BR112017025624B1 - Método, sistema e aparelho para inspecionar bens, e, mídia legível por computador não transitória - Google Patents

Abstract

MÉTODO, SISTEMA E APARELHO PARA INSPECIONAR BENS, E, MÍDIA LEGÍVEL POR COMPUTADOR NÃO TRANSITÓRIA. Método e sistema para inspecionar bens. O método compreende as etapas de: obter uma imagem de transmissão de bens inspecionados; processar a imagem de transmissão para obter uma região suspeita; extrair características de textura local da região suspeita, e usar um modelo pré-criado para classificar as características de textura local da região suspeita de modo a obter um resultado de classificação; extrair características de formato de contorno da região suspeita e comparar as características de formato de contorno da região suspeita com um modelo padrão pré-criado de modo a obter um resultado de comparação; e sintetizar o resultado de classificação e o resultado de comparação para determinar que a região suspeita contém um material de número atômico alto.

Description

CAMPO TÉCNICO

[001] A presente invenção refere-se à detecção automática de um objeto suspeito em uma imagem de radiação, e mais particularmente, a métodos e sistemas para a inspeção de matérias de alto número atômico em um grande sistema de varredura de recipientes.

FUNDAMENTOS

[002] É de grande significância a repressão no transporte e deslocamento de matérias de alto número atômico, tais como materiais nucleares, armas nucleares e dispositivos de dispersão radioativa. Uma vez que o incidente de onze de setembro nos Estados unidos, a prevenção e o manuseio de ataques terroristas nucleares e radioativos se tornaram um problema de segurança social significativo nos países todos em todo o mundo têm de facear. Em comparação com outros ataques terroristas, enquanto os ataques terroristas com dispositivos nucleares feitos de forma grosseira acontecem em uma probabilidade relativamente baixa, as suas consequências serão muito severas, incluindo não somente casual maciças, mas também danos ao desenvolvimento econômico e mesmo pânicos e instabilidades da sociedade. Portanto, a vigilância de materiais nucleares para a produção de dispositivos nucleares tornou-se um problema de segurança nuclear que a sociedade global presta grande atenção.

[003] Uma vez que o início do século 21 há centenas de milhões de recipientes transferidos para todo o mundo a cada ano. Recentemente, o terrorismo se tornou cada vez maior e existem riscos cada vez mais altos de ataques terroristas nucleares e radioativos. Terroristas podem ocultar armas de destruição de massa ou dispositivos de dispersão radioativa em recipientes que carregam bens comerciais para transporte para o destino do ataque. Portanto, existe uma necessidade de inspeção de se existem quaisquer materiais nucleares ocultos, armas nucleares ou dispositivos de dispersão radioativa, de modo a reduzir riscos de segurança enquanto garantindo transportações comerciais rápidas e estáveis.

SUMÁRIO

[004] Em vista de um ou mais problemas na técnica anterior, a presente invenção provê um método e um sistema para inspeção de bens.

[005] De acordo com um aspecto da presente descrição, é apresentado um método para inspeção de bens. O método inclui as etapas de: obtenção de uma imagem de transmissão de bens inspecionadas; processamento da imagem de transmissão para obtenção de uma região suspeita; extrair características de textura local da região suspeita e classificar as características de textura local da região suspeita com base em um modelo pré-criado para obter um resultado de classificação; extraindo uma característica de formato de linha de contorno da região suspeita e comparar a característica de formato de linha de contorno com um gabarito padrão pré- criado para obter um resultado de comparação; e determinar que a região suspeita contém um grande número atômico com base no resultado da classificação e o resultado da comparação.

[006] Em algumas modalidades, o método inclui adicionalmente: obter informação de número atômico equivalente da região suspeita. A etapa de determinar inclui determinar que a região suspeita contém um grande número atômico com base no resultado da classificação, o resultado da comparação e a informação de número atômico equivalente.

[007] Em algumas modalidades, a etapa de processamento da imagem de transmissão para obter a região suspeita inclui: aperfeiçoamento de contraste da imagem de transmissão; realização de uma pluralidade de operações de binarização na imagem de transmissão melhorada por contraste; e derivar uma região conectada da imagem de transmissão binarizada e determinar uma borda da região conectada.

[008] Em algumas modalidades, a etapa de extração da característica de formato de linha de contorno da região suspeita inclui: derivação de uma linha de contorno da região suspeita utilizando um algoritmo de extração de borda e derivação de um (θ, p) curva de característica da linha de contorno.

