KR930002339B1 - 짧은 직선 벡터의 곡선 세그멘트에 3차 베지어(Bzxier)곡선을 정합시키는 방법 - Google Patents
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Abstract
내용 없음.
Description
제1도는 짧은 직선 벡터의 예를 나타내는 도면
제2도는 본 발명 실시예에 있어서의 3점의 곡선 정합처리 플로우챠트.
제3도는 3점의 곡선 정합 처리를 설명하기 위한 도면.
제4a도 내지 제4c도는 5점의 곡선처리 플로우챠트.
제5도는 5점의 곡선 정합처리를 설명하기 위한 도면.
제6a도 내지 제6c도는 제4c도에 있어서 작성되는 테이블의 구성을 나타낸 도면.
본 발명은 짧은 직선 벡터의 곡선 세그멘트에 3차 베지어(Bezier)곡선을 정합시키는 방법에 관한 것이다, 컴퓨터 그래픽스, CAD(Computer Aided Design), 아우트라인폰트 생성등의 분야에 있어서, 문하의 윤곽, 도형 등의 곡선을 표현하기 위해 다을 식에 나타낸 3차 베지어 곡선 P(t)이 사용되고 있다.
여기서, Q0∼Q3는 형상을 결정하는 파리미터(위치벡터)이다. 그리고, Q0, Q3는 0t1의 범위에 있어서의 곡선 P(t)의 시점, 종점이며, 제어점이라고도 불리운다. 3차 베지어 곡선에 의한 문자의 윤곽, 도형등의 표현 방법으로서, 예를들어 비트맵 형식으로 표현된 도형의 원형상을 직선 근사시키는 복수의 짧은 직선벡터에 의한 곡선 정합이 있다.
통상, 짧은 곡선 벡터의 시점, 종점을 각기 Q0, Q3를 한 2점에 대해, 하나의 베지어 곡선이 정합된다. 예를들면, "CAGD에서의 곡선 및 표면측정 방법"이란 명칭으로 1984년에 불프강붐(Wolfgang BOHM)에 의해 발표된 Computer Aided Geometric Design 1이란 책에는 베지어 곡선에 의한 곡선의 정합 방법이 기재되어 있다. 이처럼 종래의 3차 베지어 곡선에 의한 곡선의 정합에 있어서, 2점을 갖는 하나의 짧은 직선 벡터는 하나의 곡선에 의해 정합된다. 따라서 짧은 직선 벡터의 수가 많을 경우, 베지어 곡선을 나타내는 제어점 Q0∼Q3의 수가 매우 많아지기 때문에 처리되는 데이터량이 증대된다.
이상의 일로 해서, 짧은 직선 벡터의 곡선 세그멘트에 있어서의 3점 이상의 점에 3차 베지어 곡선을 정합시키는 방법이 요망되고 있다.
본 발명의 목적은 짧은 직선 벡터의 곡선 세그멘트에 3차 베지어 곡선을 정합시키는 방법을 제공하는 것이다.
본 발명에 따라, 짧은 직선 벡터의 곡선 세그멘트에 3차 베지어 곡선을 정합시키는 방법은, 통과점을 가진 곡선 세그멘트를 나타내는 파라미터를 설정하는 단계와, 상기 설정된 파라미터로부터 3차 베지어 곡선을 나타내기 위해 2개의 제어 파라미터를 계산하는 단계와, 상기 설정된 파라미터와 상기 계산된 2개의 제어 파라미터로 부터 3차 베지어 곡선의 경사를 계산하는 단계와, 상기 통과점의 경사와 상기 계산된 경사를 비교하는 단계와, 상기 비교결과에 따라 정합을 판정하는 단계와, 상기 판정결과에 따라 곡선 세그멘트에 3차 베지어 곡선을 정합하는 단계를 포함한다.
