WO2015011775A1 - Large-scale automated testing system for storage media - Google Patents

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政幸 草野
博 本郷
秋山 秀樹
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株式会社ダイチューテクノロジーズ
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Abstract

In order to allow effective utilization of floor space, and to significantly improve work efficiency of workers, a large-scale automated testing system (1) for storage media is provided with working spaces (8) in which to perform attachment and removal of HDDs (60) with respect to testing devices (50), shelves (5) which house the testing devices (50), a stacker-rack (4) which has pluralities of the shelves (5) in each of a horizontal direction and a vertical direction, a crane (10) which transports the testing devices (50), a crane control device (25) which controls the crane (10), and a system control device (20) which performs communication with the testing devices (50) housed in the shelves (5), said system control device (20) instructing starting of tests on the HDDs (60) with respect to the testing devices (50) mounted in the shelves (5) and, with respect to the crane control device (25), performing loading instructions for transporting a testing device (50), which is positioned at a working space (8) in a state of retaining an HDD (60) prior to start of testing, to a shelf (5), and carry-out instructions for transporting the testing device (50), for which testing has been completed, to the working space (8).

Description

記憶媒体の大規模自動化試験システムLarge-scale automated test system for storage media
 本発明は、HDD等の記憶媒体の大規模自動化試験システムに関する。 The present invention relates to a large-scale automated test system for storage media such as HDDs.
 電子機器で用いる情報を記憶する記憶媒体は、磁気ディスクを用いたハードディスクドライブ(HDD)や、半導体素子メモリを用いたソリッドステートドライブ(SSD)等、様々な種類があるが、これらの記憶媒体は、組み立てを行った後、試験装置によって動作試験等を行う。 There are various types of storage media for storing information used in electronic devices, such as a hard disk drive (HDD) using a magnetic disk and a solid state drive (SSD) using a semiconductor element memory. After assembling, an operation test or the like is performed using a test apparatus.
 例えば、特許文献1に記載された環境試験チャンバでは、HDDを装着したハードドライブキャリアをキャリアパレットに装着し、試験チャンバに多数設けられるスロットに、このキャリアパレットを挿入することにより、1つの試験チャンバで複数のHDDの試験を行っている。 For example, in the environmental test chamber described in Patent Document 1, a hard drive carrier equipped with an HDD is mounted on a carrier pallet, and this carrier pallet is inserted into a plurality of slots provided in the test chamber, thereby providing one test chamber. Is testing multiple HDDs.
特表2003-506687号公報Special table 2003-506687 gazette
 しかしながら、近年ではHDDやSSD等の記憶媒体の容量の増加に伴い試験時間の長期間化が進み、それにより試験装置の台数の大幅増加が問題になっている。また、大幅増加される試験装置を設置する建屋、即ち、試験装置を設置するフロアも新たに必要になり、それに要する資産及び費用は、記憶媒体の生産メーカーにとって大きな負担となる。 However, in recent years, with the increase in the capacity of storage media such as HDDs and SSDs, the test time has been prolonged, and as a result, the number of test devices has increased greatly. In addition, a building in which test equipment to be greatly increased, that is, a floor on which the test equipment is installed, is newly required, and the assets and costs required for it are a great burden on the storage medium manufacturer.
 一方、フロアを確保して多数の試験装置を設置できた場合、作業者は多くの試験装置を並行運転して記憶媒体の試験を行うことになる。このため、これらの試験装置の操作や管理を行う作業者の負担が大きくなり、作業効率が低下する虞がある。これらのように、試験装置の台数を大幅に増加させて試験を行うことは、設置スペースの面と、試験時の作業効率との両面で課題が発生しており、実現が困難なものとなっていた。 On the other hand, when a large number of test devices can be installed with the floor secured, the operator will test the storage medium by operating many test devices in parallel. For this reason, the burden of the operator who operates and manages these test apparatuses becomes large, and there is a possibility that the work efficiency is lowered. In this way, testing with a greatly increased number of test equipment is problematic in terms of both installation space and work efficiency, and is difficult to implement. It was.
 本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、フロアスペースの有効利用を可能にし、且つ、作業者の作業効率を大幅に改善することができる記憶媒体の大規模自動化試験システムを提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above, and provides a large-scale automated test system for a storage medium that enables effective use of floor space and can greatly improve the work efficiency of an operator. For the purpose.
 上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明に係る記憶媒体の大規模自動化試験システムは、複数の記憶媒体を保持して前記記憶媒体の試験を行う試験装置と、前記試験装置に対して前記記憶媒体の着脱を行う着脱部と、前記試験装置を収容する収容部と、前記収容部を水平方向と鉛直方向とにそれぞれ複数有するスタッカーラックと、前記着脱部と前記スタッカーラックとの間で前記試験装置を搬送すると共に、前記収容部に対して前記試験装置の装填と前記収容部からの前記試験装置の回収を行う搬送装置と、前記搬送装置の制御を行う搬送装置制御装置と、前記収容部に収容された前記試験装置との間で通信を行い、前記試験装置の制御と前記試験装置からの前記記憶媒体の試験に関する情報の受信が可能なシステム制御装置と、を備え、前記システム制御装置は、前記収容部に装填された前記試験装置に対して前記記憶媒体の試験の開始指示を行い、且つ、前記搬送装置制御装置に対して、試験開始前の前記記憶媒体を保持した状態で前記着脱部に位置する前記試験装置を前記収容部に搬送させる搬入指示と、試験が完了した前記試験装置を前記着脱部に搬送させる搬出指示と、を行うことを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, a large-scale automated test system for a storage medium according to the present invention includes a test apparatus that holds a plurality of storage media and tests the storage medium, and the test apparatus An attachment / detachment portion for attaching / detaching the storage medium, a storage portion for storing the test device, a stacker rack having a plurality of storage portions in the horizontal direction and the vertical direction, the attachment / detachment portion, and the stacker rack, A transport device for transporting the test device between the storage device, loading the test device to the storage portion, and collecting the test device from the storage portion, and a transport device control device for controlling the transport device And system control capable of communicating with the test apparatus accommodated in the accommodating unit, and receiving information related to the control of the test apparatus and the test of the storage medium from the test apparatus The system control device instructs the test device loaded in the storage unit to start the test of the storage medium, and before the test starts to the transport device control device A loading instruction for transporting the test apparatus located in the detachable section to the housing section while holding the storage medium, and an unloading instruction for transporting the test apparatus that has been tested to the detachable section. It is characterized by.
 また、上記記憶媒体の大規模自動化試験システムにおいて、前記収容部には、前記収容部への前記試験装置の装填動作によって接続される通信機構が設けられており、前記システム制御装置は、前記通信機構を介して前記試験装置との間で通信を行うことが好ましい。 Further, in the large-scale automated test system for the storage medium, the storage unit is provided with a communication mechanism that is connected by an operation of loading the test device into the storage unit. It is preferable to communicate with the test apparatus via a mechanism.
 また、上記記憶媒体の大規模自動化試験システムにおいて、前記収容部には、前記収容部への前記試験装置の装填動作によって接続される給電機構が設けられており、前記試験装置は、前記給電機構によって供給される電力によって作動することが好ましい。 Further, in the large-scale automated test system for the storage medium, the storage unit is provided with a power supply mechanism that is connected by the loading operation of the test apparatus to the storage unit, and the test apparatus includes the power supply mechanism. It is preferable to operate with the power supplied by.
 また、上記記憶媒体の大規模自動化試験システムにおいて、前記給電機構は、前記収容部への前記試験装置の装填の完了後に前記試験装置に対して給電することが好ましい。 Moreover, in the large-scale automated test system for the storage medium, it is preferable that the power supply mechanism supplies power to the test apparatus after the loading of the test apparatus into the housing unit is completed.
 また、上記記憶媒体の大規模自動化試験システムにおいて、前記試験装置は、互いに反対方向に向かう2つの面から前記記憶媒体の着脱ができることが好ましい。 In the large-scale automated test system for the storage medium, it is preferable that the test apparatus can attach and detach the storage medium from two surfaces facing in opposite directions.
 本発明に係る記憶媒体の大規模自動化試験システムは、フロアスペースの有効利用を可能にし、且つ、作業者の作業効率を大幅に改善することができる、という効果を奏する。 The large-scale automated test system for a storage medium according to the present invention has an effect that the floor space can be effectively used and the work efficiency of the worker can be greatly improved.
図1は、実施形態に係る記憶媒体の大規模自動化試験システムの側面図である。FIG. 1 is a side view of a storage medium large-scale automated test system according to an embodiment. 図2は、図1のA-A矢視図である。FIG. 2 is an AA arrow view of FIG. 図3は、図1のB-B矢視図である。FIG. 3 is a BB arrow view of FIG. 図4は、図1に示す試験装置の模式図である。FIG. 4 is a schematic diagram of the test apparatus shown in FIG. 図5は、実施形態に係る大規模自動化試験システムの各装置の関係を示す平面模式図である。FIG. 5 is a schematic plan view showing the relationship between the devices of the large-scale automated test system according to the embodiment. 図6は、実施形態に係る大規模自動化試験システムのシステム構成図である。FIG. 6 is a system configuration diagram of the large-scale automated test system according to the embodiment.
 以下に、本発明に係る記憶媒体の大規模自動化試験システムの実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、この実施形態によりこの発明が限定されるものではない。また、下記実施形態における構成要素には、当業者が置換可能、且つ、容易なもの、或いは実質的に同一のものが含まれる。 Hereinafter, an embodiment of a large-scale automated test system for a storage medium according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. In addition, this invention is not limited by this embodiment. In addition, constituent elements in the following embodiments include those that can be easily replaced by those skilled in the art or those that are substantially the same.
