BRPI0917820B1

BRPI0917820B1 - Método e sistema para aumentar a sensibilidade em medição de magnitude e direção de resistividade

Info

Publication number: BRPI0917820B1
Application number: BRPI0917820-1A
Authority: BR
Inventors: Wallace H. Meyer
Original assignee: Baker Hughes Incorporated
Priority date: 2008-08-20
Filing date: 2009-08-18
Publication date: 2019-08-20
Also published as: BRPI0917820A2; US20100049442A1; WO2010022014A3; US8756015B2; GB2476180B; GB201102042D0; NO20110278A1; WO2010022014A2; GB2476180A; NO343673B1

Abstract

processamento de dados de resistividade azimultal em um gradiente de resistivade. a presente invenção refere-se a um método para aumentar a sensibilidade em uma medição de pelo menos uma de magnitude e direçãode resistividade em um material de subsuperfície, o método incluindo efetuar um primeiro conjunto de medições de resistividade do material de subsuperfície utilizando a resposta de um primeiro instrumento de perfilagem; construir um modelo de um sinal de fundo, utilizando o primeiro conjunto de medi ções, calcular uma resposta predita de um segundo instrumento de perfilagem para o modelo do sinal de fundo; efetuar um segundo conjunto de medições de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade do material de subsuperfície utilizando o segundo instrumento de perfilagem; derivar uma resposta do segundo instrumento de perfilagem do segundo conjunto 15 de medições, e subtrair a resposta predita da resposta do segundo instrumento de perfilagem para produzir uma imagem corrigida que tem maior sensibilidade que a resposta do segundo instrumento de perfilagem.

Description

Relatório Descritivo da Patente de Invenção para MÉTODO E SISTEMA PARA AUMENTAR A SENSIBILIDADE EM MEDIÇÃO DE MAGNITUDE E DIREÇÃO DE RESISTIVIDADE.

Campo da Invenção

A presente invenção refere-se à análise de formações subterrâneas do solo e, mais especificamente, da determinação de resistividade de uma formação.

Descrição da Técnica Anterior

A exploração e a produção de hidrocarbonetos requerem medições precisas de formações geológicas. Muitas das medições são efetuadas a partir de um furo de sondagem penetrando o solo. As medições de uma formação específica prestam dados aos geofísicos para construir um modelo da formação. O modelo, por sua vez, habilita um engenheiro de perfuração a perfurar precisamente outro furo de sondagem próximo, para exploração ou produção. Por exemplo, o modelo juntamente com tecnologia para direcionar uma broca de perfuração (isto é, do inglês geosteeríng, que significa perfuração orientada pelos ângulos de inclinação e azimute) permite ao engenheiro de perfuração a navegar exatamente através das formações evitando pontos problemáticos para atingir uma locação ideal em uma formação visada.

Devido à existência de muitos tipos de formações e de materiais de subsuperfície, a distinção entre os diferentes tipos pode ser desafiadora. Assim, para evitar desperdiçar recursos de perfuração, as medições devem de ser exatas.

A tomada destas medições em um furo de sondagem é geralmente designada de perfilagem de poço. Um tipo de perfilagem de poço envolve a medição da resistividade de uma formação. A resistividade então pode ser relacionada com a composição da formação. Um instrumento de perfilagem de resistividade pode medir a resistividade ao introduzir uma corrente através da formação usando eletrodos. Outro tipo de instrumento de perfilagem, um instrumento de perfilagem de indução, mede a resistividade pela indução de circuitos de corrente alternada na formação. O instrumento

2/12 de indução então mede a corrente induzida em uma bobina receptora causada por um campo magnético alternado resultante a partir de circuitos de corrente.

