KR20190014158A - Apparatus for detecting gas concentration using light filter - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 광 필터를 이용한 가스 검출기에 관한 것으로, 보다 상세하게는 복수개의 파장 선택 필터를 이용하여 수용액의 시료로부터 총 유기 탄소 측정을 위한 가스 농도를 고감도 및 선택적으로 측정할 수 있는 광 필터를 이용한 가스 검출기에 관한 것이다.The present invention relates to a gas detector using an optical filter, and more particularly, to a gas detector using an optical filter capable of measuring a concentration of a gas for measuring total organic carbon from a sample of an aqueous solution with high sensitivity and selectively using a plurality of wavelength selective filters Gas detector.
지구온난화 등 이상기후변화로 인하여 하천, 호소에 녹조류 및 수질오염물질 발생 증가로 이들에 대한 관리가 절대적으로 필요하다. 특히, 수질을 효율적으로 관리하기 위한 유기물 관리 강화의 필요성이 크게 대두되고 있다. Due to the unusual climate change such as global warming, it is absolutely necessary to manage them due to the increase of green algae and water pollutants in rivers and lakes. In particular, there is a great need to strengthen management of organic matter to efficiently manage water quality.
현재, 수질을 평가하는 지표가 화학적 산소 요구량(COD)에서 총유기탄소(TOC)로 정책적으로 변화하고 있으며, 총유기탄소(TOC)를 지표로 사용하는 경향은 하천, 호소뿐만 아니라 하폐수처리장 및 정수 분야까지 확대되고 있다. 또한 순수한 물의 사용을 필요로 하는 제약 및 반도체, 보일러 분야의 발전공정 및 냉각수 등까지 산업분야를 포함하여 전반적으로 확대 및 활성화되고 있다. At present, the index for evaluating water quality is changing politically from chemical oxygen demand (COD) to total organic carbon (TOC), and the tendency to use total organic carbon (TOC) as an indicator is not only in rivers and lakes, And so on. In addition, it has been expanded and activated all over the industrial fields including pharmaceuticals, which require the use of pure water, power generation processes in the semiconductor and boiler sectors, and cooling water.
미국 등 환경선진국에서는 세계적으로 총유기탄소(TOC) 측정장치의 고감도를 확보하기 위해서 산화효율을 극대화하기 위한 산화장치인 열연소 방식, UV/persulfate방식에서 초임계산화, 오존산화, Photo oxidation 산화방법 등이 개발되고 있으며, 또한 fluidic 검출방식에서도 Pressurized flow 등을 이용한 방식이 등장하고 있는 등 다양한 기술개발이 이루어지고 있다. In the US and other advanced countries in the world, in order to secure the high sensitivity of the total organic carbon (TOC) measuring device worldwide, it is necessary to use a hot-smelting method as an oxidation device for maximizing the oxidation efficiency, a supercritical calculation in the UV / persulfate method, And a fluidic sensing method using pressurized flow has been developed, and various technologies have been developed.
특히, 최근에는 비용을 절감하고 고감도를 확보하기 위해 검출기 개발에 집중하고 있는 추세이며 기존 단일광의 이중 파장 분석방법에서 페브리페롯(FPI)방식 등을 적용하여 동일한 광로를 갖는 측정방식의 검출기 개발이 활성화 되고 있다. In recent years, it has been focusing on the development of detectors in order to save costs and to obtain high sensitivity. In the dual wavelength analysis method of existing single light, development of a measurement type detector having the same optical path by applying the Fabry-Perot (FPI) It is activated.
국내에서도 총 유기 탄소 측정을 위한 CO2 분석을 위해서 전기화학과 NDIR 광학을 이용한 Gas 검출기가 개발되고 있다.In Korea, gas detectors using electrochemistry and NDIR optics are being developed for CO2 analysis for total organic carbon measurement.
