G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
Microscope à sonde locale multimode, microscope raman exalté par pointe et procédé de régulation de la distance entre la sonde locale et l'échantillon
Detecteur bolometrique d'un rayonnement electromagnetique dans le domaine du terahertz et dispositif de detection matriciel comportant de tels detecteurs
Method of measuring the electrical properties of a semiconductor crystal, viz. the specific resistance and the life span of the charge carriers of a highohmic crystal
Procédé de contrôle d'adaptation d'impédance dans les chaînes de réception faible bruit et thermomètre micro-onde miniature de mise en oeuvre du procédé