Devido ao instrumento de perfilagem por indução geralmente ter uma maior profundidade de investigação, o instrumento de perfilagem por indução usualmente constitui uma escolha primária nos ambientes onde existe contraste de resistividade suficiente entre uma zona de interesse e uma zona adjacente. Um instrumento de perfilagem por indução pode ser um instrumento de resistividade por propagação normal ou um instrumento de resistividade azimutal. O instrumento de resistividade por propagação normal tem simetria azimutal (isto é, não mede a direção associada com uma medição de resistividade.). O instrumento de resistividade azimutal mede uma direção associada com uma medição de resistividade. De maneira geral, o instrumento de propagação normal tem uma maior distância de medição a partir do furo de sondagem que o instrumento de resistividade azimutal Infelizmente, a medição efetuada pelo instrumento de resistividade azimutal pode incluir um sinal de fundamento constante resultante de um gradiente de resistividade. O sinal de fundo pode ser tanto quanto dez vezes ou maior que um piso de ruído normal do instrumento. O sinal de fundo pode limitar a distância do furo de sondagem à qual o instrumento de resistividade azimutal pode medir a resistividade. Além disso, o sinal de fundo pode diminuir a exatidão da direção medida com respeito à medição de resistividade;

Por conseguinte, fazem-se necessárias técnicas para aumentar a sensibilidade das medições efetuadas por um instrumento de perfilagem por indução disposto em um furo de sondagem. De preferência, as técnicas podem ser aplicadas a um instrumento de resistividade azimutal para aumentar uma profundidade de medição e aumentar a precisão de medição direcional.

Breve Sumário da Invenção

É apresentado um método para aumentar a sensibilidade em uma medição de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade

3/12 em um material de subsuperfície, o método incluindo efetuar um primeiro conjunto de medições de resistividade do material de subsuperfície usando o segundo instrumento de perfilagem, derivar uma segunda resposta de instrumento de perfilagem do segundo conjunto de medições, e subtrair a resposta prevista da resposta do segundo instrumento de perfilagem para produzir uma resposta corrigida que tem maior sensibilidade que a resposta do segundo instrumento de perfilagem.

É também apresentado um sistema para aumentar a sensibilidade de pelo menos de magnitude e direção de resistividade em um material de subsuperfície, o sistema tendo um primeiro instrumento de perfilagem para efetuar um primeiro conjunto de medições de resistividade do material de subsuperfície, um segundo instrumento de perfilagem para efetuar um segundo conjunto de medições de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade do material de subsuperfície, e um sistema de processamento para receber o primeiro conjunto de medições e o segundo conjunto de medições, no qual o sistema de processamento constrói um modelo de um sinal de fundo usando o primeiro conjunto de medições; calcula uma resposta prevista do segundo instrumento de perfilagem para o modelo de sinal de fundo, deriva uma segunda resposta de instrumento de perfilagem do segundo conjunto de medições e subtrai a resposta prevista da resposta do segundo instrumento de perfilagem para produzir uma resposta corrigida que tem maior sensibilidade que a resposta do segundo instrumento de perfilagem.

É adicionalmente apresentado um produto de programa de computador armazenado em um meio legível por máquina para aumentar a sensibilidade em uma medição de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade em um material de subsuperfície o produto tendo instruções executáveis à máquina para construir um modelo de um sinal de fundo usando um primeiro conjunto de medições de resistividade do material de subsuperfície, o primeiro conjunto de medições efetuado por um primeiro instrumento de perfilagem; calcular uma resposta predita de um segundo instrumento de perfilagem; para o modelo do sinal de fundo derivar uma res

4/12 posta de segundo instrumento de perfilagem de um segundo conjunto de medições de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade do material de subsuperfície de um segundo conjunto de medições de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade do material de subsuperfície, o segundo conjunto de medições efetuado por um segundo instrumento de perfilagem e subtrair a resposta predita da resposta do segundo instrumento de perfilagem para produzir uma resposta corrigida que tem maior sensibilidade que a resposta do segundo instrumento de perfilagem.

