KR20020053001A - 오토핸들러 및 오토핸들러의 제어방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 측정부가 전자부품의 전기특성을 측정하는, 복수의 전자부품을 수용시킨 반송기를 반송하기 위한 오토핸들러에 관한 것이다. 보다 상세하게 상기 오토핸들러는, 소정의 온도로 측정 대상 전자부품을 가열하거나 냉각시키는 예비가열부와, 측정장치에 각 전자부품을 전기적으로 접속하므로서 가열 또는 냉각된 전자부품의 전기적 특성을 측정하는 측정부와, 측정부에서의 저온으로 인해 발생하는 성에를 방지하는 것으로 측정된 전자부품의 온도를 정상온도로 복귀시키는 건조실과, 반송기의 수용되어야 할 각 전자부품을 위한 소정 위치상에 측정부에서 측정된 각 전자부품이 존재하는가를 검지하는 측정부와 건조실간에 구비된 부품측정부로 구성된다.

Description

오토핸들러 및 오토핸들러의 제어방법{AUTOHANDLER AND METHOD FOR CONTROLLING THE SAME}

본 발명은 반송된 부품을 측정하는 측정부로 복수의 부품, 즉 전자부품을 수용시키기 위해 반송기를 반송하는, 소위 오토핸들러와 같은 부품처리장치와 상기부품처리장치의 제어방법에 관한 것이다.

일반적으로 오토핸들러는 전자부품의 전기적 특성을 측정하고, 측정결과를 기초로 자동적으로 측정한 전자부품을 분류하고, 상기 분류된 부품을 다른 수용기에 저장하기위해 자동적으로 측정시스템으로 조립된 전자부품을 공급하도록 사용된다.

다음은 종래기술에 의해 적용된 오토핸들러의 구성을 설명한 것이다.

도 9는 오토핸들러의 개략 평면도를 나타낸다.

상기 오토핸들러(40)는 고온 또는 저온조건에서의 전자부품 측정기능을 갖는다.

상기 도면에 나타난 바와 같이, 오토핸들러(40)에서는 반송기(5)에 수용된 복수의 측정된 전자부품(2)은 순환 방식으로 이동한다.

오토핸들러(40)는, 피측정 전자부품(2)을 소정온도로 가열 또는 냉각시키는 예비가열부(402)와, 측정장치에 대해서 그들의 각각을 압축하므로서, 설정온도상에서 전자부품(2)의 전기적 특성을 측정하는 측정부(403)와, 고저온하에서의 측정기능으로서, 측정부(403)에서의 저온조건으로 인해 발생되는 성에를 방지하기 위해 상온으로 복귀시키도록 측정된 전자부품(2)의 온도를 복귀시키는 건조실(404)로 구성된다.

오토핸들러(40)는, 다수의 조립 완료된 전자부품(2)이 수용된 트레이(tray)를 갖는 장전부(409)와, 장전부(409)로부터 반송기(5)에 설치된 수용기(1)내로 전자부품(2)을 반송하는 공급핸드(407)와, 예비가열부(402)로 반송기(5)를 반송하는공급부(401)와, 측정결과를 기초로 그들을 언로더(410)내에 저장하기 위해 측정된 전자부품(2)을 분류하는 저장핸드(408)와, 분류된 전자부품(2)을 저장하는 언로더(410)로 구성된다.

또한, 오토핸들러(40)는 상술한 각부의 동작을 제어하는 제어부로 구성된다.

상기 오토핸들러(40)에 있어서, 반송기(5)는 공급부(401), 예비가열부(402), 측정부(403), 건조실(404), 완충부(405), 수용부(406)의 순서로 순환하고, 그 후 공급부(401)로 복귀한다.

상기 오토핸들러(40)의 측정부(403)에 있어서, 각 수용기(1)에 수용된 전자부품(2)은 푸셔에 의해 아래쪽으로 압축되고, 후면상에 구비된 전자부품(2)의 전기단자가 IC측정기에 전기적으로 접속된 소켓의 단자와 접촉한다.

결과적으로 전자부품(2)의 전기적 특성이 측정된다.

그러나, 도 10a 및 도 10b에 나타난 바와 같이, 전기적 특성의 측정을 완료한 후, 푸셔(6)가 위로 이동한 후임에도 불구하고, 때로는 전자부품(2)이 푸셔(6)의 하면에 부착하는 경우가 있다.

이로 인해 전자부품(2)을 유지하는 푸셔(6)가 다음의 측정을 위해 다음의 수용기(1)내에 수용된 전자부품(2)에 대해서 더욱 압축하는 경우, 다음의 전자부품(2)의 전기단자(21)는 때로는 소켓(7)의 단자(71)와 전기적으로 적절히 접속하지 않게 된다.

상기 푸셔(6)의 하면에 부착한 전자부품(2)이 다음의 측정으로 반송되지 않는다 해도, 측정 후 푸셔(6)가 상승하면 전자부품(2)은 때로는 떨어지고, 때로는적절히 본래의 위치로 복귀하지 않게 된다.

상기와 같이 본래의 위치로 적절히 복귀하지 않는 경우, 복수의 전자부품(2)이 수용기내에 존재하게 된다.

결과적으로, 수용부(406)에서의 오분류를 실행하는 문제가 발생된다.

특히, 최근의 IC들의 BGA형 패키지는, 상당히 경량이기 때문에 푸셔(6)에의 부착가능성이 크다.

그러므로 상기 문제에 대한 적절한 해결법이 요구되어 왔다.

본 발명은 상기에 기술한 바와 같은 종래 요구사항을 감안하여 제안된 것으로서, 측정 후 푸셔에 전자부품의 부착으로 인해 발생되는 측정상 또는 분류상 오류를 감소시키는 오토핸들러를 제공하는 것을 목적으로 한다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 부품처리장치를 나타내는 평면도.

도 2a는 본 발명에 따른 반송기의 실시예를 나타내는 평면도.

도 2b는 도 2a의 전면도.

도 2c는 도 2a의 측면도.

도 3a 내지 도 3c는 본 발명에 따른 부품처리장치의 시험단계에 대한 실시예를 나타내는 수직단면도.

도 4a 및 도 4b는 본 발명의 부품처리장치의 부품검지부에 대한 실시예를 나타내는 수직단면도.

도 5a는 본 발명의 부품처리장치의 부품검지부의 배열을 나타내는 평면도.

도 5b는 도 5a의 수직단면도.

도 6a는 반송기상의 부품의 제 1 컬럼에 있어서 각 수용기의 전자부품 유무의 상태를 나타내는 평면도.

도 6b는 도 6a의 수직단면도.

도 7a는 반송기상의 부품의 제 2 컬럼에 있어서 각 수용기의 전자부품 유무의 상태를 나타내는 개략 평면도.

도 7b는 도 7a의 수직단면도.

도 8은 부품처리장치의 검지부의 동작을 나타내는 플로차트.

도 9는 종래 부품처리장치의 평면도.

도 10a 내지 도 10c는 부품처리장치에 있어서 푸셔의 전자부품 부착상태를 나타내는 수직단면도.

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>

1. 수용기 2. 전자부품

3. 검지부재4. 오토핸들러

5. 반송기 6. 푸셔

7. 소켓21. 전기단자

31. 투광부재32. 광검지기

41. 공급부42. 예비가열부

43. 측정부 44. 건조실

47. 공급핸드48. 저장핸드

49. 장전부

상기 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 한 형태에 의하면, 복수의 부품을 수용하는 반송기를 측정부로 반송하여 상기 부품을 측정하는 오토핸들러로서, 부품 수용위치에 있어서의 측정된 부품의 유무를 검지하는 부품검지부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 오토핸들러가 제공된다.

상기와 같은 구성을 갖는 오토핸들러에 의하면, 측정부에 의한 측정 후에 수용되어야할 위치에서의 각 부품의 유무를 검지하는 것이 가능하다.

그러므로 만일 부품이 검지되지 않으면, 상기 위치에서 수용되어야할 부품이 측정부의 푸셔의 하면에 부착되거나, 또는 푸셔로부터 떨어진 후 적절한 본래의 위치로 복귀하지 않은 것으로 판단된다.

따라서, 측정 후 전자부품의 푸셔에의 부착에 기인하는 측정상 또는 분류상의 오류 발생을 감소시키는 것이 가능하다.

바람직하게는 부품검지부는, 부품의 측정 후, 반송기의 부품을 수용시키는 위치에 광을 투광하는 투광부재와, 광검지기에 의해 수광된 강도를 기초로 부품이 수용되어야할 위치에, 측정된 부품이 존재하는가를 검지하기 위해, 투광 후의 물체에 의해 반사된 광이나 투광부재로부터 투광된 광을 검지하는 광검지기로 구성된다.

상기와 같은 구성을 갖는 오토핸들러에 있어서, 광투광부재의 광로상에 배치된 광검지기는 광투광부재 또는 부품에 의해 반사된 광으로부터 광의 유무를 검지하거나 광의 강도를 측정한다.

예를들면, 반송기상에 수용되어야할 위치에 부품이 존재하면, 부품에 의한 방해 때문에 광검지기에 의해 투사광은 검지되지 않는다.

그러므로 광검지기에 의해 투광부재로부터의 투광된 강도를 검지하므로서 부품의 유무를 판정하는 것이 가능하다.

또, 비접촉형 검지이기 때문에 오토핸들러는 이동체의 열화가 없다는 이점이 있다.

또한, 투광부재는 레이저조사기, 또는 발광다이오드 등과 같은 발광체이며, 광검지기는 CCD소자 또는 광트랜지스터등의 광을 수광하므로서 출력을 얻는 장치이다.

따라서, 검지부재의 구입비용이 경제적인 수준이 된다.

부품에 의해 반사된 광을 검지하는 방법의 경우, 부품으로부터 반사된 광의 강도를 비교하므로서 또한 부품을 수용하지 않은 수용기로부터의 반사광 강도를 비교하므로서 부품의 유무를 판정할 수 있다. 바람직하게는, 부품검지부재는 측정부이후의 반송기의 반송경로상에 배치되는 것이 바람직하다.

그러한 구성을 갖는 오토핸들러에 있어서, 측정부 이후의 반송기의 반송경로상에 배치되기 때문에, 반송기간 중 반송기는 부품검지부재를 통과한다.

결과적으로, 별도의 검지부재에 반송기를 반송하거나 또는 검지를 중지하지않고 부품의 유무를 검지하는 것이 가능하며, 인덱스타임(index time)이 불필요하게된다.

바람직하게는, 복수의 부품은 반송기에 수용되고, 측정부로부터의 반송기의 반송경로에 따른 방향으로 복수의 컬럼(column)으로 배열되며, 부품검지부재는 컬럼의 각 경로의 부분을 포함하여 평면으로 배열된다.

상기와 같은 구성의 오토핸들러에 있어서, 부품은 반송기상의 복수의 컬럼으로 배열되고, 각 컬럼의 방향은 반송기의 반송경로에 따른다.

각 검지부재는 컬럼의 각 경로에 대응하는 위치에 배열된다.

따라서, 반송기가 반송되는 동안, 부품이 대응하는 부품검지부재를 통과할 때, 반송기의 각 컬럼의 순서대로 부품의 유무를 검지하는 것이 가능하다.

이에 따라, 다수의 부품을 동시에 측정하는 것이 가능하며, 인덱스타임의 증가없이 부품의 유무를 검지하는 것이 가능하다.

상기한 설명에서 상기 부품의 예로는, IC장치와 같은 전자부품을 포함한다.

본 발명의 다른 형태에 따르면, 피측정 전자부품을 소정 온도로 가열하거나 냉각시키는 예비가열부와, 각 전자부품을 측정장치에 전기적으로 접속하므로서, 가열 및 냉각된 전자부품의 전기적특성을 측정하는 측정부와, 측정부에서의 저온조건으로 인해 생성되는 성에를 방지하기 위해 측정한 전자부품의 온도를 상온으로 복귀시키는 건조실과, 반송기에 수용되어야할 각 전자부품에 대해 소정 위치상에서 각각 측정된 전자부품이 측정부에 존재하는가에 대한 유무를 검지하는 측정부와 건조실 사이에 구비된, 부품검지부로 구성된 전자부품의 전기적특성을 측정하는 측정부를 구비하여, 복수의 전자부품이 수용된 반송기를 반송하는 오토핸들러를 제공한다.

상기와 같은 구성을 갖는 오토핸들러에 따르면, 측정부에 의해 전자부품의 전기적 특성의 측정 후, 수용되어야할 위치에서의 각 부품의 유무를 검지하는 것이 가능하다.

그러므로, 전자부품이 검지되지 않은 경우, 수용되어야할 위치에서의 전자부품이 측정부의 푸셔의 하면에 부착되거나, 또는 푸셔로부터 떨어진 후 적당히 본래의 위치로 복귀하지 않은 것으로 판정 할 수 있다.

따라서, 측정 후 푸셔에의 전자부품의 부착으로 인해 발생하는 측정상 또는 분류상의 오류 발생을 감소시키는 것이 가능하다.

바람직하게는, 대략 수용기의 중심에 형성된 오목부에 배치된 각 복수의 전자부품은, 각 수용기가 반송기상에서 약간 이동할 수 있도록, 복수의 열 ×복수의컬럼의 행렬로 반송기상에 수용된다.

수용기의 대략 중심에 형성된 오목부는, 오목부에 전자부품을 용이하게 배치하는 것이 가능하도록 점진적으로 경사진 벽면에 둘러쌓이며, 관통구멍을 통하여 소켓의 전기단자와 접촉할 수 있도록 전자부품의 전기단자가 오목부에 배치되는 관통구멍은 오목부의 중심에 형성된다.

전자부품의 각 복수의 열은, 측정부 이후의 반송기의 반송경로에 따른 방향으로 배열되며, 부품검지부재는 컬럼의 각 경로의 부분을 포함하는 평면에 배열된다.

부품검지부재는, 한 쌍의 투광부재와, 광검지기와, 거리측정센서와, 화상픽업장치의 군으로부터 선택된 하나로 구성된다.

본 발명의 다른 형태에 따르면, 반송기에 수용된 전자부품을 측정하고, 반송기에 수용된 전자부품을 위한 측정을 완료한 후 수용되어야할 부품을 위한 각 위치에 측정한 각 전자부품이 존재하는가를 검지하고, 수용시켜야할 위치에 전자부품이 존재하지 않는 경우, 오토핸들러를 정지시키는 단계로 구성된 부품을 검지하는 검지부로, 복수의 전자부품을 수용시킨 반송기를 반송하는 오토핸들러를 제어하는 방법을 제공한다.

본 발명의 오토핸들러를 제어하는 방법에 따르면, 측정부에 의해 각 전자부품의 전기적특성을 측정한 후, 수용시켜야할 위치에서의 각 부품의 유무를 검지하는 것이 가능하다.

그러므로 전자부품이 검지되지 않으면, 수용되어야할 위치에서 전자부품이측정부의 푸셔의 하면에 부착되었거나 또는 푸셔로부터 떨어진 후 적당히 본래의 위치로 복귀하지 않은 것으로 판정할 수 있다.

따라서, 측정 후 푸셔에의 전자부품의 부착에 기인하는 측정상 또는 분류상의 오류 발생을 감소시키는 것이 가능하다.

본 발명의 다른 형태에 따르면, 피측정 전자부품을 소정 온도로 가열 또는 냉각시키고, 그들을 전기적으로 접속하기 위해 각 전자부품의 전기단자를 측정장치의 전기단자에 대해 압축하므로서, 가열하거나 냉각시킨 전자부품의 전기적 특성을 측정하고, 전기적 특성을 측정한 후, 반송기의 수용되어야할 각 전자부품을 위한 소정위치에 각 전자부품이 존재하는가에 대한 유무를 검지하고, 전기특성의 측정 중 저온조건으로 인한 성에의 발생을 방지하기 위해 전자부품의 온도를 상온으로 복귀시키는 단계로 구성된 방법에 있어서, 부품을 측정하는 측정부로 복수의 부품을 수용시킨 반송기를 반송하는 오토핸들러의 제어방법이 제공된다.

(실시예)

다음에 도 1 내지 도 8을 참조해서 본 발명에 따른 부품처리장치 및 부품처리장치의 제어방법의 실시예를 설명한다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 부품처리장치인 오토핸들러를 나타낸다.

상기 오토핸들러(4)는 고온 및 저온조건하에서 전자부품(2)의 측정기능을 갖는다. 오토핸들러(4)에 있어서, 도 1에 나타난 바와 같이, 반송기(5)에 수용된 피측정의 복수의 전자부품(2)이 순환 방식으로 이동한다.

오토핸들러(4)는 피측정의 전자부품(2)을 설정온도로 가열 또는 냉각시키는예비가열부(42)와, 도 3a내지 도 3c에 나타난 바와 같이, 그들의 각각을 소켓(7)에 대해서 압축하므로서 설정온도에서, 전자부품(2)의 전기적 특성을 측정하는 측정부(43)와, 부품(2)의 측정 후, 반송기(5)의 수용되어야할 부품에 있어서 소정 위치에 각 측정 부품(2)이 존재하는가에 대한 유무를 검지하는 부품검지부(3)와, 고온과 저온하의 측정기능으로서, 저온상에서의 측정 중 발생하는 성에를 제거하기 위해 측정한 전자부품(2)의 온도를 상온으로 복귀시키는 건조실(44)로 구성된다.

오토핸들러(4)는 또한 다수의 조립완료된 전자부품(2)이 수용된 트레이를 수용하는 장전부(49)와, 장전부(49)로부터 반송기(5)에 설치된 수용기(1)내로 전자부품(2)을 반송하는 공급핸드(47)와, 예비가열부(42)로 반송기(5)를 공급하는 공급부(41)와, 측정결과에 기초하여 그들을 언로더(50)내로 저장하기 위해 측정된 전자부품(2)을 분류하는 저장핸드(48)와, 분류된 전자부품(2)을 저장하는 언로더로 구성된다.

오토핸들러(4)는 또한 상술한 각부와 그 동작을 제어하는 도시하지 않은 고정식 제어부로 구성된다.

다음은 도 2a 내지 도 2c는 반송기(5)에 대한 상세한 설명이다.

반송기(5)는 예를들어, 도면에 나타난 바와 같이, 4컬럼 ×16열 행렬의 64수용기의 복수의 수용기를 수용시킬 수 있다.

전자부품(2)을 수용하는 각 수용기(1)는 오목부에서 약간 이동할 수 있도록 반송기(5)에 형성된 오목부에 배치된다.

즉, 반송기(5)는 도 2a에 나타난 바와 같이, 동시에 64개의 전자부품을 반송할 수 있다.

각 수용기(1)의 중심부에는 4각형의 전자부품(2)을 배치하는 대략 4각형의 오목부가 형성된다.

오목부를 둘러싸는 4개의 벽면은 오목부에 용이하게 전자부품(2)을 배치하는 것이 가능하도록 점진적으로 경사진다.

도 3c에 나타난 바와 같이, 오목부의 중심부에는, 관통구멍을 통하여 소켓(7)의 전기단자(71)와 접촉하도록 전자부품(2)의 전기단자(21)가 오목부에 배치된, 관통구멍이 형성된다.

도 3a내지 도 3c에 나타난 바와 같이, 측정부(43)는 전자부품(2)의 전기단자(21)에 전기적으로 접속될 수 있는 전기단자(71)를 갖는 소켓(7)과, 소켓(7)의 전기단자(71)에 전자부품(2)의 전기단자(21)를 접속하는 전자부품(2)을 압축하는 푸셔(6)와, 전기단자(71)에 접속하는 IC측정기(도시생략)로 구성된다.

측정부(43)에서는, 푸셔(6)를 사용하여 전자부품(2)을 소켓(7)과 접촉시키고, IC측정기로 측정한다.

측정부(43)는 측정결과를 기초로 전자부품(2)의 특성을 판정한다.

측정부(43)에 구비된 소켓이나 푸셔의 수는 반송기(5)에 수용된 전자부품(2)의 수와 동일하다.

따라서, 측정부(43)는 반송기(5)에 수용된 모든 전자부품(2)을 동시에 측정할 수 있다.

부품검지부(3)는 광학적으로 검지하는 복수의 부재로 구성된다.

도 4a 및 도 4b에 나타난 바와 같이, 각 검지부재는 수용기(1)의 전자부품(2)이 수용되어야 할 위치에 투광하는 투광부재(31)와, 투광부재(31)로부터 투광된 광을 검지하는 광검지기(32)로 구성된다.

한 쌍의 검지부재(3)의 수는 반송기(5)상의 수용기(1)내의 전자부품(2)의 컬럼과 동일하다.

도 1의 실시예에 따른 한 쌍의 검지부(3)의 수는 넷이다.

검지부재(3)의 각 쌍은 반송기(5)상의 각 컬럼내에서 수용기(1)의 관통구멍의 중심을 연결하므로서 형성된 라인을 포함하는 평면상에 있다.

즉, 도 4a 및 도 4b에 나타난 바와 같이, 네 개의 컬럼의 전자부품(2)을 갖는 반송기(5)일 때, 그들의 각각은 검지부재(3)를 관통하는 수용기(1)로 설정되고, 투광부재(31)로부터의 광은 반송기(5)상의 모든 전자부품(2)상에 투광된다.

도 5a 및 도 5b에 나타난 바와 같이, 전자부품(2)을 갖는 반송기(5)가 투광부재(31)와, 광검지부(32)간을 관통할 수 있도록, 각 검지부재(3)의 투광부재(31)와 광검지부(32)는 투광부재(31)의 광축상에서, 상호 상하 반대방향으로 배열된다.

검지부재(3)의 네쌍은 측정부(43)로부터 건조실(44)로 가는 반송기(5)의 반송경로에 수직인 방향으로 배열된다.

상기 투광부재(31)의 예로는 레이저발진기와 같은 광을 투광하는 장치 등이 있는데, 내구성이 우수하고 값싼 발광다이오드를 사용하는 것이 바람직하다.

광검지기(32)의 예로는 CCD소자 혹은 포토트랜지스터와 같이 수광하여 출력을 얻을 수 있는 모든 장치이다.

수광의 유무를 출력시킬 수 있으면 충분하므로 광검지기로서는 값싼 감광소자를 사용하는 것이 바람직하다.

상기 제어부는 상기 각 부를 제어하고, 처리를 위한 CPU와, 동작제어에 관련된 각종 형태의 데이터와 전자부품(2)과 같은 부품의 유무에 관련된 검지결과를 저장하는 RAM과, 각종 형태의 표시기와 같은 표시를 구비하는 CRT로 구성된다.

다음에 도 8에 관련해서 오토핸들러(4)의 동작을 설명한다.

공급핸드(47)는 로더(49)에 수용된 복수의 전자부품(2)을 공급부(41)의 반송기(5)로 하나씩 반송한다.

전자부품(2)으로 가득 채워진 반송기(5)는 예비가열부(42)로 반송된다.

전자부품(2)의 온도가 예비가열부(42)에서 설정온도(고온 또는 저온)에 도달하면, 반송기(5)는 측정부(43)로 이동한다.

측정부(43)에서는 전자부품(2)을 갖는 반송기(5)는 도 3a에 나타난 바와 같이, 바로 소켓(7)의 위의 위치로 이동한다.

그러면 승강기구에 의해 전자부품(2)을 갖는 각 수용기가 대응하는 소켓(7)에 접촉하도록 반송기(5)를 소켓(7)상에서 아래로 이동시킨다.

도 3b에 나타난 바와 같이, 반송기(5)가 하강이동하는 동안, 전자부품(2)은 수용기(1)에 형성된 구멍속으로 소켓(7)상에 구비된 위치고정핀(72)에 의해 정확한위치로 주입된다.

그 다음, 푸셔(6)는 대응하는 전자부품(2)을 소켓(7)으로 향해 아래쪽으로 압축하도록 승강기구를 통해 아래로 이동된다.

따라서, 각 전자부품(2)의 전기단자(21)는 도 3c에 나타난 바와 같이, 각 소켓(7)의 전기단자(71)에 접촉한다.

그후, 각 전자부품(2)의 전기적 특성이 도시하지 않은 IC측정기에 의해 측정된다.

측정을 완료한 후, 푸셔(6)와 반송기(5)는 측정부(43)의 동작을 완료하기 위해 본래의 위치로 상승한다.

측정을 완료한 경우, 전자부품(2)이 푸셔의 하면에 부착되면, 부품을 위한 수용기상에 전자부품(2)은 존재하는 것으로 판정하게된다.

결과적으로 반송기(5)는 전자부품(2)으로 충만되지 않은 상태로 건조실(44)로 반송된다.

측정부(43)와 건조실(44) 사이의 반송기(5)의 반송경로상에 부품검지부(3)를 구비한다.

도 6a 및 도 6b에 나타난 바와 같이, IC반송기(5)가 부품검지부(3)(S1)에 도달하고, 제1열의 네 개의 수용기(1)가 네 개의 투광부재(31)의 바로 위의 위치에 도달한때, 네 개의 투광부재(31)로부터의 광은 제1열의 네 개의 수용기(1)에 설정된 전자부품(2)에 투광된다.

이때, 전자부품(2)이 수용기(1)에 수용되고, 대응하는 투광부재(31)로부터의 광이 전자부품(2)에 의해 방해받음에 따라 대응하는 광검지기(32)는 광을 검지하지않게 된다.

반대로, 광검지기(32)가 투광부재(31)로부터의 광을 검지하면 즉, 소정의 수준보다 큰 강도를 갖는 광을 광검지기(32)가 검지한 경우 측정후 대응하는 수용기(1)내에 전자부품(2)을 수용하지않는다.

그러므로 측정후의 수용기(1)내의 전자부품(2)의 유무가 광검지기(32)(S2)의 측정결과를 기초로 검지가능하다.

검지결과의 정보는 제어부(S3)의 RAM에 저장된다.

반면 검지단계가 실행되지 않은 다른 열이 반송기(5)(S4)에 존재하는 경우, 반송기(5)는 한열(S5)이 진행되고, 열에서 네 개의 수용기(1)중에 전자부품(2)의 유무에 관련한 유사한 검지를 실행한다(S1-S3).

상기와 같은 검지는 반송기(5)상의 모든 수용기를 상대로 실행된다.

반송기(5)(S4)에 아직 검지단계가 실행되지 않은 다른 열이 존재하지않는 경우, 부품검지부(3)를 통과한 반송기(5)는 건조실(44)(S6)로 반송된다.

이때, 제어부는 RAM(S7)으로부터 검지결과를 판독한다.

검지단계에서 광검지기(32)에 의해 광이 수광된 경우, 즉 검지결과(S8)에 광의 검지가 포함되면, 오토핸들러(4)는 경보(S10)를 표시하기 위해 일단 정지한다(S9).

검지결과(S8)에 광의 검지가 포함되지 않은 경우, 오토핸들러(4)는 반송기(5)상의 모든 수용기(1)의 정확한 위치에 전자부품(2)이 존재한다고 판정한다.

이 경우에는 다음의 반송기(5)를 위한 측정동작이 측정부(43)에서 진행된다.

건조실(44)는 반송기(5)는 저온에 기인해서 발생되는 성에를 방지하기 위해가열시킨다.

그 후, 반송기(5)는 완충부(45) 및 수용부(46)로 반송된다.

수용부(46)에서 저장핸드(48)는 측정결과를 기초로 하여 순서대로 반송기(5)에 수용된 측정된 전자부품(2)을 분류해서 언로더(50)에 저장한다.

수용부(46)에서 빈 것이 된 반송기(5)는 공급부로 이동한다.

상술한 바와 같이, 오토핸들러(4)에 있어서 반송기(5)는, 공급부(41), 예비가열부(42), 측정부(43), 건조실(44), 공급부(41)의 순서로 순환한다.

상술한 실시예에서, 또한 전자부품(2)의 유무를 검지하는 검지부재는 투광부재(31), 광검지기(32)로 구성되지만 본 발명의 범위를 제한하기 위한 것은 아니다.

예를들어, 검지부재로서 거리측정센서를 사용하는 것도 가능하다.

이와 같은 경우, 전자부품(2)의 유무는 거리의 차이를 통해 검지가능하다.

검지부재로서 CCD카메라와 같은 화상픽업장치를 사용하는 것 또한 가능하다.

상기의 경우, 전자부품(2)의 유무는 전자부품이 없거나 전자부품(2)의 윤곽선의 추출의 차이를 통해 또는 전자부품(2)이 없거나 전자부품(2)의 표면색과의 차이를 통해 검지가능하다.

투광부재(31)와 광검지기(32)간의 관계는 1 : 1로 대응할 필요는 없다.

예를들면, 검지부(3)는 라인센서와 같은 장척의 발광체로 하거나, 각각이 장척의 발광체로부터 광을 수광할 수 있는 전자부품(2)이 수용된 열의 각 위치에 대응하는 관련된 소정의 위치에 배치된 복수의 광검지기(32)로 구성될 수 있다.

또한, 검지기(3)의 배치장소, 광축의 설정방향, 수량등에 있어서 적절한 변경이 가능하다.

본 발명에 의하면, 측정 후 푸셔에 전자부품의 부착으로 인해 발생되는 측정상 또는 분류상 오류를 감소시키는 오토핸들러가 제공된다.

Claims (12)

1. 복수의 부품을 수용하는 반송기를 측정부로 반송하여 상기 부품을 측정하는 오토핸들러로서,

   부품 수용위치에 있어서 측정된 부품이 존재하는지의 유무를 검지하는 부품검지부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
2. 제1항에 있어서,

   상기 부품검지부재는:

   부품의 측정 후, 반송기의 부품 수용위치에 투광하는 투광부재; 및

   광검지기에 의해 수광되는 광의 강도에 기초하여, 부품이 수용되어야 할 위치에 측정된 부품이 존재하는가에 대한 유무를 검지하기 위해, 투광 후의 물체에 의해 반사된 광이나 투광부재로부터 투광된 광을 검지하는 광검지기로 구성되는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
3. 제1항 또는 제2항에 있어서,

   상기 투광부재는 레이저조사기 또는 발광다이오드를 포함하며, 상기 광검지기는 CCD소자 또는 광트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
4. 제1항 또는 제2항에 있어서,

   상기 부품검지부재는, 측정부 이후의 반송기의 반송경로상에 배치되는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
5. 제4항에 있어서,

   복수의 부품은 반송기에 수용됨과 동시에 측정부로부터의 반송기의 반송경로에 따른 방향으로 복수의 컬럼으로 배열되며, 부품검지부재는 컬럼의 각 경로의 부분을 포함하여 평면으로 배열되는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
6. 복수의 전자부품을 수용하는 반송기를 측정부로 반송하여 상기 전자부품의 전기적 특성을 측정하는 오토핸들러로서,

   측정될 전자부품을 소정 온도로 가열하거나 냉각시키는 예비가열부;

   각 전자부품을 측정장치에 전기적으로 접속하므로서, 가열 혹은 냉각된 전자부품의 전기적 특성을 측정하는 측정부;

   상기 측정부에서 저온조건으로 인한 성에의 발생을 방지하도록, 측정한 전자부품의 온도를 상온으로 복귀시키는 건조실; 및

   수용되어야 할 각 전자부품에 대한 소정의 위치상에 측정부에서 측정된 각각의 전자부품이 존재하는가에 대한 유무를 검지하는, 측정부와 건조실간에 구비된 부품검지부로 구성된 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
7. 제6항에 있어서,

   수용기의 대략 중심에 형성된 오목부에 배치된 각 복수의 전자부품은, 각 수용기가 반송기상에서 약간 이동할 수 있도록, 복수 열 ×복수 컬럼의 행렬로 반송기상에 수용되는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
8. 제7항에 있어서,

   상기 수용기의 대략 중심에 형성된 오목부는, 전자부품이 용이하게 배치될 수 있도록 점진적으로 경사진 벽면으로 둘러 쌓여 있으며, 오목부상의 전자부품의 전기단자가 관통구멍을 통하여 소켓의 전기단자와 접촉할 수 있도록 관통구멍이 오목부의 중심에 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
9. 제7항에 있어서,

   전자부품의 각 복수의 컬럼은, 측정부 이후의 반송기의 반송경로에 따른 방향으로 배열되며, 부품검지부재는 컬럼의 각 경로 부분을 포함하여 평면으로 배열되는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
10. 제7항에 있어서,

    상기 부품검지부재는, 한 쌍의 투광부재와 광검지기, 거리측정센서, 및 화상픽업장치로 이루어지는 그룹에서 선택된 하나로 구성되는 것을 특징으로 하는 오토핸들러.
11. 복수의 전자부품을 수용하는 반송기를 측정부로 반송하여 상기 부품을 측정하는 오토핸들러의 제어방법으로서,

    반송기에 수용된 전자부품을 측정하는 단계;

    반송기에 수용된 전자부품의 측정을 완료한 후, 수용되어야할 부품의 각 위치에 측정된 각 전자부품이 존재하는지의 유무를 검지하는 단계; 및

    수용되어야할 위치에 전자부품이 존재하지 않는 경우, 오토핸들러를 정지시키는 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 오토핸들러의 제어방법.
12. 복수의 부품을 수용하는 반송기를 측정부로 반송하여 상기 부품을 측정하는 오토핸들러의 제어방법으로서,

    피측정 전자부품을 소정의 온도로 가열하거나 냉각시키는 단계;

    이들이 전기적으로 접속하도록 각 전자부품의 전기단자를 측정장치의 전기단자에 대해 압축하므로서, 가열하거나 냉각시킨 전자부품의 전기적 특성을 측정하는 단계;

    상기 전기적 특성의 측정 후, 반송기의 수용되어야할 각 전자부품의 소정위치에 각 전자부품이 존재하는지의 유무를 검지하는 단계; 및

    상기 전기적 특성의 측정 중 저온조건으로 인한 성에의 발생을 방지하기 위해 전자부품의 온도를 상온으로 복귀시키는 단계로 구성된 것을 특징으로 하는 오토핸들러의 제어방법.