AT515628B1

AT515628B1 - Vertikalnadelkarte

Info

Publication number: AT515628B1
Application number: ATA276/2014A
Authority: AT
Inventors: Dr Gaggl Rainer
Original assignee: Dr Gaggl Rainer
Priority date: 2014-04-14
Filing date: 2014-04-14
Publication date: 2020-07-15
Also published as: AT515628A1

Abstract

Bei einer Vertikalnadelkarte mit Führungsplatten (1 und 2), zwischen denen sich Nadeln (10) mit Prüfspitzen (11) erstrecken, besitzen die Nadeln (10) einen Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser, der an der Außenseite der einen Führungsplatte (1) anliegt und verhindert, dass sich Nadeln (10) aus den Führungsplatten (1, 2) herausbewegen, insbesondere wenn die Nadeln (10) gereinigt oder deren Prüfspitzen (11) nachgeschliffen werden.

Description

Beschreibung

[0001] Die Erfindung betrifft eine Vertikalnadelkarte (auch Vertikalprüfkarte oder Knickdrahtnadelkarte) mit den Merkmalen des einleitenden Teils von Anspruch 1 (US 2007/0257685 A1).

[0002] Derartige Vertikalnadelkarten sind aus AT 511 398 B und FR 2 815 127 A bekannt.

[0003] Bei den bekannten Vertikalnadelkarten werden die Nadeln in den Löchern der Führungsplatten im Wesentlichen durch Reibung gehalten.

[0004] Bei den bekannten Vertikalnadelkarten sind die Löcher, die Nadeln der Vertikalnadelkarte durchgreifen, zueinander versetzt angeordnet, sodass sich zwischen den Führungsplatten eine im Wesentlichen flach S-förmige Form der Nadeln ergibt.

[0005] Dies hat den Effekt, dass beim Verwenden der Nadelkarten zum Prüfen von HalbleiterBauelementen (Mikrochips) und anderen elektronischen oder elektrischen Bauelementen in einer bevorzugten Richtung ausknicken, sodass die Gefahr, dass die Nadeln zwischen den Führungsplatten beim Ausknicken aneinander anliegen und Fehler verursachen, vermieden ist.

[0006] Die US 2007/0257685 A1 zeigt und beschreibt eine Nadelkarte ("probe card") mit gewinkeiten Nadeln. Die Nadeln erstrecken sich durch einen Träger. Die Nadeln besitzen an ihren quer zum Träger ausgerichteten Bereichen einen durchmesservergrößerten Teil ("locking portion"), der an einem Ende eines Loches im Träger anliegt, wenn die Nadeln nicht auf einen Wafer aufgesetzt sind.

[0007] Die US 2005/0124144 A1 zeigt eine Vertikalnadelkarte mit Nadeln, die sich durch L6cher in Platten erstrecken. Die Nadeln besitzen durchmesservergrößerte Abschnitte, die zwischen zwei unteren Platten liegen. Die Abschnitte verhindern, dass Nadeln aus den Löchern in der Platte herausgleiten (Fig. 4a und 4b).

[0008] Die WO 2009/028708 A1 zeigt, dass in einer Nadelkarte die Löcher, durch welche Nadeln geführt sind, zueinander versetzt sein sollen.

[0009] Problematisch bei den bekannten Vertikalnadelkarten ist es, dass die Nadeln aus den Löchern in den Führungsplatten herausgleiten können, insbesondere wenn diese gereinigt und/oder ihre Prüfspitzen angeschliffen werden müssen.

[0010] Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, hier Abhilfe zu schaffen.

[0011] Gelöst wird diese Aufgabe erfindungsgemäß mit einer Vertikalnadelkarte, welche die Merkmale von Anspruch 1 aufweist.

[0012] Bevorzugte und vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind Gegenstand der Unteransprüche.

[0013] Da bei der erfindungsgemäßen Nadelkarte die Nadeln einen durchmesservergrößerten Endbereich aufweisen, ist die Gefahr, dass sie unbeabsichtigt aus den Löchern der Führungsplatten oder einer der Führungsplatten herausgleiten, verhindert.

