SU1647477A1

SU1647477A1 - Device for transistor operability testing

Info

Publication number: SU1647477A1
Application number: SU884435316A
Authority: SU
Inventors: Владимир Ильич Турченков
Original assignee: В.И.Турченков
Priority date: 1988-06-01
Filing date: 1988-06-01
Publication date: 1991-05-07

Abstract

Изобретение относитс к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл быстрого контрол исправности транзисторов, Цель изобретени - повышение достоверности контрол . Это обеспечиваетс введением блока контрол токсВгЧто позвол ет правильно определ ть исправность транзисторов с любым коэффициентом передачи тока как в пр мом, так и в инверсном включении. Устройство содержит клеммы 1-3 дл подключени выводов контролируемого транзистора, генератор 4- раз- нопол рных импульсов, три блока 5-7 сравнени , два резистора 8, 9, блок 10 контрол токов и элемент И 11. При подключении исправного транзистора к клеммам 1-3 на выходе элемента И 11 формируетс последовательность положительных импульсов . Если транзистор неисправен, то на выходе элемента И 11 посто нно присутствует сигнал лог. 0. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.The invention relates to measurement instrumentation and can be used to quickly monitor the health of transistors. The purpose of the invention is to increase the reliability of the control. This is ensured by the introduction of a control unit, which allows to correctly determine the health of transistors with any current transfer coefficient, both directly and inversely. The device contains terminals 1-3 for connecting the terminals of the monitored transistor, a generator of 4-different pulses, three comparison units 5-7, two resistors 8, 9, current control unit 10 and element 11. When a serviceable transistor is connected to terminals 1 A -3 at the output of the element 11 is formed a sequence of positive pulses. If the transistor is faulty, then the output of the element 11 is constantly present signal log. 0. 1 h.p. f-ly, 2 ill.

Description

Изобретение относитс к контрольно- измерительной технике и предназначено дл быстрого контрол исправности транзисторов .The invention relates to a measuring and control technique and is intended to quickly monitor the health of transistors.

Целью изобретени вл етс повышение достоверности контрол .The aim of the invention is to increase the reliability of the control.

Цель достигаетс за счет того, что контроль обрывов электродов транзистора проводитс вновь введенным блоком контрол токов, что позвол ет более достоверно определ ть исправность транзисторов с любым коэффициентом передачи тока как в пр мом,.так и в инверсном включении.The goal is achieved due to the fact that the monitoring of the electrode breaks in the transistor is carried out by a newly introduced current control unit, which makes it possible to more reliably determine the health of transistors with any current transfer coefficient both in direct and inverse mode.

На фиг.1 представлена структурна схема устройства дл контрол исправности транзисторов; на фиг.2 - вариант выполнени блоков сравнени .Figure 1 shows a block diagram of a device for monitoring the health of transistors; Fig. 2 shows an embodiment of the comparison blocks.

Устройство содержит клеммы 1-3 дл подключени выводов контролируемого транзистора, генератор 4 разнопол рных импульсов, три блока 5-7 сравнени , дваThe device contains terminals 1–3 for connecting the outputs of a monitored transistor, a generator of 4 polarized impulses, three comparison units 5–7, two

резистора 8, 9, блок 10 контрол токов и элемент И 11.resistor 8, 9, block 10 control currents and the element And 11.

Выход генератора 4 разнопол рных импульсов подключен к первой клемме 1 дл подключени выводов контролируемого транзистора, треть 3 и втора 2 клеммы дл подключени выводов которого соответственно через первый 8 и второй 9 резисторы соединены с первым 12 и вторым 13 входами блока 10 контрол токов. Входы первого 5, второго 6 и третьего 7 блоков сравнени соединены соответственно с первой 1 и третьей 3, первой 1 и второй 2 , второй 2 и третьей 3 клеммами дл подключени выводов контролируемого транзистора. Выходы блоков 5-7 сравнени подключены к первым трем входам элемента И 11, четвертый вход которого соединен с выходом 14 блока 10 контрол токов. Выход элемента И 11 соединен с выходной шиной устройства 15. Блок 10 контрол токов выполнен в видеThe output of the generator 4 of bipolar pulses is connected to the first terminal 1 for connecting the terminals of the monitored transistor, the third 3 and the second 2 terminals for connecting the terminals of which, respectively, through the first 8 and second 9 resistors are connected to the first 12 and second 13 inputs of the current control unit 10. The inputs of the first 5, second 6 and third 7 comparison units are connected respectively to the first 1 and third 3, first 1 and second 2, second 2 and third 3 terminals for connecting the terminals of the monitored transistor. The outputs of the comparison blocks 5-7 are connected to the first three inputs of the element 11, the fourth input of which is connected to the output 14 of the current control unit 10. The output element And 11 is connected to the output bus of the device 15. The unit 10 control current is made in the form

четырех n-p-n-транзисторов 16-19, двух р-п-р- транзисторов 20, 21, четырех резисторов 22-25 и источника 26 напр жени .four npn transistors 16-19, two ppn transistors 20, 21, four resistors 22-25 and a voltage source 26.

Блоки 5-7 сравнени могут быть выполнены в виде источника 27 напр жени , первого 28 и второго 29 резисторов, двух источников 30 и 31 тока, двух компараторов 32, 33, двух диодов 34, 35, двух транзисторов 36, 37, третьего 38, четвертого 39 и п того 40 резисторов.Comparison units 5-7 can be made as voltage source 27, first 28 and second 29 resistors, two current sources 30 and 31, two comparators 32, 33, two diodes 34, 35, two transistors 36, 37, third 38, fourth 39 and of that 40 resistors.

Устройство работает следующим образом .The device works as follows.

Блоки 5-7 сравнени имеют один порог срабатывани . Если разность напр жений на входах блока сравнени по абсолютной величине не превышает заданный порог, то на его выходе напр жение близко к нулю. В противном случае на его выходе формируетс напр жение положительной пол рности, соответствующее уровню лог.1. Порог срабатывани блоков 5-7 сравнени выбирают несколько меньшим величины минимально возможной разности напр жений между коллектором и эмиттером насыщенного контролируемого транзистора, например 5 мЕ.Blocks 5-7 comparisons have a single threshold. If the difference in voltage at the inputs of the comparison unit does not exceed the specified threshold in absolute value, then at its output the voltage is close to zero. Otherwise, a positive polarity voltage is formed at its output, corresponding to the level of log.1. The trigger threshold of the 5-7 comparison units is chosen to be somewhat lower than the minimum possible voltage difference between the collector and the emitter of a saturated controlled transistor, for example, 5 mU.

Амплитуда импульсов генератора 4 раз- нопол рных импульсов и номиналы резисторов 8, 9, 22, 23 выбираютс такими, чтобы при подключении базы контролируе- мого транзистора к клемме 1 ток базы находилс в диапазоне от 0,15 до 0,44 мА, в котором разность напр жений между эмиттером и коллектором транзисторов положительна и лежит в диапазоне от 20 до 60 мВ. The amplitude of the pulses of the generator 4 different pulses and the ratings of resistors 8, 9, 22, 23 are chosen so that when the base of the controlled transistor is connected to terminal 1, the base current is in the range from 0.15 to 0.44 mA, in which the voltage difference between the emitter and the collector of the transistors is positive and lies in the range from 20 to 60 mV.

Блок 10 контрол токов формирует на своем выходе напр жение положительной пол рности при наличиии токов на обоих его входах. Если же ток отсутствует хот бы на одном входе блока 10, то на его выходе напр жение отсутствует.The current control unit 10 forms at its output a positive polarity voltage in the presence of currents at both its inputs. If there is no current at least at one input of block 10, then there is no voltage at its output.

