TWI242205B - Method and circuit for generating the tracking error signal using differential phase detection - Google Patents

Method and circuit for generating the tracking error signal using differential phase detection Download PDF

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TWI242205B TW092119638A TW92119638A TWI242205B TW I242205 B TWI242205 B TW I242205B TW 092119638 A TW092119638 A TW 092119638A TW 92119638 A TW92119638 A TW 92119638A TW I242205 B TWI242205 B TW I242205B
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Description

1242205 ---- —_____ _______ __ 五、發明說明（1) 〜、【發明所屬技術領域】 本發明係有關於光碟伺服系統中的循軌誤差訊號之處 硬，特別是關於一種使用差動相位檢測電路來形成循執誤 差訊號之方法。 二、【先前技術】 一般的光學讀取系統，通常使用一光學讀取頭讀取紀 錄於光碟軌道，上的資料。一般而言，碟片上具有許多的執 道，因此光學讀取頭移動跨越不同的軌道以讀取資料，形 成所謂的跨執動作。而光學讀取頭於跨執後必須對執道進 行聚焦鎖軌，用以穩定地讀取執道訊號。當光學讀取頭無 法正確的鎖軌而沿著軌道讀取訊號時，便會形成循軌誤差 (Tracking Error)，導致無法正確讀取資料。 第一圖為傳統光碟系統中，用以產生循執誤差訊號的 架構方塊圖。由光學讀取頭1 〇 2透過鏡頭1 0 4，對準光碟 1 〇 0表面上的一軌道，然後經由四分光感測器1 0 6 (
Quadrant photodetector)得到訊號 A、訊號 B、訊號 C、 訊號D。接下來，各別將斜對角的兩訊號經由電流/電壓放 大器1 08及1 1 0 ( I / V amp 1 i Π er)相加以產生訊號（a + C) 及訊號（B + D) °訊號（A + C)經過等化器U2( EQUaiizer )，等化放大訊號後，隨即經過一比較器i 1 6將訊號（A + c )轉換數位訊號。同樣的’訊號（B + D)經過等化器π 4及 比較器1 1 8轉換成數位訊號。
第6頁 1242205 五、發明說明（2)
當光學讀取頭1 0 2正確鎖定軌道時，訊號（A + c)與訊 號（B + D)之間幾乎沒有相位差。因此藉由四分光感測器 產生的说號A、訊號B、訊號c以及訊號D之間的相位微小變 化，經過電路處理後，就可以得知目前光學讀取頭是否位 於正確的軌道位置上。例如，在相位偵測器1 2〇 ( phase Detector, PD)接收到上述之訊號（A + C)與訊號（B + D) 後，當偵測到訊號（A + C)為一相位領先訊號時，則產生 一升時脈訊號（UP c 1 〇c k)，或是當偵測到之（B + D)訊號 為一相位落後訊號時，則會產生一降時脈訊號（DOWN, clock)，如第二圖所示。然後，再將UP及DOWN clock分 別經過低通濾波器1 2 2及1 2 4後，最後產生循軌誤差訊號。 也就是說當光學讀取頭1 〇 2經過跨軌而正確鎖定新的軌道 時，由於訊號（A + C)與訊號（B + D)並沒有相位差，因此 並不會產生任何的循執誤差訊號。然而，當光學讀取頭 102尚未鎖執完全時，由於訊號（A + C)與訊號（B + D)之 間會有相位差產生，因而產生循軌誤差訊號，光學系統根 據此循執誤差訊號之偏移量來調整光學讀取頭的位置，使 其能夠正確鎖定執道位置。
