KR20210051719A - method for preprocessing Sensor MEASUREMENTS and MACHINE LEARNING METHOD using the same - Google Patents

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KR20210051719A
KR20210051719A KR1020190137345A KR20190137345A KR20210051719A KR 20210051719 A KR20210051719 A KR 20210051719A KR 1020190137345 A KR1020190137345 A KR 1020190137345A KR 20190137345 A KR20190137345 A KR 20190137345A KR 20210051719 A KR20210051719 A KR 20210051719A
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차성훈
홍성현
최효석
인태환
정우영
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삼성에스디에스 주식회사
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Abstract

The present invention provides a method for preprocessing sensor measurements and a machine learning method using the same, which can efficiently train a model to be trained. According to several embodiments of the present invention, the method for preprocessing sensor measurements comprises: a step of obtaining measurement time-series data generated by a plurality of adjacent sensors; a step of dividing the time-series data into a plurality of detection time intervals based on non-generation of alarms of all of the plurality of adjacent sensors in the time-series data; a step of merging a first detection time interval and the second detection time interval to form an integrated time interval; a step of using arrangement coordinates and measurements of three key sensors selected in the integrated time intervals and the detection time intervals to determine the problem position; and a step of generating a sequence reflecting results of sequentially connecting the time-series data of the integrated time intervals or the detection time interval with the same problem position and matching the three key sensors.

Description

센서 측정값 전처리 방법 및 이를 이용한 기계 학습 방법{method for preprocessing Sensor MEASUREMENTS and MACHINE LEARNING METHOD using the same}Method for preprocessing sensor MEASUREMENTS and MACHINE LEARNING METHOD using the same}

본 발명은 센서 측정값 전처리 방법 및 이를 이용한 기계 학습 방법에 관한 것이다. 보다 자세하게는, 인접하여 배치된 각각의 동종 센서에 의하여 생성된 측정값 데이터를 기계 학습에 효율적인 방식으로 전처리 하는 방법 및 이를 이용한 기계 학습 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a sensor measurement value preprocessing method and a machine learning method using the same. In more detail, the present invention relates to a method of preprocessing measured value data generated by each of the homogeneous sensors disposed adjacent to each other in an efficient manner for machine learning and a machine learning method using the same.

종래에 공정에서 이용되는 센서는 정밀한 검출을 위해 성능이 좋고 민감도가 높은 장치가 선호되었다. 그러나, 민감도가 높은 센서일수록 너무 미세한 검출에도 알람이 발생되거나 노이즈에도 쉽게 동작하는 등의 문제점이 발생되었다. 이 경우에도 혹시 모를 사고 또는 예기치 못한 문제를 발견하기 위해 센서의 민감도를 낮출 수는 없는 실정이었다. 따라서, 종래에는 민감도가 높은 센서를 이용하되 불필요한 알람이 발생되는 경우 이를 다시 체크해야 하는 번거로움이 존재하였다.Conventionally, a sensor used in a process has a high performance and a highly sensitive device for precise detection. However, as the sensitivity of the sensor is high, problems such as an alarm generated even with a too fine detection or easily operated even with noise have occurred. Even in this case, it was impossible to lower the sensitivity of the sensor in order to detect an accident or unexpected problem. Therefore, in the related art, a sensor with high sensitivity is used, but when an unnecessary alarm occurs, there has been a hassle of having to check it again.

따라서, 센서의 민감도는 낮추지 않으면서도 센서에 의해 발생된 알람이 노이즈에 의해 발생된 알람인지, 또는 노이즈가 아니지만 무시해도 되는 상황에 의해 발생되는 알람인지 센서에 의해 측정된 측정값을 보다 정확하게 분석하는 기술이 요구되고 있다. 이에 따라, 기계 학습을 통한 분석 방법의 개발이 시도되었다.Therefore, without lowering the sensitivity of the sensor, whether the alarm generated by the sensor is an alarm caused by noise, or an alarm that is not noise but can be ignored, analyzes the measured value measured by the sensor more accurately. Technology is in demand. Accordingly, an attempt was made to develop an analysis method through machine learning.

종래의 센서 측정값을 이용한 기계 학습 방법은 센서에서 측정된 로우 데이터(raw data)를 그대로 학습하거나, 단순히 노이즈를 제거하는 정도의 전처리 단계를 거쳐 기계학습을 수행하였다. 그러나 센서에 의해 측정된 로우 데이터는 데이터가 산발적으로 흩어지거나, 어떠한 상황에 따른 데이터인지 알 수 없기 때문에 이러한 데이터를 이용하여 기계 학습이 수행되고, 생성된 모델은 학습 단계에서 수많은 오류가 발생되거나 오차 보정을 위해 모델의 알고리즘을 변경해야하는 등 정제되지 않은 로우 데이터에 의해 학습의 효율이 낮아 알고리즘을 개선하는데 시간과 비용이 발생되었다.In the conventional machine learning method using sensor measurement values, machine learning is performed by learning raw data measured by a sensor as it is or through a preprocessing step of simply removing noise. However, since the raw data measured by the sensor is scattered sporadically or it is not possible to know the data according to any situation, machine learning is performed using these data, and the generated model has numerous errors or errors in the learning stage. The efficiency of learning is low due to unrefined raw data, such as the need to change the algorithm of the model for correction, which incurs time and cost to improve the algorithm.

따라서, 상술한 문제점들을 해결하기 위하여 센서에 의해 측정된 데이터를 정확하게 분석할 수 있는 모델을 생성하기 위해 보다 효율적으로 정제된 데이터 전처리 방법이 요구되고 있다.Accordingly, in order to solve the above-described problems, there is a need for a more efficient and refined data preprocessing method to generate a model capable of accurately analyzing data measured by a sensor.

공개특허공보 제10-2019-0089776호(2019.07.31. 공개)Unexamined Patent Publication No. 10-2019-0089776 (published on July 31, 2019)

본 발명의 일 실시예를 통해 해결하고자 하는 기술적 과제는 센서에서 측정된 데이터를 기계 학습에 적합하도록 전처리함에 따라 학습되는 모델이 보다 효율적으로 학습될 수 있는 센서 측정값 전처리 방법 및 이를 이용한 기계 학습 방법을 제공하는 것이다.The technical problem to be solved through an embodiment of the present invention is a sensor measurement value preprocessing method in which a model to be learned can be more efficiently learned by preprocessing data measured by a sensor to be suitable for machine learning, and a machine learning method using the same. Is to provide.

본 발명의 일 실시예를 통해 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는 인접하여 배치된 각각의 동종 센서에 의하여 생성된 측정값 데이터를 기계 학습에 효율적인 방식으로 전처리 하는 방법 및 이를 이용한 기계 학습 방법을 제공 하는 것이다.Another technical problem to be solved through an embodiment of the present invention is to provide a method for preprocessing measured value data generated by each of the homogeneous sensors disposed adjacent to each other in an efficient manner for machine learning, and a machine learning method using the same. .

본 발명의 다른 실시예를 통해 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 동일하거나 유사한 원인에 의해 발생된 이벤트에 대한 정보를 정형화된 데이터로 가공함에 따라 기계 학습의 성능이 보다 향상될 수 있는 센서 측정값 전처리 방법 및 이를 이용한 기계 학습 방법을 제공 하는 것이다.Another technical problem to be solved through another embodiment of the present invention is a sensor measurement value that can further improve the performance of machine learning by processing information on events generated by the same or similar causes into standardized data. It is to provide a preprocessing method and a machine learning method using the same.

본 발명의 또 다른 실시예를 통해 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 민감하게 작동하는 동종 센서를 정밀하게 분석하여 문제가 발생되는 위치를 보다 용이하게 판단할 수 있는 센서 측정값 전처리 방법 및 이를 이용한 기계 학습 방법을 제공 하는 것이다.Another technical problem to be solved through another embodiment of the present invention is a sensor measurement value preprocessing method that can more easily determine a location where a problem occurs by precisely analyzing a sensitively operated homogeneous sensor, and a method using the same. It provides a machine learning method.

본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명의 기술분야에서의 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical problems of the present invention are not limited to the technical problems mentioned above, and other technical problems that are not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

상기 기술적 과제를 해결하기 위한, 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법은 복수의 인접 센서 각각에 의하여 생성된 측정값 시계열 데이터를 얻는 단계, 상기 시계열 데이터에서 상기 복수의 인접 센서 모두의 알람 미발생을 기준으로 상기 시계열 데이터를 복수의 검출 시간 구간으로 분할하는 단계, 상기 검출 시간 구간 별로 상기 복수의 인접 센서 중 적어도 일부를 중요 센서로 선정하는 단계, 제1 검출 시간 구간과, 상기 제1 검출 시간 구간과 인접한 제2 검출 시간 구간 각각의 중요 센서가 일치하는 경우, 상기 제1 검출 시간 구간과 상기 제2 검출 시간 구간을 병합하여 통합 시간 구간을 구성하는 단계, 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 별로 문제 위치를 결정하되, 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 각각에서 선정된 3개의 핵심 센서 각각의 배치 좌표 및 측정값을 이용하여 상기 문제 위치를 결정하는 단계 및 상기 중요 센서의 개수가 동일하고, 상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는 상기 검출 시간 구간의 시계열 데이터 또는 상기 통합 시간 구간의 시계열 데이터가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스(sequence)를 생성하는 단계를 포함할 수 있다.In order to solve the above technical problem, a sensor measurement value preprocessing method according to an embodiment of the present invention includes the steps of obtaining measurement value time series data generated by each of a plurality of adjacent sensors, and of all of the plurality of adjacent sensors from the time series data. Dividing the time series data into a plurality of detection time intervals based on no alarm occurrence, selecting at least some of the plurality of adjacent sensors as important sensors for each detection time interval, a first detection time interval, and the first detection time interval When the important sensors of each of the first detection time period and the adjacent second detection time period coincide, the step of forming an integrated time period by merging the first detection time period and the second detection time period, the detection time period and the Determining the location of the problem for each integration time section, but determining the location of the problem using the arrangement coordinates and measurement values of each of the three core sensors selected in the detection time section and the integration time section, and the number of the important sensors And generating a sequence reflecting a result of sequentially connecting time series data of the detection time section or the time series data of the integrated time section in which the problem locations overlap with each other by a reference value or more.

일 실시예에서, 상기 복수의 인접 센서 각각의 검출 시간이 기준 검출 횟수 이상인 경우 상기 중요 센서로 선정하는 단계를 포함할 수 있다.In an embodiment, when the detection time of each of the plurality of adjacent sensors is greater than or equal to a reference detection number, selecting the important sensor.

일 실시예에서, 상기 통합 시간 구간을 구성하는 단계는, 상기 제1 검출 시간 구간과 제2 검출 시간 구간의 상기 알람 미발생의 시간 구간이 통합 기준 값 미만인 경우, 상기 제1 검출 시간 구간과 상기 제2 검출 시간 구간이 인접한 것으로 판단하는 단계를 포함할 수 있다.In one embodiment, the step of configuring the integrated time interval comprises, when the time interval in which the alarm does not occur between the first detection time interval and the second detection time interval is less than an integrated reference value, the first detection time interval and the It may include determining that the second detection time interval is adjacent.

