BRPI0708822A2

BRPI0708822A2 - light measurement from a predefined scatter angle from particulate matter in a medium

Info

Publication number: BRPI0708822A2
Application number: BRPI0708822-1A
Authority: BR
Inventors: Perry A Palumbo
Original assignee: Hach Co
Priority date: 2006-03-23
Filing date: 2007-03-15
Publication date: 2011-06-14

Abstract

MEDIÇçO DE LUZ A PARTIR DE UM ÂNGULO DE DISPERSçO PREDEFINIDO A PARTIR DE MATÉRIA PARTICULADA EM UM MEIO. É revelado um sistema de medição que pode medir a luz dispersa através de um ângulo de dispersão predeterminado. O sistema de medição tem uma fonte de luz (10) configurada para prover luz ao longo de um primeiro eixo. O sistema de medição tem um sistema de lente (3, 4) alinhado ao longo de um segundo eixo que tem um primeiro foco próximo ao primeiro eixo e onde o segundo eixo é diferente do primeiro eixo. O sistema de medição tem um sensor (5) localizado no segundo eixo em um segundo foco do sistema de lente (3, 4) e é configurado para detectar a luz dispersa próximo ao primeiro foco. O sistema de medição tem uma máscara (9) localizada no segundo eixo e é configurado para limitar a luz que atinge o sensor (5) a um ângulo predeterminado de dispersão. A invenção revelada elimina a necessidade de múltiplos dispositivos de medição nefelométrica e também dispositivos de verificação de sistema para realizar ensaio da presença ou ausência ou número de partículas suspensas em um meio assim como verificação da capacidade do sistema em medir em conformidade com os atributos de desempenho, exigidos.LIGHT MEASUREMENT FROM A PRESET DISPERSION ANGLE FROM PARTICULATED MATTER IN A MEDIUM. A measurement system is revealed that can measure scattered light through a predetermined scattering angle. The measurement system has a light source (10) configured to provide light along a first axis. The measurement system has a lens system (3, 4) aligned along a second axis that has a first focus close to the first axis and where the second axis is different from the first axis. The measurement system has a sensor (5) located on the second axis in a second focus of the lens system (3, 4) and is configured to detect scattered light near the first focus. The measurement system has a mask (9) located on the second axis and is configured to limit the light reaching the sensor (5) to a predetermined angle of dispersion. The disclosed invention eliminates the need for multiple nephelometric measurement devices and also system verification devices to perform testing for the presence or absence or number of particles suspended in a medium as well as checking the system's ability to measure in accordance with performance attributes. , required.

Description

"MEDIÇÃO DE LUZ A PARTIR DE UM ÂNGULO DE DISPERSÃO PREDEFINIDOA PARTIR DE MATÉRIA PARTICULADA EM UM MEIO""MEASUREMENT OF LIGHT FROM A PREFERRED ANGLE OF DISPERSION FROM PARTICULAR MATTERS"

ANTECEDENTES DA INVENÇÃOBACKGROUND OF THE INVENTION

De interesse para o especialista de processo, engenheiro, cientista, e outros, é aqualidade ou pureza do produto (meio capaz de suspensão de partículas) sendo fabricadoseja ele um líquido, gás, produto farmacêutico, ou semelhante. Uma medida da qualidade doproduto é um ensaio de matéria particulada ou concentração de matéria particulada dentrodo produto final ou produto durante vários estágios de produção de modo a garantir que amatéria particulada como um constituinte do processo, ou subproduto dele, exista em umaquantidade prescrita, ou dentro de uma tolerância adequada. Quando as partículas em sus-pensão são desconhecidas, as partículas podem diferir em composição, tamanho, e forma-to. Sabe-se que a matéria interage com a luz de diversas formas, como exemplo, por inter-médio de absorção, reflexão ou dispersão, e fluorescência para citar alguns. Vários meiosóticos foram concebidos para medir a matéria particulada dentro de uma suspensão tal co-mo turbidímetro ou nefelômetro, contador de partículas, e densitômetro, porém todos utili-zam fundamentalmente configurações óticas diferentes cada uma delas projetada para me-dir um atributo específico ou faixa de concentração das partículas suspensas por intermédiode transmitância, reflexão ou remessa de luz.Of interest to the process specialist, engineer, scientist, and others is the product's quality or purity (medium capable of particulate suspension) being manufactured as a liquid, gas, pharmaceutical, or the like. A measure of product quality is a test of particulate matter or concentration of particulate matter within the final product or product over various stages of production to ensure that the particulate matter as a process constituent or byproduct exists in or within a prescribed quantity. of adequate tolerance. When the suspended particles are unknown, the particles may differ in composition, size, and shape. Matter is known to interact with light in a variety of ways, for example by means of absorption, reflection or scattering, and fluorescence to name a few. Several means have been designed to measure particulate matter within a suspension such as turbidimeter or nephelometer, particle counter, and densitometer, but all fundamentally use different optical configurations each designed to give me a specific attribute or range. concentration of suspended particles by means of light transmittance, reflection or delivery.

Outra limitação na configuração de medição ótica é imposta por órgãos reguladoresou mediante métodos padronizados, por exemplo, o Método 180.1, EPA dos Estados Unidos,Método de Teste Padrão ASTM para Turbidez de Água D 1889-00, e Padrão InternacionalISO 7027 para a determinação de turbidez para o ensaio de qualidade de água. Esses mé-todos e padrões determinam a relação geométrica de emissor/detector e o ângulo sólido deótica de coleta de modo a garantir que instrumento de tarefa similar opere dentro de parâ- metros designados para fins de informe.Another limitation on the optical measurement configuration is imposed by regulatory bodies or by standardized methods, for example, Method 180.1, United States EPA, ASTM Standard Test Method for Water Turbidity D 1889-00, and International Standard ISO 7027 for the determination of turbidity for the water quality test. These methods and standards determine the sender / detector geometrical relationship and the collection deotic solid angle to ensure that a similar task instrument operates within designated parameters for reporting purposes.

Outras limitações dos dispositivos para medição nefelométrica projetados para de-terminar a presença de partículas em uma suspensão é a capacidade do dispositivo em o-perar por uma ampla faixa de tamanhos de partícula e configurações sem impedimento.Contadores de partícula têm bom desempenho em baixa concentração de partículas, porémtêm tendência à obstrução quando a concentração ou o tamanho das partículas se tornamaior do que a capacidade da corrente de fluxo em passar através da restrição estreita, ori-fício, ou capilares do interruptor de medição. Dispositivos, tal como um turbidímetro, comvias de fluxo não-limitadas são insensíveis às pequenas concentrações de partículas porquea técnica de medição principal se baseia em energia de luz dispersa incidindo no meio de-tector que é superior àquela do ruído autogerado do detector.Other limitations of nephelometric measuring devices designed to determine the presence of particles in a suspension is the device's ability to operate over a wide range of particle sizes and unimpeded configurations. Particle counters perform well at low concentration. However, they tend to clog when the concentration or size of the particles becomes greater than the flow current's ability to pass through the narrow restriction, orifice, or capillaries of the metering switch. Unlimited flow path devices such as a turbidimeter are insensitive to small particle concentrations because the main measurement technique relies on scattered light energy focusing on the detector medium that is greater than that of the self-generated detector noise.

Ainda outra deficiência dos dispositivos usados na medição de partículas' em sus-pensão é uma ausência de meio para avaliar a prontidão operacional do instrumento semdisrupção do fluxo de partículas pela introdução de dispositivo de calibração ou padrão decalibração, exigindo interação entre o operador ou técnico especializado e o dispositivo ne-felométrico.Yet another shortcoming of the devices used in suspense pension particle measurement is a lack of means to assess the operational readiness of the instrument without disruption of the particle flow by introducing a calibration device or standard calibration requiring interaction between the operator or skilled technician. and the neo-felometric device.

A invenção revelada elimina a necessidade de múltiplos dispositivos de mediçãonefelométrica e também dispositivos de verificação de sistema para realizar ensaio da pre-sença ou ausência ou número de partículas suspensas em um meio assim como a verifica-ção da capacidade do sistema em medir em conformidade com os atributos de desempenhoexigidos.The disclosed invention eliminates the need for multiple phonometric measuring devices as well as system verification devices for testing the presence or absence or number of suspended particles in a medium as well as verifying the system's ability to measure in accordance with the performance attributes required.

ASPECTOSASPECTS

Um aspecto da invenção inclui um sistema de medição compreendendo:One aspect of the invention includes a measurement system comprising:

uma fonte de luz configurada para prover luz ao longo de um primeiro eixo;a light source configured to provide light along a first axis;

um sistema de lente alinhado ao longo de um segundo eixo e tendo um primeiro fo-co próximo ao primeiro eixo e onde o segundo eixo é diferente do primeiro eixo;a lens system aligned along a second axis and having a first focus near the first axis and where the second axis is different from the first axis;

um sensor localizado no segundo eixo em um segundo foco do sistema de lente econfigurado para detectar luz dispersa próximo ao primeiro foco;a sensor located on the second axis in a second focus of the lens system and configured to detect stray light near the first focus;

uma máscara localizada no segundo eixo, configurada para limitar a luz que atingeo sensor em um ângulo de dispersão predeterminado.a mask located on the second axis, configured to limit light reaching the sensor at a predetermined scatter angle.

Preferivelmente1 a máscara é uma máscara variável.Preferably1 the mask is a variable mask.

