BR112019020370B1

BR112019020370B1 - THYRISTOR VALVE TEST SYSTEM BASED ON COOPERATION OF SOFTWARE LOGIC FUNCTIONS

Info

Publication number: BR112019020370B1
Application number: BR112019020370-2A
Authority: BR
Inventors: Yang FAN; Liu Lei; Zhang Xiang; Zhou Chen; Pan Weiming; Fang Taixun
Original assignee: Nr Electric Co., Ltd; Nr Engineering Co., Ltd
Priority date: 2017-07-10
Filing date: 2018-06-20
Publication date: 2024-04-09

Abstract

"SISTEMA DE TESTE DE VÁLVULA DE TIRISTOR BASEADO NA COOPERAÇÃO DAS FUNÇÕES LÓGICAS DE SOFTWARE" trata-se de um sistema de teste de válvula de tiristor (5) baseado na cooperação de funções lógicas do software, sendo que o sistema de teste compreende: uma válvula de tiristor (5) a ser testada, um VBE (3) e um testador (4), e o VBE (3) sendo um modo de teste determinado, o testador (4) proporciona três etapas para cada item de teste. A válvula de tiristor (5) a ser testada e o VBE (5) são conectados pelas fibras óticas (2), e a válvula de tiristor (5) a ser testada e o testador (4) são conectados pelos cabos (2), não existindo conexão entre o VBE (3) e o testador (4)."THYRISTOR VALVE TEST SYSTEM BASED ON THE COOPERATION OF SOFTWARE LOGIC FUNCTIONS" is a thyristor valve test system (5) based on the cooperation of software logic functions, the test system comprising: a thyristor valve (5) to be tested, a VBE (3) and a tester (4), and the VBE (3) being a determined test mode, the tester (4) provides three steps for each test item. The thyristor valve (5) to be tested and the VBE (5) are connected by optical fibers (2), and the thyristor valve (5) to be tested and the tester (4) are connected by cables (2), there is no connection between the VBE (3) and the tester (4).

Description

Technical Field

[001] A presente invenção refere-se a um sistema de teste e um método de teste correspondente para testes funcionais de uma válvula de tiristor em locais de instalação e integrados ao campo de componentes eletrônicos de potência.[001] The present invention relates to a test system and a corresponding test method for functional testing of a thyristor valve in installation locations and integrated into the field of power electronic components.

Fundamentals

[002] O sistema de disparo de transmissão DC de ultraalta voltagem inclui, em geral, um sistema de proteção de controle (PCP), um circuito eletrônico de base valvular (VBE) e uma unidade de controle de tiristor (TCU), sendo que o sistema de proteção de controle é responsável pela geração de envio de um pulso de controle (CP) ao VBE, e o VBE é uma ponte entre o PCP e o TCU, a qual é responsável pela conversão do CP em um pulso de acionamento (FP) sob certas condições e o envio do FP ao TCU. O TCU consiste de um dispositivo para a monitoração, controle, e proteção junto a torre de válvula de conversão. A função de monitoração do TCU inclui, principalmente: quando a voltagem do tiristor é maior do que um certo valor limítrofe, o envio pelo TCU de um pulso de indicação (P) com uma largura de pulso 1 ao VBE; quando o nível do tiristor apresenta um acionamento de proteção, o TCU envia um IP com uma largura de pulso 2 ao VBE. A função de controle refere-se principalmente ao fato de que quando o TCU recebe o FP, ele envia um sinal de acionamento para a ponte de tiristor ligar o tiristor. A função de proteção inclui, principalmente: quando o nível de tiristor apresenta- se em um período de recuperação reverso com a súbita aplicação de uma voltagem de impulso de amplitude 1, do envio pelo TCU de um sinal de acionamento para a ponte de tiristor, ligar o tiristor; em qualquer tempo quando o nível de tiristor é aplicado com uma voltagem de amplitude 2, o TCU envia um sinal de disparo ao nível de ponte de tiristor para ligar o tiristor.[002] The ultrahigh voltage DC transmission trigger system generally includes a control protection system (PCP), a valve base electronic circuit (VBE) and a thyristor control unit (TCU), with the control protection system is responsible for generating a control pulse (CP) to be sent to the VBE, and the VBE is a bridge between the PCP and the TCU, which is responsible for converting the CP into a trigger pulse ( FP) under certain conditions and sending the FP to the TCU. The TCU consists of a device for monitoring, controlling, and protecting the conversion valve tower. The monitoring function of the TCU mainly includes: when the thyristor voltage is greater than a certain threshold value, the TCU sending an indication pulse (P) with a pulse width of 1 to the VBE; When the thyristor level presents a protective trigger, the TCU sends an IP with a pulse width of 2 to the VBE. The control function mainly refers to the fact that when the TCU receives the FP, it sends a drive signal to the thyristor bridge to turn on the thyristor. The protection function mainly includes: when the thyristor level is in a reverse recovery period with the sudden application of an impulse voltage of amplitude 1, the TCU sending a drive signal to the thyristor bridge, turn on the thyristor; At any time when the thyristor level is applied with a voltage of amplitude 2, the TCU sends a trigger signal to the thyristor bridge level to turn on the thyristor.

