JPH0680627B2 - Drawing device - Google Patents

Drawing device

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JPH0680627B2
JPH0680627B2 JP57226141A JP22614182A JPH0680627B2 JP H0680627 B2 JPH0680627 B2 JP H0680627B2 JP 57226141 A JP57226141 A JP 57226141A JP 22614182 A JP22614182 A JP 22614182A JP H0680627 B2 JPH0680627 B2 JP H0680627B2
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JP
Japan
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data
drawn
pattern
deflection
cells
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俊夫 鈴木
俊樹 杉山
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/302Controlling tubes by external information, e.g. programme control
    • H01J37/3023Programme control

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、パターンジェネレータ(以下、PGという。)
を有する描画装置に関し、特に、電子線描画装置に適用
するのに好適な技術に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a pattern generator (hereinafter referred to as PG).
And a technique suitable for being applied to an electron beam drawing apparatus.

最近、半導体装置(以下、ICという。)の製造分野にお
いては、電子ビームの高速処理能力に着目し、ホトPGに
代わる高速PGを、例えば特開昭54-25596号公報記載の如
く、マスクやレチクルの作成に使用する電子線描画装置
に適用することが実用面でも定着してきている。
Recently, in the field of manufacturing semiconductor devices (hereinafter referred to as ICs), focusing on the high-speed processing capability of electron beams, a high-speed PG that replaces the photo PG has been developed, for example, as described in JP-A-54-25596. It has become established practically to apply it to an electron beam drawing apparatus used for making a reticle.

ところで、このような描画装置にあっては、これまでに
第1図に示すようにしてパターンデータを処理する試み
がなされている。
By the way, in such a drawing apparatus, an attempt has been made so far to process pattern data as shown in FIG.

第1図において、第1磁気テープ31に記録された階層構
造を有するパターン設計データ(詳細は後記参照)20は
データ変換器33に入力され、この変換器33により展開デ
ータ(後記参照)27が作成される。次いで、この展開デ
ータ27を磁気記録装置34により第2磁気テープ32に記録
存在するようにしている。電子線描画装置EBにより所望
の回路パターン30を描画しようとする際には、記録保存
された前記第2磁気テープ32は、この描画装置EBの磁気
記録再生装置35にかけられて前記展開データ27が再生さ
れる。
In FIG. 1, the pattern design data 20 having a hierarchical structure recorded on the first magnetic tape 31 (see details below) 20 is input to a data converter 33, and this converter 33 produces expanded data (see below) 27. Created. Next, the expanded data 27 is recorded and stored on the second magnetic tape 32 by the magnetic recording device 34. When the desired circuit pattern 30 is to be drawn by the electron beam drawing device EB, the recorded and saved second magnetic tape 32 is applied to the magnetic recording / reproducing device 35 of the drawing device EB, and the expansion data 27 is obtained. Is played.

この展開データ27は描画制御信号変換器36により所望の
回路パターンを描画するために鏡筒1を動作させるのに
必要な制御信号に変換される。この制御信号は偏向系制
御器14に入力され、この偏向系制御器14の制御により鏡
筒1は所定の描画動作を実行し、所望の回路パターン30
を描画する。
The development data 27 is converted by the drawing control signal converter 36 into a control signal necessary for operating the lens barrel 1 to draw a desired circuit pattern. This control signal is input to the deflection system controller 14, and under the control of the deflection system controller 14, the lens barrel 1 executes a predetermined drawing operation to obtain a desired circuit pattern 30.
To draw.

しかしながら、このような電子線描画装置にあっては、
パターン設計データを階層構造に圧縮した形で第1磁気
テープに記録しているにもかかわらず、このパターン設
計データに基づいて描画すべく展開した後に、この展開
データを他の磁気テープに記録保存するようにしている
ため、パターンの微細化、高集積化に伴って描画情報が
増大化すると、展開されたデータを格納するのに必要な
外部の磁気記録手段が膨大な容量のものになり、描画処
理に時間がかかるという欠点がある。
However, in such an electron beam drawing apparatus,
Even though the pattern design data is recorded on the first magnetic tape in a compressed form in a hierarchical structure, the expanded data is recorded and saved on another magnetic tape after being expanded for drawing based on the pattern design data. Therefore, when the drawing information increases with the miniaturization and high integration of the pattern, the external magnetic recording means necessary for storing the expanded data has a huge capacity, There is a drawback that the drawing process takes time.