일 실시예에서, 상기 문제 위치를 결정하는 단계는, 상기 복수의 인접 센서에서 측정값의 상위 3개의 센서를 상기 핵심 센서로 선정하는 단계를 포함할 수 있다.In an embodiment, the determining of the problem location may include selecting the upper three sensors of the measured values from the plurality of adjacent sensors as the core sensors.

일 실시예에서, 상기 시퀀스를 생성하는 단계는, 상기 문제 위치가 동일한 상기 검출 시간 구간 또는 상기 통합 시간 구간을 동일한 길이의 시간 구간으로 상기 시계열 데이터를 가공하는 단계를 포함할 수 있다.In an embodiment, generating the sequence may include processing the time series data from the detection time interval or the integrated time interval having the same problem location into a time interval of the same length.

본 발명의 일 실시예에 따른 문제 위치 결정 모델 학습 방법은 복수의 인접 센서 각각에 의하여 생성된 측정값 시계열 데이터를 얻는 단계, 상기 시계열 데이터에서 상기 복수의 인접 센서 모두의 알람 미발생을 기준으로 상기 시계열 데이터를 복수의 검출 시간 구간으로 분할하는 단계, 복수의 검출 시간 구간의 인접한 제1 검출 시간 구간과 제2 검출 시간 구간을 병합하여 통합 시간 구간을 구성하는 단계, 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 각각에서 선정된 3개의 핵심 센서 각각의 배치 좌표 및 측정값을 이용하여 문제 위치를 결정하는 단계, 상기 중요 센서의 개수가 일치하고, 상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는 상기 검출 시간 구간의 시계열 데이터 또는 상기 통합 시간 구간의 시계열 데이터가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스(sequence)를 생성하는 단계 및 상기 시퀀스를 학습하여 상기 시계열 데이터의 측정값을 기초로 상기 문제 위치를 탐지하는 모델을 생성하는 단계를 포함할 수 있다.In the method for learning a problem location determination model according to an embodiment of the present invention, the step of obtaining measurement value time series data generated by each of a plurality of neighboring sensors, based on the occurrence of no alarms of all of the plurality of neighboring sensors from the time series data. Dividing time series data into a plurality of detection time intervals, forming an integrated time interval by merging adjacent first detection time intervals and second detection time intervals of the plurality of detection time intervals, the detection time interval and the integrated time Determining a problem location using the arrangement coordinates and measurement values of each of the three core sensors selected in each section, and time series data of the detection time section in which the number of the important sensors coincide and the problem location overlaps a reference value or more Generating a sequence reflecting a result of sequentially connecting time series data of the integrated time period, and generating a model that detects the problem location based on the measured value of the time series data by learning the sequence. Can include.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 문제 위치 결정 모델 학습 시스템을 나타내는 개요도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법의 순서도이다.
도 3은 복수의 센서 중에서 소정 반경 안에 위치한 센서를 인접 센서로 그룹핑 하는 예시도이다.
도 4는 센서에 의해 측정된 측정값에 따른 알람 발생 여부를 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 측정값 시계열 데이터가 알람 미발생을 기준으로 분할되는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 도2를 참조하여 설명된 센서 측정값 전처리 방법의 일부 동작을 보다 구체적으로 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 도 6의 중요 센서를 선정하는 방법을 나타내는 예시도이다.
도 8은 도 6의 동작에 의해 통합된 시간 구간을 설명하기 위한 도면이다.
도 9는 도2를 참조하여 설명된 센서 측정값 전처리 방법의 일부 동작을 보다 구체적으로 설명하기 위한 도면이다.
도 10은 핵심 센서에서 측정된 측정값을 나타내는 예시도이다.
도 11은 핵심 센서의 배치 좌표를 나타내는 예시도이다.
도 12는 도 9의 동작에 따라 핵심 센서가 배치된 영역이 분할되는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 13은 도 12에서 분할된 영역에서 문제 위치를 결정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.
도 14는 핵심 센서의 시간에 따른 알람 발생 여부를 나타내는 예시도이다.
도 15는 핵심센서의 알람 발생 여부에 따라 해당되는 코드가 생성되는 방법을 나타내는 도면이다.
도 16은 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법을 통해 생성된 시퀀스를 나타내는 예시도이다.
도 17은 본 발명의 다른 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 장치의 하드웨어 구성도이다.
1 is a schematic diagram illustrating a problem positioning model learning system according to an embodiment of the present invention.
2 is a flow chart of a method for preprocessing a sensor measurement value according to an embodiment of the present invention.
3 is an exemplary diagram of grouping sensors located within a predetermined radius among a plurality of sensors into adjacent sensors.
4 is a diagram for explaining whether an alarm occurs according to a measured value measured by a sensor.
5 is a diagram for explaining a method of dividing measurement value time series data based on no alarm occurrence.
FIG. 6 is a diagram for explaining in more detail some operations of the sensor measurement value preprocessing method described with reference to FIG. 2.
7 is an exemplary diagram illustrating a method of selecting an important sensor of FIG. 6.
FIG. 8 is a diagram for describing a time section integrated by the operation of FIG. 6.
9 is a diagram for explaining in more detail some operations of the method for preprocessing a sensor measurement value described with reference to FIG. 2.
10 is an exemplary diagram showing measured values measured by a core sensor.
11 is an exemplary diagram showing arrangement coordinates of core sensors.
12 is a diagram for explaining a method of dividing an area in which a core sensor is disposed according to the operation of FIG. 9.
FIG. 13 is a diagram for describing a method of determining a problem location in a divided area in FIG. 12.
14 is an exemplary diagram showing whether an alarm occurs according to time of a core sensor.
15 is a diagram illustrating a method of generating a corresponding code according to whether an alarm is generated by a core sensor.
16 is an exemplary diagram illustrating a sequence generated through a method of preprocessing a sensor measurement value according to an embodiment of the present invention.
17 is a hardware configuration diagram of a sensor measurement value preprocessing apparatus according to another embodiment of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예들을 상세히 설명한다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명의 기술적 사상은 이하의 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 이하의 실시예들은 본 발명의 기술적 사상을 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 본 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명의 기술적 사상은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Advantages and features of the present invention, and a method of achieving them will become apparent with reference to the embodiments described below in detail together with the accompanying drawings. However, the technical idea of the present invention is not limited to the following embodiments, but may be implemented in various different forms, and only the following embodiments complete the technical idea of the present invention, and in the technical field to which the present invention pertains. It is provided to completely inform the scope of the present invention to those of ordinary skill in the art, and the technical idea of the present invention is only defined by the scope of the claims.

각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.In adding reference numerals to elements of each drawing, it should be noted that the same elements are assigned the same numerals as possible, even if they are indicated on different drawings. In addition, in describing the present invention, when it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the subject matter of the present invention, a detailed description thereof will be omitted.

다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다. 본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다.Unless otherwise defined, all terms (including technical and scientific terms) used in the present specification may be used with meanings that can be commonly understood by those of ordinary skill in the art to which the present invention belongs. In addition, terms defined in a commonly used dictionary are not interpreted ideally or excessively unless explicitly defined specifically. The terms used in the present specification are for describing exemplary embodiments and are not intended to limit the present invention. In this specification, the singular form also includes the plural form unless specifically stated in the phrase.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In addition, in describing the constituent elements of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a) and (b) may be used. These terms are for distinguishing the constituent element from other constituent elements, and the nature, order, or order of the constituent element is not limited by the term. When a component is described as being "connected", "coupled" or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to that other component, but another component between each component It will be understood that elements may be “connected”, “coupled” or “connected”.

본 발명에서 사용되는 "포함한다 (comprises)" 및/또는 "포함하는 (comprising)"은 언급된 구성 요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성 요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.As used in the present invention, "comprises" and/or "comprising" refers to the recited components, steps, actions and/or elements of one or more other elements, steps, actions and/or elements. It does not exclude presence or addition.

이하, 본 발명의 몇몇 실시예들에 대하여 첨부된 도면에 따라 상세하게 설명한다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 문제 위치 결정 모델 학습 시스템을 나타내는 개요도이다.1 is a schematic diagram illustrating a problem positioning model learning system according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 문제 위치 결정 모델 학습 시스템은 복수의 센서(10), 센서 측정값 전처리 장치(20), 문제 위치 결정 모델 학습 장치(30) 및 문제 위치 결정 장치(40)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, a problem positioning model learning system according to an embodiment of the present invention includes a plurality of sensors 10, a sensor measurement value preprocessing device 20, a problem positioning model learning device 30, and a problem positioning. Device 40 may be included.

문제 위치 결정 모델 시스템은 센서(10)에서 측정된 측정값의 문제 위치를 결정하여 제공하는 시스템일 수 있다. 여기서 센서(10)는 가스 감지 센서(10)로 구성될 수 있으나 이러한 센서(10) 종류에 한정되는 것은 아니고, 온도, 압력, 소리, 기체 등을 감지하는 물리적인 센서(10), 또는 물리적인 센서(10)를 이용하여 새로운 값을 생성하는 가상 센서(10) 등, 물리적인 양이나 그 변화를 감지하는 다양한 센서(10)로 구성될 수 있다. 센서 측정값(v1)은 상기 센서(10)에서 측정된 값일 수 있으며, 문제 위치는 상기 센서(10)에 의해 감지된 물질이 발생되거나 유출된 위치일 수 있다.The problem location determination model system may be a system that determines and provides a problem location of a measurement value measured by the sensor 10. Here, the sensor 10 may be composed of a gas detection sensor 10, but is not limited to such a type of sensor 10, and a physical sensor 10 that senses temperature, pressure, sound, gas, etc., or physical A virtual sensor 10 that generates a new value using the sensor 10 may be composed of various sensors 10 that detect a physical quantity or a change thereof. The sensor measurement value v1 may be a value measured by the sensor 10, and the problem location may be a location where a substance sensed by the sensor 10 is generated or leaked.

다만, 복수의 센서(10)는 모두 동종 센서인 것을 유의한다. 즉, 본 발명의 몇몇 실시예들은 인접한 위치에 배치된 복수의 동종 센서에 의하여 생성된 시계열 센서 측정값을 로우 데이터로서 제공 받아, 이를 기계 학습에 적합하도록 전처리 하는 동작 또는 관련 구성을 포함하는 것으로 이해될 수 있을 것이다.However, it should be noted that the plurality of sensors 10 are all sensors of the same type. That is, some embodiments of the present invention are understood to include an operation or a related configuration that receives the measurement values of time series sensors generated by a plurality of homogeneous sensors arranged in adjacent locations as raw data, and preprocesses them to be suitable for machine learning. It will be possible.

본 발명의 일 실시예에서, 문제 위치 결정 모델 시스템은 복수의 센서(10)가 유출된 가스를 감지하고 네트워크를 통해 센서 측정값(v1)을 센서 측정값 전처리 장치(20)로 전송하면, 센서 측정값 전처리 장치(20)는 센서 측정값(v1) 시계열 데이터(1)가 기계 학습에 이용되도록 전처리할 수 있다. In one embodiment of the present invention, the problem location determination model system detects the gas leaked from the plurality of sensors 10 and transmits the sensor measurement value v1 to the sensor measurement value preprocessing device 20 through the network, the sensor The measured value preprocessing device 20 may preprocess the sensor measured value v1 and time series data 1 to be used for machine learning.

구체적으로, 센서 측정값 전처리 장치(20)는 복수의 인접 센서(10) 각각에 의하여 생성된 측정값 시계열 데이터(1)를 얻을 수 있다. 센서 측정값 전처리 장치(20)는 시계열 데이터(1)에서 상기 복수의 인접 센서(10) 모두의 알람 미발생을 기준으로 상기 시계열 데이터(1)를 복수의 검출 시간 구간으로 분할하고, 복수의 검출 시간 구간의 인접한 제1 검출 시간 구간(t1)과 제2 검출 시간 구간(t2)을 병합하여 통합 시간 구간을 구성할 수 있다.Specifically, the sensor measurement value preprocessing apparatus 20 may obtain measurement value time series data 1 generated by each of the plurality of adjacent sensors 10. The sensor measurement value preprocessing device 20 divides the time series data 1 into a plurality of detection time intervals based on the non-alarm occurrence of all of the plurality of adjacent sensors 10 in the time series data 1, and detects a plurality of times. An integrated time period may be formed by merging the adjacent first detection time period t1 and the second detection time period t2 of the time period.

센서 측정값 전처리 장치(20)는 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 각각에서 선정된 3개의 핵심 센서 각각의 배치 좌표 및 측정값을 이용하여 문제 위치를 결정할 수 있다. 이후, 센서 측정값 전처리 장치(20)는 상기 3개의 핵심 센서가 일치하고, 상기 문제 위치가 동일한 상기 검출 시간 구간 또는 상기 통합 시간 구간의 시계열 데이터(1)가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스(sequence, 2)를 생성할 수 있다.The sensor measurement value preprocessing device 20 may determine the problem location using the arrangement coordinates and measurement values of each of the three core sensors selected in the detection time section and the integration time section. Thereafter, the sensor measurement value preprocessing device 20 is a sequence reflecting the result of sequentially connecting the three core sensors and the detection time interval having the same problem location or the time series data 1 of the integrated time interval ( Sequence, 2) can be created.

문제 위치 결정 모델 학습 장치(30)는 센서 측정값 전처리 장치(20)로부터 시퀀스(2)를 수신하여 이를 학습하고, 시계열 데이터(1)의 측정값을 기초로 문제 위치를 탐지하는 모델을 생성할 수 있다.The problem positioning model learning device 30 receives the sequence 2 from the sensor measurement value preprocessor 20 and learns it, and generates a model that detects the problem location based on the measured value of the time series data 1. I can.

문제 위치 결정 장치(40)는 문제 위치 결정 모델 학습 장치(30)로부터 학습된 모델을 획득할 수 있다. 문제 위치 결정 장치(40)는 네트워크를 통해 복수의 센서(10)로부터 시계열 데이터(1)를 수신하면 학습된 결과를 통해 문제 위치를 결정할 수 있다. 예를 들어, 문제 위치 결정 장치(40)는 센서 측정값(v1)을 수신하면, 센서 측정값(v1)을 문제 위치 결정 모델에 입력하면 센서 측정값(v1)을 이용하여 문제 위치를 예측할 수 있다. 다른 예로서, 문제 위치 결정 장치(40)는 복수의 센서(10)로부터 가스에 대한 측정 값을 수신하면, 가스가 유출된 위치를 예측할 수 있다.The problem positioning device 40 may acquire a model learned from the problem positioning model learning device 30. When the problem location determining device 40 receives the time series data 1 from the plurality of sensors 10 through a network, the problem location may be determined based on the learned result. For example, when the problem positioning device 40 receives the sensor measurement value v1, and inputs the sensor measurement value v1 into the problem positioning model, the problem location can be predicted using the sensor measurement value v1. have. As another example, when the problem location determination apparatus 40 receives measurement values for gas from the plurality of sensors 10, it is possible to predict the location where the gas has leaked.

도 1에서 센서 측정값 전처리 장치(20), 문제 위치 결정 모델 학습 장치(30) 및 문제 위치 결정 장치(40)는 각각 다른 구성으로 표현되었으나, 장치가 상기와 같이 필수적으로 구분되는 것은 아니고, 구현 방법에 따라서 하나의 컴퓨팅 장치에도 상기 장치들이 모두 포함되어 수행될 수 있으며, 둘 이상의 장치에서 상기 장치들의 동작과 기능이 분배되어 수행될 수도 있다.In FIG. 1, the sensor measurement value preprocessing device 20, the problem positioning model learning device 30, and the problem positioning device 40 are each represented in different configurations, but the devices are not necessarily classified as described above, and are implemented. Depending on the method, all of the devices may be included in one computing device, and operations and functions of the devices may be distributed and performed in two or more devices.

이하, 본 발명의 다른 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법에 대하여 도 2를 참조하여 설명한다. 본 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법은 컴퓨팅 장치에 의하여 수행 된다. 예를 들어, 상기 컴퓨팅 장치는 도 1의 전처리 장치(20)일 수 있다. 다만, 상기 컴퓨팅 장치가 도 1의 학습 장치(30)일 수도 있을 것이다. 또는, 본 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법을 전처리 장치(20) 및 학습 장치(30)가 나누어 수행할 수도 있을 것이다. 이하, 본 실시예에 따른 방법에 속한 각 동작을 설명함에 있어서, 그 주체가 명시되지 않은 경우, 그 주체는 상기 컴퓨팅 장치로 이해될 수 있다.Hereinafter, a method of preprocessing a sensor measurement value according to another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. 2. The method of preprocessing sensor measurement values according to the present embodiment is performed by a computing device. For example, the computing device may be the preprocessing device 20 of FIG. 1. However, the computing device may be the learning device 30 of FIG. 1. Alternatively, the preprocessing method of the sensor measurement value according to the present embodiment may be performed separately by the preprocessing device 20 and the learning device 30. Hereinafter, in describing each operation belonging to the method according to the present embodiment, when the subject is not specified, the subject may be understood as the computing device.

본 발명의 센서 측정값 전처리 방법은 센서에서 측정된 데이터를 기계 학습에 적합하도록 전처리함에 따라 학습되는 모델이 보다 효율적으로 학습될 수 있는 장점이 있다.The method of preprocessing sensor measurement values of the present invention has an advantage in that a model to be trained can be more efficiently learned by preprocessing data measured by a sensor to be suitable for machine learning.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법의 순서도이고, 도 3은 복수의 센서 중에서 소정 반경 안에 위치한 센서를 인접 센서로 그룹핑 하는 예시도이며, 도 4는 센서에 의해 측정된 측정값에 따른 알람 발생 여부를 설명하기 위한 도면이다.2 is a flow chart of a method for preprocessing sensor measurement values according to an embodiment of the present invention, FIG. 3 is an exemplary diagram of grouping a sensor located within a predetermined radius among a plurality of sensors into adjacent sensors, and FIG. 4 is This is a diagram for explaining whether an alarm occurs according to a measured value.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법은 복수의 인접 센서로부터 시계열 데이터를 얻고 몇몇의 동작을 거쳐 최종적으로는 시계열 데이터가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스가 생성될 수 있다.Referring to FIG. 2, in the method of preprocessing sensor measurement values according to an embodiment of the present invention, a sequence reflecting the result of sequentially connecting time series data is generated after obtaining time series data from a plurality of adjacent sensors and performing several operations. Can be.

구체적으로, 단계 S110에서 복수의 인접 센서 각각에 의하여 생성된 측정값 시계열 데이터를 얻을 수 있다. 여기서 복수의 인접 센서는 도 3에 도시된 바와 같이 복수의 센서 중에서 좌표를 기준으로 미리 설정된 소정 반경(r1, r2) 이내에 위치한 센서를 그룹핑하여 복수의 인접 센서로 지정할 수 있다. 제1 센서 내지 제4 센서(s1 내지 s4)의 경우 r1의 반경 내에 위치하므로 그룹1(g1)으로 지정될 수 있고, 제5 센서 내지 제7 센서의 경우 r2의 반경 내에 위치하므로 그룹2(g2)로 지정될 수 있다. 또한, 복수의 인접 센서는 소정 반경 이내에 위치하는 동시에, 미리 설정된 소정 시간 범위 이내에 알람이 발생하거나 동작을 한 센서들 만으로 이루어 질 수 있다.Specifically, in step S110, measurement value time series data generated by each of a plurality of adjacent sensors may be obtained. Here, as shown in FIG. 3, the plurality of adjacent sensors may be designated as a plurality of adjacent sensors by grouping sensors located within a preset radius r1 and r2 based on coordinates among the plurality of sensors. The first to fourth sensors s1 to s4 are located within the radius of r1, so they can be designated as group 1 (g1), and the fifth to seventh sensors are located within the radius of r2, so group 2 (g2). ) Can be specified. In addition, the plurality of adjacent sensors may be located within a predetermined radius and may be composed of only sensors that generate an alarm or operate within a predetermined time range.

측정값 시계열 데이터는 도 4에 도시된 바와 같이 시간의 흐름에 따라 측정된 측정값을 이용하여 알람 발생 여부 또는 검출 여부가 0, 1로 나타내는 데이터일 수 있다. 측정값 시계열 데이터는 복수의 센서에 의해 측정된 측정값이 미리 설정된 임계치(UL)를 넘는 경우 알람을 발생시키는 신호가 생성될 수 있다. 즉, 측정값 시계열 데이터는 복수의 센서가 임계치(UL) 이상의 측정값을 획득하는 경우 해당 시간(t1, t2)에 1을 가리키는 데이터가 생성되고, 임계치(UL) 미만의 측정값을 획득하는 경우 해당 시간에 알람이 발생하지 않는 0을 가리키는 데이터가 생성될 수 있다.As illustrated in FIG. 4, the measured value time series data may be data indicating whether an alarm is generated or detected as 0 or 1 using a measured value measured over time. In the measured value time series data, a signal for generating an alarm may be generated when a measured value measured by a plurality of sensors exceeds a preset threshold UL. In other words, the measurement value time series data is when a plurality of sensors acquires a measurement value equal to or greater than the threshold value (UL), data indicating 1 is generated at the corresponding time (t1, t2), and when a measurement value less than the threshold value (UL) is obtained. Data indicating 0 at which no alarm is generated may be generated at that time.

다시 도 1을 참조하면, 단계 S120에서 시계열 데이터에서 복수의 인접 센서 모두의 알람 미발생을 기준으로 시계열 데이터가 복수의 검출 시간 구간으로 분할될 수 있다. 시계열 데이터가 복수의 검출 시간 구간으로 분할되는 구체적인 방법은 도 5에서 상세하게 설명하도록 한다.Referring back to FIG. 1, in step S120, time series data may be divided into a plurality of detection time intervals based on the occurrence of no alarms of all of the plurality of adjacent sensors in the time series data. A detailed method of dividing time series data into a plurality of detection time intervals will be described in detail with reference to FIG. 5.

