JPH0981742A - Method and device for measuring resolution - Google Patents

Method and device for measuring resolution

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Publication number
JPH0981742A
JPH0981742A JP7235703A JP23570395A JPH0981742A JP H0981742 A JPH0981742 A JP H0981742A JP 7235703 A JP7235703 A JP 7235703A JP 23570395 A JP23570395 A JP 23570395A JP H0981742 A JPH0981742 A JP H0981742A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
density
range
frequency
image
line
Prior art date
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Pending
Application number
JP7235703A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yukisuke Hosokawa
享佑 細川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP7235703A priority Critical patent/JPH0981742A/en
Publication of JPH0981742A publication Critical patent/JPH0981742A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To measure resolution without using a conventional test chart. SOLUTION: When one black image part is formed on a white background part in a window, the density histogram of the window is found (S2) and a high-density most-frequent value Ri and a low-density most-frequent value Rb are found (S3 and S4); when the part between those two density values Ri and Rb is denoted as 100%, the frequency Si included in a 50% density area (w) is found while the range (w) is moved along its density (S5), the range (w) wherein the smallest frequency Fm among frequencies Fi found by ranges (w) is obtained is detected to find edge width We, and the border is binarized by using density ReW having the center frequency in the range (w) wherein the smallest frequency Fm is obtained as a threshold to find the standard deviation σ of deviation from a longitudinal primary regression straight line B0, thereby finding the resolution R=1(Ew+σ) (S6-S11).

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、複写機、プリン
タ、デジタルコピア、ファクシミリ装置、スキャナなど
によって得られる複写物などの印刷物の画質評価を行う
ための解像度測定方法および装置に関し、特に線幅およ
び文字等の2値画像のエッジ部を評価して、その画像の
解像度を推定する方法および装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resolution measuring method and apparatus for evaluating the image quality of a printed matter such as a copy obtained by a copying machine, a printer, a digital copier, a facsimile machine, a scanner, etc. The present invention relates to a method and apparatus for evaluating the edge portion of a binary image such as a character and estimating the resolution of the image.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、解像度を測定するには、多数
の近接した直線状ラインが描かれたテストチャートを用
い、このテストチャートをたとえば解像度が測定される
べき複写機を用いて複写し、こうして得られた複写画像
の白い下地部に形成されている黒の画像部の相互の分離
と接触を判定する。
2. Description of the Related Art Conventionally, in order to measure resolution, a test chart in which a large number of adjacent straight lines are drawn is used, and this test chart is copied by using, for example, a copying machine whose resolution is to be measured, The mutual separation and contact of the black image portions formed on the white background portion of the copy image thus obtained are determined.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】この先行技術では、テ
ストチャートに描かれている画像に関する解像度の評価
しか得られず、任意の画像の解像度を評価することは不
可能である。
In this prior art, it is only possible to evaluate the resolution of the image drawn on the test chart, and it is impossible to evaluate the resolution of any image.

【0004】本発明の目的は、任意の画像に関する解像
度を測定することができるようにした方法および装置を
提供することである。
It is an object of the present invention to provide a method and a device which make it possible to measure the resolution for any image.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本発明は、複数階調をそ
れぞれ有する複数の各画素からウインドウが構成され、
このウインドウ内には、予め定める第1方向に延びる2
値化されるべき画像の境界を含み、このウインドウ内に
おける各画像の濃度毎の頻度を求め、高濃度側の頻度が
極大である最頻値の第1濃度Riと、低濃度側の頻度が
極大である最頻値の第2濃度Rbとを求め、第1および
第2濃度Ri,Rbとの間で、予め定める一定濃度差の
範囲wを移動しつつ、その各範囲w内に含まれる頻度F
iをそれぞれ求めて、各範囲w毎に求めた頻度Fiのう
ち、最小の頻度Fmが得られた範囲wを検出し、前記ウ
インドウ内でこの最小の頻度Fmが得られた範囲wの前
記第1方向に直交する第2方向に延びる幅ewをエッジ
幅Ewとして求め、最小の頻度Fmが得られた範囲wに
おける中央の頻度を有する第3濃度Rewをしきい値と
し、第3濃度Rewをしきい値とする境界の2値化を行
い、前記境界の第1方向に沿う回帰線B0に対する第2
方向のずれの標準偏差σを求め、解像度R、 R = 1/(Ew+σ) を求めることを特徴とする解像度測定方法である。 また、前記予め定める濃度範囲wは、 w = r・(Rb−Ri) で定められ、rは、1/1.5〜1/2.5の値であ
る。 また本発明は、直線状に延びるライン状画像を有する原
稿を撮像手段によって撮像し、この撮像手段は、第1方
向と、第1方向に垂直な第2方向とに行列状に配列され
た複数階調をそれぞれ検出する各画素を構成する複数の
受光素子を有し、受光素子の出力をメモリにストアして
おき、メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度を
求めて、一方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第1
濃度Riと、他方の濃度側の頻度が極大である最頻値の
第2濃度Rbとを求め、第1および第2濃度Ri,Rb
の間の階調の範囲w(ただし0<r<1)、 w = r・(Rb−Ri) を、1または予め定める複数の階調ずつずらして移動し
つつ、その各範囲w内に含まれる頻度Fiをそれぞれ求
めて、各範囲w毎に求めた頻度Fiのうち、最小の頻度
Fmが得られた範囲wを検出し、ライン状画像の長手方
向を、仮想上、第1方向に一致した状態としたとき、前
記ウインドウ内で、この最小の頻度Fmが得られた範囲
wの第2方向に延びる幅ewを求め、エッジ幅Ew、 Ew = ew/r を求め、最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける中央
の頻度を有する第3濃度Rewをしきい値とし、第3濃
度Rewをしきい値とする境界の2値化を行い、その境
界の第1方向に沿う1次回帰直線B0に対する第2方向
のずれの標準偏差σを求め、解像度R、 R = 1/(Ew+σ) を求めることを特徴とする解像度測定方法である。 rは、たとえば1/1.5〜1/2.5の値である。 また本発明は、凹凸度補正係数をk1とするとき、前記
標準偏差σと凹凸度補正係数k1との積σ・k1が50
%となるように、凹凸度補正係数k1を定め、この積σ
・k1を解像度Rの演算に用いることを特徴とする。 また本発明は、画像を撮像する撮像手段は、その画像を
光学的に拡大する手段を有し、この拡大倍率に対応した
エッジ幅補正係数k2を定め、前記エッジ幅Ewをエッ
ジ幅補正係数k2だけ減算して、解像度Rの演算に用い
ることを特徴とする。 また本発明は、直線状に延びるライン状画像を有する原
稿を撮像手段によって撮像し、この撮像手段は、第1方
向と、第1方向に垂直な第2方向とに行列状に配列され
た複数階調をそれぞれ検出する各画素を構成する複数の
受光素子を有し、受光素子の出力をメモリにストアして
おき、メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度を
求めて、一方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第1
濃度Riと、他方の濃度側の頻度が極大である最頻値の
第2濃度Rbとを求め、第1および第2濃度Ri,Rb
の間の階調の範囲w(ただし0<r<1)、 w = r・(Rb−Ri) を、1または予め定める複数の階調ずつずらして移動し
つつ、その各範囲w内に含まれる頻度Fiをそれぞれ求
めて、各範囲w毎に求めた頻度Fiのうち、最小の頻度
Fmが得られた範囲wを検出し、エッジ幅Ewは、ウイ
ンドウの第1方向の長さL、画素の第2方向の長さa2
とするとき、 Ew = a2・Fm/L を演算することを特徴とするライン画像のエッジ幅の測
定方法である。 また本発明は、ライン上の画像を有する原稿を撮像手段
によって撮像し、この撮像手段は、ライン上画像の長手
方向に平行な垂直走査方向である第1方向と、第1方向
に垂直な水平走査方向である第2方向とに行列状に配列
された複数階調をそれぞれ有する各画素を構成する複数
の受光素子を有し、受光素子の出力をメモリにストアし
ておき、メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度
を求めて、高濃度側の頻度が極大である最頻値の第1濃
度Riと、低濃度側の頻度が極大である最頻値の第2濃
度Rbとを求め、第1および第2濃度Ri,Rbの間の
範囲w、 w =(Rb−Ri)/2 を、1階調ずつずらして移動しつつ、その各範囲w内に
含まれる頻度Fiをそれぞれ求めて、各範囲w毎に求め
た頻度Fiのうち、最小の頻度Fmが得られた範囲wを
検出し、この最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける
中央の頻度を有する第3濃度Rewをしきい値とし、ウ
インドウ内における第3濃度Rew以上または未満であ
るライン状画像の画素数Bを求め、画素の第2方向の長
さa2とするとき、 線幅Lew、 Lew = a2・B/L を演算することを特徴とするライン画像の線幅の測定方
法である。 また本発明は、画像を撮像する撮像手段は、画像を光学
的に拡大する手段を有し、この拡大倍率に対応した線幅
補正係数k3を求め、前記線幅Lewから線幅補正係数
k3だけ減算して補正することを特徴とする。 また本発明は、直線状に延びるライン状画像を有する
原稿を撮像する撮像手段であって、垂直走査方向である
列の第1方向と、第1方向に垂直な水平走査方向である
行の第2方向とに行列状に配列された複数階調をそれぞ
れ検出する各画素を構成する複数の受光素子を有する撮
像手段と、撮像手段の受光素子の出力をストアするメモ
リと、メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度を
求めて、一方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第1
濃度Riと、他方の濃度側の頻度が極大である最頻値の
第2濃度Rbとを求める濃度検出手段と、濃度検出手段
の出力に応答し、第1および第2濃度Ri,Rbの間の
階調の範囲w(ただし0<r<1)、 w=r・(Rb−Ri) を、1または予め定める複数の階調ずつずらして移動し
つつ、その各範囲w内に含まれる頻度Fiをそれぞれ求
めて、各範囲w毎に求めた頻度Fiのうち、最小の頻度
Fmが得られた範囲wを検出する範囲検出手段と、範囲
検出手段の出力に応答し、ライン状画像の長手方向を、
仮想上、第1方向に一致した状態としたとき、前記ウイ
ンドウ内で、この最小の頻度Fmが得られた範囲wの第
2方向に延びる幅ewを求め、エッジ幅Ew、 Ew = ew/r を求めるエッジ幅演算手段と、範囲検出手段の出力に応
答し、最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける中央の
頻度を有する第3の濃度Rewをしきい値とし、第3濃
度Rewをしきい値とする境界の2値化を行う2値化手
段と、2値化手段の出力に応答し、境界の第1方向に沿
う1次回帰直線b0に対する第2方向のずれの標準偏差
σを求める標準偏差演算手段と、エッジ幅演算手段と標
準偏差演算手段との各出力に応答し、解像度R、 R = 1/(Ew+σ) を求めることを特徴とする解像度測定装置である。 rは、たとえば1/1.5〜1/2.5の値である。
According to the present invention, a window is composed of a plurality of pixels each having a plurality of gradations.
In this window, 2 extending in a predetermined first direction
The frequency for each density of each image in this window including the boundary of the image to be digitized is calculated, and the first density Ri of the mode having the maximum frequency on the high density side and the frequency on the low density side are determined. The maximum modal value of the second density Rb and the maximum density of the second density Rb are obtained, and a predetermined constant density difference range w between the first and second densities Ri and Rb is moved and included in each range w. Frequency F
i is obtained, the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected from among the frequencies Fi obtained in each range w, and the first range w in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected. The width ew extending in the second direction orthogonal to the one direction is obtained as the edge width Ew, and the third density Rew having the central frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is set as a threshold value, and the third density Rew is calculated. The boundary as a threshold value is binarized, and the second with respect to the regression line B0 along the first direction of the boundary.
The resolution measuring method is characterized in that the standard deviation σ of the deviation in the direction is obtained, and the resolutions R and R = 1 / (Ew + σ) are obtained. The predetermined concentration range w is defined by w = r · (Rb−Ri), and r is a value of 1 / 1.5 to 1 / 2.5. Further, according to the present invention, an original having a linear image extending linearly is picked up by an image pickup device, and the image pickup device is arranged in a matrix in a first direction and a second direction perpendicular to the first direction. It has a plurality of light receiving elements that configure each pixel for detecting each gradation, stores the output of the light receiving elements in a memory, reads the stored contents of the memory, obtains the frequency for each density, and The first mode with the maximum frequency on the side
The density Ri and the second density Rb of the mode having the maximum frequency on the other density side are obtained, and the first and second densities Ri, Rb are obtained.
Range w (0 <r <1), w = r · (Rb−Ri) between 1 and a plurality of predetermined gradations are shifted and included in each range w. Of the frequency Fi obtained for each range w, the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected, and the longitudinal direction of the line-shaped image is virtually coincident with the first direction. In this state, the width ew extending in the second direction of the range w in which the minimum frequency Fm is obtained in the window is obtained, the edge widths Ew and Ew = ew / r are obtained, and the minimum frequency Fm is obtained. The third density Rew having the central frequency in the obtained range w is used as a threshold value, and the boundary is binarized using the third density Rew as a threshold value, and linear regression along the first direction of the boundary is performed. The standard deviation σ of the deviation in the second direction with respect to the straight line B0 is obtained, and the resolution R, = A resolution measuring method characterized by determining 1 / a (Ew + σ). r is, for example, a value of 1 / 1.5 to 1 / 2.5. Further, in the present invention, when the unevenness correction coefficient is k1, the product σ · k1 of the standard deviation σ and the unevenness correction coefficient k1 is 50.
The unevenness correction coefficient k1 is determined so that
It is characterized in that k1 is used for calculation of the resolution R. Further, according to the present invention, the image pickup means for picking up an image has a means for optically enlarging the image, determines an edge width correction coefficient k2 corresponding to the enlargement magnification, and sets the edge width Ew to the edge width correction coefficient k2. It is characterized in that only the difference is subtracted and used for the calculation of the resolution R. Further, according to the present invention, an original having a linear image extending linearly is picked up by an image pickup device, and the image pickup device is arranged in a matrix in a first direction and a second direction perpendicular to the first direction. It has a plurality of light receiving elements that configure each pixel for detecting each gradation, stores the output of the light receiving elements in a memory, reads the stored contents of the memory, obtains the frequency for each density, and The first mode with the maximum frequency on the side
The density Ri and the second density Rb of the mode having the maximum frequency on the other density side are obtained, and the first and second densities Ri, Rb are obtained.
Range w (0 <r <1), w = r · (Rb−Ri) between 1 and a plurality of predetermined gradations are shifted and included in each range w. Of the frequency Fi obtained for each range w, the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected, and the edge width Ew is the length L of the window in the first direction, the pixel A2 in the second direction
Then, Ew = a2 · Fm / L is calculated, which is a method for measuring an edge width of a line image. Further, according to the present invention, a document having an image on a line is imaged by an image pickup means, and the image pickup means is a first direction which is a vertical scanning direction parallel to the longitudinal direction of the image on the line and a horizontal direction perpendicular to the first direction. It has a plurality of light receiving elements forming pixels each having a plurality of gradations arranged in a matrix in the second direction which is the scanning direction, and stores the output of the light receiving element in a memory. Is read out to find the frequency for each density, and the first density Ri of the mode having the maximum frequency on the high density side and the second density Rb of the mode having the maximum frequency on the low density side are calculated. Then, while moving the range w, w = (Rb-Ri) / 2 between the first and second densities Ri, Rb by shifting by one gradation, the frequency Fi included in each range w is moved. Of the frequencies Fi calculated for each range w, the minimum frequency Fm is The line-shaped image in which the minimum frequency Fm is detected and the third density Rew having the central frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is set as a threshold value and is equal to or more than or less than the third density Rew in the window. When the number B of pixels is calculated and the length a2 of the pixel in the second direction is calculated, the line widths Lew and Lew = a2 · B / L are calculated, and the line width of the line image is measured. Further, in the present invention, the image pickup means for picking up the image has a means for optically enlarging the image, obtains a line width correction coefficient k3 corresponding to the enlargement magnification, and calculates only the line width correction coefficient k3 from the line width Lew. It is characterized by subtracting and correcting. Further, the present invention is an image pickup means for picking up an image of a document having a linear image extending linearly, the first means of a column being a vertical scanning direction and the first row of a row being a horizontal scanning direction perpendicular to the first direction. An image pickup unit having a plurality of light receiving elements forming pixels for detecting a plurality of gradations arranged in a matrix in two directions, a memory for storing an output of the light receiving element of the image pickup unit, and a stored content of the memory are described. The frequency of each density is read out and the frequency of one density side is maximum
Between the first and second densities Ri and Rb in response to the output of the density detection means and the density detection means for obtaining the second density Rb of the mode having the maximum frequency on the other density side. Of the gradation range w (where 0 <r <1) and w = r · (Rb−Ri) are shifted by one or a plurality of predetermined gradations, and are included in each range w. The range detection means for detecting the range w in which the minimum frequency Fm is obtained among the frequencies Fi obtained for each range w and the output of the range detection means, and the length of the linear image is determined. Direction
Virtually, when the state coincides with the first direction, the width ew extending in the second direction of the range w in which the minimum frequency Fm is obtained in the window is obtained, and the edge widths Ew, Ew = ew / r. In response to the output of the edge width computing means for obtaining the value and the range detecting means, the third density Rew having the central frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is set as a threshold value, and the third density Rew is calculated. In response to the output of the binarizing means for binarizing the boundary as the threshold value, the standard deviation σ of the deviation in the second direction with respect to the linear regression line b0 along the first direction of the boundary is set. The resolution measuring apparatus is characterized in that the resolution R, R = 1 / (Ew + σ) is obtained in response to each output of the standard deviation computing means to be obtained and the edge width computing means and the standard deviation computing means. r is, for example, a value of 1 / 1.5 to 1 / 2.5.