Breve Descrição dos Desenhos

A matéria objeto que é considerada como a invenção é particularmente destacada e distintamente reivindicada nas reivindicações na conclusão do relatório descritivo. Os precedentes e demais aspectos característicos e vantagens da invenção se evidenciam da descrição detalhada que se segue tomada em conjunção com os desenhos apensos, de acordo com os quais:

figura 1 mostra uma modalidade típica de um primeiro instrumento de perfilagem disposto em um furo de sondagem;

figura 2 mostra uma modalidade típica de um segundo instrumento de perfilagem disposto em outro furo de sondagem;

as figuras 3A e 3B coletivamente designadas de figura 3, ilustram uma modalidade típica de uma resposta de um instrumento de perfilagem por indução; e figura 4 apresenta um exemplo de um método para aumentar a sensibilidade em uma medição de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade em um material de subsuperfície.

Descrição Detalhada da Invenção

Modalidades de técnicas para aumentar a sensibilidade de uma medição efetuada por um instrumento de perfilagem por indução disposto em um furo de sondagem. Uma resposta do instrumento de perfilagem por indução disposto em um furo de sondagem pode ser imposta com um sinal de fundo devido a um gradiente de resistividade. A sensibilidade do instrumento de perfilagem por indução, por conseguinte, é limitada pela magnitude

5/12 do sinal de fundo. As técnicas, que incluem método e aparelho requerem a remoção do sinal de fundo da resposta para aumentar a sensibilidade da medição. Um aumento em sensibilidade da dimensão pode resultar em um aumento na distância da medição do furo de sondagem e/ou um aumento na exatidão de uma medição direcional de resistividade.

As técnicas requerem um primeiro instrumento de perfilagem para obter um primeiro conjunto de medições de resistividade de uma formação. Uma resposta derivada do primeiro conjunto de medições de resistividade é então utilizada para predizer uma resposta de um primeiro instrumento de perfilagem registrando a resistividade da mesma formação. Por sua vez, o segundo instrumento de perfilagem registrando a resistividade da mesma formação obtém um segundo conjunto de medições de resistividade da mesma formação. Uma resposta derivada do segundo conjunto de medições de resistividade é então corrigida utilizando a resposta prevista para remover o sinal de fundo; De maneira geral, a correção é efetuada pelo tomar a diferença entre a resposta prevista e a resposta derivada do segundo conjunto de medições de resistividade. A resposta corrigida, também designada de uma resposta residual, tem maior sensibilidade a uma medição de resistividade a uma medição de resistividade (isto é, magnitude de resistividade e/ou direção de medição) que a resposta prevista, a resposta a partir do primeiro instrumento de perfilagem, ou a resposta a partir do segundo instrumento de perfilagem.

Por conveniência, determinadas definições são fornecidas. O termo resposta refere-se a uma curva derivada de um conjunto de medições. O termo gradiente de resistividade refere-se a uma alteração em resistividade de uma formação geológica. O termo modelo refere-se a uma representação de uma formação; a representação pode incluir diferentes tipos de parâmetros tais como resistividade e dimensões.

Na figura 1, uma modalidade típica de um primeiro instrumento de perfilagem 10 é mostrada disposta em um furo de sondagem 2. O primeiro instrumento de perfilagem 10 tem um eixo geométrico longitudinal 5. O furo de sondagem 2 é perfurado através do solo 3 e penetra uma formação

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4; O primeiro instrumento de perfilagem 10 é afixado a uma coluna de perfuração 17 que inclui tubos de perfuração 18. A coluna de perfuração 17 também inclui um trépano 19. Na modalidade da figura 1, o instrumento de perfilagem 10 efetua medições durante as operações de perfuração, designadas de perfilagem durante a perfuração (LWD). Adicionalmente, na modalidade da figura 1, o primeiro instrumento de perfilagem 10 é adaptado para efetuar perfilagem por indução para medir a resistividade na formação 4.