[003] Essas funções de monitoração, controle e proteção baseadas no TCU apresentam um impacto significativo na operação da válvula de conversão. No local de instalação onde é aplicado a válvula de tiristor, torna-se necessário executar-se teste funcionais especiais na válvula de tiristor antes da mesma ser colocada em uso, após a inspeção anual ou da falha de equipamento. As funções de proteção e controle do TCU podem ser verificadas pelos sinais elétricos ao nível do tiristor. A função de monitoração do TCU necessita ser verificada pelo sinal ótico retornado. Quando realizando-se o teste no local de instalação, a fibra depositada e todas as conexões entre os TCUs e os VBEs terão sido completadas. Portanto, para os testes realizados no passado, as fibras conectadas ao TCU e ao VBE, em geral, são puxadas para fora, e em seguida, o TCU e o testador são conectados com outra fibra, conforme mostrado na Figura 1, de modo que o sinal ótico possa ser transmitido diretamente entre o TCU e o testador atendendo às necessidades do teste. Entretanto, existe um grande risco em tal abordagem, ou seja, quando testando-se o nível de cada tiristor venham a ser requeridas, pelo menos, duas inserções de fibra e remoções no TCU. Caso os testes dos níveis de tiristor não sejam bem sucedidos, a fibra ótica pode ser inserida e removida múltiplas vezes durante o processo de inspeção, e cada inserção e remoção da fibra ótica pode provocar contaminação e desgaste na interface ótica da fibra ótica e no TCU, afetando a transmissão do sinal ótico no passado, nos locais de instalação, vindo a ocorrer casos aonde após a finalização do teste funcional na válvula de tiristor pelo testador e na recuperação da fibra original, encontrar- se uma falha no trajeto ótico em testes posteriores. Uma vez que todos os trajetos óticos sejam testados uniformemente após a finalização da deposição da fibra no estágio inicial, tem-se a indicação da falha no trajeto ótico ser causada pelas repetidas inserções e remoções durante o teste da válvula de tiristor pelo testador, e a carga de trabalho do teste do trajeto ótico ser enorme, sendo impossível executar-se um novo teste, de modo que o trajeto de fibra danificado é deixado de fora no processo de teste subsequente, provocando um impacto.[003] These TCU-based monitoring, control and protection functions have a significant impact on the operation of the conversion valve. At the installation site where the thyristor valve is applied, it is necessary to carry out special functional tests on the thyristor valve before it is put into use, after the annual inspection or after equipment failure. The protection and control functions of the TCU can be verified by electrical signals at the thyristor level. The TCU monitoring function needs to be checked by the returned optical signal. When testing at the installation site, the deposited fiber and all connections between the TCUs and VBEs will have been completed. Therefore, for tests performed in the past, the fibers connected to the TCU and the VBE are generally pulled out, and then the TCU and the tester are connected with another fiber, as shown in Figure 1, so that the optical signal can be transmitted directly between the TCU and the tester, meeting the test needs. However, there is a great risk in such an approach, that is, when testing the level of each thyristor, at least two fiber insertions and removals in the TCU will be required. If the thyristor level tests are unsuccessful, the optical fiber may be inserted and removed multiple times during the inspection process, and each insertion and removal of the optical fiber may cause contamination and wear at the optical interface of the optical fiber and the TCU. , affecting the transmission of the optical signal in the past, at installation sites, with cases occurring where, after completing the functional test on the thyristor valve by the tester and recovering the original fiber, a flaw in the optical path is found in subsequent tests . Since all optical paths are tested uniformly after the completion of fiber deposition in the initial stage, it is indicated that the optical path failure is caused by the repeated insertions and removals during testing of the thyristor valve by the tester, and the The workload of optical path testing is enormous, making it impossible to perform a new test, so the damaged fiber path is left out in the subsequent testing process, causing an impact.