| 根據 Seong-Yun Jeong，Jung-Bae Ki m及 J i η - Y 〇 n g |〇111於8?1£¥〇.310 9所發表的111317313〇1:0?0 81居1131 Offest Caused by Optical Asymmetry11，可將此循執誤 差訊號可以下列方程式進行處理，即四分光感測器產生的
第7頁 1242205 五、發明說明（3) tri號以下列式子表示 A = a cos (奴-B = bcos(<^，-Φβ) C = ccos (奴-<E>C) Ό = -ΦΌ) 則其所形成之循執誤差訊號為 ΔΦ^η +-ΔΦ
Tracking Error = Phase(A + C) - Phase(B + D) =
AB 1 — 1 + - 1 + - 中 其
C 、 B ，其 C 為 b 別 A 、 分 aJ N D - ▲ Φ ▲ )C \ Φ 胞 測B 感φ 個A' S5A φ 中 而 器 則， :/ 幅 感巾。 振 =位 分忽相 四 1 的 訊 ^ 為-號 生示Η訊 產睐所應 d對 由於這種相位檢測（Differential Phase Detection )方式所產生之訊號，會對於訊號大小相當敏感，如第三 圖所示。第三圖係用以說明當四分光感測器訊號大小的變 化對其相位產生之影響。例如，當四分光感測器上訊號A 變小，則會造成訊號A + C的相位產生較大的變化。如此一 來，因為訊號大小的改變卻被誤判成是相位的變化，而影
第8頁
1242205 五、發明說明（4) 響循軌誤差上的偏移量（〇 f f s e t)，進而誤判鎖軌點。 由前述第一圖中之傳統相位檢測電路會因訊號大小而 造成的相位誤判，導致循執誤差鎖軌點的錯誤，因此第四 圖係顯示一改良的相位檢測電路，用以產生循軌誤差訊號 。如第四圖所示，係分別將四分光感測器感測到的訊號A 、：B、C、D，各別以一線路來進行數位訊號化處理，利用 各別的光感胞來感應跨執時所造成的相位差，以產生循執 誤差訊號。如此一來，可以避免因為訊號大小改變所造成 的相位誤差，進而精確地感應出鎖軌點。 然而，第四圖所示的四分光感測器之各別感測訊號的 相位變化較小，訊號使得實際的循軌誤差訊號產生電路上 所產生的相位訊號，會對線路上所存在之相位延遲 (de 1 ay)或相位領先（1 ead)得變化，有較敏感的反應 ，因此亦會影響循執誤差訊號而產生誤判。 三、【發明内容】 鑒於上述之先前技術中，因傳統的循執誤差產生電路 所產生之諸多缺點，本發明提供一種以差動相位檢測（ Differential Phase Detect)所形成的循執誤差產生電 路，用以克服傳統上所衍生的問題。在此，本發明之主要 目的為用以改善由線路所造成的相位變化，進而減少非實 際訊號相位差所造成的鎖執點偏移，增加鎖執的精確及循
第9頁 1242205 五、發明說明（5) 軌穩定度。 根據以上所述之目的，本發明提供一種差動相位檢測 循軌誤差產生電路，包含一四分光感測器，係用以接收一 光學訊號後，產生分光訊號A、B、C及D，其中的訊號A及 訊號C另外以一加法器合成一群訊號（A + C)，而訊號B及 訊號D則以另一加法器合成一群訊號（B + D)。複數個等化 器，用以接收訊號A、B、C、D、 （ A + C) 、 （ B + D)，並等 化放大訊號（當然，若某訊號本身已經夠清晰夠強大，也 是可以省略相對應於此訊號之等化器）。複數個相位偵測 器，接收複數個等化器的輸出（或在訊號本身夠清晰時直 接接收這些訊號），並各別比較訊號A及訊號（A + C)的相 位差、訊號（A + C)及訊號B的相位差、訊號C及訊號（B + D )的相位差、以及訊號（B + D)及訊號D的相位差，然後各 別輸出一調整訊號，再經過一電路對調整訊號進行處理後 ，最後合成這些輸出的調整訊號（並可視需要再經過一低 通濾波器以過濾掉高頻雜波）以得到一循執誤差訊號。