단계 S130에서 검출 시간 구간 별로 복수의 인접 센서 중 적어도 일부가 중요 센서(k)로 선정될 수 있다. 여기서 중요 센서(k)는 일정 횟수 이상 알람이 발생된 센서로서, 시계열 데이터에서 중요하게 판단되어야 하는 센서를 의미할 수 있다.In step S130, at least some of the plurality of adjacent sensors may be selected as the important sensor k for each detection time interval. Here, the important sensor k is a sensor in which an alarm has been generated more than a certain number of times, and may mean a sensor that should be importantly determined in time series data.

단계 S140에서 복수의 검출 시간 구간 중 제1 검출 시간 구간(t1)과 상기 제2 검출 시간 구간(t2)을 병합되어 통합 시간 구간이 구성될 수 있다. 본 단계에서 검출 시간 구간에서 작동한 중요 센서(k)가 일치하고, 알람 미발생의 구간이 좁은 경우 동일한 원인에 의해 발생된 측정값으로 볼 수 있기 때문에 구간을 통합하여 하나의 구간으로 취급하여 분석될 수 있다. 이에 대한 상세한 내용은 도 6에서 설명하도록 한다.In step S140, the first detection time section t1 and the second detection time section t2 among a plurality of detection time sections may be merged to form an integrated time section. In this step, if the critical sensor (k) operated in the detection time section coincides and the section where the alarm does not occur is narrow, it can be viewed as a measurement value generated by the same cause, so the sections are combined and treated as one section for analysis. Can be. Details about this will be described in FIG. 6.

단계 S150에서 각 시간 구간 별로 문제 위치가 결정될 수 있다. 여기서 문제 위치는 문제가 발생된 위치를 의미할 수 있다. 본 단계에서는 발생 시간 기준이 아닌 측정값(v1)의 강도(또는 절대값)를 기준으로 핵심 센서가 선정되고, 선정된 핵심 센서를 기초로 문제가 발생된 위치가 결정될 수 있다. 이에 대한 설명은 도 9에서 설명하도록 한다.In step S150, a problem location may be determined for each time interval. Here, the problem location may mean a location where the problem occurs. In this step, a core sensor is selected based on the intensity (or absolute value) of the measured value v1, not based on the occurrence time, and the location where the problem occurs may be determined based on the selected core sensor. This will be described with reference to FIG. 9.

단계 S160에서 상기 선정된 핵심 센서가 동일하고, 문제가 발생된 위치가 동일한 시간 구간끼리 시계열 데이터를 순차적으로 연결하여 시퀀스가 생성될 수 있다.In step S160, a sequence may be generated by sequentially connecting time series data between time intervals having the same core sensor and the same problem location.

본 발명에 따른 센서 측정값 전처리 방법은 데이터에서 필요한 정보를 용이하게 처리하도록 정제된 데이터를 생성할 수 있는 효과가 있다.The sensor measurement value preprocessing method according to the present invention has an effect of generating refined data so that necessary information from the data can be easily processed.

도 5는 측정값 시계열 데이터가 알람 미발생을 기준으로 분할되는 방법을 설명하기 위한 도면이다.5 is a diagram for explaining a method of dividing measurement value time series data based on no alarm occurrence.

도 5에 도시된 바와 같이 측정값 시계열 데이터는 복수의 인접 센서로부터 수신한 데이터의 집합으로 구성될 수 있으며, 복수의 인접 센서는 제1 센서 내지 제4 센서(s1 내지 s4)로 이루어진 그룹1(g1)일 수 있다. 측정값 시계열 데이터는 각각의 센서로부터 측정값을 수신하여 가로축은 시간으로, 세로축은 각 센서 별 알람 발생 여부(0, 1)로 구성될 수 있다.As shown in FIG. 5, the measured value time series data may be composed of a set of data received from a plurality of adjacent sensors, and the plurality of adjacent sensors are group 1 consisting of first to fourth sensors s1 to s4 ( g1). The measured value time series data receives a measured value from each sensor, and the horizontal axis indicates time, and the vertical axis indicates whether an alarm occurs (0, 1) for each sensor.

본 단계에서 시계열 데이터에서 상기 복수의 인접 센서 모두의 알람 미발생을 기준으로 상기 시계열 데이터가 복수의 검출 시간 구간으로 분할될 수 있다. 알람 미발생은 복수의 인접 센서 모두가 같은 시간에 알람이 발생되지 않은 구간을 의미할 수 있다. 도 5에서 제1 센서 내지 제4 센서(s1 내지 s4)의 알람 미발생 시간은 6, 15, 16, 21 내지 29, 33 내지 35이다. 따라서, 본 단계에서, 알람 미발생 시간인 6, 15, 16, 21 내지 29, 33 내지 35의 구간을 경계로 복수의 검출 시간 구간으로 분할될 수 있다.In this step, in the time series data, the time series data may be divided into a plurality of detection time intervals based on the occurrence of no alarms from all of the plurality of adjacent sensors. No alarm may mean a section in which an alarm is not generated by all of the plurality of adjacent sensors at the same time. In FIG. 5, the alarm-free times of the first to fourth sensors s1 to s4 are 6, 15, 16, 21 to 29, and 33 to 35. Accordingly, in this step, it may be divided into a plurality of detection time intervals based on intervals of 6, 15, 16, 21 to 29, and 33 to 35, which are times when no alarm occurs.

즉, 시계열 데이터는 시간 1 내지 5의 '제1 검출 시간 구간(t1)', 시간 7 내지 14의 '제2 검출 시간 구간(t2)', 시간 17 내지 20의 '제3 검출 시간 구간(t3)' 및 시간 29 내지 32의 '제4 검출시간 구간'으로 분할될 수 있다.That is, the time series data is a'first detection time interval t1' of times 1 to 5, a'second detection time interval t2' of times 7 to 14, and a'third detection time interval t3 of times 17 to 20'. )'and a'fourth detection time interval' of times 29 to 32.

도 6은 도2를 참조하여 설명된 센서 측정값 전처리 방법의 일부 동작을 보다 구체적으로 설명하기 위한 도면이고, 도 7은 도 6의 중요 센서(k)를 선정하는 방법을 나타내는 예시도이며, 도 8은 도 6의 동작에 의해 통합된 시간 구간을 설명하기 위한 도면이다.6 is a view for explaining in more detail some operations of the sensor measurement value preprocessing method described with reference to FIG. 2, and FIG. 7 is an exemplary view showing a method of selecting an important sensor k of FIG. 6, and FIG. 8 is a diagram for describing a time section integrated by the operation of FIG. 6.

도 6을 참조하면, 상기 제1 검출 시간 구간(t1)과 상기 제2 검출 시간 구간(t2)을 병합하여 통합 시간 구간을 구성하는 단계(S140)가 수행될 때, 단계 S141에서 각각의 검출 시간 구간에서 판단된 중요 센서(k)가 동일한지 판단될 수 있다. 단계 S130에서 검출 시간 구간 별로 상기 복수의 인접 센서 중 적어도 일부가 중요 센서(k)로 선정되는데 구체적인 방법은 도 7을 참조하여 설명하도록 한다.6, when the step (S140) of forming an integrated time interval by merging the first detection time interval (t1) and the second detection time interval (t2) is performed, each detection time in step S141 It may be determined whether the important sensors k determined in the section are the same. In step S130, at least some of the plurality of adjacent sensors are selected as important sensors k for each detection time interval, and a specific method will be described with reference to FIG. 7.

도 7을 참조하면, 중요 센서(k)는 복수의 검출 시간 구간에서 검출 시간 구간 별로 선정된 센서일 수 있다.Referring to FIG. 7, the important sensor k may be a sensor selected for each detection time interval in a plurality of detection time intervals.

중요 센서(k)는 복수의 인접 센서 각각의 검출 시간이 기준 검출 횟수 이상인 경우 선정될 수 있다. 여기서 기준 검출 횟수는 검출 시간 구간 별로 상기 검출 시간 구간의 길이에 미리 설정된 기준 계수를 곱한 값일 수 있다.The important sensor k may be selected when the detection time of each of the plurality of adjacent sensors is greater than or equal to the reference detection number. Here, the reference detection number may be a value obtained by multiplying the length of the detection time interval by a preset reference coefficient for each detection time interval.

도 7의 표와 같이 제1 검출 시간 구간(t1)의 경우 구간의 구간 폭은 5이고, 기준 계수(k1)를 0.3으로 가정하였을 때 기준 검출 횟수는 1.5이고, 제2 검출 시간 구간(t2)의 경우 구간의 구간 폭은 8이고, 기준 검출 횟수는 2.4이다. 마찬가지로 제3 검출 시간 구간(t3)의 경우 구간의 구간 폭은 4이고, 기준 검출 횟수는 1.2이고, 제4 검출 시간 구간(t4)의 경우 구간의 구간 폭은 4이고, 기준 검출 횟수는 1.2이다.As shown in the table of FIG. 7, in the case of the first detection time section t1, the section width of the section is 5, and assuming that the reference coefficient k1 is 0.3, the number of reference detections is 1.5, and the second detection time section t2 In the case of, the section width of the section is 8, and the reference number of detection is 2.4. Similarly, in the case of the third detection time section t3, the section width of the section is 4, the reference number of detection is 1.2, and in the case of the fourth detection time section t4, the section width of the section is 4, and the reference detection number is 1.2. .

도 5의 표와 같이 제1 검출 시간 구간(t1)에서 제1 센서(s1)는 5회 검출되고, 제2 센서(s2)는 4회 검출되며, 제3 센서(s3)는 1회 검출되고, 제4 센서(s4)는 1회 검출될 수 있다. 제1 검출 시간 구간(t1)에서 기준 검출 횟수 1.5를 넘는 센서는 제1 센서(s1) 및 제2 센서(s2)이다. 따라서, 제1 센서(s1) 및 제2 센서(s2)는 중요 센서(k)로 선정될 수 있다. 제3 센서(s3) 및 제4 센서(s4)는 기준 검출 횟수 1.5 이하이므로 중요 센서(k)로 선정되지 않는다. 제2 검출 시간 구간(t2) 내지 제4 검출 시간 구간(t4)에서도 이와 같은 방식으로 중요 센서(k)가 선정될 수 있다.As shown in the table of FIG. 5, in the first detection time period t1, the first sensor s1 is detected 5 times, the second sensor s2 is detected 4 times, and the third sensor s3 is detected once. , The fourth sensor s4 may be detected once. Sensors that exceed the reference number of detections 1.5 in the first detection time period t1 are the first sensor s1 and the second sensor s2. Accordingly, the first sensor s1 and the second sensor s2 may be selected as important sensors k. The third sensor s3 and the fourth sensor s4 are not selected as important sensors k because the reference number of detection is 1.5 or less. Also in the second detection time period t2 to the fourth detection time period t4, the important sensor k may be selected in the same manner.

다시 도 6을 참조하면, 이와 함께 단계 S143에서 알람 미발생의 시간 구간이 통합 기준 값 이하인지 판단될 수 있다. 단계 S143에서 제1 검출 시간 구간(t1)과 제2 검출 시간 구간(t2)의 알람 미발생의 시간 구간이 통합 기준 값 미만인 경우, 상기 제1 검출 시간 구간(t1)과 상기 제2 검출 시간 구간(t2)이 인접한 것으로 판단될 수 있다. 상기 통합 기준 값은, 제1 검출 시간 구간(t1)과 제2 검출 시간 구간(t2) 중에서 큰 시간 구간에 미리 설정된 통합 계수(k2)를 곱한 값일 수 있다.Referring to FIG. 6 again, it may be determined in step S143 whether the time interval in which the alarm does not occur is equal to or less than the integrated reference value. In step S143, when the first detection time interval t1 and the second detection time interval t2 are less than the integrated reference value, the first detection time interval t1 and the second detection time interval It may be determined that (t2) is adjacent. The integrated reference value may be a value obtained by multiplying a larger time interval among the first detection time interval t1 and the second detection time interval t2 by a preset integration coefficient k2.

도 8을 참조하면, 제2 검출 시간 구간 내지 제4 검출 시간 구간(t2 내지 t4)는 4개의 센서가 관련된 영역이므로 통합을 고려할 수 있다. 먼저, 통합 계수(k2)는 0.5라고 가정할 때, 통합 기준 값은 제2 검출 시간 구간(t2) 8에 통합 계수0.5를 곱한 4고, 제2 검출 시간 구간(t2)과 제3 검출 시간 구간(t3) 사이에 알람 미발생의 크기는 2이기 때문에 알람 미발생의 크기보다 통합 기준 값이 크기 때문에 제2 검출 시간 구간(t2)과 제3 검출 시간 구간(t3)을 통합하여 제1 통합 시간 구간(i1)을 구성할 수 있다.Referring to FIG. 8, since the second detection time interval to the fourth detection time interval t2 to t4 are regions related to four sensors, integration may be considered. First, assuming that the integration coefficient k2 is 0.5, the integration reference value is 4 multiplied by the integration coefficient 0.5 by the second detection time period t2 8, and the second detection time period t2 and the third detection time period Since the size of the no-alarm occurrence between (t3) is 2, the integrated reference value is larger than the size of the no-alarm occurrence, so the first integration time by integrating the second detection time period t2 and the third detection time period t3 The section i1 can be configured.

만약 상기 단계 S141 및 S143에서 모두 'Y'로 판단되는 경우 인접한 검출 시간 구간을 병합하여 통합 시간 구간이 구성될 수 있다. 그러나, 만약 상기 단계 S141 및 S143 중 어느 하나에서 'N'로 판단되는 경우 인접한 검출 시간 구간이 병합되지 않을 수 있다. 만약 병합되지 않은 검출 시간 구간이더라도 시계열 데이터에서 인접한 검출 시간 구간과 비교하여 단계 S140의 조건을 만족하는 경우 병합될 수 있고, 이미 병합이 된 통합 검출 시간 구간이더라도 시계열 데이터에서 인접한 검출 시간 구간과 비교하여 단계 S140의 조건을 만족하는 경우 다시 재귀적으로 병합될 수도 있다.If it is determined as'Y' in both steps S141 and S143, an integrated time interval may be formed by merging adjacent detection time intervals. However, if it is determined as'N' in any one of steps S141 and S143, adjacent detection time intervals may not be merged. Even if the detection time interval is not merged, if the condition of step S140 is satisfied by comparing the time series data with the adjacent detection time interval, it can be merged. Even if the integrated detection time interval has already been merged, it is compared with the adjacent detection time interval in the time series data. If the condition of step S140 is satisfied, it may be recursively merged again.

제1 통합 시간 구간(i1)과 제4 검출 시간 구간(t4)의 알람 미발생의 크기는 8이고, 제1 통합 시간 구간(i1)에 통합 계수 0.5를 곱한 값이 7이기 때문에 제1 통합 시간 구간(i1)과 제4 검출 시간 구간(t4)은 통합되지 않는다.The first integration time period (i1) and the fourth detection time period (t4) have an alarm-free size of 8, and the value obtained by multiplying the first integration time period (i1) by the integration factor of 0.5 is 7 The interval i1 and the fourth detection time interval t4 are not integrated.

본 발명의 센서 측정값 전처리 방법은 검출 시간 구간을 병합함에 따라 동일한 원인에 의한 데이터를 하나로 취급하여 보다 정화하고 세밀한 분석 자료를 정제할 수 있는 효과가 있다.The sensor measurement value preprocessing method of the present invention has the effect of being able to further purify and refine detailed analysis data by treating data due to the same cause as one by merging detection time intervals.

도 9는 도2를 참조하여 설명된 센서 측정값 전처리 방법의 일부 동작을 보다 구체적으로 설명하기 위한 도면이고, 도 10은 핵심 센서에서 측정된 측정값을 나타내는 예시도이며, 도 11은 핵심 센서의 배치 좌표를 나타내는 예시도이다.9 is a view for explaining in more detail some operations of the sensor measurement value preprocessing method described with reference to FIG. 2, FIG. 10 is an exemplary view showing measurement values measured by a core sensor, and FIG. 11 is It is an exemplary diagram showing the arrangement coordinates.

도 9를 참조하면, 단계 S150에서 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 별로 문제 위치가 결정되되, 검출 시간 구간 및 통합 시간 구간 각각에서 선정된 3개의 핵심 센서(c) 각각의 배치 좌표 및 측정값을 이용하여 상기 문제 위치가 결정될 수 있다. 핵심 센서(c)는 각 시간 구간에서 평균 측정값이 가장 높은 센서를 가리키는 것으로서, 도 10 및 도 11을 이용하여 설명하도록 한다.9, in step S150, a problem location is determined for each of the detection time section and the integration time section, but the arrangement coordinates and measurement values of each of the three core sensors (c) selected in each of the detection time section and the integration time section The problem location may be determined using. The core sensor c refers to the sensor having the highest average measured value in each time section, and will be described with reference to FIGS. 10 and 11.

도 10을 참조하면, 복수의 인접 센서로부터 생성된 측정값 시계열 데이터는 도 4에서 설명한 것과 같이 측정값을 포함할 수 있다. 본 단계에서 해당 시간 구간에 대한 평균 측정값이 계산될 수 있다. 도 10과 같이 제1 센서(s1) 내지 제3 센서(s3)가 평균 측정값이 가장 높은 세개의 핵심 센서(c)로 선정될 수 있고, 평균 측정값은 제1 핵심 센서(c1) 내지 제3 핵심 센서(c3) 각각 50, 35 및 10일 수 있다.Referring to FIG. 10, measurement value time series data generated from a plurality of adjacent sensors may include measurement values as described in FIG. 4. In this step, an average measured value for a corresponding time interval may be calculated. As shown in FIG. 10, the first sensor (s1) to the third sensor (s3) may be selected as the three core sensors (c) having the highest average measured value, and the average measured value is the first to the first core sensor (c1) to the third sensor. The three core sensors c3 may be 50, 35 and 10, respectively.

도 11을 참조하면, 복수의 인접 센서들 모두 그룹핑되는 단계에서 해당 위치 정보가 획득될 수 있고, 본 단계에서 제1 핵심 센서(c1) 내지 제3 핵심 센서(c3) 모두 배치된 좌표 값이 분석될 수 있다.Referring to FIG. 11, corresponding location information may be obtained in a step in which all of a plurality of adjacent sensors are grouped, and coordinate values in which both the first core sensor (c1) to the third core sensor (c3) are arranged are analyzed in this step. Can be.

다시 도 9를 참조하면, 단계 S153에서 핵심 센서(c)의 외심점을 중심으로 2분할 경계선 3개가 생성될 수 있다. 이후 단계 S155에서 분할된 경계를 기준으로 측정값이 비교되고, 단계 S157에서 평균 측정값이 더 큰 쪽의 영역을 반복적으로 선택하면서, 단계 S159에서 가장 많이 중복하여 선택된 영역이 문제 위치로 결정될 수 있다. 이하, 도 9의 구체적인 동작을 도 12 및 도 13을 참조하여 설명하도록 한다.Referring to FIG. 9 again, in step S153, three boundary lines divided into two may be generated around an outer center point of the core sensor c. Thereafter, the measured values are compared based on the divided boundary in step S155, and in step S157, while repeatedly selecting an area on the side with a larger average measured value, the area selected by the most overlapping in step S159 may be determined as the problem location. . Hereinafter, a specific operation of FIG. 9 will be described with reference to FIGS. 12 and 13.

도 12는 도 9의 동작에 따라 핵심 센서(c)가 배치된 영역이 분할되는 방법을 설명하기 위한 도면이고, 도 13은 도 12에서 분할된 영역에서 문제 위치를 결정하는 방법을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 12 is a diagram for explaining a method of dividing an area in which the core sensor c is disposed according to the operation of FIG. 9, and FIG. 13 is a diagram for explaining a method of determining a problem location in the divided area in FIG. 12 to be.

도 12를 참조하면, 일 실시예에서, 상기 핵심 센서(c)가 배치된 영역은 6개의 영역으로 분할될 수 있다. 이후 6개의 영역 각각에서 상기 핵심 센서(c)의 측정값을 비교하여 큰 측정값이 위치한 영역이 선택될 수 있다. 본 단계에서, 상기 선택된 영역은 도 13과 같이 선택되는데 최대로 중첩되는 영역이 문제 위치로 결정될 수 있다.Referring to FIG. 12, in an embodiment, an area in which the core sensor c is disposed may be divided into six areas. Thereafter, the measurement values of the core sensor c are compared in each of the six areas, and an area in which a large measurement value is located may be selected. In this step, the selected area is selected as shown in FIG. 13, and the area overlapping the maximum may be determined as a problem location.

예를 들어, 핵심 센서(c)가 배치된 영역이 제1 경계선 내지 제3 경계선(d1 내지 d3)에 의해 6개의 영역으로 분할된다고 할 때, c1의 우측 상측을 제1 영역이라고 하고, 시계 반대 방향으로 제2 영역 내지 제6 영역이 설정된다고 가정한다.For example, when the area where the core sensor c is disposed is divided into 6 areas by the first to third border lines d1 to d3, the upper right side of c1 is called the first area, and it is counterclockwise. It is assumed that the second to sixth regions are set in the direction.