【0006】作用を述べる。 解像力は、空間周波数fに対する解像率、すなわち解像
度Rfで示される。たとえば白の下地部に、たとえば黒
の画像部である黒ラインが存在する場合、黒ラインに交
差する方向に走査したとき、隣接する黒ラインとの分離
および接触を判別する。空間周波数fでの解像度Rf
は、式1で求めることができる。 Rf = (Nf−N1f)/Nf …(1) 式1において、Nfは、在来の白い下地部に描かれた測
定されるべき黒ラインの本数であり、N1fは、このテ
ストチャートにおける接触している黒ライン本数を表
す。この黒ラインは、2値化しきい値R60によって識
別される。一般的に、p%の2値化しきい値Rpは、式
2で示される。
The operation will be described. The resolving power is represented by the resolution ratio with respect to the spatial frequency f, that is, the resolution Rf. For example, when a black line, which is a black image portion, exists in a white background portion, for example, when scanning is performed in a direction intersecting the black line, separation and contact with an adjacent black line are determined. Resolution Rf at spatial frequency f
Can be calculated by Equation 1. Rf = (Nf−N1f) / Nf (1) In Formula 1, Nf is the number of black lines to be measured drawn on the conventional white background portion, and N1f is the contact point in this test chart. Shows the number of black lines. This black line is identified by the binarization threshold value R60. In general, the binarization threshold value Rp of p% is expressed by Equation 2.

【0007】[0007]

【数1】 [Equation 1]

【0008】p=60%のとき、その2値化しきい値R
60は式3で示される。
When p = 60%, the binarization threshold value R
60 is shown in Equation 3.

【0009】R60 = Rb+0.6(Ri−Rb)=
0.6・Ri+0.4・Rb…(3)解像力は、上述
のように空間周波数fに対する解像度の特性を表すけれ
ども、簡略的には、解像度が50%であるときの空間周
波数fで表すようにしてもよい。本発明では、このよう
な簡略的な手法の解像度を測定する。
R60 = Rb + 0.6 (Ri-Rb) =
0.6 · Ri + 0.4 · Rb (3) The resolution expresses the characteristic of the resolution with respect to the spatial frequency f as described above, but is simply expressed by the spatial frequency f when the resolution is 50%. You may In the present invention, the resolution of such a simple method is measured.