其 中，更可包含複數個比較器連接於複數個等化器與複數個 相位偵測器之間，用以將訊號轉換成為數位訊號。且上述 之訊號A、訊號B與訊號（A + C)經過實質相等的線路輸入 至相位偵測器，而訊號C、訊號D與訊號（B + D)經過實質 相等的線路輸入至相位偵測器，因此訊號A、訊號B與訊號 (A + C)中由線路所貢獻影響的相位差會相同，而訊號C、 訊號D與訊號（B + D)中由線路所貢獻影響的相位差亦會相
第10頁 1242205 五、發明說明（6) 同。在此，所謂實質相等的線路，是指使用的元件、使用 、 的導線、在空間的幾何分佈甚至使用來與外界隔壁的絕緣 材料等等都沒有人為的差別，亦即除了真實世界難以完全 去除的雜質與缺陷等外，這些線路中凡是人為所能控制的 部份都是完全相同。 相對地，本發明也提供一種差動相位檢測循軌誤差訊 號產生之方法。首先，讀取分光訊號，係自一光學讀取頭 讀出四分光感測器所產生之A、B、C及D訊號，並再結合A 訊號與C訊號以形成（A + C )之群訊號，以及結合B訊號與D訊 號以形成（B + D )之群訊號。接著，將該些訊號連接至複數 個相位偵測器，並由複數個相位偵測器產生複數個升時脈 訊號及降時脈訊號。然後，處理複數個升時脈訊號以獲得 一升訊號並處理複數個降時脈訊號以獲得一降訊號，藉以 消除經由線路所產生的相位差。最後，借由比較該升訊號 與該降訊號以獲得並輸出循執誤差訊號。當然，可以視需 要，再加以濾波去除雜訊或是以先轉換成數位訊號再繼續 處理。當然，也可以將本發明擴展到四分光感測器以外的 分光感測器，例如六分光感測器或八分光感測器，只要是 將分光感測器所產生之訊號分為兩半（兩群訊號），並將每 ¥ 一群訊號所包含之所有訊號疊加起來，然後進行相同的處 理流程，都是本發明所提出之方法可能的變型。 綜合上述，由於傳統的循軌誤差電路架構，其訊號相
第11頁 1242205 五、發明說明（7) 位訊號容易因為訊號大小變化而產生相應之相位變化，造 成循軌誤差的偏移量，導致鎖執點偏移。而改良型的循執 誤差電路架構仍會受存在於線路上的相位延遲或是相位領 先訊號的影響。因此本發明提出一差動相位檢測循軌誤差 電路架構，藉由讓具有相同相位差的訊號相互作用以抵銷 去除相位差來改善由線路所造成的相位變化，進而減少非 實際訊號相位差造成的鎖執點偏移，增加鎖執精確及循執 穩定度。 詳，利 了中專 除例的 ，施後 而實之 然的以 。他應 下其而 如在， 述行定 描施限 細地例 詳泛施 會廣實 例以些 施可這 實還受 1佳明不 式較發圍 方的本範 施明，的。 實發外明準 L本述發為 、 描本圍 四 細且範 本發明之一較佳實施例為一種差動相位檢測循執誤差 產生電路，包含一四分光感測器，用以接收一光學訊號後 ，產生分光訊號A、B、C及D，其中的訊號A及訊號C另外以 一加法器合成一群訊號（A + C)，而訊號B及訊號D則以另 一加法器合成一群訊號（B + D)。複數個等化器，用以接 收訊號A、B、C、D、 （ A + C) 、 （ B + D)，並等化放大訊 號。複數個相位偵測器，接收複數個等化器的輸出，並用 以各別比較訊號A及訊號（A + C)的相位差、訊號（A + C) 及訊號B的相位差、訊號C及訊號（B + D)的相位差、以及