 〔実施形態〕
 図1は、実施形態に係る記憶媒体の大規模自動化試験システムの側面図である。図2は、図1のA-A矢視図である。図3は、図1のB-B矢視図である。なお、以下の説明では、本実施形態に係る大規模自動化試験システム1の通常の使用態様における上側を、大規模自動化試験システム1の上側とし、大規模自動化試験システム1の通常の使用態様における下側を大規模自動化試験システム1の下側として説明する。本実施形態に係る大規模自動化試験システム1は、記憶媒体の動作試験等を行う試験装置50を複数用いて大量の試験を行う試験システムになっており、試験を行う際に試験装置50を設置するスタッカーラック4を有している。
Embodiment
FIG. 1 is a side view of a storage medium large-scale automated test system according to an embodiment. FIG. 2 is an AA arrow view of FIG. FIG. 3 is a BB arrow view of FIG. In the following description, the upper side in the normal usage mode of the large-scale automated test system 1 according to the present embodiment is the upper side of the large-scale automated test system 1, and the lower side in the normal usage mode of the large-scale automated test system 1 The side will be described as the lower side of the large-scale automated test system 1. The large-scale automated test system 1 according to the present embodiment is a test system that performs a large number of tests using a plurality of test apparatuses 50 that perform an operation test or the like of a storage medium, and the test apparatus 50 is installed when performing a test. A stacker rack 4 is provided.
 このスタッカーラック4は、試験装置50を収容可能な収容部である棚5を備えており、スタッカーラック4は、この棚5を水平方向と鉛直方向とにそれぞれ複数有している。具体的には、本実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、1つのスタッカーラック4に、水平方向に20個の棚5を備え、この20個の棚5を上下2列で備えている。つまり、1つのスタッカーラック4は、40個の棚5を有している。 The stacker rack 4 is provided with a shelf 5 that is an accommodating portion that can accommodate the test apparatus 50, and the stacker rack 4 has a plurality of shelves 5 in the horizontal direction and the vertical direction, respectively. Specifically, in the large-scale automated test system 1 according to the present embodiment, one stacker rack 4 is provided with 20 shelves 5 in the horizontal direction, and the 20 shelves 5 are provided in two upper and lower rows. . That is, one stacker rack 4 has 40 shelves 5.
 このようにスタッカーラック4に複数備えられる棚5は、試験装置50を出し入れする開口部6が、1つのスタッカーラック4において全て同じ方向に開口しており、即ち、複数の開口部6は、スタッカーラック4における同一面上に形成されている。大規模自動化試験システム1は、棚5の開口部6が対向する向きで平行に並ぶ2つのスタッカーラック4を1組として、1組、または複数組有している。 As described above, in the plurality of shelves 5 provided in the stacker rack 4, the openings 6 for taking in and out the test apparatus 50 are all opened in the same direction in one stacker rack 4, that is, the plurality of openings 6 are arranged in the stacker rack 4. The rack 4 is formed on the same surface. The large-scale automated test system 1 has one set or two sets of two stacker racks 4 arranged in parallel so that the openings 6 of the shelves 5 face each other.
 大規模自動化試験システム1は、スタッカーラック4の長手方向における延長線上に、試験を行う記憶媒体の、試験装置50への着脱作業を行う着脱部である作業スペース8を有している。作業スペース8は、例えば、1組のスタッカーラック4のうち、一方のスタッカーラック4の長手方向における一端側に隣接しており、スタッカーラック4の延在方向に2つが並んで設けられている。この作業スペース8は、作業スペース8に位置する試験装置50に対して、スタッカーラック4の延在方向における両側から、記憶媒体の着脱を行うことができるように設けられている。 The large-scale automated test system 1 has a work space 8 on the extension line in the longitudinal direction of the stacker rack 4 that is an attaching / detaching portion for attaching / detaching the storage medium to be tested to / from the test apparatus 50. For example, the work space 8 is adjacent to one end side in the longitudinal direction of one stacker rack 4 of the pair of stacker racks 4, and two of the work spaces 8 are provided side by side in the extending direction of the stacker rack 4. The work space 8 is provided so that the storage medium can be attached to and detached from the test apparatus 50 located in the work space 8 from both sides in the extending direction of the stacker rack 4.
 また、1組のスタッカーラック4の間には、試験装置50の搬送や、棚5への試験装置50の装填、棚5からの試験装置50の回収を行う搬送装置であるクレーン10と、クレーン10の軌道であるレール15とが配設されている。このうち、レール15は、開口部6が対向する向きで並ぶ2つのスタッカーラック4の間に、スタッカーラック4に沿って、スタッカーラック4が設置される建屋の床に配設されており、スタッカーラック4の長手方向におけるスタッカーラック4の配設領域に渡って配設されている。つまり、レール15は、スタッカーラック4における棚5の開口部6が位置する側に配設されている。 Between the pair of stacker racks 4, the crane 10, which is a transport device that transports the test device 50, loads the test device 50 into the shelf 5, and collects the test device 50 from the shelf 5, and the crane 10 rails 15 are arranged. Among these, the rail 15 is disposed on the floor of the building where the stacker rack 4 is installed, along the stacker rack 4 between the two stacker racks 4 arranged in the direction in which the openings 6 face each other. The stacker rack 4 is arranged over the arrangement area of the rack 4 in the longitudinal direction. That is, the rail 15 is arranged on the side where the opening 6 of the shelf 5 in the stacker rack 4 is located.
 さらに、レール15は、スタッカーラック4の配設領域から作業スペース8側にも延びており、スタッカーラック4の長手方向において作業スペース8が位置する領域にも設置されている。このようにレール15は、作業スペース8が位置する部分から、スタッカーラック4における作業スペース8が位置する側の反対側の端部が位置する部分に亘って設けられている。 Furthermore, the rail 15 extends from the arrangement area of the stacker rack 4 to the work space 8 side, and is also installed in the area where the work space 8 is located in the longitudinal direction of the stacker rack 4. As described above, the rail 15 is provided from a portion where the work space 8 is located to a portion where the end of the stacker rack 4 opposite to the side where the work space 8 is located is located.
 クレーン10は、電気モータ等によって構成されるクレーン駆動装置40(図6参照)により、所望の方向に移動可能になっている。具体的には、クレーン10は、クレーン駆動装置40によって、レール15に沿って移動可能になっており、このためクレーン10は、作業スペース8が位置する部分から、スタッカーラック4の配設領域に亘って移動可能になっている。このため、クレーン10は、作業スペース8とスタッカーラック4との間で、試験装置50の搬送を行うことが可能になっている。 The crane 10 is movable in a desired direction by a crane driving device 40 (see FIG. 6) configured by an electric motor or the like. Specifically, the crane 10 can be moved along the rail 15 by the crane driving device 40, and for this reason, the crane 10 moves from the portion where the work space 8 is located to the arrangement area of the stacker rack 4. It can move across. For this reason, the crane 10 can carry the test apparatus 50 between the work space 8 and the stacker rack 4.
 また、クレーン10は、試験装置50を載置する載置部12を有しており、載置部12は、クレーン駆動装置40によって、上下方向に延びる昇降ガイド11に沿って昇降可能になっている。さらに、載置部12は、クレーン駆動装置40によって、レール15の延在方向に直交する水平方向に移動可能になっており、即ち、対向する双方のスタッカーラック4に対して、近付いたり離れたりする方向に移動可能になっている。 Moreover, the crane 10 has the mounting part 12 which mounts the test apparatus 50, and the mounting part 12 can be raised / lowered by the crane drive apparatus 40 along the raising / lowering guide 11 extended to an up-down direction. Yes. Further, the placing portion 12 can be moved in the horizontal direction perpendicular to the extending direction of the rail 15 by the crane driving device 40, that is, move closer to or away from both opposing stacker racks 4. It is possible to move in the direction to do.
 このクレーン10は、各種演算処理を行うECU(Electronic Control Unit)や、情報を記憶する記憶部等を有し、クレーン10の動作管理を行う搬送装置制御装置であるクレーン制御装置25に接続されている。これにより、クレーン10は、クレーン制御装置25によって制御され、各動作が可能になっている。 The crane 10 includes an ECU (Electronic Control Unit) that performs various arithmetic processes, a storage unit that stores information, and the like, and is connected to a crane control device 25 that is a transport device control device that manages the operation of the crane 10. Yes. Thereby, the crane 10 is controlled by the crane control apparatus 25, and each operation | movement is possible.
 さらに、クレーン制御装置25は、クレーン制御装置25と同様に各種演算処理を行うECUや、情報を記憶する記憶部等を有し、大規模自動化試験システム1全体の制御及び管理を行うシステム制御装置20に接続されている。これにより、クレーン制御装置25は、システム制御装置20によって制御可能になっており、クレーン制御装置25は、システム制御装置20からの制御信号に基づいてクレーン10の動作管理を行う。 Further, the crane control device 25 includes an ECU that performs various arithmetic processes similarly to the crane control device 25, a storage unit that stores information, and the like, and a system control device that controls and manages the entire large-scale automated test system 1. 20 is connected. Thereby, the crane control device 25 can be controlled by the system control device 20, and the crane control device 25 manages the operation of the crane 10 based on the control signal from the system control device 20.
 このシステム制御装置20は、クレーン制御装置25を介したクレーン10の動作管理のみでなく、棚5や試験装置50の管理機能や緊急時の試験中止機能を有している。また、システム制御装置20は、試験装置50で保持する記憶媒体の試験開始指示を試験装置50に対して行ったり、記憶媒体の試験結果情報収集や管理を行ったり、大規模自動化試験システム1のメンテナンス情報の管理を行ったりする。 The system control device 20 has not only the operation management of the crane 10 via the crane control device 25 but also a management function of the shelf 5 and the test device 50 and an emergency test stop function. Further, the system control device 20 issues a test start instruction for the storage medium held by the test device 50 to the test device 50, collects and manages test result information of the storage medium, and performs the large-scale automated test system 1 Manage maintenance information.