【0010】本発明に従えば、特許請求の範囲請求項3
に示される直線状に延びるライン状画像を有する原稿を
行列状に配列された複数階調を検出することができる画
素を有する受光素子によって撮像して、メモリにストア
しておき、この画像のウインドウ部内には、縦の列方向
である第1方向に延びるたとえば単一本のライン状画像
が存在し、たとえば黒いライン状画像が白い下地部に形
成されている場合などにおいて、その一方のたとえば高
濃度側の画素の頻度が極大である最頻値の第1濃度Ri
と、白い下地部の低濃度側の画素の頻度が極大である最
頻値の第2濃度Rbとを求め、この第1および第2濃度
Ri,Rb間の濃度域を100%とし、その間のr%濃
度域をエッジ幅のサンプリング域である階調の範囲wと
し、その範囲wを、1階調ずつ、または予め定める複数
階調ずつ、ずらして移動しつつ、各範囲w内に含まれる
画素の頻度Fiをそれぞれ求めてゆき、各範囲w毎に求
めた頻度Fiのうち、最小の頻度Fmが得られた範囲w
を検出する。ライン状画像の長手方向を、仮想上、第1
方向(たとえば列方向)に一致した状態とし、このこと
はたとえばメモリにストアされているデータを演算処理
することによって容易に行うことができ、こうして得ら
れた最小の頻度Fmが得られた範囲wの第2方向(たと
えば横の行方向)に延びる幅ewを求める。 最小の頻度Fmが得られた範囲wは、第2方向の変位量
に対する階調の変化量が最も大きい急峻な範囲であり、
軸が存在するものと判断する。エッジ幅Ewの最適化を
行うにあたっては、第1および第2濃度Ri,Rbの間
の濃度域を100%としたときに、その間のr%濃度域
である前記最小の頻度Fmが得られた範囲wのエッジ断
面濃度勾配の延長線が、ライン画像の第1濃度Riと下
地部の第2濃度Rbとの各延長線との交点との足の幅が
最小となる値である。 rは、たとえば1/1.5〜1/2.5の範囲に選ば
れ、たとえば1/2(すなわち50%)に選ばれる。r
=1/2であるとき、前記幅ewを2倍することによっ
て、エッジ幅Ewを得ることができる。 さらに最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける中央の
頻度を有する第3濃度Rewをしきい値として、ライン
状画像の境界の2値化を行い、その境界の第1方向に沿
う予め求めた一次回帰直線B0に対する第2方向のずれ
の標準偏差σ、すなわちエッジ凹凸度を求める。これに
よって解像度Rを、(Ew+σ)の逆数として求めるこ
とができる。 直線状に延びるライン状画像の下地部との境界における
解像度を求めるにあたっては、前記最小の頻度Fmが得
られた範囲wの第2方向に延びる幅ewを、解像度Rを
求める式におけるエッジ幅Ewとして代入すればよい。
According to the invention, the claims are
An image of a document having a linear image extending linearly as shown in FIG. 2 is picked up by a light receiving element having pixels capable of detecting a plurality of gradations arranged in a matrix and stored in a memory. For example, when a single line-shaped image extending in the first direction, which is the vertical column direction, exists in the section, and when, for example, a black line-shaped image is formed on the white base portion, one of the high-level images is high. The first density Ri of the most frequent value in which the frequency of the pixels on the density side is maximum
And the second density Rb of the mode in which the frequency of the pixels on the low density side of the white background is the maximum, and the density range between the first and second densities Ri and Rb is set to 100%, and The r% density range is set as a gradation range w that is a sampling range of the edge width, and the range w is shifted by one gradation or by a plurality of predetermined gradations, and is included in each range w. The frequency Fi of each pixel is obtained, and the range w in which the minimum frequency Fm is obtained among the frequencies Fi obtained for each range w is obtained.
Is detected. The longitudinal direction of the line-shaped image is virtually
The direction coincides with the direction (for example, the column direction), and this can be easily performed, for example, by processing the data stored in the memory, and the range w in which the minimum frequency Fm thus obtained is obtained. The width ew extending in the second direction (for example, the horizontal row direction) is calculated. The range w in which the minimum frequency Fm is obtained is a steep range in which the amount of change in gradation with respect to the amount of displacement in the second direction is the largest,
Judge that the axis exists. In optimizing the edge width Ew, when the density range between the first and second densities Ri and Rb is set to 100%, the minimum frequency Fm which is the r% density range therebetween is obtained. The extension line of the edge cross-section density gradient in the range w is a value at which the width of the foot at the intersection of the extension line of the first density Ri of the line image and the extension line of the second density Rb of the base portion is minimum. r is selected in the range of 1 / 1.5 to 1 / 2.5, for example, 1/2 (that is, 50%). r
= 1/2, the edge width Ew can be obtained by doubling the width ew. Further, the boundary of the line-shaped image is binarized with the third density Rew having the center frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained as a threshold value, and it is obtained in advance along the first direction of the boundary. The standard deviation σ of the deviation in the second direction with respect to the linear regression line B0, that is, the degree of edge unevenness is calculated. Thereby, the resolution R can be obtained as the reciprocal of (Ew + σ). In obtaining the resolution at the boundary between the linear image extending linearly and the base portion, the width ew extending in the second direction of the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is defined as the edge width Ew in the equation for obtaining the resolution R. Substitute as

【0011】特許請求の範囲請求項1の本発明に従え
ば、前述の直線状に延びるライン状画像に関する解像度
の測定と同様な考え方によって、曲線の下地部との境界
の解像度の測定を行うこともまた、可能である。曲線
は、予め定める第1方向に延び、これはたとえばメモリ
のストア内容を読出すことによって、回帰式を求め、こ
の回帰式は、たとえば2次曲線、双曲線などであっても
よく、その他の曲線であってもよく、こうして得られた
回帰式の回帰線B0は、前記第1方向に沿い、この回帰
線B0に沿う各位置における接線に垂直な法線である第
2方向に延びる幅ewを、エッジ幅Ewとして求め、ま
た標準偏差σは、回帰線B0に対する第2方向である法
線方向のずれから求めることができ、これによって解像
度Rを演算して求めることができる。
According to the present invention of claim 1, the resolution of the boundary between the curved line and the base portion is measured by the same concept as the measurement of the resolution of the linear image extending linearly. Is also possible. The curve extends in a predetermined first direction, which determines a regression equation, for example by reading the stored contents of memory, which regression equation may be, for example, a quadratic curve, a hyperbola, etc. The regression line B0 of the regression equation thus obtained has a width ew extending along the first direction in the second direction which is a normal line perpendicular to the tangent line at each position along the regression line B0. , The edge width Ew, and the standard deviation σ can be obtained from the deviation in the normal direction, which is the second direction, with respect to the regression line B0, and thus the resolution R can be calculated.

【0012】本発明に従えば、曲線の両側の境界がウイ
ンドウ内に存在するときには、前述の直線状に延びるラ
イン状画像の演算処理と同様に、前記幅ewから、値r
を用いて、エッジ幅Ewを求めればよい。
According to the present invention, when the boundaries on both sides of the curve are present in the window, the value r is calculated from the width ew as in the arithmetic processing of the linear image extending linearly.
The edge width Ew may be obtained by using.

【0013】こうして任意画像の解像度を測定すること
ができる。エッジ幅Ewの測定区間wは、解像度判定の
濃度域のr%減衰域と同一であって、在来のテストチャ
ートを用いた解像度の評価法と近似の解像度の測定を達
成することができる。こうして任意の2値の境界または
ラインなどの画像の解像度を、直接に、推定して評価す
ることができ、広範囲の画質評価が可能になる。
Thus, the resolution of an arbitrary image can be measured. The measurement section w of the edge width Ew is the same as the r% attenuation area of the density area of the resolution determination, and the resolution evaluation method using the conventional test chart and the measurement of the approximate resolution can be achieved. In this way, the resolution of an image such as an arbitrary binary boundary or line can be directly estimated and evaluated, and a wide range of image quality can be evaluated.

【0014】特に本発明に従えば、上述のように、階調
の範囲wをその階調方向に1または複数の階調ずつずら
しながら移動して各範囲w毎に求めた頻度Fiのうち、
最小の頻度Fmが得られた範囲wを検出して幅ewを求
めるようにし、これによってエッジ幅Ewを得るので、
その幅ewおよびエッジ幅Ewを最小とすることがで
き、これによって常に測定結果が安定して得られ、エッ
ジ幅Ewの濃度変化率の最大値が得られるサンプリング
幅wを見付けることができるようになる。これによって
エッジ幅Ewの測定精度を安定することができる。すな
わち濃度断面の濃度変化率の最大区間wがエッジ部の評
価域となるので、測定精度を安定することができる。し
たがって撮像素子の受光素子としてCCD(電荷結合素
子)を用いたエッジ幅Ewの測定時に、対象画像の善し
悪しおよび画像と下地部である生地の評価面積の比率の
影響を受けることはなく、エッジ幅Ew、したがって解
像度Rの測定精度のばらつきが生じることを防ぐことが
できる。
In particular, according to the present invention, as described above, among the frequencies Fi obtained for each range w by moving the range w of gradations by shifting one or a plurality of gradations in the gradation direction,
Since the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected and the width ew is obtained, and thereby the edge width Ew is obtained,
The width ew and the edge width Ew can be minimized so that the measurement result can always be stably obtained and the sampling width w at which the maximum value of the density change rate of the edge width Ew is obtained can be found. Become. This makes it possible to stabilize the measurement accuracy of the edge width Ew. That is, since the maximum section w of the density change rate of the density cross section becomes the evaluation area of the edge portion, the measurement accuracy can be stabilized. Therefore, when measuring the edge width Ew using a CCD (charge coupled device) as a light receiving element of the image sensor, the edge width is not affected by the quality of the target image and the ratio of the evaluation area of the image and the base material. It is possible to prevent variations in measurement accuracy of Ew, and hence resolution R, from occurring.

【0015】本発明に従えば、標準偏差σであるエッジ
の凹凸度は、凹凸度補正係数k1を掛算して補正するこ
とができる。これによってエッジの凹凸度の補正を、線
幅輪郭線B1の回帰線B0を等間隔におき、互いに、回
帰線B0の50%が接触する確立にあると仮定して、そ
の輪郭線B1のエッジの凹凸度σの補正を行う。このよ
うに積σ・k1が50%となるように凹凸度補正係数k
1を定めて、その他の解像度の測定を行うようにするこ
とによって、解像度判定のライン状などの画像の接触率
を50%とするテストチャート解像度法に近似した接触
率50%上側確立に近似する補正を施して、解像度の測
定をすることが可能になる。
According to the present invention, the unevenness of the edge having the standard deviation σ can be corrected by multiplying the unevenness correction coefficient k1. As a result, the unevenness degree of the edge is corrected by assuming that the regression lines B0 of the line width contour line B1 are arranged at equal intervals and that 50% of the regression lines B0 are in contact with each other, and the edge of the contour line B1 is corrected. The unevenness degree σ of is corrected. In this way, the unevenness correction coefficient k is set so that the product σ · k1 becomes 50%.
By setting 1 to measure the other resolution, the contact rate of the line-shaped image for resolution determination is set to 50%, and the contact rate is approximated to 50%, which is similar to the test chart resolution method. It is possible to make a correction and measure the resolution.