다음에 본 발명의 실시예에 대해 도면을 참조하여 설명한다. 제1도에 나다낸 바와같이 원형상을 근사적으로 나타내는 짧은 직선 벡터열 Pi-1 P1(1=2∼11, 단 P11=P1)이 주어졌을 경우, 원헝상에서 곡선 세그멘트와 직선 세그멘트를 나누기 위해 각 짧은 직선 벡터의 접속점 Pi에 있어서의 접속상태가 판정된다. 즉, 접속점 Pi가 각점(角點)(경사가 연속하지 않는 점)인지, 곡선 세그멘트와 직선 세그멘트의 접속점인지 또는 곡선상의 점인지가 판정된다. 여기서 각점은 다음처럼 해서 판정된다. 접속점 Pi에 접속되어 있는 짧은 직선 벡터 Pi--1 Pi, Pi Pi+1을 각기 m-1 1, 1: m-1(m으로서 6이 적당하다)로 내분하는 점 Ai, Bi가 취득된다. 또 내분점 Ai, Bi를 지나는 직선 Li상에 보간점 Qi가 설정된다, 보간점 Qi는 (1) 직선 Li와 접속점Pi를 지나는 수직선 Mi와의 교점, (2) 직선 Li와 짧은 직선 벡터 Pi-1 Pi 및 Pi+1이 이루는 각도 θ1를 2분하는 직선과의 교점, 또는 (3) 선분 Ai Bi의 중점이다. 접속점 Pi, 보간점 Qi, 및 기준치 δ에 있어서│ Pi Qi│δ일 경우, 접속점 Pi는 각점이라고 판정된다. 그리고 기준치 ∂는 각점의 판정에 사용되는 소정치로 미리 설정된다.
또, 곡선 세그멘트와 직선 세그멘트의 접속점은 다음처럼 해서 판정된다. 접속점 Pi에 접속되어 있는 짧은 직선 벡터 Pi-1 Pi와 Pi Pi+1(그 이루는 각도는 θi)에 있어서, │Pi Pi+1│A, │Pi Pi+1│/│Pi--1 Pi│B, 및 (π-θi)θmin일 경우, 접속검 Pi는 곡선 세그멘트가 직선 세그멘트에 원활하게 접속하는 점이라고 판정된다. 한편,│Pi Pi-1│A, │Pi Pi -1│/│Pi+1 Pi│B, 및 (π-θi)θmin일 경우, 접속점 Pi는 직선 세그멘트가 곡선 세그멘트에 원활하게 접속하는 점으로 판정된다. 그리고, A(1), B, 및 θmin은 실험적으로 얻어지는 파라미터이며, 예를들어 15, 1.8, 0.05[rad]에 설정된다. 각점, 또는 곡선 세그멘트와 직선 세그멘트의 접속점이라고 판정되지 않은 접속점은 곡선상에 있어서의 점으로 판정된다.
이상과 같이 접속점 Pi의 접속상태에 따라 접속점 Pi에 속성 정보가 설정된다. 예를 들어 짧은 직선 벡터가 나아가는 방향으로 곡선 세그멘트가 직선 세그멘트에 원활하게 접속하는 점을 TL, 짧은 직선 벡터의 나아가는 방향으로 직선 세그멘트가 곡선 세그멘트에 원활하게 접속하는 점을 TR, 곡선상의 점을 CU, 각점을 CO로 하는 속성 정보가 설정된다. 실징된 속성 정보에 의거하여 원형상에 있어서의 세그멘트 타입(곡선세그멘트, 직선 세그멘트)이 판정된다. 즉, 짧은 직선 벡터의 시점 및 종점의 속성 정보의 조합에 마라 세그멘트 타입이 특정된다. 예를 들어 벡터의 시점 종점이 각기 TR, TL의 경우는 곡선, TL, TR의 경우는직선, TR, CO의 경우는 곡선이다. 예를 들어 제1도에 나타낸 바와같은 짧은 직선 벡터에 있어서, 접속점P2가 TR, 접속점 P3 및 P4가 CU, 접속점 P5가 TL의 속성 정보를 가질 경우, 짧은 직선 벡터 P2, P3, P3P4 및 P4 P5는 연속하는 곡선 세그멘트로 판정된다. 이와같은 판정에 의해 복수의 짧은 직선 벡터에 의해 표시되는 곡선 세그멘트를 취득할 수 있다. 각 짧은 직선 벡터의 세그멘트 타입이 판정된 다음, 3차 베지어곡선에 의한 곡선 정합이 곡선 세그멘트에 대해서만 행해진다. 또 각점의 판정 처리에 있어서 설정된 보간점 Qi를 근거로 하여 3차 베지어 곡선에 의한 곡선 정합을 할 수 있다. 즉, 곡선 세그멘트라고 판정된 짧은 직선 베겉의 접속점 Pi에 대응하는 보간접 Q1에 의해 보간점 Qi를 통과하는 3차 베지어 곡선 세그멘트를 취득할 수 있다 그리고, 보간점 Qi에 있어서의 경사는 보간점 Qi를 통과하는 직선 Li의 경사로서 얻을수있다
