AT215019B - Measuring device for determining the quality factor of oscillation circuits - Google Patents

Measuring device for determining the quality factor of oscillation circuits

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Publication number
AT215019B
AT215019B AT538659A AT538659A AT215019B AT 215019 B AT215019 B AT 215019B AT 538659 A AT538659 A AT 538659A AT 538659 A AT538659 A AT 538659A AT 215019 B AT215019 B AT 215019B
Authority
AT
Austria
Prior art keywords
quality factor
determining
measuring device
oscillation circuits
oscillation
Prior art date
Application number
AT538659A
Other languages
German (de)
Inventor
Gyoergy Dipl Ing Almassy
Original Assignee
Tavkoezlesi Ki
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Publication date
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01PWAVEGUIDES; RESONATORS, LINES, OR OTHER DEVICES OF THE WAVEGUIDE TYPE
    • H01P7/00Resonators of the waveguide type
    • H01P7/06Cavity resonators

Landscapes

  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Description

  

   <Desc/Clms Page number 1> 
 



  Messeinrichtung zum Bestimmen des Gütefaktors von
Schwingungskreisen 
 EMI1.1 
 

 <Desc/Clms Page number 2> 

 



   Das Schaltbild eines Ausführungsbeispieles der erfindungsgemässen   Messeinrichtung   ist in Fig. 1 dargestellt. Ein Schwingungserzeuger (Oszillator) 2 wird durch einen modulierenden Generator 1 frequenzmoduller, wobei der Schwingungserzeuger (Oszillator) vorher auf den zu prüfenden Schwingungskreis 3 abgestimmt worden ist. 



   Auf diese Frequenz ist auch der Schwingungskreis 4 mit bekanntem Gütefaktor abzustimmen. Der Frequenzhub der Modulation ist derart zu wählen, dass die Frequenz des modulierten Schwingungserzeu-   gers (Oszillators) sich   annähernd zwischen den 3 dB Punkten der zu prüfenden Resonanzkurve ändert. Durch die Oszillatorspannung mit auf die. je Weise veränderlicher Frequenz werden über lose induktive Kopplungen der zu prüfende Schwingungskreis 3 und der Schwingungskreis 4 erregt. Die Spannungen dieser Schwingungskreise gelangen von Gleichrichtern 5 bzw. 6 über Verstärker 7   bzw. 8 in   Gegenphase zum entsprechenden Eingang einer Additionsstufe 9, da von den Gleichrichtern 5 und 6 der eine mit seiner positiven und der andere mit seiner negativen Seite an den Schwingungskreis angeschlossen ist.

   Durch die am Ausgang der Additionsstufe 9 auftretende Differenzspannung wird der Elektronenstrahl der Kathodenstrahlröhre 10 in senkrechter Richtung abgelenkt. Die Spannung zum waagrechten Ablenken wird durch den modulierenden Generator 1 geliefert. Auf diese Weise ist auf dem Schirm der   Kathodenstrahlröhre   10 eine der Differenz der beiden Resonanzkurven entsprechende Kurve sichtbar. Der Gütefaktor des Schwingungskreises 4 muss so lange geändert werden, bis die auf dem Schirm erscheinende Kurve in eine Gerade übergeht, wobei dann der abgelesene Gütefaktor den gesuchten Wert angibt. Die Differenzspannung wird auch durch ein Röhrenvoltmeter 11 gemessen. 



   Durch die Verstärker 7 und 8 können die zu vergleichenden Spannungen entsprechend erhöht werden, wodurch die Genauigkeit des Vergleiches wesentlich erhöht wird. Die Differenz der in gleichem Masse verstärkten Spannungen wird lediglich dann Null, wenn die Giltefaktoren und Resonanzfrequenzen des zu prüfenden Schwingungskreises und des Schwingungskreises mit bekanntem Gütefaktor gleichwertig sind. 



  Durch geringere Abweichungen in den Kennlinien der Gleichrichter wird die   Messgenauigkeit   praktisch nicht   beeinflusst. Messfehler werden'auch   durch geringe Schwankungen der Leistung des Schwingungserzeugers (Oszillators) während der Messung nicht verursacht. 



    PATENTANSPRÜCHE :    
1. Messeinrichtung zum Bestimmen des Gütefaktors von Schwingungskreisen, die einen frequenzmodulierten Schwingungserzeuger (2), einen Schwingungskreis mit bekanntem Gütefaktor (4), an den bekannten bzw. an den zu messenden Schwingungskreis angeschlossene Gleichrichter (5, 6), an diese angeschlossene Verstärker (7,8) und ein Oszilloskop mit Kathodenstrahlröhre (10) aufweist, dadurch   gekenn-     zeichnet. dass   die Ausgänge der Verstärker (7,8) an eine Additionsstufe (9) angeschlossen sind, deren Ausgang an das eine Ablenkelektrodenpaar der Kathodenstrahlröhre (10) angeschlossen ist.



   <Desc / Clms Page number 1>
 



  Measuring device for determining the quality factor of
Oscillation circles
 EMI1.1
 

 <Desc / Clms Page number 2>

 



   The circuit diagram of an exemplary embodiment of the measuring device according to the invention is shown in FIG. A vibration generator (oscillator) 2 is frequency-modulated by a modulating generator 1, the vibration generator (oscillator) having previously been tuned to the vibration circuit 3 to be tested.



   The oscillating circuit 4 with a known quality factor must also be tuned to this frequency. The frequency swing of the modulation is to be selected in such a way that the frequency of the modulated vibration generator (oscillator) changes approximately between the 3 dB points of the resonance curve to be tested. With the oscillator voltage on the. Depending on the variable frequency, the oscillating circuit 3 to be tested and the oscillating circuit 4 are excited via loose inductive couplings. The voltages of these oscillating circuits pass from rectifiers 5 and 6 via amplifiers 7 and 8 in phase opposition to the corresponding input of an addition stage 9, since one of the rectifiers 5 and 6 is connected to the oscillating circuit with its positive and the other with its negative side .

   Due to the differential voltage occurring at the output of the addition stage 9, the electron beam of the cathode ray tube 10 is deflected in the vertical direction. The voltage for the horizontal deflection is supplied by the modulating generator 1. In this way, a curve corresponding to the difference between the two resonance curves is visible on the screen of the cathode ray tube 10. The quality factor of the oscillation circuit 4 must be changed until the curve appearing on the screen changes into a straight line, with the quality factor read then indicating the value sought. The differential voltage is also measured by a tube voltmeter 11.



   By means of the amplifiers 7 and 8, the voltages to be compared can be increased accordingly, as a result of which the accuracy of the comparison is significantly increased. The difference between the voltages that are amplified to the same extent only becomes zero when the validity factors and resonance frequencies of the oscillation circuit to be tested and the oscillation circuit with a known quality factor are equivalent.



  The measurement accuracy is practically not influenced by minor deviations in the rectifier characteristics. Measurement errors are also not caused by slight fluctuations in the output of the vibration generator (oscillator) during the measurement.



    PATENT CLAIMS:
1. Measuring device for determining the quality factor of oscillation circuits which have a frequency-modulated oscillation generator (2), an oscillation circuit with a known quality factor (4), rectifiers (5, 6) connected to the known or to the oscillation circuit to be measured, amplifiers connected to them ( 7,8) and an oscilloscope with a cathode ray tube (10), characterized thereby. that the outputs of the amplifiers (7, 8) are connected to an addition stage (9), the output of which is connected to the one pair of deflection electrodes of the cathode ray tube (10).

 

Claims (1)

2. Einrichtung nach Anspruch l, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen dem einen Gleichrichter und der Additionsstufe noch eine Phasenumkehrstufe vorgesehen ist. 2. Device according to claim l, characterized in that a phase inversion stage is also provided between the one rectifier and the addition stage. 3. Einrichtung nach Anspruch 1 zum Bestimmen des Gütefaktors von Hohlraumresonatoren, dadurch gekennzeichnet, dass der Schwingungskreis mit bekanntem Gütefaktor einen Hohlraumresonator darstellt. 3. Device according to claim 1 for determining the quality factor of cavity resonators, characterized in that the oscillation circuit with a known quality factor represents a cavity resonator.
AT538659A 1959-07-22 1959-07-22 Measuring device for determining the quality factor of oscillation circuits AT215019B (en)

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