Referindo-se à figura 1, o primeiro instrumento de perfilagem 10 inclui um transmissor 11 para criar um campo magnético alternado 13 na formação 4 a uma determinada frequência f 1; O campo magnético alternado 13 cria circuitos em anel de corrente alternada 14 na formação 4; Os circuitos em anel de corrente alternada 14 por sua vez podem criar outro campo magnético alternado 15 no furo de sondagem 2; Por sua vez, o campo magnético alternado 25 pode induzir uma corrente em uma bobina receptora localizada no instrumento de perfilagem 10 no furo de sondagem 2; Referindose mais uma vez à figura 1, o primeiro instrumento de perfilagem 10 também inclui pelo menos duas bobinas receptoras (ou antenas) 12 que são adaptadas para ter corrente induzida pelo campo magnético alternado 15. A magnitude da diferença em correntes induzidas nas bobinas receptoras 12 e/ou defasagem entre as correntes pode ser relacionada com a resistividade da formação 4;

Referindo-se à figura 1, o primeiro instrumento de perfilagem 10 inclui uma unidade eletrônica 6; A unidade eletrônica 6 é adaptada para operar o instrumento 10. Em uma modalidade, a unidade eletrônica 6 recebe medições de resistividade 16 das bobinas receptoras 12. As medições de resistividade 16 podem ser quer armazenadas na unidade eletrônica 6 para posterior recuperação ou transmitidas em tempo real para uma unidade processadora 7 na superfície do solo 3. De maneira a transmitir as medições de resistividade 16 para a unidade processadora 7 em tempo real, os tubos de perfuração 18 podem incluir um cabo de banda larga e componentes em uma configuração designada de ‘tubo elétrico.

De maneira geral, o plano de cada uma das bobinas receptoras

7/12 está em um plano perpendicular ao eixo geométrico longitudinal 5. Modalidades do primeiro instrumento de perfilagem 10 podem incluir mais que duas bobinas receptoras 12 a vários espaçamentos do transmissor 11 ao longo do comprimento do instrumento 10. Além disso, o transmissor 11 pode ser adaptado para operar a varias frequências. Pelo selecionar uma combinação de espaçamentos e frequências, a profundidade da investigação no interior da formação 4 pode ser selecionada. O primeiro instrumento de perfilagem 10 com várias das bobinas receptoras 12 a vários espaçamentos e com bobinas receptoras 12 em um plano perpendicular ao eixo geométrico longitudinal 5 pode ser designado de um instrumento de resistividade de propagação de múltiplos espaçamentos (MPR) (ou de instrumento MPR 10).

A figura 2 mostra uma modalidade típica de um segundo instrumento de perfilagem 20 disposto no furo de sondagem 2. Referindo-se à figura 2, o segundo instrumento de perfilagem 20 inclui um transmissor 21 e pelo menos duas bobinas receptoras transversais 24. O segundo instrumento de perfilagem 20 também inclui um eixo geométrico longitudinal 25. As bobinas receptoras transversais 24 situam-se em um plano paralelo ao eixo geométrico longitudinal 25. As bobinas receptoras transversais 24 habilitam o segundo instrumento 20 a correlacionar uma medição de resistividade com uma direção. Como com o primeiro instrumento de perfilagem. Como com o primeiro instrumento de perfilagem 10, o segundo instrumento de perfilagem 20 pode ter vários espaçamentos das bobinas receptoras transversais 24 do transmissor 21 e podem transmitir energia de várias frequências f2. O segundo instrumento de perfilagem 20 com várias das bobinas receptoras transversais a vários espaçamento pode ser designado de um instrumento de resistividade de propagação azimutal (APR) (ou o instrumento APR 20).

Referindo-se à figura 2, o segundo instrumento de perfilagem 20 também inclui uma unidade eletrônica 26. A unidade eletrônica 26 é adaptada para operar o instrumento 20.