第12頁 1242205 五、發明說明（8) 訊號（B + D )及訊號D的相位差，然後各別輸出一調整訊號 (例如一升時脈訊號與一降時脈訊號）。電路，用以對調整 訊號進行處理（讓這些調整訊號相互作用）以去除相位差。 低通濾波器與比較器，用以過濾與比較經處理的調整訊號 ，進而得到循執誤差訊號。其中，更可包含複數個比較器 連接於複數個等化器與複數個相位偵測器之間，用以將訊 號轉換成為數位訊號。且上述之訊號A、訊號B與群訊號（ A+ C )經過實質相等的線路輸入至相位偵測器，而訊號C、 訊號D與群訊號（B + D )經過實質相等的線路輸入至相位偵 測器。 接下來為本發明更多細節之詳細說明。請參考第五圖 ，其係為本發明之差動相位檢測循執誤差訊號產生之流程 示意圖。首先，如步驟第6 1 0所示，自光學讀取頭讀出四 分光感測器所產生之A、B、C及D四個訊號。接著，由步驟 6 2 0分別以第一等化器、第二等化器、第三等化器、第四 等化器、第五等化器、第六等化器，分別用以接收四分光 感測器所產生的訊號A、訊號B、訊號C、訊號D及由電路合 成之群訊號（A + C )及（B + D )。接下來，如步驟6 3 0所示 ，以一相位偵測器，接收由第一等化器及第五等化器輸出 的訊號A及群訊號（A + C )，並用以比較訊號A及群訊號（ A+ C )的相位差，輸出一升時脈訊號（UP Clock )及一降 時脈訊號（D 〇 w n C 1 〇 c k );再以另一相位福測器，接收由 第五等化器及第二等化器所輸出的群訊號（A + C )及訊號 __ a II 1 ill 第13頁 1242205 五、發明說明（9) )及訊號B，並比較群訊號（A + C)及訊號B的相位差，輸 出一升時脈訊號及一降時脈訊號。以第三相位债測器，接 收由第三等化器及第六等化器輸出的訊號C及群訊號（B + D )，並比較訊號C及群訊號（B + D)的相位差，亦輸出一升 時脈訊號及一降時脈訊號；以第四相位偵測器，接收由第 六等化器及第四等化器輸出的群訊號（B + D)及訊號D，並 比較群訊號（B + D)及訊號D的相位差，輸出一升時脈訊號 及一降時脈訊號。然後，依步驟6 4 0所示，以一電路來處 理複數個領先的升時脈訊號或落後的降時脈訊號，以消除 經由線路所產生之相位差，即將第一相位偵測器與第二相 位偵測器所輸出的升時脈訊號相加後，將其所得到之合成 W 的升時脈訊號減去由第三相位偵測器與第四相位偵測器的 升時脈訊號進行比較後，以得到一升訊號（UP S i gna 1) 。然後，將兩個經過相減比較後的升訊號輸入至第一低通 濾波器，以濾除高頻訊號。同理，可對第一相位偵測器與 第二相位偵測器所輸出的降時脈訊號相加後，將其所得到 之合成的降時脈訊號減去由第三相位偵測器與第四相位偵 測器的降時脈訊號進行比較後，以得到一降訊號（DOWN S i g n a 1)。然後，將兩個相減後的降訊號輸入至第二低通 濾波器。最後，將第一低通濾波器與第二低通濾波器的輸 $ 出相加後，產生一循軌誤差訊號。其中更可使用複數個比 較器，用以將等化器輸出之訊號轉換成數位訊號後，再進 行接下來的處理動作，也可在形成循軌誤差訊號之後，再 ， 進行數位化。
第14頁 1242205 五、發明說明（10) 如上所述，本發明之特徵如第6 3 0步驟將訊號A、訊號 B與群訊號（A + C)係經過一組實質相等的線路輸入至一組 相位偵測器，而訊號C、訊號D與群訊號（B + D)則係經過 另一組實質相等的線路輸入至另一組個相位偵測器。因此 訊號A、訊號B與群訊號（A + C)中由線路所產生的相位差 會彼此相同，而訊號C、訊號D與群訊號（B + D)中由線路 所產生的相位差亦會彼此相同。接著，由於產生在線路上 的相位差對相位偵測器所產生的升訊號與降訊號之間的相 位會不相同，因此，本發明再以一電路來將同一組相位偵 〇 測器中不同相位偵測器所產生之升訊號及降訊號分別進行 比較處理（例如相減），如步驟6 4 0所述。換句話說，本 發明之特徵即在使接收到的分光訊號係經過實質相等的線 路輸入至複數個相位偵測器，並在相位偵測器與濾波器之 間加上一電路來進行相位之處理，藉由讓具有相同相位差 的訊號相減以消除相位差，進而完全消除真實線路引發相 位差所造成之影響。當然，在此僅僅要求藉由相抵消來消 除相位差，整個電路如何處理這些升時脈訊號與這些降時 脈訊號，如何達成這些升/降時脈訊號的相互作用，都是 可以視實際需要任意調整。 φ 第六圖為本發明另一較佳實施例之電路示意圖，其中 光學讀取頭5 0 2透過鏡頭5 0 4循軌讀取光碟5 0 0表面上的光 . 學訊號。四分光感測器、506( quadrant photodetector)