[009] Em algumas modalidades, a etapa de comparar a característica de formato de linha de contorno com o gabarito padrão pré-criado inclui: cálculo de uma distância e uma consistência de amplitude entre θ, p) curva de característica da linha de contorno e do gabarito padrão e um valor de salto θ do (θ) curva de característica da linha de contorno; e comparação da distância, da consistência de amplitude e do valor de salto θ com respectivos limites.

[0010] Em algumas modalidades, uma linha de contorno de um objeto suspeito na região suspeita é obtida utilizando um algoritmo de extração de características de borda, o centroide de uma região encerrada pela linha de contorno é calculado, e em seguida a (θ, p) curva de característica da linha de contorno com relação ao centroide calculado como uma origem de coordenadas é derivada.

[0011] Em algumas modalidades, o método inclui adicionalmente: realce de uma região considerada como sendo o grande número atômico na imagem de transmissão.

[0012] Em um outro aspecto da presente descrição, é provido um sistema para inspeção de bens. O sistema inclui: um dispositivo de varredura de raios-X configurado para obter uma imagem de transmissão de bens inspecionadas; e um dispositivo de processamento de dados configurado para: processar a imagem de transmissão para obter uma região suspeita; extrair características de textura local da região suspeita e classificar as características de textura local da região suspeita com base em um modelo pré-criado para obter um resultado de classificação; extrair uma característica de formato de linha de contorno da região suspeita e comparar a característica de formato de linha de contorno com um gabarito padrão pré-criado para obter um resultado de comparação; e determinar que a região suspeita contém um grande número atômico com base no resultado da classificação e o resultado da comparação.

[0013] Em adicionalmente outra modalidade da presente invenção, é apresentado um aparelho para inspecionar bens. O aparelho inclui: meios para processar uma imagem de transmissão de bens inspecionadas para obter uma região suspeita; meios para extrair características de textura local da região suspeita e classificar as características de textura local da região suspeita com base em um modelo pré-criado para obter um resultado de classificação; meio para extrair uma característica de formato de linha de contorno da região suspeita e comparar a característica de formato de linha de contorno com um gabarito padrão pré-criado para obter um resultado de comparação; e meios para determinar que a região suspeita contém uma matéria de grande número atômico com base no resultado da classificação e o resultado da comparação.

[0014] Com as soluções acima, é possível inspecionar automaticamente um material de grande número atômico nos bens. Por exemplo, é possível determinar se existe qualquer material de grande número atômico oculto num recipiente, tais como materiais nucleares, armas nucleares ou dispositivos de dispersão radioativa. Deste modo, a carga de trabalho para detecção manual de imagem pode ser reduzida, tal que a eficiência de operação possa ser melhorada e detecções faltas ou falsas de regiões suspeitas do objeto podem ser reduzidas.

Breve descrição dos desenhos

[0015] Para entender a presente descrição de uma maneira melhor, breve descrição dos desenhos uma descrição detalhada da presente invenção será dada com referência aos desenhos a seguir, nos quais: a Figura IA e a figura 1B são diagramas esquemáticos, cada um dos quais mostra um sistema para inspecionar bens de acordo com uma modalidade da presente invenção; a figura 2 é um fluxograma que ilustra um método para inspecionar bens de acordo com uma modalidade da presente invenção; a figura 3 é um fluxograma que ilustra um processo para criar um modelo de classificação na solução de acordo com uma modalidade da presente invenção; a figura 4 é um fluxograma que ilustra um método para inspeção utilizando um modelo criado em um modo de energia dual de acordo com uma modalidade da presente invenção; a figura 5 é um fluxograma que ilustra um único modo de energia de acordo com uma modalidade da presente invenção; a figura 6 é um diagrama esquemático que mostra um modelo de um alto número atômico matéria como usada na solução de acordo com uma modalidade da presente invenção; e as figuras 7A, 7B, 7C, 7D, 7E, 7F, 7G, 7H e 7I são diagramas esquemáticos, cada qual apresentando um (θ) ) curva de característica de um modelo de um material de alto número atômico conforme usado na solução de acordo com uma modalidade da presente descrição.

[0016] Nem todos os circuitos ou estruturas nas modalidades são mostrados nas figuras. Em todas as figuras, os mesmos sinais de referência são usados para representar componentes ou características iguais ou similares.