【0016】さらに本発明に従えば、撮像手段は、画像
を光学的に各大する手段を有しており、エッジ形補正係
数k2を、この拡大倍率に対応して定め、補正した画像
のエッジ幅(Ew−k2)を、解像度Rのエッジ幅Ew
に代入することによって、撮像手段における顕微鏡で測
定するときの倍率を代えたときに画素サイズの影響を受
けて、測定時のエッジ幅値の変動が著しくなるのを防
ぎ、すなわちCCDカメラである撮像手段の測定倍率に
よる画素サイズの大きさから測定値が大きくなる、いわ
ゆる線太りの傾向が出る欠点を解消することができる。
そのためにCCDカメラ出力データを測定時に、顕微鏡
の各倍率でエッジ幅Ewを測定し、その結果に基づき、
画素サイズ補正係数k2を求めてエッジ幅補正を行う。
たとえばr=1/2と定めたとき、2・ew=Ew−k
2とする。この2・ewを、解像度Rの式のEwとして
代入する。これによって顕微鏡の倍率対応を可能とす
る。こうしてエッジ幅測定の精度を向上することがで
き、高精度のエッジ幅測定を可能とする。 さらに第3濃度Rewは、最小の頻度Fmが得られた範
囲wにおける中央の頻度を有する値とし、この第3濃度
Rewをしきい値として境界、したがってライン状など
の画像の2値化をして、標準偏差σを求めるようにした
ので、線幅の輪郭を、対象画像の善し悪しおよび画像の
下地部である生地の比率の影響を回避することができる
ようになる。これによって測定条件の自由度が大きくな
る。この線幅の輪郭は、エッジの凹凸度である標準偏差
σのために上述のようにして用いられる。
Further in accordance with the present invention, the image pickup means has means for optically enlarging the image, and the edge-shaped correction coefficient k2 is determined corresponding to the enlargement magnification, and the edge of the corrected image is corrected. Width (Ew-k2) is the edge width Ew of resolution R
By substituting into the image capturing means, it is possible to prevent the fluctuation of the edge width value at the time of measurement from becoming significant due to the influence of the pixel size when changing the magnification when measuring with the microscope in the image capturing means, that is, the image capturing by the CCD camera. It is possible to eliminate the disadvantage that the measured value becomes large due to the pixel size depending on the measurement magnification of the means, that is, the so-called line thickening tendency tends to occur.
Therefore, when measuring the CCD camera output data, the edge width Ew is measured at each magnification of the microscope, and based on the result,
The pixel width correction coefficient k2 is obtained and the edge width is corrected.
For example, when r = 1/2 is determined, 2 · ew = Ew−k
Let it be 2. This 2 · ew is substituted as Ew in the equation of resolution R. This makes it possible to deal with the magnification of the microscope. In this way, the accuracy of edge width measurement can be improved, and highly accurate edge width measurement can be performed. Further, the third density Rew is set to a value having a central frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained, and the third density Rew is used as a threshold value to binarize an image such as a boundary or a line. Thus, the standard deviation σ is obtained, so that the contour of the line width can be prevented from being influenced by the quality of the target image and the ratio of the cloth which is the base portion of the image. This increases the degree of freedom of measurement conditions. This line width contour is used as described above for the standard deviation σ, which is the roughness of the edge.

【0017】さらに本発明に従えば、エッジ幅Ewは、
前述の最小の頻度Fmに基づき、ウインドウの第1方向
の長さLと画素の第2方向の長さA2とに基づいて演算
して求めることができる。また直線状に延びるライン画
像または曲線状の画像の線幅Lewは、そのラインなど
の画像の第3濃度Rew以上である画素数Bまたは第3
濃度Rew未満の画素数Bを用いて、求めることができ
る。下地部が白であって、直線または曲線のライン状画
像が黒であるときには、画素数Bは、第3濃度Rew以
上でレベル弁別し、すなわち黒い画像は、高濃度であ
り、したがって反射率は小さい。下地部が黒であって直
線または曲線の画像が白であるときには、画素数Bは、
第3濃度Rew未満である画素の数であり、この場合、
画像は低濃度であって、高い反射率を有する。 さらにこの線幅Lewは、CCDカメラなどの撮像手段
の倍率に対応する画素サイズの補正値k3を用い、低倍
率の線幅測定値も、高倍率の線幅測定値に近い測定結果
を得られることを可能にする。こうしてCCDカメラの
線幅測定値の線太りの原因を、画素サイズの補正によっ
て解消することができる。
Further according to the invention, the edge width Ew is
It can be calculated based on the above-described minimum frequency Fm and the length L of the window in the first direction and the length A2 of the pixel in the second direction. In addition, the line width Lew of the line image or the curved image that extends linearly is the number of pixels B or the third that is equal to or larger than the third density Rew of the image of the line or the like
It can be obtained by using the number of pixels B that is less than the density Rew. When the background is white and the linear or curved line-shaped image is black, the pixel number B is level discriminated at the third density Rew or higher, that is, the black image has high density, and therefore the reflectance is high. small. When the background portion is black and the straight or curved image is white, the number of pixels B is
The number of pixels that are less than the third density Rew. In this case,
The image has low density and high reflectance. Further, for this line width Lew, the pixel size correction value k3 corresponding to the magnification of the image pickup means such as a CCD camera is used, and the measurement result of the low-magnification line width can be obtained close to the high-magnification line width measurement value. To enable that. In this way, the cause of the line weight of the line width measurement value of the CCD camera can be eliminated by correcting the pixel size.

【0018】[0018]

【発明の実施の形態】図1は、本発明の実施の典型的な
一形態を示すブロック図である。撮像手段13は、CC
Dカメラヘッド1と、その対物レンズの前方に設けられ
た拡大機能を有する顕微鏡2とを含み、スタンド14に
設置される。原稿15の上面には、複写機、プリンタ、
デジタルコピア、ファクシミリ装置、スキャナなどによ
って複写などされた印刷物であって、その上面に直線状
に延びるライン状画像などが描かれており、この原稿1
5は、光源3および陰が生じないように照明を行う照明
具4とによって照明される。光源手段5は、照明具4の
照明制御を行う。CCDカメラヘッド1は、垂直走査方
向である列の第1方向と、その第1方向に垂直な水平走
査方向である行の第2方向とに行列状に配列された複数
階調をそれぞれ検出する複数の受光素子を有し、この受
光素子は、CCD(電荷結合素子)によって実現され
る。
FIG. 1 is a block diagram showing a typical embodiment of the present invention. The imaging means 13 is a CC
The D camera head 1 and the microscope 2 having a magnifying function, which is provided in front of the objective lens of the D camera head 1, are installed on the stand 14. A copy machine, a printer,
A printed matter that has been copied by a digital copier, a facsimile machine, a scanner, or the like, and has a linear image extending linearly on its upper surface.
5 is illuminated by the light source 3 and the illuminator 4 that illuminates so as not to produce shade. The light source means 5 controls the illumination of the illuminator 4. The CCD camera head 1 detects a plurality of grayscales arranged in a matrix in a first direction of a column which is a vertical scanning direction and a second direction of a row which is a horizontal scanning direction perpendicular to the first direction. It has a plurality of light receiving elements, and this light receiving element is realized by a CCD (charge coupled device).

【0019】このカメラヘッド1は、コントロールユニ
ット6によって動作が制御され、その撮像して得られる
画像は、解像度処理回路7に与えられて解像度などが演
算され、このカメラヘッド1によって撮像した画像およ
び解像度処理回路7における演算処理結果は、液晶また
は陰極線管などによって実現される画像モニタ8に表示
される。さらにまた画像処理回路7の出力は、パーソナ
ルコンピュータなどによって実現される演算処理回路9
に与えられて演算が行われ、この演算処理はキーボード
11によって入力制御され、解像度処理回路7および演
算処理回路9の演算結果は、プリンタ12によって記録
紙に印字して出力される。
The operation of the camera head 1 is controlled by the control unit 6, and the image obtained by picking up the image is given to the resolution processing circuit 7 to calculate the resolution and the like, and the image picked up by the camera head 1 and The calculation processing result in the resolution processing circuit 7 is displayed on the image monitor 8 realized by a liquid crystal or a cathode ray tube. Furthermore, the output of the image processing circuit 7 is an arithmetic processing circuit 9 realized by a personal computer or the like.
And the calculation is performed. The calculation processing is input and controlled by the keyboard 11. The calculation results of the resolution processing circuit 7 and the calculation processing circuit 9 are printed on recording paper by the printer 12 and output.

【0020】解像度処理回路7の動作は、図2に示され
る。これによって解像度ならびにそれだけでなくエッジ
幅Ewおよび線幅Lewを測定することができる。
The operation of the resolution processing circuit 7 is shown in FIG. This makes it possible to measure the resolution as well as the edge width Ew and the line width Lew.

【0021】図3は原稿15の画像のカメラヘッド1に
よって検出されたウインドウ16を示す図であり、この
ウインドウ16の画像は、コントロールユニット6から
解像度処理回路7に与えられてメモリ17にストアされ
る。ウインドウ16において白い下地部Cには、黒い直
線状に延びるライン状画像Aが描かれている。ライン状
画像Aの一方の境界の輪郭線は参照符B1で示され、そ
の1次回帰直線は参照符B0で示される。この1次回帰
直線B0は、メモリ17における画像処理によってウイ
ンドウ16の垂直走査方向である列の方向、すなわち第
1方向に平行であり、この第1方向に垂直な水平走査方
向は行方向であって、第2方向である。この実施の形態
では、第1方向の縦長さLであり、第2方向の横の長さ
Xであり、本件実施の形態においては、たとえばL=X
である。
FIG. 3 is a view showing a window 16 of the image of the original 15 detected by the camera head 1. The image of the window 16 is given from the control unit 6 to the resolution processing circuit 7 and stored in the memory 17. It A line image A extending in a black straight line is drawn on a white background portion C in the window 16. The outline of one boundary of the line-shaped image A is indicated by reference numeral B1, and its linear regression line is indicated by reference numeral B0. The linear regression line B0 is parallel to the column direction, which is the vertical scanning direction of the window 16, that is, the first direction by the image processing in the memory 17, and the horizontal scanning direction perpendicular to the first direction is the row direction. The second direction. In this embodiment, the vertical length L in the first direction is the horizontal length X in the second direction, and in the present embodiment, for example, L = X
It is.

【0022】図4は、解像度を説明するための図であ
る。図3に示されるウインドウ16の行の第2方向に沿
う各画素の濃度の最大値V1と最小値V2との差ΔV1
が大きく、その解像度がたとえば100%であると想定
する場合、図4(2)に示されるようにその濃度の最大
値V3と最小値V4との差ΔV2が小さくなって解像度
Rvが低下したとき、
FIG. 4 is a diagram for explaining the resolution. The difference ΔV1 between the maximum value V1 and the minimum value V2 of the density of each pixel along the second direction of the row of the window 16 shown in FIG.
Is large and the resolution is assumed to be 100%, for example, when the difference ΔV2 between the maximum value V3 and the minimum value V4 of the density becomes small as shown in FIG. ,

【0023】[0023]

【数2】 [Equation 2]

【0024】が成立し、このとき解像度Rv%の空間周
波数であるという。空間周波数がこのようにたとえば5
0%以下のとき、解像度が悪いと称することができ、ま
た解像していないと言うことができる。
It is said that the spatial frequency of the resolution Rv% is satisfied. The spatial frequency is thus 5
When it is 0% or less, it can be said that the resolution is poor and that it is not resolved.