 図4は、図1に示す試験装置の模式図である。試験装置50は、棚5に収容可能な略直方体の形状で形成されており、多種の記憶媒体のうち、HDD(Hard Disk Drive)60の試験を行うことができる装置になっている。この試験装置50は、使用状態における四方の側面のうち、互いに反対方向に向かう2つの面に、HDD60を挿入する挿入部51を多数備えている。この挿入部51は、試験を行うHDD60の試験装置50への挿入や試験装置50からの取り出しを行うと共に、HDD60の保持が可能になっている。挿入部51は、本実施形態に係る大規模自動化試験システム1で用いる試験装置50では、1つの面に120個が設けられており、この面が2面なので1台の試験装置50には、挿入部51が240個設けられている。 FIG. 4 is a schematic diagram of the test apparatus shown in FIG. The test apparatus 50 is formed in a substantially rectangular parallelepiped shape that can be accommodated in the shelf 5, and is an apparatus that can test an HDD (Hard Disk Drive) 60 among various storage media. This test apparatus 50 includes a large number of insertion portions 51 for inserting the HDD 60 on two sides facing in opposite directions among the four side surfaces in the use state. The insertion unit 51 can insert and remove the HDD 60 to be tested from the test apparatus 50 and can also hold the HDD 60. In the test apparatus 50 used in the large-scale automated test system 1 according to the present embodiment, 120 insertion parts 51 are provided on one surface, and since this surface is two surfaces, one test apparatus 50 includes: 240 insertion parts 51 are provided.
 各挿入部51内には、HDD60が備えるインターフェース基板(図示省略)に接続する制御基板(図示省略)が設けられており、HDD60に対して電力を供給したり、HDD60との間で信号のやり取りを行ったりすることが可能になっている。これにより、試験装置50は、挿入部51に挿入されたHDD60の試験を行うことが可能になっており、1台の試験装置50で、最大で240個のHDD60の試験を並行して行うことができる。 Each insertion portion 51 is provided with a control board (not shown) connected to an interface board (not shown) provided in the HDD 60, and supplies power to the HDD 60 and exchanges signals with the HDD 60. It is possible to do. As a result, the test apparatus 50 can test the HDDs 60 inserted into the insertion portion 51, and can test a maximum of 240 HDDs 60 in parallel with one test apparatus 50. Can do.
 図5は、実施形態に係る大規模自動化試験システムの各装置の関係を示す平面模式図である。スタッカーラック4の各棚5には、試験装置50に電力を供給したり、試験装置50との間で通信を行ったりする試験装置制御部である試験装置制御用コントローラ30が設けられている。この試験装置制御用コントローラ30は、外部の電源(図示接続)に接続されており、試験装置50側の電源用の接点と接続することにより、試験装置50に対して電力を供給する電源接続部31と、試験装置50側の通信用の接点と接続することにより、試験装置50との間でネットワーク接続を行う通信接続部32と、をそれぞれ有している。 FIG. 5 is a schematic plan view showing the relationship between the devices of the large-scale automated test system according to the embodiment. Each shelf 5 of the stacker rack 4 is provided with a test apparatus control controller 30 that is a test apparatus control section that supplies power to the test apparatus 50 and communicates with the test apparatus 50. The test apparatus control controller 30 is connected to an external power source (connection shown in the figure), and is connected to a power contact on the test apparatus 50 side to supply power to the test apparatus 50. 31 and a communication connection unit 32 that performs network connection with the test apparatus 50 by connecting to the communication contact on the test apparatus 50 side.
 このうち、電源接続部31は、クレーン10による棚5への試験装置50の装填動作によって接続される給電機構によって構成されている。同様に、通信接続部32は、棚5への試験装置50の装填動作によって接続される通信機構によって構成されている。電源接続部31と通信接続部32とは、例えば、試験装置50の下面と、棚5の底面にそれぞれ接続部を有すると共に、ガイドピンが配設され、試験装置50を棚5上に載置した際に、ガイドピンによってガイドされながら、試験装置50の自重によって接続部同士が機械的に接続されるように構成されている。これらのように、電源接続部31と通信接続部32とは、接続をするための動作を行わせることなく、試験装置50の装填動作により機械的な接続を行うことができるように構成されている。 Among these, the power supply connection part 31 is comprised by the electric power feeding mechanism connected by the loading operation | movement of the test apparatus 50 to the shelf 5 by the crane 10. FIG. Similarly, the communication connection unit 32 is configured by a communication mechanism connected by the loading operation of the test apparatus 50 to the shelf 5. The power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 have, for example, connection portions on the lower surface of the test device 50 and the bottom surface of the shelf 5, respectively, and guide pins are disposed, and the test device 50 is placed on the shelf 5. In this case, the connection portions are mechanically connected by the weight of the test apparatus 50 while being guided by the guide pins. As described above, the power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 are configured so that mechanical connection can be performed by the loading operation of the test apparatus 50 without performing an operation for connection. Yes.
 また、大規模自動化試験システム1が有する各制御装置は、LAN(Local Area Network)35によって、装置間での情報交換が可能になっている。このため、システム制御装置20とクレーン制御装置25と試験装置制御用コントローラ30とは、互いにLAN35によって接続されている。これにより、システム制御装置20は、試験装置制御用コントローラ30を介して試験装置50と通信を行うことが可能になっており、試験装置50に対して試験のための動作を行わせたり、試験の状態についての情報を試験装置50から受け取ったりすることができる。 In addition, each control device included in the large-scale automated test system 1 can exchange information between the devices via a LAN (Local Area Network) 35. For this reason, the system control device 20, the crane control device 25, and the test device control controller 30 are connected to each other via the LAN 35. As a result, the system control device 20 can communicate with the test device 50 via the test device control controller 30 to cause the test device 50 to perform an operation for a test or to perform a test. Information about the state of the test can be received from the test apparatus 50.
 また、クレーン制御装置25は、クレーン10とLAN35によって接続されており、クレーン駆動装置40(図6参照)に対して制御信号を送信することにより、クレーン10を作動させることができる。これにより、システム制御装置20は、クレーン制御装置25を介してクレーン10の制御を行うことが可能になっている。 Further, the crane control device 25 is connected to the crane 10 via the LAN 35, and can operate the crane 10 by transmitting a control signal to the crane drive device 40 (see FIG. 6). Thus, the system control device 20 can control the crane 10 via the crane control device 25.
 図6は、実施形態に係る大規模自動化試験システムのシステム構成図である。クレーン10の動作を行うクレーン制御装置25は、クレーン10を駆動させるクレーン駆動装置40に接続され、クレーン駆動装置40の制御が可能になっている。クレーン駆動装置40は、クレーン10をレール15に沿って移動させるクレーン移動装置41と、クレーン10の載置部12を昇降ガイド11に沿って昇降させる昇降装置42と、載置部12をスタッカーラック4の棚5に近付かせたり離したりする方向に水平移動させる装填回収装置43と、有している。このうち、装填回収装置43は、載置部12を水平移動させることによって、棚5に対して載置部12を出し入れすることができるようになっている。 FIG. 6 is a system configuration diagram of the large-scale automated test system according to the embodiment. The crane control device 25 that operates the crane 10 is connected to a crane drive device 40 that drives the crane 10, and the crane drive device 40 can be controlled. The crane drive device 40 includes a crane moving device 41 that moves the crane 10 along the rail 15, a lifting device 42 that lifts and lowers the placement unit 12 of the crane 10 along the lifting guide 11, and a stacker rack. And a loading / recovering device 43 that horizontally moves in the direction of approaching or moving away from the four shelves 5. Among these, the loading / recovery device 43 can move the mounting unit 12 in and out of the shelf 5 by horizontally moving the mounting unit 12.
 これらのクレーン移動装置41、昇降装置42、装填回収装置43は、モータ等の動力源やギヤ等の動力伝達手段からなり、動力源で発生した動力を用いてクレーン10を作動させることにより、クレーン10に対して所望の動作を行わせることが可能になっている。 The crane moving device 41, the lifting device 42, and the loading and collecting device 43 include a power source such as a motor and power transmission means such as a gear, and the crane 10 is operated by using the power generated by the power source. 10 can perform a desired operation.
 また、試験装置制御用コントローラ30は、スタッカーラック4の棚5に応じて複数が設けられており、複数の試験装置制御用コントローラ30は、LAN35によって全てシステム制御装置20に接続されている。電源接続部31と通信接続部32とは、各試験装置制御用コントローラ30に設けられており、これにより試験装置制御用コントローラ30は、それぞれ独立して異なる試験装置50に対して、電源接続とネットワーク接続とを行うことが可能になっている。 Further, a plurality of test device control controllers 30 are provided according to the shelf 5 of the stacker rack 4, and the plurality of test device control controllers 30 are all connected to the system control device 20 via the LAN 35. The power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 are provided in each of the test device control controllers 30, whereby the test device control controller 30 performs power supply connection to different test devices 50. Network connection is possible.
 また、各試験装置制御用コントローラ30には、試験装置50が棚5内に装填されたか否かを検出する装填確認センサ47と、載置部12が棚5内に位置しているか否かを検出するクレーン挿入センサ48と、が接続されている。この装填確認センサ47とクレーン挿入センサ48とは、共に棚5内に配設されており、各棚5において、棚5内への試験装置50の装填状態や、棚5内への載置部12の挿入状態を検出することができる。装填確認センサ47とクレーン挿入センサ48とが接続されている試験装置制御用コントローラ30は、これらの状態を検出することが可能になっている。 Each of the test device control controllers 30 includes a loading confirmation sensor 47 that detects whether or not the test device 50 is loaded in the shelf 5, and whether or not the placement unit 12 is located in the shelf 5. A crane insertion sensor 48 to be detected is connected. Both the loading confirmation sensor 47 and the crane insertion sensor 48 are disposed in the shelf 5. In each shelf 5, the loading state of the test apparatus 50 in the shelf 5 and the placement unit in the shelf 5 are placed. 12 insertion states can be detected. The test device control controller 30 to which the loading confirmation sensor 47 and the crane insertion sensor 48 are connected can detect these states.
 なお、装填確認センサ47とクレーン挿入センサ48とは、赤外線を用いるセンサや、重量を検知するセンサなど、棚5内の試験装置50や載置部12の状態を適切に検知できるものであれば、形式や態様は問わない。 The loading confirmation sensor 47 and the crane insertion sensor 48 may be any sensor that can appropriately detect the state of the test apparatus 50 and the placement unit 12 in the shelf 5 such as a sensor that uses infrared rays or a sensor that detects weight. The form and form are not limited.