本発明の目的は、描画すべきパターン設計データを圧縮
した形で記録させつつ、パターン設計データに基づいて
描画すべく展開した展開データを外部の記憶手段に記録
させることなく、展開データに基づいて直接描画装置を
制御することにより、処理時間を大幅に短縮し得る描画
装置を提供することにある。
An object of the present invention is to record pattern design data to be drawn in a compressed form, and based on the expanded data without recording the expanded data expanded to be drawn based on the pattern design data in an external storage means. An object of the present invention is to provide a drawing device that can significantly reduce the processing time by directly controlling the drawing device.

以下、本発明を図面に示す実施例にしたがって説明す
る。
The present invention will be described below with reference to the embodiments shown in the drawings.

第2図は本発明を電子線描画装置に適用した場合の一実
施例を示す構成図であり、第3図はそれによる描画デー
タ処理プロセスを示すブロック図である。
FIG. 2 is a block diagram showing an embodiment in which the present invention is applied to an electron beam drawing apparatus, and FIG. 3 is a block diagram showing a drawing data processing process by the same.

この電子線描画装置EBは描画動作部として鏡筒1を備え
ており、この鏡筒1は電子銃2と、照射レンズ3と、円
形状のビームスポットを作る第1アパーチャ4と、整形
レンズ5と、長さを変更可能な矩形状のビームスポット
7(斜線で塗りつぶした部分)を作る第2アパーチャ6
と、縮小レンズ8と、静電偏向器9と、投影レンズ10
と、磁気偏向器11と、電子銃2の照射を受けて感光する
レジストが塗布されてなる被描画面を有する被描画物と
してのマスクブランク13を載置して保持するXYテーブル
(試料台)12とを備えている。この静電偏向器9と電磁
偏向器11とが偏向手段を構成している。
The electron beam drawing apparatus EB includes a lens barrel 1 as a drawing operation unit. The lens barrel 1 includes an electron gun 2, an irradiation lens 3, a first aperture 4 for forming a circular beam spot, and a shaping lens 5. And a second aperture 6 that creates a rectangular beam spot 7 (the portion shaded with diagonal lines) whose length can be changed.
, Reduction lens 8, electrostatic deflector 9, projection lens 10
An XY table (sample table) for mounting and holding a magnetic deflector 11 and a mask blank 13 as an object to be drawn having a surface to be drawn on which a resist that is exposed to light by the electron gun 2 is applied. It has 12 and. The electrostatic deflector 9 and the electromagnetic deflector 11 constitute a deflecting means.

また、この電子線描画装置EBには鏡筒1に所望の描画動
作を実行するために、偏向系制御器14に所定の制御信号
を入力させる図形データ処理装置15が装備されている。
この他に、この装置EBは、各種の電源部、制御部および
これらを統轄する中央処理ユニット(CPU)等を備えて
いる。
Further, the electron beam drawing apparatus EB is equipped with a graphic data processing apparatus 15 for inputting a predetermined control signal to the deflection system controller 14 in order to execute a desired drawing operation on the lens barrel 1.
In addition to this, the device EB includes various power supply units, control units, and a central processing unit (CPU) that controls these units.

この電子線描画装置EBに内蔵された前記図形データ処理
装置15は、第3図に示すように、磁気記録再生装置16
と、展開データ作成手段としてのデータ変換器17と、描
画制御信号変換器18とを備えており、それらは後述する
作用を実行するように構成されている。
The graphic data processing device 15 incorporated in the electron beam drawing device EB, as shown in FIG.
And a drawing converter 17 as a developed data creating means and a drawing control signal converter 18, which are configured to execute the operations described later.

次に作用を説明する。Next, the operation will be described.