비분산 적외선(Non-Dispersive InfraRed: NDIR) 가스 센서는 가스 분자가 특정 파장의 광(적외선)을 흡수하는 특성을 이용하여 농도에 대한 광 흡수율을 측정함으로써 가스 농도를 구하는 방식이다. 즉, 특정 가스 분자는 특정 파장대의 광만을 흡수하는 특성이 있기 때문에 가스 분자에 여러 파장의 광을 조사하고, 이 중 가스 분자가 흡수하는 파장대의 광만 필터로 걸러내어 측정하는 것이다.A non-dispersive infrared (NDIR) gas sensor is a system for measuring the gas concentration by measuring a light absorption rate with respect to a concentration by using a characteristic that a gas molecule absorbs light having a specific wavelength (infrared ray). That is, since specific gas molecules have a characteristic of absorbing only light of a specific wavelength band, the gas molecules are irradiated with light of a plurality of wavelengths, and only the light of the wavelength band absorbed by the gas molecules is filtered and filtered.
이러한, 비분산 적외선 가스 센서는 광 검출기에 해당 파장만을 투과시키는 광 필터를 부착하기만 되므로 분산 방식에 비하여 시스템이 간단하고 비용이 적게 소요되며, 가스 선택성 및 측정 신뢰성이 높다는 장점이 있다.Since the non-dispersive infrared gas sensor merely attaches an optical filter that transmits only the wavelength to the photodetector, the system is simple and requires less cost than the dispersion system, and has advantages of high gas selectivity and high measurement reliability.
비분산 적외선 가스 센서의 경우 분석 물질에 따라 특정 대역의 파장만을 선택하여 검출하는 좀 더 효율적인 측정 방법이 여전히 요구되며, 더 나아가, 복수 개의 분석 가스 농도를 하나의 반응셀을 이용하여 동시에 측정할 수 있는 측정 방법이 요구된다. In the case of a non-dispersive infrared gas sensor, a more efficient measurement method for selecting and detecting only a specific wavelength according to an analytical substance is still required. Further, a plurality of analytical gas concentrations can be simultaneously measured using one reaction cell A measurement method is required.
본 발명은 간단한 구조를 가지면서 광 검출 감도를 높일 수 있는 총유기 탄소 측정용 가스 검출기를 제공하는 것이다.The present invention provides a gas detector for measuring total organic carbon, which has a simple structure and can increase the photodetection sensitivity.
본 발명은 분석물질의 종류에 따라 복수개의 가스 농도를 선택적으로 선별하여 동시에 측정할 수 있는 가스 검출기를 제공하는 것이다. The present invention provides a gas detector capable of selectively measuring and simultaneously measuring a plurality of gas concentrations according to the kind of an analyte.
본 발명의 하나의 양상은 One aspect of the present invention is
복수개 파장대의 광을 조사하는 다파장 광원부 ;A multi-wavelength light source unit for emitting light of a plurality of wavelength ranges;
상기 다파장의 광원이 조사되는 광경로 상에 위치하고, 전처리 장치에서 발생된 시료 가스가 유입 및 유출되는 반응 셀 ;A reaction cell located on an optical path to which the multi-wavelength light source is irradiated and into which a sample gas generated in the pretreatment device flows in and out;
상기 반응셀 후단에 위치하고, 정해진 하나 이상의 파장대에 해당하는 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광은 반사시키는 파장 선택 필터가 복수 개 위치하는 광 필터부 ; 및An optical filter unit positioned at a rear end of the reaction cell and having a plurality of wavelength selective filters for transmitting light corresponding to at least one predetermined wavelength band and reflecting light at the other wavelength band; And
상기 광 필터부를 투과한 광의 신호를 검출하는 광 검출소자를 포함하는 광원분할을 이용한 가스 검출기에 관련된다.And a light detecting element for detecting a signal of light transmitted through the optical filter portion.
본 발명의 가스 검출기는 원하는 파장대의 광을 투과시키고 원하지 않는 나머지 파장대의 광을 반사시키는 파장 선택 필터를 복 수개 배열하여 측정하고자 하는 복수개의 가스 농도를 선택적으로 선별하여 동시에 측정할 수 있다.The gas detector of the present invention can arrange a plurality of wavelength selection filters that transmit light of a desired wavelength range and reflect light of the remaining undesired wavelength band so as to selectively measure and simultaneously measure a plurality of gas concentrations to be measured.