제1 경계선(d1)에 의해 제1 영역 내지 제3 영역과, 제4 영역 내지 제6 영역으로 나뉘게 된다. 이렇게 나뉜 두개의 영역에 위치한 핵심 센서(c) 중에서 가장 평균 측정 값이 큰 핵심 센서(c)는 제4 내지 제6 영역에서 제2 핵심 센서(c2)이고, 제1 내지 제3 영역에서 제3 핵심 센서(c3)이다. 제2 핵심 센서(c2)와 제3 핵심센서의 평균 측정값을 비교하였을 때 제2 핵심 센서(c2)의 평균 측정값이 35로 더 크다. 따라서, 제1 경계선(d1)에 의해 분할된 영역을 비교하였을 때 도 13의 q1와 같이 제 2 핵심 센서(c)가 위치한 영역이 선택될 수 있다. 마찬가지로, 제2 경계선(d2)에 의해 분할된 제1, 2, 6 영역과 제3, 4, 5영역의 경우 도 13의 q2과 같이 제1 핵심 센서(c1)가 위치한 영역이 선택될 수 있다. 마찬가지로, 제3 경계선(d3)에 의해 분할된 제1, 2, 6 영역과 제3, 4, 5영역의 경우 도 13의 q3과 같이 제1 핵심 센서(c1)가 위치한 영역이 선택될 수 있다. 도 13에서 이러한 방식으로 3번에 걸쳐 가장 많이 선택된 제6 영역이 문제 위치로 선택될 수 있다.The first boundary line d1 is divided into a first region to a third region and a fourth region to a sixth region. Among the core sensors (c) located in the two divided areas, the core sensor (c) with the largest average measurement value is the second core sensor (c2) in the fourth to sixth areas, and the third core sensor (c2) in the first to third areas. It is the core sensor (c3). When the average measured values of the second core sensor c2 and the third core sensor are compared, the average measured value of the second core sensor c2 is 35, which is greater. Accordingly, when comparing the areas divided by the first boundary line d1, as shown in q1 of FIG. 13, the area where the second core sensor c is located may be selected. Similarly, in the case of the first, second, and sixth regions divided by the second boundary line d2 and the third, fourth, and fifth regions, the region in which the first core sensor c1 is located as shown in q2 of FIG. 13 may be selected. . Similarly, in the case of the first, second, and sixth regions divided by the third boundary line d3 and the third, fourth, and fifth regions, the region in which the first core sensor c1 is located as shown in q3 of FIG. 13 may be selected. . In FIG. 13, the sixth area, which is most frequently selected three times in this manner, may be selected as the problem location.

다른 실시예에서, 도 12의 제1 경계선 내지 제3 경계선(d1 내지 d3)은 상기 핵심 센서(c)의 위치의 외심원을 이용하여 생성될 수 있다. 제1 경계선 내지 제3 경계선(d1 내지 d3)은 핵심 센서(c)의 배치 위치를 연결한 삼각형의 외심원에서 상기 삼각형으로 수선을 발을 내리고, 상기 외심원에서 상기 삼각형으로 향하는 선을 연결하여 생성될 수 있다. 이후 상기 3개의 경계선 각각에 대하여 분할된 경계를 기준으로 상기 핵심 센서(c)의 측정값을 비교하여 측정값이 큰 영역이 선택되고, 상기 선택된 영역이 최대로 중첩되는 영역이 문제 위치로 결정될 수 있다.In another embodiment, the first to third boundary lines d1 to d3 of FIG. 12 may be generated using an outer center of the position of the core sensor c. The first to third boundary lines d1 to d3 are formed by lowering the foot from the triangular outer center circle connecting the arrangement position of the core sensor c to the triangle, and connecting the line heading from the outer circle to the triangle. Can be created. Thereafter, an area with a large measurement value is selected by comparing the measured value of the core sensor c based on the divided boundary for each of the three boundary lines, and the area where the selected area maximally overlaps can be determined as the problem location. have.

도 14는 핵심 센서(c)의 시간에 따른 알람 발생 여부를 나타내는 예시도이고, 도 15는 핵심센서의 알람 발생 여부에 따라 해당되는 코드가 생성되는 방법을 나타내는 도면이다.14 is an exemplary diagram illustrating whether an alarm occurs according to time of the core sensor c, and FIG. 15 is a diagram illustrating a method of generating a corresponding code according to whether an alarm occurs in the core sensor.

도 14를 참조하면, 시계열 데이터로부터 제1 내지 제3 핵심 센서(c3)의 알람 발생(v2)여부가 추출될 수 있다. 도 15와 같이 각 센서별 알람이 발생하였을 때의 조합에 따라 신규 이벤트 코드로서 알파벳이 생성될 수 있다. 예를 들어 도 15에서 제1 핵심 센서(c1)에 알람이 발생되고, 제2 및 제3 핵심 센서(c3)에는 알람이 발생되지 않는 경우 A코드가 생성될 수 있다. 제2 핵심 센서(c2)에 알람이 발생되고, 제1 및 제3 핵심 센서(c3)에는 알람이 발생되지 않는 경우 B코드가 생성될 수 있다. 총 3개의 핵심 센서(c)의 조합을 기초로 8개의 이벤트 코드가 생설될 수 있다.Referring to FIG. 14, whether an alarm (v2) of the first to third core sensors c3 is generated may be extracted from time series data. As shown in FIG. 15, an alphabet may be generated as a new event code according to a combination when an alarm for each sensor occurs. For example, in FIG. 15, when an alarm is generated in the first core sensor c1 and no alarms are generated in the second and third core sensors c3, an A code may be generated. When an alarm is generated in the second core sensor c2 and no alarm is generated in the first and third core sensors c3, a B code may be generated. Eight event codes may be generated based on a combination of a total of three core sensors (c).

도 16은 본 발명의 일 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 방법을 통해 생성된 시퀀스를 나타내는 예시도이다.16 is an exemplary diagram illustrating a sequence generated through a method of pre-processing a sensor measurement value according to an embodiment of the present invention.

도 16을 참조하면, 중요 센서의 개수가 동일하고, 상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는 상기 검출 시간 구간 또는 상기 통합 시간 구간의 시계열 데이터가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스가 생성될 수 있다. 상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는지 여부는, 도 13을 참조하여 설명된 방식에 따라 구해진 영역의 좌표 구간을 기준으로 판단될 수 있다. 예를 들어, 제1 검출 시간 구간의 문제 위치와 제2 검출 시간 구간의 문제 위치가 지정된 넓이 이상 겹치는 경우, 상기 제1 검출 시간 구간의 중요 센서 개수와 상기 제2 검출 시간 구간의 중요 센서 개수가 동일하면, 상기 제1 검출 시간 구간의 시계열 데이터와 상기 제2 검출 시간 구간의 시계열 데이터가 순차적으로 연결되고, 상기 순차적으로 연결된 시계열 데이터를 반영하는 시퀀스가 생성될 수 있는 것이다.Referring to FIG. 16, a sequence reflecting a result of sequentially connecting time series data of the detection time interval or the integrated time interval in which the number of important sensors is the same and the problem location overlaps by a reference value or more may be generated. Whether the problem location overlaps more than the reference value may be determined based on the coordinate section of the region obtained according to the method described with reference to FIG. 13. For example, if the problem location in the first detection time section and the problem location in the second detection time section overlap a specified area or more, the number of important sensors in the first detection time section and the number of important sensors in the second detection time section are If the same, the time series data of the first detection time interval and the time series data of the second detection time interval are sequentially connected, and a sequence reflecting the sequentially connected time series data may be generated.

중요 센서의 개수가 동일하고 그 문제 위치가 겹친다면, 동일한 상황을 가리킬 가능성이 높다. 따라서, 이러한 점에 착안하여 동일한 상황을 가리키는 시계열 데이터를 서로 연결시켜 학습시키는 경우, 학습의 효과가 높아질 수 있을 것이다. If the number of critical sensors is the same and the problem locations overlap, it is likely to indicate the same situation. Therefore, in the case of learning by linking time series data indicating the same situation to each other in consideration of this point, the learning effect may be enhanced.

제1 검출 시간 구간(t1)과 제4 검출 시간 구간(t4)은 문제 위치가 제6영역으로 동일하고, 중요 센서 개수도 동일하므로, 도 16과 같이 각각 동일한 시간 길이로 구성되어 연결된 시퀀스를 구성할 수 있다. 즉, 상기 구성된 시퀀스에 따른 이벤트 코드는 'ADGDGGGG'가 될 것이다.The first detection time period t1 and the fourth detection time period t4 have the same problem location as the sixth area, and the number of important sensors is also the same, so each of them has the same length of time as shown in FIG. 16 to form a connected sequence. can do. That is, the event code according to the configured sequence will be'ADGDGGGG'.

도 16과 달리, 제1 검출 시간 구간(t1)과 제4 검출 시간 구간(t4)이 서로 시간 길이가 다르다면, 각각의 검출 시간 구간(t1, t2) 중 짧은 시간 길이를 가진 시간 구간의 시간 길이를 기준으로, 각 검출 시간 구간(t1, t2)에서 시계열 데이터를 추출할 수 있다. 예를 들어, 제1 검출 시간 구간(t1)은 4개의 타임 슬롯을 포함하는데, 제2 검출 시간 구간(t2)이 도 16과 달리 6개의 타임 슬롯을 포함한다고 가정하면, 제1 검출 시간 구간(t1)에서는 모든 데이터가 시계열 데이터로 추출될 수 있으나, 제2 검출 시간 구간(t2)에서는 6개의 타임 슬롯 중 4개의 타임 슬롯의 데이터만 상기 시계열 데이터로 추출될 수 있다. 이 때, 제2 검출 시간 구간(t2)에서는 6개의 타임 슬롯 중, 앞에서부터 4개의 타임 슬롯의 데이터가 상기 시계열 데이터로 추출될 수 있다.Unlike FIG. 16, if the first detection time interval t1 and the fourth detection time interval t4 have different time lengths, the time of a time interval having a shorter time length among each detection time interval t1 and t2 Based on the length, time series data may be extracted from each detection time period t1 and t2. For example, assuming that the first detection time period t1 includes 4 time slots, and the second detection time period t2 includes 6 time slots unlike FIG. 16, the first detection time period ( In t1), all data may be extracted as time series data, but in the second detection time period t2, only data of 4 time slots among 6 time slots may be extracted as time series data. In this case, in the second detection time period t2, data of 4 time slots among 6 time slots may be extracted as the time series data.

제1 검출 시간 구간(t1)과 제4 검출 시간 구간(t4)이 서로 시간 길이가 다르다 하더라도, 동일한 상황을 가리키는 이상, 동일한 분량의 정보가 기계 학습 과정에서 입력되는 것이 바람직 하다. 이러한 점을 착안하여, 동일한 핵심 센서와 동일한 문제 구역을 가지는 각각의 시간 구간을 순차적으로 연결하여 시퀀스를 구성할 때, 각각의 시간 구간 중 최소 길이를 가지는 시간 구간을 기준으로, 각각의 시간 구간의 길이를 동일하게 맞추어 주는 것으로 이해될 수 있을 것이다.Even if the first detection time interval t1 and the fourth detection time interval t4 have different lengths of time, it is preferable that the same amount of information is input in the machine learning process as long as they indicate the same situation. With this in mind, when forming a sequence by sequentially connecting each time section having the same core sensor and the same problem area, based on the time section having the minimum length among each time section, It may be understood that the lengths are matched equally.