この電子線描画装置EBで使用される描画情報は、第3図
に示すような階層構造を有するパターン設計データ20の
形で外部記憶手段としての磁気テープ19に記録されてい
る。この階層構造のパターン設計データ20は、あらかじ
め多数用意されたセル21A,21B……を基礎にしており、
セルは多数種類の基本パターン22A,22B……をそれぞれ
個別的に設定されて構成されている。例えば、基本パタ
ーン22Aは前記鏡筒1おける第2アパーチャ6で作られ
るビームスポット7の集合により形成されるように、こ
のビームスポット7の大きさ(例えば、縦横20×4μm
の矩形)とセル21Aの原点(X0,Y0)23Aに対する各スポ
ットの原点24のそれぞれ座標(X1,Y1)、(X2,Y2)……
とにより表現されて構成されている。
The drawing information used in the electron beam drawing apparatus EB is recorded on the magnetic tape 19 as an external storage means in the form of pattern design data 20 having a hierarchical structure as shown in FIG. This hierarchical pattern design data 20 is based on a large number of pre-prepared cells 21A, 21B.
The cell is configured by individually setting a large number of basic patterns 22A, 22B .... For example, the basic pattern 22A is formed by a set of beam spots 7 formed by the second apertures 6 in the lens barrel 1 so that the size of the beam spots 7 (for example, 20 × 4 μm in length and width)
Rectangle) and the origin (X 0 , Y 0 ) 23A of the cell 21A and the origin 24 of each spot relative to the coordinates (X 1 , Y 1 ), (X 2 , Y 2 ) ...
It is composed by being expressed by and.

パターン設計データ20は、多数用意されたセルのうち必
要な基本パターン(図示例では、22A,22Bの2種類。以
下これに準ずる。)を有するセル21A,21Bと、それぞれ
基本パターンのセル21A,21Bのうち特定のセルがチップ
上における位置を指定する指定情報26により個別的に選
定されたセル選定情報とからなり、階層構造となってい
る。前記指定情報26は、選定された各セル21A,21Bの原
点23A,23Bのチップの原点(X0,Y0)に対する座標(X1,Y
1)、(X2,Y2)、(X3,Y3)、(X4,Y4)でそれぞれ表現
されこれにより構成されている。
The pattern design data 20 includes cells 21A and 21B having necessary basic patterns (two types of 22A and 22B in the illustrated example; the same applies hereinafter) out of a large number of prepared cells, and cells 21A and 21A of the basic patterns, respectively. A specific cell of 21B is composed of cell selection information individually selected by the specification information 26 for specifying the position on the chip, and has a hierarchical structure. The designation information 26 includes coordinates (X 1 , Y 0 ) with respect to the origin (X 0 , Y 0 ) of the chips of the origins 23A and 23B of the selected cells 21A and 21B.
1 ), (X 2 , Y 2 ), (X 3 , Y 3 ), and (X 4 , Y 4 ) respectively.

このように構成されて磁気テープ19に記録保存されたパ
ターン設計データ20は、電子線描画装置EBに内蔵された
磁気記録再生装置16にかけられて読み出され、データ変
換器17に入力される。
The pattern design data 20 thus configured and recorded and stored on the magnetic tape 19 is read by being read by the magnetic recording / reproducing device 16 incorporated in the electron beam drawing device EB, and input to the data converter 17.

展開データ作成手段としてのデータ変換器17は、パター
ン設計データ20を第3図に示すように展開データ27に展
開して出力する。すなわち、前記パターン設計データ20
は、まず前述のように選定されたセル21A,21Bを指定情
報26の指定にしたがって、チップ28の上にそれぞれ具体
的に配された展開構造の情報つまり展開データ27に変換
される。具体的な分配はチップ28の原点(X0,Y0)29に
対する各選定セル21A,21Bをその原点23A,23Bの座標
(X1,Y1)、(X2,Y2)、(X3,Y3)、(X4,Y4)にそれぞ
れ当てはめることによって実行される。かつまた、前記
パターン設計データ20はチップ28上の各セル21A,21Bの
指定位置における各パターン22A,22Bをも具体的に展開
した情報に変換される。
The data converter 17 as the expanded data creating means expands the pattern design data 20 into expanded data 27 as shown in FIG. 3 and outputs the expanded data 27. That is, the pattern design data 20
First, according to the designation of the designation information 26, the cells 21A and 21B selected as described above are converted into the information of the expansion structure specifically arranged on the chip 28, that is, the expansion data 27. The specific distribution is that the selected cells 21A and 21B with respect to the origin (X 0 , Y 0 ) 29 of the chip 28 are coordinated (X 1 , Y 1 ), (X 2 , Y 2 ), (X 3 , Y 3 ), (X 4 , Y 4 ) respectively. Further, the pattern design data 20 is also converted into information in which the patterns 22A and 22B at the designated positions of the cells 21A and 21B on the chip 28 are also specifically developed.

