SU241761A1 - COMPRESSION PIRGELIOMETER - Google Patents
COMPRESSION PIRGELIOMETERInfo
- Publication number
- SU241761A1 SU241761A1 SU1190301A SU1190301A SU241761A1 SU 241761 A1 SU241761 A1 SU 241761A1 SU 1190301 A SU1190301 A SU 1190301A SU 1190301 A SU1190301 A SU 1190301A SU 241761 A1 SU241761 A1 SU 241761A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- plate
- pirgeliometer
- compression
- radiant
- radiation
- Prior art date
Links
- 238000007906 compression Methods 0.000 title 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 7
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 210000000188 Diaphragm Anatomy 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminum Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000010445 mica Substances 0.000 description 1
- 229910052618 mica group Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052904 quartz Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- 239000011435 rock Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N silver Chemical compound [Ag] BQCADISMDOOEFD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000004332 silver Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Description
Изобретение относитс к 0|бластй изл1ерени лучистых HOiTQiKOiB, а.ктинометрии, апмаоферной 01ПТИ1КИ и может быть использовано, дл абсолютных олределений лучистых потоков и пр мой солнечной радиации.The invention relates to 0 | areas of radiation of radiant HOiTQiKOiB, aktinometry, apmaofer 01PTI1KI and can be used for absolute definitions of radiant fluxes and direct solar radiation.
В известных устройствах дл измерени лучистых потоков приемник излучени выполнен в виде зачерненной провод щей пластины и индикато1рной пластиньь, изготсивленной из полупроводниковото материала, пО которой пропускаетс электрический , и расположенно .й между ними диэлектрической подложки . В этих приемниках сопротивление полупроводниково,й индикаторной пластины измен етс с из-менением тампе.ратуры. окружающей среды, а следовательно, Н01казави приемника тоже завис т от температуры окружающей среды.In the known devices for measuring radiant fluxes, the radiation detector is made in the form of a blackened conductive plate and an indicator plate made of a semiconductor material, which passes an electrical one, and is located between them of a dielectric substrate. In these receivers, the resistance of the semiconductor indicator plate changes with changing tampere. environment, and therefore, the receiver H01 also depends on the ambient temperature.
Устройство, согласно данн.о.му изобретению, лищено указанных недостатков и отличаетс от известных тем, что в нем поглощающа пластина и пластина замещени вы1по.лнены зачерненнымИ из одного металла с одинаковыми геометрическими разлюрами.The device, according to the present invention, is free of the indicated disadvantages and differs from the known ones in that the absorbing plate and the replacement plate are completely blackened from the same metal with the same geometric dimensions.
На фиг. 1 представлен приемник монометаллическОГо коМПенсационного пиртелиометра , IB аксонометрии; на фиг. 2 - то же, схематический продольный разрез; на фи,г. 3 - электрическа схема прибора.FIG. Figure 1 shows a monometallic receiver for a compensating pyrheliometer, IB axonometry; in fig. 2 - the same, schematic longitudinal section; on fi g. 3 - electrical circuit of the device.
представл ет собой монометаллическую пластину /, состо щую из двух почерненных серебр нЫиХ пластинок (толщина 0,02 мм, ширина 2 мм, длина 12 мм) одна из которых вл етс поглощающей пластиной, а друга - пластиной за;мещени , разделеннЕэ1х тонкой однородной полоской слюды тех же размеров. К каждой из пластинок проводника(М)1 2 подвод т компенсационный электрический ток.is a monometallic plate / consisting of two blackened silver plates (thickness 0.02 mm, width 2 mm, length 12 mm), one of which is an absorbing plate, and the other is a plate for; a thin, uniform strip mica of the same size. Each of the plates of the conductor (M) 1 2 is supplied with a compensating electric current.
Клеммы проводников 3 (выведены на подвижный в.кладыш 4, поворот которого на 180° и установку приемной пластины перпендикул 1рно лучистому потоку осуществл ют с шарнира 5 и держател 6. ПластинаThe terminals of the conductors 3 (placed on a movable v-liner 4, which is rotated 180 ° and the installation of the receiving plate perpendicular to the radiant flux is carried out from the hinge 5 and the holder 6. The plate
соединена с алюминиевым стержнем 7, на конце которого укреплена тонка кварцева нить 8. Смещение нити на фоне зеркальца 9 наблюдают в окул р микроскопа 10. Зеркальце освещаетс через отверстие 11 в корпусе прибора. Пластина прикрыта от вли ни ветра и постО(ронней радиации четырьм диафрагмами 12. Крыщка 13, враща сь вокруг горизонтальной оси, закрьюает и открьивает входное отверстие 14, через которое лучистыйconnected to an aluminum rod 7, at the end of which a thin quartz thread 8 is fastened. The displacement of the thread against the mirror 9 is observed in the eye of the microscope 10. The mirror is illuminated through the hole 11 in the instrument case. The plate is covered from the influence of wind and postO (with external radiation by four diaphragms 12. The lid 13, rotating around the horizontal axis, closes and unlocks the inlet 14, through which the radiant
