KR960001736Y1

KR960001736Y1 - Apparatus of testing parts in pcb

Info

Publication number: KR960001736Y1
Application number: KR2019930002353U
Authority: KR
Inventors: 박태욱
Original assignee: 국제창업투자 주식회사; 이호일; 박태욱
Priority date: 1993-02-20
Filing date: 1993-02-20
Publication date: 1996-02-22
Also published as: KR940021540U

Abstract

내용 없음.No content.

Description

Component Inspection Device of Circuit Board

제1도는 본 고안 부품검사장치가 접속된 상태의 접속상태도.1 is a connection state of the present invention parts inspection device is connected.

제2도는 본 고안 부품검사장치의 전체 제어 블럭도.2 is an overall control block diagram of the component inspection device of the present invention.

제3도는 본 고안 부품검사장치의 상세 회로도.3 is a detailed circuit diagram of the component inspection device of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

1 : 검사하고자하는 회로기판 1' : 양호한 회로기판1: Circuit board to be inspected 1 ': Good circuit board

2 : 멀티플랙서 3 : 부품검사장치2: multiplexer 3: component inspection device

4 : 오실로스코프 가 : 키선택부4: Oscilloscope A: Key Selection

나 : 단선단락 검사부 다 : 표시신호 출력부B: disconnection short circuit inspection part c: display signal output part

라 : 양호불량표시부 A : 키보드부D: Poor display part A: Keyboard part

B : 마이콤 C : 램B: Micom C: Ram

D : 병렬 입출력 인터페이스 E : 디코더D: Parallel input / output interface E: Decoder

F : 버퍼 G : 2진 10진 변환기F: Buffer G: Binary Decimal Converter

H : 릴레이 I : 비교기H: Relay I: Comparator

J : 표시부J: display section

본 고안은 회로기판의 부품검사장치에 관한 것으로, 특히 회로기판상에 검사하고자 하는 부품전체를 손쉽게 검사해 낼 수 있도록 회로기판의 부품검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a component inspection apparatus for a circuit board, and more particularly, to a component inspection apparatus for a circuit board so that the entire component to be inspected on the circuit board can be easily inspected.

종래 회로기판의 부품검사장치는 검사자가 회로기판에 장착된 회로부품을 부품검사장치의 프로우브를 이용하여 일일이 검사를 하도록 되어 있어 검사하는데 번거로움이 있을뿐만 아니라, 검사시간이 길어져 효율적인 검사를 할 수 없는 문제점을 가지고 있었다.Conventional circuit board component inspection device is to inspect the circuit components mounted on the circuit board by using the probe of the component inspection device, not only hassle to inspect, but also the inspection time is long, so that efficient inspection can be performed. I could not have a problem.

따라서 본 고안의 목적은 회로기판상의 검사하고자 하는 회로부품을 프로우브를 이용하여 일일이 검사하지 않고, 한번에 다수의 부품을 접속하여 검사자의 선택에 의하여 검사를 할 수 있는 것은 물론 제어순서를 프로그램하여 자동으로 검사할 수 있어 검사장치 이용에 편리함을 주고자 하는데 있으며, 상기의 목적을 실현하기 위해 본 고안은 회로기판의 회로부품의 단선 단락 및 정상 유무 상태를 검사해 낼 수 있는 회로기판의 부품검사 장치에 있어서, 상기 검사장치에 검사하고자 하는 회로기판의 회로부품을 다중으로 접속하여 선택신호에 의해서 선택된 부품의 단선 단락 및 양호불량 상태를 검사해 낼 수 있는 멀티플렉서를 분비하여서 된 것을 특징으로 한다.Therefore, the purpose of the present invention is not to inspect the circuit components to be inspected on the circuit board by using probes, but to inspect a plurality of components at the same time by the inspector's choice, as well as program the control sequence automatically. In order to realize the above object, the present invention provides a circuit board component inspection device capable of inspecting a short circuit and normal state of circuit components of a circuit board. The method is characterized in that it comprises a multiplexer capable of connecting a plurality of circuit components of a circuit board to be inspected to the inspection apparatus to inspect the disconnection short circuit and the defective state of the component selected by the selection signal.

이하 첨부된 도면에 의거 본 고안을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제1도는 본 고안 부품검사 장치가 이용되는 상태를 보인 블럭도 로서, 1은 검사될 회로기판 이고, 1'는 정상 회로기판 이다.1 is a block diagram showing a state in which the device inspection apparatus of the present invention is used, where 1 is a circuit board to be inspected and 1 'is a normal circuit board.