Em uma modalidade, a unidade eletrônica 26 recebe medições de resistividade 27 das bobinas receptoras 24. De maneira similar à unidade eletrônica 26 pode armazenar as medições de resistividade 27 para posterior

8/12 recuperação ou transmitir as medições de resistividade 27 em tempo real para a unidade de processamento 7 utilizando o tubo munido de condutor munido de cabo condutor.

Quando o primeiro instrumento de perfilagem 10 e o segundo instrumento de perfilagem 20 realizam medições fazendo uso do mesmo furo de sondagem (isto é, o furo de sondagem 2) os instrumentos de perfilagem 10 e 20 podem ser conjuntamente acoplados na forma de um instrumento de perfilagem integrado). Alternativamente, o primeiro instrumento de perfilagem 10 pode realizar medições durante a realização da perfuração do furo de sondagem 2 e após ser removido do furo de sondagem 2.

Subsequentemente o segundo instrumento de perfilagem 20 pode efetuar medições durante a sua travessia do furo de sondagem 2. Em ainda outra alternativa, o segundo instrumento de perfilagem 20 pode ser disposto em um furo de sondagem separado. O furo de sondagem separado está geralmente próximo do furo sondagem 2 de tal maneira que o furo de sondagem separado quer penetra na mesma formação 4 que o furo de sondagem 2 quer está bastante próximo da formação 4 para realizar medições sobre a formação 4;

Em modalidades típicas, o furo de sondagem 2 inclui materiais tais como seriam encontrados na exploração de petróleo, inclusive uma mistura de líquidos tal como água, fluido de perfuração, lama, petróleo e fluidos de formação que são indigenos às várias formações. Será reconhecido que os vários aspectos característicos conforme podem ser encontrados em um ambiente subsuperfície podem ser designados de formações. Por conseguinte, deve ser considerado que embora o termo formação geralmente se reporte a formações geológicas de interesse, que o termo formação conforme usado aqui pode, em algumas instâncias, incluir quaisquer pontos geológicos de interesse (tal como uma área de prospecção). O termo material de subsuperfície é usado para reconhecer que os instrumentos de perfilagem 10 e 20 podem ser usados para medir uma propriedade da formação 4 ou outro material que não integra a formação 4.

A figura 3 mostra uma modalidade típica de uma resposta 30 de

9/12 pelo menos um de instrumento MPR 20 e do instrumento APR 20 resultante de um gradiente de resistividade próximo. Referindo-se à figura 3A, a resposta 30 inclui um piso de ruído 31 quando resistividade aproximadamente zero está sendo medida e uma resposta medida 32 correspondente à máxima resistividade do gradiente medido. A resposta medida 32 geralmente inclui o piso de ruído 31. Em uma modalidade, o piso de ruído 31 corresponde a cerca de 10 nano Volts e a resposta medida 32 corresponde a cerca de 100 nano Volts. Referindo-se à figura 3A, um gradiente de resistividade 33 é representado resultante da medição de uma subsuperfície com uma alta resistividade e a seguir medindo um material de subsuperfície com uma baixa resistividade (alta condutividade). A parte do gradiente de resistividade 33 correspondente à resposta medida 31 pode ser designada de sinal de fundo

32. Pelo remover o sinal de fundo 32 da resposta 30 do instrumento APR 20, o instrumento APR 20 pode ter sensibilidade aumentada ao medir a magnitude e/ou direção de resistividade em outro volume de investigação no material de subsuperfície.

Referindo-se à figura 3B, uma resposta corrigida 35 é mostrada resultante do subtrair o sinal de fundo 32 da resposta 30. A resposta corrigida 35 na figura 3B inclui somente o piso do ruído 31. Assim, sem o sinal de fundo 32, a resposta corrigida 35 é mais sensível à medição de outro gradiente de resistividade 33. Em algumas modalidades, a resposta corrigida 35 pode incluir uma medição de direção para outro gradiente de resistividade

33.

