KR20000045133A - Method and circuit for diagnosing fault in multi-functional hardware - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A method for diagnosing a fault in a multi-functional hardware is provided to recover the fault by checking each sensor channel and an element with a feedback circuit separately comprising as well as a main circuit, and by minutely displaying each sensor channel and an element in a display of an output result. CONSTITUTION: A method for diagnosing a fault in a multi-functional hardware, with a Central Processing Unit(CPU), an Analog to Digital(A/D), and a Digital to Analog(D/A), comprises the steps of: diagnosing a CPU, monitoring the CPU's condition by a watch dog; diagnosing a memory, comparing and diagnosing a data firstly inputted with a data read by inputting a fixed data and then reading a date in a predetermined area of a memory, when a power is on at first, or when an user commend a check during operation; diagnosing a power by reading, after diagnosing a voltage value of each power through a A/D converter; diagnosing the A/D converter and a D/A converter; diagnosing an analog circuit, checking an inputting channel of each analog by comparing the output value, after outputting the voltage value to diagnose through the D/A converter for the input channel asked to check and being inputted through the A/D converter; diagnosing a digital input/output by outputting an output signal for the fault diagnosis to an input terminal in diagnosing an input, and by being received an input for a fault diagnosis from an output terminal in diagnosing an output; and displaying the diagnosed result and exiting.

Description

다기능 하드웨어의 고장진단 방법 및 그 회로Fault diagnosis method and its circuit of multifunction hardware

본 발명은 각종 하드웨어의 고장진단 방법에 관한 것으로, 특히 CPU를 포함하여 A/D, D/A 변환기등 여러 가지 소자가 사용되는 다기능 하드웨어에 대한 고장 진단 방법이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for diagnosing a failure of various kinds of hardware. In particular, the present invention relates to a method for diagnosing failure of a multifunctional hardware including various types of devices such as an A / D and a D / A converter.

고장진단이란 하드웨어의 기본적인 기능을 원활히 수행하기 위하여 때에 따라 수동 혹은 자동으로 하드웨어의 상태를 검사하여 이상유무를 표시하는 방법으로 외부의 별도 장비를 이용하여 고장유무를 수동으로 검사하는 방식과 시스템 자체 내에 검사 기능을 포함하는 경우 등 여러 가지 방법이 있을 수 있다.Fault diagnosis is a method of checking the hardware status manually or automatically to check the status of the hardware from time to time to perform the basic functions of the hardware smoothly. There may be a number of ways, including the inclusion of a test function.

종래의 고장진단 방식은 주로 CPU 보드에 국한하여 검사를 수행하는 것이 대부분으로 다른 부분에서 고장이 발생하게 되면 사용자가 손쉽게 대처하기가 힘들고 전문 엔지니어가 직접 검사 조처해야 하는 번거로움이 있다. 그리고 CPU 보드 이외에 다른 부분까지 검사하는 기능을 갖춘 시스템이라 할 지라도 검사 기능이 보드 단위로만 가능할 뿐 각 소자별로 세밀한 검사를 할 수 있는 기능은 갖추고 있지 않기 때문에 검사에 대한 출력 결과도 보드 단위로만 표시가 가능하다. 따라서 시스템의 고장시 사용자가 직접 수리하기 위해서는 보드 일체를 교체 할 수밖에 없어서 보수 유지에 대한 번거로움뿐 만 아니라 비용 면에 있어서도 많은 단점을 가지고 있는 것이 현실이다.In the conventional failure diagnosis method, the test is mainly limited to the CPU board, and when a failure occurs in another part, it is difficult for the user to easily cope with it and hassle of having to inspect the test by a professional engineer. In addition, even if the system is equipped with the function to inspect other parts besides the CPU board, the inspection function is available only on a board basis, and since there is no function to perform detailed inspection for each device, the output result of the inspection is displayed only on a board basis. It is possible. Therefore, in case of system failure, the user has no choice but to replace all the boards in order to repair the system directly. This is not only troublesome to maintain, but also has many disadvantages in terms of cost.

상기와 같은 문제를 해결하기 위해 본 발명에서는 주 회로 이외에도 피드백 회로를 별도로 구성하여 각 센서 채널 및 소자 단위까지 검사 가능하게 하였고, 출력 결과의 표시에 있어서도 채널 및 소자단위까지 세밀하게 표시하도록 하여 전문 엔지니어가 아니라도 손쉽게 문제점을 파악하여 조처할 수 있게 하므로써, 보수 유지를 용이하게 함은 물론 경비 절감에 있어서도 효율성을 증대코자 하는데 목적이 있다.In order to solve the above problems, in the present invention, in addition to the main circuit, the feedback circuit can be separately configured to inspect each sensor channel and device unit, and the expert engineer can display the channel and device unit in detail in the display of the output result. The purpose of the present invention is to facilitate maintenance and repair, and to increase the efficiency in cost reduction.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해 본 발명에서는 주 회로와 피드백(Feedback) 회로를 별도로 구성하여 주 회로의 상태를 피드백 회로를 통해 검사하도록 프로그래밍 하였다. 특히 피드백 회로의 설계에 있어 아날로그(Analog), 디지탈(Digital) 등을 별도로 세분화하여 구성하고 센서 채널 및 소자단위까지 정밀하게 진단하여 그 결과를 표시하도록 하므로써 보수 유지에 있어 편의성을 도모하였다.In order to achieve the above object, in the present invention, the main circuit and the feedback circuit are configured separately so that the state of the main circuit is programmed through the feedback circuit. In particular, in designing the feedback circuit, analog and digital components are separately subdivided, and the sensor channels and device units are precisely diagnosed and the results are displayed for convenience in maintenance.

