intermédiaire d'un coulisseau 18 servant à amener l'objet approximativement en place par rapport à l'axe de projection.
Le moyen de repérage peut aussi être constitué soit par un dessin agrandi de la pièce, comme d'habitude, soit par un quadrillage 20 tracé avec précision sur l'écran et formant des carrés d'un centimètre de côté, par exemple. I1 suffira, dans ce cas, que les dispositifs micrométriques aient également une course de 1 cm, afin que, par l'usage combiné du quadrillage et des dispositifs micrométriques, on soit à même d'effectuer la mesure précise d'une dimension quelconque de la pièce dans les limites permises par celle de l'éeran.
REVENDICBTION:
Appareil de projeetion destiné au contrôle de pièces dont l'image est projetée sur l'écran, caractérisé par la présence d'au moins un dispositif micrométrique agissant sur la position d'un moyen de repérage, sur lequel l'image de la pièce contrôlée est projetée et servant à mesurer les écarts de dimension entre l'image de la pièce et le moyen de repérage.
Projection device intended for the control of parts whose image is projected on the screen.
The object of the present invention is a projection apparatus intended for the control of parts whose image is projected on the screen.
For a control of this kind, one can measure the dimensions of the image with a graduated precision ruler and deduce from these measurements, taking into account the magnification of the projection, the real dimensions of the part. This process is a bit complicated.
The method is also often used which consists in placing on the projection screen a marking means, for example an exact drawing, suitably enlarged, of the object and of checking the conformity of the image with the marking means. The deviations in conformity are then measured by moving the object relative to the axis of the projection, with a micrometric device, until its image coincides with the locating means. This last method is the one which is most frequently used, but it has the drawback that the micrometric device, acting on the position of the object with respect to the axis of the optical system, must operate with a degree of precision corresponding to the high magnification normally obtained by projection.
This degree of precision is of the order of a thousandth of a millimeter, because it is possible, with quality optics magnifying 100 times, to assess the position of a point of the image on the screen to within 0.1 mm. It is very difficult and expensive to construct a micrometric device exact to 0.001 mm on a projection apparatus.
The present invention eliminates this drawback by the presence of at least one micrometric device acting on the position of a registration means, on which the image of the checked part is projected and serving to measure the dimensional differences between the image. of the part and the locating means.
The precision of the measurements is thus made to benefit from the value of the magnification employed. For example, if the error of the micrometric device acting on the position of the locating means, and no longer on the position of the object, is 0.1 mm for example, when using a magnification of 100 times, an error of 0.1 mm in the judgment of the dimension of the image corresponds only to an error of 0.001 mm in the judgment of the dimension of the checked part. A significant technical progress is thus achieved in relation to known devices.
The appended drawing represents, by way of example, an embodiment of the object of the invention.
Fig. 1 is an elevation in section.
Figs. 2 and 3 are detail views.
In the example shown schematically, 1 is the translucent screen on which the marking device 2, consisting of a transparent plate bearing appropriate markings, is fixed by any means.
The screen 1 is held in a frame 3 moved in one direction on a slide 4, under the action of the micrometric device shown schematically by a screw 5 provided with a graduated head 6 and held by a bearing 7 on the slide 4. The thread of the screw 5 engages the frame 3.
The slide 4 is movable in a direction perpendicular to that of the displacement of the frame 3 and moves on the frame 11 under the effect of a second micrometric device visible in FIG. 2. This device can be constituted, like the first, by a micrometric screw 8 engaging by its thread in the slide 4, carried by a bearing 9 integral with the frame and provided with a graduated head 10.
The micrometric devices can also be constituted, for example, by a graduated ruler with vernier or reading microscope, or by a comparator with a moving needle on a dial.
The guiding of the movable frame 3 and that of the slide 4 can be obtained by known means, such as, for example, dovetail, balls or rollers.
The frame 11 carries, as usual, an objective 12, a vertical upright 13 against which an object-carrying table 14 is movable in height as well as a light source 15 equipped with at least one capacitor 16.
The object 17 is supported by the object-holder table 14 by means of a slide 18 serving to bring the object approximately into place with respect to the projection axis.
The marking means can also be constituted either by an enlarged drawing of the part, as usual, or by a grid 20 drawn with precision on the screen and forming squares of one centimeter side, for example. In this case, it will suffice that the micrometric devices also have a stroke of 1 cm, so that, by the combined use of the grid and the micrometric devices, it is possible to perform the precise measurement of any dimension of the piece within the limits allowed by that of the éeran.
CLAIM:
Projection device intended for the control of parts whose image is projected on the screen, characterized by the presence of at least one micrometric device acting on the position of a marking means, on which the image of the controlled part is projected and used to measure the dimensional differences between the image of the part and the registration means.