KR970011437B1 - Interface apparatus for testing trunk of electronic switching system - Google Patents
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Abstract
Description
따라서, 본 발명은 상기한 점에 착안하여 안출한 것으로, 중계선을 통해 서로 연결된 전전자 교환기 상호간 또는 전전자 교환기와 중계선간의 고장여부를 자동으로 측정할 수 있는 전전자 교환기의 중계선 시험 정합장치를 제공하는데 그 목적이 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of the above-described point, and provides a relay line test matching device for an electronic switchboard which can automatically measure whether or not a failure between the electronic switchboards connected to each other through the relay line or between the electronic switchboard and the relay line is provided. Its purpose is to.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 계측기를 이용하여 임의의 전전자 교환기와 외부 전전자 교환기 상호간 또는 임의의 전전자교환기와 중계선 회로간의 동작상태를 체크하는 전전자 교환기의 중계선시험 정합장치에 있어서, 운용자가 사용하고자 하는 계측기가 디지탈 계측기인지 또는 아나로그 계측기인지의 여부에 따른 계측기 기능선택용 선택신호를 발생하는 기능 선택부, 상기 계측기 기능선택용 선택신호에 의거하여 상기 디지탈 또는 아나로그 계측기를 적응적으로 선택하기 위한 선택 제어신호를 발생하며, 상기 계측기 기능선택용 선택신호가 입력될 때 그에 상응하는 선택 계측기 인식을 위한 표시 제어신호를 발생하는 마이크로 프로세서, 상기 마이크로 프로세서로부터 제공되는 상기 표시 제어 신호에 응답하여, 상기 디지탈 또는 아나로그 계측기중 선택된 계측기의 사용상태를 디스플레이하는 기능선택 표시부, 상기 마이크로 프로세서로부터 제공되는 상기 선택 제어신호에 응답하여, 상기 중계선 회로에 연결된 상기 임의의 전전자 교환기와 상기 디지탈 계측기 또는 아나로그 계측기간의 신호 경로를 설정하는 시,공간 분할 선택부, 상기 임의의 전전자 교환기와 상기 디지탈 계측기간의 신호 경로가 설정될 때, 상기 디지탈 계측기로부터 제공되는 테스트 체크용 디지탈 신호를 상기 시,공간 분할 선택부로 제공하고, 상기 시,공간 분할 선택부를 통해 상기 임의의 전전자 교환기로부터 제공되는 테스트 판단용 디지탈 신호를 상기 디지탈 계측기로 제공하는 디지탈 계측기 정합부 및 상기 임의의 전전자 교환기와 상기 아나로그 계측기간에 상호 신호 경로가 설정될 때, 상기 아나로그 계측기로부터 제공되는 테스트 체크용 아나로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 상기 시,공간 분할 선택부로 제공하고, 상기 시,공간 분할 선택부를 통해 상기 임의의 전전자 교환기로부터 제공되는 테스트 판단용 디지탈 신호를 아나로그 신호로 변환하여 상기 아나로그 계측기로 제공하는 아나로그 계측기 정합부로 이루어진 전전자 교환기의 중계선 시험 정합장치를 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention, in the relay line test matching device of the electronic switchboard to check the operation state between any electronic switch and the external electronic switch, or any electronic switch and the relay circuit using a measuring instrument A function selection unit for generating a measurement function selection signal for selecting a function according to whether the measurement device to be used by the operator is a digital measurement device or an analog measurement device; and the digital or analog measurement device based on the selection function selection function for the measurement device function. A microprocessor for generating a selection control signal for adaptive selection and generating a display control signal for recognition of a selection instrument corresponding to the selection of the selection function for the instrument function selection; the display control provided from the microprocessor In response to the signal, the digital or A function selection display for displaying a usage state of a selected one of an analog measuring instrument, the electronic switch and any digital measuring device or analog measuring period connected to the relay circuit in response to the selection control signal provided from the microprocessor. When the signal path is set, the spatial segmentation selector, the arbitrary electronic switch and the digital path for the test check provided from the digital measuring instrument are provided to the time and space segmentation selector when the signal path of the digital measurement period is set. And a digital measuring device matching unit for providing a digital signal for test determination provided from the arbitrary electronic switching device to the digital measuring device through the time and space division selection unit, and the arbitrary electronic switching device and the analog measuring period. When the signal path is established, the Converts a test check analog signal provided from a analog measuring instrument into a digital signal and provides it to the time and space division selector, and the test judgment digital signal provided from the arbitrary electronic switch through the time and space division selection unit. Provides a relay line test matching device of the all-electronic exchanger consisting of an analog measuring unit matching unit to convert the analog signal to the analog measuring unit.