2는 멀티플렉서 로서 검사하고자 하는 부품을 다중으로 접속하여 검사해 낼수 있도록 되어 있다.2 is a multiplexer that allows multiple parts to be inspected by connecting them.

3은 부품검사장치 로서, 검사하고자 선택된 회로부품과 양호한 회로기판에서 감지된 신호 와 비교 검사한 후 검사된 상태를 출력 표시하도록 되어있다.3 is a component inspection device, which compares the circuit component selected to be inspected with a signal detected by a good circuit board, and displays the inspected state after output.

4는 오실로스코프 로서 상기 부품검사장치에서 출력된 신호를 리사쥬 도형으로 표시하게 된다.4 is an oscilloscope to display a signal output from the component inspection device in a Lissajous figure.

제2도는 본 고안 부품검사장치의 제어블럭도 이고, 제3도는 본 고안 부품검사장치의 상세 회로도 로서, 검사하고자 하는 회로부품의 출력모드를 선택하는 키선택부(가)와, 상기 키선택부(가)에서 선택된 회로부품의 단선단락을 검사하는 단선 단락 검사부(나)와, 상기 단선 단락 검사부(나)에서 검사된 신호를 표시하는 표시신호출력부(다)와, 상기 단선 단락 검사부(나)에서 단락신호의 차신호 만을 비교하여 양호 불량상태를 표시하는 양호 불량 표시부(라)로 구성된 부품검사장치에 있어서, 검사하고자 하는 회로부품을 선택하는 키보드부(A)와, 상기 키보드부(A)에서 입력된 신호를 소정의 프로그램에 의하여 제어하고 제어된 신호를 출력하는 마이콤(B)과, 상기 마이콤(B)으로 부터 제어된 데이타신호를 어드레스/데이타 버스 와 래치를 통해서 일시기억 하는 램(C)과, 상기 마이콤(B)의 출력포트로 부터 출력되는 제어된 신호를 병렬로 입출력하는 병렬 입출력 인터페이스(D)와, 상기 병렬 입출력 인터페이스(D)로 부터 어드레스신호를 받아 해독하는 디코더(E)와, 상기 병렬 입출력 인터페이스(D)로 부터 출력되는 데이타신호를 일시저장하고 상기 디코더(E)의 선택신호에 의하여 해당신호를 출력하는 버퍼(F)와, 상기 버퍼(F)로 부터 출력된 2진데이타신호를 10진 데이타신호로 변환하는 2진 10진 변환기(G)와,2 is a control block diagram of the component inspection device of the present invention, and FIG. 3 is a detailed circuit diagram of the component inspection device of the present invention, wherein a key selection unit for selecting an output mode of a circuit component to be inspected is provided. A short circuit short circuit inspection section (b) for inspecting a short circuit of the circuit component selected in (a), a display signal output section (c) for displaying a signal inspected by the short circuit short circuit inspection section (b), and the short circuit short circuit inspection section (b). A component inspection device comprising a good defective display unit (D) for comparing a difference signal of a short circuit signal with a short signal to indicate a good bad state, the keyboard portion A for selecting a circuit component to be inspected and the keyboard portion A Microcomputer B which controls the signal inputted by the predetermined program and outputs the controlled signal, and temporarily stores the data signal controlled by the microcomputer B through the address / data bus and the latch. RAM (C), a parallel input / output interface (D) for inputting and outputting in parallel a controlled signal output from the output port of the microcomputer (B), and receiving and decoding an address signal from the parallel input / output interface (D). A buffer (F) for temporarily storing the data signal output from the decoder (E), the parallel input / output interface (D), and outputting the corresponding signal according to the selection signal of the decoder (E), and the buffer (F). A binary decimal converter (G) for converting the binary data signal output from the binary data signal;

상기 2진 10진 변환기(G)에 검사될 회로기판의 회로부품들과 양호한 회로기판의 회로부품들과 각각 채널(CH1)(CH2)로 접속되는 릴레이(H)와, 상기 릴레이(H)에는 상기 검사될 회로기판의 회로부품과 양호한 회로기판의 회로부품으로부터 부품의 양호불량을 검출하기 위하여 멀티플렉서 로부터 선택된 채널의 입력신호를 비교하여 상기 마이콤(B)에 입력시키는 비교기(I)로 구성시켜서 된 것이다.The relay H connected to the channels CH1 and CH2, respectively, with the circuit components of the circuit board to be inspected and the circuit components of the good circuit board to be inspected in the binary decimal converter G. Comprising a comparator (I) for comparing the input signal of the channel selected from the multiplexer and input to the microcomputer (B) in order to detect the defective part of the component from the circuit component of the circuit board to be inspected and the circuit component of the good circuit board. will be.