DESCRIÇÃO DETALHADA

[0017] As modalidades específicas da presente invenção serão descritas em detalhes abaixo. Deve ser observado que as modalidades aqui são usadas apenas para ilustração, sem limitar a presente descrição. A seguir, para prover uma compreensão completa da presente descrição, numerosos detalhes específicos são estabelecidos. Entretanto, seria óbvio para alguém versado na técnica que a presente revelação pode ser praticada sem estes detalhes específicos. Em outros exemplos, estruturas, materiais ou métodos conhecidos não são descritos em detalhe para evitar qualquer possível ofuscação da presente descrição.

[0018] Por todo o relatório descritivo, a referência de uma forma de realização, de acordo com a presente invenção, por exemplo, por exemplo, por exemplo, significa que as características específicas, estruturas ou propriedades descritas em conjunto com a modalidade ou exemplo são incluídas em pelo menos uma modalidade da presente descrição. Portanto, as frases estão em uma forma de realização, de acordo com uma forma de realização, a presente invenção, em um exemplo, é apresentada em várias posições em todo o relatório descritivo, sem necessariamente se referir à mesma forma de realização ou exemplo. Além disso, características, estruturas ou propriedades específicas podem ser combinadas em um ou mais modalidades ou exemplos em qualquer combinação e/ou subcombinação apropriada. Além disso, deve ser entendido por aqueles versados na técnica que o termo. e/ou método aqui usado significa qualquer e todas as combinações de um ou mais itens listados.

[0019] A fim de solucionar o problema associado com a detecção rápida e precisa de um material de grande número atômico em bens, a presente descrição propõe determinar se uma região suspeita de artigos inspecionados contém uma matéria de grande número atômico com base em uma característica de textura local e/ou característica de formato de linha de contorno da região suspeita. Por exemplo, a (θ, p) característica é usada para descrever uma característica de forma do objeto suspeito e um Padrão Binário local (LBP ) característica é usada para descrever uma característica de textura do objeto suspeito. Em outra forma de realização, por exemplo, em um sistema de energia dupla, uma informação de número atômico eficaz pode ser usada para uma determinação adicional. Deste modo, pelo uso da característica de textura da imagem, a informação de borda e/ou a informação de material do objeto suspeito, a detecção da matéria de alto número atômico pode ser simplificada, tal que o tempo de cálculo pode ser encurtado e detecções falsas podem ser reduzidas.

[0020] A Figura IA e a figura 1B são diagramas esquemáticos, cada um dos quais mostra um sistema de inspeção de acordo com uma modalidade da presente invenção. A figura IA mostra uma vista superior do sistema de inspeção e a Figura 1B mostra uma vista frontal do sistema de inspeção. Conforme mostrado na Figura 1A e Na Figura 1B, uma fonte de radiação 110 gera um raio-X, o qual é submetido à calibragem por um calibrador 120 e então usado para a inspeção de segurança de um truque móvel 140. O raio penetra no truque e é recebido por um detector 150. É obtida uma imagem de transmissão em um dispositivo de processamento de dados 160, tal como um computador, e a imagem de transmissão é processada para obter um resultado de determinação.

[0021] A Figura 2 é um fluxograma que ilustra um método para a inspeção de bens de acordo com uma modalidade da presente divulgação. Como mostrado na Figura 2, de acordo com uma modalidade da presente invenção, na etapa S21, uma imagem de transmissão de um truque de recipiente 140 é obtida por meio de varredura. Então, na etapa S22, a imagem de transmissão é processada por um dispositivo de processamento de dados 160 para obter uma região suspeitas.

[0022] Na etapa S23, características de textura local da região suspeitas são extraídas e classificadas com base em um modelo pré-criada para obter um resultado de classificação. Então, na etapa S24, o dispositivo de processamento de dados 160 extrai uma linha de contorno forma característica da região suspeito e compara a linha de contorno característica com um formato pré-criado modelo padrão para obter um resultado comparação. Finalmente na etapa S25, é determinado que a região contém suspeito um alto número atômico, com base no resultado da classificação e resultado da comparação.