[0014] Der durchmesservergrößerte Bereich der Nadeln, der bevorzugt im Bereich des der Prüfspitze gegenüberliegenden Endes der Nadeln liegt, kann mit den Nadeln einstückig ausgebildet sein. Bei dieser Ausführungsform kann der Bereich mit vergrößertem Durchmesser durch plastisches Verformen der Nadeln, insbesondere im Bereich von dem der Prüfspitze gegenüberliegenden Ende derselben, gebildet sein.

[0015] Im Rahmen der Erfindung ist auch in Betracht gezogen, dass der Bereich mit vergrößertem Durchmesser von einem mit der Nadel verbundenen Bauteil gebildet ist.

[0016] In einer anderen Ausführungsform kann bei der erfindungsgemäßen Vertikalnadelkarte vorgesehen sein, dass der Bereich mit vergrößertem Durchmesser durch einen Materialauftrag gebildet ist.

[0017] Weitere Einzelheiten und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden

Beschreibung eines bevorzugten Ausführungsbeispieles unter Bezugnahme auf die angeschlossenen Zeichnungen. Es zeigt:

[0018] Fig. 1 die für das Verständnis der Erfindung wesentlichen Teile einer Vertikalnadelkarte schematisiert,

[0019] Fig. 2 eine erste Ausführungsform einer Nadel und [0020] Fig. 3 eine alternative Ausführungsform einer Nadel.

[0021] Eine erfindungsgemäße Vertikalnadelkarte umfasst als für die Erfindung wesentliche Bauteile zwei Führungsplatten 1 und 2, wobei eine Führungsplatte 2 im Ausführungsbeispiel aus zwei aneinander gelegten Platten 3 und 4 gebildet ist. Die Führungsplatten 1 und 2 werden in der Vertikalnadelkarte durch einen rahmenförmigen Bauteil (nicht gezeigt) miteinander verbunden, wobei sie zueinander parallel ausgerichtet und voneinander beabstandet sind.

[0022] In den Führungsplatten 1 und 2 sind Löcher 5 und 6 vorgesehen, durch die Nadeln 10 mit Prüfspitzen 11 gesteckt sind. Fig. 1 zeigt, dass die Löcher 5 und 6, durch die Nadeln 10 gesteckt sind, zueinander versetzt angeordnet sind (in der Praxis etwa 0,5 mm), sodass die Nadeln 10 in den Führungsplatten 1 und 2 im Wesentlichen durch Reibung verbunden sind und zwischen den Führungsplatten 1 und 2 eine flach S-förmige Form annehmen.

[0023] Der außerhalb der Führungsplatte 1 liegende Bereich 12 der Nadeln 10 liegt an einer Leiterplatte 13 an, wie dies in Fig. 1 schematisch angedeutet ist.

[0024] In Fig. 1 ist gezeigt, dass der außerhalb der Führungsplatte 1 liegende Bereich 12 der Nadeln 10, also der Teil, der dem Ende mit der Prüfspitze 11 gegenüberliegt, gegenüber dem Durchmesser des übrigen Teils der Nadeln 10 einen vergrößerten Durchmesser aufweist, Sodass er aus dem Loch 5 in der Führungsplatte 1 nicht herausgleiten kann.

[0025] Die Form des durchmesservergrößerten Bereiches 12 der Nadeln 10 ist im Wesentlichen beliebig.

[0026] Bevorzugt ist es, wenn der durchmesservergrößerte Bereich 12, so wie in Fig. 1 gezeigt, etwa pilzförmig ausgebildet ist und eine an der Führungsplatte 1 anliegende, ebene Unterseite 16 aufweist.

[0027] In Fig. 2 ist eine alternative Ausführungsform eines verbreiterten Bereiches 12 gezeigt, der beispielsweise durch Quetschung der Nadel 10 entsteht, sodass der Querschnitt der Nadel 10 im gequetschten Bereich oval ist und ein durchmesservergrößerter Bereich vorliegt.