 また、システム制御装置20は、大規模自動化試験システム1全体の制御及び管理を行うと共に、大規模自動化試験システム1の操作や、HDD60の試験に関する情報及び大規模自動化試験システム1の作動状態に関する情報を、作業者が取得することができるようになっている。このため、システム制御装置20には、キーボード等の入力装置21や、情報の表示装置やスピーカ等の出力装置22が接続されている。 Further, the system control device 20 controls and manages the entire large-scale automated test system 1, and also operates the large-scale automated test system 1, information on the HDD 60 test, and information on the operating state of the large-scale automated test system 1. The operator can acquire it. Therefore, an input device 21 such as a keyboard and an output device 22 such as an information display device and a speaker are connected to the system control device 20.
 この実施形態に係る大規模自動化試験システム1は、以上のごとき構成からなり、以下、その作用について説明する。大規模自動化試験システム1でHDD60の試験を行う際には、作業スペース8でHDD60を試験装置50に挿入し、試験装置50をクレーン10でスタッカーラック4の棚5まで搬送して棚5に収容した状態で試験を行った後、試験装置50を棚5から回収して作業スペース8まで運搬する。大規模自動化試験システム1では、これらの流れで複数の試験装置50を並行して作動させることにより、多数のHDD60の試験を継続的に行うが、この流れについて、1台の試験装置50の流れを説明することにより詳細に説明する。 The large-scale automated test system 1 according to this embodiment is configured as described above, and the operation thereof will be described below. When testing the HDD 60 in the large-scale automated test system 1, the HDD 60 is inserted into the test apparatus 50 in the work space 8, and the test apparatus 50 is transported to the shelf 5 of the stacker rack 4 by the crane 10 and accommodated in the shelf 5. After the test is performed, the test apparatus 50 is collected from the shelf 5 and transported to the work space 8. In the large-scale automated test system 1, a plurality of HDDs 60 are continuously tested by operating a plurality of test apparatuses 50 in parallel in these flows. For this flow, the flow of one test apparatus 50 is Will be described in detail.
 HDD60の試験を行う際には、まず、作業スペース8に位置した状態の試験装置50に対して、作業者が手作業によって多数のHDD60を試験装置50の挿入部51に挿入する。ここで、試験装置50は、互いに反対方向に位置する2面に挿入部51が設けられているが、試験装置50が作業スペース8に置かれる際には、挿入部51が設けられている2面が、スタッカーラック4の延在方向、或いは、レール15が延びる方向に沿った向きになるように置かれる。これにより、作業者は、スタッカーラック4の延在方向における試験装置50の両側から、複数名の作業者によってHDD60の着脱を行うことができる。 When testing the HDD 60, first, an operator manually inserts a number of HDDs 60 into the insertion portion 51 of the test apparatus 50 with respect to the test apparatus 50 located in the work space 8. Here, the test apparatus 50 is provided with the insertion part 51 on two surfaces located in opposite directions, but when the test apparatus 50 is placed in the work space 8, the insertion part 51 is provided 2. The surface is placed so as to be oriented along the direction in which the stacker rack 4 extends or the direction in which the rail 15 extends. Thereby, the worker can attach and detach the HDD 60 by a plurality of workers from both sides of the test apparatus 50 in the extending direction of the stacker rack 4.
 試験装置50の挿入部51にHDD60を挿入し、試験を行うHDD60を試験装置50で保持したら、作業者は入力装置21を操作することにより、この試験装置50で試験を行う旨の入力指示を、システム制御装置20に対して行う。試験を行う旨の入力が行われたシステム制御装置20は、クレーン制御装置25に対して、試験開始前のHDD60を保持した状態で作業スペース8に位置する試験装置50を、スタッカーラック4の棚5に搬送させる搬入指示を行う。 When the HDD 60 is inserted into the insertion portion 51 of the test apparatus 50 and the HDD 60 to be tested is held by the test apparatus 50, the operator operates the input device 21 to input an instruction to perform the test with the test apparatus 50. To the system controller 20. The system control device 20 to which the test effect is input performs the test device 50 located in the work space 8 while holding the HDD 60 before starting the test on the crane control device 25, the shelf of the stacker rack 4. 5 is instructed to carry in.
 ここで、システム制御装置20は、棚5の管理を行っており、スタッカーラック4が有する複数の棚5のうち、どの棚5に試験装置50があり、どの棚5が空いているかを把握している。このため、試験を行う旨の入力が行われたシステム制御装置20は、空いている棚5の中から、試験装置50を搬入する棚5を選定し、作業スペース8にある試験装置50を、この選定した棚5に搬送させる搬入指示を、クレーン制御装置25に対して行う。 Here, the system control device 20 manages the shelves 5, and among the plurality of shelves 5 of the stacker rack 4, grasps which shelf 5 has the test apparatus 50 and which shelf 5 is free. ing. For this reason, the system control device 20 to which an input for performing the test is performed selects the shelf 5 into which the test device 50 is carried out from the empty shelves 5, and the test device 50 in the work space 8 is selected. A carry-in instruction for carrying to the selected shelf 5 is given to the crane control device 25.
 システム制御装置20から搬入指示を受けたクレーン制御装置25は、クレーン駆動装置40を制御することにより、指示に応じた動作をクレーン10に行わせる。具体的には、クレーン移動装置41を作動させることにより、クレーン10を作業スペース8の近傍までレール15に沿って移動させる。クレーン10を作業スペース8の近傍まで移動させたら、次に、装填回収装置43を作動させることによって載置部12を水平移動させ、作業スペース8に置かれている試験装置50の下方に、載置部12を位置させる。 The crane control device 25 that has received a carry-in instruction from the system control device 20 controls the crane drive device 40 to cause the crane 10 to perform an operation according to the instruction. Specifically, the crane 10 is moved along the rail 15 to the vicinity of the work space 8 by operating the crane moving device 41. Once the crane 10 has been moved to the vicinity of the work space 8, the loading / recovering device 43 is then operated to move the placement unit 12 horizontally, and the load is placed below the test device 50 placed in the work space 8. The placement unit 12 is positioned.
 その際に、載置部12の高さが、鉛直方向において試験装置50よりも下方に位置する高さになっていない場合は、クレーン制御装置25は、昇降装置42を作動させることにより、載置部12を上下方向に移動させる。これにより、載置部12の高さを試験装置50よりも低くした後、載置部12を水平移動させ、試験装置50の下方に載置部12を位置させる。 At that time, when the height of the mounting portion 12 is not a height positioned below the test device 50 in the vertical direction, the crane control device 25 operates the lifting device 42 to operate the loading device 42. The placement unit 12 is moved in the vertical direction. Thus, after the height of the mounting portion 12 is made lower than that of the test device 50, the mounting portion 12 is moved horizontally and the mounting portion 12 is positioned below the test device 50.
 試験装置50の下方に載置部12を位置させたら、昇降装置42を作動させることによって載置部12を上昇させ、載置部12上に試験装置50を載置し、作業スペース8から試験装置50を浮かせる。試験装置50を浮かせたら、クレーン制御装置25は装填回収装置43を作動させることによって載置部12を水平移動させ、載置部12を中立位置、即ち、レール15の上方に位置させる。 When the mounting portion 12 is positioned below the test device 50, the mounting device 12 is raised by operating the lifting device 42, the test device 50 is mounted on the mounting portion 12, and the test is performed from the work space 8. The device 50 is lifted. When the test device 50 is lifted, the crane control device 25 operates the loading / recovery device 43 to move the placement unit 12 horizontally, and places the placement unit 12 in the neutral position, that is, above the rail 15.
 載置部12が中立位置まで移動したら、クレーン制御装置25は、クレーン移動装置41を作動させることにより、レール15の延在方向において、システム制御装置20で選定した棚5が位置する部分まで、レール15に沿ってクレーン10を移動させる。これによりクレーン10を、システム制御装置20で選定した棚5の開口部6の前まで移動させる。 When the placement unit 12 moves to the neutral position, the crane control device 25 operates the crane moving device 41 to reach the portion where the shelf 5 selected by the system control device 20 is located in the extending direction of the rail 15. The crane 10 is moved along the rail 15. Thereby, the crane 10 is moved to the front of the opening 6 of the shelf 5 selected by the system control device 20.
 選定した棚5の前までクレーン10を移動させたら、クレーン制御装置25は、昇降装置42を作動させることにより、鉛直方向に並ぶ棚5のうち、選定した棚5が位置する高さに昇降ガイド11に沿って載置部12を移動させる。具体的には、載置部12に載置されている試験装置50を、選定した棚5の開口部6から棚5に入り込ませることができる高さで、且つ、試験装置50を棚5の底面から浮かせた状態で棚5に入り込ませることができる高さに、載置部12を移動させる。 When the crane 10 is moved to the front of the selected shelf 5, the crane control device 25 operates the lifting device 42 to move the lifting guide to a height at which the selected shelf 5 is positioned among the shelves 5 arranged in the vertical direction. 11, the placement unit 12 is moved. Specifically, the height of the test device 50 placed on the placement unit 12 can be made to enter the shelf 5 from the opening 6 of the selected shelf 5, and the test device 50 is placed on the shelf 5. The mounting portion 12 is moved to a height at which it can enter the shelf 5 while being lifted from the bottom surface.
 載置部12の高さを棚5の高さに合わせたら、クレーン制御装置25は、装填回収装置43を作動させることにより載置部12を水平移動させ、試験装置50を載置した状態の載置部12を、棚5内に挿入する。クレーン制御装置25は、開口部6からの奥行き方向における載置部12の位置が所定の位置に到達したら、装填回収装置43を停止させる。 When the height of the mounting portion 12 is adjusted to the height of the shelf 5, the crane control device 25 moves the mounting portion 12 horizontally by operating the loading and collecting device 43, and the test device 50 is placed. The placement unit 12 is inserted into the shelf 5. The crane control device 25 stops the loading and collecting device 43 when the position of the mounting portion 12 in the depth direction from the opening 6 reaches a predetermined position.