第15頁 1242205 五、發明說明（11) 具有四個光學感測胞（c e 1 1 )，分別為感測胞A、感測胞 B、感測胞c以及感測胞D。四分光感測器5 0 6上的感測胞接 收並感測由鏡頭5 0 4傳來的光學訊號後，分別輸出訊號A、 訊號B、訊號C、訊號D。又，訊號A與訊號C由一電路進一 步相加合成群訊號（A + C)，以及訊號B與訊號D也由一電 路相加合成群訊號（B + D)。 繼續參閱第六圖，接下來訊號A、訊號B、訊號C、訊 ϊ虎D、群§fl ϊ虎（A + C)、群訊號（B + D) ’分別經過複數個 相應之等化器5 0 8 ( E q u a 1 i z e r)，用以等化放大訊號並滅 掉高頻雜訊，並使用比較器5 1 0將訊號轉換數位訊號。也 ❶ 就是說，經由四分光感測器5 0 6所得到的類比訊號，經過 比較器510後，將轉換輸出成為數位訊號。 ^ ° 如第六圖所示的電路架構中，其中群訊號（A + c)、 群訊號（B + D)可與聚焦誤差（F〇cus Err〇r， FE)共用。 再者，於本較佳實例中，訊號A、訊號6與群訊號（
經過實質相等的線路，而訊號c、訊號1)與群訊號（β + 經過實質相同的線路，因此由線路所產生的相位領 相位落後影響’訊號A、訊號B以及群訊號（A + c)彼 應該相同，而訊號c、訊號D以及群訊號（B + D)彼此間也 應該相同、。也就是說，在實際電路中，由四分光感測器 5 0 6上的感測胞A與感測胞B得到的訊號A、訊號β，以及由 感測胞A與感測胞C合成得到的群訊號（A + c)，經由實質
1242205 "_________ 五、發明說明（12)
相等的線路傳送至相位偵測器512 ( Phase Detector， PD )及相位偵測器5 1 4，用以進行訊號相位的比較。由於這 些訊號經過實質相等的線路，所以訊號中因為線路所提供 的相位影響也必然相同。當由訊號A、訊號B與群訊號（a + C)經過線路所產生的相位差，將其定義為△ φ 1，而將 訊號C、訊號D以及群訊號（B +D)經過線路所產生的相位 差’將其定義為△ Φ 2。根據以上所述，各別相位偵測器 輸出的比較相位可以下列方程式表示： 相位偵測器 512二Phase(A)-Phase( A + C)+△ Φ 1 相位偵測器 5 1 4 =： p h a s e ( B ) - P h a s e ( A + C ) +△ Φ 1 相位偵測器 5 1 6 = P h a s e ( C ) - P h a s e ( B + D ) +△ Φ 2 相位偵測器 518 = P h a s e(D) - P h a s e(B + D) +△ Φ 2 由各別相位偵測器產生的輸出訊號經低通濾波器5 2 〇 與比較器5 2 2過濾處理後所得到的循執誤差，便可以表示 成下列方程式： TE ( Tracking Error) - [ Phase ( A )-Phase (A + C) + ΔΦ l]-[Phase(B)-Phase(A + C) +Δ Φ 1] + [Phase(C)-Phase(B + D)+A Φ 2] - [Phase (D)-Phase (B + D)+Δ Φ 2] 經展開後，其中的△ Φ 1與△ Φ 2最後將會被消去，而且 Phase(A + C)與Phase(B + D)也可同時消去。最後，此方程式 可化簡成·· TE=[Phase(A)-Phase(B)]+[Phase(C)-Phase(D)]