종래에는 특정 각도로 기울어진 복수개의 파장 반사 필터(광필터)를 광경로의 동일축상에 위치시켜 원하는 파장의 광을 각각 반사시켜 광량을 측정하였으나, 기울어진 각도(반사각)에 따라 광량의 손실이 발생할 수 있고, 측정되는 파장의 종류가 많아질수록 동일축(광경로를 따라)을 따라 위치하는 광 필터의 개수가 증가하므로 맨 후단에 위치하는 광 필터에 도달하는 광량이 줄어드는 문제가 있었다. 이에 반해, 본 발명의 광 필터는 원하는 파장을 흡수하는 방식이므로 종래 기술과 같이 반사각에 따른 광손실을 줄일 수 있고, 또한, 본 발명의 광필터는 광원과 동일축 상에 위치하는 파장 선택 필터의 개수를 줄일 수 있으므로 동일축 상의 가장 후단에 위치하는 파장 선택 필터에 도달하는 광량의 손실을 줄일 수 있다. Conventionally, a plurality of wavelength reflection filters (optical filters) inclined at a specific angle are positioned on the same axis of the optical path to reflect light of a desired wavelength, and the amount of light is measured. However, depending on the tilt angle And the number of optical filters located along the same axis (along the optical path) increases as the number of types of wavelengths to be measured increases, so that there is a problem that the amount of light reaching the optical filter located at the rear end is decreased. On the contrary, since the optical filter of the present invention absorbs a desired wavelength, the optical loss according to the reflection angle can be reduced as in the prior art, and the optical filter of the present invention has a wavelength selective filter It is possible to reduce the loss of the amount of light reaching the wavelength selection filter located at the rear end on the same axis.
본 발명은 입사된 광량을 전체적으로 사용하므로 분석의 정확도를 높일 수 있다. The present invention can increase the accuracy of analysis by using the amount of incident light as a whole.
도 1은 본 발명의 가스 검출기의 개념도이다.
도 2는 반사경을 포함하는 광원부를 도시한 것이다.1 is a conceptual diagram of a gas detector of the present invention.
Fig. 2 shows a light source section including a reflector.
이하에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예를 상세히 설명한다. 본 발명의 실시 예를 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 또한, 후술 되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로서 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 그 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear. In addition, the terms described below are defined in consideration of the functions of the present invention, which may vary depending on the intention of the user, the operator, or the custom. Therefore, the definition should be based on the contents throughout this specification.
도 1은 본 발명의 가스 검출기의 개념도이다. 도 2는 반사경을 포함하는 광원부를 도시한 것이다. 본 발명의 가스 검출기는 광원부(10), 반응 셀(20), 광필터부(30) 및 광 검출소자(40)를 포함한다.1 is a conceptual diagram of a gas detector of the present invention. Fig. 2 shows a light source section including a reflector. The gas detector of the present invention includes a
상기 광원부(10)는 복수개 파장대의 광을 조사할 수 있다. 상기 광원부(10)는 공지된 다파장 광원 장치를 제한없이 사용할 수 있다. 상기 광원부는 다파장의 광을 조사하는 적외선 램프를 사용할 수 있다. 도 1을 참고하면, 상기 광원부(10)는 n개의 특정 파장대(λ1,...λn)의 광을 조사할 수 있다. The
도 2를 참고하면, 상기 가스 검출기는 광경로에 해당하는 면을 제외한 영역을 둘러싸는 반사경(50)을 추가로 포함할 수 있다. 상기 반사경을 통해 광원에서 조사되는 광 에너지를 최대한 상기 광 필터로 전송시킬 수 있다.Referring to FIG. 2, the gas detector may further include a
상기 반응 셀(20)은 상기 다파장의 광원이 조사되는 광경로 상에 위치하고, 전처리 장치(60)에서 발생된 시료 가스가 유입된다.The