다음에 제2도에 나타낸 플로우챠트를 따라 본 실시예의 곡선 정합 처리에 대해 설명한다. 제3도에 나타낸 바와같이 시점.Q0, 초점 Q3, 통과점 X 및 각 점에 있어서의 경사 θ0, θx를 근거로, 하여, 시점 Q0, 종점 Q3, 통과점 x를 통과하는 하나의 3차 베지어 곡선 세그멘트가 취득된다. 그리고, 각 점과 3차 베지어곡선 세그멘트와의 거리는 소정의 거리 범위내가 되도록 설정된다. 또, 시점 Q0 종점 Q3, 통과점 x는 보간점 Qi로서, 그리고 경사 θ0, θ3, θx는 직선 Li의 경사로서 각기 취득된다. 스텝 A1에서는 시점 Q0, 종점Q3, 통과점 x, 및 각 점에 있어서의 경사 θ3, θ3, θx가 설정된다. 스탭 A2에서는 베지어 곡선에 관한 매개변수 tx의 초기치, 예를들어 0 2가 설정된다. 스텝 A3에서는 매개 변수 tx, 시점 Q-, 종점 Q3, 통과점 x, 및 경사 θ0·θ3를 근거로 하여, 제3도에 나타낸 제어점 Q1, Q2가 취득된다. 제어점 Q1, Q2가 시점 Q0, 종점 Q3를 지나는 곡선 세그멘트의 제어점일 경우, 벡터 Q0, Q1, Q2, Q3는 시점 Q0, 종점 Q3에서 접한다. 즉, 제어점 Q1, Q2는 각기 시점 Q0, 종점 Q3를 지나는 경사 θ0,θ3의 직선상에 존재한다. 따라서 │Q1-Q0│, │Q2-Q3│를 계산함으로써 제어점 Q1, Q2가 설정된다 그리고, │Q1-Q0│, │Q2-Q3│는 다음 식에 의해 계산된다.
단, A0=(1-tx)3, A1=3(1-tx)2tx, A2=3(1-tx)tx2, A3=tx3이다. 그리고, Qnx, Qny(n=0∼3)는 제어점, 시점, 종점에 있어서의 X방향, y방향의 벡터 성분이다.
따라서, Q1 및 Q2는 다음식으로 표시된다
그리고, n0는 경사 θ0의 단위 벡터, n2는 경사 θ2의 단위벡터이다. 스텝 A4에서는 제어점 Q1, Q2시점Qo 및 종점 Q3를 근거로 하여 3차 베지어 곡선 P(t)의 t=tx(=0.2)에 있어서의 경사 θ(tx)가 취득된다. 그리고, 경사 θ(tx)는 다음 식에 의해 얻어진다.
여기서, Px(t), Py(t)는 각기 베지어 곡선상의 점에 있어서의 x방향, y방향의 벡터 성분이다. 스텝 A5에서는 θ(tx)와 통과점 x에 있어서의 경사 θx와의 차의 절대치 (│θ(tx)-θx│)와 미리 설정되는 기준치(θref)가 비교된다. 즉,│θ(tx)-θx│<θref에 의한 판정이 행해진다. 그리고, 기준치(θref)는 곡선의 정합에 있어서 통과점 x에 있어서의 경사의 허용 오차를 나타내는 값이다 스텝 A5에 있어서,│θ(tx)-θx│<θref일 경우, 설정된 제어점 Q1, Q2는 Q0, x, Q3를 지나는 3차 베지어 곡선 세그멘트에 관한 제어점으로서 취득된다(스텝 A8). 스텝 A5에 있어서 │θ(tx)-θx│θref일 경우, 설정된 제어점 Q1, Q2는 Q0, x, Q3를 지나는 3차 베지어 곡선 세그멘트에 관한 제어점이 아니라고 판정된다. 스텝 A6에서는 tx가 최종치(예를들어 0.8)에 달했는지 어떤지가 판정된다. 스텝 A6에 있어서 tx가 최종치에 달하고 있지 않을 경우, tx의 값이 경신되어(스텝 A7), 스텝 A3의 처리가 행해진다. tx의 경신은, 예를들어 tx에 △tx(예를들어 0.05)를 순차 가산항으로써 행해진다. 스텝 A3 및 A4의 처리는 스텝 A5에 있어서,│θ(tx)-θx│<θref로 되든지 또는 스텝 A6에 있어서 tx가 최종치에 달하기까지 반복된다.