 クレーン制御装置25は、この状態で昇降装置42を作動させることにより、載置部12を下降させる。これにより、載置部12に載置されている試験装置50を、棚5の底面上に載置し、システム制御装置20で選択した棚5に試験装置50を装填する。 The crane control device 25 lowers the placement unit 12 by operating the lifting device 42 in this state. As a result, the test device 50 placed on the placement unit 12 is placed on the bottom surface of the shelf 5, and the test device 50 is loaded on the shelf 5 selected by the system control device 20.
 このように、試験装置50を棚5に装填すると、試験装置50の自重により、棚5に設けられる電源接続部31と通信接続部32とが、試験装置50に対して機械的に接続される。即ち、電源接続部31と通信接続部32とは、棚5内で棚5の底面から試験装置50を浮かせている状態の載置部12を下降させる装填動作により、試験装置50側の接続部と機械的に接続される。 As described above, when the test device 50 is loaded on the shelf 5, the power connection unit 31 and the communication connection unit 32 provided on the shelf 5 are mechanically connected to the test device 50 by the weight of the test device 50. . That is, the power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 are connected to the test device 50 side by a loading operation of lowering the mounting unit 12 in a state where the test device 50 is lifted from the bottom surface of the shelf 5 in the shelf 5. And mechanically connected.
 このように、試験装置50が棚5の底面に載置されることにより試験装置50が棚5に装填されると、装填確認センサ47が、試験装置50が装填されたことを検出する。また、棚5には、載置部12が棚5内に位置しているか否かを検出するクレーン挿入センサ48も設けられており、試験装置50が棚5に装填されても、載置部12が棚5内に位置している場合は、その旨をクレーン挿入センサ48で検出する。この検出結果は、試験装置制御用コントローラ30を介してシステム制御装置20に伝達される。 Thus, when the test apparatus 50 is loaded on the shelf 5 by placing the test apparatus 50 on the bottom surface of the shelf 5, the loading confirmation sensor 47 detects that the test apparatus 50 has been loaded. The shelf 5 is also provided with a crane insertion sensor 48 that detects whether or not the placement unit 12 is located in the shelf 5, so that the placement unit can be mounted even when the test apparatus 50 is loaded on the shelf 5. When 12 is located in the shelf 5, the fact is detected by the crane insertion sensor 48. This detection result is transmitted to the system control device 20 via the test device control controller 30.
 システム制御装置20は、試験装置50が装填され、載置部12が棚5から退避されたことが検出された場合に、棚5内の試験装置50に対して給電を行う。このため、システム制御装置20は、試験装置50が装填されたとの情報を受けても、載置部12が棚5内から退避していないとの情報を受けた場合には、試験装置50に対する給電の指示は行わない。 The system control device 20 supplies power to the test device 50 in the shelf 5 when it is detected that the test device 50 is loaded and the placement unit 12 is retracted from the shelf 5. For this reason, if the system control device 20 receives the information that the test device 50 is loaded, but receives the information that the placement unit 12 is not retracted from the shelf 5, the system control device 20 No power supply instruction is given.
 載置部12を下降させることにより試験装置50を棚5の底面に載置したクレーン制御装置25は、次に装填回収装置43を作動させることによって載置部12を水平移動させ、載置部12を中立位置に位置させる。これにより、クレーン制御装置25は、載置部12を棚5内から退避させる。 The crane control device 25 that places the test device 50 on the bottom surface of the shelf 5 by lowering the placement unit 12 then moves the placement unit 12 horizontally by operating the loading / recovery device 43, thereby placing the placement unit 12. 12 is placed in the neutral position. Thereby, the crane control device 25 retracts the placement unit 12 from the shelf 5.
 載置部12が棚5内から退避すると、クレーン挿入センサ48はこの退避を検出し、検出結果が、試験装置制御用コントローラ30を介してシステム制御装置20に伝達される。これにより、棚5内への試験装置50の装填と、載置部12が棚5から退避されたこととを検出したシステム制御装置20は、試験装置制御用コントローラ30に対して、棚5内の試験装置50への給電開始の指示を行う。 When the placement unit 12 is retreated from the shelf 5, the crane insertion sensor 48 detects this retraction, and the detection result is transmitted to the system control device 20 via the test device control controller 30. As a result, the system controller 20 that detects that the test device 50 is loaded into the shelf 5 and that the placement unit 12 has been withdrawn from the shelf 5 is placed in the shelf 5 with respect to the controller 30 for controlling the test device. Is instructed to start power supply to the test apparatus 50.
 給電開始の指示を受けた試験装置制御用コントローラ30は、外部の電源と試験装置50との間で、電源接続部31を介して通電を行うことにより、試験装置50に対して給電を行う。つまり、電源接続部31は、試験装置50が棚5の底面に載置されるのみでなく、クレーン10の載置部12が棚5内から退避して、棚5への試験装置50の装填が完了した後に、試験装置50に対して給電する。 Upon receiving the power supply start instruction, the test apparatus control controller 30 supplies power to the test apparatus 50 by energizing the external power supply and the test apparatus 50 via the power supply connection unit 31. In other words, the power supply connection unit 31 not only places the test apparatus 50 on the bottom surface of the shelf 5, but also loads the test apparatus 50 onto the shelf 5 when the placement unit 12 of the crane 10 is retracted from the shelf 5. Is completed, power is supplied to the test apparatus 50.
 また、このように試験装置50に給電されることにより、試験装置50は動作が開始され、通信接続部32を介してシステム制御装置20等との間でネットワーク接続が開始される。このネットワーク接続は、例えば、光通信によって行われる。試験装置50のネットワーク接続が行われることにより、試験装置50の試験を行うことが可能な状態になると、試験装置制御用コントローラ30は、システム制御装置20に対して、試験の事前準備ができたことを報告する。 Further, by supplying power to the test apparatus 50 in this manner, the test apparatus 50 starts to operate, and a network connection is started with the system control apparatus 20 or the like via the communication connection unit 32. This network connection is performed by optical communication, for example. When the network connection of the test apparatus 50 is performed and the test apparatus 50 can be tested, the test apparatus control controller 30 is ready for the system control apparatus 20 for the test. Report that.
 この報告を受けたシステム制御装置20は、試験装置制御用コントローラ30に対して、HDD60の試験開始の指示を送る。試験開始の指示を受けた試験装置制御用コントローラ30は、この指示に基づき、試験装置50に対して試験開始の指示を送る。これにより、試験装置50は、HDD60の試験を開始する。 Upon receipt of this report, the system control device 20 sends an instruction to start testing the HDD 60 to the test device control controller 30. Upon receiving the test start instruction, the test apparatus control controller 30 sends a test start instruction to the test apparatus 50 based on this instruction. As a result, the test apparatus 50 starts testing the HDD 60.
 HDD60の試験を行う試験装置50は、予め設定された試験用のプログラムに沿ってHDD60に対して所定の動作を行わせながら、動作状態を確認し、試験を行う。この場合におけるHDD60への電力の供給や、HDD60を作動させる際の信号のやり取りは、試験装置50内の制御基板と、HDD60のインターフェース基板との間で通電したり、信号の送受信を行ったりすることにより行う。試験装置50は、試験装置50で保持する複数のHDD60に対して、これらのように電力を供給し、HDD60を作動させる信号を送信して所定の動作を行わせながら、その動作状態を確認することにより、複数のHDD60の試験を行う。 The test apparatus 50 for testing the HDD 60 confirms the operation state and performs a test while causing the HDD 60 to perform a predetermined operation in accordance with a preset test program. In this case, the power supply to the HDD 60 and the exchange of signals when operating the HDD 60 are conducted between the control board in the test apparatus 50 and the interface board of the HDD 60, and signals are transmitted and received. By doing. The test apparatus 50 supplies power to the plurality of HDDs 60 held by the test apparatus 50 as described above, transmits a signal for operating the HDD 60 to perform a predetermined operation, and confirms the operation state. Thus, a plurality of HDDs 60 are tested.
 また、試験装置50は、試験の開始後、試験の状況や結果を、通信接続部32を介して試験装置制御用コントローラ30に報告し、試験装置制御用コントローラ30は、試験装置50から送られた試験の状況や結果を、LAN35を介してシステム制御装置20に報告する。この試験装置制御用コントローラ30からシステム制御装置20への試験の状況の報告は、試験を行っている間、定期的に行われる。 Further, after the test is started, the test apparatus 50 reports the test status and result to the test apparatus control controller 30 via the communication connection unit 32, and the test apparatus control controller 30 is sent from the test apparatus 50. The test status and result are reported to the system control device 20 via the LAN 35. The test status report from the test device control controller 30 to the system control device 20 is periodically performed while the test is being performed.
 システム制御装置20では、継続的に、または作業者が入力装置21を操作することにより、必要に応じて、試験の状況や結果を、出力装置22で出力する。例えば、作業者が、所望の棚5の試験装置50での試験の状況を確認する操作を入力装置21に対して行った場合には、システム制御装置20は、その試験装置50の状況を、出力装置22が有する表示装置で表示する。作業者は、この表示装置の表示を視認することにより、試験装置50での試験の状況を確認する。 In the system control device 20, the status and result of the test are output by the output device 22 continuously or when the operator operates the input device 21. For example, when the operator performs an operation on the input device 21 to confirm the test status of the test device 50 on the desired shelf 5, the system control device 20 determines the status of the test device 50 as follows. The image is displayed on the display device included in the output device 22. The operator confirms the status of the test in the test apparatus 50 by visually checking the display on the display device.