도 1을 참고하면, 조사된 다파장 광은 반응 셀(20)을 통과한다. 상기 전처리 장치(50)는 측정 시료(수용액)에서 탄소를 포함하는 가스, 예를 들면, CO2, CO, CH4 등을 발생시킨 후 이를 반응 셀(20)로 공급한다.Referring to FIG. 1, the irradiated multi-wavelength light passes through the
상기 반응 셀(20)에는 공급된 시료 가스가 유입되는데, 광원부에서 조사된 다파장의 광은 시료의 특정 가스에 흡수 혹은 산란되면서 반응 셀(150) 후단에 위치한 광 필터기(30)로 전달된다.The supplied sample gas flows into the
예를 들면, CO2는 4260nm, CH4는 3300nm, CO는 4640nm 파장을 흡수한다. 따라서, 상기 광원부에서 조사되는 특정 파장대(4260nm, 3300nm, 4640nm, 3800nm(ref) 등)의 광원들은 CO2 등 가스에 의해 흡수되므로 광필터에 도달되는 상기 파장대의 광세기는 감소하게 된다. 상기 광 필터와 광 검출소자(40)에 도달되는 광량은 가스(분자) 농도에 반비례하게 된다.For example, CO2 absorbs 4260nm, CH4 absorbs 3300nm, and CO absorbs 4640nm. Therefore, since the light sources of the specific wavelength band (4260 nm, 3300 nm, 4640 nm, 3800 nm (ref), etc.) irradiated by the light source unit are absorbed by the gas such as
상기 반응셀(20)의 외면에는 온도 조절부(21)가 부착되어 있어 반응셀 내의 적절한 온도를 유지할 수 있다. 상기 온도 조절부(21)로는 실리콘 러버 히터 등을 사용할 수 있다. The
상기 광 필터부(30)는 상기 반응셀 후단에 위치하고, 정해진 하나 이상의 파장대에 해당하는 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광은 반사시키는 파장 선택 필터가 복수 개 배열될 수 있다.The
좀 더 구체적으로는, 상기 광 필터부(30)는 제 1 파장 선택 필터(31), 제 2 파장 선택 필터(32) 및 제 3 파장 선택 필터(33)를 포함할 수 있다. More specifically, the
상기 제 1 파장 선택 필터(31)는 상기 반응셀 후단에 위치하고, 정해진 복수개의 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광은 반사시킬 수 있다.The first
상기 제 1 파장 선택 필터(31)는 복수개의 파장을 통과시키도록 설계될 수 있다. 도 1을 참고하면, 상기 제 1 선택 파장 필터는 λ2(3300nm), λ3(4260nm) 파장의 광을 투과시킬 수 있다.The first
상기 제 2 파장 선택 필터(32)는 상기 제 1 파장 선택 필터(31) 후단에 위치하고, 상기 제 1 파장 선택 필터(3)를 통과한 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시킬 수 있다. 도 1을 참고하면, 상기 제 2 선택 파장 필터는 λ3(4260nm) 파장의 광은 투과시키고, λ2(3300nm) 파장의 광은 반사시킬 수 있다.The second
상기 제 3 선택 파장 필터(33)는 상기 제 1 파장 선택 필터의 반사광 경로 상에 위치하되, 상기 제 1 파장 선택 필터에 반사된 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시킬 수 있다. 도 1을 참고하면, 상기 제 3 선택 파장 필터(33)는 λ1(3910nm) 파장의 광은 투과시키고, λ4, λ5.... λn 파장의 광은 반사시킬 수 있다. 상기 제 3 선택 파장 필터(33)는 상기 광원, 반응셀, 제 1 선택 파장 필터, 제 2 선택 파장 필터와 동일축상에 위치하지 않을 수 있으며, 예를 들면, 상기 제 1 선택 파장 필터의 상측에 위치할 수 있다. 따라서, 본 발명의 광필터는 광원과 동일축 상에 위치하는 파장 선택 필터의 개수를 줄일 수 있으므로 가장 후단에 위치하는 파장 선택 필터에 도달하는 광량의 손실을 줄일 수 있다. The third selective wavelength filter (33) is disposed on the reflected light path of the first wavelength selective filter, and transmits the light of a specific wavelength band among the light reflected by the first wavelength selective filter . 1, the third
또한, 상기 광 필터부(30)는 제 1 파장 선택 필터(31), 제 2 파장 선택 필터(32) 및 제 3 파장 선택 필터(33) 후단에 각각 또 다른 파장 선택 필터를 포함할 수 있다.The
예를 들면, 상기 광 필터부는 제 2 파장 선택 필터 후단에 위치하고, 상기 제 2 파장 선택 필터를 통과한 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시키는 제 4 파장 선택 필터를 포함할 수 있다. For example, the optical filter unit may include a fourth wavelength selection filter positioned at a rear end of the second wavelength selection filter, transmitting light of a specific wavelength band among the light passing through the second wavelength selection filter, and reflecting light of the remaining wavelength band can do.