【0025】再び図2に戻り、解像度処理回路7は、ス
テップs0から解像度の演算処理動作を開始し、まず、
ステップs1では、カメラヘッド1の出力がその階調に
応じてメモリ17にストアされており、このメモリ17
のストア内容の濃度補正演算を行う。
Returning to FIG. 2 again, the resolution processing circuit 7 starts the calculation processing operation of the resolution from step s0.
At step s1, the output of the camera head 1 is stored in the memory 17 according to the gradation, and this memory 17
The density correction calculation of the stored contents of is performed.

【0026】図5に示されるように、カメラヘッド1の
各画素の出力は階調0〜255までの合計256階調に
識別され、たとえばその白い下地部の反射率98%が階
調227に対応し、黒の反射率11.2%が階調28に
対応するように、参照符d1,d2が一致して補正曲線
17が得られるように濃度補正演算を行う。こうして反
射率0〜100%にわたる画素の0〜255までの各階
調が大略的に1次直線で表されるように較正することが
できる。
As shown in FIG. 5, the output of each pixel of the camera head 1 is discriminated into a total of 256 gradations from gradation 0 to 255. For example, the reflectance of 98% of the white background portion is gradation 227. Correspondingly, the density correction calculation is performed so that the reference curves d1 and d2 match and the correction curve 17 is obtained so that the black reflectance 11.2% corresponds to the gradation 28. In this way, it is possible to calibrate each gradation from 0 to 255 of a pixel having a reflectance of 0 to 100% so as to be roughly represented by a linear line.

【0027】ステップs2では、図3に示されるウイン
ドウ16における階調と画素数すなわち頻度との関係を
示すヒストグラムを求める。解像度処理回路7では、メ
モリ17のストア内容に基づき、図6に示されるよう
に、濃度毎の頻度を求めて、一方の高濃度側の頻度が極
大である最頻値の第1濃度Riと、他方の低濃度側の頻
度が極大である最頻値の第2濃度Rbとを求める。第1
濃度Riは、黒のライン状画像Aに対応し、第2濃度R
bは、白い下地部Cに対応する。このような第1および
第2濃度Ri,Rbは、ステップs3,s4においてそ
れぞれ求められる。
In step s2, a histogram showing the relationship between the gradation and the number of pixels, that is, the frequency in the window 16 shown in FIG. 3 is obtained. In the resolution processing circuit 7, as shown in FIG. 6, the frequency for each density is calculated based on the contents stored in the memory 17, and the first density Ri which is the mode having the maximum frequency on one high density side is the maximum. , And the second density Rb, which is the most frequent value in which the frequency on the other low density side is maximum, is obtained. First
The density Ri corresponds to the black line image A, and the second density R
b corresponds to the white base portion C. Such first and second densities Ri and Rb are obtained in steps s3 and s4, respectively.

【0028】次のステップs5では、第1および第2濃
度Ri,Rbの濃度域を100%とし、その間における
階調の範囲wを、 w = r・(Rb−Ri) …(5) を設定する。ここでrは、 0 < r < 1 …(6) に定められ、たとえばこの実施の形態ではr=1/2=
50%に定められる。
In the next step s5, the density range of the first and second densities Ri and Rb is set to 100%, and the gradation range w between them is set as follows: w = r. (Rb-Ri) (5) To do. Here, r is set to 0 <r <1 (6), and in this embodiment, for example, r = 1/2 =
It is set at 50%.

【0029】エッジ幅をEwを求めるために、ステップ
s6〜s8が実行される。前述の式5においてr=0.
5に選ばれることによって、次の式7が成立する。
In order to obtain the edge width Ew, steps s6 to s8 are executed. In the above equation 5, r = 0.
By selecting 5, the following expression 7 is established.

【0030】 w = 0.5(Rb − Ri) …(7) この範囲w内に含まれる頻度Fiを、求める。W = 0.5 (Rb−Ri) (7) The frequency Fi included in this range w is calculated.

【0031】[0031]

【数3】 (Equation 3)

【0032】この式8は、図6を簡略化して示す図7に
おいて、第1および第2濃度Ri〜Rb間における斜線
を施して示す面積である。fiは各階調毎の頻度を表
す。
This equation 8 is the area shown by hatching between the first and second concentrations Ri to Rb in FIG. 7 which is a simplified version of FIG. fi represents the frequency for each gradation.

【0033】頻度Fiは、第1〜第2階調Ri〜Rb間
においてこの実施の形態では1階調ずつずらして移動し
つつ、求められる。これによって各範囲w毎に求めた頻
度Fiのうち、最小の頻度Fmが得られた範囲wを検出
する。こうして最小の頻度Fmが得られた範囲wは、横
の第2方向の変位量に対する階調の変化量が最大であ
る。
The frequency Fi is obtained while shifting the first and second gradations Ri to Rb by one gradation in this embodiment. As a result, of the frequencies Fi calculated for each range w, the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected. In the range w in which the minimum frequency Fm is obtained in this manner, the amount of change in gradation with respect to the amount of horizontal displacement in the second direction is the maximum.

【0034】図8は、図3に示されるウインドウ16の
横の第2方向に沿う位置と階調との関係を示すグラフで
ある。この図8では、単一本の水平走査線上の階調が示
されている。本発明ではこの最小の頻度Fmが得られた
範囲wに基づいて、エッジ幅Ewを次のようにして求め
ている。
FIG. 8 is a graph showing the relationship between the horizontal position of the window 16 shown in FIG. 3 along the second direction and the gradation. In FIG. 8, gradations on a single horizontal scanning line are shown. In the present invention, the edge width Ew is obtained as follows based on the range w in which the minimum frequency Fm is obtained.

【0035】図9は、図3に示されるウインドウ16の
エッジ幅Ewを示す図である。横の行である第2方向1
9に沿って、白い下地部Cは第2濃度Rbを有し、黒い
画像部Aは第1濃度Riを有する。この画像部Aは、1
つの境界20,21を有する。
FIG. 9 is a diagram showing the edge width Ew of the window 16 shown in FIG. Second row 1 which is a horizontal row
9, the white background portion C has the second density Rb and the black image portion A has the first density Ri. This image part A is 1
It has two boundaries 20, 21.

【0036】図10は、画像部Aの一方の境界20付近
における横の第2方向19に沿う階調の変化を示す図で
ある。この図10において前述の最小の頻度Fmが得ら
れた範囲を参照符wで示す。この最小の頻度Fmが得ら
れた範囲wの第2方向(図10の左右方向)に延びる幅
ewを図2のステップs7で求める。図10における範
囲wを含むエッジ断面濃度勾配24の延長線25,26
が画像濃度Riの延長線と交差する交点22および下地
部Cの濃度Rbの延長線と交差する交点23とを求め
る。この交点22,23間の足幅をエッジ幅Ewとす
る。
FIG. 10 is a diagram showing changes in gradation along the second horizontal direction 19 near one boundary 20 of the image portion A. In FIG. 10, the range in which the above-mentioned minimum frequency Fm is obtained is indicated by reference numeral w. The width ew extending in the second direction (the left-right direction in FIG. 10) of the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is obtained in step s7 in FIG. Extension lines 25 and 26 of the edge cross-section concentration gradient 24 including the range w in FIG.
Of the image density Ri intersects the extension line of the image density Ri and the intersection 23 intersects the extension line of the density Rb of the base portion C. The foot width between the intersections 22 and 23 is defined as the edge width Ew.

【0037】図11は、ウインドウ16の一部を簡略化
して拡大して示す図である。画素27の縦の第1方向の
長さをA1とし、横の第2方向の長さをa2とし、第1
方向にn個配列され、第2方向にm個配列され、 L = a1・n …(9) X = a2・m …(10) この実施の形態ではa1=a2であるけれども、相互に
異なっていてもよい。またこの実施の形態ではn=mで
あるけれども、相互に異なっていてもよい。
FIG. 11 is a diagram showing a part of the window 16 in a simplified and enlarged manner. The vertical length of the pixel 27 in the first direction is A1, and the horizontal length of the pixel 27 in the second direction is a2.
N pieces are arranged in the direction and m pieces are arranged in the second direction, and L = a1 · n (9) X = a2 · m (10) In this embodiment, a1 = a2, but they are different from each other. May be. Although n = m in this embodiment, they may be different from each other.

【0038】エッジ幅Ewは、式11で表される。The edge width Ew is expressed by equation 11.

【0039】[0039]

【数4】 (Equation 4)

【0040】ここで前述のようにしてたとえばr=0.
5に定められるとき、
Here, as described above, for example, r = 0.
When set to 5,

【0041】[0041]

【数5】 (Equation 5)

【0042】前述のステップs5において、最小の頻度
Fmが得られた範囲wが検出されると、次のステップs
9では、この最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける
中央の頻度を有する第3濃度Rewを、2値化のしきい
値として定める。
When the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected in the above step s5, the next step s
In 9, the third density Rew having the central frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is set as the threshold value for binarization.

【0043】 Rew = zi + 0.5w …(13) この式13におけるxiは、図10に示されるように画
像の第1濃度Riから、最小の頻度Fmが得られた範囲
wまでの階調を示す。
Rew = zi + 0.5w (13) xi in this equation 13 is the gradation from the first density Ri of the image to the range w in which the minimum frequency Fm is obtained, as shown in FIG. Indicates.

【0044】図12は、前述の図8における第2方向の
濃度分布を簡略化して示す図である。図12における1
/fn50は、解像度50%に対する第2方向の長さま
たは幅を表し、2・ewとσ・k1との和(2・ew+
σ・k1)である。ここでσは、図13および図14に
関連して述べる標準偏差であり、換言するとエッジ凹凸
度を表し、k1は、その凹凸度σの補正係数である。
FIG. 12 is a diagram showing a simplified concentration distribution in the second direction in FIG. 8 described above. 1 in FIG.
/ Fn50 represents the length or width in the second direction with respect to a resolution of 50%, and is the sum of 2 · ew and σ · k1 (2 · ew +
σ · k1). Here, σ is the standard deviation described with reference to FIGS. 13 and 14, in other words, it represents the edge unevenness, and k1 is a correction coefficient for the unevenness σ.

【0045】前述の第3濃度Rewをしきい値として図
13に示されるウインドウ16を2値化した画像を得
る。一方この2値化後のウインドウ16の画像における
境界20の1次回帰直線B0を演算して求める。境界2
0の具体的な直線を参照符B1で示される。
An image obtained by binarizing the window 16 shown in FIG. 13 is obtained by using the above-mentioned third density Rew as a threshold value. On the other hand, the linear regression line B0 of the boundary 20 in the image of the window 16 after binarization is calculated and obtained. Boundary 2
A specific straight line of 0 is indicated by reference numeral B1.