[004] O estado da técnica revela exemplos como do documento CN103219798, que é direcionado para um sistema de controle de válvula coverter de transmissão em corrente contínua, que é formado por um sistema de operação e um sistema hot spare que estão em redundância. Ademais, o estado da técnica também apresenta o documento CN102035189, o qual divulga um sistema de monitoramento e proteção para um tiristor de teste de um módulo de válvula conversora compreendendo equipamento eletrônico de tiristor TE e equipamento eletrônico baseado em válvula VBE.[004] The state of the art reveals examples such as document CN103219798, which is directed to a direct current transmission coverter valve control system, which is formed by an operation system and a hot spare system that are in redundancy. Furthermore, the prior art also presents document CN102035189, which discloses a monitoring and protection system for a test thyristor of a converter valve module comprising TE thyristor electronic equipment and VBE valve-based electronic equipment.

summary

[005] O problema a ser resolvido pela presente invenção, em vista dos empecilhos do sistema de teste acima e do método de teste, é o de proporcionar uma solução sem haver a inserção e remoção das fibras óticas conectadas entre os VBEs e os TCUs, atendendo-se a todas funções de teste e requisitos de testes via cooperação mútua entre o testador e o VBE.[005] The problem to be solved by the present invention, in view of the obstacles of the above test system and the test method, is to provide a solution without inserting and removing the optical fibers connected between the VBEs and the TCUs, meeting all test functions and testing requirements via mutual cooperation between the tester and the VBE.

[006] A invenção proporciona um sistema de teste para uma válvula de tiristor de acordo com a reivindicação 1, o sistema de teste compreendendo: uma válvula de tiristor testada, um testador e um VBE.[006] The invention provides a test system for a thyristor valve according to claim 1, the test system comprising: a tested thyristor valve, a tester and a VBE.

[007] A válvula tiristor testada e o VBE são conectados através de fibras ópticas, o VBE sendo configurado para transmitir um pulso de disparo FP para a válvula tiristor testada e receber um pulso de indicação IP da válvula tiristor testada através das fibras ópticas, em que a válvula tiristor testada e o testador são conectados através de cabos, que são usados para que o testador seja configurado para aplicar uma tensão de teste à válvula tiristor testada e detectar a tensão e a corrente do tiristor através dos cabos.[007] The tested thyristor valve and the VBE are connected via optical fibers, the VBE being configured to transmit an FP trigger pulse to the tested thyristor valve and receive an IP indication pulse from the tested thyristor valve via the optical fibers, in that the tested thyristor valve and the tester are connected through cables, which are used for the tester to be configured to apply a test voltage to the tested thyristor valve and detect the thyristor voltage and current through the cables.