поток попадает на приемник. Отверстие в пластине 15 служит дл нацеливани прибора на источник излучени . Через полупрозрачную пластиНКу 16, по перекрестию которой контролируют правильную установку прибона пово.р.отные отражающие , затем на зеркало 9, KOiTOipo.e наблюдают в микроС1К01П . Полученное изображение источиика на шкале, по которой производ т отсчет инте СИ1ВНОСТИ излучени , облегчает 0|рие,нтацию 5 прибора. Компенсащионный пиргелио метр с монометаллическим .приемником уста1на1вли вае:тс в pai6o4ee положение (иаделиваетс на источни к излучени , ;В ми.кро-окоп (Провер етс ви- Ю димость н.ити). Приемна , пластина винта ми 17 располаг гаетс ;перпендикул :рно лучисто1му потоку. Открываетс к-рышка лиргелиометра и под действием лучистого потока моно.металличе- 15 скал юластина из1гибаетс . Изгиб наблюдаетс в микроскоп по смещению нити. Через нижнюю .пластинку пропускаетс электрический ток от батареи 18 такой силы, что темлература обеих .поверхностей становитс одинако- 20 вой, в результате чего нить -возвращаетс в первоначальное положел.ие. Величина компенсирующего электрического тока- регулируетс рео.статОМ 19, определ етс ло амперметру 20, про:порционально лучистому потоку, падаю-щему на верхнюю часть моно металлической пластины. Затем .мо-нол1еталличеока пластина лазорачиваетс на 180° и все изМ|еграни повтор ютс . Зна физические и геометрические параметры приемной пластины и силу компе сационного тока, определ ют а1бсолютное значеи .ие интенсивности лучистого потока каК средний результат отсчето В дл верхней и нижней монометаллической пластины. Предмет изО|брете«и КОМиенсадионный пиргелиометр, содержащий поглощающую лластину и пластину замещени , ра.зделенные диэлектриком, отличающийс тем, что, с целью апределени а1бсолют1ньгх значений лучистьк лотоков, поглощающа пластина и пластина замещени выполнены зачерненными из одного металла с одинаковьими геометрическими, размерами.stream enters the receiver. The hole in the plate 15 serves to aim the device at the radiation source. Through a translucent plastinka 16, on the crosshair of which they control the correct installation of the instrument podrootnye reflecting, then on the mirror 9, KOiTOipo.e is observed in microC1C01P. The obtained image of the source on the scale, on which the radiation intrinsicity is measured, facilitates the measurement of the instrument. A compensated pyrhelio meter with a monometallic receiver is set to one in the pai6o4ee position (and placed on the radiation source,; in a mini-trench (Checking the visibility of the type). Receiving, the plate with screws 17 is located; the perpendicular is : open to the radiant flux. The liregliometer opens to the rim and, under the action of the radiant flux of a mono metal, 15 of the rock of Jastin is bent. A bend is observed through a microscope by the displacement of the filament.becomes the same, resulting in the thread returning to the initial position. The magnitude of the compensating electric current is controlled by rheostat 19, is determined by the ammeter 20, in proportion to the radiant flux falling on the upper part of the mono-metal plate Then the metallic face plate is rotated 180 ° and all of the magnetic fields are repeated. With the physical and geometrical parameters of the receiving plate and the strength of the compressed current, the absolute value of the radiant flux intensity is determined as The same result is counted in B for the upper and lower monometallic plate. A brute and a komiensadion pyrheliometer containing an absorbing llastin and a replacement plate, separated by a dielectric, is characterized in that, in order to determine the radius of the trays, the absorbing plate and the replacement plate are blackened from one metal with the same geometric dimensions.
2 5 62 5 6
.7.7
иг.2ig.2
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
SU241761A1 true SU241761A1 (en) |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4184768A (en) * | 1977-11-04 | 1980-01-22 | The Johns Hopkins University | Self-calibrating photoacoustic apparatus for measuring light intensity and light absorption |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4184768A (en) * | 1977-11-04 | 1980-01-22 | The Johns Hopkins University | Self-calibrating photoacoustic apparatus for measuring light intensity and light absorption |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0174017B1 (en) | Improvements relating to capacitive devices for measuring the diameter of a dielectric fibre | |
US3234461A (en) | Resistivity-measuring device including solid inductive sensor | |
US2596752A (en) | Magnetostriction measuring instrument | |
Larrabee | The spectral emissivity and optical properties of tungsten | |
US2859407A (en) | Method and device for measuring semiconductor parameters | |
SU241761A1 (en) | COMPRESSION PIRGELIOMETER | |
Robertson | The capacity of polarized platinum electrodes in hydrochloric acid | |
US2168464A (en) | Roentgenometer | |
US3787764A (en) | Solid dielectric capacitance gauge for measuring fluid pressure having temperature compensation and guard electrode | |
US2477347A (en) | High-frequency reactance testing apparatus | |
US3400687A (en) | Film thickness monitoring apparatus | |
Collins et al. | Determination of Optical Constants of Metals by Reflectivity Measurements | |
US2809346A (en) | Apparatus for measuring the thickness of electroconductive films | |
Larkin et al. | Stark effect and dipole moment of methyl fluoride | |
US2419217A (en) | Weighing apparatus | |
US3315156A (en) | Method for determining the electrical resistance of a body of extremely pure semiconductor material for electronic purposes | |
Shaw | A New Precision Method for the Determination of e m for Electrons | |
US3767920A (en) | Reflection type radiation thickness meter | |
US1840635A (en) | Electrical measuring instrument | |
US2951359A (en) | Method for compensating the influence of the carrier-gas in magnetic gasanalysers | |
Van der Touw et al. | A measuring device for the determination of the electric permittivity of conducting liquids in the frequency range 2-500 kHz. II: The measuring cell | |
US2583763A (en) | Electrostatic apparatus for measuring voltages | |
SU741068A1 (en) | Compensation-type pyrheliometer | |
US4166954A (en) | Instrument for determining infrared beam vergence | |
US2733356A (en) | Radiation measuring instrument |