【0046】図14は、この境界20の拡大図である。
1つの第2方向の直線19に沿って、1次回帰直線B0
と境界20の位置B1との各座標XB0,XB1の距離
(XB0−XB1)を求め、縦の第1方向にわたって合
計n本の水平走査線19に沿って式14に基づき演算を
行うことによって、ステップs10では縦の長さLにわ
たって標準偏差σを求める。
FIG. 14 is an enlarged view of the boundary 20.
Along the one straight line 19 in the second direction, the linear regression line B0
By calculating the distance (XB0-XB1) between the coordinates XB0 and XB1 between the position B1 and the position B1 of the boundary 20 and performing the calculation based on the equation 14 along a total of n horizontal scanning lines 19 over the first vertical direction, In step s10, the standard deviation σ is obtained over the vertical length L.

【0047】[0047]

【数6】 (Equation 6)

【0048】ステップs11では解像度Rを、ステップ
s8で求めたエッジ幅Ewと標準偏差σとに基づいて求
める。
In step s11, the resolution R is obtained based on the edge width Ew and the standard deviation σ obtained in step s8.

【0049】 R = 1/(Ew+σ) …(15) 凹凸度補正係数k1は、標準偏差σと凹凸度補正係数k
1との積σ・k1が50%となるように、定められ、一
旦、この凹凸度補正係数k1を定めた後において、他の
原稿の解像度測定のために、この積σ・k1を、前述の
式15のσに代入して用いる。
R = 1 / (Ew + σ) (15) The unevenness degree correction coefficient k1 is the standard deviation σ and the unevenness degree correction coefficient k.
The product σ · k1 with 1 is determined to be 50%, and once this unevenness degree correction coefficient k1 is determined, this product σ · k1 is previously described for the resolution measurement of another document. It is used by substituting for σ in Expression 15.

【0050】これによって標準偏差σにエッジ凹凸度補
正係数k1を乗じて、解像度判定のライン状画像の接触
率を50%とするテストチャート解像度法に近似した接
触率50%上側確立に近似した補正を行うことができる
ようになる。
As a result, the standard deviation σ is multiplied by the edge unevenness correction coefficient k1, and the contact rate of the line image for resolution determination is set to 50%. Will be able to do.

【0051】カメラヘッド1には、顕微鏡2が備えられ
ており、この拡大倍率に対応したエッジ幅補正係数k2
を定める。
The camera head 1 is equipped with a microscope 2 and has an edge width correction coefficient k2 corresponding to the magnification.
Determine.

【0052】 2・ew = Ew−k2 …(16) これによってカメラヘッド1による画像の測定は、顕微
鏡2で測定するときの倍率を代えると、画素サイズの影
響を受けて、測定時のエッジ幅Ewの変動が著しくなる
のを防ぐために、その影響を除去するために、この倍率
に対応した画素サイズ補正係数k2を定める。こうして
倍率に拘わらず、エッジ幅測定の精度を向上することが
できる。
2 · ew = Ew−k2 (16) As a result, the measurement of the image by the camera head 1 is affected by the pixel size when the magnification when measuring with the microscope 2 is changed, and the edge width at the time of measurement is changed. In order to prevent the fluctuation of Ew from becoming significant, in order to remove the effect, a pixel size correction coefficient k2 corresponding to this magnification is determined. In this way, the accuracy of edge width measurement can be improved regardless of the magnification.

【0053】図15はウインドウ16を簡略化して示す
図であり、黒いライン状画像Aの線幅Lewを示してい
る。前述の第3濃度Rewで2値化したウインドウ16
の画像において、その画像Aに含まれる画素数Bを求
め、これによって線幅Lewを求めることができる。
FIG. 15 is a diagram showing the window 16 in a simplified manner, showing the line width Lew of the black line image A. The window 16 binarized by the above-mentioned third density Rew
In this image, the number of pixels B included in the image A is obtained, and the line width Lew can be obtained from this.

【0054】 Lew = a2・B/L …(17) 画像Aが黒い高濃度であるときには、その斜線を施して
示す画像Aの画素数は、第3濃度Rew以上の階調を有
し、またこれとは逆に黒い下地部Cに白のライン状画像
Aが存在するときには、そのライン状画像Aは、第3濃
度Rew未満の階調を有する。
Lew = a2 · B / L (17) When the image A has a high density of black, the number of pixels of the image A shown by hatching has a gradation equal to or higher than the third density Rew, and On the contrary, when the white line-shaped image A is present on the black background portion C, the line-shaped image A has a gradation lower than the third density Rew.

【0055】顕微鏡2による拡大倍率に対応して、線幅
Lewを補正する線幅補正係数k3を求める。
A line width correction coefficient k3 for correcting the line width Lew is calculated in accordance with the magnification of the microscope 2.

【0056】 Lew = a2・B/L = k3 …(18) これによってカメラヘッド1の倍率に対応する画素サイ
ズ補正を行い、低倍率の線幅測定値であっても、高倍率
の線幅測定値に近い測定結果が得られることができる。
こうしてカメラの線幅測定値の線太りの原因を、画素サ
イズ補正によって解消することができるようになる。
Lew = a2 · B / L = k3 (18) With this, the pixel size correction corresponding to the magnification of the camera head 1 is performed, and the high-magnification line width measurement is performed even with the low-magnification line width measurement value. A measurement result close to the value can be obtained.
In this way, the cause of the line weight of the line width measurement value of the camera can be eliminated by the pixel size correction.

【0057】上述の実施の形態では、典型的にはr=
0.5に定め、幅ewを2倍することによってエッジ幅
Ewを求めるようにしたけれども、本発明の実施の他の
形態として左右の各境界20,21における幅ew,標
準偏差σをそれぞれ演算して求めて、それらの和を用い
て解像度Rを求めるようにしてもよい。
In the above embodiment, typically r =
Although the edge width Ew is determined by setting the width to 0.5 and doubling the width ew, the width ew and the standard deviation σ at each of the left and right boundaries 20 and 21 are calculated as another embodiment of the present invention. Then, the resolution R may be obtained by using the sum thereof.

【0058】また本発明に従えば、一方の境界20だけ
がウインドウ16に存在するとき、その境界20だけの
エッジ幅Ewおよび標準偏差σに基づいて解像度σを演
算して求めるようにしてもよい。上述の実施の形態では
ライン状画像Aは一直線状であり、その1次回帰直線B
0をウインドウ16の列方向の第1方向に平行として演
算を行うようにしている。本発明の実施の他の形態で
は、画像Aが曲線の境界20または21を少なくとも1
つ有する場合においても、その各境界20,21に沿う
方向を第1方向とし、その第1方向に沿う各点における
接線に垂直な法線方向を第2方向とし、エッジ幅Ewお
よび標準偏差σを上述と同様にして求めて解像度Rを演
算することができる。
Further, according to the present invention, when only one boundary 20 exists in the window 16, the resolution σ may be calculated and calculated based on the edge width Ew and the standard deviation σ of only the boundary 20. . In the above-described embodiment, the linear image A has a straight line shape, and its linear regression line B
The calculation is performed by setting 0 to be parallel to the first direction in the column direction of the window 16. In another embodiment of the invention, the image A has at least one curved boundary 20 or 21.
Also in the case of having two, the direction along each of the boundaries 20 and 21 is the first direction, the normal direction perpendicular to the tangent line at each point along the first direction is the second direction, the edge width Ew and the standard deviation σ. Can be obtained in the same manner as described above to calculate the resolution R.

【0059】[0059]

【発明の効果】本発明によれば、直線状に延びるライン
状画像、そのライン状画像の一方の境界、ならびに曲線
の画像および一方の境界などのように不特定の任意の画
像の解像度を評価することが、従来からのテストチャー
トに描かれたラダーパターンを用いることなく、測定す
ることが初めて可能になる。
According to the present invention, the resolution of an unspecified arbitrary image such as a linear image extending linearly, one boundary of the linear image, and a curved image and one boundary is evaluated. For the first time, measurement can be performed without using a ladder pattern drawn on a conventional test chart.

【0060】また本発明によれば、ウインドウ内におけ
る階調の範囲wを階調方向に移動しつつ最小の頻度Fm
が得られた範囲wを検出して、幅ewおよびエッジ幅E
wを求めるようにし、またこの最小の頻度Fmが得られ
た範囲w似於ける中央の頻度を有する第3濃度Rewを
しきい値として2値化を行って標準偏差σを求めるよう
にしたので、希望する任意の画像の解像度の推定した測
定が可能になり、任意の2値画像の解像度を直接に推定
評価することによって、広範囲な画質評価が可能にな
る。さらに値rを、たとえば1/2に選ぶことによっ
て、エッジ幅Ewの測定区間wは、解像度判定の濃度域
の50%減衰域と同じくすることができ、これによって
在来のテストチャートを用いる解像度評価法と近似の解
像度の測定を行うことができるようになる。
Further, according to the present invention, the minimum frequency Fm is moved while moving the gradation range w in the window in the gradation direction.
Detecting the range w in which is obtained, the width ew and the edge width E
Since w is obtained, and the standard deviation σ is obtained by performing binarization with the third density Rew having the central frequency in the range w where the minimum frequency Fm is obtained as a threshold value. It is possible to estimate and measure the resolution of any desired image, and a wide range of image quality can be evaluated by directly estimating and evaluating the resolution of any binary image. Further, by selecting the value r to be, for example, 1/2, the measurement section w of the edge width Ew can be made to be the same as the 50% attenuation range of the density range of the resolution judgment, and the resolution using the conventional test chart is thereby obtained. It becomes possible to measure the resolution similar to the evaluation method.

【0061】さらに本発明によれば、標準偏差σ、した
がって凹凸度の補正を、凹凸度補正係数k1を用いて行
い、これによって解像度判定の画像の接触率をたとえば
50%とするテストチャート解像度法に近似した接触率
を50%上側確立に近似する補正を行うことができる。
Further, according to the present invention, the standard deviation σ, and therefore the unevenness degree, is corrected by using the unevenness degree correction coefficient k1, whereby the contact rate of the image for resolution determination is set to, for example, 50%. It is possible to make a correction that approximates the contact rate that is close to the above to 50% upper probability.

【0062】またエッジ幅Ewは、撮像手段に設けられ
ている顕微鏡などの画像を光学的に拡大する手段の拡大
倍率に対応するエッジ幅補正係数k2によって補正を行
い、これによって画素サイズの測定誤差を軽減させて、
エッジ幅Ewの解像度測定の精度の向上を可能にする。
このようにして前述の最小の頻度Fmが得られた範囲w
を検出することによって、エッジ幅Ew、標準偏差σの
測定基準を統一し、解像度Rを演算して求めることがで
き、その測定精度が安定することになる。
Further, the edge width Ew is corrected by the edge width correction coefficient k2 corresponding to the enlargement magnification of the means for optically enlarging the image of the microscope or the like provided in the image pickup means, whereby the measurement error of the pixel size is obtained. To reduce
It is possible to improve the accuracy of resolution measurement of the edge width Ew.
The range w in which the above-mentioned minimum frequency Fm is obtained in this way
By detecting, the measurement standard of the edge width Ew and the standard deviation σ can be unified, and the resolution R can be calculated and obtained, and the measurement accuracy becomes stable.