본 실시예에서는 tx의 초기치(=0.2)와 최종치(=0.8)가 고정치라고 설명했지만 계산 시시간을 감소시키기 위해, tx의 초기치 tx와 최종치를 다음식에 의해 설정할 수있다.
그리고, c는 정수이며, 예를들어 0.2에 설정된다. 초기치가 0이하일 경우, 초기치로서 0이 설정되고, 최종치가 1을 넘을 경우, 최종치로서 1일 설정된다. 그리고, 스텝 A5에 있어서, │θ(tx)-θx│θref이며, 스텝 A6에 있어서, tx가 최종치일 경우, 시점 Q0, 종점 Q3, 통과점 x, 및 각 점에 있어서의 경사 θ0, θ3, θx를 근거로 한 3차 베지어 곡선 세그멘트는 취득할 수 없다고 판정된다.
이상과 같이, 시점 Q0, 중점 Q3, 통과점 x, 및 각 점에 있어서의 경사 θo, θ3, θx를 근거로 하여 제어점Q1 및 Q2를 얻음으로써, 3차 베지어 곡선의 정합을 할 수 있다.
다음에 4점 이상의 점에 3차 베지어 곡선을 정합하는 처리에 대해 제4A도∼제4c도에 나타낸 처리 플로우챠트를 참조해서 설명한다. 그리고, 제5도에 나타낸 바와같이 시점 Q0, 종점 Q3, 통과점 X1, X2, X3 및각 점에 있어서의 경사 θo, θ3, θx1, θx2, θx3를 근거로 하여, Q0, Q3, X1, X2, X3가 하나의 3차 베지어 곡선 세그멘트에 의해 정합된다. 그리고, 3차 베지어 곡선 세그멘트와 각 점의 거리는 소정의 거리 범위내가 되도록 곡선의 정합이 행해진다. 시점 Q0, 종점 Q3, 통과점 X1, X2, X3 및 각 점에 있어서의 경사 θ0, θ3, θx1, θx2, θx3가 주어졌을 경우, 제4c도에 나타낸 플로우챠트에 따라, 제6a도∼제6c도에 나타낸 바와같은 테이블 1, 2 및 3이 작성된다(스텝 B1∼B3). 여기서, 제4c도에 나타낸 플로우챠트에 따라 테이블의 작성처리에 대해 설명한다. 스텝 C1에서는 Q0, Q3, Xi, θ0, θ3, θxi(i=1∼3)가 설정된다. 스텝 C2에서는 tx의 초기치가 설정된다. 스텝 C3에서는 tx, Q0, Q3, Xi, θ0, θ3를 근거로 하여 제어점 Q1, Q2가 취득된다. 스텝 C4에서는 Q0, Q3, Q1, Q2, tx를 근거로 하여 3차 베지어 곡선에 있어서의 경사 θ가 얻어진다 스텝 C5에서는│θ(tx)-θx│<θref에 의한 판정이 행해진다. 스텝 C5에 있어서, │θ(tx)-θx│<θref일 경우, Q1, 및Q2가 테이블 i에 기억된다(스텝 C6). 테이블 i에 기억되어 있는 n번째의 어드레스 내용은 어드레스 Rin으로서 참조된다. 스텝 C5에 있어서, │θ(tx)-θx│>θref일 경우, 또는 스텝 C6의 처리가 완료했을 경우, 스텝 C7에서는 tx가 최종치인지 어떤지가 판정된다. 스텝 C7에 있어서, tx가 최종치가 아닐 경우, tx가 경신되어(스텝 C8), 스텝 C3의 처리가 행해진다. 스텝 C7에 있어서, tx가 최종치일 경우, 시점 Q0, 종점Q3, 통과점 Xi 및 각 점에 있어서의 경사 θ0, θ3, θx를 근거로 한 3차 베지어 곡선 세그멘트는 취득할 수 없다고 판정된다.