Preferivelmente1 a máscara variável é configurada para manter uma amplitudeconstante.Preferably1 the variable mask is set to maintain a constant amplitude.

Preferivelmente1 a máscara variável compreende um LCD de transmissão.Preferably the variable mask comprises a transmitting LCD.

Preferivelmente1 a máscara é simétrica em torno do segundo eixo.Preferably1 the mask is symmetrical about the second axis.

Preferivelmente1 a máscara está na forma de um obturador.Preferably the mask is in the form of a shutter.

Preferivelmente1 a máscara é compreendida de múltiplas aberturas.Preferably the mask is comprised of multiple apertures.

Preferivelmente1 as múltiplas aberturas são giradas em torno do segundo eixo deforma independente.Preferably the multiple apertures are rotated about the second axis independently.

Preferivelmente1 a máscara é girada em torno do segundo eixo.Preferably1 the mask is rotated about the second axis.

Preferivelmente1 a máscara é configurada de tal modo que o sensor detecta luz se-lecionada a partir dos seguintes: luz dispersa posterior, luz dispersa frontal, ou luz dispersalateral.Preferably the mask is configured such that the sensor detects selected light from the following: rear scattered light, front scattered light, or scattered side light.

Preferivelmente, várias máscaras localizadas adjacentes ao segundo eixo e confi-guradas para serem permutadas pela máscara localizada no segundo eixo.Preferably, several masks located adjacent the second axis and configured to be exchanged for the mask located on the second axis.

Preferivelmente, o primeiro eixo é perpendicular ao segundo eixo.Preferably, the first axis is perpendicular to the second axis.

Preferivelmente, o sistema de lente compreende ainda:Preferably, the lens system further comprises:

uma lente côncavo-convexa com üma superfície refletora.a concave-convex lens with a reflective surface.

Preferivelmente, uma lente de campo configurada para focalizar uma imagem namáscara sobre uma primeira superfície de um elemento refletor no sistema de lente.Preferivelmente1 a luz dispersa é gerada a partir de partículas suspensas em ummeio localizado próximo ao primeiro foco.Preferably, a field lens is configured to focus a mask image on a first surface of a reflective element in the lens system. Preferably 1 scattered light is generated from particles suspended in a medium located near the first focus.

Outro aspecto da invenção compreende um método de operar um sistema de medi-ção, compreendendo:Another aspect of the invention comprises a method of operating a measurement system comprising:

iluminar um volume com uma fonte de luz ao longo de um primeiro eixo;alinhar um sistema de lente ao longo de um segundo eixo com um primeiro foco lo-calizado dentro do volume e onde o segundo eixo é diferente do primeiro eixo;illuminating a volume with a light source along a first axis, aligning a lens system along a second axis with a first focus located within the volume and where the second axis is different from the first axis;

localizar um sensor em um segundo foco do sistema de lente no segundo eixo eonde o sensor é configurado para detectar a luz dispersa próximo ao primeiro foco;locating a sensor in a second lens system focus on the second axis and where the sensor is configured to detect scattered light near the first focus;

localizar uma máscara no segundo eixo onde a máscara é configurada para limitara luz que alcança o sensor em um ângulo de dispersão predeterminado.Locate a mask on the second axis where the mask is configured to limit light reaching the sensor at a predetermined scatter angle.

Preferivelmente, o método compreende ainda a máscara sendo uma máscara variável.Preferably, the method further comprises the mask being a variable mask.

Preferivelmente1 o método compreende ainda a máscara variável sendo configura-da para manter uma amplitude constante.Preferably the method further comprises the variable mask being configured to maintain a constant amplitude.

Preferivelmente, o método compreende ainda a máscara variável compreendendoum LCD de transmissão.Preferably, the method further comprises the variable mask comprising a transmission LCD.

Preferivelmente, o método compreende ainda a máscara sendo simétrica em tornodo segundo eixo.Preferably, the method further comprises the mask being symmetrical around the second axis.

Preferivelmente, o método compreende ainda a máscara na forma de um obturador.Preferably, the method further comprises the mask in the form of a shutter.

Preferivelmente, o método compreende ainda a máscara compreendendo múltiplasaberturas.Preferably, the method further comprises the mask comprising multiple apertures.

Preferivelmente, o método compreende ainda as múltiplas aberturas sendo giradasem torno do segundo eixo independentemente.Preferably, the method further comprises multiple apertures being rotated about the second axis independently.

Preferivelmente, o método compreende ainda a máscara sendo girada em torno dosegundo eixo.Preferably, the method further comprises the mask being rotated about the second axis.

Preferivelmente, o método compreende ainda a máscara sendo configurada de talmodo que o sensor detecta a luz selecionada a partir dos seguintes: luz de dispersão poste-rior, luz de dispersão frontal, ou luz de dispersão lateral.Preferably, the method further comprises the mask being configured such that the sensor detects the selected light from the following: rear scatter light, front scatter light, or side scatter light.

Preferivelmente, o método compreende ainda:Preferably, the method further comprises:

trocar uma de uma pluralidade de máscaras localizadas adjacentes ao segundo ei-xo pela máscara localizada no segundo eixo.exchange one of a plurality of masks located adjacent the second axis with the mask located on the second axis.

Preferivelmente, o método compreende ainda o primeiro eixo sendo perpendicularao segundo eixo.Preferably, the method further comprises the first axis being perpendicular to the second axis.

formar o primeiro foco com uma lente côncavo-convexa com uma superfície refleto-ra côncava.Preferivelmente, o método compreende ainda a luz dispersa sendo gerada a partirde partículas suspensas em um meio localizado próximo ao primeiro foco.forming the first focus with a concave-convex lens with a concave reflective surface. Preferably, the method further comprises scattered light being generated from suspended particles in a medium located near the first focus.

Outro aspecto da invenção compreende um sistema de medição, compreendendo:Another aspect of the invention comprises a measurement system comprising:

um meio para iluminar um volume ao longo de um primeiro eixo;a means for illuminating a volume along a first axis;

um meio para detectar a luz dispersa no volume da luz iluminada ao longo de umsegundo eixo;a means for detecting scattered light in the volume of light illuminated along a second axis;

um meio para limitar a luz detectada a um ângulo de dispersão predeterminado.a means for limiting the detected light to a predetermined scatter angle.

DESCRIÇÃO RESUMIDA DOS DESENHOSBRIEF DESCRIPTION OF DRAWINGS

A Figura 1 é uma vista secional do Ieiaute ótico de um sistema de medição de ma-téria particulada em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 1 is a sectional view of the optical layout of a particulate matter measuring system in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 2 é uma primeira vista lateral do sistema de medição de matéria particula-da em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 2 is a first side view of the particulate matter measuring system in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 3 é uma segunda vista lateral, com a lente côncavo-convexa removida, deum sistema de medição de matéria particulada em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 3 is a second side view, with the concave convex lens removed, of a particulate matter measuring system in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 4 é uma vista secional da via de fluxo de um sistema de medição de maté-ria particulada em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 4 is a sectional view of the flow path of a particulate matter measuring system in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 5 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico da via de detecção em umamodalidade exemplar da invenção.Figure 5 is a block diagram of the optical pathway of the detection pathway in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 6 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico quando utilizando mais do queuma via de detecção em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 6 is a block diagram of the optical loop when using more than one detection pathway in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 7 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico da via de fonte de luz em umamodalidade exemplar da invenção.Figure 7 is a block diagram of the optical pathway of the light source pathway in an exemplary embodiment of the invention.

As Figuras 7a a 7g são diagramas de blocos de vários arranjos e construções deuma máscara de abertura usada para discriminar o ângulo de dispersão a partir das partícu-las em suspensão em uma modalidade exemplar da invenção.Figures 7a to 7g are block diagrams of various arrangements and constructions of an aperture mask used to discriminate the dispersion angle from the suspended particles in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 8 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico da área de visualização domeio de suspensão em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 8 is a block diagram of the optical layout of the suspension display area in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 9 é um diagrama de blocos de um sistema de medição de matéria particu-lada utilizando uma pluralidade de vias de fonte de luz em uma modalidade exemplar dainvenção.Figure 9 is a block diagram of a particulate matter measurement system utilizing a plurality of light source pathways in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 10 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico de um sistema de medição dematéria particulada com uma fonte virtual anular e segunda fonte de luz em uma modalidadeexemplar da invenção.Figure 10 is a block diagram of the optical layout of a particulate matter measuring system with an annular virtual source and second light source in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 11 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico de um sistema de medição dematéria particulada com uma área não-revestida da superfície de lente convexa e uma se-gunda fonte de luz em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 11 is a block diagram of the optical system of a particulate matter measuring system with an uncoated area of the convex lens surface and a second light source in an exemplary embodiment of the invention.

A Figura 12 é um diagrama de blocos do detalhe ótico de um meio de calibração everificação, em sua posição original, utilizando luz a partir da fonte de luz primária e meio decomutação ótica para desviar uma porção da fonte primária para o meio de calibração e ve-rificação em uma modalidade exemplar da invenção.Figure 12 is a block diagram of the optical detail of an everification calibration medium in its original position, utilizing light from the primary light source and optical decay medium to divert a portion of the primary source to the calibration medium and ve modification in an exemplary embodiment of the invention.