1242205 五、發明說明（13) 從經化簡的方程式可看出，因為線路所貢獻的相位差 △ Φ 1與△ Φ 2都互相抵消了。可知經由本發明所產生之循 軌誤差可以真實地反應訊號的相位狀況，而不會受到線路 所產生相位差的影響。 此較佳實施例與第四圖所示的電路結構，同樣是獨立 將四分光感測器感測到的訊號A、B、C、D獨立出來，利用 各獨立光感胞感應因跨軌時所造成的相位差，產生循執誤 差訊號。在傳統循軌誤差電路中’因為其線路會產生相位 延遲或是相位領先變化，而這個變化對相位偵測器的相位 造成影響。然而，本發明將原本由線路所造成的相位差， 利用差動相位及一電路來予以消除，因此可完全消除寄生 在線路上的相位差，因此會大幅降低循軌點偏移所造成循 執錯誤之機率，有效的提昇循執誤差的精確性。 另外，由於本發明之循執誤差訊號的產生，只需要使 用（A + C)及（B + D)之群訊號。因此在本發明之電路中， 只要能產生（A + C)及（B + D)之群訊號即可，並不需要限 定使用多少條線路以及使用多少個相位偵測器，當然也不 需要限定使用何種電路來消除升時脈訊號或降時脈訊號之 4 相位。本發明只需要使各條線路保持相等之相位差（至少 使得連接到輸出訊號會直接相互作用之數個相位偵測器的 一些線路保持相等之相位差），然後再將此相位差對相位 . 偵測器之升時脈訊號與降時脈訊號，以一電路將不同相位
第18頁 1242205 五、發明說明（14) 偵測器之升時脈訊號進行處理（抵消升時脈訊號所具有之 線路引發的相位差），並同樣對不同相位偵測器之降時脈 訊號進行處理消升時脈訊號所具有之線路引發的相位 差），以確保能完全消除寄生在線路中的相位差便可以。 以上所述僅為本發明之較佳實施例而已，並非用以限 定本發明之申請專利範圍；凡其它未脫離本發明所揭示之 精神下所完成之等效改變或修飾，均應包含在下述之申請 專利範圍内。 〇
第19頁 1242205 圖式fal單說明 弟一圖顯不^一習知用以產生彳盾執誤差訊號的架構方塊 圖； 第二圖用以說明第一圖中訊號的相位變化； 第三圖用以說明因為四分光感測器訊號大小的變化而 影響其相位判斷；
第四圖顯示一習知具獨立訊號感測的循軌誤差訊號產 生電路之方塊圖； U 弟五圖用以顯不本發明方法之流程圖，以及 第六圖用以顯示本發明之較佳實施例。 主要部分之代表符號： 1 0 0光碟 1 0 2光學讀取頭 1 0 4鏡頭 1 0 6四分光感測器 Φ 1 0 8放大器 1 1 0放大器 1 1 2等化器 · 1 1 4等化器
第20頁 1242205 圖式簡單說明 1 1 6比較器 1 1 8比較器 1 2 0相位偵測器 1 2 2低通濾波器 1 2 4低通濾波器 1 2 6比較器 5 0 0光碟 5 0 2光學讀取頭 5 0 4鏡頭 5 0 6四分光感測器 5 0 8等化器 5 1 0放大器 5 1 2相位偵測器 5 1 4相位偵測器 5 1 6相位偵測器 5 1 8相位偵測器 5 2 0低通濾波器 5 2 2比較器
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Claims (1)

1242205 六、申請專利範圍 1 · 一種差動相位檢測循執誤差訊號產生之方法，包括： 讀取分光訊號，係自一光學讀取頭讀出四分光感測器 所產生之複數個分光訊號，並再將該複數個分光訊號等分 為兩群訊號，並將每一群訊號所包含之至少一訊號都予以 疊力口 ； 產生複數個升時脈訊號及複數個降時脈訊號，係將該 些訊號與該些群訊號都連接至複數個相位偵測器，並由該 複數個相位偵測器產生該複數個升時脈訊號及降時脈訊號 處理該複數個升時脈訊號及該複數個降時脈訊號，係 以處理該複數個升時脈訊號以獲得一升訊號並處理該複數 個降時脈訊號以獲得一降訊號，藉以消除經由線路所產生 的相位差；以及 輸出一循軌誤差訊號，係借由比較該升訊號與該降訊 號以獲得該循執誤差訊號。 2. 如申請專利範圍第1項所述之差動相位檢測循執誤差訊 號產生之方法，尚可以先數位化該分光訊號，係將該複數 個分光訊號與該兩群訊號都加以數位化，再產生該複數個 升訊號與該複數個降訊號。 3. 如申請專利範圍第1項所述之差動相位檢測循執誤差訊 號產生之方法，尚可先以複數個比較器逐一比較任一該分 光訊號與一參考訊號，再將比較後之結果輸入複數個相位