본 실시에에 있어서는 스텝 B1, B2 또는 B3에 있어서, (Q0, Q3, X1), (Q0, Q3, X2) 또는 (Q0, Q3, X3)를 근거로 하여 3차 베지어 곡선 세그멘트를 나타내는 제어점 Q1, Q2를 얻을 수 없었을 경우, 정합 가능한 곡선 세그멘틀를 얻을 수 없다고 판정된다. 스텝 B4에서는 j=1에 설정된다. 스텝 B5에서는 테이블(2)의 어드레스 R2j에 기억되고 있는 Q1, Q2가 독출되어, Q12 및 Q22로서 설정된다 스탭 B6에서는 K=1에 설정된다. 스텝 B7에서는 테이블(1)의 어드레스 R1K에 기억되고 있는 Q1, Q2가 독출되고, Q12 및 Q22로서 설정된다. 스텝 B8에서는 스텝 B7에 었어서 설정된 제어점 Q11, Q21과 스텝 B5에 있어서 설정된 제어점Q12, Q22를 근거로 하여 △Q1 및 △Q2가 얻어진다 그리고, 시점 Q0, 종점 Q3의 위치가 같고, 통과점 X1, X2의 위치가 다른 2개의 곡선 세그멘트가 존재하며, 각 곡선 세그멘트에 대옹하는 제어점 Q1, Q2가 각기 미소한 거리 △Q1, △Q2만큼 어긋났을 경우, 베지어 곡선 P(t)의 어긋남 △P(t)는 다음 식으로 표시된다.
따라서 2개의 베지어 곡선 P(t)의 어긋남 △P(t)와 어긋남의 허용 오차를 나타내는 기준거리오차 Dref에있어서, |△P(t)|<Dref│일 경우, 2개의 곡선 세그멘트를 공통하는 하나의 곡선 세그멘트에 의해 나타낼수 있다. 또 |△P(t)│<Dref│ 에 의한 판정 대신 4/9·(│△Q1| +│△Q2)<Dref에 의한 판정을 사용할수 있다. 그 이유는 다음과 같다. 즉 베지어 곡선의 정의에 의해
즉 4/9(│△Q1│+│△Q2│)Dref이면│△P(t)│Dref로 된다. 스텝 B9에서는 4/9·(│△Q1│+│△Q2│)Dref에 의한 판정이 행해진다. 즉, 통과점 X1를 지나는 곡선 세그멘트와 통과점 X2를 지나는곡선 세그멘트를 근거로 하며, (Q0, Q3, X1, x2)에 대한 정합 가능한 곡선 세그멘트가 존재하는지 어떤지의판정이 행해진다. 스텝B9에 있어서, 4/9·(│△Q1│+│△Q2│)Dref일 경우, 스텝 B10에서는 테이블(1)로부터의 데이타의 독출이 완료했는지 어떤지가 판정된다 스텝 B10에 있어서, 테이블(1)에 기억되어있는 데이타의 독출이 완료되어 있지 않을 경우, K의 값이 +1 증가되어(스텝 B11), 스텝 B7에 있어서, 새로운 Q11, Q21이 설정된다. 즉, 테이블(1)에 있어서의 독출 어드레스 R1K가 증가되고, 그 독출 어드레스 RlK에 의해 특정되는 Q1, Q2가 독출된다. 스텝 B10에 있어서, 테이블(1)에 기억되어 있는 데이타의 독출이 완료했을 경우, 스텝 B12에서는 테이블(2)에 기억되어 있는 데이타의 독출시 완료했는지 어떤지가 판정된다. 스텝 B12에 있어서, 테이블(2)에 기억되어 있는 데이타의 독출이 완료하고 있지 않을 경우, j의값이 +1 증가되어(스텝 B13), 스탭 B5에 있여서, 새로운 Q12, Q22가 설정된다. 즉, 테이블(2)에 있어서의 독출 어드레스 R2j가 증가되고, 그 독출 어드레스 R2j에 의해 특정되는 Q1, Q2가 독출된다.