DESCRIÇÃO DETALHADA DA MODALIDADE PREFERIDADETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENT

As Figuras 1-12 e a descrição a seguir exibem exemplos específicos para ensinaraqueles versados na técnica como realizar e usar o melhor modo da invenção. Com o pro-pósito de ensinar os princípios inventivos, alguns aspectos convencionais foram simplifica-dos ou omitidos. Aqueles versados na técnica considerarão variações a partir desses exem-plos que são abrangidos pelo escopo da invenção. Aqueles versados na técnica considera-rão que as características descritas abaixo podem ser combinadas de diversos modos paraformar múltiplas variações da invenção. Como resultado, a invenção não é limitada aos e-xemplos específicos descritos abaixo, mas apenas pelas reivindicações e seus equivalentes.Figures 1-12 and the following description show specific examples for teaching those skilled in the art how to perform and use the best mode of the invention. For the purpose of teaching inventive principles, some conventional aspects have been simplified or omitted. Those skilled in the art will consider variations from such examples which fall within the scope of the invention. Those skilled in the art will appreciate that the features described below may be combined in various ways to form multiple variations of the invention. As a result, the invention is not limited to the specific examples described below, but only by the claims and their equivalents.

A Figura 1 é uma vista secional do Ieiaute ótico de um sistema de medição de ma-téria particulada em uma modalidade exemplar da invenção. Sistemas de medição de maté-ria particulada compreendem: fonte de luz 10, suporte de flexão 27, lente côncavo-convexa1, lente de entrada 6, lente de saída 7, lente de campo 2, corpo de dispositivo 19, esfera deintegração 11, detector de transmissão 17, lente 3, máscara de abertura 9, lente 4, e detec-tor de partículas 5. A fonte de luz 10 é montada no suporte de flexão 27 e projeta uma luz aolongo do primeiro eixo ótico AA. O suporte de flexão 27 é usado para ajustar ou alinhar arelação angular entre a fonte de luz 10 e o corpo de dispositivo 19. Uma cavidade 8 é for-mada pela lente côncavo-convexa 1, lente de entrada 6, lente de saída 7, lente de campo 2,e corpo de dispositivo 19. Os meios a serem testados fluem através da cavidade 8 ao longode um eixo perpendicular ao plano do papel. Gaxetas, ou dispositivos de vedação, por e-xemplo, anéis-O, podem ser usados entre a lente e o corpo de dispositivo para ajudar a for-mar uma vedação hermética ao fluido em torno da cavidade 8. A lente de saída 7 é montadano corpo de dispositivo 19 e alinhada com o primeiro eixo ótico AA. A esfera de integração11 é montada no corpo de dispositivo 19, próxima à lente de saída 7. A esfera de integração11 tem um orifício de entrada 15 alinhado com o primeiro eixo ótico AA. O detector detransmissão 17 é montado substancialmente em 90 graus em relação ao orifício de entrada15 em um orifício de saída 16 da esfera de integração 11. Lente côncavo-convexa 1, lentede campo 2, lente 3, máscara de abertura 9, e lente 4 são alinhadas ao longo de um segun-do eixo ótico BB. O detector de partícula 5 é montado no corpo de dispositivo e alinhadocom o segundo eixo ótico BB. A superfície interna 12 da esfera de integração 11 pode serrevestida preferencialmente para alterar a refletividade ou melhorar a estabilidade, durabili-dade, ou sustentabilidade da superfície refletiva.Figure 1 is a sectional view of the optical layout of a particulate matter measuring system in an exemplary embodiment of the invention. Particulate matter measurement systems comprise: light source 10, flexural bracket 27, concave-convex lens1, input lens 6, output lens 7, field lens 2, device body 19, integrating sphere 11, detector 17, lens 3, aperture mask 9, lens 4, and particle detector 5. Light source 10 is mounted on bending bracket 27 and projects a light along the first optical axis AA. The flexure bracket 27 is used to adjust or align the angular relationship between the light source 10 and the device body 19. A cavity 8 is formed by the concave-convex lens 1, input lens 6, output lens 7, field lens 2, and device body 19. The means to be tested flows through the cavity 8 along an axis perpendicular to the paper plane. Gaskets, or sealing devices, for example, O-rings, may be used between the lens and the device body to help form an airtight seal around the cavity 8. Exit lens 7 is mounted on device body 19 and aligned with the first optical axis AA. The integration ball 11 is mounted on the device body 19 next to the output lens 7. The integration ball 11 has an input hole 15 aligned with the first optical axis AA. Transmission detector 17 is mounted substantially 90 degrees relative to the inlet port 15 in an outlet port 16 of the integrating sphere 11. Concave-convex lens 1, field lens 2, lens 3, aperture mask 9, and lens 4 are aligned along a second optical axis BB. The particle detector 5 is mounted on the device body and aligned with the second optical axis BB. The inner surface 12 of the integrating sphere 11 may preferably be coated to alter reflectivity or improve the stability, durability, or sustainability of the reflective surface.

A Figura 2 é uma primeira vista lateral do sistema de medição de matéria particula-da em uma modalidade exemplar da invenção. A fonte de luz 10 pode ser aquela de umlaser, LED1 (Diodo de Emissão de Luz), lâmpada incandescente, ou lâmpada de descarga,ou qualquer outra fonte de irradiação coerente, ou não coerente, capaz de estimular o detec-tor a produzir informação útil. A entrada 41, e saída 44, de um fluxo através do dispositivonefelométrico são realizadas pelo tubo de entrada 40 e tubo de saída 43 facilitado pela co-nexão 39 e 42 fixado ao corpo de dispositivo 19. Uma vista em seção do prendedor 33 naFigura 2 mostra o meio através do qual o parafuso 36 aplica força ao prendedor 33 paracomprimir a luva de detector 32 para prender o suporte de detector 34 em uma posição fixa.Figure 2 is a first side view of the particulate matter measuring system in an exemplary embodiment of the invention. The light source 10 may be that of a laser, LED1 (Light Emitting Diode), incandescent lamp, or discharge lamp, or any other coherent or non-coherent irradiation source capable of stimulating the detector to produce information. useful. The inlet 41, and outlet 44, of a flow through the telephone device are realized by inlet tube 40 and outlet tube 43 facilitated by connection 39 and 42 attached to device body 19. A sectional view of fastener 33 in Figure 2 shows the means by which screw 36 applies force to fastener 33 to depress detector glove 32 to secure detector bracket 34 in a fixed position.

A Figura 4 é uma vista secional da via de fluxo de um sistema de medição de maté-ria particulada em uma modalidade exemplar da invenção. O sistema de medição de matériaparticulada compreende: lente côncavo-convexa 1, lente de saída 7, lente de campo 2, cor-po de dispositivo 19, lente 3, máscara de abertura 9, lente 4, detector de partícula 5, tubo deentrada 40 e tubo de saída 43. A entrada 41 e saída 44 de um fluxo através do dispositivonefelométrico são realizadas pelo tubo de entrada 40 e tubo de saída 43 facilitado pela co-nexão 39 e 42 fixado ao corpo de dispositivo 19. Vedações de anel-0 45 e 46 vedam a tu-bagem 43 e 40 ao corpo de dispositivo 19. O primeiro eixo ótico AA forma uma linha per-pendicular ao papel e é centrado na lente de saída 7.Figure 4 is a sectional view of the flow path of a particulate matter measuring system in an exemplary embodiment of the invention. The particulate matter measuring system comprises: concave-convex lens 1, exit lens 7, field lens 2, device body 19, lens 3, aperture mask 9, lens 4, particle detector 5, inlet tube 40 and outlet tube 43. Inlet 41 and outlet 44 of a flow through the phonemeter are realized by inlet tube 40 and outlet tube 43 facilitated by connection 39 and 42 attached to device body 19. O-ring seals 45 and 46 seal the tubing 43 and 40 to the device body 19. The first optical axis AA forms a line perpendicular to the paper and is centered on the exit lens 7.

A Figura 5 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico da via de detecção em umamodalidade exemplar da invenção. A Figura 5 mostra a luz dispersa na direção da lentecôncavo-convexa 1 por intermédio de partículas no meio de suspensão 40 no plano de obje-to 49. A lente côncavo-convexa 1, lente de campo 2, e lentes 3 e 4 ao longo do eixo ótico BBformam uma imagem vertical no plano de imagem 49" da partícula localizada no plano deobjeto 49. Uma imagem intermediária das partículas é formada pela lente côncavo-convexa1 ao longo do eixo ótico BB no plano de imagem 49', dentro da lente de campo 2. Medianteformação da imagem intermediária dentro da lente de campo 2 apenas aquela luz que érefletida, dispersa ou emitida a partir das partículas em direção à lente côncavo-convexa 1 étrazida para foco no plano de imagem 49". Como resultado, nenhuma imagem das partícu-las em suspensão é formada como resultado direto das lentes 3 e 4, mas apenas como re-sultado da luz incidindo sobre a lente côncavo-convexa 1.Figure 5 is a block diagram of the optical pathway of the detection pathway in an exemplary embodiment of the invention. Figure 5 shows light scattered in the direction of lentoconcave convex 1 by particles in the suspension medium 40 in the object plane 49. Concave convex lens 1, field lens 2, and lenses 3 and 4 along Optical axis BBs form a vertical image in the image plane 49 "of the particle located in the object plane 49. An intermediate image of the particles is formed by the concave-convex lens1 along the optical axis BB in the image plane 49 ', within the image lens. field 2. By forming the intermediate image within the field lens 2 only that light that is reflected, scattered or emitted from the particles towards the concave-convex lens 1 is brought into focus in the image plane 49 ". As a result, no images of the particles in suspension are formed as a direct result of lenses 3 and 4, but only as a result of light falling on the concave-convex lens 1.