A figura 4 apresenta um exemplo de um método 40 para aumentar a sensibilidade de uma medição de resistividade e/ou direção de medição sobre um material de subsuperfície usando o segundo instrumento de perfilagem 20. O método 40 requer (etapa 41) a realização de um primeiro conjunto de medições de resistividade sobre o material de subsuperfície usando o instrumento MPR 10. De maneira geral, o espaçamento dos transmissores 11 e a frequência f1 são selecionados de forma que a profundidade de investigação no material de subsuperfície (medida a partir do furo de sondagem para o volume de investigação no material de subsuperfície) seja apro

10/12 ximadamente a mesma que a profundidade de investigação usando o instrumento APR 20. Por exemplo, devido à profundidade de investigação o instrumento APR 20 ser geralmente menor que a profundidade de investigação do MPR 10, a profundidade de investigação usando o MPR 10 pode ser uma medição rasa de diferença de fase usando uma frequência de dois MHz (isto é, f1 = 2 MHz) e receptores bastante espaçados 12. Além disso, o método 40 requer (etapa 42) construindo um modelo sinal de fundo 32 usando o primeiro conjunto de medições. Adicionalmente, o método 40 requer (etapa 43) calcular uma resposta predita do instrumento APR 20 para o modelo do sinal de fundo 32

Referindo-se à figura 4, o método 40 requer (a etapa 44) efetuando um segundo conjunto de medições de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade usando o instrumento APR 20. Além disso, o método 40 requer (etapa 45) derivar a resposta 30 do segundo conjunto de medições.Adicionalmente, o método 40 requer (etapa 46) subtrair a resposta predita da resposta 30 para produzir uma resposta corrigida que pode medir pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade com maior sensibilidade que a resposta do segundo instrumento de perfilagem 20.

O método 40 pode também incluir adicional processamento do primeiro e do segundo conjuntos de medições e da resposta corrigida. O processamento adicional pode incluir nivelar as medições para formar uma curva suave, formando uma imagem do material de subsuperfície que inclui a resistividade e/ou a direção de informações de medição ou adicionar dimensões às respostas ou imagens.

Embora as modalidades das técnicas expostas acima tenham sido apresentadas para aplicações LWD, as técnicas são também aplicáveis a aplicações de perfilagem de cabos metálicos.

Em apoio dos ensinamentos aqui prestados, vários componentes de análise podem ser usados, inclusive sistemas digitais ou analógicos. Por exemplo, os sistemas digitais ou analógicos podem ser usados na unidade de processamento 7, na unidade eletrônica 6 ou na unidade eletrônica 26; O sistema pode ter componentes tais um processador, meios de arma

11/12 zenamento, memórias, entradas, saídas, linhas de baixa impedância (links), enlaces de comunicação (por fios, sem-fio, lama pulsada, sistemas ópticos ou outros, interfaces de usuário, programas de software, processadores de sinais (digitais ou analógicos) e outros ditos componentes tais como resistores, capacitores, indutores e outros) para assegurar a operação e análise dos aparelhos e métodos aqui apresentados em qualquer uma de várias maneiras bem apreciadas na técnica.

Considera-se que estes ensinamentos podem ser, porém, não necessitam ser implementados em conjunção com um conjunto de instruções executáveis por computador armazenadas sobre um suporte legível por computador, inclusive memória (ROMs), ópticos (CD-ROMs), elementos ópticos (CD-ROMs), ou discos magnéticos (discos, acionado por meios rígidos) ou qualquer outro tipo que quando executado causa um computador a implementar o método da presente invenção. Estas instruções podem assegurar a operação do computador, controlar a coleta e análise dos dados e outras funções consideradas pertinentes por um projetista de sistema, titular, usuário ou outro dito pessoal, além das funções descritas na presente exposição.