제1도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 중계선 시험 정합장치를 적용하는 데 적합한 전전자 교환기와 계측기간을 개략적으로 도시한 전체 시스템의 블록도.1 is a block diagram of an overall system schematically showing an electronic switch and a measurement period suitable for applying a trunk line test matching device of the electronic switch according to the present invention.
제2도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전전자 교환기의 중계선 시험 정합장치의 블록도.2 is a block diagram of a relay line test matching device of an electro-electric exchanger according to a preferred embodiment of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
121 : 디지탈 계측기 정합부122 : 아나로그 계측기 정합부121: digital measuring device matching unit 122: analog measuring device matching unit
123 : 시,공간 분할 선택부124 : 마이크로 프로세서123: space and time division selection unit 124: microprocessor
125 : 기능선택 표시부126 : 기능 선택부125: function selection display 126: function selection
본 발명의 상기 및 기타 목적과 여러가지 장점은 이 기술분야에 숙련된 사람들에 의해 첨부된 도면을 참조하여 하기에 기술되는 본 발명의 바람직한 실시예로 부터 더욱 명확하게 될 것이다.The above and other objects and various advantages of the present invention will become more apparent from the preferred embodiments of the present invention described below with reference to the accompanying drawings by those skilled in the art.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제1도는 본 발명에 따른 전전자 교환기의 중계선 시험 정합장치를 적용하는 데 적합한 전전자 교환기와 계측기간을 개략적으로 도시한 전체 시스템의 블록도를 나타낸다.FIG. 1 shows a block diagram of the entire system which schematically shows the electronic switchboard and the measurement period suitable for applying the trunk line test matching device of the electronic switchboard according to the present invention.
동도면에 도시된 바와같이, 전체 시스템은 중계선 시험 정합장치(120), 전전자 교환기(130) 및 중계선 회로(140)를 포함하며, 또한 전전자 교환기(130)는 스위치장치(131), 중계선 정합장치(132), 스위치 제어장치(133) 및 중계선 제어장치(134)를 포함한다.As shown in the figure, the entire system includes a trunk line test matcher 120, an electrical switchboard 130 and a relay line circuit 140, and the electrical switch 130 includes a switch device 131, a relay line. And a matching device 132, a switch control device 133, and a relay line control device 134.
제1도를 참조하면, 중계선 시험 정합장치(120)는, 실질적으로 본 발명에 관련되는 부분인 것으로, 도시 생력된 계측기의 출력라인과 전전자 교환기(130)의 전송라인간에 결합되어, 운용자가 운용자 단말을 통해 전전자 교환기(130)의 스위치제어장치(133)로 스위칭을 요구할 때 중계선 회로(140)를 통해 도시 생략된 다른 전전자 교환기와 그에 상응하는 데이터 통신을 개시하고, 이때 송수신되는 신호를 스위치 장치(131)를 통해 제공받아 체크함으로써, 전전자 교환기(130)와 이에 연결된 다른 전전자 교환기간 또는 전전자 교환기(130)와 중계선 회로(140)간의 고장여부를 판단한다.Referring to FIG. 1, the relay line test matching device 120 is a part substantially related to the present invention, and is coupled between an output line of an illustrated instrument and a transmission line of an electrical exchanger 130. When a switch request is made to the switch control device 133 of the all-electronic exchange 130 through the operator terminal, the relay line circuit 140 initiates corresponding data communication with the other all-electronic switching system not shown, and at this time, a signal transmitted and received. Is provided through the switch device 131 and checked to determine whether there is a failure between the electronic switch 130 and other electronic switch periods connected thereto or between the electronic switch 130 and the relay circuit 140.
즉, 중계선 시험 정합장치(120)에서는 운용자의 요구에 따라 전전자 교환기(130)와 다른 전전자 교환기 또는 전전자 교환기와 중계선 회로(130)간의 고장여부를 체크하며, 그 체크결과에 따라 고정야부 판단신호를 도시 생략된 계측기(디지탈 계측기 및/또는 아나로그 계측기)로 제공한다. 이러한 중계선 시험 정합장치(120)에서의 구체적인 동작과정에 대해서는 그 세부적인 블록구성을 도시한 제2도를 참조하여 후에 상세하게 기술될 것이다.That is, the relay line test matching device 120 checks whether there is a failure between the electronic switch 130 and the other electronic switch or the electronic switch and the relay line circuit 130 according to the operator's request, and according to the check result, The determination signal is provided to a measuring instrument (digital measuring instrument and / or analog measuring instrument) not shown. A detailed operation process of the relay line test matching device 120 will be described later in detail with reference to FIG. 2 showing the detailed block configuration.