Em uma modalidade exemplar da invenção, a lente côncavo-convexa 1 é uma lentede emersão do material refratário maior do que o índice refrativo do meio de suspensão. Alente côncavo-convexa 1 tem uma primeira superfície refratária côncava em contato com omeio de suspensão, e uma segunda superfície refletora convexa. A primeira e a segundasuperfície não precisam ser concêntricas e nenhuma das superfícies precisa ser concêntricacom o plano de objeto 49. Em uma modalidade exemplar da invenção a primeira superfícierefratária da lente côncavo-convexa 1 pode ser inerte para o meio de suspensão. Como asegunda superfície refletora da lente côncavo-convexa 1 é protegida pela primeira superfícierefratária, a lente côncavo-convexa 1 pode ser limpa sem perigo de danificar a superfícierefletora mais delicada. A primeira superfície refratária permite um grau adicional de liberda-de na correção das aberrações óticas que de outro modo podem degradar a qualidade daimagem nos planos de imagem 49' e 49" sem necessidade de superfícies asféricas paravantagem de custo de produção inferior. Como a potência ótica principal da lente côncavo-convexa é provida pela superfície refletora, problemas com dispersão por uma ampla faixade comprimentos de onda de teste podem ser minimizados. O raio marginal 50 a partir doplano de objeto 49 é refratado pela superfície côncava da lente côncavo-convexa 1, e sepropaga como raio 50a para a superfície convexa refletiva da lente côncavo-convexa 1. Apartir da reflexão sobre a superfície convexa revestida da lente o raio refletido 50b é outravez refratado pela superfície côncava da lente côncavo-convexa 1 e sai da lente como raiorefratado 50c. Como o plano de objeto 49, e o plano de imagem intermediária 49', dentro dalente de campo 2, são deslocados ao longo do eixo ótico BB, ocorre pouca refração emqualquer lado da lente de campo 2 uma vez que o índice de refração entre o meio de sus-pensão 47 e o índice de refração da lente de campo 2 são similares e a imagem intermediá-ria 49' é concêntrica, ou quase concêntrica, em relação à superfície convexa da lente decampo 2. A lente côncavo-convexa 1 provê uma grande abertura numérica que captura umagrande porção da luz dispersa a partir de uma partícula no meio de suspensão 47. Em umamodalidade exemplar da invenção, mais de 1/7 da luz dispersa total pode ser utilizado paraincidência no detector de partículas 5 no plano de imagem 49". O raio marginal 50c é refra-tado pela lente 3, como raio marginal 50d, e emerge a partir da lente 3 como raio marginal50e. O detentor de campo 9 define a amplitude na qual os raios marginais dispersos a partirda partícula no meio de suspensão 47 se propagarão através do sistema ótico. Uma ima-gem do detentor de campo 9 é formada na superfície ou próximo à superfície da lente côn-cavo-convexa 1 como imagem de detentor de campo 9'. O raio marginal 50e se propagapara a lente 4 e é refratado como raio marginal 50f, emergindo a partir da lente 4 como raiomarginal 50g onde uma imagem vertical da partícula é formada a partir da luz dispersa apartir do plano de objeto 49 no plano de imagem 49". O raio principal 51 segue um percursosimilar através do sistema ótico passando através do centro do detentor de campo 9 e tam-bém através do centro da imagem 9' do detentor de campo formado na superfície da lentecôncavo-convexa 1. O detentor de campo 9 é posicionado a partir da lente 4 de tal modoque o detector de partícula 5 está no conjugado infinito do detentor de campo 9. Desse mo-do, qualquer porção da imagem formada no detentor de campo 9 incide igualmente na su-perfície do detector de partícula 5.In an exemplary embodiment of the invention, the concave convex lens 1 is a slow emergence of refractory material greater than the refractive index of the suspending medium. Concave Convex Alente 1 has a first concave refractory surface in contact with the suspension medium, and a second convex reflective surface. The first and second surfaces need not be concentric and neither surface needs to be concentric with the object plane 49. In an exemplary embodiment of the invention the first surface of the concave-convex lens 1 may be inert to the suspension medium. Since the second reflective surface of the concave-convex lens 1 is protected by the first refractory surface, the concave-convex lens 1 can be cleaned without danger of damaging the most delicate surface. The first refractory surface allows for an additional degree of freedom in correcting optical aberrations that may otherwise degrade image quality on 49 'and 49 "image planes without the need for aspherical surfaces for lower production cost advantage. main optics of the concave convex lens is provided by the reflective surface, problems with dispersion over a wide range test wavelengths can be minimized.The marginal radius 50 from object plane 49 is refracted by the concave surface of the concave convex lens 1 , and propagates as radius 50a to the reflective convex surface of the concave-convex lens 1. From reflection on the convex coated surface of the lens the reflected radius 50b is once again refracted by the concave surface of the concave-convex lens 1 and exits the lens as refracted. 50c Like object plane 49, and intermediate image plane 49 ', within field lens 2, are d along the optical axis BB, little refraction occurs on either side of the field lens 2 since the refractive index between the suspension medium 47 and the refractive index of the field lens 2 are similar and the intermediate image. 49 'is concentric, or nearly concentric, with respect to the convex surface of the field lens 2. The concave-convex lens 1 provides a large numerical aperture that captures a large portion of the light scattered from a particle in the suspension medium 47. In an exemplary embodiment of the invention, more than 1/7 of the total scattered light may be used to coincide with the particle detector 5 in the image plane 49 ". Marginal radius 50c is refracted by lens 3 as marginal radius 50d and emerges from lens 3 as marginal radius 50e. Field keeper 9 defines the amplitude at which the marginal rays scattered from the particle in the suspension medium 47 will propagate through the optics. A field keeper image 9 is formed on or near the surface of the concave-convex lens 1 as a field keeper image 9 '. Marginal radius 50e propagates to lens 4 and is refracted as marginal radius 50f, emerging from lens 4 as marginal radius 50g where a vertical image of the particle is formed from scattered light from object plane 49 in image plane 49 "The main radius 51 follows a similar path through the optics passing through the center of the field keeper 9 and also through the center of the field keeper image 9 'formed on the surface of the concave lenton 1. The field keeper 9 is positioned from the lens 4 such that the particle detector 5 is in the infinite conjugate of the field detainer 9. In this way, any portion of the image formed in the field detector 9 also touches the surface of the detector. particle 5.

