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Einrichtung zur Bestimmung der Qualität fluoreszenzerregender Strahlen.
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur Bestimmung der Qualität fluoreszenzerregender Strahlen, insbesondere Röntgenstrahlen, bei der diejenige Schichtdicke eines passenden Stoffes (Filter) bestimmt wird, durch welche die Intensität der zu messenden Strahlen auf einen bestimmten Bruchteil, beispielsweise auf die Hälfte (Halbwertschicht) geschwächt wird.
Bei der erfindungsgemässen Einrichtung, die in der Figur in einem Ausführungsbeispiel schematisch dargestellt ist, wird ein Teil der Fläche des Fluoreszenzschirmes a durch einen im Beobachtungssystem angeordneten, für das Fluoreszenzlicht undurchlässigen Raster oder durch eine Grauglasschicht b abgedeckt, die nur einen bestimmten Bruchteil (im vorliegenden Fall die Hälfte) der zu messenden Fluoreszenzstrahlung hindurchtreten lässt. Der Raster b ist dabei, wenn er nicht eine Grauglassehicht ist, so engmaschig, dass die Leuchtfläche (Fluoreszenzschirm) hinter dem Raster dem Beobachter zwar dunkler erscheint als die nicht von dem Raster bedeckten LeuehtschirmsteIlen, die einzelnen Rasterwandungen jedoch nicht mehr wahrnehmbar sind.
Ausserdem wird der Filterkeil c (aus Aluminium, Kupfer od. dgl.) so lange verschoben, bis die Fluoreszenzhelligkeit hinter dem Filter c und hinter dem Raster im Beobachtungssystem gleich gross erscheint.
Gemäss der Erfindung ist dabei, im Gegensatz zu den bekannten solchen Einrichtungen, der Raster bzw. die Grauglasschieht ausserhalb der Röntgenstrahlenbahn zwischen dem Leuchtschirm und dem Auge des Beobachters angeordnet. Durch diese Anordnung wird der Nachteil vermieden, dass der das Fluoreszenzlicht schwächende Teil unter dem Einfluss der Röntgenstrahlen in verhältnismässig kurzer Zeit bezüglich seiner Lichtdurchlässigkeit in unkontrollierbarer und daher unerwünschter Weise verändert wird.
Weiterhin hat die neue Anordnung den Vorteil, dass der Beobachter nicht in der Richtung der die Fluoreszenz erregenden, in der Regel schädlichen Strahlung zu beobachten braucht und dass, da es sieh bei dieser Anordnung nur um den Vergleich zweier verschiedener Helligkeiten bei gewöhnlichem Licht handelt, zur Abschwächung des Fluoreszenzlichtes der einen Hälfte des Fluoreszenzschirmes eine gewöhnliche Grauglasplatte oder auch nur ein entsprechend gelochtes, für Licht undurchlässiges Papier benutzt werden kann. Die Fluoreszenzschieht des Leuchtschirms a kann, wie es in dem abgebildeten Ausführungsbeispiel dargestellt ist, der die ionisierenden Strahlen d aussendenden Strahlenquelle zugekehrt sein.
Da beim Durchtritt durch das Filter die ionisierenden Strahlen (Röntgenstrahlen) in ihrer Qualität verändert werden, während sie beim Durchtritt durch den Raster keine Veränderung erleiden, weisen die zur Verwendung gelangenden Filter zahlenmässige Dickenangaben (in Form einer Markierung od. dgl.) auf, die von der wahren Filterdicke derart abweichen, dass die Wellenlängenabhängigkeit des Fluoreszenzschirmes gegenüber den heute als Grundlage verwendeten Ergebnissen bei der Ionisationsmessung entsprechend berücksichtigt ist.
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Device for determining the quality of fluorescent radiation.
The invention relates to a device for determining the quality of fluorescence-generating rays, in particular X-rays, in which the layer thickness of a suitable substance (filter) is determined by which the intensity of the rays to be measured is weakened to a certain fraction, for example to half (half-value layer) .
In the device according to the invention, which is shown schematically in an exemplary embodiment in the figure, part of the surface of the fluorescent screen a is covered by a grid which is arranged in the observation system and is impermeable to the fluorescent light or by a gray glass layer b, which only covers a certain fraction (in the present case Case half) of the fluorescence radiation to be measured can pass through. The grid b, if it is not a layer of gray glass, is so closely meshed that the luminous surface (fluorescent screen) behind the grid appears darker to the observer than the light screen parts not covered by the grid, but the individual grid walls are no longer perceptible.
In addition, the filter wedge c (made of aluminum, copper or the like) is shifted until the fluorescence brightness behind the filter c and behind the grid in the observation system appears to be the same.
According to the invention, in contrast to the known devices of this type, the grid or the gray glass slide is arranged outside the X-ray path between the luminescent screen and the observer's eye. This arrangement avoids the disadvantage that the part which weakens the fluorescent light is changed in terms of its transparency in an uncontrollable and therefore undesirable manner under the influence of the X-rays in a relatively short time.
Furthermore, the new arrangement has the advantage that the observer does not need to observe in the direction of the fluorescence-exciting, usually harmful radiation and that, since this arrangement is only a comparison of two different brightnesses in ordinary light, for Attenuation of the fluorescent light of one half of the fluorescent screen, an ordinary gray glass plate or just a suitably perforated, light-impermeable paper can be used. The fluorescence layer of the luminescent screen a can, as is shown in the illustrated embodiment, face the radiation source emitting the ionizing rays d.
Since the quality of the ionizing rays (X-rays) is changed when they pass through the filter, while they do not suffer any change when they pass through the grid, the filters used have numerical thickness specifications (in the form of a marking or the like) that deviate from the true filter thickness in such a way that the wavelength dependency of the fluorescent screen is taken into account accordingly for the ionization measurement compared to the results used today as a basis.
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