상기 광 필터부는 상기 제 2 파장 선택 필터 후단에 위치하되, 상기 제 2 파장 선택 필터에 반사된 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시키는 제 5 파장 선택 필터를 추가로 포함할 수 있다.The optical filter unit further includes a fifth wavelength selection filter positioned at the downstream end of the second wavelength selection filter for transmitting light of a specific wavelength band among the light reflected by the second wavelength selection filter and reflecting light of the remaining wavelength band can do.
한편, 상기 광 필터부(30)는 제 1 파장 선택 필터(31), 제 2 파장 선택 필터(32) 및 제 3 파장 선택 필터(33) 후단에 파장 반사 필터를 각각 포함할 수 있다.The
본 발명에서 사용되는 파장 선택 필터는 정해진 하나 이상의 파장대에 해당하는 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광은 반사시키는 필터이다. 또한, 본 발명에서 사용되는 파장 반사 필터는 정해진 하나의 파장대에 해당하는 광을 반사시키고 나머지 파장대들의 광은 투과시키는 필터이다.The wavelength selection filter used in the present invention is a filter that transmits light corresponding to at least one predetermined wavelength band and reflects light of the other wavelength band. In addition, the wavelength reflection filter used in the present invention is a filter that reflects light corresponding to one predetermined wavelength band and transmits light of the other wavelength band.
이와 같이, 본 발명은 파장 선택 필터를 복 수개 배열하여 측정하고자 하는 복수개의 가스 농도를 선택적으로 동시에 측정할 수 있다. 또한, 본 발명은 파장 선택 필터와 파장 반사 필터를 동시에 사용하여 복수개의 가스 농도를 동시에 측정할 수 있다.As described above, the present invention can simultaneously and simultaneously measure a plurality of gas concentrations to be measured by arranging a plurality of wavelength selection filters. In addition, the present invention can simultaneously measure a plurality of gas concentrations by using a wavelength selection filter and a wavelength reflection filter at the same time.
상기 광 검출소자(40, 41, 42, 43)는 상기 광 필터부를 투과한 광의 신호를 검출한다. The light detecting elements (40, 41, 42, 43) detect a signal of light transmitted through the light filter portion.
도 1을 참고하면, 각각의 광 검출소자(41, 42, 43)에서는 수용된 광의 강도를 검출하고 이를 전기적 신호로 변환하여 후단의 전기 회로로 전달한다. 이로써 후단의 전기 회로에서는 분석 물질에 대한 농도 산출이 행해질 수 있다. 상기 농도 산출은 공지된 방법으로 수행될 수 있다. 예를 들면, 특정 가스 분자의 농도는 비어 램버트 법칙에 따라 하기 수학식 1로 도출될 수 있다.Referring to FIG. 1, each of the
Io : 광원부에서 방출되는 초기 광량 Io: Initial light quantity emitted from the light source
I : 광검출소자에 도달하는 광량을 I, I: The amount of light reaching the light detector is I,
L : 광의 진행거리 L: travel distance of light
X : 가스 분자의 농도 X: Concentration of gas molecules
a : 각 가스 분자의 광흡수율, 광원의 광방출 스펙트럼, 광검출기의 광감지 스펙트럼 등에 의해 결정되는 상수 값(주: 비분산 적외선 가스 센서의 분석에서 통상 고정 값으로 설정되는 값).a: a constant value determined by the light absorptance of each gas molecule, the light emission spectrum of the light source, the light detection spectrum of the photodetector, etc. (Note: a value usually set as a fixed value in the analysis of a non-dispersive infrared gas sensor).
