Claims (8)
MDXA(멀티플렉서 및 디멀티플렉서), TSMA(통화메모리수단), TCMA(제어메모리수단), MDXA4(멀테플레서 및 디멀테플레서), DLIA(데이터 링크 인터페이스), 및 TTMA(시험 및 유지보수 PBA)를 구비하고 있는 타임 스위치 장치에 있어서, 상기 타임스위치 장치내의 각 보드 및 자체 메모리 등을 초기화시킨후 상위 프로세서로부터 상기 타임스위치 통화로 시험명령을 받는 제1단계, 상기 TTMA 및 TCMA가 정상적으로 동작하는 가를 시험하는 2단계 상기 TTMA 및 TCMA가 정상적을 동작하면 다음 단계로 진행하고 정상적으로 동작하지 않으면 상위 프로세서로 보고하는 제3단계, 상기 타임스위치 장치의 통화로 시험 경로를 상기 TCMA를 제어하여 설정하는 제4단계, 상기 TTMA 및 TCMA를 제어하여 해당 시험 패턴을 상기 시험 경로로 송출하는 5단계, 및 상기 시험경로를 통과한 데이터를 상기 TTMA 또는 TCMA를 통하여 수신하여 처음 송출된 시험 패턴과 동일한 가를 조사한후 그 조사 결과를 상위 프로세서로 보고하는 제6단계로 구성된 것을 특징으로 하는 타임 스위치 장치의 통화로 시험방법.MDXA (multiplexer and demultiplexer), TSMA (call memory means), TCMA (control memory means), MDXA4 (multiplexer and demultiplexer), DLIA (data link interface), and TTMA (test and maintenance PBA) In the time switch device provided, the first step of initializing each board and its own memory, etc. in the time switch device and receiving a test command from the host processor through the time switch call, testing whether the TTMA and TCMA operate normally. Step 2 If the TTMA and TCMA operates normally proceeds to the next step and if the operation does not operate normally Step 3 to report to the higher processor, the fourth step of controlling the TCMA to set the test path by the call of the time switch device Controlling the TTMA and the TCMA to transmit a corresponding test pattern to the test path, and data passing through the test path. And a sixth step of investigating whether the test pattern is the same as the first test pattern received through the TTMA or TCMA, and reporting the survey result to a higher processor.
제1항에 있어서, 상기 제2단계는 TTMA를 시험하기 위해 TSP(타임스위치 프로세서)로 하여금 상기 TTMA로 시험패턴 데이터를 출력하여 상기 TTMA를 거쳐 다시 TSP로 들어오게 한 후 상기 TSP에서 비교 판독하는 단계와 상기 TCMA의 시험을 위해 상기와 동일한 과정으로 비교 판독하는 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 통화로 시험 방법.The method of claim 1, wherein the second step includes a time switch processor (TSP) outputting test pattern data to the TTMA to test the TTMA, and then entering the TSP again through the TTMA and then comparing the read-out data at the TSP. And comparing and reading in the same procedure as above for testing the TCMA.
제1항에 있어서, 상기 제4단계의 통화로 시험 경로는 TSP - TCMA - TSMA - TCMA - TSP인 것을 특징으로 하는 통화로 시험방법.The method of claim 1, wherein the channel test path of the fourth step is TSP-TCMA-TSMA-TCMA-TSP.
제1항에 있어서, 상기 4단계의 통화로 시험경로는 TSP - TTMA - MDXA - TSMA - TCMA - TSP인 것을 특징으로하는 통화로 시험방법.The method of claim 1, wherein the four-path test path is TSP-TTMA-MDXA-TSMA-TCMA-TSP.
제1항에 있어서, 상기 제4단계의 통화로 시험경로는 TSP- TTMA - MDXA4 - TSMA - MDXA - TTMA - TSP인 것을 특징으로 하는 통화로 시험방법.The method of claim 1, wherein the channel test path of the fourth step is TSP-TTMA-MDXA4-TSMA-MDXA-TTMA-TSP.
제1항에 있어서, 상기 제4단계의 통화로 시험경로는 TSP- TCMA - TSMA - DLIA - 루프백 회로 - DLIA -TSMA -TCMA -TSP인 것을 특징으로 하는 통화로 시험방법.The method of claim 1, wherein the channel test path of the fourth step is TSP-TCMA-TSMA-DLIA-loopback circuit-DLIA-TSMA-TCMA-TSP.
제1항에 있어서, 상기 제4단계의 통화로 시험경로는 TSP - TTMA - MDXA - TSMA - DLIA - 루프백 회로 - DLIA - TSMA - MDXA - TTMA - TSP인 것을 특징으로 하는 통화로 시험방법.The method of claim 1, wherein the test path test path of the fourth step is TSP-TTMA-MDXA-TSMA-DLIA-loopback circuit-DLIA-TSMA-MDXA-TTMA-TSP.
제1항에 있어서, 상기 제4단계의 통화로 시험경로는 TSP - TTMA - MDXA - TSMA - MDXA4 - 인트리 졍터 - MDXA4 - TSMA - MDXA - TTMA - TSP인 것을 특징으로 하는 통화로 시험방법.The method of claim 1, wherein the test path test path of the fourth step is TSP-TTMA-MDXA-TSMA-MDXA4-Inlet Filter-MDXA4-TSMA-MDXA-TTMA-TSP.
※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.※ Note: The disclosure is based on the initial application.