스텝 B9에 있어서 4/9·(│△Q1│+│△Q21│)Dref일 경우, 스텝 B14에 있어서, m=1에 설정된다. 스텝 B15에서는 테이블(3)의 어드레스 R3m에 기억되어 있는 Q1, Q2가 독출되어 Q13 및 Q23으로서 설정된다. 스텝 B16에서는 스텝 B15에 있어서 설정된 제어점 Q13, Q23과 스텝 B5에 있어서 설정된 제어점 Q12, Q22를 근거로 하여, △Q1 및 △Q2가 취득된다. 스텝 B17에서는 스텝 B16에 있어서 얻어진 △Q1, △Q2에 의해4/9·(│△Q1│+|△Q2│)Dref에 의한판정이 행해진다. 즉5점(Q0, Q3, X1, X2, X3)을 정합 가능한 곡선 세그멘트가 존재하는지 어떤지 판정된다. 스텝 B17에 있어서, 4/9·(│△Q1│+│△Q2│)Dref일 경우, 스텝 B18에 있어서, 테이블(1)에 기억되어 있는 데이타의 독출이 완료하고 있지 않을 경우, m의 값이+1 증가되어(스텝 B19), 스텝 B15에 있어서, 새로운 Q13, Q23이 설정된다. 즉, 테이블(3)에 있어서의 독출 어드레스 R3m이 증가되고, 그 독출 어드레스 R3m에 의해 특정되는 Q1, Q2가 독출된다. 스텝 B18에있어서, 테이블(3)에 기억되어 있는 데이타의 독출이 완료되었을 경우, 스텝 B10의 처리가 행해진다. 스텝B17에 있어서, 4/9·(│△Q1│+│△Q21│)Dref일 경우, 시점 Q0, 종점 Q3, 통과점 X1, X2, X3경사 θ0, θa, θx1, θ2, θx3에 있어서의 3차 베지어 곡선 세그멘트가 얻어졌다고 판정되어 Q12, Q22가 3차 베지어 곡선세그멘트를 나타내는 제어점 Q1 Q2로서 실정된다. 그리고, 제어점 Q1, Q2는 제어점 Q1을 Q11 Q12, Q13의 평균치, 제어점 Q2를 Q11, Q12, Q13의 평균치로서 설정할 수 있다.
이상 5점 베지어 곡선을 정합하는 방법에 대해 설명했지만, 본 발명에서는 5이상의 점에 대해서도 곡선세그멘트를 정합할 수 있다. 단 판정 처리 시스템은 통과점의 수에 따라 많아진다. 또 본 실시예에서는 통과점 X2를 기준으로 하여 곡선 정합 처리를 했지만, 순차 통과점의 수를 증가시키면서 정합 처리를 할 수도 있다. 이와같은 처리에 의해 더 많은 곡선 세그멘트를 하나의 3차 베지어 곡선에 의해 정합할 수 있다.
본 발명에 의하면 3이상의 점을 하나의 3차 베지어 곡선 세그멘트에 의해 정합할 수 있으므로, 3차 베지어 곡선 세그멘트를 나타내는 제어점 Q0∼Q3의 수가 적어진다 따라서 처리하는 데이타량을 적게할 수 있다.
이상 본 발명의 실시예에 대해 설명했지만 본 발명은 상기 실시예에 한정됨이 없이, 본 발명의 오지의 범위내에 있어서 여러가지의 변형 실시가 가능하다.