 これらのようにHDD60の試験を行い、試験装置50で保持する全てのHDD60の試験が完了したら、試験装置50は、試験の結果、及び試験が完了したことを試験装置制御用コントローラ30に報告し、試験装置制御用コントローラ30からシステム制御装置20に報告する。試験完了の信号を受信したシステム制御装置20は、クレーン制御装置25に対して、試験が完了したHDD60を保持しているこの試験装置50を、作業スペース8に搬送させる搬出指示を行う。 When the HDD 60 is tested as described above and all the HDDs 60 held by the test apparatus 50 are tested, the test apparatus 50 reports the test result and the test completion to the test apparatus control controller 30. Then, the test apparatus control controller 30 reports to the system control apparatus 20. The system control device 20 that has received the test completion signal instructs the crane control device 25 to carry out the test device 50 holding the HDD 60 that has been tested to the work space 8.
 システム制御装置20から搬出指示を受けたクレーン制御装置25は、クレーン駆動装置40を制御することにより、指示に応じた動作をクレーン10に行わせる。具体的には、まず、クレーン移動装置41を作動させることにより、試験が完了した試験装置50が収容されている棚5の前までクレーン10を移動させる。 The crane control device 25 that has received the carry-out instruction from the system control device 20 controls the crane drive device 40 to cause the crane 10 to perform an operation according to the instruction. Specifically, first, by operating the crane moving device 41, the crane 10 is moved to the front of the shelf 5 in which the test device 50 that has completed the test is accommodated.
 さらに、試験装置50の装填時と同様に、昇降装置42と装填回収装置43とを作動させることにより、載置部12を水平移動させて試験装置50の下方に差し込み、載置部12を棚5内で上昇させる。これにより、試験装置50を棚5の底面から浮かせ、載置部12に載置される状態にする。 Further, similarly to the loading of the test apparatus 50, the lifting device 42 and the loading collection device 43 are operated to horizontally move the mounting portion 12 so as to be inserted below the testing device 50, and the mounting portion 12 is placed on the shelf. Raise within 5. As a result, the test apparatus 50 is lifted from the bottom surface of the shelf 5 and placed on the placement unit 12.
 なお、電源接続部31での給電と、通信接続部32での通信は、この段階までに共に遮断をする。そのタイミングは、試験完了の信号をシステム制御装置20で受信した後、システム制御装置20から試験装置制御用コントローラ30に対して、給電と通信とを遮断する旨の信号を送信することにより、試験装置制御用コントローラ30でこれらの遮断を行ってもよい。または、クレーン挿入センサ48での検出状態に基づいて、載置部12が棚5内に挿入されたことをシステム制御装置20で検出した際に、同様にシステム制御装置20から給電と通信とを遮断する旨の信号を送信することにより、遮断を行ってもよい。 It should be noted that the power supply at the power supply connection unit 31 and the communication at the communication connection unit 32 are cut off by this stage. After the test completion signal is received by the system control device 20, the timing is transmitted from the system control device 20 to the test device control controller 30 by transmitting a signal to cut off the power supply and communication. These interruptions may be performed by the device control controller 30. Alternatively, when the system control device 20 detects that the placement unit 12 has been inserted into the shelf 5 based on the detection state of the crane insertion sensor 48, power supply and communication are similarly performed from the system control device 20. Blocking may be performed by transmitting a signal indicating blocking.
 載置部12を上昇させて試験装置50を棚5の底面から浮かせると、試験装置50の移動により、試験装置50に対して機械的に接続されていた電源接続部31と通信接続部32とが、共に分離する。つまり、電源接続部31と通信接続部32とは、棚5の底面に載置されている試験装置50を浮かせる動作である回収動作により、試験装置50側の接続部と機械的に分離する。 When the mounting unit 12 is raised and the test apparatus 50 is lifted from the bottom surface of the shelf 5, the power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 mechanically connected to the test apparatus 50 are moved by the movement of the test apparatus 50. Are separated together. That is, the power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 are mechanically separated from the connection unit on the test apparatus 50 side by a recovery operation that is an operation of floating the test apparatus 50 placed on the bottom surface of the shelf 5.
 クレーン制御装置25は、試験装置50を浮かせたら、装填回収装置43を作動させることにより載置部12を水平移動させ、載置部12を中立位置に位置させる。これにより、試験装置50は開口部6を通って棚5内から外に出て、試験装置50は棚5内から回収される。 When the crane control device 25 floats, the crane control device 25 operates the loading / recovery device 43 to move the placement portion 12 horizontally to place the placement portion 12 in the neutral position. As a result, the test apparatus 50 goes out of the shelf 5 through the opening 6, and the test apparatus 50 is recovered from the shelf 5.
 試験装置50を回収したら、クレーン制御装置25は、クレーン移動装置41を作動させることにより、作業スペース8の近傍まで、レール15に沿ってクレーン10を移動させる。その際に、作業スペース8は2つ設けられているが、システム制御装置20は現在の作業スペース8の状態も把握しているため、システム制御装置20は、空いている方の作業スペース8にクレーン10を移動させるように、クレーン制御装置25に指示を行う。 When the test device 50 is collected, the crane control device 25 moves the crane 10 along the rail 15 to the vicinity of the work space 8 by operating the crane moving device 41. At that time, two work spaces 8 are provided, but the system control device 20 also knows the current state of the work space 8, so the system control device 20 is in the vacant work space 8. The crane control device 25 is instructed to move the crane 10.
 空いている作業スペース8の近傍までクレーン10が移動したら、クレーン制御装置25は、試験装置50を棚5に装填する場合と同様に、昇降装置42と装填回収装置43とを作動させ、載置部12を昇降させたり水平移動させたりすることにより、試験装置50を作業スペース8に位置させる。作業スペース8に試験装置50を位置させることが完了したら、クレーン制御装置25は、システム制御装置20に対して、試験装置50の移動が完了したことを報告する。この信号を受信したシステム制御装置20は、試験が完了した試験装置50が作業スペース8に移動したことを、出力装置22によって作業者に報知する。この場合の作業者への報知は、表示装置での表示のみでなく、出力装置22が有するスピーカで、音によっても報知するのが好ましい。 When the crane 10 moves to the vicinity of the vacant work space 8, the crane control device 25 operates the lifting device 42 and the load collection device 43 in the same manner as when the test device 50 is loaded on the shelf 5, and the placement is performed. The test apparatus 50 is positioned in the work space 8 by moving the unit 12 up and down or horizontally. When the positioning of the test apparatus 50 in the work space 8 is completed, the crane control apparatus 25 reports to the system control apparatus 20 that the movement of the test apparatus 50 has been completed. Receiving this signal, the system control device 20 notifies the operator that the test device 50 that has been tested has moved to the work space 8 by the output device 22. The notification to the worker in this case is preferably performed not only by display on the display device but also by sound using a speaker of the output device 22.
 試験装置50が作業スペース8に移動したことの報知を受けた作業者は、試験装置50の挿入部51に挿入されて保持されている多数のHDD60を、手作業によって挿入部51から取り出す。試験装置50から全てのHDD60を取り出したら、試験を行っていない別のHDD60を挿入部51に挿入し、上述した流れで試験を行う。 The worker who has been notified that the test apparatus 50 has moved to the work space 8 takes out a large number of HDDs 60 inserted and held in the insertion section 51 of the test apparatus 50 from the insertion section 51 by hand. When all the HDDs 60 are taken out from the test apparatus 50, another HDD 60 that has not been tested is inserted into the insertion portion 51, and the test is performed according to the flow described above.
 本実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、複数の試験装置50を使用し、各試験装置50へのHDD60の着脱タイミングや試験装置50の搬送タイミングを異ならせることによって、多数のHDD60の試験を複数の試験装置50で継続的に行う。その際に、各試験装置50での試験時間は予め予想ができるため、試験装置50を収容する棚5の位置や搬送時間を考慮して、効率の良い順番で試験装置50の搬送を行うのが好ましい。 In the large-scale automated test system 1 according to the present embodiment, a plurality of test apparatuses 50 are used, and a test of a large number of HDDs 60 is performed by changing the attachment / detachment timing of the HDD 60 to / from each test apparatus 50 and the transport timing of the test apparatus 50. Are continuously performed by a plurality of test apparatuses 50. At that time, since the test time in each test apparatus 50 can be predicted in advance, the test apparatus 50 is transported in an efficient order in consideration of the position of the shelf 5 accommodating the test apparatus 50 and the transport time. Is preferred.
 なお、これらのように試験装置50を用いてHDD60の試験を行っている最中に、試験装置50の不具合等により、所定の試験装置50で試験を行うことができなくなった場合には、システム制御装置20は、その試験装置50での試験を中止する信号を、当該試験装置50が接続される試験装置制御用コントローラ30に送信する。この信号を受けた試験装置制御用コントローラ30は、試験装置50への給電を遮断する。 In the meantime, during testing of the HDD 60 using the test apparatus 50 as described above, if the test cannot be performed with the predetermined test apparatus 50 due to a malfunction of the test apparatus 50 or the like, the system The control device 20 transmits a signal for stopping the test in the test device 50 to the test device control controller 30 to which the test device 50 is connected. Upon receiving this signal, the test device control controller 30 cuts off the power supply to the test device 50.
 この場合、クレーン10の作動時間が比較的短く、試験装置50を搬送する時間に余裕がある場合には、他の試験装置50の搬送に影響がないタイミングで、試験を中止した試験装置50を回収して作業スペース8に移動させる。これに対し、クレーン10の作動時間が長く、試験装置50を搬送する時間に余裕がない場合には、試験を中止した試験装置50で試験を行う際に、予め設定した回収のタイミングを変更せずに、この回収タイミングで試験装置50を回収して作業スペース8に移動させる。 In this case, when the operation time of the crane 10 is relatively short and there is a sufficient time for transporting the test apparatus 50, the test apparatus 50 that has stopped the test at a timing that does not affect the transport of the other test apparatuses 50 is used. Collect and move to work space 8. On the other hand, when the operation time of the crane 10 is long and the time for transporting the test apparatus 50 is not sufficient, when the test is performed with the test apparatus 50 that has stopped the test, the preset recovery timing may be changed. Instead, the test apparatus 50 is recovered at this recovery timing and moved to the work space 8.