[008] Sendo que a válvula de tiristor testada compreende pelo menos um nível de tiristor, cada nível de tiristor compreende pelo menos de um tiristor, um TCU e um circuito auxiliar conforme o necessário.[008] Since the tested thyristor valve comprises at least one thyristor level, each thyristor level comprises at least one thyristor, a TCU and an auxiliary circuit as necessary.

[009] Sendo que o VBE apresenta um modo de teste determinado: 1. envio de um FP ao TCU a cada vez que a unidade de controle de válvula recebe N consecutivos IP1; 2. após o recebimento do IP2, a unidade de controle de válvula não envia o FP ao TCU quando são recebidos os seguintes N consecutivos IP1; 3. caso a unidade de controle de válvula não receba qualquer IP dentro de um certo tempo T, calcula-se a quantidade de todos IP a partir do zero.[009] Since the VBE presents a determined test mode: 1. sending an FP to the TCU each time the valve control unit receives N consecutive IP1; 2. after receiving IP2, the valve control unit does not send the FP to the TCU when the following consecutive N IP1 are received; 3. If the valve control unit does not receive any IP within a certain time T, the quantity of all IP is calculated from scratch.

[010] Preferivelmente, cada item de teste é dividido em três etapas: 1. aplicação de uma voltagem senoidal, sendo que o testador detecta se o tiristor encontra-se ligado durante este estágio, e determina se todo o circuito de nível de tiristor e os trajetos óticos estão funcionando normalmente; 2. aplicação de uma voltagem senoidal ou de uma voltagem de sobretensão ou a combinação de uma voltagem senoidal e uma voltagem de sobretensão correspondendo ao teor do projeto de teste, sendo que o testador detecta a voltagem de tiristor e a corrente neste estágio, e determina se a válvula de tiristor no projeto de teste atende aos requisitos elétricos; 3. aplicação de uma voltagem senoidal, sendo que o testador detecta se o tiristor encontra-se ligado neste estágio, e determina se o sinal ótico enviado pela válvula de tiristor ao VBE no estágio 2 encontra-se correto.[010] Preferably, each test item is divided into three stages: 1. application of a sinusoidal voltage, with the tester detecting whether the thyristor is on during this stage, and determining whether the entire thyristor level circuit and optical paths are functioning normally; 2. application of a sinusoidal voltage or an overvoltage voltage or the combination of a sinusoidal voltage and an overvoltage voltage corresponding to the content of the test design, and the tester detects the thyristor voltage and current at this stage, and determines whether the thyristor valve in the test design meets the electrical requirements; 3. application of a sinusoidal voltage, with the tester detecting whether the thyristor is turned on at this stage, and determining whether the optical signal sent by the thyristor valve to the VBE in stage 2 is correct.

[011] Sendo que a válvula de tiristor testada e o VBE são conectados por fibras, a válvula de tiristor testada e o testador são conectados por cabos, e não existe conexão entre o VBE e o testador.[011] Since the tested thyristor valve and the VBE are connected by fibers, the tested thyristor valve and the tester are connected by cables, and there is no connection between the VBE and the tester.

[012] Em comparação com os sistemas de testes existentes e os métodos de teste, a solução técnica proporcionada pela presente invenção não necessita de ninguém para a inserção e remoção de cada fibra no teste de campo, necessitando somente de ajustar o VBE e o modo de teste, e utilizar as fibras existentes entre o VBE e o TCU, e conectando-as, uma a uma, do testador à válvula de tiristor testada. Durante o teste, cada item é dividido em três etapas, as quais podem detectar o IP do trajeto ótico, o circuito e o TCU, e desempenhar o teste sem aumento do equipamento de teste de campo ou da carga de trabalho do teste, e finalizar o teste dentro de uma maneira confiável e compreensiva ao mesmo tempo. Especialmente para projetos apresentando uma grande quantidade de tiristores, sendo isto algo altamente prático.[012] Compared to existing test systems and test methods, the technical solution provided by the present invention does not require anyone to insert and remove each fiber in the field test, only needing to adjust the VBE and the mode test, and use the existing fibers between the VBE and the TCU, and connecting them, one by one, from the tester to the tested thyristor valve. During the test, each item is divided into three steps, which can detect the optical path IP, circuit and TCU, and perform the test without increasing the field test equipment or test workload, and finish the test within a reliable and comprehensive manner at the same time. Especially for projects featuring a large number of thyristors, this is highly practical.

