KR20160010722A - Offner imaging spectrometer based on geometrical analysis of ring fields - Google Patents

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공홍진
이종웅
이준호
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한화탈레스 주식회사
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    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/18Generating the spectrum; Monochromators using diffraction elements, e.g. grating

Abstract

An offner imaging spectrometer based on geometrical analysis of ring fields is disclosed. The offner imaging spectrometer comprises: a concave primary mirror (R_1) for reflecting external incident light; a convex grating rg including an aperture stop for diffracting the incident light reflected by the concave primary mirror (R_1); a concave tertiary mirror (R_2) for reflecting a light diffracted by the convex grating (r_g); an aberration analyzer having a charge-coupled device CCD detector for detecting an image formed by the diffracted light reflected by the concave tertiary mirror (R_2). An analysis apparatus of ring fields using the spectrometer with the convex grating includes the offner imaging spectrometer having one convex grating and two concave mirrors, and may achieve design of the offner imaging spectrometer capable of excluding ray obstruction.

Description

링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기{OFFNER IMAGING SPECTROMETER BASED ON GEOMETRICAL ANALYSIS OF RING FIELDS}TECHNICAL FIELD [0001] The present invention relates to an opener image spectrometer based on geometric analysis of a ring field,

본 발명은 영상 분광기(imaging spectrometer)에 관한 것으로서, 구체적으로는 오프너 영상 분광기(Offner imaging spectrometer)에 관한 것이며, 좀 더 구체적으로는 링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기에 관한 것이다.The present invention relates to an imaging spectrometer, more specifically to an Offner imaging spectrometer, and more particularly to an opener imaging spectrometer based on geometric analysis of a ring field.

영상 분광기(imaging spectrometer)는 물질이 방출 또는 흡수하는 빛의 분광 스펙트럼과 2차원 영상을 제공하는 장비이다. 따라서, 일반 분광기와 달리 한 점에 대한 분광 스펙트럼이 아니라 특정 시계에 대한 모든 분광 영상을 제공하기 때문에 분광기의 슬릿(slit)이 10-20 mm로 긴 것이 특징이다.An imaging spectrometer is a device that provides spectroscopic spectra and two-dimensional images of light emitted or absorbed by a material. Therefore, unlike ordinary spectroscopes, the spectroscopic slit is 10-20 mm long because it provides all the spectroscopic images for a specific clock, not the spectroscopic spectrum for one point.

분광기는 스펙트럼 분리의 원리에 따라 프리즘 분광기, 간섭 분광기, 격자 분광기 등이 있으며, 그 중 격자 분광기는 회절 격자를 이용한 분광기로서 긴 슬릿을 사용해야 하는 영상분광기에서 수차보정이 용이하면서도 컴팩트한 구성이 가능하다.The spectroscope is composed of prism spectroscope, interference spectroscope, and grating spectroscope according to the principle of spectral separation. Grating spectroscopy is a spectroscope using a diffraction grating, and a long slit should be used. .

또한, 반사형 회절 격자를 사용하는 경우, 프리즘 분광기와 달리 유리에 의한 빛의 흡수가 없기 때문에 광효율이 좋으며, 가시광뿐만 아니라 적외선이나 자외선의 분광에도 적합하다.In addition, when a reflection type diffraction grating is used, unlike a prism spectroscope, since there is no absorption of light by glass, it has good light efficiency and is suitable for visible light as well as infrared or ultraviolet ray spectroscopy.

격자 분광기에는 주로 평면 격자, 오목면 격자, 계단 격자 등이 사용되며, 볼록면 격자는 거의 이용되고 있지 않다.Planar lattices, concave lattices, and stair lattices are mainly used for lattice spectroscopy, and convex lattices are rarely used.

볼록면 격자의 경우 이를 설계(design)하기 위한 기본적인 함수가 개시되어 있지 않은 실정이다.In the case of a convex surface lattice, a basic function for designing the convex surface lattice is not disclosed.

한편, 오프너 영상 분광기(Offner image spectrometer)는 높은 분광분해능 (spectral resolution)을 가지기 때문에 변칙 탐지(anomaly detection), 표적 인지(target recognition), 배경 특성화(background characterization)과 같은 응용 분야에 매우 적합하다.Offner image spectrometers, on the other hand, have high spectral resolution and are therefore well suited for applications such as anomaly detection, target recognition, and background characterization.

오프너 영상 분광기는 일종의 공심 격자 분광기(concentric grating spectrometer)로서 제로 수차 링(ring of zero aberration)을 사용하면, 수차도 적고 분광분해능도 우수하다. The opener image spectrometer is a kind of concentric grating spectrometer with a small aberration and excellent spectral resolution using a ring of zero aberration.

그런데, 오프너 영상 분광기에서는 구경(aperture)의 크기가 늘어남에 따라 심각한 광 차단(ray obstruction)이 증가되는 문제점이 있다. 이에, 오프너 영상 분광기에서 기존에 사용되던 제로 수차 링(ring of zero aberration)을 수정할 필요가 있다. However, in the opener image spectroscope, there is a problem that the ray obstruction is seriously increased as the size of the aperture increases. Therefore, it is necessary to correct the ring of zero aberration which has been used in opener image spectroscopy.

본 발명의 목적은 링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기를 제공하는 데 있다.It is an object of the present invention to provide an opener image spectrograph based on geometric analysis of a ring field.

상술한 본 발명의 목적에 따른 링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기는, 물체(슬릿)에서 입사되는 입사광을 반사하는 오목 거울(concave primary mirror)(R1); 상기 오목 거울(R1)에 의해 반사되는 입사광을 회절시키는 구경 조리개(aperture stop)를 구비하는 볼록 회절 격자(convex grating)(rg); 상기 볼록 회절 격자(rg)에 의해 회절된 광을 반사하는 오목 3차거울(concave tertiary mirror)(R2); 상기 오목 3차거울(R2)에 의해 반사되는 회절광에 의해 형성된 이미지를 감지하는 CCD 감지기(charge-coupled device detector)를 포함하는 수차 분석기(aberration analyzer)를 포함하도록 구성될 수 있다.The opener spectrograph based on the geometrical analysis of the ring field according to the object of the present invention includes a concave primary mirror (R 1 ) for reflecting incident light incident from an object (slit); Convex diffraction grating (convex grating) having an aperture stop (aperture stop) for diffracting incident light to be reflected by the concave mirror (R 1) (r g) ; A concave tertiary mirror (R 2 ) that reflects the light diffracted by the convex diffraction grating (r g ); And an aberration analyzer including a charge-coupled device detector for sensing an image formed by the diffracted light reflected by the concave tertiary mirror R 2 .

이때, 상기 볼록 격자(rg)는, 100 라인/밀리미터(lines/mm)의 격자 홈(grating groove)이 형성되도록 구성될 수 있다.At this time, the projection grating (r g) may be configured such that the grating grooves (grating groove) of the 100 line / millimeter (lines / mm) is formed.

그리고 상기 오목 주거울(R1)은, -299.6 mm의 반경, -138.7 mm의 상기 볼록 회절 격자(rg)까지의 거리(간격), 49 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성되고, 상기 볼록 회절 격자(rg)는, -151.2 mm의 반경, 138.7 mm의 상기 오목 거울(R1)까지의 거리(간격), 21.5 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성되고, 상기 오목 3차거울(R2)은, -296.6 mm의 반경, -285.3 mm의 상거리, 51 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성될 수 있다.The concave main mirror R 1 is composed of a radius of -299.6 mm, a distance (spacing) to the convex diffraction grating r g of -138.7 mm, and a semi-diameter (Sem-Dia) of 49 mm, the convex grating (r g) is constituted by the distance (interval), a half diameter (Dia-Sem) of 21.5 mm of the radius of -151.2 mm, 138.7 mm to the concave mirror (r 1), the recess 3 The car mirror R 2 can be composed of a radius of -296.6 mm, an average distance of -285.3 mm, and a semi-diameter of 51 mm.

상술한 볼록 격자를 구비한 분광기의 링 필드 분석 장치에 의하면, 하나의 볼록 격자와 2개의 오목 거울로 구성되는 오프너 영상 분광기로 구성되며, 광 차단(ray obstruction)을 배제할 수 있는 오프너 영상 분광기의 설계 방안을 제시한다. 곡률반경, 회절 격자 간격, 회절 차수, 곡률 반경 등의 변수를 입력하면, 시스템의 필드 위치가 바로 계산되는 식을 하나로 유도하여, 시스템 변수가 변하더라도 최단 시간에 모든 파장에서 광선의 차폐 없이 초기 설계가 가능하다. According to the ring field analyzer of the spectroscope having the convex lattice described above, an opener image spectrometer composed of an opener image spectrometer composed of one convex lattice and two concave mirrors and capable of eliminating ray obstruction We suggest a design method. By entering variables such as radius of curvature, diffraction lattice spacing, diffraction order, radius of curvature, etc., it is possible to derive an equation that directly calculates the field position of the system to one, so that even if system variables change, Is possible.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 볼록 격자를 구비한 분광기를 이용한 수차 분석 장치의 개략 구성도이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 유효 F수(working f-number)를 나타내는 그래프이다.
1 is a schematic block diagram of an aberration analyzer using a spectroscope having a convex grid according to an embodiment of the present invention.
Figures 2A and 2B are graphs showing the working f-number according to the present invention.

본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.While the invention is susceptible to various modifications and alternative forms, specific embodiments thereof are shown by way of example in the drawings and will herein be described in detail to the concrete inventive concept. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular embodiments, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing.

제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.The terms first, second, A, B, etc. may be used to describe various elements, but the elements should not be limited by the terms. The terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another. For example, without departing from the scope of the present invention, the first component may be referred to as a second component, and similarly, the second component may also be referred to as a first component. And / or < / RTI > includes any combination of a plurality of related listed items or any of a plurality of related listed items.

어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.It is to be understood that when an element is referred to as being "connected" or "connected" to another element, it may be directly connected or connected to the other element, . On the other hand, when an element is referred to as being "directly connected" or "directly connected" to another element, it should be understood that there are no other elements in between.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.The terminology used in this application is used only to describe a specific embodiment and is not intended to limit the invention. The singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise. In the present application, the terms "comprises" or "having" and the like are used to specify that there is a feature, a number, a step, an operation, an element, a component or a combination thereof described in the specification, But do not preclude the presence or addition of one or more other features, integers, steps, operations, elements, components, or combinations thereof.

다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.

이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기의 개략 구성도이다.1 is a schematic block diagram of an opener image spectroscope based on geometrical analysis of a ring field according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기(이하, '오프너 영상 분광기'라 함)(100)는 오목 주거울(concave primary mirror)(110)(R1), 볼록 격자(convex grating)(120)(rg);, 오목 3차거울(concave tertiary mirror)(130)(R2), CCD 감지기(charge-coupled device detector)(140)를 포함하도록 구성될 수 있다.Referring to FIG. 1, an opener image spectrometer 100 based on geometric analysis of a ring field according to an embodiment of the present invention includes a concave primary mirror 110, (R 1 ), a convex grating 120 (R g ), a concave tertiary mirror 130 (R 2 ), a charge-coupled device detector 140 . ≪ / RTI >

본 발명에서는 오프너 영상 분광기(Offner imaging spectrometer)에서 발생되는 광 차단(ray obstruction)이 생기지 않도록 하는 물체 높이(object height)를 산출하여 오프너 영상 분광기(100)를 설계함으로써, 수차가 적으면서도 광차단이 없도록 한다. In the present invention, the opener image spectroscope 100 is designed by calculating an object height that prevents ray obstruction from occurring in an off-line imaging spectrometer, I will not.

이하, 세부적인 구성에 대하여 설명한다.Hereinafter, the detailed configuration will be described.

오목 주거울(110)(R1)은 물체(슬릿)에서 입사되는 입사광을 반사하도록 구성된다.The concave main mirror 110 (R 1 ) is configured to reflect incident light incident from an object (slit).

볼록 회절 격자(120)(rg)는 오목 주거울(110)(R1)에 의해 반사되는 입사광을 회절시키는 구경 조리개(aperture stop)를 구비하도록 구성된다.The convex diffraction grating 120 (r g ) is configured to have an aperture stop that diffracts the incident light reflected by the concave main mirror 110 (R 1 ).

볼록 회절 격자(rg)는 100 라인/밀리미터(lines/mm)의 격자 홈(grating groove)이 형성된다.Convex diffraction grating (g r) are formed of lattice grooves (grating groove) of the 100 line / millimeter (lines / mm).

오목 3차거울(130)(R2)은 볼록 회절 격자(120)(rg)에 의해 회절된 광을 반사하도록 구성된다.The concave tertiary mirror 130 (R 2 ) is configured to reflect the light diffracted by the convex diffraction grating 120 (r g ).

수차 분석기(140)는 오목 3차거울(130)(R2)에 의해 반사되는 회절광에 의해 형성된 이미지를 감지하도록 구성된다.The aberration analyzer 140 is configured to sense the image formed by the diffracted light reflected by the concave tertiary mirror 130 (R 2 ).

오프너 영상 분석기(100)의 상세 구성은 다음과 같다.The detailed configuration of the opener image analyzer 100 is as follows.

오목 주거울(110)(R1)은 -299.6 mm의 반경, -138.7 mm의 상기 볼록 회절 격자(rg)까지의 거리(간격), 49 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성될 수 있다.The concave main mirror 110 (R 1 ) may consist of a radius of -299.6 mm, a distance (spacing) to the convex diffraction grating (r g ) of -138.7 mm, and a semi-diameter of 49 mm have.

그리고 볼록 회절 격자(120)(rg)는 -151.2 mm의 반경, 138.7 mm의 오목 주거울(110)(R1)까지의 거리(간격), 21.5 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성될 수 있다.The convex diffraction grating 120 (r g ) is composed of a radius of -151.2 mm, a distance (interval) to the concave main mirror 110 (R 1 ) of 138.7 mm, and a semi-diameter of 21.5 mm .

그리고 오목 3차거울(130)(R2)은 -296.6 mm의 반경, -285.3 mm의 상거리, 51 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성될 수 있다.And the concave tertiary mirror 130 (R 2 ) can be composed of a radius of -296.6 mm, an average distance of -285.3 mm, and a semi-diameter of 51 mm.

오프너 영상 분광기에서 잘 알려진 기존의 제로 수차 링(ring of zero aberration)은 다음과 같이 도출될 수 있다.A well known conventional ring of zero aberrations in opener imaging spectrographs can be derived as follows.

Figure pat00001
Figure pat00001

여기서,

Figure pat00002
는 제로 수차 링에 해당하는 물체 영역(object field)이며, 수학식 1은 이 높이
Figure pat00003
를 산출하는 데 이용된다. 그러나, 구경(aperture)이 늘어날수록 광 차단이 심해지며, 수차도 심하게 발생하게 된다. 이에, 수학식 1에 좀 더 물체 높이 조건을 더 가미하여 수차를 제거하는 과정이 요구된다.here,
Figure pat00002
Is an object field corresponding to a zero-aberration ring, and Equation (1)
Figure pat00003
Is calculated. However, as the aperture increases, the light interception becomes worse and the aberration becomes severe. Accordingly, a process of removing aberration by further adding an object height condition to Equation (1) is required.

광 차단없는 링(ring without ray obstruction)은 다음 수학식 15와 같이 도출될 수 있다.A ring without ray obstruction can be derived as: < EMI ID = 15.0 >

Figure pat00004
Figure pat00004

여기서,

Figure pat00005
은 1보다는 약간 크다. 음의
Figure pat00006
은 양의 f 수로 변환된다. 수학식 15는 물체 높이
Figure pat00007
로부터의 광이 주어진 수의 개구의 격자로부터 방해되어서는 안된다는 조건으로부터 도출된다. 이는 쉴딩 기하학(shielding geometry)을 분석하여 얻어질 수 있다. 수차는 개구의 숫자에 기인하여 영(zero)보다는 약간 크게 증가하나 이는 오프너 영상 분광기의 최소 수차이다.here,
Figure pat00005
Is slightly larger than 1. Negative
Figure pat00006
Is converted to a positive f-number. Equation (15)
Figure pat00007
Is not derived from the grating of a given number of openings. This can be obtained by analyzing the shielding geometry. The aberration is slightly larger than zero due to the number of apertures, but this is the least aberration of the opener imaging spectrograph.

도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 유효 F수(working f-number)를 나타내는 그래프이다.Figures 2A and 2B are graphs showing the working f-number according to the present invention.

도 2a 및 도 2b를 참조하면, 제로 수차 링(ring of zero aberration)과 광 차단없는 링(ring without obstruction)을 f-수 함수로서 나타내고 있다. 여기서, 회절 차수

Figure pat00008
은 도 2a에서는 +1, 도 2b에서는 -1이다.Referring to FIGS. 2A and 2B, a ring of zero aberration and a ring without obstruction are shown as f-number functions. Here, the diffraction order
Figure pat00008
Is +1 in Fig. 2A, and is -1 in Fig. 2B.

이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the invention as defined in the following claims. There will be.

Claims (3)

물체(슬릿)에서 입사되는 입사광을 반사하는 오목 거울(concave primary mirror)(R1);
상기 오목 주거(R1)에 의해 반사되는 입사광을 회절시키는 구경 조리개(aperture stop)를 구비하는 볼록 회절 격자(convex grating)(rg);
상기 볼록 회절 격자(rg)에 의해 회절된 광을 반사하는 오목 3차거울(concave tertiary mirror)(R2);
상기 오목 3차거울(R2)에 의해 반사되는 회절광에 의해 형성된 이미지를 감지하는 CCD 감지기(charge-coupled device detector)를 포함하는 수차 분석기(aberration analyzer)를 포함하는 링 필드(ring field)의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기(Offner imaging spectrometer).
A concave primary mirror R 1 reflecting the incident light incident from the object (slit);
Convex diffraction grating (convex grating) having an aperture stop (aperture stop) for diffracting incident light to be reflected by the concave housing (R 1) (r g) ;
A concave tertiary mirror (R 2 ) that reflects the light diffracted by the convex diffraction grating (r g );
And aberration analyzer including a charge-coupled device detector for sensing an image formed by the diffracted light reflected by the concave tertiary mirror (R 2 ). Offner imaging spectrometer based on geometric analysis.
제1항에 있어서, 상기 볼록 격자(rg)는,
100 라인/밀리미터(lines/mm)의 격자 홈(grating groove)이 형성되는 것을 특징으로 하는 링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기.
The method of claim 1, wherein the convex grid (r g )
Characterized in that a grating groove of 100 lines / mm (lines / mm) is formed.
제2항에 있어서,
상기 오목 주거울(R1)은,
-299.6 mm의 반경, -138.7 mm의 상기 볼록 회절 격자(rg)까지의 거리(간격), 49 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성되고,
상기 볼록 회절 격자(rg)는,
-151.2 mm의 반경, 138.7 mm의 상기 오목 주거울(R1)까지의 거리(간격), 21.5 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성되고,
상기 오목 3차거울(R2)은,
-296.6 mm의 반경, -285.3 mm의 상거리, 51 mm의 반구경(Sem-Dia)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 링 필드의 기하학적 분석에 기초한 오프너 영상 분광기.
3. The method of claim 2,
The concave main mirror (R 1 )
A distance (interval) to the convex diffraction grating (r g ) of -138.7 mm, a semi-diameter (Sem-Dia) of 49 mm, a radius of -299.6 mm,
The convex diffraction grating (r g )
A distance (interval) to the concave main mirror (R 1 ) of 138.7 mm, and a semi-diameter (Sem-Dia) of 21.5 mm,
The concave tertiary mirror (R 2 )
An opening spectrograph based on a geometric analysis of the ring field, characterized in that it comprises a radius of -296.6 mm, an average distance of -285.3 mm, and a semi-diameter of 51 mm.
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