다음에, 전전자 교환기(130)는 상기한 중계선 시험 정합장치(120)와 중계선 회로(140)간을 연결하여 도시 생략된 외부 전전자 교환기와의 상호 통신을 수행하는 것으로, 운용자에 의해 발생하는 고장여부 체크를 위한 제어신호가 입력될 때 중계선 회로(140)를 통해 외부 전전자 교환기로부터 수신되는 신호를 중계선 시험 정합장치(120)에 제공한다.Next, the electric switch 130 is connected to the trunk line test matching device 120 and the relay line circuit 140 to perform mutual communication with an external electric switch not shown, which is generated by the operator. When a control signal for checking for a failure is input, the relay line test matching device 120 provides a signal received from the external electronic switch through the relay line circuit 140.
제1도를 참조하면, 스위치 장치(131)는 스위치 제어장치(133)로부터의 스위칭 제어신호에 의거하여 외부의 다른 교환기와의 호 연결을 수행하고, 스위치 제어장치(133)는 운용자에 의해 발생하는 고장여부 체크를 위한 제어신호에 의거하여 상기한 스위치 장치(131)의 접속을 제어하는 스위칭 제어신호를 발생한다.Referring to FIG. 1, the switch device 131 performs a call connection with another external exchange based on a switching control signal from the switch control device 133, and the switch control device 133 is generated by the operator. A switching control signal for controlling the connection of the switch device 131 is generated based on a control signal for checking whether a failure occurs.
또한, 중계선 정합장치(132)는, 중계선 제어장치(134)로부터 제공되는 정합 제어신호에 의거하여, 상기한 스위치 장치(131)와 중계선 회로(140)간에 연결되어 교환기간 상호 통신이 가능하도록 정합하며, 중계선 제어장치(134)는 운용자에 의해 발생하는 고장여부 체크를 위한 제어신호에 의거하여 상기한 중계선 정합장치(132)의정합을 제어하는 제어신호를 발생한다.In addition, the relay line matching device 132 is connected between the switch device 131 and the relay line circuit 140 on the basis of the matching control signal provided from the relay line control device 134 so as to enable mutual exchange communication. In addition, the relay line control device 134 generates a control signal for controlling the matching of the relay line matching device 132 based on a control signal for checking whether a failure occurs by an operator.
한편, 중계선 회로(140)는 대국간(또는 전전자 교환기간)에 상호 통신이 수행될 때 발생하는 각종 신호를 중계하는 것으로, 제1도에서의 도시는 생략되었으나 그의 타측 출력은 외부 교환기의 중계선 정합장치에 연결된다.On the other hand, the relay line circuit 140 is to relay various signals generated when the communication between the power (or electronic switch period) is performed, the illustration in Figure 1 is omitted, but the other output of the relay line of the external exchange It is connected to the matching device.
다음에, 본 발명에 따른 중계선 시험 정합장치의 동작과정에 대하여 제2도를 주로 참조하여 상세하게 설명한다.Next, the operation of the relay line test matching device according to the present invention will be described in detail with reference to FIG. 2.
제2도는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전전자 교환기의 중계선 시험정합장치의 블록도를 나타낸다.Figure 2 shows a block diagram of a relay line test matching device of an electronic switching system according to a preferred embodiment of the present invention.
동도면에 도시된 바와같이, 본 발명의 중계선 시험 정합장치는 디지탈 계측기 정합부(121), 아나로그 계측기(122), 시,공간 분할 선택부(123), 마이크로 프로세서(124), 기능선택 표시부(125) 및 기능 선택부(126)를 포함한다.As shown in the drawing, the relay test matching device of the present invention includes a digital measuring device matching unit 121, an analog measuring unit 122, a time and space division selecting unit 123, a microprocessor 124, and a function selection display unit. 125 and a function selector 126.