Brief Description of the Drawings

[013] A FIG. 1 consiste de um diagrama esquemático de um sistema de teste convencional para uma válvula de tiristor.[013] FIG. 1 consists of a schematic diagram of a conventional test system for a thyristor valve.

[014] A FIG. 2 consiste de um diagrama esquemático de um sistema de teste de tiristor de acordo com a presente invenção.[014] FIG. 2 consists of a schematic diagram of a thyristor test system in accordance with the present invention.

[015] A FIG. 3 consiste de um diagrama de projeção espacial de um sistema de teste de tiristor de acordo com a presente invenção.[015] FIG. 3 consists of a spatial projection diagram of a thyristor test system in accordance with the present invention.

[016] A FIG. 4 consiste de um fluxograma logístico de um modo de teste de um VBE de acordo com a presente invenção.[016] FIG. 4 consists of a logistical flowchart of a test mode of a VBE according to the present invention.

[017] A FIG. 5 consiste de um diagrama de etapas de um procedimento de teste de um testador de acordo com a presente invenção.[017] FIG. 5 consists of a step diagram of a testing procedure of a tester in accordance with the present invention.

Description of Modalities

[018] Tem-se a explicação e descrição adicional da presente invenção em conjunto com uma modalidade, porém o âmbito de proteção da presente invenção não fica restrito a isto.[018] There is an explanation and additional description of the present invention together with an embodiment, however the scope of protection of the present invention is not restricted to this.

[019] O sistema de teste proporcionado na modalidade é mostrado na FIG. 2, e compreende um testador 5, uma válvula de tiristor testada 4, e um VBE 3, sendo que a válvula de tiristor testada 4 e o VBE 3 são conectados entre si via somente duas fibras óticas que são usadas para a transmissão do FP e IP (um para a recepção e um para a transmissão), a válvula de tiristor testada 4 e o testador 5 são conectados entre si via somente dois cabos, os quais são usados para o testador 5 aplicar uma voltagem de teste junto a válvula de tiristor testada 4; não existe conexão entre o testador 5 e o VBE 3.[019] The test system provided in the embodiment is shown in FIG. 2, and comprises a tester 5, a tested thyristor valve 4, and a VBE 3, with the tested thyristor valve 4 and the VBE 3 being connected to each other via only two optical fibers that are used for transmission of the PF and IP (one for reception and one for transmission), the tested thyristor valve 4 and the tester 5 are connected to each other via only two cables, which are used for the tester 5 to apply a test voltage to the thyristor valve tested 4; there is no connection between tester 5 and VBE 3.

[020] A projeção espacial do sistema de teste provido na modalidade é apresentada na FIG. 3. A válvula de tiristor testada 4 é conectada ao VBE 3 localizado na sala de controle 6 através da fibra ótica 1. O testador 5 localiza-se no corredor de válvula 7, apresentando-se próximo da válvula de tiristor testada 4. O testador 5 é conectado à válvula de tiristor testada 4 via o cabo 2.[020] The spatial projection of the test system provided in the embodiment is shown in FIG. 3. The tested thyristor valve 4 is connected to the VBE 3 located in the control room 6 through optical fiber 1. The tester 5 is located in the valve corridor 7, close to the tested thyristor valve 4. The tester 5 is connected to the tested thyristor valve 4 via cable 2.