 以上の実施形態に係る大規模自動化試験システム1は、棚5を水平方向と鉛直方向とにそれぞれ複数有するスタッカーラック4を備えているため、HDD60の試験を行う試験装置50を水平方向のみでなく、高さ方向にも複数設置して試験を行うことができる。これにより、フロアの面積当たりの試験装置50の設置台数を増加させることができ、スペース効率を向上させることができる。また、大規模自動化試験システム1は、試験装置50を搬送するクレーン10を備えているため、試験装置50へのHDD60の着脱作業は全て作業スペース8で行うことができる。これにより、試験装置50を複数用いてHDD60の試験を行う場合における作業者の移動距離を短くすることができ、作業者の負担を小さくすることができる。 Since the large-scale automated test system 1 according to the above embodiment includes the stacker rack 4 having a plurality of shelves 5 in the horizontal direction and the vertical direction, the test apparatus 50 for testing the HDD 60 is provided not only in the horizontal direction. A plurality of tests can be installed in the height direction. Thereby, the installation number of the test apparatus 50 per floor area can be increased, and space efficiency can be improved. In addition, since the large-scale automated test system 1 includes the crane 10 that transports the test apparatus 50, the HDD 60 can be attached to and detached from the test apparatus 50 in the work space 8. Thereby, when a test of HDD 60 is performed using a plurality of test apparatuses 50, the movement distance of the worker can be shortened, and the burden on the worker can be reduced.
 また、大規模自動化試験システム1は、棚5に収容された試験装置50との間で通信を行うシステム制御装置20を備えているため、試験装置50の集中管理が可能となり、試験装置50を直接確認することなく、各試験装置50での試験の状況を認識することができる。さらに、システム制御装置20は、棚5に装填された試験装置50に対してHDD60の試験の開始指示を行い、試験開始前の試験装置50を棚5に搬送させる搬入指示と、試験が完了した試験装置50を作業スペース8に搬送させる搬出指示と、を行うため、作業者の負担を、さらに小さくすることができる。この結果、フロアスペースの有効利用を可能にし、且つ、作業者の作業効率を大幅に改善することができる。 In addition, since the large-scale automated test system 1 includes the system control device 20 that communicates with the test device 50 accommodated in the shelf 5, the test device 50 can be centrally managed. The status of the test in each test apparatus 50 can be recognized without directly confirming. Further, the system control device 20 instructs the test device 50 loaded in the shelf 5 to start the test of the HDD 60, and completes the carry-in instruction to transport the test device 50 before the test to the shelf 5 and the test. Since the unloading instruction for transporting the test apparatus 50 to the work space 8 is performed, the burden on the operator can be further reduced. As a result, the floor space can be effectively used and the work efficiency of the worker can be greatly improved.
 また、棚5には、棚5への試験装置50の装填動作によって接続される通信接続部32が設けられているため、試験装置50とシステム制御装置20とを手作業で通信可能な状態にしたり、機械的な接続を行わせる装置を設けたりすることなく、棚5に収容された試験装置50とシステム制御装置20との間で通信を行わせることができる。この結果、作業者の作業効率を、より確実に改善することができ、また、製造コストの上昇を抑えることができる。 Further, since the shelf 5 is provided with a communication connection unit 32 that is connected by the loading operation of the test device 50 to the shelf 5, the test device 50 and the system control device 20 can be manually communicated with each other. In addition, communication can be performed between the test apparatus 50 accommodated in the shelf 5 and the system control apparatus 20 without providing a device for performing mechanical connection. As a result, the work efficiency of the worker can be improved more reliably, and an increase in manufacturing cost can be suppressed.
 また、棚5には、棚5への試験装置50の装填動作によって接続される電源接続部31が設けられているため、試験装置50に対して手作業で給電可能な状態にしたり、機械的な接続を行わせる装置を設けたりすることなく、棚5に収容された試験装置50に給電することができる。この結果、作業者の作業効率を、より確実に改善することができ、また、製造コストの上昇を抑えることができる。 Further, since the shelf 5 is provided with the power supply connection portion 31 connected by the loading operation of the test device 50 to the shelf 5, the shelf 5 can be in a state where power can be supplied manually or mechanically. It is possible to supply power to the test apparatus 50 accommodated in the shelf 5 without providing an apparatus for making a simple connection. As a result, the work efficiency of the worker can be improved more reliably, and an increase in manufacturing cost can be suppressed.
 また、電源接続部31は、棚5への試験装置50の装填の完了後に試験装置50に対して給電するため、試験装置50の装填時に短絡等が発生することを抑制できる。この結果、安全性を向上させることができる。 In addition, since the power supply connection unit 31 supplies power to the test apparatus 50 after the loading of the test apparatus 50 into the shelf 5, it is possible to suppress occurrence of a short circuit or the like when the test apparatus 50 is loaded. As a result, safety can be improved.
 また、試験装置50は、互いに反対方向に向かう2つの面からHDD60の着脱ができるため、試験装置50の1台あたりのHDD60の収容数を増加させることができる。この結果、より確実にフロアスペースの有効利用を可能にし、且つ、作業者の作業効率を大幅に改善することができる。 Further, since the test apparatus 50 can attach and detach the HDD 60 from two surfaces facing in opposite directions, the number of HDDs 60 accommodated per test apparatus 50 can be increased. As a result, the floor space can be effectively used more reliably and the work efficiency of the worker can be greatly improved.
 また、試験装置50は、試験時に設置する棚5から着脱自在に、試験を行う場合にのみ、棚5に収容するようにしたので、異なる種類の試験装置50で試験を行う必要になった場合や、異なるサイズや種類の記憶媒体の試験を行う必要になった場合も容易に対応することができる。例えば、試験装置50は、1台の試験装置50で保持して試験を行うことのできる記憶媒体の数が異なっていたり、記憶媒体の動作試験のみを行うものや、温度に関する試験も行ったりするものがある。また、記憶媒体もHDD60のサイズが異なっていたり、HDD60以外に、SSD(Solid State Drive)のように種類が異なっていたりするものがあるなど、様々な形態のものがある。試験装置50は、試験を行う場合にのみ、棚5に収容するようにしたので、これらの種類の異なる試験装置50や記憶媒体に、容易に対応することができる。つまり、試験装置50の大きさが、棚5に収まる大きさであり、電源接続部31と通信接続部32とに接続可能になっていれば、異なる種類の試験装置50で試験を行ったり、異なるサイズや種類の記憶媒体の試験を行ったりすることができる。この結果、記憶媒体の試験を行う際における汎用性を大きくすることができ、コストの低減を図ることができる。 In addition, since the test apparatus 50 is housed in the shelf 5 only when the test is performed so as to be detachable from the shelf 5 installed at the time of the test, it is necessary to perform the test with a different type of test apparatus 50. In addition, it is possible to easily cope with a case where it is necessary to test a storage medium of a different size or type. For example, the test apparatus 50 is different in the number of storage media that can be held and tested by a single test apparatus 50, performs only an operation test of the storage medium, or performs a temperature test. There is something. In addition, there are various types of storage media such as different sizes of the HDD 60 or different types other than the HDD 60, such as SSD (Solid State Drive). Since the test apparatus 50 is accommodated in the shelf 5 only when a test is performed, it is possible to easily cope with these different types of test apparatuses 50 and storage media. In other words, if the size of the test device 50 is large enough to fit in the shelf 5 and can be connected to the power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32, a test can be performed with a different type of test device 50, You can test storage media of different sizes and types. As a result, versatility when testing the storage medium can be increased, and the cost can be reduced.
 〔変形例〕
 なお、上述した実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、スタッカーラック4は、棚5を水平方向に20個を備え、この棚5が上下2列になっているが、1つのスタッカーラック4が有する棚5の数は、これ以外でもよい。スタッカーラック4は、棚5を水平方向と鉛直方向とにそれぞれ複数有していれば、その数は問わない。また、上述した実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、スタッカーラック4は、2つが用いられているが、スタッカーラック4の数は、これ以外でもよい。
[Modification]
In the large-scale automated test system 1 according to the above-described embodiment, the stacker rack 4 includes 20 shelves 5 in the horizontal direction, and the shelves 5 are arranged in two upper and lower rows. Other than this, the number of shelves 5 possessed by may be different. The stacker rack 4 may be of any number as long as it has a plurality of shelves 5 in the horizontal direction and the vertical direction. Further, in the large-scale automated test system 1 according to the above-described embodiment, two stacker racks 4 are used, but the number of stacker racks 4 may be other than this.
 さらに、上述した実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、2つを1組としており、クレーン10は、この2つのスタッカーラック4に対して試験装置50の装填や回収を行っているが、スタッカーラック4とクレーン10との組み合わせは、これ以外でもよい。例えば、クレーン10は、1つのスタッカーラック4に対応して設置してもよい。 Furthermore, in the large-scale automated test system 1 according to the above-described embodiment, two are made into one set, and the crane 10 loads and collects the test apparatus 50 on the two stacker racks 4. Other combinations of the stacker rack 4 and the crane 10 may be used. For example, the crane 10 may be installed corresponding to one stacker rack 4.
 また、上述した実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、電源接続部31や通信接続部32は、試験装置50を棚5に装填する際における試験装置50の自重によって機械的な接続を行うように構成されているが、電源接続部31や通信接続部32は、これ以外によって接続が行われてもよい。電源接続部31や通信接続部32は、例えば、棚5における開口部6が位置する部分に対向する面に設け、試験装置50側の接続部は、試験装置50の棚5への装填時に、この面に対向する部分に設けてもよい。これにより、試験装置50を開口部6から入り込ませる際に、クレーン10の動作に伴う試験装置50の移動により、電源接続部31や通信接続部32の機械的な接続を行うことができるため、手作業で接続したり、機械的な接続を行わせる装置を設けたりすることなく、接続を行うことができる。 In the large-scale automated test system 1 according to the above-described embodiment, the power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 perform mechanical connection by the weight of the test device 50 when the test device 50 is loaded on the shelf 5. However, the power supply connection unit 31 and the communication connection unit 32 may be connected by other means. The power connection part 31 and the communication connection part 32 are provided, for example, on the surface of the shelf 5 that faces the portion where the opening 6 is located, and the connection part on the test apparatus 50 side is loaded when the test apparatus 50 is loaded on the shelf 5. You may provide in the part facing this surface. Thereby, when entering the test apparatus 50 from the opening 6, mechanical connection of the power supply connection section 31 and the communication connection section 32 can be performed by movement of the test apparatus 50 accompanying the operation of the crane 10. Connection can be made without manual connection or provision of a mechanical connection device.
