TW201232375A - Measuring device for micro impedance variation - Google Patents

Description

201232375 六、發明說明： 【發明所屬之技術領域】 尤指一種微量阻抗 本發明係關於一種阻抗檢測襄置 變化檢測裝置。 【先前技術】 目前觸控面板技術主要可分為電阻式、及電容式兩 種。其中，電阻式的技術發展較早，市佔率也最高電 式居次。 電阻式觸控面板主要是由上下兩組氧化姻踢（謹_

Tin Oxide，ITO)導電層疊合而成，使用時利用壓力使上下電 極導通，經由控制器測知面板電麼變化而計算出接觸點位 置進仃輸入。當使用者在觸摸螢幕上的某一點時電流通 過導通而作動，此時電腦會計算該作動點的位置。然而， 使用雙層nro結構的觸控面板’在同一平面的ιτ〇電極點連 接的電^距”，容易產生短路而造成偵測錯誤。 一人在電谷式觸控裝置的研發技術中，影響自電容 的主要因素疋人體的電場與接觸面積而人體的電場又受 ^地的電場所影響，故常帶有雜訊。為了有效降低人體電 #的t響’量測電路往往採用平均值的方式來計算電容 '、P通過夕'人计算電容值大小，而後取平均值以判 :疋否有觸控輸入。因此若把人體的電場與大地的電場 田雜αίι處理’將大幅影響電容式觸控裝置的準確度與穩定 性。 201232375 是故，習知技術的觸控裝置，很難排除電路、電場、 及電源等雜訊所造成的干擾。另外，基於準確度及穩定度 的考量，習知技術的觸控裝置一般是使用較小電阻值的ιτ〇 甚極故無法製作大尺寸的觸控面板，而存在其侷限性。 【發明内容】 有鑑於此，本發明提供一種微量阻抗變化檢測裝置， 俾能適用於較大電阻值的ΙΤΟ電極及大尺寸的觸控面板，以 提高其適應性。 為達成上述目的，本發明所提供之微量阻抗變化檢測 裝置包括：一差動放大器’其包含有一第一輸入端、一第 一輸入端、及一輸出端；一第一阻抗，其係電性連接至第 一輸入端；一第二阻抗，其係電性連接至第二輸入端；一 第一電容’其係電性連接至第一輸入端；一感應電極，其 係電性連接至第二輸入端’用以感應一觸碰而接收有一觸 控§扎號；以及一訊號源’其係電性連接至第一阻抗及第二 阻抗，以提供一輸入訊號輸入至第一阻抗及第二阻抗；其 中’第一阻抗之阻抗值係等同於第二阻抗之阻抗值，差動 放大器依據輸入訊號及觸控訊號而於輸出端輸出差動放大 後之觸控訊號。 較佳地，訊號源可輸入一週期性之訊號至第一阻抗及 第一阻抗’感應電極可用以感應手指或各類導體或物件之 觸碰而接收觸控訊號《本發明之感應電極可經由一積體電 路接腳而電性連接至第二輸入端，積體電路接腳含有—第 201232375 一雜散電容，感應電極含有一第二雜散電容，第一電容之 電容值係等同於第一雜散電容與第二雜散電容並聯的電容 值。 其次，本發明更可包含有一第二電容，其係電性連接 至第二輸入端，第二電容與第一雜散電容、第二雜散電容 並聯的電容值係等同於第一電容之電容值。 再次，本發明更可包含有一第三阻抗，其係連接於訊 號源與第一阻抗及第二阻抗之間。較佳地，第三阻抗為一 電阻。 本發明更可包含有一整流濾波電路、一積分電路、及 一數位/類比轉換電路，整流濾波電路係電性連接至差動放 大器之輸出端’積分電路係電性連接至整流濾波電路，數 位/類比轉換電路係電性連接至積分電路。另外，本發明亦 可包含有一整流濾波電路、一峰值檢測電路、及一數位/類 比轉換電路’整流濾波電路係電性連接至差動放大器之輸 出端，峰值檢測電路係電性連接至整流濾波電路，數位/類 比轉換電路係電性連接至峰值檢測電路。 經由本發明所提供的微量阻抗變化檢測裝置，可有效 排除電路、電源等雜訊所造成的干擾，並可量測到非常小 的變化量。另外，本發明可用適用於較大電阻值的IT〇電 極’亦可用適用於大尺寸的觸控面板，具有高度的適應性。 【實施方式】

I I201232375 請先參考圖1，其係本發明第一實施例之系統架構圖。 如圖所示’本發明之微量阻抗變化檢測裝:置1包括：一差動 放大器11、一第一阻抗12、一第二阻抗Π:、一第一電容14、 一感應電極15、及一訊號源16。其中，差動放大器n包含 有一第一輸入端111、一第二輸入端112、及一輸出端113。 第一阻抗12及第一電容14係電性連接至第一輸入端丨丨丨，第 一阻抗13及感應電極1 5係電性連接至第j輸入端112。訊號 源16係電性連接至第一阻抗12及第二阻抹13。其中，感應 電極I 5係用以感應一觸碰而接收有一觸律訊號，於本實施 例中’感應電極1 5係感應手指或各類導體或物件之觸碰而 接收該觸控訊號。訊號源16係提供一輸入訊號輸入至第一 阻抗12及第二阻抗13，於本實施例中，訊號源16係輸入一 週期性之訊號至第一阻抗12及第二阻抗丨3。 i 於本實施例中’感應電極15係經由一積體電路接腳9電

I 性連接至第二輸入端112,該積體電路接腳9係含有一第一 雜散電容31 ’感應電極15亦含有一第二‘散電容32，且於 本發明之微量阻抗變化檢測裝置中，第十阻抗丨2之阻抗值 係等同於第二阻抗13之阻抗值，差動放大器u係依據輸入 訊號及觸控訊號而於輸出端113輸出差動放大後之觸控訊 號。由於輸入訊號係由具相同阻抗的第一阻抗丨2及第二阻 抗13之間輸入’故該輸入訊號傳送至第一輸入端1丨丨及第二 輸入端112 ’當第一阻抗12之阻抗值同於第二阻抗13之阻抗 值，第一電容14之電容值同於第一雜散電容31與第二雜散

I 電容32並聯之電容值時’由於相對於訊號源16的上下兩端 201232375 電路為對稱，將使得差動放大後的輸出訊號為零。本發明 之訊號源16係輸入週期性之訊號至第一阻抗12及第二阻抗 1 3 ’此週期性之訊號係例如為弦波、方波、三角波等，或 亦可輸入非週期波或甚至輸入雜訊，其經過差動放大後的 輸出同樣為零。 於本實施例中，第一電容丨4的電容值係等同於第一雜 散電容31與第二雜散電容32並聯的電容值。當手指或各類 導體或物件接近感應電極丨5時，會改變感應電極〗5的第二

雜散電容32，故於第二阻抗13上所造成的分壓與相位將產 生改變，而使得第一輸入端丨Η與第二輸入端112的電壓產 生不同。此一現象可類比為天平的兩端不平衡，而向重的 一端傾斜。是故，經由差動放大器11的差動放大後，輸出 端113即輸出有放大後的觸控訊號。透過量測差動放大器η 的輸出變化，即可分辨感應電極15所產生的微量雜散電容 值改變。 1別差動放大後的輸出訊號，可於輸出端】13連接其他 電路來達成。如圖2所示，本發明可另外包含一整流濾 路Μ、-積分㈣22、及―數位/類比轉換電路23，二對輸 出端⑴所輸出之觸控訊號進行處理。此外，亦可採用另二 組輸出電路’如圖3所示’其包含—整流濾波電路21、 ==4、及—數位/類比轉換電路23,其亦可對輸出 所輸曰出之觸控訊號進行處理，進而分辨感應電極15所 產生的微置電容值改變量。 201232375 接著，請參考圖4，其係本發明第二實施例之系統架構 圖。如圖所示，本實施例之架構與第一實施例基本相同， 差別在於增加一第二電容17’其中，該第二電容17與第一 雜散電容31、第二雜散電容32並聯的電容值係等同於第一 電容μ之電容值。由此，第一輸入端ηι與第二輸入端ιΐ2 亦可連接有相同電容值的電容。 再來，請參考圖5,其係本發明第三實施例之系統架構 圖。如圖所示，本實施例之架構與第一實施例基本相同， 差別在於增加一第三阻抗18。第三阻抗18係用於當第一阻 抗12與第二阻抗13的電壓分配無法完全一致時，做為調整 之用。較佳地，第三阻抗丨7係為一電阻。 疋故，經由本發明所提供之微量阻抗變化檢測裝置卜 可以排除電路、電源等雜訊所造成的干擾。其次本發明 可以量測到非常小的變化’靈敏度相當高。另夕卜，本發明 可用適用於較大電阻值的ΙΤ〇電極，亦可㈣用於大尺寸的 觸控面板’具有高度的適應性。 然而 上述實施例僅係、為了方便說明而舉例而已，本 2所主張之權利範圍自應以巾請專利範圍所述為準，而 非僅限於上述實施例。 【圖式簡單說明】 圖1係本發明第一實施例之系統架構圖。 圖2係本發明第—實施例之第-輸出電路架構圖。 圖3係本發明第一實施例之第二輸出電路架構圖。 201232375 圖4係本發明第二實施例之系統架構圖。 圖5係本發明第三實施例之系統架構圖。 【主要元件符號說明】 1 微量阻抗變化檢測裝置 11 差動放大器 12 第一阻抗 13 第二阻抗 14 第一電容 15 感應電極 16 訊號源 17 第二電容 18 第三阻抗 111 第一輸入端 112 第—輪入端 113 輸出端 21 整流濾波電路 22 積分電路 23 數位/類比轉換電路 24 峰值檢測電路 31 第一雜散電容 32 第二雜散電容 9 積體電路接腳

Claims (1)

1. 201232375 七、申請專利範圍： 1· 一種微量阻抗變化檢測裝置，包括： 差動放大器，其包含有一第一輸入端、一第二輸入 端、及一輸出端； 一第一阻抗，其係電性連接至該第一輸入端； 一第二阻抗，其係電性連接至該第二輸入端； 一第一電容，其係電性連接至該第一輸入端； 一感應電極，其係電性連接至該第二輸入端，用以感 應一觸碰而接收有一觸控訊號；以及 一訊號源，其係電性連接至該第一阻抗及該第二阻 抗，以提供一輸入訊號輸入至該第一阻抗及該第二阻抗； 其中，該第一阻抗之阻抗值係等同於該第二阻抗之阻 抗值，該差動放大器依據該輸入訊號及該觸控訊號而於該 輸出端輸出差動放大後之該觸控訊號。 2. 如申請專利範圍第丨項所述之微量阻抗變化檢測裝 置，其中，該訊號源係輸入一週期性之訊號至該第一阻抗 及該第二阻抗。 3. 如申請專利範圍第2項所述之微量阻抗變化檢測裝 置，其中，該感應電極係用以感應手指或各類導體或物^ 之觸碰而接收該觸控訊號。 4. 如申請專利範圍第丨項所述之微量阻抗變化檢測裝 置，其中，該感應電極係經由一積體電路接腳而電性連接 至該第二輸入端，該積體電路接腳含有一第一雜散電容， 201232375 該感應電極含有一第二雜散電容，該第一電容之電容值係 等同於該第一雜散電容與該第二雜散電容並聯的電容值。 5 ·如申請專利範圍第4項所述之微量阻抗變化檢測裝 置，其更包含有一第二電容，其係電性連接至該第二輸入 端，s玄第二電容與該第一雜散電容、該第二雜散電容並聯 的電谷值係等同於該第一電容之電容值。 6. 如申請專利範圍第1項所述之微量阻抗變化檢測裝 置’其更包含有一第三阻抗’其係連接於該訊號源與該第 ® 一阻抗及該第二阻抗之間。 7. 如申請專利範圍第6項所述之微量阻抗變化檢測裝 置，其中，該第三阻抗為一電阻β 8. 如申請專利範圍第1項所述之微量阻抗變化檢測裝 置，其更包含有一整流濾波電路、一積分電路、及一數位/ 類比轉換電路’該整流濾波電路係電性連接至該差動放大 器之輸出端，該積分電路係電性連接至該整流濾波電路， 該數位/類比轉換電路係電性連接至該積分電路。 # 9 ·如申請專利範圍第1項所述之微量阻抗變化檢測裝 置中，更包含有一整流濾波電路 '一峰值檢測電路、 及一數位/類比轉換電路，該整流濾波電路係電性連接至該 差動放大器之輸出端，該峰值檢測電路係電性連接至該整 流濾波電路，該數位/類比轉換電路係電性連接至該峰值檢 測電路。 八、圖式（請見下頁）：