[021] Através da cooperação logística funcional, o VBE 3 e o testador 5 na modalidade podem atingir a precisão do sinal TCU IP sem haver a necessidade da conexão da fibra. O método é descrito especificamente como segue:[021] Through functional logistics cooperation, the VBE 3 and tester 5 in the mode can achieve the accuracy of the TCU IP signal without the need for fiber connection. The method is specifically described as follows:

[022] Em adição a função de acionamento normal, o VBE 3 apresenta um modo de teste exclusivo. Um técnico de bancada pode comutar o VBE 3 para o modo de teste via o estabelecimento de uma chave de controle ou por outra metodologia. No modo de teste, a logística funcional do VBE 3 é apresentada na Figura 4:[022] In addition to the normal trigger function, the VBE 3 features a unique test mode. A bench technician can switch the VBE 3 to test mode via setting a control switch or another methodology. In test mode, the functional logistics of VBE 3 are shown in Figure 4:

[023] A cada vez quando o VBE 3 recebe um IP apresentando uma largura menor do que 15 μs, o contador de retorno é incrementado por 1. Quando o valor de contagem é 10, caso o valor do contador auxiliar seja 0, o VBE 3 envia um FP à válvula de tiristor testada 4 e limpa o contador. Caso a válvula do contador auxiliar seja 1, o VBE 3 não envia um acionamento FP, e limpa diretamente todos os contadores;[023] Each time when the VBE 3 receives an IP with a width less than 15 μs, the return counter is incremented by 1. When the count value is 10, if the auxiliary counter value is 0, the VBE 3 sends an FP to the tested thyristor valve 4 and clears the counter. If the auxiliary counter valve is 1, VBE 3 does not send an FP trigger, and directly clears all counters;

[024] Quando o VBE 3 recebe um IP apresentando uma largura maior do que 15 μs, o contador auxiliar é incrementado por 1 e o contador de retorno é limpo;[024] When VBE 3 receives an IP having a width greater than 15 μs, the auxiliary counter is incremented by 1 and the return counter is cleared;

[025] Quando o VBE 3 não recebe o IP dentro de 2s, todos os contadores são limpos.[025] When VBE 3 does not receive the IP within 2s, all counters are cleared.

[026] O testador 5 aplica a voltagem em cada item de teste, podendo haver a execução dividida em três etapas, conforme mostrado na Figura 5;[026] Tester 5 applies voltage to each test item, with execution divided into three stages, as shown in Figure 5;

[027] No primeiro estágio, o testador 5 aplica uma voltagem senoidal de 15 ciclos neste estágio, o VBE 3 envia um acionamento FP até a válvula de tiristor testada 4. Caso todos os circuitos e trajetos óticos estejam normais, a válvula de tiristor testada 4 será ligada, o testador 5 detectará a corrente de tiristor neste estágio para determinar se todo o circuito de nível de tiristor e os trajetos óticos encontram-se funcionando normalmente;[027] In the first stage, tester 5 applies a sinusoidal voltage of 15 cycles. In this stage, VBE 3 sends an FP drive to the tested thyristor valve 4. If all circuits and optical paths are normal, the tested thyristor valve 4 will be turned on, tester 5 will detect the thyristor current at this stage to determine whether the entire thyristor level circuit and optical paths are operating normally;

[028] No segundo estágio, o testador 5 aplica uma voltagem senoidal ou uma voltagem de sobretensão ou a combinação de uma voltagem senoidal e de uma voltagem de sobretensão correspondendo ao teor do projeto de teste. Este estágio consiste do estágio principal do teste, aonde o testador 5 detecta a voltagem e a corrente do tiristor, e determina se a válvula de tiristor atende aos requisitos do teste deste item de teste em termos dos aspectos elétricos;[028] In the second stage, the tester 5 applies a sinusoidal voltage or an overvoltage voltage or the combination of a sinusoidal voltage and an overvoltage voltage corresponding to the content of the test design. This stage consists of the main test stage, where the tester 5 detects the voltage and current of the thyristor, and determines whether the thyristor valve meets the test requirements of this test item in terms of electrical aspects;

[029] No terceiro estágio, o testador 5 aplica uma voltagem senoidal de 15 ciclos. Neste estágio, o VBE 3 determina se envia um acionamento FP para a válvula de tiristor testada 4, de acordo com se está correto o sinal de alimentação recebido no segundo estágio. Neste estágio, o testador detecta se o tiristor encontra-se ligado, e determina se está correto o sinal ótico retornado ao VBE 3 pela válvula de tiristor testada 4 no segundo estágio.[029] In the third stage, tester 5 applies a sinusoidal voltage of 15 cycles. At this stage, VBE 3 determines whether to send an FP trigger to the tested thyristor valve 4, according to whether the power signal received in the second stage is correct. At this stage, the tester detects whether the thyristor is turned on, and determines whether the optical signal returned to the VBE 3 by the tested thyristor valve 4 in the second stage is correct.

[030] A invenção caracteriza-se pelo fato de todos os testes e requisitos de testes poderem ser atingidos pela cooperação em termos da função lógica entre o VBE e o testador, sem haver a inserção e remoção das fibras conectadas no campo.[030] The invention is characterized by the fact that all tests and testing requirements can be achieved by cooperation in terms of the logical function between the VBE and the tester, without inserting and removing the fibers connected in the field.

[031] Um especialista da área pode efetuar variações e modificações dentro do âmbito da invenção desde que não exceda o âmbito do quadro de reivindicações.[031] A specialist in the field may make variations and modifications within the scope of the invention as long as it does not exceed the scope of the claims table.

Claims

1. THYRISTOR VALVE TEST SYSTEM BASED ON THE COOPERATION OF SOFTWARE LOGIC FUNCTIONS, characterized by the fact that the test system comprises: - a tested thyristor valve (4), a tester (5) and a base electronic circuit valve (VBE) (3), with the tested thyristor valve (4) and the VBE (3) being connected via optical fibers (1), the VBE (3) being configured to transmit a drive pulse (FP) to the tested thyristor valve (4) and to receive an indication pulse (IP) from the tested thyristor valve (4) via the optical fibers (1); the tested thyristor valve (4) and the tester (5) are connected via cables (2), - wherein the tested thyristor valve (4) and the tester (5) are configured to apply a test voltage to the thyristor valve (4) and the tester (5) tested thyristor (4) and to detect thyristor voltage and cable current (2); where there is no connection between the VBE (3) and the tester (5); wherein the tested thyristor valve (4) includes at least one thyristor level, the thyristor level includes at least one thyristor, a thyristor control unit (TCU) and an auxiliary circuit; the TCU feeds back an IP1 to the VBE (3) when operating normally, and feeds an IP2 back to the VBE when being activated for protection; - the VBE (3) is provided with a corresponding test mode, and in the test mode: a. sending an FP to the TCU every time the VBE (3) receives N consecutive IP1; B. after receiving IP2, the VBE (3) does not send the FP to the TCU when receiving the next N consecutive IP1; w. if the VBE (3) does not receive any of the IPs within a certain time T, the quantity of IP1 and IP2 is calculated from scratch; - the tester (5) applies different voltages at different stages according to the test requirements.

2. THYRISTOR VALVE TEST SYSTEM BASED ON THE COOPERATION OF SOFTWARE LOGIC FUNCTIONS, according to claim 1, characterized by the fact that the application of differentiated voltages at different stages by the tester (5) in accordance with the test requirements referred to that the tester (5) is configured so that each test item comprises three steps: a. Application of a sinusoidal voltage, with the tester (5) detecting whether the thyristor is on during this stage, and determining whether the entire thyristor level circuit and optical paths are functioning normally; B. Application of a sinusoidal voltage or an overvoltage voltage or a combination of a sinusoidal voltage and an overvoltage voltage corresponding to the content of the test item, and the tester (5) detects the thyristor voltage and current at this stage, and determines whether the thyristor valve (4) in the test item meets the electrical requirements; w. Application of a sinusoidal voltage, with the tester (5) detecting whether the thyristor is turned on at this stage, and determining whether the optical signal sent by the thyristor valve (4) to the VBE (3) in step b is correct.