Контролируемый транзистор произвольным образом подключаетс к клеммам 1-3. Если транзистор исправен, то при определенной пол рности генератора 4, когда транзистор открыт, разность напр жений между любыми двум его выводами по абсолютной величине превышает порог срабатывани блоков 5-7, и на их выходах имеют место напр жени лог.1. Когда испытуемый транзистор открыт, через резисторы 8 и 9 протекают токи, и на выходе блока 10 контрол токов формируетс сигнал лог.1. На выходе элемента И 11 в этот период также имеет место сигнал лог. 1.A controlled transistor is arbitrarily connected to terminals 1-3. If the transistor is in good condition, then at a certain polarity of the generator 4, when the transistor is open, the difference in voltage between any two of its outputs exceeds the threshold of the blocks 5-7 in absolute value, and a logic voltage is applied to their outputs. When the test transistor is open, currents flow through the resistors 8 and 9, and the output of the current control unit 10 forms a signal log.1. At the output of the element 11 in this period also takes place the signal log. one.

Поскольку в следующий период работы генератора 4 транзистор закрыт, на выходах блока 10 и элемента И 11 имеет место сигнал лог.О. Таким образом, при исправном транзисторе на выходе элемента И 11Since in the next period of operation of the generator 4, the transistor is closed, the output of the block 10 and the element And 11 there is a signal log.O. Thus, when a good transistor at the output element And 11

формируетс последовательность положительных импульсов.a sequence of positive pulses is formed.

Если внутри транзистора есть обрывы между выводами, то ток не протекает хот If there are breaks inside the transistor between the terminals, then the current does not flow though

бы через один из резисторов 8 или 9. В этом случае на выходах блока 10 и элемента И 11 посто нно присутствует сигнал лог.О, что свидетельствует о неисправности транзистора ,through one of the resistors 8 or 9. In this case, the output of the block 10 and the element And 11 is constantly present signal log.O, indicating a fault transistor,

Если внутри транзистора есть короткиеIf there are short inside the transistor

замыкани между выводами, то разность напр жений между соответствующими выводами близка к нулю, то есть меньше порога срабатывани соответствующего блокаshort circuit between the terminals, the voltage difference between the corresponding terminals is close to zero, i.e. less than the threshold of operation of the corresponding block

5-7 сравнени . На выходе этого блока имеет место сигнал лог.О, и на выходе элемента И 11 также имеет место сигнал лог.О, что свидетельствует о неисправности контролируемого транзистора.5-7 comparisons. The output of this block is the signal log. O, and the output of the element And 11 also has a signal log. O, which indicates a malfunction of the controlled transistor.

Устройство позвол ет определ ть исправность транзисторов любого типа проводимости при одном произвольном подключении его выводов к контактным клеммам.The device allows to determine the health of transistors of any type of conductivity with one arbitrary connection of its leads to the contact terminals.

5five

0 50 5

0 0

5 0 55 0 5

Claims

1. A device for monitoring the health of transistors, containing three terminals for connecting the terminals of a monitored transistor, the first of which is connected to the output of a generator of different polarity pulses, and the third and second to the first terminals of the first and second resistors, respectively, three comparison units, the inputs of the first of which connected to the first and third terminals respectively for connecting a monitored transistor; the first and second terminals for connecting which are connected respectively to the inputs of the second comparison unit, in torus and a third terminal for connecting a monitored transistor are connected respectively to the inputs of the third comparison unit, characterized in that, in order to increase the reliability of the control, it is equipped with an AND element and a current control unit, the inputs of which are connected respectively to the second terminals of the first and second resistors, the outputs the comparison and the output of the current control unit are connected respectively to the first, second, third and fourth inputs of the element I, the output of which is connected to the output bus of the device.

2. Pop 1 device, characterized in that the current control unit is made in the form of four npn transistors, two pnp transistors, four resistors and a voltage source, while the base of the first and the emitter of the second n -p-transistors

connected to the first input of the control unit and through the first resistor to the common bus of the device, the base of the fourth and the emitter of the third npp transistors are connected to the second input of the current control unit and through the second resistor to the common bus of the device, emitters of the first and fourth npn- transistors and bases of the second and third pn-transistors, collectors of the first and second npn transistors through

the third resistor is connected to the base of the first. pnp transistors, the collectors of the third and fourth npn transistors through the fourth resistor are connected to the base of the second pnp transistor, the emitter of which is connected to the voltage source, the collector of the second pnp transistor is connected to the emitter of the first pnp transistor, the collector of which is connected to the output of the control unit currents.

27

one

FIG. 2