G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
Microscope à sonde locale multimode, microscope raman exalté par pointe et procédé de régulation de la distance entre la sonde locale et l'échantillon
Method of measuring the electrical properties of a semiconductor crystal, viz. the specific resistance and the life span of the charge carriers of a highohmic crystal
Procédé de contrôle d'adaptation d'impédance dans les chaînes de réception faible bruit et thermomètre micro-onde miniature de mise en oeuvre du procédé