AT510948A3 - Methode zur optimierung der thermischen stabilität von magnetischen strukturen durch die berechnung der zeitabhängigkeit der magnetisierung - Google Patents

Methode zur optimierung der thermischen stabilität von magnetischen strukturen durch die berechnung der zeitabhängigkeit der magnetisierung

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AT510948A3 ATA2128/2010A AT21282010A AT510948A3 AT 510948 A3 AT510948 A3 AT 510948A3 AT 21282010 A AT21282010 A AT 21282010A AT 510948 A3 AT510948 A3 AT 510948A3
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Abstract

Die Erfindung kann die optimale Schichtdicke magnetischer Speichermedien bestimmen. Die Erfindung hebt die Einschränkung gängiger Verfahren auf, indem magnetische Körner zufällig ausgewählt werden und dann durch die Berechnung der Umklappwahrscheinlichkeit entschieden wird, ob das Korn umklappt oder nicht, wobei r die Relaxationszeit nach ist. Der Zeitschritt tm wird so berechnet, dass die Umklappwahrscheinlichkeit gleich einem konstanten P. ist. Folglich wird tm bestimmt durch tm,i = -ln(l- Ps) /(1/r), wobei Ps (Umklappwahrscheinlichkeit) ein Eingabeparameter ist, welcher die Umklappwahrscheinlichkeit des ausgewählten Korns definiert. Ein empfohlener Bereich fiir diesen Parameter sind Werte zwischen 0,001 und 0,5. Mit einer kleineren Zahl Ps werden die Ergebnisse genauer. Jedoch wird auch mehr Rechenzeit benötigt. Dieser Zeitschritt tm,i wird fiir jedes magnetische Korn berechnet und in einer Liste abgespeichert. Der Minimalwert dieser Liste wird zur Bestimmung von tm verwendet. Während der Simulation können externe Felder an das magnetische System angelegt werden, was nach einigen Iterationen die Neuberechnung des Zeitschritts tm erfordern kann. Das Ergebnis fiir die thermische Entmagnetisierung der magnetischen Struktur wird fiir die Bestimmung der minimalen Schichtdicke verwendet, die notwendig ist, um die geforderte thermische Stabilität zu erhalten. Diese Information über die benötigte Schichtdicke wird in der Sputter-Anlage verarbeitet, um die benötigte Schicht herzustellen.
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