[0023] A Figura 3 é um fluxograma que ilustra um processo para criar um modelo de classificação na solução de acordo com uma modalidade da presente divulgação. Na etapa S31, uma imagem de uma matéria alto número atômico é introduzido. Na etapa S32, características de textura local, por exemplo, LBP aspectos da imagem são extraídos. Uma característica de LBP é um operador para descrever uma textura de local de uma imagem e tem vantagens tais como rotação invariância e escala cinza. Como materiais nucleares, armas nucleares ou dispositivos de dispersão radioativa e seus dispositivos de mascaramento têm formatos regulares, tais como cubos, esfera ou cilindro, um grande número de regiões suspeitas podem ser obtidos no processo de binarização de imagens para derivar uma região conectada. Substancialmente todo os matérias de alto número atômico analógicos são incluídos em uma pequena fração dessas regiões. A figura 6 mostra regiões de imagem contendo alto número atômico matérias. Estas regiões são armazenadas, marcadas e classificadas. As regiões contendo nenhum alto número atômico matérias são classificados como uma classe, e aqueles contendo alto número atômico matérias são classificadas, de uma maneira mais fino, baseado nos tipos de objeto linhas de contorno em círculo, elipse classe de classe, paralelogramo, retângulo, classe semicircular horizontal e vertical semicircular de vidro. Isto é, existem sete classes no total. Então, os LBP recursos são extraídos. Na etapa S33, o LBP recursos são usados para treinamento. Em seguida, na etapa S34, um modelo de classificação é obtido. Enquanto na modalidade acima o alto número atômico matérias são classificados em sete classes, pode ser apreciado por aqueles versados na técnica que os formatos do alto número atômico questões podem ser classificadas em diferentes números de classes

[0024] A Figura 4 é um fluxograma ilustrando um método para inspeção usando um modelo criado em um modo de energia dupla de acordo com uma modalidade da presente divulgação. A figura 5 é um fluxograma que ilustra um único modo de energia de acordo com uma modalidade da presente divulgação. Uma entrada para detecção automática de matérias de alto número atômico pode ser uma imagem de transmissão, ou uma imagem de transmissão e uma imagem de material (imagem de número atômico efetivo) Quando uma imagem de transmissão e uma imagem de material são introduzidos, a detecção de alto número atômico matérias pode ser realizado de acordo com o processo mostrado na Figura 4., quando apenas uma imagem de transmissão é introduzido, a detecção pode ser executada de acordo com o processo mostrado na Figura 5. Ambas as Figs. 4 e 5 incluem etapas de imagem de entrada (S401, S411; S501 ); pré-processamento (S402, S403; S502, S503), geração de região suspeitas (S404, S -405; S504, S505 ), característica de geração e determinação (S407, S408, S409, S410; S507, S508, S509, S510 ), e emitir (S414; S512) descrição detalhada será dada com referência à Figura 4 e a Figura 5.

[0025] No modo de energia dupla, informação de número atômico eficiente dos produtos inspecionados podem ser obtidos a partir de uma imagem de alta energia e uma imagem de baixa energia. A informação pode ser usada, juntamente com a informação de formato, determinar se a imagem contém qualquer matéria alto número atômico. Na etapa S401, uma imagem de transmissão é introduzida.

[0026] Próximo, a imagem introduzida é pré-processado. Na etapa S402, uma região de recipiente na imagem é detectada, tal que as operações subsequentes serão realizadas sobre a imagem de recipiente apenas, reduzindo assim a quantidade de dados a ser processado. Então, na etapa S403, o contraste da imagem é melhorado. Por exemplo, a fim de melhorar a eficiência de detecção, uma região de bens pode ser obtida pela aplicação de um algoritmo de detecção de corpo de recipiente durante a fase de pré- processamento, para detecção subsequente de alto número atômico matérias. De modo a aumentar o contraste, um logaritmo de conversão ou um logaritmo conversão mais uma operação de enraizamento quadrada, pode ser aplicado à imagem e então a escala de cinza pode ser estendida para 256 níveis, de modo a obter a imagem processada. Pode ser apreciado por aqueles versados na técnica que as operações de pré-processamento acima podem ser omitidas em algumas outras modalidades.

[0027] Na etapa S404, uma série de binarização as operações são realizadas na imagem inicial com o contraste melhorado. Supondo uma etapa h de binarização, na i-ésima operação de binarização, os pontos de pixel, cada um tendo um valor de pixel p satisfazendo 0 < p < i * h (1 < i < N ) na imagem são atribuídos com um valor de 255 e o resto dos pixels são atribuídos com 0. Então, na etapa S -405, regiões conectadas de acordo com um tamanho especificado nestes binarizado imagens são derivadas e superior, inferior, bordas esquerda e direita destas regiões conectadas são registrados. Desta forma, um número de potenciais de regiões suspeitas pode ser obtido.

[0028] O método então prossegue com a característica de geração e determinação processo, em que informação de recurso inclui LBP características, aspectos e/ou características de formato material. Por exemplo, na etapa S407, na detecção da matéria alto número atômico, características de textura local, tais como LBP aspectos da região suspeitas são extraídos. Na etapa S408, as características de textura local gerado são informados para o modelo de classificação para derivar uma distribuição de probabilidade de classe. Na etapa S408, é determinada com base na distribuição de probabilidade se a saída resultante das características LBP é suspeito ou não suspeito.

[0029] Na etapa S406, todas as regiões suspeitas são atravessadas e uma característica de formato de linha de contorno é extraída. Para cada região suspeitas, uma linha de contorno de um objeto suspeito no região suspeitas podem ser obtidos usando um algoritmo de extração de característica de borda tais como Canon. Então, a partir da linha de contorno, um centroide da região circundada pela linha de contorno pode ser calculada. Uma curva (θ, p) da linha de contorno com relação ao centroide como uma origem coordenada é derivada. As figuras 7A, 7B, 7C, 7D, 7E, 7F, 7G, 7H e 71 são diagramas esquemáticos mostrando cada um uma (θ, p) característica curva de um modelo de um alto número atômico, conforme usado na solução de acordo com uma modalidade da presente divulgação. Em cada uma destas figuras, o eixo horizontal representa um ângulo θ e o eixo vertical representa uma amplitude p.

[0030] Uma vez que a linha de contorno é um conjunto de pontos discretos, mais a diversidade da região suspeito, o derivado (θ, p) a curva é um tanto descontínua. Portanto, θ_pulo é usado para registrar um valor máximo θ salto da curva (θ, p). Deixemos S ={x1,x2,L,xN} denotar a linha de contorno e assumindo que os pontos são dispostos no sentido horário, o ângulo entre dois pontos adjacentes com relação à origem coordenada é Δθ = {θ1,θ2,L,θN}. Aqui, θmax = max{θ}é usado para medir a lisura e descontinuidade da linha de contorno e, quando seu valor é maior do que um limite dado θlimite (que é ajustada para nessa modalidade), existe uma probabilidade muito baixa que um objeto normal está presente na região suspeitas. Além disso, pode haver números diferentes de pontos em diferentes linhas de contorno e assim o comprimento do recurso derivada (θ, p) pode variar. Ele é requerido para ajustar a característica comprimentos para 200 dimensões uniformemente por similaridade comparação entre características. Além disso, a linha de contorno do objeto pode ser simples ou complexas e pode ser usada como um valor de dimensionamento da borda curva. Geralmente, uma curva mais complexa tem um número maior de dimensões. Portanto, o número de dimensões pode também ser usado como uma característica índice para determinar a característica de formato e complexidade da curva.

[0031] Para simplificar o cálculo, nessa modalidade, na etapa S409, a similaridade entre um formato de um objeto oculto na região suspeitas e um formato padrão pode ser medida pela distância Euclidiana, a consistência de amplitude e valor de pulo θ. Por exemplo, presumindo-se que uma linha de contorno S0 é distinguida em um vetor de dimensão 200 V0 e um vetor de contorno é padrão Vpd, a distância Euclidiana entre os mesmos é então L=/Vpd- V0/ e a consistência de amplitude é definida como uma percentagem P que os componentes correspondentes são dentro da mesma faixa de valor. Nesta modalidade, quando L < 4,P > 0.9 e θmax <π/6, a linha de contorno S0 é similar ao contorno padrão

[0032] Na etapa S411, uma imagem de material de dados é introduzido. Na etapa S142, uma proporção de pontos de pixel da matéria alto número atômico na região suspeito é calculada. Com base em um dado limite, é possível determinar se a região atual contém um alto número atômico, em uma maneira mais precisa. Se somente os dados de imagem de transmissão é recebido na detecção da matéria alto número atômico, a determinação pode adicionalmente ser feita. Com base no modelo de classificação que é treinado antecipadamente e a característica de formato calculado da região suspeito, pode ser determinado se a transmissão imagem contém uma matéria de alto número atômico

[0033] Na etapa S413, uma determinação conjunta é aplicado, que significa dois ou mais resultados de determinação serão consideradas conjuntamente. Tipicamente, a determinação conjunta pode ser feita por fusão de decisão. Na presente descrição, tal determinação é feita pela votação. Isto é, se dois ou mais resultados de determinação de entrada indicar(em) “suspeito”, um alerta é provido e as coordenadas da região suspeito é emitida; ou então um resultado de “não suspeito” será emitido. Em algumas modalidades, o resultado de detecção da matéria alto número atômico pode ser marcado com uma armação retangular vermelha, ou de outra forma realçados.

[0034] A Figura 5 é um fluxograma que ilustra um único modo de energia de acordo com uma modalidade da presente divulgação. Comparado com a modalidade mostrada na Figura 4, a modalidade mostrada na Figura 5 não tem a entrada do material de imagem. Isto é, no modo de energia único, a determinação se os produtos inspecionados contêm qualquer matéria alto número atômico é feita com base na imagem de transmissão somente. Assim, as etapas S501-S510 na Figura 5 são as mesmas que as etapas S401-S410, respectivamente. Na etapa S511, a determinação resultado baseado sobre a característica de formato e a determinação resultado baseado sobre a característica de LBP são consideradas conjuntamente. Na etapa S512, o resultado é emitido, por exemplo, indicando que as bens são seguras ou fornecer um alerta.

[0035] A descrição detalhada acima já apresentados numerosas modalidades dos métodos sistemas, e dispositivos para inspeção de bens com referência aos diagramas, fluxogramas, e/ou exemplos. No caso onde os diagramas, fluxogramas, e/ou exemplos compreendem uma ou mais funções e/ou operações, alguém versado na técnica deve apreciar que cada função e/ou operação nos diagramas, fluxogramas e exemplos podem ser implementadas por várias estruturas, hardware, software, firmware ou qualquer combinação deles individualmente e/ou em qualquer combinação. Em uma modalidade, várias partes do matéria descrito nas modalidades do presente invenção pode ser implementada pelo circuito integrado de Aplicação específica (ASIC), Arranjo de Porta Programável em Campo (FPGA), Processador de sinal digital (DSP), ou qualquer outra forma integrada. Entretanto, alguém versado na técnica deve apreciar que alguns aspectos da a modalidade descrita aqui pode ser parcialmente ou completamente implementado em um circuito integrado efetivamente, implementada como um ou mais programas de computador operando em um ou mais computadores (por exemplo, um ou mais programas operando em um ou mais sistemas de computador), implementado como um ou mais programas operando em um ou mais processadores (por exemplo, um ou mais programas operando em um ou mais microprocessadores), implementados como firmware, ou substancialmente qualquer combinação dos mesmos, e uma pessoa versada na técnica é capaz de projetar o circuito e/ou gravar código de software e/ou firmware. Adicionalmente, uma pessoa versada na técnica poderá apreciar que o mecanismo do matéria da presente descrição podem ser distribuídas em várias formas de produtos de programa, e as modalidades exemplares do matéria da presente descrição podem ser aplicados independentemente dos tipos específicos de mídia portadora de sinal para distribuição. Exemplos de mídia portadora de sinal compreendem, mas não se limitando a: um meio gravável tais como disquetes, disco rígido, disco compacto (CD), disco versátil digital (DVD), fita digital, memória de computador, etc; e um meio de transmissão, tal como meio de comunicação digitais e/ou analógicos (por exemplo, a fibra óptica, guia de onda, link de comunicação cabeado, ligação de comunicação sem fio, etc).

[0036] Embora a presente descrição já seja descrita com referência às diversas modalidades típicas, deve ser apreciado que os termos usados aqui são ilustrativos e exemplares, ao invés de limitativa. Uma vez que a presente invenção pode ser praticada em múltiplas formas sem se afastar do espírito ou essência, deve ser observado que as modalidades acima não são limitadas a quaisquer detalhes anteriormente descritas e deve ser interpretado amplamente dentro do espírito e escopo definido pelas reivindicações. Portanto, todas as mudanças e variações caiam dentro do escopo das reivindicações ou seus efetivos devem ser abrangidas pelas reivindicações.

Claims (10)

1. Método para inspecionar bens, caracterizado por compreender as etapas de: obter (S21, S401, S501) uma imagem de transmissão de bens inspecionados; processar (S22) a imagem de transmissão para obter uma região suspeita; extrair (S23, S407, S507) características de textura local da região suspeita e classificar (S408, S508) as características de textura local da região suspeita com base em um modelo pré-criado para obter um resultado de classificação; extrair (S24, S406, S506) uma característica de formato de linha de contorno da região suspeita e comparar (S409, S509) a característica de formato de linha de contorno com um gabarito padrão pré-criado para obter um resultado de comparação; e determinar (S25, S511) que a região suspeita contém uma matéria de número atômico alto realizando-se (S413) uma determinação conjunta naquele resultado de classificação e naquele resultado de comparação.

2. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de compreender adicionalmente as etapas de: obter (S411) informação de número atômico efetiva da região suspeita, em que a etapa de determinação (S25, S511) compreende determinar que a região suspeita contém uma matéria de número atômico alto realizando-se a determinação conjunta naquele resultado de classificação, naquele resultado de comparação e naquela informação de número atômico efetiva.

3. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de a etapa de processamento (S22) da imagem de transmissão para obter a região suspeita compreender: intensificar (S403, S503) um contraste da imagem de transmissão; realizar (S404, S504) uma pluralidade de operações de binarização na imagem de transmissão de contraste intensificado; e derivar (S405, S505) uma região conectada daquela imagem de transmissão binarizada e determinar um limite da região conectada.

4. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de a etapa de extração (S24, S406, S506) da característica de formato de linha de contorno da região suspeita compreender: derivar uma linha de contorno da região suspeita usando um algoritmo de extração de borda e derivar uma curva de característica (θ,p) da linha de contorno.

5. Método de acordo com a reivindicação 4, caracterizado pelo fato de a etapa de comparação da característica de formato de linha de contorno com o gabarito padrão pré-criado compreender: calcular (S406, S506) uma distância e uma consistência de amplitude entre a curva de característica (θ,p) da linha de contorno e o gabarito padrão e um valor de salto θ da curva de característica (θ,p) da linha de contorno; e comparar (S409, S509) a distância, a consistência de amplitude e o valor de salto θ com respectivos limites.

6. Método de acordo com a reivindicação 5, caracterizado pelo fato de que uma linha de contorno de um objeto suspeito na região suspeita é obtida empregando um algoritmo de extração de característica de borda, um centróide de uma região encerrada pela linha de contorno é calculado, e então uma curva de característica (θ,p) da linha de contorno em relação ao centróide calculado como uma origem de coordenada é derivada.

7. Método de acordo com a reivindicação 1, caracterizado pelo fato de compreender adicionalmente a etapa de: realçar uma região considerada como sendo a matéria de número atômico alto na imagem de transmissão.

8. Sistema para inspecionar bens, caracterizado pelo fato de que compreende: um dispositivo de varredura de raios-x (110, 120, 140, 150) configurado para obter uma imagem de transmissão de bens inspecionados; e um dispositivo de processamento de dados (160) configurado para: processar a imagem de transmissão para obter uma região suspeita; extrair características de textura local da região suspeita e classificar as características de textura local da região suspeita com base em um modelo pré-criado para obter um resultado de classificação; extrair uma característica de formato de linha de contorno da região suspeita e comparar a característica de formato de linha de contorno com um gabarito padrão pré-criado para obter um resultado de comparação; e determinar que a região suspeita contém uma matéria de número atômico alto realizando-se uma determinação conjunta no resultado de classificação e no resultado de comparação.

9. Sistema de acordo com a reivindicação 8, caracterizado pelo fato de que uma linha de contorno da região suspeita é derivada usando um algoritmo de extração de borda e uma curva de característica (θ,p) da linha de contorno é derivada.

10. Mídia legível por computador não transitória, caracterizada pelo fato de compreender instruções executáveis por computador que, quando executadas por um computador, fazem com que um ou mais processadores e/ ou memória do mesmo execute(m) um método compreendendo as etapas de: obter (S21, S401, S501) uma imagem de transmissão de bens inspecionados; processar (S22) a imagem de transmissão para obter uma região suspeita; extrair (S23, S407, S507) características de textura local da região suspeita e classificar (S408, S508) as características de textura local da região suspeita com base em um modelo pré-criado para obter um resultado de classificação; extrair (S24, S406, S506) uma característica de formato de linha de contorno da região suspeita e comparar (S409, S509) a característica de formato de linha de contorno com um gabarito padrão pré-criado para obter um resultado de comparação; e determinar (S25, S511) que a região suspeita contém uma matéria de número atômico alto realizando-se (S413) uma determinação conjunta naquele resultado de classificação e naquele resultado de comparação.