제2도를 참조하면, 기능 선택부(126)는 계측기의 종류, 즉 운용자가 사용하고자 하는 계측기가 디지탈 계측기인지 또는 아나로그 계척기인지의 여부에 따른 계측기 기능선택용 선택신호를 발생하여 마이크로 프로세서(124)에 제공한다.Referring to FIG. 2, the function selector 126 generates a microprocessor by generating a selection signal for selecting a function of the instrument according to the type of the instrument, ie, whether the instrument to be used by the operator is a digital instrument or an analog scale instrument. Provided at 124.
다음에, 마이크로 프로세서(124)는 상기한 기능 선택부(126)로부터 제공되는 계측기 기능선택용 선택신호에 의거하여 계측기 선택 제어신호를 발생하며, 여기에서 발생된 계측기 선택 제어신호는 운용자 기능선택에 대응하여 디지탈 계측기 정합부(121) 또는 아나로그 계측기 정합부(122)를 선택하도록 시,공간 분할 선택부(123)로 제공된다.Next, the microprocessor 124 generates an instrument selection control signal based on the instrument function selection selection signal provided from the function selection unit 126, and the instrument selection control signal generated here is applied to the operator function selection. It is provided to the time and space division selection unit 123 to select the digital meter matching unit 121 or the analog meter matching unit 122 correspondingly.
또한, 마이크로 프로세서(124)는 상기한 기능 선택부(126)로부터 제공되는 계측기 기능선택용 선택신호가 입력될 때, 운용자가 이를 인식할 수 있도록 디스플레이하는 표시 제어신호를 발생하여 기능선택 표시부(125)에 제공한다. 따라서, 기능선택 표시부(125)에서는 현재 운용자에 의해 선택된 계측기가 디지탈 계측기인지 아니로그 계측인지 여부가 디스플레이된다.In addition, the microprocessor 124 generates a display control signal to be displayed so that the operator can recognize when the selection function of the instrument function selection provided from the function selection unit 126 is input, the function selection display unit 125 To provide. Therefore, the function selection display unit 125 displays whether the measuring instrument currently selected by the operator is a digital measuring instrument or a log measuring instrument.
한편, 아나로그 계측기 정합부(122)는 도시 생략된 외부의 아나로그 계측기의 출력라인과 연결되는데, 아나로그 계측기로부터 제공되는 아나로그 신호를 디지탈 신호로 변환하여 시,공간 분할 선택부(123)에 제공하거나 또는 시,공간 분할 선택부(123)를 통해 외부의 전전자 교환기로부터 제공되는 디지탈 신호를 아날로그 신호로 변환하여 외부 아나로그 계측기로 제공하는 것으로, 계측기의 신호방식 종류에 따라 600Ohm 또는 900Ohm 임피던스 정합이 가능하도록 구현할 수 있다.Meanwhile, the analog measuring unit matching unit 122 is connected to an output line of an external analog measuring unit (not shown), and converts the analog signal provided from the analog measuring unit into a digital signal, thereby separating the time and space division selecting unit 123. The digital signal provided from the external electronic switch through the time and space division selector 123 is converted into an analog signal and provided to an external analog measuring instrument. Depending on the signal type of the measuring instrument, 600 Ohm or 900 Ohm. Impedance matching can be implemented.
다른한편, 디지탈 계측기(121)는 도시 생략된 외부의 디지탈 계측기의 출력라인과 연결되는 데, 디지탈 계측기에서 제공되는 디지탈 신호를 시,공간 분할 선택부(123)로 제공하거나 또는 시,공간 분할 선택부(123)를 통해 외부의 전전자 교환기로부터 제공되는 디지탈 신호를 외부 디지탈 계측기로 제공하는 것으로, DS1급 신호인 E1 신호 정합이 가능하도록 T1/E1 트랜시브인 래밸 원사의 304A를 사용하고, E1 프레임 발생기인 미크사의 MT8979를 사용하여 구현할 수 있다.On the other hand, the digital measuring instrument 121 is connected to the output line of the external digital measuring instrument (not shown), and provides a digital signal provided by the digital measuring instrument to the time and space division selecting unit 123 or selecting the time and space division. The digital signal provided from the external electronic switch through the external unit 123 is provided to an external digital measuring instrument, and 304A of a Laval yarn of T1 / E1 transceiver is used to enable E1 signal matching, which is a DS1 level signal, and E1 It can be implemented using MIKE MT8979 frame generator.