第22頁 1242205 六、申請專利範圍 偵測器。 4.如申請專利範圍第1項所述之差動相位檢測循執誤差訊 號產生之方法，其中上述任一該群訊號皆係以加法器處理 其所包含之所有該分光訊號所得到。 5 .如申請專利範圍第1項所述之差動相位檢測循執誤差訊 號產生之方法，尚可以先濾除高頻訊號，係以一濾波器將 該處理過後之升訊號及降訊號中的高頻訊號渡除，再輸出 一循執誤差訊號。 H 6. 如申請專利範圍第2項所述之差動相位檢測循執誤差訊 號產生之方法，其中該數位化過程中的該分光訊號A、該 分光訊號B與該群訊號（A + C)係經過實質相等的線路輸入 至該複數個相位偵測器，而該分光訊號C、該分光訊號D與 該群訊號（B + D)係經過實質相等的線路輸入至該複數個 相位偵測器。 7. 如申請專利範圍第1項所述之差動相位檢測循軌誤差訊 號產生之方法，係以一減法電路來以處理該複數個升時脈 4 訊號以獲得一升訊號，並以該減法電路處理該複數個降時 脈訊號以獲得一降訊號。 8. 如申請專利範圍第1項所述之差動相位檢測循軌誤差訊
第23頁 1242205 六、申請專利範圍 號產生之方法，係先讓該升訊號對應到某一該群訊號並讓 該降訊號對應到另一該群訊號，再透過比較該升訊號與該 降訊號而獲得之該循執誤差訊號。 9. 一種差動相位檢測循執誤差產生電路，包含： 一四分光感測器，係用以接收一光學訊號後，產生分 光訊號A、B、C、以及D，其中該分光訊號A及該分光訊號C 另外以一加法器合成一群訊號（A + C)，而該分光訊號BA 該分光訊號D則以另一加法器合成一群訊號（B + D); 複數個等化器，該複數個等化器接收該訊號A、B、 C、D、 （ A + C)及（B + D)，並用以等化放大該訊號； W 複數個相位偵測器，接收該複數個等化器的輸出，並 用以各別比較該分光訊號A及該群訊號（A + C)的相位差、 該群訊號（A + C)及該分光訊號B的相位差、該分光訊號C 及該群訊號（B + D)的相位差、以及該群訊號（B + D)及該 分光訊號D的相位差，並各別輸出複數個調整訊號； 一處理電路，係將該複數個相位偵測器所輸出之複數 個調整訊號進行比較處理，藉以得到一升訊號與一降訊號 ， 複數個低通濾波器，用以濾除該升訊號與該降訊號上 & 的南頻訊號，以及 一比較器，用以比較合成該升訊號與該降訊號以得到 一循軌誤差訊號。 .
第24頁 1242205 六、申請專利範圍 1 0 .如申請專利範圍第9項所述之差動相位檢測循執誤差產 生電路，更包含複數個比較器連接於該複數個等化器與該 複數個相位偵測器之間，用以將訊號轉換成為數位訊號。 1 1 .如申請專利範圍第9項所述之差動相位檢測循軌誤差產 生電路，其中上述之該分光訊號A、該分光訊號B與該群訊 號（A + C)經過實質相等的線路輸入至該相位偵測器，而 該分光訊號C、該分光訊號D與該群訊號（B + D)經過實質 相等的線路輸入至該相位偵測器。 - 1 2 .如申請專利範圍第9項所述之差動相位檢測循軌誤差產 生電路，其中上述之複數個調整訊號係包含複數個升時脈 訊號及複數個降時脈訊號。 1 3 .如申請專利範圍第9項所述之差動相位檢測循軌誤差產 生電路，其中上述之複數個調整訊號之比較方式係以至少 一減法器來執行，以消除經由線路所產生的相位差。 1 4. 一種差動相位檢測循軌誤差產生電路，包含： 一第一等化器，用以接收一四分光感測器所產生的一 分光訊號A，並等化放大該訊號； 一第二等化器，用以接收該四分光感測器所產生的一 分光訊號B ’並等化放大該訊號， 一第三等化器，用以接收該四分光感測器所產生的一
第25頁 1242205 六、申請專利範圍 分光訊號c，並等化放大該訊號； 一第四等化器，用以接收該四分光感測器所產生的一 分光訊號D，並等化放大該訊號； 一第五等化器，用以接收由一加法器將該分光訊號A 及該分光訊號C所合成的一群訊號（A + C)，並等化放大該 群訊號； 一第六等化器，用以接收由另一加法器將該分光訊號 B及該分光訊號D所合成的一群訊號（B + D)，並等化放大 該群訊號； 一第一相位偵測器，接收該第一等化器及該第五等化 器所輸出的該分光訊號A及該群訊號（A + C)，並比較該分 光訊號A及該群訊號（A + C)的相位差，進而輸出一升時脈 訊號及一降時脈訊號； 一第二相位偵測器，接收該第五等化器及該第二等化 器所輸出的該群訊號（A + C)及該分光訊號B，並比較該群 訊號（A + C)及該分光訊號B的相位差，進而輸出一升時脈 訊號及一降時脈訊號； 第六等化 比較該分 一升時脈 第四等化 比較該群 一升時脈 一第三相位偵測器，接收該第三等化器及該 器所輸出的該分光訊號C及該群訊號（B + D)，並 光訊號C及該群訊號（B + D)的相位差，進而輸出 訊號及一降時脈訊號； 一第四相位偵測器，接收該第六等化器及該 器所輸出的該群訊號（B + D)及該分光訊號D，並 訊號（B + D)及該分光訊號D的相位差，進而輸出
第26頁 1242205 六、申請專利範圍 訊號及一降時脈訊號； 一處理電路，係將該複數個相位偵測器所輸出之該複 數個升時脈訊號及複數個降時脈訊號分別進行比較處理， 藉以得到一升訊號與一降訊號，該升訊號係由該第一相位 偵測器與該第二相位偵測器所輸出的升時脈訊號相加後， 減去由該第三相位偵測器與該第四相位偵測器的升時脈訊 號相加後所得，該降訊號係由該第一相位偵測器與該第二 相位偵測器所輸出的降時脈訊號相加後，減去由該第三相 位偵測器與該第四相位偵測器的降時脈訊號相加後得； 一第一低通濾波器，用以接收該升訊號； 一第二低通濾波器，用以接收該降訊號；以及 一比較器，用以比較處理該第一低通濾波器與該第二 低通濾波器的輸出，進而產生一循軌誤差訊號。 1 5 .如申請專利範圍第1 4項所述之差動相位檢測循軌誤差 產生電路，更包含： 一第一比較器，用以將該第一等化器輸出之訊號轉換 成數位訊號； 一第二比較器，用以將該第二等化器輸出之訊號轉換 成數位訊號； 一第三比較器，用以將該第三等化器輸出之訊號轉換 成數位訊號； 一第四比較器，用以將該第四等化器輸出之訊號轉換 成數位訊號；
第27頁 1242205 六、申請專利範圍 一第五比較器，用以將該第五等化器輸出之訊號轉換 成數位訊號；及 一第六比較器，用以將該第六等化器輸出之訊號轉換 成數位訊號。 1 6 .如申請專利範圍第1 4項所述之差動相位檢測循軌誤差 產生電路，其中上述之該分光訊號A、該分光訊號B與該群 訊號（A + C)係經過實質相等的線路輸入至該第一相位偵 測器及該第二相位偵測器。 1 7 .如申請專利範圍第1 4項所述之差動相位檢測循軌誤差 產生電路，其中上述之該分光訊號C、該分光訊號D與該群 訊號（B + D)經過實質相等的線路輸入至該第三相位偵測 器及該第四相位价測器。 1 8 .如申請專利範圍第1 4項所述之差動相位檢測循軌誤差 產生電路’其中上述之該分光訊號A、該分光訊號B與該群 訊號（A + C)所經過的線路產生相同的相位誤差影響。 1 9 .如申請專利範圍第1 4項所述之差動相位檢測循軌誤差 產生電路，其中上述之該分光訊號C、該分光訊號D與該群 訊號（B + D)所經過的線路產生相同的相位誤差影響。 2 0 .如申請專利範圍第1 4項所述之差動相位檢測循軌誤差
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