 また、上述した実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、システム制御装置20は、試験装置50との通信や、クレーン10の動作の制御を行っているが、これ以外の制御を行ってもよい。例えば、大規模自動化試験システム1が設置される建屋の空調管理をシステム制御装置20で行ってもよい。試験装置50は、試験を行う記憶媒体や試験の種類によって、試験装置50から要求される温度が異なっていることがあるので、システム制御装置20で空調管理を行うことにより、スタッカーラック4の周囲の温度を適切な温度にすることができる。または、建屋内の温度をエリアによって異ならせ、棚5への試験装置50の搬入時に、試験装置50から要求される温度のエリアの棚5に、試験装置50を搬送することができる。これにより、より適切に記憶媒体の試験を行うことができる。 Further, in the large-scale automated test system 1 according to the above-described embodiment, the system control device 20 performs communication with the test device 50 and control of the operation of the crane 10, but even if other control is performed. Good. For example, the system controller 20 may perform air conditioning management of a building where the large-scale automated test system 1 is installed. Since the test apparatus 50 may have different temperatures required from the test apparatus 50 depending on the storage medium to be tested and the type of test, the system controller 20 performs air-conditioning management so that the surroundings of the stacker rack 4 The temperature can be set to an appropriate temperature. Alternatively, the temperature in the building can be varied depending on the area, and the test apparatus 50 can be transported to the shelf 5 in the area of the temperature required from the test apparatus 50 when the test apparatus 50 is carried into the shelf 5. Thereby, the storage medium can be tested more appropriately.
 また、上述した実施形態に係る大規模自動化試験システム1では、試験装置50の設置位置は、棚5と作業スペース8のみになっているが、これ以外の試験装置50の設置位置を設けてもよい。例えば、スタッカーラック4の長手方向において作業スペース8が設けられている側の端部の反対側の端部に、試験装置50の搬入・搬出エリアを設けてもよい。これにより、例えば、試験装置50が故障した際に、故障した試験装置50を、搬入・搬出エリアに移動させたり、試験装置50の交換や新たな試験装置50の導入を行う際に、交換や導入を搬入・搬出エリアから行ったりすることにより、作業スペース8でのHDD60の着脱に影響を与えることなく、これらを行うことができる。これにより、作業効率を低下させることなく、大規模自動化試験システム1の使い勝手を向上させることができる。 Further, in the large-scale automated test system 1 according to the above-described embodiment, the installation position of the test apparatus 50 is only the shelf 5 and the work space 8, but other installation positions of the test apparatus 50 may be provided. Good. For example, a loading / unloading area for the test apparatus 50 may be provided at the end opposite to the end where the work space 8 is provided in the longitudinal direction of the stacker rack 4. Thereby, for example, when the test apparatus 50 breaks down, the failed test apparatus 50 is moved to the loading / unloading area, or replaced when the test apparatus 50 is replaced or a new test apparatus 50 is introduced. By introducing from the carry-in / carry-out area, these can be performed without affecting the attachment / detachment of the HDD 60 in the work space 8. Thereby, the usability of the large-scale automated test system 1 can be improved without reducing work efficiency.
 また、大規模自動化試験システム1は、上述した実施形態、及び変形例で用いられている構成等を適宜組み合わせてもよく、または、上述した構成以外を用いてもよい。大規模自動化試験システム1の構成等に関わらず、棚5を複数有するスタッカーラック4と、試験装置50を搬送するクレーン10とを備え、試験装置50へのHDD60の着脱は作業スペース8で行い、試験は試験装置50を棚5に収容して行うことにより、フロアスペースの有効利用を可能にし、且つ、作業者の作業効率を大幅に改善することができる。 Also, the large-scale automated test system 1 may appropriately combine the configurations used in the above-described embodiments and modifications, or may use configurations other than those described above. Regardless of the configuration of the large-scale automated test system 1, the stacker rack 4 having a plurality of shelves 5 and the crane 10 that transports the test apparatus 50 are provided. The HDD 60 is attached to and detached from the test apparatus 50 in the work space 8. By conducting the test while the test apparatus 50 is accommodated in the shelf 5, the floor space can be effectively used, and the work efficiency of the operator can be greatly improved.
 1 大規模自動化試験システム
 4 スタッカーラック
 5 棚(収容部)
 6 開口部
 8 作業スペース(着脱部)
 10 クレーン(搬送装置)
 11 昇降ガイド
 12 載置部
 15 レール
 20 システム制御装置
 21 入力装置
 22 出力装置
 25 クレーン制御装置(搬送装置制御装置)
 30 試験装置制御用コントローラ
 31 電源接続部(給電機構)
 32 通信接続部(通信機構)
 35 LAN
 40 クレーン駆動装置
 41 クレーン移動装置
 42 昇降装置
 43 装填回収装置
 47 装填確認センサ
 48 クレーン挿入センサ
 50 試験装置
 51 挿入部
 60 HDD
1 Large-scale automated test system 4 Stacker rack 5 Shelf (container)
6 Opening 8 Work space (detachable part)
10 Crane (conveying device)
DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 Lifting guide 12 Mounting part 15 Rail 20 System control apparatus 21 Input apparatus 22 Output apparatus 25 Crane control apparatus (conveyance apparatus control apparatus)
30 Controller for controlling test equipment 31 Power supply connection (power feeding mechanism)
32 Communication connection (communication mechanism)
35 LAN
DESCRIPTION OF SYMBOLS 40 Crane drive apparatus 41 Crane moving apparatus 42 Lifting apparatus 43 Loading collection | recovery apparatus 47 Loading confirmation sensor 48 Crane insertion sensor 50 Test apparatus 51 Insertion part 60 HDD

Claims (5)

  1.  複数の記憶媒体を保持して前記記憶媒体の試験を行う試験装置と、
     前記試験装置に対して前記記憶媒体の着脱を行う着脱部と、
     前記試験装置を収容する収容部と、
     前記収容部を水平方向と鉛直方向とにそれぞれ複数有するスタッカーラックと、
     前記着脱部と前記スタッカーラックとの間で前記試験装置を搬送すると共に、前記収容部に対して前記試験装置の装填と前記収容部からの前記試験装置の回収を行う搬送装置と、
     前記搬送装置の制御を行う搬送装置制御装置と、
     前記収容部に収容された前記試験装置との間で通信を行い、前記試験装置の制御と前記試験装置からの前記記憶媒体の試験に関する情報の受信が可能なシステム制御装置と、
     を備え、
     前記システム制御装置は、前記収容部に装填された前記試験装置に対して前記記憶媒体の試験の開始指示を行い、且つ、前記搬送装置制御装置に対して、試験開始前の前記記憶媒体を保持した状態で前記着脱部に位置する前記試験装置を前記収容部に搬送させる搬入指示と、試験が完了した前記試験装置を前記着脱部に搬送させる搬出指示と、を行うことを特徴とする記憶媒体の大規模自動化試験システム。
    A test apparatus for holding a plurality of storage media and testing the storage media;
    An attachment / detachment unit for attaching / detaching the storage medium to / from the test apparatus;
    An accommodating portion for accommodating the test apparatus;
    A stacker rack having a plurality of the accommodating portions in each of a horizontal direction and a vertical direction;
    A transport device for transporting the test device between the detachable portion and the stacker rack, and loading the test device to the housing portion and collecting the test device from the housing portion;
    A transport device control device for controlling the transport device;
    A system controller capable of communicating with the test apparatus accommodated in the accommodating section and capable of receiving information related to the control of the test apparatus and the test of the storage medium from the test apparatus;
    With
    The system control apparatus instructs the test apparatus loaded in the storage unit to start the test of the storage medium, and holds the storage medium before the test starts to the transport apparatus control apparatus. A storage medium that performs a carry-in instruction for transporting the test device located in the attachment / detachment unit to the storage unit in a state of being carried out and a carry-out instruction for transporting the test device that has been tested to the attachment / detachment unit. Large-scale automated test system.
  2.  前記収容部には、前記収容部への前記試験装置の装填動作によって接続される通信機構が設けられており、
     前記システム制御装置は、前記通信機構を介して前記試験装置との間で通信を行う請求項1に記載の記憶媒体の大規模自動化試験システム。
    The accommodating portion is provided with a communication mechanism connected by the loading operation of the test apparatus to the accommodating portion,
    The large-scale automated test system for a storage medium according to claim 1, wherein the system control apparatus communicates with the test apparatus via the communication mechanism.
  3.  前記収容部には、前記収容部への前記試験装置の装填動作によって接続される給電機構が設けられており、
     前記試験装置は、前記給電機構によって供給される電力によって作動する請求項1に記載の記憶媒体の大規模自動化試験システム。
    The storage unit is provided with a power feeding mechanism connected by the loading operation of the test apparatus to the storage unit,
    The storage medium large-scale automated test system according to claim 1, wherein the test apparatus is operated by electric power supplied from the power supply mechanism.
  4.  前記給電機構は、前記収容部への前記試験装置の装填の完了後に前記試験装置に対して給電する請求項3に記載の記憶媒体の大規模自動化試験システム。 4. The storage medium large-scale automated test system according to claim 3, wherein the power supply mechanism supplies power to the test apparatus after completion of loading of the test apparatus into the housing unit.
  5.  前記試験装置は、互いに反対方向に向かう2つの面から前記記憶媒体の着脱ができる請求項1~4のいずれか1項に記載の記憶媒体の大規模自動化試験システム。 The large-scale automated test system for a storage medium according to any one of claims 1 to 4, wherein the test apparatus can attach and detach the storage medium from two surfaces facing in opposite directions.
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