例えば、チップ28上に最初に描画すべき基本パターン22
Aの冒頭の情報は、縦横20×4μmの矩形のスポット7
をチップ28の座標(X1+x1,Y2+y2)に照射することを
表現することによって構成され、第2番目の情報は同形
のスポット7を座標(X1+x1+Δx、Y1+y2+Δy)に
照射することを表現することによって構成される。した
がって、この展開データ27の出力は膨大な情報量にな
る。
For example, the basic pattern 22 to be drawn first on the chip 28
The information at the beginning of A is a rectangular spot 7 × 20 μm in width and height.
Is applied to the coordinates (X 1 + x 1 , Y 2 + y 2 ) of the chip 28, and the second information is that the spot 7 of the same shape has coordinates (X 1 + x 1 + Δx, Y 1 + y 2). 2 + Δy) is represented by expressing irradiation. Therefore, the output of the expanded data 27 becomes a huge amount of information.

このように展開されたデータ27は描画制御信号変換部に
入力される。この変換器18は展開データ27を偏向系を制
御に適する形の指令信号に変換し、偏向系制御部14に入
力する。偏向系制御器14は指令信号に基づいて鏡筒1を
制御して描画動作させる。
The data 27 thus developed is input to the drawing control signal conversion unit. The converter 18 converts the expansion data 27 into a command signal of a form suitable for controlling the deflection system, and inputs it to the deflection system control unit 14. The deflection system controller 14 controls the lens barrel 1 based on the command signal to perform a drawing operation.

鏡筒1において、電子銃2から電子線が発射され、電子
線は第1、第2アパーチャ4,6およびレンズ群5,8で整形
かつ絞り込まれ、偏向器9,11で前記偏向系制御器14の制
御により偏向走査され、もって第3図に示すような所望
の回路パターン30が描画される。
In the lens barrel 1, an electron beam is emitted from the electron gun 2, the electron beam is shaped and narrowed down by the first and second apertures 4 and 6 and the lens groups 5 and 8, and the deflection system controller is controlled by the deflectors 9 and 11. Deflection scanning is performed under the control of 14, so that a desired circuit pattern 30 as shown in FIG. 3 is drawn.

本実施例によれば、展開データの情報量は膨大になる
が、第1図に示す場合のように磁気テープに膨大な情報
を記録することなく、直接、描画制御信号変換器に入力
されるので、これを記録保存する磁気テープは不要にな
る。すなわち、描画データは前述したような階層構造の
パターン設計データの形で磁気テープ19に記録保存され
ているので、記録保存に使用される磁気テープの長さは
短くて済むと共に、展開データは描画制御信号変換器18
を介して偏向系制御器14に直接入力されるので、第1図
に示すように磁気テープに記録されたデータを読み出し
てから描画制御信号変換器で処理する場合に比べ、処理
時間を大幅に短縮することができる。
According to the present embodiment, the information amount of the expanded data becomes enormous, but it is directly input to the drawing control signal converter without recording enormous information on the magnetic tape as in the case shown in FIG. Therefore, a magnetic tape for recording and storing this is unnecessary. That is, since the drawing data is recorded and stored in the magnetic tape 19 in the form of the pattern design data having the hierarchical structure as described above, the length of the magnetic tape used for recording and storage is short, and the expansion data is drawn. Control signal converter 18
Since it is directly input to the deflection system controller 14 via, the processing time is significantly longer than that in the case where the data recorded on the magnetic tape is read and then processed by the drawing control signal converter as shown in FIG. It can be shortened.

なお、前記実施例では、電子線描画装置につき説明した
が、本発明は、ホトPGやイオンビームを用いたPGを有す
る描画装置にも適用することができるし、マスクやレチ
クルにパターンを形成する場合に限らず、ウエハに直接
パターンを形成することもできる。
Although the electron beam writing apparatus has been described in the above embodiments, the present invention can also be applied to a writing apparatus having a photo PG or a PG using an ion beam, and forms a pattern on a mask or reticle. Not limited to the case, the pattern may be directly formed on the wafer.

また、パターン設計データの記録媒体、記録再生手段、
各データの変換手段の具体的構成等に限定はない。
Also, a recording medium for pattern design data, a recording / reproducing means,
There is no limitation on the specific configuration of the conversion means for each data.