O detector 5 pode ser aquele de um fotodiodo, Tubo Foto-Multiplicador (PTM), Dis-positivo Carregado Acoplado (CCD) ou Sensor de Imagem de Semicondutor de Óxido deMetal Complementar (CMOS), ou qualquer outro meio para converter luz ou irradiação nosvalores quantificáveis da corrente ou potencial elétrico. Em uma modalidade exemplar dainvenção, detectores de arranjo de área tal como sensores de imagem CMOS ou CCD po-dem ser usados para medir mediante posição espacial e área incrementai a intensidade daimagem formada no sensor de imagem. Utilizando essa informação, o dispositivo pode me-dir o tamanho, formato, distribuição, ocorrência e velocidade das partículas em suspensãono plano de objeto 49. A ampliação do objeto para imagem ao longo do eixo ótico BB é se-lecionada para prover resolução adequada para as medições de interesse e define a áreamáxima que pode ser medida na suspensão. Se o tamanho do sensor de imagem for 6,5 χ4,8 mm e a ampliação do sistema ótico for de 2x, então a área máxima que pode ser medidana suspensão é 3,2 χ 2,4 mm. Para um determinado sensor de imagem um número fixo delocais fotossensíveis está presente, como pixels de 640 χ 480, como exemplo, portanto, ca-da pixel é de 10 μίτι e representa uma resolução de objeto de 5 μίτι por pixel em suspensão.Se as partículas a serem medidas são de pelo menos duas a três vezes maiores do que aresolução do sistema, então a medição razoável do tamanho e formato do objeto pode serdeterminada. A profundidade da imagem, ao longo do eixo ótico BB, é um resultado do diâ-metro ou largura do feixe de iluminação ao longo do eixo ótico BB, ou a profundidade docampo do sistema ótico de geração de imagem. Um volume de medição definido pode serdeterminado utilizando-se a largura da iluminação, ao longo do eixo ótico BB, a profundida-de do campo do sistema ótico de geração de imagem, a ampliação do sistema ótico, e otamanho do detector de partícula. Uma contagem das partículas iluminadas ou partículasfluorescentes dentro do volume de medição definido pode ser informada como contagem pormilímetro cúbico. Se o sensor de imagem for de um tipo de integração, como o caso para ossensores de imagem CMOS e CCD, o tempo de integração - o tempo destinado para cargase acumular na área fotossensível do dispositivo, pode ser usado para determinar a taxa defluxo das partículas em suspensão por intermédio da medição do número de pixels ultrapas-sados durante o período de integração. A imagem resultante é algumas vezes referida comouma "listra", cujo comprimento e tempo de integração conhecido podem ser usados paracalcular a velocidade da partícula, portanto a taxa de fluxo do meio de suspensão. Quando aconcentração das partículas em suspensão é suficientemente alta, partículas individuais setornam indistinguíveis no sensor de imagem, mas podem ser medidas como uma concentra-ção de partículas por intermédio da carga total acumulada durante o período de integraçãoconhecido no sensor de imagem, ou produto de corrente de ampère do detector de partículacomo aquele de um fotodiodo, que é correlacionado a Unidades Nefelométricas de Turbi-dez (NTU), Unidade Nefelométrica de Formazina (FNU), Unidades de McFarIane, ou outraunidade nefelométrica padrão de medida da turbidez ou obscuridade da suspensão calibra-da para uma concentração conhecida de padrão nefelométrico.A invenção revelada não é limitada a uma única via de detecção. A Figura 6 é umdiagrama de blocos de um Ieiaute ótico quando se utiliza mais do que uma via de detecçãoem uma modalidade exemplar da invenção. Um segundo eixo ótico CC é introduzido subs-tancialmente em 90 graus em relação ao eixo ótico BB, ambos substancialmente a 90 grausem relação ao eixo ótico da fonte de luz. A dispersão de luz a partir da partícula no plano deobjeto 49 é coletada e transmitida ao longo do eixo ótico CC da mesma maneira como des-crito para aquela da Figura 5, utilizando em vez disso a lente côncavo-convexa 1A, lente decampo 2A, lentes 3A e 4A, para formar uma imagem vertical da partícula no detector de par-tícula 5a. As duas imagens são relacionadas, uma vez que a imagem formada no detectorde partícula 5A é o perfil de imagem da imagem formada no detector de partícula 5. Alémdisso, aos dois detectores 5 e 5A não precisam ter a mesma resposta espectral, nem existea necessidade da lente côncavo-convexa 1 e 1A ter a mesma refletividade espectral. Narealidade cada via ótica pode ser alterada pela adição de filtros óticos ou por intermédio derefletividade de revestimento ou mediante resposta de detector de tal modo que cada viaótica é sensível à porção diferente dos espectros de modo a detectar a absorção ou emis-são das partículas no meio de suspensão 47 no plano de objeto 49 em comprimento(s) deonda singular.Detector 5 may be that of a photodiode, Photo Multiplier Tube (PTM), Coupled Charged Device (CCD) or Complemental Metal Oxide Semiconductor Image Sensor (CMOS), or any other means for converting light or irradiation into values. quantifiable electrical current or potential. In an exemplary embodiment of the invention, area array detectors such as CMOS or CCD image sensors may be used to measure by spatial position and area incremental intensity of the image sensor formed. Using this information, the device can measure the size, shape, distribution, occurrence and velocity of particulate matter in the object plane 49. Magnification of the object to image along the optical axis BB is selected to provide adequate resolution for the measurements of interest and defines the maximum area that can be measured in the suspension. If the image sensor size is 6.5 χ4.8 mm and the optical system magnification is 2x, then the maximum area that can be measured in suspension is 3.2 χ 2.4 mm. For a given image sensor a fixed number of photosensitive delocals is present, such as 640 χ 480 pixels, so as an example, each pixel is 10 μίτι and represents an object resolution of 5 μίτι per pixel in suspension. particles to be measured are at least two to three times larger than the system resolution, so the reasonable measurement of object size and shape can be determined. The depth of the image along the BB optical axis is a result of the diameter or width of the illumination beam along the BB optical axis, or the depth of the field of the optical imaging system. A defined measurement volume can be determined using the width of the illumination along the optical axis BB, the depth of field of the optical imaging system, the magnification of the optical system, and the particle detector size. A count of the illuminated particles or fluorescent particles within the defined measurement volume may be reported as cubic millimeter count. If the image sensor is of an integration type, as is the case for CMOS and CCD image sensors, the integration time - the time destined for charge to accumulate in the photosensitive area of the device, can be used to determine the particle flow rate. suspended by measuring the number of pixels exceeded during the integration period. The resulting image is sometimes referred to as a "stripe" whose known length and integration time can be used to calculate the particle velocity, hence the flow rate of the suspension medium. When the concentration of the suspended particles is sufficiently high, individual particles become indistinguishable in the image sensor, but can be measured as a particle concentration through the total charge accumulated during the known integration period of the image sensor, or current product. particle detector amps such as that of a photodiode, which is correlated to Turbi-ten Nephelometric Units (NTU), Formazine Nephelometric Unit (UNF), McFarIane Units, or other standard nephelometric turbidity or darkness measurement gauge suspension to a known concentration of nephelometric standard. The disclosed invention is not limited to a single detection pathway. Figure 6 is a block diagram of an optical pathway when using more than one detection pathway in an exemplary embodiment of the invention. A second optical axis CC is introduced substantially 90 degrees relative to the optical axis BB, both substantially 90 degrees relative to the optical axis of the light source. Light scattering from the object plane particle 49 is collected and transmitted along the optical axis CC in the same manner as described for that of Figure 5, using instead the concave-convex lens 1A, field-lens 2A, 3A and 4A, to form a vertical image of the particle in particle detector 5a. The two images are related, since the image formed in particle detector 5A is the image profile of the image formed in particle detector 5. In addition, both detectors 5 and 5A need not have the same spectral response, nor is there any need for the same. Concave-convex lens 1 and 1A have the same spectral reflectivity. Nareality Each optical pathway may be altered by the addition of optical filters or by means of coating reflectivity or by detector response such that each pathway is sensitive to the different portion of the spectra to detect absorption or emission of particles in the medium. of suspension 47 in the object plane 49 in single round length (s).

A Figura 7 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico da trajetória de fonte de luz emuma modalidade exemplar da invenção. É desejável impedir que a energia de irradiação dedispersão se propague ao longo do eixo ótico BB para o detector de partícula 5. Portanto, éa melhor prática não iluminar mais do que o volume de amostra do que aquele o qual podeser formado em imagem no detector de partícula 5. A lente de entrada 6 focaliza a luz 53como 53a a partir da fonte de luz 10 para iluminar aquele volume de amostra para o qualcontribuirá uma imagem do volume de amostra no detector de partícula 5. Após a luz ter sepropagado através do volume de amostra, a lente de saída 7 dirige a luz transmitida, nãoabsorvida ou dispersa pelas partículas em suspensão como luz 53b, para o orifício de entra-da 15 da esfera e integração 11. Revestimentos ou acabamento na superfície interna 12 daesfera de integração 11 são otimizados para serem refletivos de forma difusa de modo ailuminar uniformemente as superfícies internas da esfera de integração com a luz transmiti-da. Ao fazer isso o detector de transmissão 17 medirá a mesma intensidade da luz indepen-dente do ângulo exato ou distribuição de luz dentro do feixe de transmissão da fonte de luz10ao longo do eixo ótico de iluminação AA. O orifício de saída 16 na esfera de integração11é posicionado substancialmente em 90 graus em relação ao orifício de entrada da esferade integração 11. De modo a impedir iluminação direta do detector de transmissão 17 e des-se modo reduzir as sensibilidades para incidência de feixe e posição, as linhas de visada dodetector 54 e 54a do detector de transmissão 17 não incluem orifício de entrada 15 ou aenergia de transmissão incidente na superfície interna 12 da esfera de integração 11. Ossinais gerados a partir do detector de transmissão 17 e detector de partícula 5 podem serutilizados para determinar a relação de luz transmitida para luz dispersa ou para medir aabsorção ou fluorescência das partículas. Outra vantagem do uso novel de uma esfera deintegração para a medição da luz transmitida em um nefelômetro se deve à redistribuição deluz através da superfície interna 12 da esfera de integração 11, resultando em uma diminui-ção na intensidade de superfície no detector de transmissão 17, desse modo eliminando anecessidade de captadores de luz ou filtros de densidade neutra para reduzir o valor máxi-mo para luz incidente que incide no detector de transmissão 17.Figure 7 is a block diagram of the optical path of the light source path in an exemplary embodiment of the invention. It is desirable to prevent the scattering irradiation energy from propagating along the optical axis BB to the particle detector 5. Therefore, it is best practice not to illuminate more than the sample volume than can be imaged on the particle detector. particle 5. The input lens 6 focuses light 53 as 53a from light source 10 to illuminate that sample volume to which it will give an image of the sample volume in particle detector 5. After the light has propagated through the volume of In this sample, the exit lens 7 directs the light transmitted, unabsorbed or scattered by the suspended particles as light 53b, to the ball entry hole 15 and integration 11. Coatings or finishing on the inner surface 12 of the integration sphere 11 are optimized to be diffusely reflective to uniformly illuminate the inner surfaces of the integrating sphere with the transmitted light. In so doing, the transmitter detector 17 will measure the same light intensity regardless of the exact angle or light distribution within the light source transmission beam 10 along the illumination optical axis AA. The exit hole 16 in the integration ball 11 is positioned substantially 90 degrees relative to the entrance hole of the integration ball 11. In order to prevent direct illumination of the transmission detector 17 and thereby reduce beam and position sensitivities , the detector detector sight lines 54 and 54a of the transmission detector 17 do not include inlet port 15 or incident transmission energy on the inner surface 12 of the integrating sphere 11. Signals generated from the transmission detector 17 and particle detector 5 may be used to determine the ratio of light transmitted to scattered light or to measure particle absorption or fluorescence. Another advantage of novel use of an integrating sphere for measuring the light transmitted in a nephelometer is due to the light redistribution through the inner surface 12 of the integrating sphere 11, resulting in a decrease in surface intensity in the transmission detector 17, thereby eliminating the need for light pickups or neutral density filters to reduce the maximum value for incident light falling on the transmission detector 17.

Uma qualidade singular da invenção revelada é a capacidade de gerar imagem deum objeto, ou máscara, posicionado ao longo do eixo ótico BB no detentor de campo 9, so-bre ou próximo à superfície da lente côncavo-convexa 1. Conforme mostrado na Figura 7a,uma máscara anular 9a colocada no local do detentor de campo 9, é utilizada para discrimi-nar mediante propagação permissível apenas aqueles raios que são refletidos ou dispersosa partir do plano de objeto 49 em um ângulo elevado em relação ao eixo ótico BB. Máscarasanulares 9b e 9c usadas em vez do detentor 9 são utilizadas para mudar o ângulo de propa-gação permissível de dispersão enquanto mantendo uma amplitude de sistema ótico cons-tante. Amplitude é usada para especificar a capacidade geométrica de um sistema ótico emtransmitir irradiação, sua velocidade de transmissão. O valor numérico da amplitude é tipi-camente uma constante do sistema e é calculado como o produto do tamanho de abertura eo ângulo sólido a partir do qual o sistema aceita a luz. Amplitude também pode ser conheci-da como a capacidade de coleta ou ajuntamento de luz de um sistema ótico. Um diafragmaíris, conforme mostrado na Figura 7, substituto do detentor de campo fixo 9, da Figura 7 po-de ser ajustado para alterar a quantidade de luz incidindo sobre o detector de partícula 5 etambém o ângulo incluso total de dispersão a partir do plano de objeto 49. A luz dispersa apartir de uma partícula(s) em direção ao feito incidente de iluminação é referida como "dis-persão posterior" em termos nefelométricos. Inversamente, a luz dispersa a partir da fontede iluminação é referida como "dispersão anterior". A luz dispersa a partir de uma partículanem em direção nem no sentido contrário à fonte de luz incidente é referida como "dispersãolateral" em termos nefelométricos. Aberturas ou máscaras nas formas conforme mostradonas Figuras 7c a 7g permitem a medição da quantidade, pelo tipo de dispersão, da luz dis-persa a partir de uma partícula(s). Isso é útil para que as diferentes concentrações de partí-culas possam ser medidas, uma vez que diferentes tipos de dispersão são mais úteis emrelação à linearidade ou sensibilidade dependendo da concentração da partícula(s) no meiode suspensão. Uma máscara circular deslocada a partir do eixo ótico BB colocada na posi-ção do detentor de campo 9 da Figura 7, como na Figura 7C, é girada de forma excêntrica,em relação ao eixo ótico BB, como 9a, 9b, e 9c, para manter constante a amplitude do sis-tema ótico com seleção preferencial do ângulo de dispersão em torno do eixo ótico BB comouma seção cônica. Duas máscaras semicirculares giradas independentemente em torno doeixo ótico BB laminadas próximas uma da outra na posição do detentor de campo 9 da Figu-ra 7 são mostradas como 9a, 9b, 9c e 9d na Figura 7d. A rotação das máscaras, indepen-dentemente, cria uma abertura de setor através da qual uma parte da luz dispersa em tornodo eixo ótico BB pode passar através do sistema ótico para o detector de partícula 5 na di-reção selecionada de dispersão. Uma máscara na forma de um obturador(s) é utilizada paraselecionar uma porção angular da luz dispersa ou emitida a partir do plano de objeto 49 con-forme mostrado na Figura 7e. Um obturador é deslizado através da face da abertura 9 daFigura 7 para preferencialmente transmitir ou bloquear a propagação de raios para o detec-tor de partículas 5 dependendo do ângulo de dispersão de emissão a partir do plano de ob-jeto 49. O obturador na posição 9a da Figura 7e transmite luz que é dispersa para frente apartir do plano de objeto 49. Dois obturadores independentemente ajustáveis, ortogonaisentre si, laminados em proximidade estreita na posição do detentor de campo 9, da Figura 7,são mostrados na Figura 7f. A abertura, um setor, formado por dois obturadores pode serdeslocada fora do eixo ótico BB ao contrário do setor formado pelas máscaras semicircula-res da Figura 7d. Uma máscara singular, na posição do detentor de campo 9, controlado porintermédio de polarização seletiva da luz dispersa passando através de uma película de po-larização, e cristais líquidos eletricamente polarizados como em um LCD de transmissão(display de cristal líquido), é utilizada para bloquear, por intermédio de polarização cruzada,a propagação da luz através do LCD ao longo do eixo ótico BB. Uma máscara singular podeser substituta de qualquer uma ou de todas as formas descritas de aberturas previamentedescritas sem preferência. A escolha da máscara efetivamente seleciona os ângulos de re-flexão que o detector 5 eventualmente processará. Alternativamente, quando apenas o ân-gulo e/ou a intensidade da luz dispersa ou emitida deve ser medida a partir do plano de ob-jeto 49 e nenhuma imagem precisa ser formada da partícula(s) de dispersão, como no casoda presença de partículas ou fluorescência, então um arranjo de imagem tal como sensor deplano de imagem CCD ou CMOS é colocado em substituição ao detentor de campo 9 con-forme mostrado na Figura 7g. A luz incidindo nos pixels do sensor de plano de imagem des-se modo é discriminada pelo ângulo de dispersão ou emissão uma vez que uma imagem dopixel é formada na superfície da lente côncavo-convexa 1 como imagem de detenção decampo 9'. Utilizando o Ieiaute ótico tendo múltiplas vias de detecção conforme mostrado naFigura 6, múltiplas máscaras podem ser usadas tendo diferentes áreas de mascaragem, detal modo que diferentes medições do ângulo de dispersão para as partículas podem ser fei-tas simultaneamente.A unique quality of the disclosed invention is the ability to image an object, or mask, positioned along the optical axis BB on the field detainer 9 above or near the surface of the concave-convex lens 1. As shown in Figure 7a , an annular mask 9a placed at the location of the field keeper 9, is used to discriminate by permissible propagation only those rays that are reflected or scattered from the object plane 49 at a high angle to the optical axis BB. Annular masks 9b and 9c used instead of detent 9 are used to change the allowable spreading angle of spread while maintaining a constant optics amplitude. Amplitude is used to specify the geometric capability of an optical system to transmit radiation, its transmission speed. The numerical value of amplitude is typically a system constant and is calculated as the product of the aperture size and the solid angle from which the system accepts light. Amplitude can also be known as the ability to collect or gather light from an optical system. A diaphragm, as shown in Figure 7, replacing the fixed field detent 9, of Figure 7 may be adjusted to alter the amount of light falling on the particle detector 5 and also the total inclination angle of scatter from the plane of object 49. Light scattered from a particle (s) toward the incident lighting event is referred to as "later dispersion" in nephelometric terms. Conversely, light scattered from the illumination source is referred to as "anterior scatter". Light scattered from a particle toward or against the incident light source is referred to as "lateral scattering" in nephelometric terms. Apertures or masks in the shapes as shown in Figures 7c to 7g allow measurement of the amount, by type of scattering, of the scattered light from a particle (s). This is useful so that different particle concentrations can be measured since different dispersion types are more useful in relation to linearity or sensitivity depending on the concentration of the particle (s) in the half suspension. A circular mask displaced from the optical axis BB placed at the position of the field keeper 9 of Figure 7, as in Figure 7C, is eccentrically rotated relative to the optical axis BB such as 9a, 9b, and 9c, to maintain constant amplitude of the optical system with preferential selection of the scatter angle around the optical axis BB with a conical section. Two independently rotated semicircular masks about the optical axis BB laminated next to each other at the position of the field keeper 9 of Fig. 7 are shown as 9a, 9b, 9c and 9d in Figure 7d. Rotating the masks independently creates a sector opening through which a portion of the light scattered around the optical axis BB can pass through the optics to the particle detector 5 in the selected scattering direction. A mask in the form of a shutter (s) is used to select an angular portion of light scattered or emitted from the object plane 49 as shown in Figure 7e. A shutter is slid across the aperture face 9 of Figure 7 to preferably transmit or block the beam propagation to the particle detector 5 depending on the emission scatter angle from the object plane 49. The shutter in position 9a of Figure 7e transmits light that is scattered forward from the object plane 49. Two independently adjustable, orthogonal shutters laminated in close proximity to the position of the field keeper 9 of Figure 7 are shown in Figure 7f. The aperture, a sector formed by two shutters, can be displaced outside the optical axis BB unlike the sector formed by the semicircular masks of Figure 7d. A unique mask, in the position of the field keeper 9, controlled by selective polarization of scattered light passing through a polymerization film, and electrically polarized liquid crystals as on a transmission LCD (liquid crystal display), is used. to block, through cross polarization, the propagation of light through the LCD along the optical axis BB. A singular mask may be substituted for any or all of the described forms of previously described openings without preference. Choosing the mask effectively selects the bending angles that detector 5 will eventually process. Alternatively, when only the angle and / or intensity of the scattered or emitted light should be measured from the object plane 49 and no image needs to be formed of the scattering particle (s), as in the case of the presence of particles. or fluorescence, then an image arrangement such as a CCD or CMOS image plane sensor is substituted for field holder 9 as shown in Figure 7g. Light impinging on the image plane sensor pixels in this way is discriminated by the scatter or emission angle since a dopixel image is formed on the surface of the concave-convex lens 1 as the field-holding image 9 '. Using optical pathways having multiple sensing pathways as shown in Figure 6, multiple masks can be used having different masking areas, whereby different dispersion angle measurements for the particles can be made simultaneously.