Claims (6)
- 통과점을 가진 곡선 세그멘트를 나타내는 파라미터를 설정하는 단계와; 상기 설정된 파라미터로 부터3차 베지어 곡선을 나타내기 위해 2개의 제어 파라미터를 계산하는 단계와; 상기 설정된 파라미터 및 상기계산된 2개의 제어 파라미터로 부터 3차 베지어 곡선의 경사를 계산하는 단계와; 상기 계산된 경사와 상기통과점의 경사를 비교하는 단계와; 상기 비교결과에 따라 정합을 판정하는 단계와; 상기 판정결과에 따라곡선 세그멘트에 3차 베지어 곡선을 정합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 짧은 직선 벡터의 곡선세그멘트에 3차 베지어 곡선을 정합시키는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 설정된 파라미터는 시점, 통과점, 종점 및 상기 곡선 세그멘트에 있어서의 각경사를 나타내는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 판정단계는 상기 계산된 경사와 상기 통과점의 경사와의 경사차가 소정의 경사 미만일때 상기 3차 베지어 곡선의 제어 파라미터로서 2개의 제어 파라민터를 얻는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
- 복수의 통과점을 가진 곡선 세그멘트를 나타내며, 3차 베지어 곡선을 나타내기 위해 적어도 두개의 제1제어 파라미터의 결합을 포함하는 파라미터를 설정하는 단계와; 상기 설정된 파라미터로부터 3차 베지어곡선을 나타내기 위해 적어도 2개의 제2제어 파라미터의 결합을 계산하는 단계와; 상기 설정된 파라미터와 상기 계산된 제2제어 파라미터로부터 3차 베지어 곡선의 복수의 경사를 계산하는 단계와 ; 상기 계산된 경사와 상기 통과점의 경사를 비교하는 단계와 ; 제1비교 결과에 따라 각 통과점에 대한 정합을 판정하는 단계와 ; 상기 판정결과에 따라 상기 설정된 파라미터와 상기 측정된 제2제어 파라미터로부터 각 통과점에대해 제1제어 파라미터와 제2제어 파라미터간의 적어도 2개의 거리 결합을 계산하는 단계와 ; 상기 계산된 거리와 소정의 거리를 비교하는 단계와 ; 상기 제2비교 결과에 따라 적어도 2개의 통과점에 대해 정합을 판정하는 단계와 ; 상기 제2판정 결과에 따라 곡선 세그멘트에 3차 베지어 곡선을 정합하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 짧은 직선 벡터의 곡선 세그멘트에 3차 베지어 곡선을 정합시키는 방법
- 제4항에 있어서, 상기 설정된 파라미터는 시점, 통과점, 종점 및 상기 곡선 세그멘트에 있어서의 각 경사를 나타내는 것을 특징으로 하는 방법.
- 제4항에 있어서, 상기 적어도 2개의 통과점에 대한 정합을 판정하는 단계는 상기 계산된 거리의 합이 소정거리 미만일때 적어도 2개의 통과점에 대한 3차 베지어 곡선의 제어 파라미터로서 상기 제어 파라미터를 얻는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10053689 | 1989-04-20 | ||
JP1-100536 | 1989-04-20 | ||
JP01-100536 | 1989-04-20 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR900016894A KR900016894A (ko) | 1990-11-14 |
KR930002339B1 true KR930002339B1 (ko) | 1993-03-29 |
Family
ID=14276677
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019900005392A KR930002339B1 (ko) | 1989-04-20 | 1990-04-18 | 짧은 직선 벡터의 곡선 세그멘트에 3차 베지어(Bzxier)곡선을 정합시키는 방법 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5253336A (ko) |
EP (1) | EP0393680A3 (ko) |
JP (1) | JPH0348375A (ko) |
KR (1) | KR930002339B1 (ko) |
Families Citing this family (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0535826A (ja) * | 1991-03-20 | 1993-02-12 | Sony Corp | 自由曲線作成方法及び自由曲面作成方法 |
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US7421439B2 (en) | 2005-04-22 | 2008-09-02 | Microsoft Corporation | Global metadata embedding and decoding |
US7400777B2 (en) | 2005-05-25 | 2008-07-15 | Microsoft Corporation | Preprocessing for information pattern analysis |
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US7580576B2 (en) | 2005-06-02 | 2009-08-25 | Microsoft Corporation | Stroke localization and binding to electronic document |
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US7622182B2 (en) | 2005-08-17 | 2009-11-24 | Microsoft Corporation | Embedded interaction code enabled display |
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-
1990
- 1990-04-18 KR KR1019900005392A patent/KR930002339B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-04-19 EP EP19900107460 patent/EP0393680A3/en not_active Withdrawn
- 1990-04-20 US US07/511,727 patent/US5253336A/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-04-20 JP JP2103123A patent/JPH0348375A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0393680A3 (en) | 1990-11-14 |
JPH0348375A (ja) | 1991-03-01 |
KR900016894A (ko) | 1990-11-14 |
EP0393680A2 (en) | 1990-10-24 |
US5253336A (en) | 1993-10-12 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
G160 | Decision to publish patent application | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |