KR20170085927A - Organic device for X-ray detect and method of manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

X-선 검출용 유기소자의 신호 취득 효율을 높일 수 있는 X-선 검출용 유기소자 및 그 제조방법이 개시된다. 종래의 P3HT:PCBM를 기반으로 한 활성층을 포함하는 X-선 검출용 유기소자의 경우 가시광 영역의 흡광도가 저조하여 조사된 X-선이 섬광체에 의해 빛으로 변환되어 검출소자에 입사될 경우 그 흡수율이 낮은 단점을 가지고 있으나, 이를 개선하기 위해 활성층의 물질로 P3HT:ICBA를 사용하여 종래의 P3HT:PCBM 대비 가시광 영역의 흡광도를 개선함으로써 신호 취득 효율을 향상시킬 수 있는 X-선 검출용 유기소자 및 그 제조방법을 제공한다.An organic device for X-ray detection capable of increasing signal acquisition efficiency of an organic device for X-ray detection and a method of manufacturing the same. In the case of an organic device for X-ray detection including an active layer based on a conventional P3HT: PCBM, when the absorbance of the visible light region is low and the irradiated X-ray is converted into light by the scintillator, In order to solve this problem, an organic device for X-ray detection which can improve the signal acquisition efficiency by improving the absorbance of visible light region compared to the conventional P3HT: PCBM using P3HT: ICBA as the active layer material, and And a manufacturing method thereof.

Description

X-선 검출용 유기소자 및 그 제조방법{Organic device for X-ray detect and method of manufacturing the same}[0001] The present invention relates to an organic device for X-ray detection,

본 발명은 X-선 검출용 유기소자 및 그 제조방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 P3HT:ICBA를 이용한 X-선 검출용 유기소자 및 그 제조방법에 관한 것이다.More particularly, the present invention relates to an organic device for X-ray detection using P3HT: ICBA and a method for manufacturing the same.

일반적으로, 사용빈도가 높은 디지털 X-선 영상장치는 크게 광도전체 (photoconductor)의 전기적 신호를 직접 받아 영상을 만들어내는 직접변환방식과 유도된 섬광체(scintillator)의 빛을 집광 소자를 이용하여 전기신호로 변환시켜 영상을 만들어내는 간접변환방식이 있다.Generally, a digital X-ray imaging apparatus having a high frequency of use generally includes a direct conversion system that directly receives an electrical signal of a photoconductor to generate an image, and a direct conversion system that converts an induced scintillator light into an electrical signal And an indirect conversion method in which an image is generated.

종래에는 반도체 무기재료 기반의 X-선 검출기가 일반적으로 사용되고 있으며 대체할 기술로써 유기태양전지 기술과 X-선 기술을 접목시킨 유기재료 기반의 검출소자의 연구가 진행되고 있다.Conventionally, an X-ray detector based on a semiconductor inorganic material is generally used, and as an alternative technology, an organic material-based detection element that combines organic solar cell technology and X-ray technology is being studied.

도 1은 종래의 X-선 검출용 유기소자를 나타내는 도면이다.1 is a view showing a conventional organic device for X-ray detection.

도 1을 참조하면, 종래의 X-선 검출용 유기소자(100)는 기판(110), 기판(110) 상부에 형성되는 제1 전극층(120), 제1 전극층(120) 상부에 형성되고 정공의 수송을 향상시키는 정공수송층(130), 정공수송층(130) 상부에 형성되고 인가되는 X-선으로부터 전자-정공쌍을 형성하는 활성층(140) 및 활성층(140) 상부에 형성되는 제2 전극층(150)을 포함한다.Referring to FIG. 1, a conventional organic X-ray detecting device 100 includes a substrate 110, a first electrode layer 120 formed on the substrate 110, a first electrode layer 120 formed on the first electrode layer 120, A hole transport layer 130 for improving the transport of the electron transporting layer 130, an active layer 140 for forming electron-hole pairs from the X-ray formed on and applied to the hole transport layer 130, and a second electrode layer 150).

이러한 종래의 X-선 검출용 유기소자(100)의 경우 1V 이하의 구동전압에서 동작하며, X-선이 인가되었을 때 변환효율은 반도체기반 검출기의 100분의 1정도의 검출 성능을 갖는다.The conventional organic X-ray detecting element 100 operates at a driving voltage of 1 V or less, and when X-ray is applied, the conversion efficiency has a detection performance of about 1/100 of that of the semiconductor-based detector.

또한, 종래의 X-선 검출용 유기소자(100)는 활성층(140) 물질로써 일반적으로 P3HT:PCBM를 사용한다. 하지만, 간접변환방식에 있어서 P3HT:PCBM 활성층(140)이 적용된 검출소자의 경우 섬광체에서 변환되어 도달하는 광을 다시 전기신호로 변환하는 검출 효율이 낮기에 이에 대한 개선이 필요하다.In addition, the conventional organic X-ray detecting device 100 uses P3HT: PCBM as the active layer 140 material. However, in the case of a detection device to which the P3HT: PCBM active layer 140 is applied in the indirect conversion method, it is necessary to improve the detection efficiency of converting the light received from the scintillator into an electrical signal.

한국등록특허 10-1412896Korean Patent No. 10-1412896

본 발명은 상술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것이다. 즉, 종래의 물질 대비 우수한 흡광도를 기반으로 신호 취득 효율을 향상시킬 수 있는 X-선 검출용 유기소자 및 그 제조방법을 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems of the prior art. That is, an object of the present invention is to provide an organic device for X-ray detection capable of improving signal acquisition efficiency based on an excellent absorbance compared to a conventional material, and a method of manufacturing the same.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 X-선 검출용 유기소자는 기판, 상기 기판 상부에 형성된 제1 전극층, 상기 제1 전극층 상부에 형성되고, 정공의 수송을 향상시키는 정공수송층, 상기 정공수송층 상부에 형성되고, 상기 기판을 투과한 X-선이 흡수되어 전자-정공 쌍을 생성하는 활성층, 상기 활성층 상부에 형성된 제2 전극층 및 상기 기판 하부에 형성되며, 상기 X-선을 가시광선으로 변환하는 섬광체층(scintillator)을 포함하고, 상기 활성층은 P3HT:ICBA의 혼합물로 형성되는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided an organic device for X-ray detection comprising a substrate, a first electrode layer formed on the substrate, a hole transport layer formed on the first electrode layer to improve transport of holes, An active layer which is formed on the substrate and absorbs X-rays transmitted through the substrate to generate electron-hole pairs, a second electrode layer formed on the active layer, and a lower electrode formed on the substrate, And a scintillator, wherein the active layer is formed of a mixture of P3HT: ICBA.

상기 P3HT:ICBA는 상기 ICBA에 대하여 P3HT 1.2~2중량부로 이루어질 수 있다.The P3HT: ICBA may be composed of 1.2 to 2 parts by weight of P3HT relative to the ICBA.

상기 P3HT:ICBA는 상기 섬광체층의 스팩트럼 특성과 비교하여 높은 정합도를 갖도록 P3HT와 ICBA는 중량비율로 3:2를 갖을 수 있다.The P3HT: ICBA may have a weight ratio of 3: 2 such that P3HT and ICBA have a high degree of matching as compared with the spectral characteristics of the scintillator layer.

상기 P3HT:ICBA는 유기소자의 총 중량을 기준으로 20중량%의 중량을 갖을 수 있다.The P3HT: ICBA may have a weight of 20 wt% based on the total weight of the organic device.

상기 섬광체층은 Nal:TI, Csl:TI, Y3Al5O12:Ce, CdWO4, LuAG:Ce 및 Gd2O2S:Tb로 이루어진 군에서 어느 하나로 형성될 수 있다.The scintillator layer may be formed of any one of the group consisting of Nal: TI, CsI: TI, Y3Al5O12: Ce, CdWO4, LuAG: Ce and Gd2O2S: Tb.

상기 섬광체층은 1mm이하의 두께를 갖을 수 있다.The scintillator layer may have a thickness of 1 mm or less.

상기 과제를 해결하기 위한 본 발명의 X-선 검출용 유기소자의 제조방법은 기판 상부에 제1 전극층을 형성하는 단계, 상기 제1 전극층 상부에 정공수송층을 형성하는 단계, 상기 정공수송층 상부에 P3HT:ICBA의 혼합물로 형성된 활성층을 형성하는 단계, 상기 활성층 상부에 제2 전극층을 형성하는 단계 및 상기 기판 하부에 섬광체층(scintillator)을 형성하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a method of manufacturing an organic device for X-ray detection, comprising: forming a first electrode layer on a substrate; forming a hole transport layer on the first electrode layer; : Forming an active layer formed of a mixture of ICBA, a second electrode layer on the active layer, and a scintillator on the bottom of the substrate.

상기 기판 상부에 제1 전극층을 형성하는 단계에서, 상기 기판은 ITO 투명 전극이 코팅된 무알칼리 글라스(Non-Alkali Glass) 기판일 수 있다.In the step of forming the first electrode layer on the substrate, the substrate may be a non-alkali glass substrate coated with an ITO transparent electrode.

상기 활성층을 형성하는 단계에서, 상기 P3HT:ICBA는 상기 ICBA에 대하여 P3HT 1.2~2중량부로 이루어질 수 있다.In the step of forming the active layer, the P3HT: ICBA may be composed of 1.2 to 2 parts by weight of P3HT relative to the ICBA.

상기 활성층을 형성하는 단계에서, 상기 P3HT:ICBA는 상기 섬광체층의 스팩트럼 특성과 비교하여 높은 정합도를 갖도록 P3HT와 ICBA는 중량비율로 3:2를 갖을 수 있다.In the step of forming the active layer, P3HT and ICBA may have a weight ratio of 3: 2 so that the P3HT: ICBA has a high matching property as compared with the spectral characteristics of the scintillator layer.

상기 섬광체층을 형성하는 단계에서, 상기 섬광체층은 Nal:TI, Csl:TI, Y3Al5O12:Ce, CdWO4, LuAG:Ce 및 Gd2O2S:Tb로 이루어진 군에서 어느 하나로 형성될 수 있다.In the step of forming the scintillator layer, the scintillator layer may be formed of one selected from the group consisting of Nal: TI, CsI: TI, Y3Al5O12: Ce, CdWO4, LuAG: Ce and Gd2O2S: Tb.

상기 제2 전극층을 형성하는 단계 이후에 봉지(Encapsulation)공정을 수행하는 단계를 더 포함할 수 있다.And performing an encapsulation process after forming the second electrode layer.

본 발명에 따르면, 간접변환방식의 유기재료 기반의 X-선 검출소자를 제작함으로써 종래의 반도체기반의 검출소자보다 대면적, 경제성, 공정적인 부분 등의 측면에서 장점을 갖고 있다.According to the present invention, by manufacturing an X-ray detecting element based on an organic material of indirect conversion type, it has advantages in terms of area, economical efficiency, and process part compared with the conventional semiconductor-based detecting element.

즉, 종래의 P3HT:PCBM의 혼합물질을 기반으로 한 활성층을 포함하는 X-선 검출소자의 경우 가시광 영역의 흡광도가 저조하여 조사된 X-선이 섬광체에 의해 빛으로 변환되어 검출소자에 입사될 경우 그 흡수율이 낮은 단점을 가지고 있으나, 본 발명에 따른 P3HT:ICBA 혼합물질을 기반으로 한 활성층을 포함하는 X-선 검출소자의 경우 종래의 P3HT:PCBM 대비 가시광 영역의 흡광도가 우수하여 신호 취득 효율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.That is, in the case of an X-ray detecting element including an active layer based on a conventional P3HT: PCBM mixed material, the X-ray irradiated due to low absorbance in the visible light region is converted into light by the scintillator, However, in the case of the X-ray detecting device including the active layer based on the P3HT: ICBA mixed material according to the present invention, the absorbance of the visible light region is superior to that of the conventional P3HT: PCBM, There is an advantage that it can be improved.

본 발명의 기술적 효과들은 이상에서 언급한 것들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 효과들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The technical effects of the present invention are not limited to those mentioned above, and other technical effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description.

도 1은 종래의 X-선 검출용 유기소자를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 X-선 검출용 유기소자를 나타내는 도면이다.
도 3은 유기검출소자의 두 가지 활성층 물질(P3HT:PCBM, P3HT:ICBA)의 흡광 곡선과 섬광체의 발광 곡선의 비교 그래프이다.
도 4는 본 발명의 X-선 검출용 유기소자의 섬광체층에 대한 두께별 발광 스펙트럼을 비교한 그래프이다.
도 5 내지 도 9는 본 발명의 X-선 검출용 유기소자의 제작방법을 나타내는 도면이다.
도 10은 본 발명에 따른 유기 X-선 검출소자의 X-선 노출시 검출된 전하량을 나타내는 그래프이다.
도 11은 본 발명의 P3HT:ICBA와 종래의 P3HT:PCBM에 따른 검출감도 및 암 전류 밀도를 비교한 그래프이다.
도 12는 본 발명의 P3HT:ICBA 혼합물의 코팅 전 용해 비중에 따른 간접변환방식의 유기 X-선 검출소자의 특성을 나타낸 그래프이다.
도 13은 본 발명의 P3HT:ICBA 혼합물의 조성 비율에 따른 간접변환방식의 유기 X-선 검출소자의 특성을 나타낸 그래프이다.
도 14는 본 발명의 P3HT:ICBA 혼합물의 두께에 따른 간접변환방식의 유기 X-선 검출소자의 특성을 나타낸 그래프이다.
도 15는 본 발명의 P3HT와 ICBM의 Blending Ratio의 변화에 따른 흡수율을 나타내는 그래프이다.
1 is a view showing a conventional organic device for X-ray detection.
2 is a view showing an organic device for X-ray detection of the present invention.
Fig. 3 is a graph showing a comparison between the absorption curves of the two active layer materials (P3HT: PCBM, P3HT: ICBA) of the organic detection element and the emission curves of the scintillators.
FIG. 4 is a graph comparing the emission spectra of the scintillator layers of the organic device for X-ray detection according to the present invention.
Figs. 5 to 9 are views showing a manufacturing method of the organic element for X-ray detection of the present invention.
FIG. 10 is a graph showing the amount of electric charges detected by X-ray exposure of the organic X-ray detecting element according to the present invention. FIG.
11 is a graph comparing detection sensitivity and dark current density according to P3HT: ICBA of the present invention and conventional P3HT: PCBM.
12 is a graph showing the characteristics of an organic X-ray detecting device of indirect conversion type according to dissolution specific gravity of P3HT: ICBA mixture of the present invention before coating.
13 is a graph showing the characteristics of an organic X-ray detecting device of an indirect conversion type according to the composition ratio of the P3HT: ICBA mixture of the present invention.
FIG. 14 is a graph showing the characteristics of an organic X-ray detecting device of an indirect conversion type according to the thickness of a P3HT: ICBA mixture of the present invention.
FIG. 15 is a graph showing absorption rates of P3HT and ICBM according to changes of the blending ratio of the present invention. FIG.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The present invention is capable of various modifications and various embodiments, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. It is to be understood, however, that the invention is not to be limited to the specific embodiments, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

이하, 본 발명에 따른 실시 예들을 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하기로 하며, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 도면번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. Referring to the accompanying drawings, the same or corresponding components are denoted by the same reference numerals, .

도 2는 본 발명의 X-선 검출용 유기소자(200)를 나타내는 도면이다.2 is a view showing an organic EL device 200 for X-ray detection of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명에 따른 X-선 검출용 유기소자(200)는 기판(210), 제1 전극층(220), 정공수송층(230), 활성층(240), 제2 전극층(250) 및 섬광체층(scintillator)(270)을 포함하며, 하부로부터 섬광체층(270), 기판(210), 제1 전극층(220), 정공수송층(230), 활성층(240) 및 제2 전극층(250)의 순서로 형성될 수 있다.2, an organic EL device 200 for X-ray detection according to the present invention includes a substrate 210, a first electrode layer 220, a hole transport layer 230, an active layer 240, a second electrode layer 250, The substrate 210, the first electrode layer 220, the hole transport layer 230, the active layer 240, and the second electrode layer 250 from the bottom, and the scintillator layer 270, the scintillator layer 270, As shown in FIG.

기판(210)은 유리 또는 유연성이 있는 플라스틱으로 형성될 수 있다. 기판(210)이 유연성이 있는 플라스틱일 경우, PET(polyethylene terephthalate), PES (polyester), PT(polythiophene), PI(polyimide)중에서 어느 하나인 플라스틱으로 형성되거나, 알루미늄 포일(aluminum foil), 또는 스테인리스 스틸 포일(stainless steel foil)인 유연한 재료로 형성되어 유연성을 가진다. 바람직한 실시예에 따르면, 본 발명에 따른 기판(210)은 ITO 투명 전극이 코팅된 무알칼리 글라스(Non-Alkali Glass) 기판(210)일 수 있다.The substrate 210 may be formed of glass or a flexible plastic. When the substrate 210 is made of flexible plastic, it may be formed of a plastic such as PET (polyethylene terephthalate), PES (polyester), PT (polythiophene), PI (polyimide), aluminum foil, It is made of a flexible material which is made of stainless steel foil and has flexibility. According to a preferred embodiment, the substrate 210 according to the present invention may be a non-alkali glass substrate 210 coated with an ITO transparent electrode.

제1 전극층(220)은 기판(210) 상부에 형성될 수 있으며, 제1 전극층(220)은 투명하거나 전도성 물질일 수 있다. 제1 전극층(220)을 이루는 물질은 인듐 틴 옥사이드(indium tin oxide: ITO), 안티몬 틴 옥사이드(antimony tin oxide: ATO), 플루오린 틴 옥사이드(fluorine tin oxide: FTO), 알루미늄 도핑된 징크 옥사이드(Al-doped Zinc Oxide: AZO) 등으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상일 수 있다. 바람직하게는 인듐 틴 옥사이드(ITO)를 사용하여 제1 전극층(220)이 형성될 수 있다.The first electrode layer 220 may be formed on the substrate 210 and the first electrode layer 220 may be transparent or conductive. The material forming the first electrode layer 220 may be at least one selected from the group consisting of indium tin oxide (ITO), antimony tin oxide (ATO), fluorine tin oxide (FTO), aluminum doped zinc oxide Al-doped Zinc Oxide (AZO), and the like. The first electrode layer 220 may be formed using indium tin oxide (ITO).

정공수송층(230)은 제1 전극층(220) 상부에 형성될 수 있으며, 활성층(240)과 제1 전극층(220) 사이에 계면 특성을 개선하여 전하 전달 효율을 향상시킬 수 있다. 정공수송층(230)의 재료로는 정공을 수송하는 능력을 갖고, 전자를 차단하는 특성 뿐 아니라 박막 형성 능력이 우수한 화합물일 수 있다. 예를 들어, 정공수송층(230)의 재료는 TPD, PEDOT:PSS, G-PEDOT, PANI:PSS, PANI:CSA, PDBT, NPB, 아릴아민기(arylamine group)를 가지는 저분자와 고분자, 방향족아민기(aromatic amine group)를 가지는 저분자와 고분자 등일 수 있으나, 이제 한정하지는 않는다. 정공수송층(230)의 형성방법으로는 스핀 코팅법, 스프레이 코팅법, 스크린 인쇄법, 바(bar) 코팅법, 닥터블레이드 코팅법, 그라비아 프린팅법 등이 적용될 수 있다.The hole transport layer 230 may be formed on the first electrode layer 220 to improve the interface property between the active layer 240 and the first electrode layer 220 to improve charge transfer efficiency. As the material of the hole transporting layer 230, it may be a compound having a capability of transporting holes and having excellent thin film forming ability as well as a property of blocking electrons. For example, the material of the hole transporting layer 230 may be selected from the group consisting of TPD, PEDOT: PSS, G-PEDOT, PANI: PSS, PANI: CSA, PDBT, NPB, an arylamine group, (aromatic amine group), a polymer, and the like. However, the present invention is not limited thereto. The hole transport layer 230 may be formed by a spin coating method, a spray coating method, a screen printing method, a bar coating method, a doctor blade coating method, a gravure printing method, or the like.

활성층(240)은 정공수송층(230) 상부에 형성될 수 있으며, 활성층(240)에서는 인가된 X-선으로부터의 전자와 정공이 각각의 전극으로 분리되어 수송 및 주입된다. 활성층(240)은 다양한 형태로 구현이 가능한데, 도너(donor)물질과 억셉터(acceptor)물질의 혼합박막층의 1층구조를 취할 수도 있으며, 도너물질과 억셉터 물질이 각각 적층된 형태의 2층구조를 취할 수도 있다.The active layer 240 may be formed on the hole transport layer 230. In the active layer 240, electrons and holes from the applied X-rays are separately transported and injected into the respective electrodes. The active layer 240 may be formed in various forms, and may have a single layer structure of a mixed thin film layer of a donor material and an acceptor material, and may have a two-layer structure in which a donor material and an acceptor material are stacked Structure.

도너물질로는 CuPc(copper phthalocyanine)과 같은 프탈로 시아닌계 안료, 인디고, 티오인디고계 안료, 멜로시아닌 화합물, 시아닌 화합물 등의 저분자 화합물과 폴리파라페닐렌비닐렌(poly-ρ-phenylenevinylene; PPV)등과 같은 페닐렌비닐렌계 고분자 유도체, 폴리티오펜(polythiophene), PCPDTBT, P3HT등과 같은 싸이오펜계 고분자 유도체 등을 포함하는 전도성 고분자가 이용될 수 있으나, 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 따르면 도너물질로 P3HT(poly(3-hexylthiopene))가 사용될 수 있다.Examples of the donor material include low molecular weight compounds such as phthalocyanine pigments such as CuPc (copper phthalocyanine), indigo, thioindigo pigments, melocyanin compounds and cyanine compounds, and poly-ρ-phenylenevinylene (PPV ), Etc., and a thiophene-based polymer derivative such as polythiophene, PCPDTBT, P3HT, etc. may be used. According to a preferred embodiment of the present invention, the donor material Poly (3-hexylthiophene) may be used.

억셉터 물질로는 풀러렌(fullerene; C60), ICBA, ICBM, PCBM, PC70BM과 같은 풀러렌 유도체, 페릴렌(perylene), PTCBI와 같은 페릴렌 유도체, CdS, CdSe, CdTe, 또는 ZnSe와 같은 반도체 나노입자가 사용 될 수 있으나, 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 따르면 억셉터 물질로 ICBA(indene-C60 bisadduct)가 사용될 수 있다.Examples of the acceptor material include fullerene derivatives such as fullerene (C60), ICBA, ICBM, PCBM and PC70BM, perylene derivatives such as perylene and PTCBI, semiconductor nanoparticles such as CdS, CdSe, CdTe, or ZnSe However, ICBA (indene-C60 bisadduct) may be used as an acceptor material according to a preferred embodiment of the present invention.

즉, 본 발명에 따른 X-선 검출용 유기소자(200)의 활성층(240) 물질로써 도너물질인 P3HT(poly(3-hexylthiopene))와 억셉터 물질인 ICBA(indene-C60 bisadduct)를 혼합한 P3HT:ICBA 혼합물이 활성층(240)으로 사용될 수 있다. 일예로써, 종래의 P3HT:PCBM의 혼합물질을 기반으로 한 활성층(240)을 포함하는 유기 검출소자의 경우 가시광 영역의 흡광도가 저조하여 조사된 X-선이 섬광체에 의해 빛으로 변환되어 검출소자에 입사될 경우 그 흡수율이 낮은 단점을 가지고 있으나, 본 발명에 따른 P3HT:ICBA 혼합물질을 기반으로 한 활성층(240)을 포함하는 X-선 검출용 유기소자(200)의 경우 종래의 P3HT:PCBM 대비 가시광 영역의 흡광도가 우수하여 신호 취득 효율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.That is, the donor material P3HT (poly (3-hexylthiopene)) and the acceptor material ICBA (indene-C60 bisadduct) are mixed as the active layer 240 material of the organic element 200 for X-ray detection according to the present invention A P3HT: ICBA mixture can be used as the active layer 240. [ For example, in the case of an organic detection device including an active layer 240 based on a conventional P3HT: PCBM mixed material, the X-rays irradiated due to low absorbance of the visible light region are converted into light by the scintillator, However, in the case of the organic EL device 200 for X-ray detection including the active layer 240 based on the P3HT: ICBA mixed material according to the present invention, the conventional P3HT: PCBM There is an advantage that the absorbance of the visible light region is excellent and the signal acquisition efficiency can be improved.

도 3은 유기검출소자의 두 가지 활성층 물질(P3HT:PCBM, P3HT:ICBA)의 흡광 곡선과 섬광체의 발광 곡선의 비교 그래프이다.Fig. 3 is a graph showing a comparison between the extinction curves of the two active layer materials (P3HT: PCBM, P3HT: ICBA) of the organic detection element and the luminescence curves of the scintillators.

도 3을 참조하면, 간접변환방식의 유기재료 기반의 X-선 검출소자에 대해 종래의 활성층(240) 물질인 P3HT:PCBM과 본 발명에 따른 활성층(240) 물질인 P3HT:ICBA의 발광 곡선을 섬광체(scintillator)의 발광 곡선과 비교하였다.Referring to FIG. 3, the emission curve of P3HT: PCBM, which is a conventional active layer 240 material, and P3HT: ICBA, which is an active layer 240 material according to the present invention, are applied to an X- And compared with the emission curve of a scintillator.

도 3에 도시한 그래프에서와 같이 종래의 P3HT:PCBM의 경우 약 520nm의 파장대역에서 흡광도(absorbance)가 최고치를 보인 이후 파장이 증가할수록 흡광도가 낮아지다가 600nm 중반 이후부터는 빛을 거의 흡수하지 못하는 양상을 보인다. 그러나, 본 발명의 P3HT:ICBA의 경우 전체 가시광 영역 대역에서 P3HT:PCBM에 비해 상대적으로 우수한 흡광도를 보이며, 섬광체의 발광 곡선과 비교하여 정합도가 높기 때문에 상대적으로 높은 변환효율을 기대할 수 있다.As shown in the graph of FIG. 3, the absorbance of P3HT: PCBM in the conventional P3HT: PCBM was found to be low in the wavelength band of about 520 nm, then decreased in the absorbance of the absorbance, . However, in the case of P3HT: ICBA of the present invention, the absorbance is relatively higher than that of P3HT: PCBM in the entire visible light region and relatively high conversion efficiency can be expected because the matching degree is higher than that of the scintillation light emission curve.

또한, P3HT:ICBA는 ICBA에 대하여 P3HT 1.2~2중량부로 이루어지는 것이 바람직하다. 더욱 상세하게는, P3HT:ICBA는 섬광체의 스팩트럼 특성과 비교하여 높은 정합도를 갖도록 P3HT와 ICBA의 중량비율로 3:2를 갖는 것이 바람직하다.P3HT: ICBA is preferably composed of 1.2 to 2 parts by weight of P3HT relative to ICBA. More specifically, it is preferable that P3HT: ICBA has a ratio of 3: 2 by weight of P3HT and ICBA so as to have a high matching degree as compared with the spectral characteristics of the scintillator.

일반적으로, 도너물질인 P3HT의 함량 변화는 흡수스펙트럼(Absorption Spectrum)에 영향을 미치게 된다. 즉, ICBA에 대하여 P3HT의 중량부가 1.2보다 낮아지면 섬광체의 Peak Emission이 발생되는 540nm 전후의 Absorption이 감소하는 경향을 보이기 때문에, 이에 따라 생성되는 전하(Charge)량 역시 감소하게 되며, ICBA에 대하여 P3HT의 중량부가 2보다 높아지게 되면 Absorption의 증가에 따라 생성되는 전하량 역시 증가하는 경향을 보이지만, 활성층을 구성하는 억셉터 물질인 ICBA의 함량이 감소됨에 따른 Percolation Path의 형성이 잘 이루어지지 않기 때문에 수집되는 전하량이 줄어들게 된다.In general, the change in the content of the donor P3HT influences the absorption spectrum. That is, when the weight ratio of P3HT to ICBA is lower than 1.2, the absorption amount around 540 nm at which the peak emission of the scintillator is generated decreases, and accordingly, the charge amount generated thereby also decreases, The amount of charge generated due to the increase of absorption tends to increase. However, since the formation of percolation path due to the decrease of the content of ICBA, which is the acceptor material constituting the active layer, is not performed well, Is reduced.

또한, P3HT:ICBA를 이용한 X-선 검출기에서는 섬광체의 Emission 에너지의 흡수를 통한 전하 생성이 전하 이동을 통한 수집보다 검출기 성능에 미치는 영향이 크기 때문에 상기한 바와 같이 도너물질인 P3HT의 함량을 억셉터 물질인 ICBA에 비해 높이는 것이 변환효율(Sensitivity)을 향상시키는 데에 유리하다.In addition, in the X-ray detector using P3HT: ICBA, the charge generation through the absorption of the emission energy of the scintillator has a greater effect on the detector performance than the charge collection, so that the content of the donor P3HT, It is advantageous to improve the conversion efficiency (sensivity) as compared with the ICBA material.

계속해서, 제2 전극층(250)은 활성층(240) 상부에 형성될 수 있으며, 전자를 수집하는 역할 즉, 활성층(240)에서 분리된 전자를 받아들이는 역할을 수행한다. 이러한 제2 전극층(250)의 재료는 일함수가 작은 금속, 합금, 전기 전도성 화합물 및 이들의 혼합물 중 하나 또는 하나 이상일 수 있으나 이에 한정하지 않는다. 구체적으로 제2 전극층(250)의 재료는 알루미늄(Al), 아연(Zn), 타타늄(Ti), 인듐(In), 알칼리 금속, 나트륨-칼륨(Na:K)합금, 마그네슘-은(Mg:Ag)합금, 리튬-알루미늄(Li/Al)이층전극, 리튬플루오라이드-알루미늄(LiF/Al)이층전극 중 하나 또는 하나 이상일 수 있으나 이에 한정하지 않는다. 제2 전극층(250)은 DC스퍼터링방식, 열증착 또는 이와 달리 화학적 증착법(CVD), 원자층증착(ALD), 전기도금 및 각종 프린팅기술과 같은 습식방식 등에 의해 형성될 수 있다. 또한, 도 2에서는 생략되었으나 활성층(240)과 제2 전극층(250) 사이에는 생성된 전하의 취득효율을 높이기 위해 Alq3과 같은 전자수송층(미도시)이 더 포함될 수도 있다.The second electrode layer 250 may be formed on the active layer 240 and serves to collect electrons, that is, to accept electrons separated from the active layer 240. The material of the second electrode layer 250 may be one or more of a metal having a low work function, an alloy, an electrically conductive compound, and a mixture thereof, but is not limited thereto. Specifically, the material of the second electrode layer 250 may be at least one selected from the group consisting of aluminum (Al), zinc (Zn), tantalum (Ti), indium (In), alkali metal, sodium- (Ag) alloy, a lithium-aluminum (Li / Al) two-layer electrode, and a lithium fluoride-aluminum (LiF / Al) two-layer electrode. The second electrode layer 250 may be formed by a DC sputtering method, thermal deposition or alternatively by a wet method such as chemical vapor deposition (CVD), atomic layer deposition (ALD), electroplating, and various printing techniques. Although not shown in FIG. 2, an electron transport layer (not shown) such as Alq3 may be further included between the active layer 240 and the second electrode layer 250 to enhance the efficiency of the generated charge.

일반적으로, X-선 검출용 유기소자는 크게 광도전체 (photoconductor)의 전기적 신호를 직접 받아 영상을 만들어내는 직접변환방식과 유도된 섬광체층(scintillator)(270)의 빛을 집광 소자를 이용하여 전기신호로 변환시켜 영상을 만들어내는 간접변환방식이 있다. 보다 구체적으로, 직접검출방식의 경우 입사되는 X-선에 의해 유기소자의 활성층(240)에서 생성되는 전하를 측정하는 방식이며, 간접검출방식의 경우 검출소자에 섬광체층(270)을 부착하여 섬광체층(270)에 의해 변환된 가시광에 의하여 유기소자의 활성층(240)에서 생성되는 전하를 측정하는 방식이다.In general, an organic element for X-ray detection is roughly divided into a direct conversion system that directly receives an electrical signal of a photoconductor and an image of the induced scintillator 270 by using a light- There is an indirect conversion method in which an image is converted into a signal. More specifically, in the case of the direct detection method, the charge generated in the active layer 240 of the organic device is measured by the incident X-rays. In the case of the indirect detection method, the scintillator layer 270 is attached to the detection device, And the charge generated in the active layer 240 of the organic device is measured by the visible light converted by the layer 270.

본 발명에 따른 X-선 검출용 유기소자(200)는 상기한 간접변환방식을 적용하기 위해 유기소자의 기판(210) 하부에 섬광체층(270)이 형성된다. 따라서 형성된 섬광체층(270)에 의해 입사되는 X-선이 가시광으로 변화하게 되고, 변화된 가시광이 활성층(240)에 도달하여 활성층(240)에서 생성되는 전하를 측정하게 된다.The X-ray detecting organic EL device 200 according to the present invention includes a scintillator layer 270 formed under the substrate 210 of the organic EL device to apply the indirect conversion method. Thus, the X-rays incident on the scintillator layer 270 are changed to visible light, and the changed visible light reaches the active layer 240 to measure the charge generated in the active layer 240.

섬광체층(270)에 사용될 수 있는 물질로는, 예를 들어, Nal:TI, Csl:TI, Y3Al5O12:Ce, CdWO4, LuAG:Ce, Gd2O2S:Tb등이 사용될 수 있으나, 바람직하게는 표 1에서와 같이 Maximum emission이 540nm를 갖고, PL output이 59000photons/MeV인 CsI:TI가 사용될 수 있다.CIWO4, LuAG: Ce, and Gd2O2S: Tb may be used as the material for the scintillator layer 270, , CsI: TI with a maximum emission of 540nm and a PL output of 59000photons / MeV can be used.

Density [g/cm3]Density [g / cm 3 ] 4.514.51 Maximum emission [nm]Maximum emission [nm] 540540 Lower wavelength cutoff [nm]Lower wavelength cutoff [nm] 320320 Refractive index at maximum emissionRefractive index at maximum emission 1.791.79 PL output (Photons/MeV)PL output (Photons / MeV) 5900059000

도 4는 본 발명의 X-선 검출용 유기소자의 섬광체층에 대한 두께별 발광 스펙트럼을 비교한 그래프이다.FIG. 4 is a graph comparing the emission spectra of the scintillator layers of the organic device for X-ray detection according to the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 X-선 검출용 유기소자(200)의 섬광체층(270)으로 CsI:TI를 사용하였을 때 1mm, 2mm, 4mm의 두께에 대해 각각 발광특성을 비교하였다. 실험결과 1mm 두께를 갖는 섬광체층(270)이 가장 우수한 발광특성을 보이는 것을 확인할 수 있다. 이는, 1mm 보다 두꺼운 2mm, 4mm의 섬광체층(270)은 섬광체층(270) 내부에서 생성된 가시광 Photon이 섬광체층(270) 내에서 재흡수가 일어나거나, 후면이 아닌 다른 방향으로 이동되는 이유에 기인하기 때문이다.Referring to FIG. 4, when CsI: TI is used as the scintillator layer 270 of the X-ray detecting organic EL device 200 according to the present invention, luminescent characteristics are compared with respect to thicknesses of 1 mm, 2 mm, and 4 mm. As a result, it can be confirmed that the scintillator layer 270 having a thickness of 1 mm exhibits the best luminescence characteristics. This is because the 2 mm and 4 mm scintillator layer 270 thicker than 1 mm is caused by the fact that the visible light Photon generated inside the scintillator layer 270 is reabsorbed in the scintillator layer 270 or moved in a direction other than the backside It is because it originates.

도 5 내지 도 9는 본 발명의 X-선 검출용 유기소자의 제작방법을 나타내는 도면이다.Figs. 5 to 9 are views showing a manufacturing method of the organic element for X-ray detection of the present invention.

도 5 내지 도 9를 참조하면, 본 발명의 X-선 검출용 유기소자(200)의 제작방법은 기판(210) 상부에 제1 전극층(220)을 형성하는 단계, 제1 전극층(220) 상부에 정공수송층(230)을 형성하는 단계, 정공수송층(230) 상부에 P3HT:ICBA의 혼합물로 형성된 활성층(240)을 형성하는 단계, 활성층(240) 상부에 제2 전극층(250)을 형성하는 단계 및 기판(210) 하부에 섬광체층(270)을 형성하는 단계를 포함한다.5 to 9, a method of manufacturing an organic EL device 200 for X-ray detection according to the present invention includes forming a first electrode layer 220 on a substrate 210, Forming an active layer 240 formed of a mixture of P3HT and ICBA on the hole transport layer 230, forming a second electrode layer 250 on the active layer 240, forming a hole transport layer 230 on the hole transport layer 230, And forming a scintillator layer 270 below the substrate 210.

기판(210) 상부에 제1 전극층(220)을 형성하는 단계에서는 도 5에 도시한 바와 같이, 투명 유리나 유연성을 갖는 폴리머 기판(210) 상에 DC 스퍼터링 방식 또는 이와 달리 화학적 증착법(CVD), 원자층 증착(ALD), 졸겔 코팅(sol-gel coating), 전기도금 등에 의해 투명전극인 제1 전극층(220)이 형성될 수 있다. 기판(210)은 사용 직전에 세정공정을 거치며, 아세톤, 알콜, 물 혹은 이들의 혼합 용액에 담근 후 초음파 세정을 실시할 수도 있다. 이러한 투명전극의 두께는 100~1,000nm일 수 있으나 이에 한정하지는 않는다. 또한, 사용되는 기판(210)은 바람직하게는 ITO 투명 전극이 코팅된 무알칼리 글라스(Non-Alkali Glass) 기판(210)일 수 있다.As shown in FIG. 5, in the step of forming the first electrode layer 220 on the substrate 210, a DC sputtering method or a chemical vapor deposition (CVD) method may be performed on the polymer substrate 210 having transparency or flexibility, The first electrode layer 220, which is a transparent electrode, may be formed by ALD, sol-gel coating, electroplating, or the like. The substrate 210 may be cleaned immediately before use, immersed in acetone, alcohol, water or a mixed solution thereof, and then subjected to ultrasonic cleaning. The thickness of the transparent electrode may be 100 to 1,000 nm, but is not limited thereto. In addition, the substrate 210 to be used may be a non-alkali glass substrate 210 preferably coated with an ITO transparent electrode.

제1 전극층(220) 상부에 정공수송층(230)을 형성하는 단계는 도 6에 도시한 바와 같이, 제1 전극층(220) 상부에 스핀 코팅법, 스프레이 코팅법, 스크린 인쇄법, 바(bar) 코팅법, 닥터블레이드 코팅법, 그라비아 프린팅법 등을 이용하여 정공수송층(Hole Transfer Layer, HTL)(230)을 형성할 수 있다. 이와 같이 형성된 정공수송층(230)의 두께는 5~300nm일 수 있으나 이에 한정하지는 않는다. 정공수송층(230) 물질로는 TPD, PEDOT:PSS, G-PEDOT, PANI:PSS, PANI:CSA, PDBT, NPB, 아릴아민기(arylamine group)를 가지는 저분자와 고분자, 방향족아민기(aromatic amine group)를 가지는 저분자와 고분자 등일 수 있으나, 이에 한정하지는 않는다.6, the step of forming the hole transport layer 230 on the first electrode layer 220 may include a spin coating method, a spray coating method, a screen printing method, a bar method, or the like on the first electrode layer 220, A hole transport layer (HTL) 230 can be formed using a coating method, a doctor blade coating method, a gravure printing method, or the like. The thickness of the hole transport layer 230 thus formed may be 5 to 300 nm, but is not limited thereto. Examples of the hole transport layer 230 material include low molecular weight and polymers having an arylamine group such as TPD, PEDOT: PSS, G-PEDOT, PANI: PSS, PANI: CSA, PDBT, NPB, arylamine group, ), A polymer, and the like, but the present invention is not limited thereto.

정공수송층(230) 상부에 P3HT:ICBA로 형성된 활성층(240)을 형성하는 단계에서, 활성층(240)은 도너물질로 CuPc(copper phthalocyanine)과 같은 프탈로 시아닌계 안료, 인디고, 티오인디고계 안료, 멜로시아닌 화합물, 시아닌 화합물 등의 저분자 화합물과 폴리파라페닐렌비닐렌(poly-ρ-phenylenevinylene; PPV)등과 같은 페닐렌비닐렌계 고분자 유도체, 폴리티오펜(polythiophene), PCPDTBT, P3HT등과 같은 싸이오펜계 고분자 유도체 등을 포함하는 전도성 고분자가 이용될 수 있으나, 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 따르면 도너물질로 P3HT(poly(3-hexylthiopene))가 사용될 수 있다. 또한, 억셉터 물질로는 풀러렌(fullerene; C60), ICBA, ICBM, PCBM, PC70BM과 같은 풀러렌 유도체, 페릴렌(perylene), PTCBI와 같은 페릴렌 유도체, CdS, CdSe, CdTe, 또는 ZnSe와 같은 반도체 나노입자가 사용 될 수 있으나, 본 발명에 따른 바람직한 실시예에 따르면 억셉터 물질로 ICBA(indene-C60 bisadduct)가 사용될 수 있다.In the step of forming the active layer 240 formed of P3HT: ICBA on the hole transport layer 230, the active layer 240 may include a phthalocyanine-based pigment such as CuPc (copper phthalocyanine), an indigo, a thioindigo-based pigment, A phenylene vinylene-based polymer derivative such as poly-p-phenylenevinylene (PPV), etc., a thiophene such as polythiophene, PCPDTBT, P3HT, etc., Based polymeric derivatives may be used. However, according to a preferred embodiment of the present invention, P3HT (poly (3-hexylthiophene)) may be used as a donor material. Examples of the acceptor material include fullerene derivatives such as fullerene (C60), ICBA, ICBM, PCBM and PC70BM, perylene derivatives such as perylene and PTCBI, semiconductors such as CdS, CdSe, CdTe, or ZnSe Nanoparticles may be used, but ICBA (indene-C60 bisadduct) may be used as an acceptor material according to a preferred embodiment of the present invention.

즉, 본 발명에 따른 X-선 검출용 유기소자(200)의 활성층(240) 물질로써 도너물질인 P3HT(poly(3-hexylthiopene))와 억셉터 물질인 ICBA(indene-C60 bisadduct)를 혼합한 P3HT:ICBA 혼합물이 활성층(240)으로 사용될 수 있다. 여기서, P3HT:ICBA는 ICBA에 대하여 P3HT 1.2~2중량부로 이루어지는 것이 바람직하다. 더욱 상세하게는, P3HT:ICBA는 기판(210) 하부에 형성되는 섬광체층(270)의 스팩트럼 특성과 비교하여 높은 정합도를 갖도록 P3HT와 ICBA는 중량비율로 3:2를 갖는 것이 바람직하다. 또한, P3HT:ICBA의 중량%는 유기소자의 총 중량을 기준으로 20중량%(mg/ml)의 중량을 갖는 것이 바람직하다.That is, the donor material P3HT (poly (3-hexylthiopene)) and the acceptor material ICBA (indene-C60 bisadduct) are mixed as the active layer 240 material of the organic element 200 for X-ray detection according to the present invention A P3HT: ICBA mixture can be used as the active layer 240. [ Here, P3HT: ICBA is preferably composed of 1.2 to 2 parts by weight of P3HT relative to ICBA. More specifically, it is preferable that P3HT and ICBA have a weight ratio of 3: 2 such that P3HT: ICBA has a high matching degree as compared with the spectral characteristics of the scintillator layer 270 formed under the substrate 210. [ It is also preferred that the weight% of P3HT: ICBA has a weight of 20% by weight (mg / ml) based on the total weight of the organic device.

상기한 P3HT:ICBA를 이용하여 활성용액이 형성되면, 활성용액을 정공수송층(230) 상부에 스핀 코팅, 스프레이 코팅, 스크린 인쇄 공정, 바 코팅, 닥터블레이드 코팅 및 그라비아 프린팅등을 이용하여 활성층(240)을 형성한다.When the active solution is formed using the above-mentioned P3HT: ICBA, the active layer is coated on the active layer 240 (e.g., a hole injection layer) by spin coating, spray coating, screen printing, bar coating, doctor blade coating, gravure printing, ).

이렇게 형성된 P3HT:ICBA 물질 기반의 X-선 검출용 유기소자(200)는 종래의 P3HT:PCBM 물질 대비 가시광 영역의 흡광도가 우수하여 신호 취득 효율을 향상시킬 수 있다.The thus-formed P3HT: ICBA substance-based X-ray detecting organic element 200 can improve the signal acquisition efficiency because of its excellent absorbance in the visible light region compared to the conventional P3HT: PCBM material.

활성층(240) 상부에 제2 전극층(250)을 형성하는 단계에서는 도 8에 도시한 바와 같이, 활성층(240) 상부에 활성층(240)에서 분리된 전자를 받아들이는 역할을 수행하는 제2 전극층(250)이 형성된다. 제2 전극층(250)은 알루미늄(Al), 아연(Zn), 타타늄(Ti), 인듐(In), 알칼리 금속, 나트륨-칼륨(Na:K)합금, 마그네슘-은(Mg:Ag)합금, 리튬-알루미늄(Li/Al)이층전극, 리튬플루오라이드-알루미늄(LiF/Al)이층전극과 같이 금속전극일 수 있으며, 활성층(240) 상부에 DC스퍼터링방식, 열증착 또는 이와 달리 화학적 증착법(CVD), 원자층증착(ALD), 전기도금 및 각종 프린팅기술과 같은 습식방식 등에 의해 형성될 수 있다. 도시하지는 않았지만 활성층(240)과 제2 전극층(250) 사이에는 생성된 전하의 취득효율을 높이기 위해 Alq3과 같은 전자수송층(미도시)이 활성층(240) 상부에 잉크젯방식, 오프셋 인쇄방식, 그라비아 인쇄방식 등으로 더 형성될 수 있다.8, the second electrode layer 250 is formed on the active layer 240. The second electrode layer 250 is formed on the active layer 240 to receive electrons separated from the active layer 240 250 are formed. The second electrode layer 250 may include at least one selected from the group consisting of aluminum (Al), zinc (Zn), tantalum (Ti), indium (In), alkali metal, sodium- , A lithium-aluminum (Li / Al) bilayer electrode, and a lithium fluoride-aluminum (LiF / Al) two-layer electrode. The active layer 240 may be formed by DC sputtering, thermal evaporation or chemical vapor deposition CVD, atomic layer deposition (ALD), electroplating, and various printing techniques. Although not shown, an electron transport layer (not shown) such as Alq3 is formed between the active layer 240 and the second electrode layer 250 in order to increase the efficiency of the generated electric charge. An electron injection layer, an offset printing method, Method or the like.

제2 전극층(250)을 형성하는 단계 이후에는, 봉지(Encapsulation) 공정을 수행하는 단계를 더 포함할 수 있다. 봉지 공정은 유기소자를 공기 중의 수분과 산소로부터 보호하기 위해 제1 전극층(220), 정공수송층(230), 활성층(240) 및 제2 전극층(250)의 외부를 감싸도록 봉지층(260)이 형성될 수 있다.After the step of forming the second electrode layer 250, an encapsulation process may be further performed. The encapsulation process includes a sealing layer 260 to cover the outside of the first electrode layer 220, the hole transport layer 230, the active layer 240, and the second electrode layer 250 to protect the organic device from moisture and oxygen in the air .

기판(210) 하부에 섬광체층(270)을 형성하는 단계는 도 9에 도시한 바와 같이, 상술한 봉지 공정에 의해 봉지층(260)을 형성한 이후에, 제작된 유기소자와 섬광체층(270) 사이의 광학적 손실을 최소화하기 위한 광학적 접착제(Optical Glue)등을 이용하여 섬광체층(270)이 유기소자의 기판(210)하부에 형성될 수 있다.The step of forming the scintillator layer 270 below the substrate 210 may be performed after the encapsulation layer 260 is formed by the encapsulation process as shown in FIG. A scintillator layer 270 may be formed under the substrate 210 of the organic device using an optical adhesive or the like for minimizing optical loss between the organic EL device and the organic EL device.

도 10은 본 발명에 따른 유기 X-선 검출소자의 X-선 노출시 검출된 전하량을 나타내는 그래프이다.FIG. 10 is a graph showing the amount of electric charges detected by X-ray exposure of the organic X-ray detecting element according to the present invention. FIG.

도 10을 참조하면, 본 발명에 따른 실험예는 P3HT:ICBA를 기반으로 제작된 간접 방식 검출소자에서 X-선을 온, 오프하여 X-선을 조사하였을 때 생성된 전하량을 통해 소자의 성능을 평가하는 방식으로 진행하였다. 본 실험을 위해 의료용으로 주로 이용되는 관전압 80kVp, 63mAs의 인가 조건에서 본 발명의 유기소자(200)에 0.2~1.0V의 직류전압을 인가하여 X-선이 조사되었을 때 생성된 전하량을 음극에서 측정하였다.10, the experimental example according to the present invention shows the performance of the device through the amount of charge generated when the X-ray is irradiated and the X-ray is irradiated in the indirectly detecting device manufactured based on P3HT: ICBA . For this experiment, a DC voltage of 0.2 to 1.0 V was applied to the organic EL device 200 of the present invention under the application conditions of tube voltages of 80 kVp and 63 mAs, which are mainly used for medical purposes, and the amount of charge generated when X- Respectively.

측정결과 도 10에 도시한 바와 같이, 0.2V에서 1.0V로 인가전압이 증가할수록 음극에서 측정되는 전하량이 증가되는 것을 확인할 수 있다.Measurement results As shown in FIG. 10, it can be seen that as the applied voltage increases from 0.2 V to 1.0 V, the amount of charge measured at the cathode increases.

측정된 전하량을 기반으로 하여 본 발명에 따른 간접변환방식의 X-선 검출소자(200)에 대한 수집 전하 밀도(Collected charge density, CCD), 암 전류 밀도(Dark current density, DCD) 및 X-선 검출감도(Sensitivity)를 각각 계산할 수 있다.The collected charge density (CCD), dark current density (DCD), and X-ray intensity of the X-ray detecting element 200 of the indirect conversion method according to the present invention are calculated based on the measured charge amount. The sensitivity can be calculated separately.

수집 전하 밀도를 계산하기 위한 수식을 수학식 1에 나타내었다.The formula for calculating the collected charge density is shown in Equation (1).

Figure pat00001
Figure pat00001

여기서, Exposed Detection Area는 X-선 검출 영역을 의미하고, Charges during X-rayON은 X선이 조사될 때의 측정된 전하량을 의미한다.Here, the Exposed Detection Area refers to the X-ray detection area, and Charges during X-ray ON refers to the measured amount of charge when the X-ray is irradiated.

또한, 암 전류 밀도를 계산하기 위한 수식은 수학식 2에, 검출감도를 계산하기 위한 수식은 수학식 3에 각각 나타내었다.The formula for calculating the dark current density is shown in Equation (2), and the formula for calculating the detection sensitivity is shown in Equation (3).

Figure pat00003
Figure pat00003

여기서, Exposed Dose는 피복 선량, Exposed Detection Area는 X선 검출 영역을 의미하고, Charges during X-rayON는 X선이 조사될 때의 측정된 전하량을 의미한다.Here, Exposed Dose refers to the coating dose, Exposed Detection Area refers to the X-ray detection region, and Charges during X-ray ON refers to the measured amount of charge when the X-ray is irradiated.

도 11은 본 발명의 P3HT:ICBA와 종래의 P3HT:PCBM에 따른 검출감도 및 암 전류 밀도를 비교한 그래프이다.11 is a graph comparing detection sensitivity and dark current density according to P3HT: ICBA of the present invention and conventional P3HT: PCBM.

또한, 도 11에 도시된 그래프에 따른 데이터를 표 2에 나타내었다.Data according to the graph shown in FIG. 11 are also shown in Table 2.

Active Layer MaterialsActive Layer Materials Sensitivity
[nC/mRcm2]
Sensitivity
[nC / mRcm 2]
Dark Current Density
[nA/cm2]
Dark Current Density
[nA / cm 2 ]
P3HT:PCBMP3HT: PCBM 112.40112.40 452.27452.27 P3HT:ICBAP3HT: ICBA 118.28118.28 205.03205.03 Rate of changeRate of change + 5.2 %+ 5.2% - 54.7 %- 54.7%

도 11 및 표 2를 참조하면, 본 발명에 따른 P3HT:ICBA 기반 X-선 검출용 유기소자(200)의 경우 종래의 P3HT:PCBM 기반 X-선 검출용 유기소자에 비해 동일 전압 조건에서 상대적으로 5%이상 향상된 검출 성능을 보였으며, 암전류(X-선이 없는 상황에서 동일 전압을 인가 시 유기검출소자에서 측정되는 전류)밀도의 경우 50% 이상 감소된 효과를 확인 할 수 있다.11 and Table 2, the P3HT: ICBA-based organic EL device 200 for X-ray detection according to the present invention has a relatively higher resistance than the conventional P3HT: PCBM based organic EL device for detecting X- 5% or more, and it can be confirmed that the dark current (the current measured by the organic detecting element when the same voltage is applied in the absence of X-ray) density is reduced by 50% or more.

도 12는 본 발명의 P3HT:ICBA 혼합물의 코팅 전 용해 비중에 따른 간접변환방식의 유기 X-선 검출소자의 특성을 나타낸 그래프이다.12 is a graph showing the characteristics of an organic X-ray detecting device of indirect conversion type according to dissolution specific gravity of P3HT: ICBA mixture of the present invention before coating.

도 13은 본 발명의 P3HT:ICBA 혼합물의 조성 비율에 따른 간접변환방식의 유기 X-선 검출소자의 특성을 나타낸 그래프이다.13 is a graph showing the characteristics of an organic X-ray detecting device of an indirect conversion type according to the composition ratio of the P3HT: ICBA mixture of the present invention.

도 14는 본 발명의 P3HT:ICBA 혼합물의 두께에 따른 간접변환방식의 유기 X-선 검출소자의 특성을 나타낸 그래프이다.FIG. 14 is a graph showing the characteristics of an organic X-ray detecting device of an indirect conversion type according to the thickness of a P3HT: ICBA mixture of the present invention.

도 12 내지 도 14를 참조하면, 본 발명에 따른 P3HT:ICBA 혼합물의 성능 향상을 위해 간접변환방식의 X-선 검출용 유기소자(200)를 P3HT:ICBA로 구성된 활성층(240)의 비중, 조성 비율 및 두께를 각각 공정 변수로 하여 실험을 실시하였다. 여기서, 종래의 P3HT:PCBM 기반 X-선 검출용 유기소자를 기본 구조로 선정하였고, 각각의 그래프상에 REF로 표기하였다. 또한, 본 실험결과에 대한 특성 오차는 각각의 그래프상에 Error-bar로 표기하였으며, 표본의 수는 각 조건 별로 10개 하고, 인가된 전압은 -1.0V로 하였다.12 to 14, in order to improve the performance of the P3HT: ICBA mixture according to the present invention, the indirect conversion type organic X-ray detecting device 200 is made of the specific gravity of the active layer 240 composed of P3HT: ICBA, The ratio and the thickness were used as process variables. Here, the conventional organic P3HT: PCBM-based X-ray detection organic device is selected as a basic structure, and REF is indicated on each graph. In addition, the characteristic error of the test results is indicated by Error-bar on each graph. The number of samples is 10 for each condition, and the applied voltage is -1.0V.

도 12는 공정 변수중 P3HT:ICBA로 구성된 활성층(240)의 중량%를 유기소자의 총 중량을 기준으로 변경하며 실시한 실험결과이다. 도 12에 도시한 바와 같이, 후보군중에서 20중량%(mg/ml)를 갖는 소자의 평균 수집 전하 밀도는 36277.97 nC/Cm2, 암 전류 밀도는 659.87 nA/Cm2, 검출감도는 92.41 nC/mRcm2로 가장 우수한 특성을 나타내는 것을 확인 할 수 있다.FIG. 12 shows experimental results obtained by changing the weight% of the active layer 240 composed of P3HT: ICBA in the process parameters based on the total weight of the organic devices. As shown in Fig. 12, the average collecting charge density of the device having 20 wt% (mg / ml) in the candidate group was 36277.97 nC / Cm 2 , the dark current density was 659.87 nA / cm 2 , the detection sensitivity was 92.41 nC / mRcm 2 shows the most excellent characteristics.

도 13은 공정 변수중 P3HT:ICBA의 조성 비율의 변화에 따른 실험결과를 나타낸다. 도 13에 도시한 바와 같이, 후보군 중에서 3:2의 조성 비율을 갖는 소자의 평균 수집 전하 밀도는 42652.82 nC/Cm2, 암 전류 밀도는 486.64 nA/Cm2, 검출감도는 108.65 nC/mRcm2로 가장 우수한 특성을 나타내는 것을 확인 할 수 있다.13 shows the experimental results according to the change of the composition ratio of P3HT: ICBA among the process variables. One, 3 from the candidate group as shown in Figure 13: Average collected charge density of the element having a composition ratio of 2 42652.82 nC / Cm 2, dark current density is 486.64 nA / Cm 2, detection sensitivity to 108.65 nC / mRcm 2 It can be confirmed that it exhibits the most excellent characteristics.

도 14는 공정 변수중 P3HT:ICBA 기반의 활성층(240)의 두께의 변화에 따른 실험결과를 나타낸다. 도 14에 도시한 바와 같이, 후보군 중에서 활성층(240)의 두께가 118.2mm일 때 평균 수집 전하 밀도는 46432.42 nC/Cm2, 암 전류 밀도는 205.03 nA/Cm2, 검출감도는 118.28 nC/mRcm2로 가장 우수한 특성을 나타내는 것을 확인 할 수 있으며, 이는 종래의 P3HT:PCBM로 구성된 소자보다 향상된 결과를 나타낸다.FIG. 14 shows experimental results according to changes in the thickness of the active layer 240 based on P3HT: ICBA among the process parameters. 14, when the thickness of the active layer 240 is 118.2 mm, the average collected charge density is 46432.42 nC / cm 2 , the dark current density is 205.03 nA / cm 2 , and the detection sensitivity is 118.28 nC / mRcm 2 . This shows better results than the conventional device composed of P3HT: PCBM.

도 15는 본 발명의 P3HT와 ICBM의 Blending Ratio의 변화에 따른 흡수율을 나타내는 그래프이다.FIG. 15 is a graph showing absorption rates of P3HT and ICBM according to changes of the blending ratio of the present invention. FIG.

도 15를 참조하면, X-선 조사시 CsI(TI)에서 발생되는 발광 스펙트럼을 고려했을 때, 3:2의 Blending Ratio를 갖는 간접변환방식의 X-선 검출소자에서 가장 높은 흡수율을 확인할 수 있다. 즉, 3:2의 Blending Ratio를 갖는 간접변환방식의 X-선 검출소자가 CsI(TI) 섬광체의 발광 곡선과 비교하여 정합도가 높은 스팩트럼 특성을 갖으며, CsI(TI) 섬광체의 Emission Peak가 발생하는 540nm 부분에서 가장 높은 흡수율을 보인다.Referring to FIG. 15, the highest absorption rate can be confirmed in an indirect conversion type X-ray detection device having a blending ratio of 3: 2, considering the emission spectrum generated in CsI (TI) at the time of X-ray irradiation . That is, an indirect conversion type X-ray detector having a blending ratio of 3: 2 has a spectral characteristic with a high matching degree as compared with the emission curve of a CsI (TI) scintillator, and the emission peak of a CsI (TI) The highest absorption at 540 nm is observed.

상술한 바와 같이, 종래의 P3HT:PCBM의 혼합물질을 기반으로 한 활성층(240)을 포함하는 X-선 검출용 유기소자의 경우 가시광 영역의 흡광도가 저조하여 조사된 X-선이 섬광체에 의해 빛으로 변환되어 검출소자에 입사될 경우 그 흡수율이 낮은 단점을 가지고 있으나, 본 발명에 따른 P3HT:ICBA 혼합물질을 기반으로 한 활성층(240)을 포함하는 X-선 검출용 유기소자(200)의 경우 종래의 P3HT:PCBM 대비 가시광 영역의 흡광도가 우수하여 신호 취득 효율을 향상시킬 수 있는 장점이 있다.As described above, in the case of an organic device for X-ray detection including an active layer 240 based on a conventional P3HT: PCBM mixed material, the absorbance of the visible light region is low and the irradiated X- Ray detector organic substance 200 having an active layer 240 based on a P3HT: ICBA mixed material according to the present invention has a disadvantage in that it has a low absorption rate when it is incident on a detection element, It is advantageous in that the absorbance of the visible light region compared to the conventional P3HT: PCBM is excellent and the signal acquisition efficiency can be improved.

한편, 본 명세서와 도면에 개시된 본 발명의 실시 예들은 이해를 돕기 위해 특정 예를 제시한 것에 지나지 않으며, 본 발명의 범위를 한정하고자 하는 것은 아니다. 여기에 개시된 실시 예들 이외에도 본 발명의 기술적 사상에 바탕을 둔 다른 변형 예들이 실시 가능하다는 것은, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 자명한 것이다.It should be noted that the embodiments of the present invention disclosed in the present specification and drawings are only illustrative of specific examples for the purpose of understanding and are not intended to limit the scope of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art that other modifications based on the technical idea of the present invention are possible in addition to the embodiments disclosed herein.

210 : 기판 220 : 제1 전극층
230 : 정공수송층 240 : 활성층
250 : 제2 전극층 260 : 봉지층
270 : 섬광체층
210: substrate 220: first electrode layer
230: hole transport layer 240: active layer
250: second electrode layer 260: sealing layer
270:

Claims (12)

기판;
상기 기판 상부에 형성된 제1 전극층;
상기 제1 전극층 상부에 형성되고, 정공의 수송을 향상시키는 정공수송층;
상기 정공수송층 상부에 형성되고, 상기 기판을 투과한 X-선이 흡수되어 전자-정공 쌍을 생성하는 활성층;
상기 활성층 상부에 형성된 제2 전극층; 및
상기 기판 하부에 형성되며, 상기 X-선을 가시광선으로 변환하는 섬광체층(scintillator);을 포함하고,
상기 활성층은 P3HT:ICBA의 혼합물로 형성되는 것을 특징으로 하는 X-선 검출용 유기소자.
Board;
A first electrode layer formed on the substrate;
A hole transport layer formed on the first electrode layer and improving transport of holes;
An active layer formed on the hole transport layer and absorbing X-rays transmitted through the substrate to generate electron-hole pairs;
A second electrode layer formed on the active layer; And
And a scintillator formed below the substrate, the scintillator converting the X-ray into visible light,
Wherein the active layer is formed of a mixture of P3HT: ICBA.
제1항에 있어서,
상기 P3HT:ICBA는 상기 ICBA에 대하여 P3HT 1.2~2중량부로 이루어지는 것인 X-선 검출용 유기소자.
The method according to claim 1,
Wherein the P3HT: ICBA is composed of 1.2 to 2 parts by weight of P3HT relative to the ICBA.
제1항에 있어서,
상기 P3HT:ICBA는 상기 섬광체층의 스팩트럼 특성과 비교하여 높은 정합도를 갖도록 P3HT와 ICBA는 중량비율로 3:2를 갖는 것인 X-선 검출용 유기소자.
The method according to claim 1,
Wherein the P3HT: ICBA has a 3: 2 weight ratio of P3HT and ICBA so that the P3HT: ICBA has a high match with the spectral characteristics of the scintillator layer.
제1항에 있어서,
상기 P3HT:ICBA는 유기소자의 총 중량을 기준으로 20중량%의 중량을 갖는 것인 X-선 검출용 유기소자.
The method according to claim 1,
Wherein the P3HT: ICBA has a weight of 20 wt% based on the total weight of the organic device.
제1항에 있어서,
상기 섬광체층은 Nal:TI, Csl:TI, Y3Al5O12:Ce, CdWO4, LuAG:Ce 및 Gd2O2S:Tb로 이루어진 군에서 어느 하나로 형성되는 것인 X-선 검출용 유기소자.
The method according to claim 1,
Wherein the scintillator layer is formed of any one selected from the group consisting of Nal: TI, CsI: TI, Y3Al5O12: Ce, CdWO4, LuAG: Ce and Gd2O2S: Tb.
제1항에 있어서,
상기 섬광체층은 1mm이하의 두께를 갖는 것인 X-선 검출용 유기소자.
The method according to claim 1,
Wherein the scintillator layer has a thickness of 1 mm or less.
기판 상부에 제1 전극층을 형성하는 단계;
상기 제1 전극층 상부에 정공수송층을 형성하는 단계;
상기 정공수송층 상부에 P3HT:ICBA의 혼합물로 형성된 활성층을 형성하는 단계;
상기 활성층 상부에 제2 전극층을 형성하는 단계; 및
상기 기판 하부에 섬광체층(scintillator)을 형성하는 단계를 포함하는 X-선 검출용 유기소자의 제조방법.
Forming a first electrode layer on the substrate;
Forming a hole transport layer on the first electrode layer;
Forming an active layer formed of a mixture of P3HT: ICBA on the hole transport layer;
Forming a second electrode layer on the active layer; And
And forming a scintillator on the lower surface of the substrate.
제7항에 있어서, 상기 기판 상부에 제1 전극층을 형성하는 단계에서,
상기 기판은 ITO 투명 전극이 코팅된 무알칼리 글라스(Non-Alkali Glass) 기판인 것인 X-선 검출용 유기소자의 제조방법.
8. The method of claim 7, wherein in forming the first electrode layer on the substrate,
Wherein the substrate is a non-alkali glass substrate coated with an ITO transparent electrode.
제7항에 있어서, 상기 활성층을 형성하는 단계에서,
상기 P3HT:ICBA는 상기 ICBA에 대하여 P3HT 1.2~2중량부로 이루어지는 것인 X-선 검출용 유기소자의 제조방법.
8. The method according to claim 7, wherein in the step of forming the active layer,
Wherein the P3HT: ICBA is composed of 1.2 to 2 parts by weight of P3HT relative to the ICBA.
제7항에 있어서, 상기 활성층을 형성하는 단계에서,
상기 P3HT:ICBA는 상기 섬광체층의 스팩트럼 특성과 비교하여 높은 정합도를 갖도록 P3HT와 ICBA는 중량비율로 3:2를 갖는 것인 X-선 검출용 유기소자의 제조방법.
8. The method according to claim 7, wherein in the step of forming the active layer,
Wherein P3HT and ICBA have a weight ratio of 3: 2 so that the P3HT: ICBA has a high matching degree as compared with the spectral characteristics of the scintillator layer.
제7항에 있어서, 상기 섬광체층을 형성하는 단계에서,
상기 섬광체층은 Nal:TI, Csl:TI, Y3Al5O12:Ce, CdWO4, LuAG:Ce 및 Gd2O2S:Tb로 이루어진 군에서 어느 하나로 형성되는 것인 X-선 검출용 유기소자의 제조방법.
The method according to claim 7, wherein, in the step of forming the scintillator layer,
Wherein the scintillator layer is formed of any one of the group consisting of Nal: TI, CsI: TI, Y3Al5O12: Ce, CdWO4, LuAG: Ce and Gd2O2S: Tb.
제7항에 있어서,
상기 제2 전극층을 형성하는 단계 이후에 봉지(Encapsulation)공정을 수행하는 단계를 더 포함하는 것인 X-선 검출용 유기소자의 제조방법.
8. The method of claim 7,
And performing an encapsulation process after the step of forming the second electrode layer.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022050452A1 (en) * 2020-09-03 2022-03-10 단국대학교 산학협력단 Radiation detector having flexible properties

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008232781A (en) * 2007-03-20 2008-10-02 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Scintillator panel and radiation image sensor
KR20140029409A (en) * 2011-03-29 2014-03-10 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 Active materials for electro-optic devices and electro-optic devices
KR101412896B1 (en) 2012-05-09 2014-06-26 주식회사 엘지화학 Organic electrochemical device and fabrication method thereof
KR101559669B1 (en) * 2014-05-16 2015-10-13 경희대학교 산학협력단 Buffer integral transparent electrode, organic solar cell including the same and Method thereof

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008232781A (en) * 2007-03-20 2008-10-02 Konica Minolta Medical & Graphic Inc Scintillator panel and radiation image sensor
KR20140029409A (en) * 2011-03-29 2014-03-10 더 리젠츠 오브 더 유니버시티 오브 캘리포니아 Active materials for electro-optic devices and electro-optic devices
JP2014512100A (en) * 2011-03-29 2014-05-19 ザ リージェンツ オブ ザ ユニバーシティ オブ カリフォルニア Electro-optic device active material and electro-optic device
KR101412896B1 (en) 2012-05-09 2014-06-26 주식회사 엘지화학 Organic electrochemical device and fabrication method thereof
KR101559669B1 (en) * 2014-05-16 2015-10-13 경희대학교 산학협력단 Buffer integral transparent electrode, organic solar cell including the same and Method thereof

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
비특허문헌* *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2022050452A1 (en) * 2020-09-03 2022-03-10 단국대학교 산학협력단 Radiation detector having flexible properties

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