A Figura 8 é um diagrama de blocos do Ieiaute ótico da área de visualização domeio de suspensão em uma modalidade exemplar da invenção. A luz a partir da fonte de luz10 se propaga como raio marginal 53 para a lente de entrada 6 para formar um cáustico deiluminação ou imagem focalizada da fonte do plano de objeto 49. A luz não-dispersa ou ab-sorvida continua ao longo da via ótica AA para a lente de saída 7 onde a partir da luz não-absorvida não-dispersa pela matéria particulada é retransmitida para a superfície interna 12da esfera de integração 11 através do orifício de entrada 15. Alternativamente as lentes 6 e7 não precisam ter potência ótica no caso onde a luz sendo emitida para o meio de suspen-são é colimada ou focalizada e o ângulo subtendido para a esfera de integração é pequeno.As lentes 6 e 7 podem ser completamente removidas no caso em que o meio de suspensãonão precisa ser isolado dos elementos externos do dispositivo, por exemplo, quando as par-tículas são suspensas no ar ou em algum outro gás ou vapor.Figure 8 is a block diagram of the optical layout of the suspension display area in an exemplary embodiment of the invention. Light from light source 10 propagates as marginal radius 53 to the input lens 6 to form a caustic illumination or focused image of the object plane source 49. Undispersed or absorbed light continues along the pathway. AA to the output lens 7 where from the unabsorbed light not scattered by the particulate matter is relayed to the inner surface 12 of the integrating sphere 11 through the inlet port 15. Alternatively lenses 6 and 7 need not have optical power where the light being emitted to the suspension medium is collimated or focused and the subtended angle to the integrating sphere is small. Lenses 6 and 7 can be completely removed in case the suspension medium need not be isolated. external elements of the device, for example when the particles are suspended in air or some other gas or vapor.

Em uma modalidade exemplar da invenção, várias vias de iluminação podem serusadas. A Figura 9 é um diagrama de blocos de um sistema de medição de partículas utili-zando uma pluralidade de vias de fonte de luz em uma modalidade exemplar da invenção. AFigura 9 tem fontes de luz 10, 10A e 10B projetando iluminação ao longo do eixo ótico 52,52A, 52B. Em uma modalidade exemplar da invenção a fonte de luz 10, 10A e 10B não pre-cisa ter a mesma emissão espectral ou pode ter comprimento(s) de onda selecionado deemissão por intermédio da introdução de material de filtro ótico ao longo do eixo ótico 52,52A, 52B, ou mediante seleção justa de materiais óticos ou revestimentos usados para aslentes 6, 6A, 6B, ou lentes 7, 7A e 7B.In an exemplary embodiment of the invention, various lighting pathways may be used. Figure 9 is a block diagram of a particle measurement system using a plurality of light source pathways in an exemplary embodiment of the invention. Figure 9 has light sources 10, 10A, and 10B projecting illumination along the optical axis 52.52A, 52B. In an exemplary embodiment of the invention the light source 10, 10A and 10B need not have the same spectral emission or may have emission selected wavelength (s) by introducing optical filter material along the optical axis 52. , 52A, 52B, or upon fair selection of optical materials or coatings used for lenses 6, 6A, 6B, or lenses 7, 7A, and 7B.

Outro aspecto da presente invenção é a capacidade de introduzir luz na via(s) dedetecção de uma quantidade ou percentagem conhecida de modo a facilitar a calibração ouverificação da prontidão operacional do dispositivo sem disrupção para o fluxo ou correntede partículas. Uma calibração ou verificação não-disruptiva é realizada pela introdução deluz dentro do campo de visão do meio ótico de detecção ao longo do eixo ótico BB no planode imagem do detentor de campo 9', sinônima da superfície de lente côncavo-convexa 1,conforme mostrado na Figura 10. O guia de onda anular 60, de plástico transparente, vidro,ou outros materiais adequados, transporta luz a partir da segunda fonte de luz 56 ao longodo eixo ótico 59 entre as duas superfícies por intermédio de Reflexão Interna Total (TIR)1 apartir da borda externa do guia de onda anular 60 para a borda interna do guia de onda anu-lar 60. A borda interna do guia de onda anular 60 pode ser preferivelmente esmerilhada,gravada, ou revestida de modo a dispersar a luz, ao longo do eixo ótico BB, como um anelde raios marginais para formar uma imagem de guia de onda anular 60 no detentor de cam-po 9 e subseqüentemente incide igualmente no detector de partícula 5 uma vez que o detec-tor de partículas está no conjugado infinito da lente 4. Permitindo seletivamente que a se-gunda fonte de luz 56 emita luz em uma intensidade conhecida, mediante provisão de meioelétrico ou mecânico, a luz é introduzida ao longo do eixo ótico BB em adição à luz dispersaou emitida a partir das partículas estimuladas pela fonte de luz 10. Como a luz introduzidapela fonte de luz 10 deve se deslocar através do meio de suspensão, a luz é afetada pelaconcentração de partículas no meio de suspensão por intermédio de absorção, dispersão, eemissão de luz da mesma maneira como a luz transmitida a partir da fonte de luz 10 para odetector de transmissão 17. A relação da quantidade de luz transmitida para o detector 17 apartir da fonte de luz 10 para a quantidade de luz transmitida a partir da segunda fonte deluz 56 para o detector de partícula 5 é constante desde que a fonte de luz 10 e a segundafonte de luz 56 emitam em uma intensidade constante e que todas as superfícies óticas se-jam degradadas de forma semelhante. Existe uma condição anormal como resultado da re-lação do valor estabelecido estar em desvio em mais do que uma quantidade prescrita demodo a garantir a ação ou para correção da condição anormal ou para compensar a relaçãode modo a restaurar a relação ao valor estabelecido.Another aspect of the present invention is the ability to introduce light into the detecting pathway (s) of a known amount or percentage to facilitate calibration or verification of the operational readiness of the device without disruption to the flow or current of particles. A non-disruptive calibration or verification is performed by introducing deluz into the field of view of the sensing optics along the BB optical axis in the field detector image plane 9 ', synonymous with the concave-convex lens surface 1 as shown. Fig. 10. Annular waveguide 60 of clear plastic, glass, or other suitable materials carries light from the second light source 56 to the optical axis 59 between the two surfaces by Total Internal Reflection (TIR). 1 from the outer edge of the annular waveguide 60 to the inner edge of the annular waveguide 60. The inner edge of the annular waveguide 60 may preferably be ground, etched, or coated to disperse light as along the optical axis BB, as a marginal ray ring to form an annular waveguide image 60 in the field holder 9 and subsequently also focuses on the particle detector 5 since the particle detector the cells is in the infinite conjugate of lens 4. By selectively allowing the second light source 56 to emit light at a known intensity, by means of mechanical or electrical provision, light is introduced along the optical axis BB in addition to scattered or emitted light. from the particles stimulated by the light source 10. As light introduced by the light source 10 must travel through the suspending medium, light is affected by the concentration of particles in the suspending medium through absorption, scattering, and light emission from the suspension. same way as light transmitted from light source 10 to transmit detector 17. The ratio of the amount of light transmitted to detector 17 from light source 10 to the amount of light transmitted from second source light 56 to particle detector 5 is constant as long as light source 10 and second light source 56 emit at a constant intensity and all optical surfaces similarly degraded. There is an abnormal condition as a result of the stated value being deviating by more than a prescribed amount in order to warrant action or to correct the abnormal condition or to compensate for the relationship to restore the established value.

Como as lentes 3 e 4 retransmitem uma imagem a partir de dentro da lente decampo 2 também é possível utilizar esse arranjo para optar por um material ou construçãopara lentes de campo 2 que parcialmente dispersam mediante o campo elétrico aplicado ououtro estímulo que fazem com que a lente de campo 2 mude as características óticas para oobjetivo de modo a redirecionar a luz emitida para a borda da lente de campo 2 por intermé-dio de dispersão ou emitir a luz dentro da lente de campo 2 ao longo do eixo ótico BB e des-se modo incidir sobre o detector de partícula 5. Esse arranjo tem a vantagem da luz dispersaou emitida ser livre e não transmitida através do meio de suspensão e não é afetada porpelículas ou deposições biológicas de materiais que entram em contato com o meio de sus-pensão, desse modo resultando em uma fonte de calibração ou verificação mais estável ereproduzível.As lenses 3 and 4 relay an image from within field lens 2 it is also possible to use this arrangement to opt for a material or construction for field lenses 2 which partially disperse upon the applied electric field or other stimulus that causes the lens change the optical characteristics to the objective in order to redirect the light emitted to the edge of the field lens 2 by scattering or emit the light within the field lens 2 along the optical axis BB and then focus on the particle detector 5. This arrangement has the advantage that scattered or emitted light is free and not transmitted through the suspending medium and is not affected by films or biological depositions of materials coming into contact with the suspending medium, thereby resulting in a more stable and reproducible calibration or verification source.