본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 변형된 형태로 구현될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 개시된 실시예들은 한정적인 관점이 아니라 설명적인 관점에서 고려되어야 한다. 따라서 본 발명의 범위는 전술한 실시예에 한정되지 않고 특허청구범위에 기재된 내용 및 그와 동등한 범위 내에 있는 다양한 실시 형태가 포함되도록 해석되어야 할 것이다. It will be understood by those skilled in the art that various changes in form and details may be made therein without departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. Therefore, the disclosed embodiments should be considered in an illustrative rather than a restrictive sense. Therefore, the scope of the present invention is not limited to the above-described embodiments, but should be construed to include various embodiments within the scope of the claims and equivalents thereof.
Claims (4)
상기 다파장의 광원부가 조사되는 광경로 상에 위치하고, 전처리 장치에서 발생된 시료 가스가 유입 및 유출되는 반응 셀(20) ;
상기 반응셀 후단에 위치하고, 정해진 하나 이상의 파장대에 해당하는 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광은 반사시키는 파장 선택 필터가 복수 개 위치하는 광 필터부(30) ; 및
상기 광 필터부를 투과한 광의 신호를 검출하는 광 검출소자(40)를 포함하는 광 필터를 이용한 가스 검출기. A multi-wavelength light source unit (10) for emitting light of a plurality of wavelength ranges;
A reaction cell 20 located on an optical path to which the multi-wavelength light source unit is irradiated, into which a sample gas generated in the pretreatment unit flows in and out;
An optical filter unit 30 positioned at a rear end of the reaction cell and having a plurality of wavelength selective filters for transmitting light corresponding to at least one predetermined wavelength band and reflecting light of the other wavelength band; And
And a photodetector element (40) for detecting a signal of light transmitted through the optical filter section.
상기 반응셀 후단에 위치하고, 정해진 복수개의 파장대의 광을 투과시키고 나머지 파장대의 광은 반사시키는 제 1 파장 선택 필터(31) ;
상기 제 1 파장 선택 필터 후단에 위치하고, 상기 제 1 파장 선택 필터를 통과한 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시키는 제 2 파장 선택 필터(32) ;
상기 제 1 파장 선택 필터 후단에 위치하되, 상기 제 1 파장 선택 필터에 반사된 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시키는 제 3 파장 선택 필터(33)를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 필터를 이용한 가스 검출기.The optical filter according to claim 1,
A first wavelength selection filter (31) located at the rear end of the reaction cell for transmitting light of a predetermined wavelength band and reflecting light of the remaining wavelength band;
A second wavelength selection filter (32) positioned at a downstream end of the first wavelength selection filter and transmitting light of a specific wavelength band among the light having passed through the first wavelength selection filter and reflecting light of the remaining wavelength band;
And a third wavelength selection filter (33) positioned at the downstream end of the first wavelength selection filter and transmitting light of a specific wavelength band among the light reflected by the first wavelength selection filter and reflecting light of the remaining wavelength band A gas detector using an optical filter.
제 2 파장 선택 필터 후단에 위치하고, 상기 제 2 파장 선택 필터를 통과한 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시키는 제 3 파장 선택 필터 ;
상기 제 2 파장 선택 필터 후단에 위치하되, 상기 제 2 파장 선택 필터에 반사된 광 중에서 특정 파장대의 광은 투과시키고, 나머지 파장대의 광은 반사시키는 제 4 파장 선택 필터를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 광 필터를 이용한 가스 검출기.The optical filter according to claim 1,
A third wavelength selection filter positioned at a rear end of the second wavelength selection filter and transmitting light of a specific wavelength band among the light having passed through the second wavelength selection filter and reflecting light of the remaining wavelength band;
And a fourth wavelength selection filter positioned behind the second wavelength selection filter for transmitting light of a specific wavelength band among the light reflected by the second wavelength selection filter and for reflecting light of the remaining wavelength band. A gas detector using an optical filter.
The gas detector according to claim 1, wherein the gas detector further comprises a reflector surrounding a region except a surface corresponding to an optical path.
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KR1020170095136A KR20190014158A (en) | 2017-07-27 | 2017-07-27 | Apparatus for detecting gas concentration using light filter |
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