주 회로의 구성을 보면 CPU, 메모리(Memory), 디스플레이(Display) 및 키(Key) 입력회로, 아날로그 회로, 디지탈 입력/출력 회로, 전원부 등으로 나눌 수 있는데, 각 부분에 대한 상태를 검사하기 위해 다음과 같은 고장진단기능을 가지고 있다.The main circuit is divided into CPU, memory, display and key input circuit, analog circuit, digital input / output circuit, power supply, and so on. It has the following fault diagnosis function.

CPU에 대해서는 기본적으로 워치도그(Watch dog) 기능을 가지고 있어서 상태를 항상 감시하고 있으며, 메모리는 처음 전원을 투입할 때와 동작 중 사용자가 검사 명령을 내릴 때 검사를 수행하는데, 메모리의 일정 영역에 임의의 데이터를 입력하고 다시 그 영역에서 데이터를 읽어서 처음 입력한 데이터와 읽어들인 데이터를 비교하여 정상적일 경우에는 'Good' 메시지를 표시하고 에러가 있을 경우에는 문제가 있는 영역의 메모리 소자 번호를 표시한다.The CPU basically has a watch dog function, which always monitors the status. The memory performs the test when the user first turns on the power and when the user issues a test command. Input arbitrary data and read the data from the area again, and compare the first input data with the read data. If the error is normal, the message 'Good' is displayed. If there is an error, the memory device number of the problem area is displayed. do.

전원부의 검사에 있어서는 하드웨어 내부에서 사용하는 각종 DC 전원에 대한 검사를 행한다. 하드웨어 내부에서 사용되는 각 DC 전원은 회로 내부의 A/D 변환기로 입력되는 멀티플랙서의 각 채널에 연결되어 있고 검사가 시작되면 A/D 변환기를 통해 각 전원의 전압치를 읽어서 정상적인 경우에는 'Good' 메시지를 표시하고 기준에서 벗어날 경우에는 해당 전원을 표시하여 문제점을 나타낸다.In the inspection of the power supply unit, various DC power supplies used in the hardware are inspected. Each DC power source used inside the hardware is connected to each channel of the multiplexer input to the A / D converter inside the circuit. When the test starts, the voltage value of each power source is read through the A / D converter. Message is displayed and the power is displayed to indicate a problem.

아날로그 회로는, A/D 변환기와 D/A 변환기를 포함하고 있는데, 주로 외부의 센서로부터 여러 개의 채널을 통해 데이터를 입력받는 기능을 수행한다. 본 발명에서는 기본적인 A/D, D/A 변환기 회로뿐만 아니라 센서 채널 각각에 대해서도 진단기능을 수행한다. 먼저 A/D 변환기에 대한 검사는 D/A 변환기를 통해 임의의 전압을 출력하고 이때 출력된 전압은 미리 구성되어 있는 회로를 통해 A/D 변환기의 한 채널로 입력되는데 여기에서 출력된 전압치와 A/D 변환기를 통해 입력되는 전압치를 비교하여 차이가 있는 경우에는 해당 소자의 번호를 표시하여 조처하도록 한다. D/A 변환기의 테스트에 관한 경우에는 앞의 방법과 유사하게 D/A 변환기에서 +5V의 전압을 출력하고 A/D 변환기에서는 D/A를 통해 입력되는 전압치와 기존의 +5V 전압치를 동시에 비교하여 D/A 변환기의 이상여부를 판단한다. 그리고 각 센서 값은 여러 개의 채널을 통해 입력되기 때문에 멀티플렉서(Multiplexer)를 사용하고 각 센서의 종류에 따라 입력 단에 시그날 인터페이스 카드(Signal Interface Card)를 이용하여 데이터를 변환하는데 이때 각 채널에 대한 검사를 위해서 본 발명에서는 D/A 변환기를 통해 임의의 전압치를 출력하고, 출력된 전압은 피드백 회로를 통해 전 채널의 시그날 인터페이스 카드까지 전송된다. 이 상태에서 시그날 인터페이스 카드에 있는 절환 스위치를 테스트 모드로 두면 카드에서는 외부의 센서값 대신 D/A 변환기에서 출력된 전압치를 되돌려 보내게 되고 내부에서는 이렇게 각 채널로부터 피드백 된 전압치를 비교하여 출력된 값과 차이가 있는 경우에는 해당 채널번호를 표시하여 문제점을 나타내게 된다. 이러한 기능은 사용자가 임의로 채널을 선택하여 수동으로 테스트할 수도 있다. 즉 임의로 하나의 채널에 대해 테스트를 수행하기 위해 원하는 채널에 해당하는 시그날 인터페이스 카드의 절환 스위치를 테스트 모드로 두고 디스플레이 및 키 입력부에서 원하는 전압치를 입력하게 되면 해당 값이 D/A 변환기를 통해 출력되고 이 전압치는 시그날 인터페이스 카드를 통해 다시 내부의 A/D 변환기로 피드백 된다. 이렇게 피드백된 전압치는 사용자가 입력한 전압치와 함께 디스플레이 되어 사용자는 이 두 가지의 전압치를 비교하므로써 해당 채널의 이상유무를 확인할 수 있다.The analog circuit includes an A / D converter and a D / A converter, and mainly performs a function of receiving data through several channels from an external sensor. In the present invention, not only basic A / D and D / A converter circuits, but also diagnostic functions are performed on each sensor channel. First of all, the test of A / D converter outputs arbitrary voltage through D / A converter, and the output voltage is input to one channel of A / D converter through the preconfigured circuit. Compare the voltage value input through the A / D converter and if there is a difference, display the number of the corresponding device and take action. As for the test of the D / A converter, similar to the previous method, the D / A converter outputs a voltage of + 5V and the A / D converter simultaneously outputs the voltage input through the D / A and the existing + 5V voltage value. In comparison, it is determined whether the D / A converter is abnormal. And since each sensor value is input through several channels, it uses a multiplexer and converts data by using a signal interface card at the input terminal according to each sensor type. In the present invention, an arbitrary voltage value is output through the D / A converter, and the output voltage is transmitted to the signal interface card of all channels through the feedback circuit. In this state, if the changeover switch on the signal interface card is put in the test mode, the card sends back the voltage value output from the D / A converter instead of the external sensor value and internally compares the voltage value fed back from each channel. If there is a difference, the corresponding channel number is displayed to indicate a problem. This feature can be manually tested by the user at random. In other words, if you want to perform a test on one channel arbitrarily, put the selector switch of the signal interface card corresponding to the desired channel in test mode, and input the desired voltage value from the display and key input unit. This voltage value is fed back to the internal A / D converter via the signal interface card. The feedback voltage value is displayed along with the voltage value input by the user so that the user can check whether there is an abnormality in the corresponding channel by comparing the two voltage values.

디지탈 입/출력 회로는 디코더 및 버퍼(Buffer)와 래치(Latch)로 구성되는데 기본적인 입출력 기능을 위한 버퍼와 래치 이외에도 고장진단을 위한 피드백(Feed back) 회로가 있다. 먼저 디지탈 입력회로에 있어서 고장진단은 기본적인 입력 버퍼의 입력단에 피드백 회로의 출력버퍼에서 나오는 출력 신호를 연결하여 임의의 테스트용 데이터를 내보낸 후 입력 버퍼를 통해 들어오는 데이터와 테스트용 데이터를 비교하여 차이가 있을 경우 해당 소자의 번호를 표시하게 된다. 디지탈 출력 회로에 있어서도 마찬가지로 기본적인 출력 버퍼의 출력단에 고장진단을 위한 입력 버퍼를 연결하여 출력된 데이터와 피드백되어 들어오는 데이터를 비교하여 차이가 있는 부분의 소자 번호를 표시한다.The digital input / output circuit consists of a decoder, a buffer, and a latch. In addition to the buffer and latch for basic input / output functions, there is a feedback circuit for troubleshooting. First, in the digital input circuit, the fault diagnosis is to connect the output signal from the output buffer of the feedback circuit to the input terminal of the basic input buffer, and then send out random test data, and then compare the data input through the input buffer with the test data. If is present, the number of the corresponding device is displayed. In the digital output circuit as well, an input buffer for fault diagnosis is connected to the output terminal of the basic output buffer to compare the output data with the feedback data and display the device number of the difference part.

이상에서 설명한 고장진단 기능은 초기 전원 투입 시 자기진단(Power on self-test)을 통해 자동으로 실행되어 시스템이 구동되기 전에 항상 이상유무를 확인한 후 동작하도록 설계되어 있다.The above-mentioned fault diagnosis function is designed to run automatically after power on self-test at the initial power-up and always check whether there is any problem before the system is started.

도 1은 본 발명에 따른 시스템의 전체 구성도.1 is an overall configuration diagram of a system according to the present invention.

도 2는 본 발명에 따른 아날로그 라인 상태 검사를 위한 회로의 구성도.2 is a block diagram of a circuit for checking an analog line state in accordance with the present invention.

도 3은 본 발명에 따른 디지탈 입력 라인 상태 검사를 위한 회로의 구성도.3 is a schematic diagram of a circuit for digital input line state inspection in accordance with the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 디지탈 출력 라인 상태 검사를 위한 회로의 구성도.4 is a block diagram of a circuit for checking a digital output line state according to the present invention.

도 5는 본 발명의 초기 전원 투입시 자기진단(Power on self-test) 기능에 대한 흐름도.Figure 5 is a flow chart for the power on self-test (Power on self-test) function of the present invention.

도 6은 본 발명의 전원 진단 기능에 대한 흐름도.6 is a flow chart for the power diagnostic function of the present invention.

도 7은 본 발명의 A/D 변환기 진단 기능에 대한 흐름도.7 is a flowchart of the A / D converter diagnostic function of the present invention.

도 8은 본 발명의 D/A 변환기 진단 기능에 대한 흐름도.8 is a flowchart of a D / A converter diagnostic function of the present invention.

도 9는 본 발명의 센서 채널 진단 기능에 대한 흐름도.9 is a flow chart for the sensor channel diagnostic function of the present invention.

도 10은 본 발명의 메모리 진단 기능에 대한 흐름도.10 is a flow chart of the memory diagnostic function of the present invention.

도 11은 본 발명의 디지탈 입력 진단 기능에 대한 흐름도.11 is a flow chart for the digital input diagnostic function of the present invention.

도 12는 본 발명의 디지탈 출력 진단 기능에 대한 흐름도.12 is a flowchart of the digital output diagnostic function of the present invention.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Description of the code | symbol about the principal part of drawing>

10 : 전원부 20 : 마더 보드10: power supply 20: motherboard

30 : CPU 40 : 메모리30: CPU 40: Memory

50 : 디스플레이 & 키회로 60 : 아날로그 회로50: display & key circuit 60: analog circuit

61 : A/D 변환기 62 : 멀티 플렉서61: A / D converter 62: Multiplexer

63 : 시그날 인터페이스 카드 64 : 센서 인터페이스 터미날63: signal interface card 64: sensor interface terminal

70 : 디지탈 입/출력회로 71 : 입력버퍼70: digital input / output circuit 71: input buffer

72 : 외부 입력 터미날 73 : 출력 버퍼72: external input terminal 73: output buffer

74 : 외부 출력 터미날 80 : 피드백회로74: external output terminal 80: feedback circuit

81 : D/A 변환기 82 : 멀티 플렉서81: D / A converter 82: Multiplexer

83 : 고장진단용 출력버퍼 84 : 고장 진단용 입력버퍼83: output buffer for fault diagnosis 84: input buffer for fault diagnosis

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명에 따른 시스템의 전체 구성도로서 이에 도시된 바와 같이, 전원부(10)와, 마더 보드(Mother Board)(20)와, CPU(30)와, 메모리(40)와, 디스플레이 및 키 입력 회로(50)와, 아날로그 회로(60)와, 디지탈 입/출력 회로(70)와, 피드백 회로(80) 등으로 구성된다.1 is an overall configuration diagram of a system according to the present invention, as shown therein, a power supply unit 10, a mother board 20, a CPU 30, a memory 40, a display and The key input circuit 50, the analog circuit 60, the digital input / output circuit 70, the feedback circuit 80, etc. are comprised.

전원은 마더 보드(20)를 통해 각 회로에 공급되고, CPU(30), 메모리(40), 디스플레이 및 키 입력회로(50)에서 기본적인 시스템의 기능을 수행하며 아날로그 회로(60)는 외부 센서를 통해 입력되는 데이터를 수집하여 CPU(30)로 전송한다. 디지탈 입/출력 회로(70)에서는 외부 접점이나 릴레이(Relay)를 통해 온/오프 신호(on/off Signal)를 입출력한다. 피드백회로(80)는 이상의 주 회로가 정상적으로 구동할 수 있는지를 진단하기 위한 보조회로라 할 수 있다.Power is supplied to each circuit through the motherboard 20, and performs the basic system functions in the CPU 30, memory 40, display and key input circuit 50, and the analog circuit 60 provides an external sensor. Collect the data input through the transfer to the CPU (30). The digital input / output circuit 70 inputs and outputs an on / off signal through an external contact or a relay. The feedback circuit 80 may be an auxiliary circuit for diagnosing whether the above main circuit can be driven normally.

도 2는 아날로그 라인 상태 검사를 위한 회로도로서, A/D 변환기(61)는 시그날 인터페이스 카드(63)에서 들어오는 센서 인터페이스 터미날(64)의 센서신호를 멀티플렉서(62)를 통해 입력받고 있으며 이 신호는 CPU(30)로 전송되고 D/A 변환기(81)에서는 A/D 변환기와 D/A 변환기를 검사하기 위한 출력신호와 각 센서 채널을 검사하기 위한 출력신호를 멀티플렉서(82)를 통해 내보내고 있다.FIG. 2 is a circuit diagram for checking an analog line state. The A / D converter 61 receives a sensor signal of the sensor interface terminal 64 coming from the signal interface card 63 through the multiplexer 62. The D / A converter 81 transmits an output signal for checking the A / D converter and the D / A converter and an output signal for checking each sensor channel through the multiplexer 82.

먼저 D/A 변환기(81)에서 멀티플렉서(82)를 통해서 A/D 변환기(61)로 직접 연결되어 있는 신호는, A/D, D/A 변환기 각 소자의 정상동작 유무를 판단하기 위한 것으로 D/A 변환기(81)를 통해 출력된 전압치와 A/D 변환기(61)를 통해 검출된 전압치를 비교하여 이상 여부를 판단한다. 그리고 D/A 변환기(81)에서 모든 시그날 인터페이스 카드(63)로 공급되는 신호는 각 시그날 인터페이스 카드(63)에서 피드백되어 센서입력 라인을 통해 A/D 변환기(61)에서 검출되고, 이때 D/A변환기를 통해 출력된 신호와 A/D변환기를 통해 입력되는 신호를 비교하여 각 채널의 이상 여부를 판단하게 된다. 특히 시그날 인터페이스 카드(63)로 공급되는 신호는 카드 내의 절환 스위치의 선택에 따라 피드백 여부가 결정되므로 수동으로 일부의 채널만을 선택하여 진단하는 것이 가능하다.First, the signal directly connected from the D / A converter 81 to the A / D converter 61 through the multiplexer 82 is used to determine the normal operation of each element of the A / D and D / A converters. The abnormality is determined by comparing the voltage value output through the / A converter 81 with the voltage value detected through the A / D converter 61. The signals supplied from the D / A converter 81 to all the signal interface cards 63 are fed back from each signal interface card 63 and detected by the A / D converter 61 through the sensor input line. By comparing the signal output through the A converter and the signal input through the A / D converter to determine whether each channel is abnormal. In particular, since the signal supplied to the signal interface card 63 is determined by feedback according to the selection of the changeover switch in the card, it is possible to manually select and diagnose only a part of channels.

도 3은 디지탈 입력 라인 상태 검사를 위한 회로도로서, 기본적인 입력 버퍼(71) 이외에 고장진단 용 신호를 내보내기 위한 출력 버퍼(83)가 있다. 입력 버퍼(71)에서는 외부 입력 터미날(72)로부터 신호를 입력받는 것을 주 기능으로 하고 있다. 고장진단 기능은 출력 버퍼(83)에서 임의의 테스트 용 신호를 내보내고 그 신호가 입력 터미날(72)을 거쳐 피드백 되어 오는 것을 입력 버퍼(71)를 통해 다시 검출 한 후 CPU(30)로 전송하고 CPU(30)에서는 입출력 신호를 비교하므로써 디지탈 입력 라인의 이상여부를 판단하게 된다.3 is a circuit diagram for digital input line state inspection, in addition to the basic input buffer 71, there is an output buffer 83 for outputting a fault diagnosis signal. The input buffer 71 has a main function of receiving a signal from an external input terminal 72. The diagnostic function sends out an arbitrary test signal from the output buffer 83 and detects that the signal is fed back through the input terminal 72 through the input buffer 71 and transmits it to the CPU 30. At 30, by comparing the input and output signals, it is determined whether the digital input line is abnormal.

도 4는 디지탈 출력 라인 상태 검사를 위한 회로도로서, 기본적인 출력 버퍼(73) 이외에 출력되는 신호를 피드백하여 검출하기 위한 별도의 입력 버퍼(84)가 있다. 출력 버퍼(73)에서는 외부 출력 터미날(74)을 통해 데이터를 내보내는 것을 주 기능으로 하고 있다. 고장진단 기능은 출력 버퍼를 통해 외부 출력 터미날로 나가는 신호를 입력 버퍼에서도 피드백하여 검출한 후 그 신호를 CPU(30)로 전송하고 CPU(30)에서는 출력된 신호가 정상인지를 확인하므로써 디지탈 출력 라인의 이상여부를 판단하게 된다.4 is a circuit diagram for checking the digital output line state, in addition to the basic output buffer 73, there is a separate input buffer 84 for feeding back and detecting the output signal. In the output buffer 73, the main function is to export data via the external output terminal 74. The fault diagnosis function detects the signal output to the external output terminal through the output buffer by feeding it back to the input buffer and transmitting the signal to the CPU 30. Then, the CPU 30 checks whether the output signal is normal. It is determined whether the abnormality of.

도 5는 본 발명의 전원 입력 초기의 자기진단(Power on self-test) 기능에 대한 흐름도로서, 초기에 시스템에 전원을 투입하거나 자동 진단(Auto test) 명령을 내리면, 전원진단(S10), A/D 변환기 진단(S20), D/A 변환기 진단(S30), 센서 채널 진단(S40), 메모리 진단(S50) 및 디지탈 입/출력 진단(S60, S70)에 대한 진단을 모두 시행하고, 고장 여부를 판단(S80)하여 고장이 있을 경우는 해당 에러 메시지를 표시(S90)하고 정상일 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S100).FIG. 5 is a flowchart illustrating a power on self-test function of an initial power input of the present invention. When power is initially supplied to the system or an automatic test command is issued, a power diagnosis (S10) and A Diagnostics for the / D converter diagnosis (S20), D / A converter diagnosis (S30), sensor channel diagnosis (S40), memory diagnosis (S50), and digital input / output diagnosis (S60, S70) are all performed. If it is determined that there is a failure (S80), the corresponding error message is displayed (S90) and if it is normal, a 'Good' message is displayed (S100).

도 6은 본 발명의 전원 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단(Test)이 시작되면(33) +5V, +15V, -15V의 각 전압치를 A/D 변환기(61)를 통해 입력받는다(S11, S12, S13). 먼저 +5V가 10% 이상 차이가 있는지를 비교하여(S14) 차이가 있을 경우에는 +5V 에러 메시지를 표시하고(S15) 없을 경우에는 다음으로 넘어간다. 다음으로 +15V에 대한 검사를 수행하여 10% 이상 차이가 있는지를 비교하여(S16) 있을 경우에는 +15V 에러 메시지를 표시하고(S17) -15V도 10% 이상 차이가 있는지를 판단하여(S18) 있을 경우에는 -15V 에러 메시지를 출력한다(S19).FIG. 6 is a flowchart illustrating a power diagnosis function of the present invention. When a test is started (33), each voltage value of + 5V, + 15V, and -15V is received through the A / D converter 61 (S11, S12, S13). First, compare + 5V for more than 10% difference (S14). If there is a difference, + 5V error message is displayed (S15). Next, a test of + 15V is performed to compare whether there is a difference of 10% or more (S16). If there is a difference, a + 15V error message is displayed (S17) and -15V is also determined whether there is a difference of 10% or more (S18). If there is, a -15V error message is output (S19).

도 7은 본 발명의 A/D 변환기 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, D/A 변환기(81)에서 내부 라인을 통해 임의의 전압치를 출력한다(S21). 이때 A/D 변환기(61)에서는 입력되는 전압치를 읽어(S22) CPU(30)로 전송하고, CPU(30)에서는 이 두 값을 비교하여(S23) ±0.1V 이상 차이가 있는지를 검사한 후(S24) 이상이 있을 경우에는 해당 소자 번호를 표시(S25)하고, 이상이 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S26).7 is a flow chart of the A / D converter diagnostic function of the present invention. When the diagnosis is started, the D / A converter 81 outputs an arbitrary voltage value through an internal line (S21). At this time, the A / D converter 61 reads the input voltage value (S22) and transmits it to the CPU 30, and the CPU 30 compares the two values (S23) and checks whether there is a difference of ± 0.1V or more. If there is an error (S24), the corresponding device number is displayed (S25). If there is no error, a 'Good' message is displayed (S26).

도 8은 본 발명의 D/A 변환기 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, D/A 변환기에서 내부라인을 통해 +5V의 값을 출력한다(S31). 이때 A/D 변환기에서는 D/A 변환기를 통해 입력되는 전압과 기존 +5V의 전압을 읽어(S32) CPU로 전송하고 CPU에서는 출력값과 두 개의 입력값을 비교하여(S33) 각각 ±0.1V 이상 차이가 있는지를 검사(S34) 후 이상이 있을 경우 해당소자 번호를 표시하고(S35) 이상이 없을 경우 'Good' 메시지를 표시한다(S36).FIG. 8 is a flowchart illustrating a diagnosis function of the D / A converter of the present invention. When the diagnosis is started, the D / A converter outputs a value of + 5V through an internal line (S31). At this time, the A / D converter reads the voltage input through the D / A converter and the existing + 5V voltage (S32) and transmits it to the CPU.The CPU compares the output value and the two input values (S33) and differs by more than ± 0.1V. If there is an error after the check (S34), the corresponding device number is displayed (S35). If there is no error, a 'Good' message is displayed (S36).

도 9는 본 발명의 센서 채널 진단(Sensor channel test) 기능에 대한 흐름도로서, 이 기능은 앞서 설명한 다른 기능과는 달리 수동으로 조작된다. 진단을 하고자 할 때, 사용자는 테스트하고자 하는 채널에 해당하는 시그날 인터페이스 카드(63)의 스위치를 테스트 모드로 두고(S41) 디스플레이 및 키 입력부에서 원하는 채널의 번호를 선택(S42)한 뒤 임의의 출력 전압치을 지정하여 입력한다(S43). 이때 지정된 값은 즉시 D/A 변환기를 통해 시그날 인터페이스 카드로 전송되고(S44) 해당 카드(63)에서는 이 신호가 피드백되어 다시 A/D 변환기로 입력된다(S46). 여기에서 출력된 전압치는 상부에 표시(S45)되고, 피드백되어 입력된 전압치는 하부에 표시된다(S47). 사용자는 이 두 값을 비교하므로써 각 채널의 정상동작 여부를 수동으로 확인 할 수 있다.FIG. 9 is a flowchart of a sensor channel test function of the present invention, which is operated manually unlike other functions described above. When the diagnosis is to be performed, the user puts the switch of the signal interface card 63 corresponding to the channel to be tested in the test mode (S41), selects the desired channel number from the display and the key input unit (S42), and then outputs an arbitrary output. The voltage value is designated and input (S43). At this time, the specified value is immediately transmitted to the signal interface card through the D / A converter (S44), and the signal is fed back from the corresponding card 63 to the A / D converter (S46). The voltage value output here is displayed at the top (S45), and the fed back voltage value is displayed at the bottom (S47). By comparing these two values, the user can manually check whether each channel is operating normally.

도 10은 본 발명의 메모리 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, 우선 메모리 내에 저장되어 있던 기존의 데이터가 테스트 도중에 손실되는 것을 막기 위해 다른 영역으로 옮겨둔다(S51). 다음으로 임의의 데이터를 메모리의 특정영역에 입력하고(S52) 다시 메모리로부터 데이터를 읽어 들여(S53) 이전에 입력한 데이터와 비교한다(S54). 두 데이터를 비교하여(S55) 차이가 있을 경우에는 해당 영역의 메모리 소자 번호를 표시하고(S56) 차이가 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S57). 테스트가 끝나면 다른 영역에 옮겨 두었던 기존의 데이터를 원래의 위치로 복구한다(S58).10 is a flowchart of a memory diagnostic function of the present invention. When the diagnosis is started, first, the existing data stored in the memory is moved to another area in order to prevent the data from being lost during the test (S51). Next, arbitrary data is input into a specific area of the memory (S52), and data is read from the memory again (S53) and compared with the data previously input (S54). When the two data are compared (S55), if there is a difference, the memory element number of the corresponding area is displayed (S56). If there is no difference, a 'Good' message is displayed (S57). After the test is completed, the existing data, which has been moved to another area, is restored to its original location (S58).

도 11은 본 발명의 디지탈 입력 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면, 출력 버퍼를 통해 임의의 데이터를 내보내고(S61) 이때 입력 버퍼에서는 출력되는 데이터를 읽어 들여(S62) CPU로 전송한다. CPU에서는 출력한 데이터와 입력 버퍼를 통해 들어오는 데이터를 비교하고(S63) 차이가 있는지 판단(S64)하여 차이가 있으면 해당 소자의 번호를 표시하고(S65) 차이가 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S66).11 is a flowchart of the digital input diagnosis function of the present invention. When the diagnosis is started, the arbitrary data is sent out through the output buffer (S61). At this time, the input buffer reads the output data and transmits it to the CPU (S62). The CPU compares the output data with the incoming data through the input buffer (S63) and determines if there is a difference (S64). If there is a difference, the number of the corresponding device is displayed (S65) and if there is no difference, a 'Good' message is displayed. (S66).

도 12는 본 발명의 디지탈 출력 진단 기능에 대한 흐름도로서, 진단이 시작되면 입력 버퍼를 통해 피드백 되는 데이터를 읽어들여(S71) CPU로 전송하고 CPU에서는 기존에 출력 데이터와 피드백 되어 들어온 데이터를 비교하여(S72) 차이가 있을 경우(S73) 해당소자의 번호를 표시하고(S74) 차이가 없을 경우에는 'Good' 메시지를 표시한다(S75).12 is a flow chart of the digital output diagnostic function of the present invention. When the diagnosis is started, the data fed back through the input buffer is read (S71) and transmitted to the CPU, and the CPU compares the output data with the previously fed back data. If there is a difference (S73), the corresponding device number is displayed (S74). If there is no difference, a 'Good' message is displayed (S75).

상기에서 설명한 바와 같이 본 발명 "다기능 하드웨어의 고장진단 방법 및 그 회로"는 여러 분야에서 사용되고 있는 마이크로프로세서를 내장한 각종 하드웨어의 고장에 대한 검사 방법으로 시스템 자체적으로 고장진단 기능을 내장하여 전문 엔지니어가 없더라도 사용자가 손쉽게 고장부위를 판단 조처할 수 있게 하는 장점을 가지고 있다. 또한 소자나 채널단위까지 세밀하게 진단하여 그 결과를 소자번호나 혹은 채널번호로 표시하므로써 사용상의 편의성을 도모함은 물론 기존에 보드단위로 검사 교체하는 형태의 시스템에 비해 보수 유지에 대한 경비절감에 있어서도 많은 효과가 있다고 할 수 있다.As described above, the present invention "a method for diagnosing a failure of a multifunctional hardware and its circuit" is a method for checking a failure of various hardware incorporating a microprocessor used in various fields, and the system itself has a built-in function for diagnosing a failure. Even if it is not, it has the advantage of allowing the user to easily determine the fault. In addition, the device and channel unit can be diagnosed in detail, and the result can be displayed by element number or channel number. There are many effects.

따라서 본 발명에서 구현한 고장진단 기능은 마이크로 프로세서를 사용하는 모든 하드웨어 시스템에 적용 가능하며 신뢰성의 확보 및 사용상의 편의성 등 부수적인 효과도 크게 기대할 수 있다.Therefore, the fault diagnosis function implemented in the present invention can be applied to any hardware system using a microprocessor, and the side effects such as securing reliability and ease of use can be expected.

Claims (4)

CPU와 A/D, D/A 변환기를 포함하는 다기능 하드웨어의 고장 진단방법에 있어서,In the failure diagnosis method of the multifunctional hardware including the CPU, A / D, D / A converter, 워치도그(Watch dog) 기능에 의해 CPU의 상태를 항상 감시하는 CPU 진단과정과;A CPU diagnostic process of always monitoring the state of the CPU by a watch dog function; 처음 전원을 투입할 때와 동작 중 사용자가 검사 명령을 내릴 때에 메모리의 일정 영역에 임의의 데이터를 입력하고 다시 그 영역에서 데이터를 읽어서 처음 입력한 데이터와 읽어들인 데이터를 비교하여 진단하는 메모리 진단 과정과;Memory diagnosis process that inputs random data into a certain area of memory and reads data from the area and compares the first input data and the read data when the power is supplied for the first time and when the user issues a test command during operation. and; 하드웨어 내부에서 사용하는 각종 DC 전원에 대해서 회로 내부의 A/D 변환기의 각 채널에 +5V, +15V, -15V를 입력받도록 연결하고, 전원 진단시 A/D 변환기를 통해 각 전원의 전압치를 읽어서 진단하는 전원 진단과정과;Connect various DC power sources used in hardware to receive + 5V, + 15V, -15V input to each channel of A / D converter in the circuit, and read the voltage value of each power source through A / D converter during power diagnosis. A diagnostic procedure for power supply; D/A 변환기의 출력을 A/D변환기의 입력단에 연결하여 소정의 진단용 전압을 D/A변환기를 통해 출력하고 A/D변환기를 통해 입력받아 비교하여 A/D변환기와 D/A 변환기의 고장을 진단하는 A/D, D/A변환기 진단 과정과;Connect the output of D / A converter to the input terminal of A / D converter, output the predetermined diagnostic voltage through D / A converter, compare it by input through A / D converter, and break down of A / D converter and D / A converter. A / D, D / A converter diagnostic process for diagnosing the; 각기 멀티플렉서를 이용하여 시그날 인터페이스 카드의 출력을 상기 A/D변환기의 입력으로 연결하고, 상기 D/A변환기의 출력을 멀티플렉서를 이용하여 상기 시그날 인터페이스 카드의 각 입력단에 연결하여, 진단하고자 하는 입력 채널에 대해 상기 D/A 변환기를 통해 진단을 위한 전압치를 출력하고 이를 A/D 변환기를 통해 입력받아 출력치와 비교하여 각 아날로그 센서 입력 채널을 진단하는 아날로그 회로 진단과정과;Input channels to be diagnosed by connecting the outputs of the signal interface card to the inputs of the A / D converters using multiplexers and connecting the outputs of the D / A converters to the input terminals of the signal interface cards using the multiplexers. An analog circuit diagnosis process for outputting a voltage value for diagnosis through the D / A converter, and receiving the input value through the A / D converter, and comparing the output value with each other to diagnose each analog sensor input channel; 디지탈 입/출력회로에 대해 각기 고장 진단용 츨력버퍼 및 고장진단용 입력버퍼를 피드백회로로 구성하고, 입력 진단은 고장 진단용 출력신호를 입력 터미날에 출력하여 피드백받고, 출력 진단은 출력 터미날로부터 고장 진단용 입력을 피드백받아 디지탈 입/출력을 진단하는 과정과;Each of the digital input / output circuits consists of a feedback output circuit for the fault diagnosis output and a fault diagnosis input buffer.The input diagnosis outputs the fault diagnosis output signal to the input terminal, and the output diagnosis receives the fault diagnosis input from the output terminal. Diagnosing digital input / output with feedback; 상기 각 진단 과정에서 에러가 검출되면 해당 에러 메시지를 표시하고, 정상이면 정상 표시를 하고 진단을 종료하는 진단 결과 표시과정을 수행하는 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단방법.And displaying a corresponding error message if an error is detected in each of the diagnostic procedures, and performing a diagnostic result displaying process of displaying a normal display and ending the diagnosis. 제 1 항에 있어서, 상기 진단 결과 표시과정은,The method of claim 1, wherein the displaying of the diagnosis result is performed. 고장이 검출되면, 해당 IC의 번호를 표시하는 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단방법.If a failure is detected, the number of the corresponding IC is displayed. CPU와 A/D, D/A 변환기를 포함하는 다기능 하드웨어의 고장 진단회로에 있어서,In the fault diagnosis circuit of the multifunctional hardware including the CPU, A / D, D / A converter, 상기 D/A변환기의 출력을 상기 A/D변환기의 입력단에 연결하고,Connect the output of the D / A converter to an input of the A / D converter, 각 센서의 종류에 따라 각 채널별 입력 단에 각기 시그날 인터페이스 카드를 구비하고,Each signal interface card is provided at the input terminal of each channel according to each sensor type. 각 시그날 인터페이스 카드로부터 입력되는 채널을 선택하기 위해 각 입력신호를 멀티플렉서를 통해 상기 A/D변환기의 입력단에 연결하며,Each input signal is connected to the input terminal of the A / D converter through a multiplexer to select a channel input from each signal interface card. 상기 D/A변환기의 출력을 출력 채널을 선택하기 위한 멀티플렉서를 통해 상기 각각의 시그날 인터페이스 카드에 연결하며,Connecting the output of the D / A converter to each of the signal interface cards through a multiplexer for selecting an output channel, 상기 시그날 인터페이스 카드 내부에 각기 센서의 입력과 상기 D/A변환기로부터 출력되는 고장 진단신호를 선택하여 입력받는 절환 스위치를 구비하며,And a switching switch configured to select an input of a sensor and a failure diagnosis signal output from the D / A converter, respectively, in the signal interface card. 디지탈 입/출력 회로에 각각 고장 진단용 출력/입력 버퍼를 병렬 연결하여 고장 진단 피드백 회로를 구성하고,Fault diagnosis feedback circuit is configured by connecting fault output / input buffer to digital input / output circuit in parallel. 상기 CPU에는, 워치도그 기능을 이용하는 CPU의 자체 진단기능과, 상기 A/D 변환기를 통해 각 전압 레벨을 입력받아 각 전원의 상태를 검사하는 전원 진단기능과, 메모리 영역에 진단데이타를 쓰고 읽어서 메모리를 진단하는 메모리 진단기능과, 고장 진단 모드에서 멀티플렉서를 통해 진단 채널을 선택한 후 상기 D/A변환기를 통해 고장 진단용 전압을 출력하고 상기 A/D변환기를 통해 입력받아 출력과 입력의 비교에 의해 아날로그 회로를 진단하는 기능과, 상기 디지탈 출력/입력 버퍼를 통해 고장진단용 디지탈 신호를 출력/입력받아 디지탈 회로를 진단하는 기능을 수행하는 진단 프로그램을 적재하여 구성된 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단회로.The CPU includes a self-diagnosis function of a CPU using a watchdog function, a power diagnosis function for inputting each voltage level through the A / D converter, and checking the state of each power supply, and writing and reading diagnostic data into a memory area. Memory diagnostic function for diagnosing the error and selecting the diagnostic channel through the multiplexer in the fault diagnosis mode, outputs the fault diagnosis voltage through the D / A converter, and receives the input through the A / D converter and compares the output with the analogue. And a diagnostic program for performing a function of diagnosing a circuit and a function of diagnosing a digital circuit by outputting / receiving a digital signal for fault diagnosis through the digital output / input buffer. 제 3 항에 있어서, 상기 CPU의 고장 진단 프로그램은,The failure diagnosis program of claim 3, wherein 각 소자별 고장 진단을 수행하여 해당 소자의 고장 발생시 소자 번호를 표시하도록 이루어진 것을 특징으로 하는 다기능 하드웨어의 고장 진단회로.The fault diagnosis circuit of the multifunction hardware, characterized in that to perform a fault diagnosis for each device to display the device number when the failure occurs.
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