Alternativamente a luz pode ser introduzida, ao longo do eixo ótico BB, através deuma porção ou abertura central não-revestida 58 no revestimento ótico da superfície conve-xa da lente côncavo-convexa 1 conforme mostrado na Figura 11. Uma imagem da segundafonte de luz 56 é trazida para foco na superfície côncava da lente côncavo-convexa 1 sinô-nima com a imagem 9' do detentor de campo 9, pela lente 57 através da abertura centralnão-revestida 58 na lente côncavo-convexa 1. O esquema alternativo para a introdução deluz a partir de uma segunda fonte de luz difere do método previamente descrito da Figura 10uma vez que nenhum irradiador físico está presente na superfície côncava da lente cônca-vo-convexa 1, porém, em vez disso, uma imagem da segunda fonte de luz 56, e aquela daluz compreendida de raios principais e não raios marginais. A luz incidindo no detector departícula 5, contudo, não é distinguível em resultado entre o método da introdução de luz daFigura 10 e Figura 11 uma vez que ambos efetivamente emitem luz no plano de imagem 9'do detentor de campo 9 dentro do campo de visada do meio ótico de detecção ao longo doeixo ótico BB.Alternatively, light may be introduced along the optical axis BB through an uncoated central portion or aperture 58 into the optical coating of the convex surface of the concave-convex lens 1 as shown in Figure 11. An image of the second light source 56 is brought into focus on the concave surface of the concave convex lens 1 synonymous with the 9 'image of the field holder 9 by the lens 57 through the uncoated aperture 58 on the concave convex lens 1. The alternative scheme for Light introduction from a second light source differs from the previously described method of Figure 10 in that no physical radiator is present on the concave surface of the concave-convex lens 1, but instead an image of the second light source 56, and that light comprised of main rays and not marginal rays. Light falling on the department 5 detector, however, is not distinguishable as a result between the light input method of Figure 10 and Figure 11 since both effectively emit light in the image plane 9 'of the field keeper 9 within the field of view. of the optical means of detection along the optical axis BB.

Outro meio para introduzir luz, ao longo do eixo ótico BB, com o propósito de cali-bração ou verificação de prontidão operacional é revelado para a presente invenção sem anecessidade de uma segunda fonte de luz mostrada na Figura 12. A luz a partir da fonte deluz 10 é emitida, ao longo do eixo ótico BB1 através da lente de entrada 6 e lente de saída 7através da abertura de entrada 15 ao longo da esfera de integração 13 para incidir na super-fície interna 12 da esfera de integração 11. A luz é refletida de forma difusa por múltiplasincidências entre a superfície interna 12 da esfera de integração para emergir ao longo doeixo 55 na abertura de saída 16 da esfera de integração 11. A superfície ótica 62, como e-xemplo é selecionável pela rotação em torno do eixo de rotação 63 com ao menos uma su-perfície de transmissão ou abertura 64 e ao menos uma área de reflexão 62 é posicionadaalém da abertura de saída 16 do hemisfério de integração 13 para refletir a luz substancial- mente em 90 graus em relação ao eixo ótico 55 ao longo do eixo ótico 68 ou para transmitira luz ao longo do eixo ótico 55 dependendo do alinhamento da abertura 64 ou da área dereflexão 62 em relação ao eixo ótico 55. O posicionamento da superfície de reflexão 62, aolongo do eixo ótico 55, reflete a luz emergindo a partir da abertura de saída 16 para incidirno detector de transmissão 17 posicionado ao longo do eixo ótico 68, desse modo uma me-dida da luz transmitida a partir da fonte de luz 10 é averiguada. O posicionamento da abertu-ra 64 ao longo do eixo ótico 55 permite a transmissão de luz, ao longo do eixo ótico BB, a-través da abertura central 58 da lente côncavo-convexa 1 mediante retransmissão da luzemitida a partir da abertura de saída 16 através do detentor de abertura 65, lente 66, fibraótica 67, e lente 57. Uma imagem da extremidade da fibra ótica 67 é formada na superfíciecôncava da lente côncavo-convexa 1 através da abertura central 58, sinônima da imagem 9'do detentor de campo 9 para incidir sobre o detector de partícula 5 em proporção à luz de-tectada pelo detector de transmissão 17 por intermédio da lente de campo 2, e lente 3, de-tentor de campo 9, e lente 4.Another means for introducing light along the BB optical axis for the purpose of calibration or operational readiness is disclosed for the present invention without the need for a second light source shown in Figure 12. Light from the source deluz 10 is emitted along the optical axis BB1 through the input lens 6 and output lens 7 through the input aperture 15 along the integrating sphere 13 to focus on the inner surface 12 of the integrating sphere 11. The light is diffusely reflected by multiple coincidences between the inner surface 12 of the integrating sphere to emerge along axis 55 at the outlet opening 16 of the integrating sphere 11. Optical surface 62, as an example is selectable by rotation about the axis 63 with at least one transmission surface or aperture 64 and at least one reflection area 62 is positioned beyond the outlet aperture 16 of the integrating hemisphere 13 to reflect light substantially 90 degrees from optical axis 55 along optical axis 68 or to transmit light along optical axis 55 depending on the alignment of aperture 64 or deflection area 62 relative to optical axis 55. The positioning of the reflection surface 62 along the optical axis 55 reflects light emerging from the outlet aperture 16 to focus on the transmitter detector 17 positioned along the optical axis 68, thereby a measure of the light transmitted from it. of light source 10 is ascertained. Positioning aperture 64 along optical axis 55 allows light to be transmitted along optical axis BB through the central aperture 58 of concave-convex lens 1 by relaying light emitted from exit aperture 16 through aperture holder 65, lens 66, fiber optic 67, and lens 57. An image of the fiber optic end 67 is formed on the concave surface of the concave-convex lens 1 through the central aperture 58, synonymous with the field holder image 9 ' 9 to focus on the particle detector 5 in proportion to the light detected by the transmitter detector 17 via the field lens 2 and lens 3, field detector 9 and lens 4.

Claims

A metering system characterized by: a light source (10) configured to provide light along a first axis, a lens system (3, 4) aligned along the second axis and having a first focus near the first axis and where the second axis is different from the first axis, a sensor (5) located on the second axis in a second lens system focus (3, 4) and configured to detect scattered light near the first focus; located on the second axis and configured to limit the light reaching the sensor (5) to a predetermined scatter angle.

Metering system according to claim 1, characterized in that the mask (9) is a variable mask.

Measurement system according to claim 2, characterized in that the variable mask (9) is configured to maintain a constant amplitude.

Metering system according to claim 2, characterized in that the variable mask (9) comprises a transmission LCD.

Measurement system according to claim 1, characterized in that the mask (9) is symmetrical about the second axis.

Metering system according to claim 1, characterized in that the mask (9) is in the form of a shutter.

Metering system according to Claim 1, characterized in that the mask (9) is comprised of multiple apertures.

Measurement system according to claim 7, characterized in that the multiple openings are rotated about the second axis independently.

Metering system according to claim 1, characterized in that the mask (9) is rotated about the second axis.

Metering system according to claim 1, characterized in that the mask (9) is configured such that the sensor (5) detects the selected light from the following: rear scattered light, scattered light front, or side scattered light.

Metering system according to Claim 1, characterized in that it further comprises: a plurality of masks (9) located adjacent to the second axis and configured to be exchanged by the mask (9) located on the second axis.

Measurement system according to claim 1, characterized in that the first axis is perpendicular to the second axis.

Metering system according to Claim 1, characterized in that the lens system (3, 4) further comprises: a concave-convex lens (1) with a reflective surface.

A metering system according to claim 1 further comprising: a field lens (2) configured to focus an image of the mask (9) over a first surface of a reflective element (1) in the lens (3, 4).

Measurement system according to claim 1, characterized in that the scattered light is generated from suspended particles in a medium located near the first focus.

A method of operating a metering system, characterized by comprising: illuminating a volume with a light source along a first axis, aligning a lens system along a second axis with the first focus located within the volume. and where the second axis is different from the first axis; locate a sensor on a second lens system focus on the second axis and where the sensor is configured to detect scattered light near the first focus; locate a mask on the second axis where the mask is configured to limit light reaching the sensor at a predetermined scatter angle.

Method of operating a metering system according to claim 16, characterized in that the mask is a variable mask.

Method of operating a metering system according to claim 17, characterized in that the variable mask is configured to maintain a constant range.

Method of operating a metering system according to claim 17, characterized in that the variable mask comprises a transmitting LCD.

Method of operating a measuring system according to claim 16, characterized in that the mask is symmetrical about the second axis.

Method of operating a metering system according to claim 16, characterized in that the mask is in the form of a shutter.

Method of operating a metering system according to claim 16, characterized in that the mask is comprised of multiple apertures.

Method of operating a measuring system according to claim 22, characterized in that the multiple openings are rotated about the second axis independently.

Method of operating a metering system according to claim 16, characterized in that the mask is rotated about the second axis.

Method of operating a metering system according to claim 16, characterized in that the mask is configured such that the sensor detects the selected light from the following: rear scattered light, front scattered light , side scattered light.

A method of operating a metering system as claimed in claim 16 further comprising: exchanging one of a plurality of masks located adjacent the second axis with the mask located on the second axis.

Method of operating a measuring system according to claim 16, characterized in that the first axis is perpendicular to the second axis.

The method of operating a metering system according to claim 16 further comprising: forming the first focus with a concave-convex lens with a concave reflective surface.

A method of operating a metering system according to claim 16, characterized in that the scattered light is generated from suspended particles in a medium located near the first focus.

A metering system, characterized in that it comprises: a means for illuminating a volume along a first axis, a means for detecting scattered light in the volume of light illuminated along a second axis, a means for limiting the detected light to a predetermined angle of dispersion.