SU241761A1 - COMPRESSION PIRGELIOMETER - Google Patents

COMPRESSION PIRGELIOMETER

Info

Publication number
SU241761A1
SU241761A1 SU1190301A SU1190301A SU241761A1 SU 241761 A1 SU241761 A1 SU 241761A1 SU 1190301 A SU1190301 A SU 1190301A SU 1190301 A SU1190301 A SU 1190301A SU 241761 A1 SU241761 A1 SU 241761A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
plate
pirgeliometer
compression
radiant
radiation
Prior art date
Application number
SU1190301A
Other languages
Russian (ru)
Original Assignee
А. И. Перевертун , Л. Г. Борисова Казахский политехнический институт
Publication of SU241761A1 publication Critical patent/SU241761A1/en

Links

Description

Изобретение относитс  к 0|бластй изл1ерени  лучистых HOiTQiKOiB, а.ктинометрии, апмаоферной 01ПТИ1КИ и может быть использовано, дл  абсолютных олределений лучистых потоков и пр мой солнечной радиации.The invention relates to 0 | areas of radiation of radiant HOiTQiKOiB, aktinometry, apmaofer 01PTI1KI and can be used for absolute definitions of radiant fluxes and direct solar radiation.

В известных устройствах дл  измерени  лучистых потоков приемник излучени  выполнен в виде зачерненной провод щей пластины и индикато1рной пластиньь, изготсивленной из полупроводниковото материала, пО которой пропускаетс  электрический , и расположенно .й между ними диэлектрической подложки . В этих приемниках сопротивление полупроводниково,й индикаторной пластины измен етс  с из-менением тампе.ратуры. окружающей среды, а следовательно, Н01казави  приемника тоже завис т от температуры окружающей среды.In the known devices for measuring radiant fluxes, the radiation detector is made in the form of a blackened conductive plate and an indicator plate made of a semiconductor material, which passes an electrical one, and is located between them of a dielectric substrate. In these receivers, the resistance of the semiconductor indicator plate changes with changing tampere. environment, and therefore, the receiver H01 also depends on the ambient temperature.

Устройство, согласно данн.о.му изобретению, лищено указанных недостатков и отличаетс  от известных тем, что в нем поглощающа  пластина и пластина замещени  вы1по.лнены зачерненнымИ из одного металла с одинаковыми геометрическими разлюрами.The device, according to the present invention, is free of the indicated disadvantages and differs from the known ones in that the absorbing plate and the replacement plate are completely blackened from the same metal with the same geometric dimensions.

На фиг. 1 представлен приемник монометаллическОГо коМПенсационного пиртелиометра , IB аксонометрии; на фиг. 2 - то же, схематический продольный разрез; на фи,г. 3 - электрическа  схема прибора.FIG. Figure 1 shows a monometallic receiver for a compensating pyrheliometer, IB axonometry; in fig. 2 - the same, schematic longitudinal section; on fi g. 3 - electrical circuit of the device.

представл ет собой монометаллическую пластину /, состо щую из двух почерненных серебр нЫиХ пластинок (толщина 0,02 мм, ширина 2 мм, длина 12 мм) одна из которых  вл етс  поглощающей пластиной, а друга  - пластиной за;мещени , разделеннЕэ1х тонкой однородной полоской слюды тех же размеров. К каждой из пластинок проводника(М)1 2 подвод т компенсационный электрический ток.is a monometallic plate / consisting of two blackened silver plates (thickness 0.02 mm, width 2 mm, length 12 mm), one of which is an absorbing plate, and the other is a plate for; a thin, uniform strip mica of the same size. Each of the plates of the conductor (M) 1 2 is supplied with a compensating electric current.

Клеммы проводников 3 (выведены на подвижный в.кладыш 4, поворот которого на 180° и установку приемной пластины перпендикул 1рно лучистому потоку осуществл ют с шарнира 5 и держател  6. ПластинаThe terminals of the conductors 3 (placed on a movable v-liner 4, which is rotated 180 ° and the installation of the receiving plate perpendicular to the radiant flux is carried out from the hinge 5 and the holder 6. The plate

соединена с алюминиевым стержнем 7, на конце которого укреплена тонка  кварцева  нить 8. Смещение нити на фоне зеркальца 9 наблюдают в окул р микроскопа 10. Зеркальце освещаетс  через отверстие 11 в корпусе прибора. Пластина прикрыта от вли ни  ветра и постО(ронней радиации четырьм  диафрагмами 12. Крыщка 13, враща сь вокруг горизонтальной оси, закрьюает и открьивает входное отверстие 14, через которое лучистыйconnected to an aluminum rod 7, at the end of which a thin quartz thread 8 is fastened. The displacement of the thread against the mirror 9 is observed in the eye of the microscope 10. The mirror is illuminated through the hole 11 in the instrument case. The plate is covered from the influence of wind and postO (with external radiation by four diaphragms 12. The lid 13, rotating around the horizontal axis, closes and unlocks the inlet 14, through which the radiant

поток попадает на приемник. Отверстие в пластине 15 служит дл  нацеливани  прибора на источник излучени . Через полупрозрачную пластиНКу 16, по перекрестию которой контролируют правильную установку прибона пово.р.отные отражающие , затем на зеркало 9, KOiTOipo.e наблюдают в микроС1К01П . Полученное изображение источиика на шкале, по которой производ т отсчет инте СИ1ВНОСТИ излучени , облегчает 0|рие,нтацию 5 прибора. Компенсащионный пиргелио метр с монометаллическим .приемником уста1на1вли вае:тс  в pai6o4ee положение (иаделиваетс  на источни к излучени , ;В ми.кро-окоп (Провер етс  ви- Ю димость н.ити). Приемна , пластина винта ми 17 располаг гаетс  ;перпендикул :рно лучисто1му потоку. Открываетс  к-рышка лиргелиометра и под действием лучистого потока моно.металличе- 15 скал юластина из1гибаетс . Изгиб наблюдаетс  в микроскоп по смещению нити. Через нижнюю .пластинку пропускаетс  электрический ток от батареи 18 такой силы, что темлература обеих .поверхностей становитс  одинако- 20 вой, в результате чего нить -возвращаетс  в первоначальное положел.ие. Величина компенсирующего электрического тока- регулируетс  рео.статОМ 19, определ етс  ло амперметру 20, про:порционально лучистому потоку, падаю-щему на верхнюю часть моно металлической пластины. Затем .мо-нол1еталличеока  пластина лазорачиваетс  на 180° и все изМ|еграни  повтор ютс . Зна  физические и геометрические параметры приемной пластины и силу компе сационного тока, определ ют а1бсолютное значеи .ие интенсивности лучистого потока каК средний результат отсчето В дл  верхней и нижней монометаллической пластины. Предмет изО|брете«и  КОМиенсадионный пиргелиометр, содержащий поглощающую лластину и пластину замещени , ра.зделенные диэлектриком, отличающийс  тем, что, с целью апределени  а1бсолют1ньгх значений лучистьк лотоков, поглощающа  пластина и пластина замещени  выполнены зачерненными из одного металла с одинаковьими геометрическими, размерами.stream enters the receiver. The hole in the plate 15 serves to aim the device at the radiation source. Through a translucent plastinka 16, on the crosshair of which they control the correct installation of the instrument podrootnye reflecting, then on the mirror 9, KOiTOipo.e is observed in microC1C01P. The obtained image of the source on the scale, on which the radiation intrinsicity is measured, facilitates the measurement of the instrument. A compensated pyrhelio meter with a monometallic receiver is set to one in the pai6o4ee position (and placed on the radiation source,; in a mini-trench (Checking the visibility of the type). Receiving, the plate with screws 17 is located; the perpendicular is : open to the radiant flux. The liregliometer opens to the rim and, under the action of the radiant flux of a mono metal, 15 of the rock of Jastin is bent. A bend is observed through a microscope by the displacement of the filament.becomes the same, resulting in the thread returning to the initial position. The magnitude of the compensating electric current is controlled by rheostat 19, is determined by the ammeter 20, in proportion to the radiant flux falling on the upper part of the mono-metal plate Then the metallic face plate is rotated 180 ° and all of the magnetic fields are repeated. With the physical and geometrical parameters of the receiving plate and the strength of the compressed current, the absolute value of the radiant flux intensity is determined as The same result is counted in B for the upper and lower monometallic plate. A brute and a komiensadion pyrheliometer containing an absorbing llastin and a replacement plate, separated by a dielectric, is characterized in that, in order to determine the radius of the trays, the absorbing plate and the replacement plate are blackened from one metal with the same geometric dimensions.

2 5 62 5 6

.7.7

иг.2ig.2

SU1190301A COMPRESSION PIRGELIOMETER SU241761A1 (en)

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU241761A1 true SU241761A1 (en)

Family

ID=

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4184768A (en) * 1977-11-04 1980-01-22 The Johns Hopkins University Self-calibrating photoacoustic apparatus for measuring light intensity and light absorption

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4184768A (en) * 1977-11-04 1980-01-22 The Johns Hopkins University Self-calibrating photoacoustic apparatus for measuring light intensity and light absorption

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0174017B1 (en) Improvements relating to capacitive devices for measuring the diameter of a dielectric fibre
US3234461A (en) Resistivity-measuring device including solid inductive sensor
US2596752A (en) Magnetostriction measuring instrument
Larrabee The spectral emissivity and optical properties of tungsten
US2859407A (en) Method and device for measuring semiconductor parameters
SU241761A1 (en) COMPRESSION PIRGELIOMETER
Robertson The capacity of polarized platinum electrodes in hydrochloric acid
US2168464A (en) Roentgenometer
US3787764A (en) Solid dielectric capacitance gauge for measuring fluid pressure having temperature compensation and guard electrode
US2477347A (en) High-frequency reactance testing apparatus
US3400687A (en) Film thickness monitoring apparatus
Collins et al. Determination of Optical Constants of Metals by Reflectivity Measurements
US2809346A (en) Apparatus for measuring the thickness of electroconductive films
Larkin et al. Stark effect and dipole moment of methyl fluoride
US2419217A (en) Weighing apparatus
US3315156A (en) Method for determining the electrical resistance of a body of extremely pure semiconductor material for electronic purposes
Shaw A New Precision Method for the Determination of e m for Electrons
US3767920A (en) Reflection type radiation thickness meter
US1840635A (en) Electrical measuring instrument
US2951359A (en) Method for compensating the influence of the carrier-gas in magnetic gasanalysers
Van der Touw et al. A measuring device for the determination of the electric permittivity of conducting liquids in the frequency range 2-500 kHz. II: The measuring cell
US2583763A (en) Electrostatic apparatus for measuring voltages
SU741068A1 (en) Compensation-type pyrheliometer
US4166954A (en) Instrument for determining infrared beam vergence
US2733356A (en) Radiation measuring instrument