도면중 미설명 부호 J는 선택된 부품을 디스플레이하는 표시부 이다.In the figure, reference numeral J is a display unit for displaying a selected part.

상기와 같이 구성 된 본 발명의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.Referring to the effects of the present invention configured as described above are as follows.

먼저, 부품검사장치(3)의 X축 단자와 Y축단자를 오실로스코프(4)에 연결시키고, 상기 부품검사장치(3)내의 멀티플렉서(2)의 채널(CH1)(CH2)을 검사하고자 하는 회로기판의 회로부품과 양호한 회로기판의 회로부품과 접속을 시킨다.First, an X-axis terminal and a Y-axis terminal of the component inspecting apparatus 3 are connected to the oscilloscope 4, and a circuit to test the channels CH1 (CH2) of the multiplexer 2 in the component inspecting apparatus 3 is performed. The circuit parts of the board and the circuit parts of a good circuit board are connected.

상기와 같이 접속한 상태에서 감서자는 부품검사장치(3)의 키선택부(가)를 통해서 검사하고자 하는 모드를 선택하고, 이어서 키보드부(A)를 통해서 검사하고자 하는 회로부품을 선택, 또는 자동모드로 놓게하게 되면 상기 부품선택신호는 멀티플렉서(2)출력이 마이콤(A)에 입력되게 되고, 이 입력된 신호는 상기 마이콤(B)의 소정의 프로그램에 의하여 제어되며 이 제어된 신호는 표시부(J)로 출력시켜 선택된 부품을 표시시키게 되며, 또한 상기 마이콤(B)에서는 어드레스버스(AB), 데이타버스(DB) 및 래치(LATCH)를 통해서 램(C)에 어드래스신호 와 데이타신호를 보내 선택된 모드 및 선택된 부품의 채널을 일시 기억시키고, 이미 기억된 모드 및 선택된 부품의 채널을 읽어내게 된다.In the connected state as described above, the auditor selects a mode to be inspected through the key selection unit (A) of the component inspecting apparatus (3), and then selects a circuit component to be inspected through the keyboard unit (A) or automatically When the device is placed in the mode, the component selection signal is inputted to the microcomputer A, and the output of the multiplexer 2 is controlled by a predetermined program of the microcomputer B, and the controlled signal is displayed on the display unit ( J) outputs the selected part and displays the selected part. In addition, the microcomputer B sends an address signal and a data signal to the RAM C through the address bus AB, the data bus DB, and the latch LATCH. The selected mode and the channel of the selected part are temporarily stored, and the already stored mode and the channel of the selected part are read out.

그리고 상기 마이콤(B)에서는 선택된 데이타신호와 어드레스신호를 출력포트(P0-P3)를 통해서 병렬 입출력 인터페이스(D)에 출력시키면 상기 병렬 입출력 인터페이스(D)에서는 출력단을 통해서 버퍼(F)로 출력시키는 동시에 어드레스 신호를 디코더(E)에 입력시키게 된다.The microcomputer B outputs the selected data signal and the address signal to the parallel input / output interface D through the output ports P0-P3, and the parallel input / output interface D outputs the buffer to the buffer F through the output terminal. At the same time, an address signal is inputted to the decoder E.