다음에, 시,공간 분할 선택부(123)는, 전술한 마이크로 프로세서(124)로부터 제공되는 계측기 선택 제어신호에 응답하는 스위칭 동작에 의거하여, 제1도에 도시된 전전자 교환기(130)내의 스위치 장치(131)를 통해 외부의 전전자 교환기로부터 수신되는 신호를 디지탈 계측기 정합부(121) 또는 아나로그 계측기 정합부(122)로 제공하거나 또는 이들중의 어느 하나로부터 수신되는 신호를 제1도에 스위치 장치(131)로 제공하는 것으로, 이러한 시,공간 분할 선택부(123)로서는, 예를들면 미트사의 MT8980을 사용할 수 있다.Next, the time and space division selector 123 performs a switching operation in response to the instrument selection control signal provided from the microprocessor 124 described above. A signal received from an external electronic switch through the switch device 131 is provided to the digital meter matching unit 121 or the analog meter matching unit 122, or a signal received from any one of them is shown in FIG. By providing the switch device 131, Mitt's MT8980 can be used as the space and time division selection unit 123, for example.
따라서, 본 발명에 따른 중계선 시험 정합장치는 운용자가 언제든지 전전자교환기에 상호 연결되는 디지탈 계측기 또는 아나로그 계측기를 이용하여 전전자 교환기간 또는 전전자 교환기와 중계선 회로간의 각종 고정여부를 확실하게 체크/판단할 수 있다.Therefore, the trunk line test matching device according to the present invention reliably checks whether the operator switches at any time by using a digital measuring instrument or an analog measuring instrument interconnected to the electrical exchanger or all kinds of fixing between the electrical exchanger and the relay circuit. You can judge.
이상 설명한 바와같이 본 발명에 따르면, 전전자 교환기와 디지탈 계측기 또는 아나로그 계측기간을 서로 결합시켜 운용 테스트에 따른 각종 신호를 테스트할 수 있도록 함으로써, 여러 가지 외적요인으로 인해 전전자 교환기 상호간 또는 전전자 교환기와 중계선간에 고장, 장애 등이 발생하더라도 이러한 고장(또는 장애) 상태를 확실하게 체크/판단할 수 있어 고장에 따른 유지보수를 효과적으로 수행할 수 있다.As described above, according to the present invention, by combining the electronic switch and the digital measuring instrument or the analog measuring period to test various signals according to the operation test, due to various external factors, Even if a failure or failure occurs between the exchange and the relay line, such a failure (or failure) can be checked and judged reliably so that maintenance according to the failure can be effectively performed.
발명이 속하는 기술분야 및 그 분야의 종래기술The technical field to which the invention belongs and the prior art in that field
본 발명은 전전자 교환기의 중계선 정합장치에 관한 것으로, 특히 전전자 교환기 상호간과 전전자 교환기와 임의의 중계선과의 고장여부 및 고정정도를 측정하는 데 적합한 전전자 교환기의 중계선 시험 정합장치에 관한 것이다.The present invention relates to a relay line matching device for an electronic switch, and more particularly, to a relay line test matching device for an electronic switch, which is suitable for measuring the failure and fixability between the electronic switch and the electronic switch and any relay line. .
전전자 교환기와 다른 전전자 교환기간에는 보다 효율적인 데이터통신을 위해 중계선이 접속된다.Relay switches are connected for more efficient data communication during switchboards and other switchboards.
따라서, 전전자 교환기 상호간 또는 전전자 교환기와 중계선간에는 여러 가지 외적요인으로 인해 고장등이 발생될 수 있는데, 이와같이 고장이 발생하는 경우 종래에는 이러한 고장여부 또는 고장정도를 체크할 수 있는 측정 시스템이 결합되지 않은 관계로 이들의 현재 동작상태를 정확하게 파악할 수 없다는 문제점이 있었다.Therefore, failures may occur due to various external factors between the electronic switchboards or between the electronic switchboards and the trunk line. In the event of such a failure, a measurement system capable of checking such a failure or the degree of failure is conventionally combined. There was a problem in that they could not accurately grasp their current operating state.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940006461A KR970011437B1 (en) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | Interface apparatus for testing trunk of electronic switching system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940006461A KR970011437B1 (en) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | Interface apparatus for testing trunk of electronic switching system |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR970011437B1 true KR970011437B1 (en) | 1997-07-10 |
Family
ID=19379925
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019940006461A KR970011437B1 (en) | 1994-03-30 | 1994-03-30 | Interface apparatus for testing trunk of electronic switching system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR970011437B1 (en) |
-
1994
- 1994-03-30 KR KR1019940006461A patent/KR970011437B1/en not_active IP Right Cessation
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