【0063】さらに本発明によれば、線幅Lewは、前
述の最小頻度Fmが得られた範囲wにおける中央の頻度
を、2値化のためのしきい値として求め、これによって
対象画像の善し悪しおよび画像と下地部の評価面積の比
率の影響による測定精度のばらつきを防ぐことができ、
測定条件の自由度が大きくなる。
Further, according to the present invention, as the line width Lew, the central frequency in the range w in which the above-mentioned minimum frequency Fm is obtained is obtained as a threshold value for binarization, and thereby the target image is judged as good or bad. Also, it is possible to prevent variations in measurement accuracy due to the influence of the ratio of the evaluation area of the image and the base portion,
The degree of freedom of measurement conditions is increased.

【0064】さらにこの線幅Lewを、画像を光学的に
拡大する手段の拡大倍率とに対応した線幅補正係数k3
で補正することによって、線幅測定値Lewを、CCD
カメラヘッドなどのような撮像手段の拡大手段における
倍率に対応する画素サイズの補正を行い、低倍率の線幅
測定値であっても、高倍率の線幅測定値に近い測定結果
を得ることができるようになり、こうして倍率変更によ
る画素サイズの悪影響と測定系による悪影響を回避し、
高精度の線幅測定を可能にすることができ、CCDカメ
ラなどの撮像手段における線幅測定値の線太りの原因
を、画素サイズ補正によって解消することが可能にな
る。
Further, the line width correction coefficient k3 corresponding to the line width Lew corresponds to the enlargement magnification of the means for optically enlarging the image.
By correcting the line width measured value Lew by
By correcting the pixel size corresponding to the magnification in the enlarging means of the imaging means such as a camera head, it is possible to obtain a measurement result close to the high-magnification linewidth measurement value even with the low-magnification linewidth measurement value. It becomes possible to avoid the adverse effect of the pixel size due to the magnification change and the adverse effect of the measurement system,
It is possible to measure the line width with high accuracy, and it is possible to eliminate the cause of the line width of the line width measurement value in the image pickup means such as a CCD camera by the pixel size correction.

【0065】エッジ幅Ewは、上述のように範囲wの最
小の頻度Fmが得られたときにおける第2方向に伸びる
幅ewを求め、これによってエッジ幅Ewを演算して求
めるようにしたので、測定結果を常に安定して得ること
ができ、対象画像の善し悪しおよび画像と下地部とのウ
インドウ内に占める比率による悪影響を防ぐことがで
き、その頻度の分布によって描かれるヒストグラムの形
状が大きく異なるウインドウ内の画像であっても、エッ
ジ幅Ewを安定した測定精度で求めることができるよう
になる。
As the edge width Ew, the width ew extending in the second direction when the minimum frequency Fm of the range w is obtained as described above is obtained, and the edge width Ew is calculated by this. It is possible to obtain stable measurement results at all times, prevent the badness of the target image and the adverse effect of the ratio of the image and the background portion in the window, and the shape of the histogram drawn depending on the distribution of the frequency greatly differs. Even in the image inside, the edge width Ew can be obtained with stable measurement accuracy.

【0066】さらに本発明によれば、エッジ幅Ewの補
正を行って、撮像手段に設けられる拡大手段の倍率変更
に対しても、高精度のエッジ幅の測定を行うことがで
き、データの等価性を高くすることができ、そのエッジ
幅Ewの安定した測定精度での結果を得ることができ
る。
Further, according to the present invention, the edge width Ew can be corrected so that the edge width can be measured with high accuracy even when the magnification of the enlarging means provided in the image pickup means is changed. The edge width Ew can be obtained with stable measurement accuracy.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の実施の一形態の全体の構成を示すブロ
ック図である。
FIG. 1 is a block diagram showing an overall configuration of an embodiment of the present invention.

【図2】図1に示される解像度処理回路7の動作を説明
するためのフローチャートである。
FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of a resolution processing circuit 7 shown in FIG.

【図3】メモリ17にストアされている画像情報のウイ
ンドウ16を示す図である。
FIG. 3 is a diagram showing a window 16 of image information stored in a memory 17.

【図4】解像度を説明するための図である。FIG. 4 is a diagram for explaining resolution.

【図5】カメラヘッド1の階調の較正をする動作を説明
するための図である。
FIG. 5 is a diagram for explaining the operation of calibrating the gradation of the camera head 1.

【図6】ウインドウ16における階調と頻度との関係を
示すヒストグラムである。
FIG. 6 is a histogram showing the relationship between gradation and frequency in window 16.

【図7】図6に示されるヒストグラムを簡略化して示す
図である。
FIG. 7 is a diagram showing a simplified version of the histogram shown in FIG.

【図8】ウインドウ16における水平走査線に沿う第2
方向の位置と階調とを示す図である。
FIG. 8 is a second view along the horizontal scanning line in the window 16.
It is a figure which shows the position and gradation of a direction.

【図9】ウインドウ16のエッジ幅を説明するための図
である。
FIG. 9 is a diagram for explaining an edge width of a window 16.

【図10】境界20のエッジ幅Ewを説明するための図
である。
10 is a diagram for explaining an edge width Ew of a boundary 20. FIG.

【図11】ウインドウ16における画素27を示す図で
ある。
FIG. 11 is a diagram showing a pixel 27 in the window 16.

【図12】前述の図8における単一の水平走査線上の階
調を簡略化して示す図である。
FIG. 12 is a diagram showing in simplified form the gradation on a single horizontal scanning line in FIG. 8 described above.

【図13】ライン状画像Aの1次回帰直線B0を説明す
るための図である。
13 is a diagram for explaining a linear regression line B0 of the linear image A. FIG.

【図14】標準偏差σを演算するための動作を説明する
ための図である。
FIG. 14 is a diagram for explaining an operation for calculating a standard deviation σ.

【図15】線幅Lewを説明するためのウインドウ16
の簡略化した図である。
FIG. 15 is a window 16 for explaining the line width Lew.
FIG.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 CCDカメラヘッド 2 顕微鏡 3 光源 5 光源手段 6 コントロールユニット 7 解像度処理回路 8 画像モニタ 9 演算処理回路 13 撮像手段 14 スタンド 15 原稿 16 ウインドウ 17 メモリ 20,21 境界 B0 1次回帰直線 1 CCD camera head 2 Microscope 3 Light source 5 Light source means 6 Control unit 7 Resolution processing circuit 8 Image monitor 9 Arithmetic processing circuit 13 Imaging means 14 Stand 15 Original 16 Window 17 Memory 20, 21 Border B0 Primary regression line