따라서 상기 디코더(E)에서는 상기 병렬 입출력 인터페이스(D)로 부터 출력되는 어드레스신호를 해독하여 해독된 신호를 상기 버퍼(F)에 입력시키게 되며, 상기 버퍼(F)에서는 해당되는 버퍼 만이 구동하면서 해당 버퍼(F)에서는 2진화 데이타 신호를 2진 10진 변환기(G)로 출력시키게 되고, 상기 2진 10진 변환기(G)에서는 2진 데이타를 10진 데이타 신호로 변환하여 상기 검사될 회로기판의 회로부품과 양호한 회로기판의 회로부품이 접속된 채널(CH1)(CH2)의 릴레이(H)중 상기 검사자가 선택한 회로부품에 해당하는 릴레이(H)를 선택하여 릴레이(H)를 구동시키게 되며, 비교기(I)에서는 상기 선택된 검사될 회로부품과 양호한 회로부품으로 부터 신호를 비교하여 비교된 출력의 불량여부를 상기 마이콤(A)에 입력시켜 부품의 정상 불량 상태를 판단하고 양호 불량 표시부(라)를 통해서 양호 불량을 표시토록 하는 동시에, 상기 선택된 회로부품 및 양호한 회로부품으로 부터의 신호는 단선 단락 검사부(나)에 입력되어 입력된 신호에 대하여 단선 단락을 검사하고 이 검사된 신호는 상기 표시신호출력부(다) 및 오실로스코프(4)로 입력시켜 검사되는 부품이 단선 인가, 단락 인가를 램프 로서 표시하고, 리사쥬 도형으로 표시 하게 함으로써, 검사하고자 하는 회로부품의 단선 단락 및 양호 불량 상태를 용이하게 검사할 수 있게 되는 것이다.Accordingly, the decoder E decodes the address signal output from the parallel input / output interface D and inputs the decoded signal to the buffer F. In the buffer F, only the corresponding buffer is driven while the corresponding signal is driven. The buffer F outputs the binary data signal to the binary decimal converter G, and the binary decimal converter G converts the binary data into a binary data signal to determine the circuit board to be inspected. Among the relays H of the channels CH1 and CH2 to which the circuit parts and the circuit parts of the good circuit board are connected, the relay H corresponding to the circuit parts selected by the inspector is selected to drive the relay H. Comparator (I) compares signals from the selected circuit component to be inspected with the good circuit component and inputs the defective output of the compared output to the microcomputer (A) to determine the normal defective state of the component and the good defective table At the same time, a good part is displayed through the visual part (D), and signals from the selected circuit part and the good circuit part are inputted to the short circuit short circuit checker (b) to check the short circuit for the input signal, and to check the checked signal. Is inputted to the display signal output unit (c) and oscilloscope (4) to indicate that a broken or applied short circuit is indicated by a lamp and displayed in a Lissajous diagram, and the short circuit and good of the circuit component to be inspected is displayed. It is easy to check the bad state.

이상에서 설명한 바와같이 본 고안은 검사하고자 하는 회로기판의 회로부품과 양호한 회로기판의 회로부품에 멀티플렉서를 이용하여 다중접속 한후, 검사자의 선택에 따라 검사하고자 하는 회로부품이 자동으로 선택되면서 부품의 단선 단락 및 양호 불량 상태를 검사하고 표시하도록 함으로써 종래에 검사하고자 하는 회로 부품을 일일이 프로우브로 접속시켜 가면서 검사하여야 하는 번거로움으로 야기 되는 문제점을 해소할 수 있는 효과를 제공하게 되는 것이다.As described above, the present invention uses a multiplexer to multiplex the circuit parts of the circuit board to be inspected and the circuit parts of the good circuit board, and then selects the circuit parts to be inspected automatically according to the inspector's choice. By inspecting and displaying a short circuit and a good defective state, it is possible to provide an effect that solves the problems caused by the trouble of inspecting the circuit parts to be inspected by connecting probes one by one.

Claims

A key selector for selecting an output mode of the circuit component to be inspected, a short-circuit short-circuit checker (b) for inspecting disconnection short-circuits of the circuit component selected by the key selector (b), and a short circuit short-circuit checker (b) A component inspection device comprising a display signal output unit (C) for displaying a signal inspected by a signal) and a good defect display unit (D) for comparing a difference signal between short circuit signals in the short-circuit short circuit inspection unit (B) to display a good defective state. A keyboard unit A for selecting a circuit component to be inspected, a microcomputer B for controlling a signal input from the keyboard unit A by a predetermined program and outputting a controlled signal, and the microcomputer RAM (C) for temporarily storing the data signal controlled by (B) through the address / data bus and the latch, and parallel input / output for inputting and outputting in parallel the controlled signal output from the output port of the microcomputer (B). The interface D, a decoder E for receiving and decoding an address signal from the parallel input / output interface D, and a data signal output from the parallel input / output interface D temporarily stored, A buffer (F) for outputting the corresponding signal by a selection signal, a binary decimal converter (G) for converting the binary data signal output from the buffer (F) into a decimal data signal, and the binary 10 The circuit parts of the circuit board to be inspected in the binary converter G and the circuit parts of the good circuit board and the relay H connected to the channel CH1 and CH2, respectively, and the relay H to the circuit to be inspected. And a comparator (I) inputted to the microcomputer (B) in order to detect defective parts of components from circuit parts of a board and a circuit part of a good circuit board.