SU892200A1 - Coating thickness measuring apparatus - Google Patents
Coating thickness measuring apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- SU892200A1 SU892200A1 SU782676212A SU2676212A SU892200A1 SU 892200 A1 SU892200 A1 SU 892200A1 SU 782676212 A SU782676212 A SU 782676212A SU 2676212 A SU2676212 A SU 2676212A SU 892200 A1 SU892200 A1 SU 892200A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- phase
- coating thickness
- detector
- frequency
- frequency detector
- Prior art date
Links
Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ,ТОЛЩИНЫ ПОКРЫТИЙ (54) DEVICE FOR MEASUREMENT, THICKNESS OF COATINGS
изобретение относитс к средствам неразрушающего контрол тотиины покрытий и может быть использовано в любой отрасли машиностроени . Наиболее близким по технической сущности к изобретению вл етс устройство дл измерени толщины покрытий , содержащее вихретоковый преобразователь , генератор, частотный детектор и индикатор. Вихретоковый преобразователь включен в базовый КОНТУР генератора, сигнал с которого поступает на частотный детектор. Изменение частоты контура детектор преобразует в изменение амплитуды на пр жени , которое и поступает на индикатор 1 . Недостатком известного устройства вл етс низка точность измерений; обусловленна малой величиной линейного участка характеристики частотного детектора. Цель изобретени - .повышение точности измерений. Поставленна цель достигаетс тем что в устройстве, содержащем вихрето ковый преобразователь, .генератор,час тотный детектор и индикатор, частотный детектор выполнен с фазосдвигающим контуром, а вихретоковый преобразователь включен в этот контур. На фиг. 1 представлена блок-схема устройства; на фиг. 2 - вариант выполнени устройства на микросхеме; на фиг. 3 - зависимость изменени величины выходного напр жени частотного детектора от изменени толщины покрыти . Устройство дл измерени толщины покрытий содержит генератор 1 синусоидального напр жени , подключенный к его выходу усилитель-ограничитель 2, выход которого подключен к частотному детектору 3. Детектор 3 выполнен в виде фазосдвигающего контура 4,образованного вихретоковым преобразователем 5 и частотозадающей емкостью 6, и подсоединенного к выходу контура 4 фазового детектора 7, выполненного по схеме дифференциального усилител . Вход фазосдвигающего контура 4 подключен к выходу усилител -ограничител . 2. Выход частотного детектора 3. подсоединен к индикатору 8. Устройство работает следующим образом . . Выходной сигнал генератора 1, ОГ раниченный по амплитуде усилителемограничителем 2, поступает одновременно на вихретоковый преобразователь 5 и на один из входов фазового детектора 7.The invention relates to the means of non-destructive control of these coatings and can be used in any branch of mechanical engineering. The closest to the technical essence of the invention is a device for measuring the thickness of the coatings containing a eddy current transducer, a generator, a frequency detector and an indicator. The eddy current transducer is included in the basic KONTUR generator, the signal from which is fed to the frequency detector. A change in the frequency of the contour of the detector translates into a change in amplitude for the yarn, which is fed to the indicator 1. A disadvantage of the known device is the low measurement accuracy; due to the small linear portion of the frequency detector characteristic. The purpose of the invention is to increase the measurement accuracy. This goal is achieved by the fact that in the device containing a eddy current transducer, a generator, a frequency detector and an indicator, the frequency detector is made with a phase-shifting circuit, and the eddy current transducer is included in this circuit. FIG. 1 is a block diagram of the device; in fig. 2 shows an embodiment of the device on the microcircuit; in fig. 3 shows the dependence of the change in the output voltage of the frequency detector on the change in the thickness of the coating. The device for measuring the thickness of the coatings contains a sinusoidal voltage generator 1, an amplifier-limiter 2 connected to its output, an output connected to frequency detector 3. Detector 3 is designed as a phase-shifting circuit 4 formed by a eddy-current converter 5 and a frequency reference capacitor 6 and connected the output circuit 4 of the phase detector 7, made according to the scheme of the differential amplifier. The input of the phase-shifting circuit 4 is connected to the output of the amplifier-limiter. 2. The output of the frequency detector 3. is connected to the indicator 8. The device operates as follows. . The output signal of the generator 1, the exhaust gas, which is amplified by the amplifier limiter 2, is fed simultaneously to the eddy current transducer 5 and to one of the inputs of the phase detector 7.
При настройке устройства преобразователь устанавливают на образец без покрыти , а затем на изделие с покрытием. Установка преобразовател 5 на изделие с покрытием вызывает .расстройку фазосдвигающего контура 4 относительно несущей частоты и по вление фазового сдвига. Измерение этого фаэового сдвига осуществл ет фазовый детектор.7, выполненный по схеме дифференциального усилител (на транзисторах V , Мг) с токопитающим каскадом (на транзисторе Vj).When setting up the device, the transducer is installed on the uncoated sample, and then on the coated product. The installation of the transducer 5 on the coated product causes the phase-shifting circuit 4 to be adjusted relative to the carrier frequency and a phase shift is observed. The measurement of this phase shift is carried out by a phase detector 7, performed according to the scheme of a differential amplifier (on V, Mg transistors) with a current-feeding cascade (on a Vj transistor).
Распределение коллекторного тока транзистора Vo, при подаче на него опорного напр жени U (t) измен етс под действием подаваемого на транзисторы V и Vij напр жени Ltr (t) ,сдвй (нутого относительно опорного на угол ч f-± I гДе ЛЧ - фазовый угол, завис щий от расстройки контура . г. The distribution of the collector current of the transistor Vo, when the reference voltage U (t) is applied to it, changes under the action of the voltage Ltr (t) supplied to the transistors V and Vij, and the voltage (relative to the reference angle by the angle h f ± I gDe LP - phase angle depending on the misalignment of the contour.
На выходе фаэового детектора 7 вьвдел етс напр жение, пропорциональное разности посто нных составл ющих коллекторных токов транзисторов V и Vn и соответствующее изменению фазового угла контура 4, регистрируемое индикатором 8. Выходное напр жение частотного детектора 3 увеличиваетс с увеличением частоты фазосдвигшощего контура ,4 и уменьшаетс с ее убыванием в пределах линейного участка характеристики детектора , котора в свою очередь, будет линейной в области частот, близких к резонансной частоте фазосдвигающего контура 4.The output of the phaeo detector 7 introduces a voltage proportional to the difference of the constant components of the collector currents of the transistors V and Vn and corresponding to the change in the phase angle of the circuit 4 detected by the indicator 8. The output voltage of the frequency detector 3 increases with increasing frequency of the phase-shifting circuit 4 and decreases with its decreasing within the linear part of the detector characteristic, which in turn, will be linear in the frequency range close to the resonant frequency of the phase-shifting circuit 4.
Дл улучшени линейности детекторной характеристики сигнал токопитающего каскада (Vj) должен иметь форму, близкую к пр моугольной.To improve the linearity of the detector characteristic, the current cascade signal (Vj) should have a shape close to rectangular.
Дл расширени диапазона измере ни контролируемых толщин необходимо начальную настройку контура 4 (,2.) производить в нижней части линейной фазовой характеристики (точка А, фиг. 3),To expand the range of measured thicknesses, it is necessary to initialize the circuit 4 (, 2.) At the bottom of the linear phase characteristic (point A, Fig. 3),
Использование устройства позволит обеспечить повышение точности и расширить диапазон измерени толщины покрытий.The use of the device will allow to increase the accuracy and expand the range of measurement of the thickness of the coatings.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782676212A SU892200A1 (en) | 1978-10-23 | 1978-10-23 | Coating thickness measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
SU782676212A SU892200A1 (en) | 1978-10-23 | 1978-10-23 | Coating thickness measuring apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU892200A1 true SU892200A1 (en) | 1981-12-23 |
Family
ID=20790191
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
SU782676212A SU892200A1 (en) | 1978-10-23 | 1978-10-23 | Coating thickness measuring apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
SU (1) | SU892200A1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111203759A (en) * | 2020-01-20 | 2020-05-29 | 重庆大学 | On-line calibration device and method for eddy current sensor machine tool |
-
1978
- 1978-10-23 SU SU782676212A patent/SU892200A1/en active
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN111203759A (en) * | 2020-01-20 | 2020-05-29 | 重庆大学 | On-line calibration device and method for eddy current sensor machine tool |
CN111203759B (en) * | 2020-01-20 | 2021-06-22 | 重庆大学 | On-line calibration device and method for eddy current sensor machine tool |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ATE97739T1 (en) | EDDY CURRENT SENSOR. | |
SU892200A1 (en) | Coating thickness measuring apparatus | |
FR2593909B1 (en) | COATING THICKNESS MEASUREMENT BY ULTRASONIC INTERFEROMETRY | |
SU932377A1 (en) | Device for determination adhesivon of current-conductive coating to base | |
SU1265583A1 (en) | Method for nondestructive check of coating thickness and device for effecting same | |
SU1168798A1 (en) | Eddj-current cauge of thickness of dielectric coating | |
SU1216637A1 (en) | Thickness gauge of dielectric coatings | |
SU989342A1 (en) | Device for vibration measuring | |
SU901951A1 (en) | Device for measuring magnetic field parameters | |
SU1370448A1 (en) | Electromagnetic thickness gauge | |
SU1283518A1 (en) | Device for measuring radius of cylindrical metal non-ferromagnetic bodies | |
SU794449A1 (en) | Structurescope | |
SU845077A1 (en) | Device for non-destructive inspection of electroconductive articles | |
SU828062A1 (en) | Method and device for electromagnetic checking | |
JPS56147032A (en) | Measuring device for maximum value of pressure in cylinder | |
SU809071A1 (en) | Device for regulated object identification | |
SU1216716A1 (en) | Electromagnetic method of measuring specific electric conductance of non-ferromagnetic conducting articles | |
SU1065680A1 (en) | Body-current device for measuring dielectric coating thickness | |
SU746320A1 (en) | Apparatus for measuring harmonic coefficient of power amplifier | |
SU696373A1 (en) | Eddy-current device for non-destructive inspection | |
SU1229672A1 (en) | Eddy-current device for inspecting electro-physical parameters | |
SU920506A1 (en) | Method and device for electromagnetic checking of flaw depth | |
SU1670368A1 (en) | Eddy-current thickness meter | |
SU1552085A1 (en) | Apparatus for electromagnetic inspection | |
SU1377619A1 (en) | Method of contactless measurement of temperature of conducting body surface |