Além disso, vários outros componentes podem ser incluídos e solicitados para assegurar os aspectos dos presentes ensinamentos. Por exemplo, uma fonte de alimentação de energia (e.g., pelo menos um de um gerador, fonte de alimentação remota e uma bateria), fonte de fornecimento de vácuo, fonte de alimentação de pressão, unidade de resfriamento, unidade de aquecimento, magneto, eletromagneto, eletrodo, transmissor, receptor, transceptor, antena, controlador, unidade óptica, unidade elétrica ou unidade eletromecânica podem ser incluídos em apoio dos vários aspectos aqui expostos ou em suporte de outras funções que se estendem além da presente invenção.

Elementos das modalidades foram introduzidos com os artigos um ou uma. Os artigos são propostos para significar que existe um ou mais dos elementos. Os termos incluindo e tendo são propostos para serem inclusive tais que podem existir outros elementos adicionais além dos

12/12 elementos apresentados. A conjunção ou quando usada com uma lista de pelo menos dois termos é proposta para significar qualquer termo ou combinação de termos. Os termos primeiro e segundo são usados para distinguir elementos e não são usados para denotar uma ordem particular.

Será reconhecido que os vários componentes ou tecnologias podem proporcionar certas funcionalidades ou características benéficas ou necessárias. Por conseguinte, estas funções e características conforme podem ser necessitadas em apoio das reivindicações apensas e suas variações são reconhecidas como sendo inerentemente incluídas como uma parte dos presentes ensinamentos e uma parte integrante da invenção descrita.

Embora a invenção tenha sido descrita com referência a modalidade típicas, será entendido que diversas variações podem ser introduzidas e equivalentes podem ser substituídos pelos seus elementos sem se afastar do âmbito da invenção. Além disso, muitas modificações serão apreciadas para adaptar um instrumento específico, situação ou material aos ensinamentos da invenção sem se afastar do seu âmbito essencial. Por conseguinte, é proposto que a invenção não seja limitada às modalidades típicas expostas como a modalidade ideal contemplada para a realização da invenção, porém que a invenção abrangerá todas as modalidades que se enquadrem dentro do âmbito das reivindicações apensas.

Claims

REIVINDICAÇÕES

1. Método para aumentar a sensibilidade em uma medição de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade em um material de subsuperfície (4), o método caracterizado pelo fato de que compreende as etapas:

(a) efetuar um primeiro conjunto de medições (16) de resistividade em um material (4) de subsuperfície, utilizando um primeiro instrumento de perfilagem (10);

(b) construir um modelo de um sinal de fundo derivado de um gradiente de resistividade no material de subsuperfície (4) usando o primeiro conjunto de medições (16);

(c) calcular uma resposta predita de um segundo instrumento de perfilagem (20) para o modelo do sinal de fundo;

(d) efetuar um segundo conjunto de medições (27) de pelo menos um dentre magnitude e direção de resistividade do material de subsuperfície (4) utilizando o segundo instrumento de perfilagem (20);

(e) derivar uma resposta de um segundo instrumento de perfilagem do segundo conjunto de medições (27); e (f) subtrair a resposta predita da resposta do segundo instrumento de perfilagem para produzir uma resposta corrigida que tem maior sensibilidade que a resposta do segundo instrumento de perfilagem.
2. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que compreende adicionalmente dispor o primeiro instrumento de perfilagem (10) e o segundo instrumento de perfilagem (20) no mesmo furo de sondagem (2).
3. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de que ainda compreende dispor o primeiro instrumento de perfilagem (10) no interior de um primeiro furo de sondagem (2) e dispor o segundo instrumento de perfilagem (20) no interior de um segundo furo de sondagem, no qual o primeiro furo de sondagem e o segundo furo de sondagem penetram o material de subsuperfície (4).