以上説明したように、本発明によれば、描画すべき設計
データを圧縮した形で外部記憶手段に格納する一方、こ
の外部記憶手段からのパターン設計データを展開データ
作成手段で展開した後に、偏向系制御手段により偏向手
段を直接制御するようにしたので、展開データを保存す
る磁気テープは不要となり、処理時間を大幅に短縮する
ことが可能となる。また、磁気テープ等の外部記憶手段
には、パターン設計データが基本パターンを有するセル
と、被描画物上の位置を指定する指定情報により特定の
セルが選定されたセル選定情報とが階層構造となって格
納されているので、指定情報に応じてセルの位置を任意
の組合せとすることができ、外部記憶手段への描画デー
タの入力量を削減して描画時間を短縮することができ
る。
As described above, according to the present invention, the design data to be drawn is stored in the compressed form in the external storage means, while the pattern design data from the external storage means is expanded by the expansion data creating means and then deflected. Since the deflection means is directly controlled by the system control means, the magnetic tape for storing the expanded data is not required, and the processing time can be greatly shortened. Further, in the external storage means such as a magnetic tape, a cell having pattern design data having a basic pattern and cell selection information in which a specific cell is selected by designating information designating a position on an object to be written have a hierarchical structure. Since the data is stored as, the positions of the cells can be arbitrarily combined according to the designation information, and the amount of drawing data input to the external storage means can be reduced to shorten the drawing time.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

第1図はこれまでに試みられた電子線描画装置を示すブ
ロック図、 第2図は本発明の一実施例である電子線描画装置を示す
構成図、 第3図は第2図の要部を示すブロック図である。 1……鏡筒、9……静電偏向器、11……電磁偏向器(偏
向制御手段)、13……マスクブランク、14……偏向系制
御器、15……図形データ処理装置、16……磁気記録再生
装置、17……データ変換器(展開データ作成手段)、18
……描画制御信号変換器、19……磁気テープ、20……パ
ターン設計データ、21A,21B……セル、22A,22B……基本
パターン、23A,23B……原点、25……セル選定情報、26
……指定情報、27……展開データ、27a……展開デー
タ、28……チップ、30……回路パターン。
FIG. 1 is a block diagram showing an electron beam drawing apparatus which has been tried so far, FIG. 2 is a configuration diagram showing an electron beam drawing apparatus which is one embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a main part of FIG. It is a block diagram showing. 1 ... Lens barrel, 9 ... Electrostatic deflector, 11 ... Electromagnetic deflector (deflection control means), 13 ... Mask blank, 14 ... Deflection system controller, 15 ... Graphic data processing device, 16 ... ... Magnetic recording / reproducing device, 17 ... Data converter (expanded data creating means), 18
…… Drawing control signal converter, 19 …… Magnetic tape, 20 …… Pattern design data, 21A, 21B …… Cell, 22A, 22B …… Basic pattern, 23A, 23B …… Origin, 25 …… Cell selection information, 26
…… Specified information, 27 …… Expanded data, 27a …… Expanded data, 28 …… Chips, 30 …… Circuit pattern.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】被描画物を保持する試料台と、前記被描画
物に向けてビームを照射するビーム照射源と、前記被描
画物に照射されるビームを偏向する偏向手段とを有する
描画装置であって、 相互に相違した基本パターン形状を有する多数のセル
と、前記被描画物上における位置に対応した指定情報に
対して前記多数のセルのうち特定のセルが個別的に選定
されたセル選定情報とからなる階層構造のパターン設計
データが格納された外部記憶手段と、 前記被描画物上に対する前記基本パターンの位置を前記
指定情報に基づいて展開して展開データを作成する展開
データ作成手段と、 前記展開データを前記偏向手段に出力する偏向系制御手
段とを有し、 前記展開データ作成手段と前記偏向系制御手段とを内蔵
してなる描画装置。
1. A drawing apparatus comprising a sample stage for holding an object to be drawn, a beam irradiation source for irradiating a beam toward the object to be drawn, and a deflection means for deflecting the beam applied to the object to be drawn. A plurality of cells having mutually different basic pattern shapes and a cell in which a specific cell among the plurality of cells is individually selected with respect to the designation information corresponding to the position on the object to be drawn. External storage means for storing pattern design data having a hierarchical structure including selection information, and expansion data creating means for expanding the position of the basic pattern on the object to be drawn based on the designation information to create expansion data. And a deflection system control means for outputting the development data to the deflection means, and a drawing apparatus including the development data creation means and the deflection system control means.
JP57226141A 1982-12-24 1982-12-24 Drawing device Expired - Lifetime JPH0680627B2 (en)

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