지금까지 설명된 본 발명의 실시예에 따른 방법들은 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로 구현된 컴퓨터프로그램의 실행에 의하여 수행될 수 있다. 상기 컴퓨터프로그램은 인터넷 등의 네트워크를 통하여 제1 컴퓨팅 장치로부터 제2 컴퓨팅 장치에 전송되어 상기 제2 컴퓨팅 장치에 설치될 수 있고, 이로써 상기 제2 컴퓨팅 장치에서 사용될 수 있다. 상기 제1 컴퓨팅 장치 및 상기 제2 컴퓨팅 장치는, 서버 장치, 서버 풀에 속한 물리 서버, 데스크탑 피씨와 같은 고정식 컴퓨팅 장치를 모두 포함한다.The methods according to the embodiments of the present invention described so far can be performed by executing a computer program implemented in computer-readable code. The computer program may be transmitted from a first computing device to a second computing device through a network such as the Internet and installed in the second computing device, thereby being used in the second computing device. The first computing device and the second computing device include all of a server device, a physical server belonging to a server pool, and a fixed computing device such as a desktop PC.

상기 컴퓨터프로그램은 DVD-ROM, 플래시 메모리 장치 등의 기록매체에 저장된 것일 수도 있다. 이하, 도 15을 참조하여, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 악성코드 탐지모델 학습장치(100)의 하드웨어 구성에 대하여 설명하도록 한다.The computer program may be stored in a recording medium such as a DVD-ROM or a flash memory device. Hereinafter, with reference to FIG. 15, a hardware configuration of a malicious code detection model learning apparatus 100 according to another embodiment of the present invention will be described.

도 17는 본 발명의 다른 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 장치(100)의 하드웨어 구성도이다.17 is a hardware configuration diagram of a sensor measurement value preprocessing apparatus 100 according to another embodiment of the present invention.

도 17을 참조하면, 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 센서 측정값 전처리 장치(100)는 하나 이상의 프로세서(110), 프로세서(110)에 의하여 수행되는 문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)을 로드(Load)하는 메모리(120), 버스(130), 네트워크 인터페이스(140) 및 문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)을 저장하는 스토리지(150)를 포함할 수 있다. 여기서, 도 17에는 본 발명의 실시예와 관련 있는 구성요소들만 도시되어 있다. 따라서, 본 발명이 속한 기술분야의 통상의 기술자라면 도 17에 도시된 구성요소들 외에 다른 범용적인 구성 요소들이 더 포함될 수 있음을 알 수 있다.Referring to FIG. 17, the sensor measurement value preprocessing apparatus 100 according to another embodiment of the present invention includes one or more processors 110, a problem positioning program 151 and a sequence generation program executed by the processor 110. A memory 120 for loading 152, a bus 130, a network interface 140, and a storage 150 for storing the problem location determination program 151 and the sequence generation program 152 may be included. have. Here, only components related to an embodiment of the present invention are shown in FIG. 17. Accordingly, those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can recognize that other general-purpose components may be further included in addition to the components shown in FIG. 17.

프로세서(110)는 센서 측정값 전처리 장치(100)의 각 구성의 전반적인 동작을 제어한다. 프로세서(110)는 CPU(Central Processing Unit), MPU(Micro Processor Unit), MCU(Micro Controller Unit), GPU(Graphic Processing Unit) 또는 본 발명의 기술 분야에 잘 알려진 임의의 형태의 프로세서를 포함하여 구성될 수 있다. 또한, 프로세서(110)는 본 발명의 실시예들에 따른 방법을 실행하기 위한 적어도 하나의 애플리케이션 또는 프로그램에 대한 연산을 수행할 수 있다. 여기서, 도 17에 도시된 센서 측정값 전처리 장치(100)는 하나의 프로세서(110)를 포함하는 것으로 도시되어 있으나, 이에 한정되지 않고 복수의 프로세서를 구비할 수 있다.The processor 110 controls the overall operation of each component of the sensor measurement value preprocessing device 100. The processor 110 includes a CPU (Central Processing Unit), MPU (Micro Processor Unit), MCU (Micro Controller Unit), GPU (Graphic Processing Unit), or any type of processor well known in the technical field of the present invention. Can be. In addition, the processor 110 may perform an operation on at least one application or program for executing the method according to the embodiments of the present invention. Here, the sensor measurement value preprocessing apparatus 100 shown in FIG. 17 is shown to include one processor 110, but is not limited thereto and may include a plurality of processors.

메모리(120)는 각종 데이터, 명령 및/또는 정보를 저장한다. 메모리(120)는 본 발명의 다양한 실시예에 따른 방법/동작을 실행하기 위하여 스토리지(150)로부터 문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)을 로드할 수 있다. 메모리(120)에 문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)이 로드되면, 프로세서(110)는 문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)을 구성하는 하나 이상의 인스트럭션(121, 122)들을 실행함으로써 방법/동작을 수행할 수 있다. 메모리(120)는 RAM과 같은 휘발성 메모리로 구현될 수 있을 것이나, 본 발명의 기술적 범위가 이에 한정되는 것은 아니다.The memory 120 stores various types of data, commands, and/or information. The memory 120 may load the problem location determination program 151 and the sequence generation program 152 from the storage 150 in order to execute a method/operation according to various embodiments of the present disclosure. When the problem positioning program 151 and the sequence generating program 152 are loaded in the memory 120, the processor 110 is configured to perform one or more instructions 121 constituting the problem positioning program 151 and the sequence generating program 152. , 122) to perform the method/action. The memory 120 may be implemented as a volatile memory such as RAM, but the technical scope of the present invention is not limited thereto.

버스(130)는 센서 측정값 전처리 장치(100)의 구성 요소 간 통신 기능을 제공한다. 버스(130)는 주소 버스(address Bus), 데이터 버스(Data Bus) 및 제어 버스(Control Bus) 등 다양한 형태의 버스로 구현될 수 있다.The bus 130 provides a communication function between components of the sensor measurement value preprocessing device 100. The bus 130 may be implemented as various types of buses such as an address bus, a data bus, and a control bus.

네트워크 인터페이스(140)는 센서 측정값 전처리 장치(100)의 유무선 인터넷 통신을 지원한다. 또한, 네트워크 인터페이스(140)는 인터넷 통신 외의 다양한 통신 방식을 지원할 수도 있다. 이를 위해, 네트워크 인터페이스(140)는 본 발명의 기술 분야에 잘 알려진 통신 모듈을 포함하여 구성될 수 있다. 몇몇 실시예에서, 네트워크 인터페이스(140)는 생략될 수도 있다.The network interface 140 supports wired/wireless Internet communication of the sensor measurement value preprocessing device 100. In addition, the network interface 140 may support various communication methods other than Internet communication. To this end, the network interface 140 may be configured to include a communication module well known in the art. In some embodiments, the network interface 140 may be omitted.

스토리지(150)는 문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)을 비 임시적으로 저장할 수 있다. 센서 측정값 전처리 장치(100)를 통해 응용 프로그램을 실행 및 조작하는 경우, 스토리지(150)는 실행 및 조작에 따라 실행되는 응용 프로그램에 대한 각종 데이터를 저장할 수 있다. 예를 들어, 스토리지(150)는 실행되는 응용 프로그램에 대한 정보, 응용 프로그램에 대한 조작 정보 및 응용 프로그램에 대한 실행을 요청한 사용자에 대한 정보 등을 저장할 수 있다.The storage 150 may non-temporarily store the problem location determination program 151 and the sequence generation program 152. When an application program is executed and manipulated through the sensor measurement value preprocessing device 100, the storage 150 may store various data on the application program executed according to the execution and manipulation. For example, the storage 150 may store information on an application program to be executed, operation information on the application program, information on a user who has requested execution of the application program, and the like.

스토리지(150)는 ROM(Read Only Memory), EPROM(Erasable Programmable ROM), EEPROM(Electrically Erasable Programmable ROM), 플래시 메모리 등과 같은 비휘발성 메모리, 하드 디스크, 착탈형 디스크, 또는 본 발명이 속하는 기술 분야에서 잘 알려진 임의의 형태의 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체를 포함하여 구성될 수 있다.The storage 150 is a nonvolatile memory such as a ROM (Read Only Memory), EPROM (Erasable Programmable ROM), EEPROM (Electrically Erasable Programmable ROM), flash memory, etc., a hard disk, a removable disk, or well in the technical field to which the present invention belongs. It may be configured to include any known computer-readable recording medium.

문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)은 메모리(120)에 로드될 때 프로세서(110)로 하여금 본 발명의 다양한 실시예에 따른 방법/동작을 수행하도록 하는 하나 이상의 인스트럭션(121, 122)들을 포함할 수 있다. 즉, 프로세서(110)는 상기 하나 이상의 인스트럭션(121, 122)들을 실행함으로써, 본 발명의 다양한 실시예에 따른 상기 방법/동작을 수행할 수 있다.The problem positioning program 151 and the sequence generation program 152, when loaded into the memory 120, cause the processor 110 to perform a method/operation according to various embodiments of the present invention. 122). That is, the processor 110 may perform the method/operation according to various embodiments of the present disclosure by executing the one or more instructions 121 and 122.

일 실시예에서, 문제 위치 결정 프로그램(151) 및 시퀀스 생성 프로그램(152)은 복수의 인접 센서 각각에 의하여 생성된 측정값 시계열 데이터를 얻는 인스트럭션, 상기 시계열 데이터에서 상기 복수의 인접 센서 모두의 알람 미발생을 기준으로 상기 시계열 데이터를 복수의 검출 시간 구간으로 분할하는 인스트럭션, 상기 검출 시간 구간 별로 상기 복수의 인접 센서 중 적어도 일부를 중요 센서로 선정하는 인스트럭션, 제1 검출 시간 구간과, 상기 제1 검출 시간 구간과 인접한 제2 검출 시간 구간 각각의 중요 센서가 일치하는 경우, 상기 제1 검출 시간 구간과 상기 제2 검출 시간 구간을 병합하여 통합 시간 구간을 구성하는 인스트럭션, 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 별로 문제 위치를 결정하되, 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 각각에서 선정된 3개의 핵심 센서 각각의 배치 좌표 및 측정값을 이용하여 상기 문제 위치를 결정하는 인스트럭션 및 상기 3개의 핵심 센서가 일치하고, 상기 문제 위치가 동일한 상기 검출 시간 구간 또는 상기 통합 시간 구간의 시계열 데이터가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스(sequence)를 생성하는 인스트럭션을 포함할 수 있다.In one embodiment, the problem location determination program 151 and the sequence generation program 152 are instructions for obtaining measurement value time series data generated by each of a plurality of adjacent sensors, and alarms of all of the plurality of adjacent sensors from the time series data. An instruction for dividing the time series data into a plurality of detection time intervals based on occurrence, an instruction for selecting at least some of the plurality of adjacent sensors as important sensors for each detection time interval, a first detection time interval, and the first detection When the important sensors of each of the second detection time periods adjacent to the time period coincide, an instruction for forming an integrated time period by merging the first detection time period and the second detection time period, the detection time period, and the integration time Determine the location of the problem for each section, but the instruction for determining the location of the problem using the arrangement coordinates and measured values of each of the three core sensors selected in the detection time section and the integration time section, and the three core sensors match And an instruction for generating a sequence reflecting a result of sequentially connecting time series data of the detection time interval or the integrated time interval having the same problem location.

지금까지 도 1 내지 도 17을 참조하여 본 발명의 다양한 실시예들 및 그 실시예들에 따른 효과들을 언급하였다. 본 발명의 기술적 사상에 따른 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 통상의 기술자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다So far, various embodiments of the present invention and effects according to the embodiments have been mentioned with reference to FIGS. 1 to 17. The effects according to the technical idea of the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned will be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적인 것이 아닌 것으로 이해해야만 한다.Although the embodiments of the present invention have been described with reference to the accompanying drawings, those of ordinary skill in the art to which the present invention pertains can be implemented in other specific forms without changing the technical spirit or essential features. I can understand. Therefore, it should be understood that the embodiments described above are illustrative in all respects and not limiting.

Claims (13)

컴퓨팅 장치에 의해 수행되는 방법에 있어서,
복수의 인접 센서 각각에 의하여 생성된 측정값 시계열 데이터를 얻는 단계;
상기 시계열 데이터에서 상기 복수의 인접 센서 모두의 알람 미발생을 기준으로 상기 시계열 데이터를 복수의 검출 시간 구간으로 분할하는 단계;
상기 검출 시간 구간 별로 상기 복수의 인접 센서 중 적어도 일부를 중요 센서로 선정하는 단계;
제1 검출 시간 구간과, 상기 제1 검출 시간 구간과 인접한 제2 검출 시간 구간 각각의 중요 센서가 일치하는 경우, 상기 제1 검출 시간 구간과 상기 제2 검출 시간 구간을 병합하여 통합 시간 구간을 구성하는 단계;
상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 별로 문제 위치를 결정하되, 상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 각각에서 선정된 3개의 핵심 센서 각각의 배치 좌표 및 측정값을 이용하여 상기 문제 위치를 결정하는 단계; 및
상기 중요 센서의 개수가 동일하고, 상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는 상기 검출 시간 구간의 시계열 데이터 또는 상기 통합 시간 구간의 시계열 데이터가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스(sequence)를 생성하는 단계를 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
In the method performed by the computing device,
Obtaining measurement value time series data generated by each of a plurality of adjacent sensors;
Dividing the time series data into a plurality of detection time intervals based on the occurrence of no alarms from all of the plurality of adjacent sensors in the time series data;
Selecting at least some of the plurality of adjacent sensors as important sensors for each detection time interval;
When the first detection time interval and the important sensors of each of the second detection time intervals adjacent to the first detection time interval coincide, the first detection time interval and the second detection time interval are merged to form an integrated time interval. The step of doing;
Determining a problem location for each of the detection time section and the integration time section, and determining the problem location using the arrangement coordinates and measurement values of each of the three core sensors selected in the detection time section and the integration time section. ; And
Generating a sequence reflecting a result of sequentially connecting time series data of the detection time section or the time series data of the integrated time section in which the number of the important sensors is the same and the problem location overlaps by a reference value or more. ,
How to preprocess sensor readings.
제1항에 있어서,
상기 복수의 인접 센서는,
복수의 센서의 좌표를 기준으로 소정 반경 안에 위치한 센서를 그룹핑하여 결정되는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 1,
The plurality of adjacent sensors,
Determined by grouping sensors located within a predetermined radius based on the coordinates of a plurality of sensors,
How to preprocess sensor readings.
제1항에 있어서,
상기 중요 센서로 선정하는 단계는,
상기 복수의 인접 센서 각각의 검출 시간이 기준 검출 횟수 이상인 경우 상기 중요 센서로 선정하는 단계를 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 1,
The step of selecting as the important sensor,
Including the step of selecting the important sensor when the detection time of each of the plurality of adjacent sensors is greater than or equal to the reference detection number,
How to preprocess sensor readings.
제3항에 있어서,
상기 기준 검출 횟수는,
상기 검출 시간 구간 별로 상기 검출 시간 구간의 길이에 미리 설정된 기준 계수를 곱한 값인,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 3,
The number of times of the reference detection,
A value obtained by multiplying the length of the detection time section by a preset reference coefficient for each detection time section,
How to preprocess sensor readings.
제1항에 있어서,
상기 통합 시간 구간을 구성하는 단계는,
상기 제1 검출 시간 구간과 제2 검출 시간 구간의 상기 알람 미발생의 시간 구간이 통합 기준 값 미만인 경우, 상기 제1 검출 시간 구간과 상기 제2 검출 시간 구간이 인접한 것으로 판단하는 단계를 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 1,
The step of configuring the integrated time interval,
Comprising the step of determining that the first detection time interval and the second detection time interval are adjacent when the time interval in which the alarm does not occur in the first detection time interval and the second detection time interval is less than an integrated reference value,
How to preprocess sensor readings.
제5항에 있어서,
상기 통합 기준 값은,
상기 제1 검출 시간 구간과 제2 검출 시간 구간 중에서 큰 시간 구간에 미리 설정된 통합 계수를 곱한 값인,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 5,
The integrated reference value is,
A value obtained by multiplying a predetermined integration coefficient by a larger time interval among the first detection time interval and the second detection time interval,
How to preprocess sensor readings.
제1항에 있어서,
상기 문제 위치를 결정하는 단계는,
상기 복수의 인접 센서에서 측정값의 상위 3개의 센서를 상기 핵심 센서로 선정하는 단계를 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 1,
The step of determining the problem location,
Including the step of selecting the top three sensors of the measured value from the plurality of adjacent sensors as the core sensor,
How to preprocess sensor readings.
제7항에 있어서,
상기 문제 위치를 결정하는 단계는,
상기 핵심 센서가 배치된 영역을 6개의 영역으로 분할하는 단계를 더 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 7,
The step of determining the problem location,
Further comprising the step of dividing the area in which the core sensor is disposed into 6 areas,
How to preprocess sensor readings.
제8항에 있어서,
상기 문제 위치를 결정하는 단계는,
상기 6개의 영역 각각에서 상기 핵심 센서의 측정값을 비교하여 큰 측정값이 위치한 영역을 선택하고, 상기 선택된 영역이 최대로 중첩되는 영역을 상기 문제 위치로 결정하는 단계를 더 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 8,
The step of determining the problem location,
Comparing the measured values of the core sensors in each of the six areas, selecting an area in which a large measurement value is located, and determining an area where the selected area maximally overlaps as the problem location,
How to preprocess sensor readings.
제7항에 있어서,
상기 문제 위치를 결정하는 단계는,
상기 핵심 센서의 배치 위치를 연결한 삼각형의 외심원에서 상기 삼각형으로 수선을 발을 내리고, 상기 수선을 기초로 상기 핵심 센서가 배치된 영역을 분할하는 3개의 경계선을 생성하는 단계;
상기 3개의 경계선 각각에 대하여 분할된 경계를 기준으로 상기 핵심 센서의 측정값을 비교하여 측정값이 큰 영역을 선택하는 단계; 및
상기 선택된 영역이 최대로 중첩되는 영역을 상기 문제 위치로 결정하는 단계를 더 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 7,
The step of determining the problem location,
Generating three boundary lines for dividing an area in which the core sensor is disposed based on the repair line by lowering the foot to the triangle in a triangular outer center circle connecting the arrangement position of the core sensor;
Comparing the measured values of the core sensors based on the divided boundaries for each of the three boundary lines and selecting a region having a large measured value; And
Further comprising the step of determining a region where the selected region maximally overlaps as the problem location,
How to preprocess sensor readings.
제1항에 있어서,
상기 시퀀스를 생성하는 단계는,
상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는 상기 검출 시간 구간 또는 상기 통합 시간 구간을 동일한 길이의 시간 구간으로 상기 시계열 데이터를 가공하는 단계를 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 1,
Generating the sequence,
Comprising the step of processing the time series data from the detection time section or the integrated time section in which the problem location overlaps by a reference value or more into a time section of the same length,
How to preprocess sensor readings.
제11항에 있어서,
상기 시퀀스를 생성하는 단계는,
상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는 상기 검출 시간 구간 또는 상기 통합 시간 구간 중에서 최소 시간 구간을 기준으로 상기 시계열 데이터를 가공하는 단계를 포함하는,
센서 측정값 전처리 방법.
The method of claim 11,
Generating the sequence,
Comprising the step of processing the time series data based on a minimum time interval among the detection time interval or the integrated time interval in which the problem location overlaps by a reference value or more,
How to preprocess sensor readings.
컴퓨팅 장치에 의해 수행되는 방법에 있어서,
복수의 인접 센서 각각에 의하여 생성된 시계열 데이터가 전처리된 시퀀스를 수신하는 단계; 및
상기 시퀀스를 학습하여 상기 시계열 데이터의 측정값을 기초로 상기 문제 위치를 탐지하는 모델을 생성하는 단계를 포함하고,
상기 시계열 데이터가 전처리된 시퀀스를 수신하는 단계는,
상기 복수의 인접 센서 각각에 의하여 생성된 측정값 시계열 데이터를 얻는 단계;
상기 시계열 데이터에서 상기 복수의 인접 센서 모두의 알람 미발생을 기준으로 상기 시계열 데이터를 복수의 검출 시간 구간으로 분할하는 단계;
복수의 검출 시간 구간의 인접한 제1 검출 시간 구간과 제2 검출 시간 구간을 병합하여 통합 시간 구간을 구성하는 단계;
상기 검출 시간 구간 및 상기 통합 시간 구간 각각에서 선정된 3개의 핵심 센서 각각의 배치 좌표 및 측정값을 이용하여 문제 위치를 결정하는 단계; 및
상기 중요 센서의 개수가 동일하고, 상기 문제 위치가 기준치 이상 겹치는 상기 검출 시간 구간의 시계열 데이터 또는 상기 통합 시간 구간의 시계열 데이터가 순차적으로 연결된 결과를 반영하는 시퀀스(sequence)를 생성하는 단계를 포함하는,
문제 위치 결정 모델 학습 방법.
In the method performed by the computing device,
Receiving a sequence in which time series data generated by each of a plurality of adjacent sensors is preprocessed; And
Learning the sequence and generating a model for detecting the problem location based on the measured value of the time series data,
Receiving a sequence in which the time series data has been preprocessed,
Obtaining measurement value time series data generated by each of the plurality of adjacent sensors;
Dividing the time series data into a plurality of detection time intervals based on the occurrence of no alarms from all of the plurality of adjacent sensors in the time series data;
Forming an integrated time interval by merging the adjacent first detection time interval and the second detection time interval of the plurality of detection time intervals;
Determining a problem location using the arrangement coordinates and measurement values of each of the three core sensors selected in the detection time section and the integration time section; And
Generating a sequence reflecting a result of sequentially connecting time series data of the detection time section or the time series data of the integrated time section in which the number of the important sensors is the same and the problem location overlaps by a reference value or more. ,
How to train the problem positioning model.
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