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 複数階調をそれぞれ有する複数の各画素
からウインドウが構成され、このウインドウ内には、予
め定める第1方向に延びる2値化されるべき画像の境界
を含み、 このウインドウ内における各画像の濃度毎の頻度を求
め、 高濃度側の頻度が極大である最頻値の第1濃度Riと、
低濃度側の頻度が極大である最頻値の第2濃度Rbとを
求め、 第1および第2濃度Ri,Rbとの間で、予め定める一
定濃度差の範囲wを移動しつつ、その各範囲w内に含ま
れる頻度Fiをそれぞれ求めて、各範囲w毎に求めた頻
度Fiのうち、最小の頻度Fmが得られた範囲wを検出
し、 前記ウインドウ内でこの最小の頻度Fmが得られた範囲
wの前記第1方向に直交する第2方向に延びる幅ewを
エッジ幅Ewとして求め、 最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける中央の頻度を
有する第3濃度Rewをしきい値とし、 第3濃度Rewをしきい値とする境界の2値化を行い、 前記境界の第1方向に沿う回帰線B0に対する第2方向
のずれの標準偏差σを求め、 解像度R、 R = 1/(Ew+σ) を求めることを特徴とする解像度測定方法。
1. A window is composed of a plurality of pixels each having a plurality of gradations, and the window includes a boundary of an image to be binarized which extends in a predetermined first direction. The frequency for each density of each image is obtained, and the first density Ri of the mode value in which the frequency on the high density side is maximum,
The second density Rb, which is the most frequent value at which the frequency on the low density side is maximum, is obtained, and while moving the range w of the predetermined density difference between the first and second densities Ri and Rb, The frequencies Fi included in the range w are obtained, and the range w in which the minimum frequency Fm is obtained among the frequencies Fi obtained for each range w is detected, and the minimum frequency Fm is obtained in the window. The width ew extending in the second direction orthogonal to the first direction of the obtained range w is obtained as the edge width Ew, and the third density Rew having the central frequency in the range w having the minimum frequency Fm is set as the threshold value. Then, the boundary is binarized with the third density Rew as the threshold value, and the standard deviation σ of the deviation of the boundary in the second direction with respect to the regression line B0 along the first direction is calculated, and the resolutions R and R = 1 Resolution measurement characterized by finding / (Ew + σ) Law.
【請求項2】 直線状に延びるライン状画像を有する原
稿を撮像手段によって撮像し、 この撮像手段は、第1方向と、第1方向に垂直な第2方
向とに行列状に配列された複数階調をそれぞれ検出する
各画素を構成する複数の受光素子を有し、 受光素子の出力をメモリにストアしておき、 メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度を求め
て、一方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第1濃度
Riと、他方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第2
濃度Rbとを求め、 第1および第2濃度Ri,Rbの間の階調の範囲w(た
だし0<r<1)、 w = r・(Rb−Ri) を、1または予め定める複数の階調ずつずらして移動し
つつ、その各範囲w内に含まれる頻度Fiをそれぞれ求
めて、各範囲w毎に求めた頻度Fiのうち、最小の頻度
Fmが得られた範囲wを検出し、 ライン状画像の長手方向を、仮想上、第1方向に一致し
た状態としたとき、前記ウインドウ内で、この最小の頻
度Fmが得られた範囲wの第2方向に延びる幅ewを求
め、エッジ幅Ew、 Ew = ew/r を求め、 最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける中央の頻度を
有する第3濃度Rewをしきい値とし、 第3濃度Rewをしきい値とする境界の2値化を行い、
その境界の第1方向に沿う1次回帰直線B0に対する第
2方向のずれの標準偏差σを求め、 解像度R、 R = 1/(Ew+σ) を求めることを特徴とする解像度測定方法。
2. A document having a linear image extending linearly is imaged by an image pickup device, and the image pickup device is arranged in a matrix in a first direction and a second direction perpendicular to the first direction. It has a plurality of light receiving elements that configure each pixel that detects each gradation, stores the output of the light receiving element in a memory, reads the stored contents of the memory, obtains the frequency for each density, and The first density Ri of the mode having the maximum frequency on the side and the second density of the mode having the maximum frequency on the other density side
The density Rb is obtained, and the range w of gradation between the first and second densities Ri and Rb (where 0 <r <1), w = r · (Rb−Ri) is set to one or a plurality of predetermined levels. The frequency Fi included in each range w is calculated while moving in a stepwise manner, and the range w in which the minimum frequency Fm is obtained among the frequencies Fi calculated for each range w is detected. When the longitudinal direction of the contour image virtually coincides with the first direction, the width ew extending in the second direction of the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is obtained in the window to obtain the edge width. Ew, Ew = ew / r is obtained, and the two values of the boundary are set with the third density Rew having the central frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained as the threshold value and the third density Rew as the threshold value. Conversion to
A resolution measuring method characterized in that the standard deviation σ of the deviation in the second direction with respect to the linear regression line B0 along the first direction of the boundary is obtained, and the resolutions R and R = 1 / (Ew + σ) are obtained.
【請求項3】 凹凸度補正係数をk1とするとき、前記
標準偏差σと凹凸度扶正係数k1との積σ・k1が50
%となるように、凹凸度補正係数k1を定め、この積σ
・k1を解像度Rの演算に用いることを特徴とする請求
項1または2記載の解像度測定方法。
3. When the unevenness correction coefficient is k1, the product σ · k1 of the standard deviation σ and the unevenness correction coefficient k1 is 50.
The unevenness correction coefficient k1 is determined so that
The method for measuring resolution according to claim 1 or 2, wherein k1 is used for calculating the resolution R.
【請求項4】 画像を撮像する撮像手段は、その画像を
光学的に拡大する手段を有し、 この拡大倍率に対応したエッジ幅補正係数k2を定め、 前記エッジ幅Ewをエッジ幅補正係数k2だけ減算し
て、解像度Rの演算に用いることを特徴とする請求項1
または2記載の解像度測定方法。
4. An image pickup unit for picking up an image has a unit for optically enlarging the image, defines an edge width correction coefficient k2 corresponding to the enlargement magnification, and sets the edge width Ew to the edge width correction coefficient k2. 2. The subtraction is used only for calculation of the resolution R.
Alternatively, the resolution measuring method described in 2.
【請求項5】 直線状に延びるライン状画像を有する原
稿を撮像手段によって撮像し、 この撮像手段は、第1方向と、第1方向に垂直な第2方
向とに行列状に配列された複数階調をそれぞれ検出する
各画素を構成する複数の受光素子を有し、 受光素子の出力をメモリにストアしておき、 メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度を求め
て、一方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第1濃度
Riと、他方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第2
濃度Rbとを求め、 第1および第2濃度Ri,Rbの間の階調の範囲w(た
だし0<r<1)、 w = r・(Rb−Ri) を、1または予め定める複数の階調ずつずらして移動し
つつ、その各範囲w内に含まれる頻度Fiをそれぞれ求
めて、各範囲w毎に求めた頻度Fiのうち、最小の頻度
Fmが得られた範囲wを検出し、 エッジ幅Ewは、ウインドウの第1方向の長さL、画素
の第2方向の長さa2とするとき、 Ew = a2・Fm/L を演算することを特徴とするライン画像のエッジ幅の測
定方法。
5. An original having a linear image extending linearly is picked up by an image pickup means, and the image pickup means is arranged in a matrix in a first direction and a second direction perpendicular to the first direction. It has a plurality of light receiving elements that configure each pixel that detects each gradation, stores the output of the light receiving element in a memory, reads the stored contents of the memory, obtains the frequency for each density, and The first density Ri of the mode having the maximum frequency on the side and the second density of the mode having the maximum frequency on the other density side
The density Rb is obtained, and the range w of gradation between the first and second densities Ri and Rb (where 0 <r <1), w = r · (Rb−Ri) is set to one or a plurality of predetermined levels. The frequency Fi included in each range w is calculated while moving in a stepwise manner, and the range w in which the minimum frequency Fm is obtained among the frequencies Fi calculated for each range w is detected. When the width Ew is the length L of the window in the first direction and the length a2 of the pixel in the second direction, Ew = a2 · Fm / L is calculated, and the edge width of the line image is measured. .
【請求項6】 ライン上の画像を有する原稿を撮像手段
によって撮像し、 この撮像手段は、ライン上画像の長手方向に平行な垂直
走査方向である第1方向と、第1方向に垂直な水平走査
方向である第2方向とに行列状に配列された複数階調を
それぞれ有する各画素を構成する複数の受光素子を有
し、 受光素子の出力をメモリにストアしておき、 メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度を求め
て、高濃度側の頻度が極大である最頻値の第1濃度Ri
と、低濃度側の頻度が極大である最頻値の第2濃度Rb
とを求め、 第1および第2濃度Ri,Rbの間の範囲w、 w =(Rb−Ri)/2 を、1階調ずつずらして移動しつつ、その各範囲w内に
含まれる頻度Fiをそれぞれ求めて、各範囲w毎に求め
た頻度Fiのうち、最小の頻度Fmが得られた範囲wを
検出し、この最小の頻度Fmが得られた範囲wにおける
中央の頻度を有する第3濃度Rewをしきい値とし、 ウインドウ内における第3濃度Rew以上または未満で
あるライン状画像の画素数Bを求め、画素の第2方向の
長さa2とするとき、 線幅Lew、 Lew = a2・B/L を演算することを特徴とするライン画像の線幅の測定方
法。
6. A document having an image on a line is imaged by an image pickup means, and the image pickup means is a first direction which is a vertical scanning direction parallel to the longitudinal direction of the image on the line, and a horizontal direction perpendicular to the first direction. It has a plurality of light receiving elements forming pixels each having a plurality of gradations arranged in a matrix in the second direction which is the scanning direction, and stores the output of the light receiving element in a memory. Is read out to find the frequency for each density, and the first density Ri of the mode having the maximum frequency on the high density side is the maximum.
And the second concentration Rb of the mode having the maximum frequency on the low concentration side.
And moving the range w, w = (Rb-Ri) / 2 between the first and second densities Ri and Rb by shifting one gradation at a time, and moving the frequency Fi within each range w. Of the frequencies Fi obtained for each range w, the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected, and the third frequency having the center frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is detected. When the number of pixels B of the line-shaped image that is equal to or greater than or equal to the third density Rew in the window is calculated using the density Rew as a threshold value and the length a2 of the pixel in the second direction is defined, line widths Lew, Lew = a2 A method for measuring the line width of a line image, which is characterized by calculating B / L.
【請求項7】 画像を撮像する撮像手段は、画像を光学
的に拡大する手段を有し、 この拡大倍率に対応した線幅補正係数k3を求め、 前記線幅Lewから線幅補正係数k3だけ減算して補正
することを特徴とする請求項6記載のライン画像の線幅
の測定方法。
7. An image pickup unit for picking up an image has a unit for optically enlarging the image, obtains a line width correction coefficient k3 corresponding to the enlargement magnification, and calculates only the line width correction coefficient k3 from the line width Lew. 7. The method for measuring the line width of a line image according to claim 6, wherein the line width is corrected by subtraction.
【請求項8】 直線状に延びるライン状画像を有する原
稿を撮像する撮像手段であって、垂直走査方向である列
の第1方向と、第1方向に垂直な水平走査方向である行
の第2方向とに行列状に配列された複数階調をそれぞれ
検出する各画素を構成する複数の受光素子を有する撮像
手段と、 撮像手段の受光素子の出力をストアするメモリと、 メモリのストア内容を読出して、濃度毎の頻度を求め
て、一方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第1濃度
Riと、他方の濃度側の頻度が極大である最頻値の第2
濃度Rbとを求める濃度検出手段と、 濃度検出手段の出力に応答し、第1および第2濃度R
i,Rbの間の階調の範囲w(ただし0<r<1)、 w = r・(Rb−Ri) を、1または予め定める複数の階調ずつずらして移動し
つつ、その各範囲w内に含まれる頻度Fiをそれぞれ求
めて、各範囲w毎に求めた頻度Fiのうち、最小の頻度
Fmが得られた範囲wを検出する範囲検出手段と、 範囲検出手段の出力に応答し、 ライン状画像の長手方向を、仮想上、第1方向に一致し
た状態としたとき、前記ウインドウ内で、この最小の頻
度Fmが得られた範囲wの第2方向に延びる幅ewを求
め、エッジ幅Ew、 Ew = ew/r を求めるエッジ幅演算手段と、 範囲検出手段の出力に応答し、最小の頻度Fmが得られ
た範囲wにおける中央の頻度を有する第3の濃度Rew
をしきい値とし、第3濃度Rewをしきい値とする境界
の2値化を行う2値化手段と、 2値化手段の出力に応答し、境界の第1方向に沿う1次
回帰直線b0に対する第2方向のずれの標準偏差σを求
める標準偏差演算手段と、 エッジ幅演算手段と標準偏差演算手段との各出力に応答
し、 解像度R、 R = 1/(Ew+σ) を求めることを特徴とする解像度測定装置。
8. An image pickup unit for picking up an original having a linear image extending linearly, the first section of a column being a vertical scanning direction and the first row of a row being a horizontal scanning direction perpendicular to the first direction. An image pickup unit having a plurality of light receiving elements forming pixels for detecting a plurality of gradations arranged in a matrix in two directions, a memory for storing an output of the light receiving element of the image pickup unit, and a stored content of the memory are The frequency is read out to obtain the frequency for each density, and the first density Ri of the mode having the maximum frequency on one density side and the second density of the mode having the maximum frequency on the other density side.
The first and second concentrations R in response to the output of the concentration detecting means for obtaining the concentration Rb and the concentration detecting means.
The range w of gradation between i and Rb (where 0 <r <1), w = r · (Rb−Ri) is shifted by one or a plurality of predetermined gradations, and each range w A frequency detecting unit for detecting the frequency Fi included in each of the ranges, and detecting the range w in which the minimum frequency Fm is obtained among the frequencies Fi calculated for each range w; and responding to the output of the range detecting unit, When the longitudinal direction of the line-shaped image is virtually aligned with the first direction, the width ew extending in the second direction of the range w in which the minimum frequency Fm is obtained is obtained in the window to determine the edge. An edge width calculation means for obtaining the widths Ew and Ew = ew / r, and a third density Rew having a central frequency in the range w in which the minimum frequency Fm is obtained in response to the output of the range detection means.
As a threshold value, and a binarizing means for binarizing the boundary with the third density Rew as the threshold value, and a linear regression line along the first direction of the boundary in response to the output of the binarizing means. a standard deviation calculating means for obtaining a standard deviation σ of a deviation in the second direction with respect to b0; and a resolution R, R = 1 / (Ew + σ) in response to each output of the edge width calculating means and the standard deviation calculating means. Characteristic resolution measuring device.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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US10470629B2 (en) 2005-02-18 2019-11-12 Irobot Corporation Autonomous surface cleaning robot for dry cleaning
US11072250B2 (en) 2007-05-09 2021-07-27 Irobot Corporation Autonomous coverage robot sensing

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