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4. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de ainda compreender receber primeira energia com duas primeiras bobinas receptoras (12) associadas com o primeiro instrumento de perfilagem (10), em que um plano de cada primeira bobina receptora (12) é substancialmente perpendicular a um eixo geométrico longitudinal (5) do primeiro instrumento de perfilagem (10), a primeira energia usada na realização do primeiro conjunto de medições.
5. Método de acordo com a reivindicação 4, caracterizado pelo fato do primeiro conjunto de medições de resistividade utilizar pelo menos uma de uma diferença em magnitude e uma diferença em fase entre a primeira energia recebida pelas duas primeiras bobinas receptoras (12).
6. Método de acordo com a reivindicação 4, caracterizado pelo fato de ainda compreender selecionar uma distância das primeiras bobinas receptoras (12) para um primeiro transmissor (11) no primeiro instrumento de perfilagem (10);
7. Método de acordo com a reivindicação 4, caracterizado pelo fato de ainda compreender selecionar uma frequência para transmitir energia a partir do primeiro transmissor (11).
8. Método de acordo com a reivindicação 7, caracterizado pelo fato da frequência enquadrar-se dentro de 1,5 a 2,5 MHz.
9. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de ainda compreender receber segunda energia com duas segundas bobinas receptoras (24) associadas com o segundo instrumento de perfilagem (20), em que um plano de cada segunda bobina receptora (24) compreender um componente direcional substancialmente paralelo com um eixo geométrico longitudinal (25) do segundo instrumento de perfilagem (20).
10. Método de acordo com a reivindicação 9, caracterizado pelo fato do segundo conjunto de medições utilizar pelo menos uma de uma diferença em magnitude e uma diferença em fase entre a segunda energia recebida pelas duas segundas bobinas receptoras (24).
11. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de uma profundidade de investigação associada com o primeiro conPetição 870190030280, de 29/03/2019, pág. 8/13

3/4 junto de medições compreenderem uma profundidade de investigação associada com o segundo conjunto de medições.
12. Sistema para aumentar a sensibilidade em uma medição de pelo menos uma de magnitude e direção de resistividade em um material de subsuperfície (4), o sistema caracterizado pelo fato de que compreende:

(a) um primeiro instrumento de perfilagem (10) para efetuar um primeiro conjunto de medições de resistividade do material de subsuperfície (4);

(b) um segundo instrumento de perfilagem (20) para efetuar um segundo conjunto de medições de pelo menos uma dentre magnitude e direção de resistividade do material de subsuperfície (4); e (c) um sistema de processamento (7) para receber o primeiro conjunto de medições e o segundo conjunto de medições, no qual o sistema de processamento é configurado para:

(d) construir um modelo de um sinal de fundo derivado de um gradiente de resistividade no material de subsuperfície (4) usando o primeiro conjunto de medições;

(e) calcular uma resposta predita do segundo instrumento de perfilagem (20) para o modelo do sinal de fundo;

(f) derivar uma resposta do segundo instrumento de perfilagem a partir do segundo conjunto de medições; e (g) subtrair a resposta predita do segundo instrumento de perfilagem para produzir uma resposta corrigida que tem maior sensibilidade que a resposta do segundo instrumento de perfilagem.
13. Sistema de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato do primeiro instrumento de perfilagem (10) compreender pelo menos duas bobinas receptoras (12), cada bobina (12) em um plano substancialmente perpendicular a um eixo geométrico longitudinal (5) do primeiro instrumento de perfilagem (10).
14. Sistema de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato do segundo instrumento de perfilagem (20) compreender pelo menos duas bobinas receptoras (24), cada bobina (24) em um plano tendo um

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4/4 componente direcional substancialmente em paralelo ao eixo geométrico longitudinal (25) do segundo instrumento de perfilagem (20).
15. Sistema de acordo com a reivindicação 12, caracterizado pelo fato do primeiro instrumento de perfilagem (10) compreender um ins5 trumento de resistividade de propagação de multi espaçamento (10) e do segundo instrumento de perfilagem (20) compreender um instrumento de resistividade de propagação azimutal (20).