[0028] Der durchmesservergrößerte Bereich 12 der Nadeln 10 kann mit den Nadeln 10 einstückig ausgebildet sein, wie dies beispielsweise für die Ausführungsformen nach Fig. 1 und 2 bevorzugt ist. Bei diesen Ausbildungsformen kann der durchmesservergrößerte Bereich 12 durch plastisches Verformen der Nadeln 10 gebildet sein.

[0029] Wie in Fig. 3 gezeigt kann der durchmesservergrößerte Bereich 12 auch durch eine mit dem einen Ende, d.h. dem der Prüfspitze 11 der Nadeln 10 gegenüberliegenden Ende der Nadeln 10, verbundenen Bauteil 15 gebildet sein. Dieser Bauteil 15 kann auf beliebige Art und Weise mit dem Ende der Nadeln 10 verbunden sein und neben der in Fig. 3 gezeigten, kegelstumpfförmigen Form auch eine der Formen gemäß Fig. 2 oder Fig. 1 haben.

[0030] Der zusätzliche Bauteil 15, der den verbreiterten Bereich 12 der Nadeln 10 ergibt, kann beispielsweise auch durch Plattieren (beispielsweise durch elektrolytisches Plattieren) hergestellt sein.

[0031] In dem in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiel ist zwischen den Führungsplatten 1 und 2 gegebenenfalls eine Platte 7 vorgesehen, die als Isolierplatte ausgebildet ist und beispielsweise eine Konstruktion aufweist, die aus der AT 511 398 B bekannt ist.

[0032] Zusammenfassend kann ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wie folgt beschrieben werden:

[0033] Bei einer Vertikalnadelkarte mit Führungsplatten 1 und 2, zwischen denen sich Nadeln 10 mit Prüfspitzen 11 erstrecken, besitzen die Nadeln 10 einen Bereich 12 mit vergrößertem Durchmesser, der an der Außenseite der einen Führungsplatte 1 anliegt und verhindert, dass sich Nadeln 10 aus den Führungsplatten 1, 2 herausbewegen, insbesondere wenn die Nadeln 10 gereinigt oder deren Prüfspitzen 11 nachgeschliffen werden.

Claims

Patentansprüche

1. Vertikalnadelkarte mit Nadeln (10), die durch Löcher (5, 6) in voneinander beabstandeten Führungsplatten (1, 2) gesteckt sind, wobei die Nadeln (10) mit ihren, an einen zu prüfenden Halbleiterbauteil anzulegenden, Prüfspitzen (11) aufweisenden Enden gegenüberliegenden Enden in elektrischem Kontakt mit einer Leiterplatte (13) stehen, wobei die Nadeln (10) einen Bereich (12) mit gegenüber dem Durchmesser der Nadeln (10) vergrößertem Durchmesser aufweisen, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser am Ende der Nadeln (10) vorgesehen ist und an der Leiterplatte (13) anliegt.

2. Vertikalnadelkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser mit den Nadeln (10) einstückig ausgebildet ist.

3. Vertikalnadelkarte nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser durch plastisches Verformen der Nadeln (10) gebildet ist.

4. Vertikalnadelkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser von einem mit den Nadeln (10) verbundenen Bauteil (15) gebildet ist.

5. Vertikalnadelkarte nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser durch einen Materialauftrag gebildet ist.

6. Vertikalnadelkarte nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser im Wesentlichen konvex-ballig, z.B. oval, oder im Wesentlichen pilzkopf- oder kegelstumpfförmig ausgebildet ist.

7. Vertikalnadelkarte nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der pilzkopf- oder kegelstumpfförmig ausgebildete Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser eine im Wesentlichen ebene Fläche (16) aufweist, die zu der der Leiterplatte (13) benachbarten Führungsplatte (1) hin weist.

8. Vertikalnadelkarte nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass der Bereich (12) mit vergrößertem Durchmesser im Wesentlichen rotationssymmetrisch oder oval ist.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen