KR19990065700A - Defect Sector Detection Method of Hard Disk Drive - Google Patents

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KR19990065700A
KR19990065700A KR1019980001121A KR19980001121A KR19990065700A KR 19990065700 A KR19990065700 A KR 19990065700A KR 1019980001121 A KR1019980001121 A KR 1019980001121A KR 19980001121 A KR19980001121 A KR 19980001121A KR 19990065700 A KR19990065700 A KR 19990065700A
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defect
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sector
defect sector
disk
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Application number
KR1019980001121A
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김병무
정현호
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윤종용
삼성전자 주식회사
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Abstract

가. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야end. The technical field to which the invention described in the claims belongs

하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 기술Defect Sector Detection Technology of Hard Disk Drive

나. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제I. The technical problem that the invention is trying to solve

사용자 환경에서 디펙섹터에 의한 에러를 예방하고, 한정된 짧은 시간내에 디스크상의 디펙섹터들 및 디펙의 가능성이 있는 섹터들을 검출한다.It prevents errors caused by defect sectors in the user environment, and detects defect sectors on the disk and potentially sectors in a limited time.

다. 그 발명의 해결방법의 요지All. Summary of the Solution of the Invention

광디스크 드라이브의 디스크 면의 디펙섹터 검출 과정에 있어서, 디펙섹터의 부근의 섹터들에서 디펙이 발생할 확률이 높다는 것에 착안하여 디펙섹터 검출 테스트에서 찾은 디펙섹터의 부근의 섹터들도 디펙리스트에 기록함으로, 자기 디스크 기억장치의 제조공정중 디펙섹터들 뿐만 아니라 디펙 가능성이 있는 섹터를 미리 검출한다.In the process of detecting the defect sector of the disk side of the optical disc drive, the sectors near the defect sector found in the defect sector detection test are also recorded in the defect list, considering that the defects are likely to occur in the sectors near the defect sector. Defect sectors as well as sectors with possible defects are detected in advance in the manufacturing process of the magnetic disk storage device.

라. 발명의 중요한 용도:la. Important uses of the invention:

하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출에 중요히 적용 가능하다.It is important for the detection of defect sectors in hard disk drives.

Description

하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 방법Defect Sector Detection Method of Hard Disk Drive

본 발명은 자기 디스크를 이용한 자기 디스크 기억장치의 제조 공정에 관한 것으로, 특히 일련의 제조공정중 자기 디스크면의 디펙(defect)섹터를 검출하여 사용자 환경에서 사용하지 않게 하는 디펙섹터 검출 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a manufacturing process of a magnetic disk storage device using a magnetic disk, and more particularly, to a defect sector detection method for detecting a defect sector of a magnetic disk surface during a series of manufacturing processes so as not to be used in a user environment. .

컴퓨터시스템의 보조기억장치로 널리 사용되고 있는 대표적인 자기디스크 기억장치인 하드 디스크 드라이브(Hard Disk Drive: 이하 HDD라 함)는 도 1에서 도시된 바와 같은 일련의 제조공정절차를 거쳐 하나의 완성된 제품으로 출하된다.A hard disk drive (HDD), which is a representative magnetic disk storage device widely used as an auxiliary memory device of a computer system, is a completed product through a series of manufacturing processes as shown in FIG. 1. Shipped.

도 1은 일반적인 HDD의 일련의 제조공정단계를 설명하기 위한 제조공정 흐름도를 도시한 것으로 크게 6단계로 구분된다. 도 1을 참조하면, 제조공정의 제1단계(Ⅰ)인 기구조립공정은 HDD의 기계파트인 HDA(Head Disk Assembly)를 조립하는 공정으로서 클린 룸(Clean Room)내에서 이루어진다. 제조공정의 제2단계(Ⅱ)인 서보라이트공정은 액츄에이터(actuator)의 서보(servo)제어를 위한 서보기록패턴을 디스크면에 기록하는 공정으로서 서보라이터(servo writer)에 의해 수행된다. 제조공정의 제3단계(Ⅲ)인 기능테스트공정(function test)은 HDA조립공정에서 만들어진 HDA와 PCBA조립공정(통상 HDA조립공정후 수행된다)에서 만들어진 PCBA를 결합시켜 행해지는 최초의 테스트로서 HDA와 PCBA가 정상적으로 매치(match)되어 동작하는지를 테스트한다. 이때 약 20분∼25분간의 기본 테스트를 특정 테스트 시스템과 결합하여 수행한다. 제조공정의 제4단계(Ⅳ)인 번-인(burn-in)공정은 HDD의 제조공정중 가장 긴 시간(통상 8시간 내지 16시간)이 소요되는 공정으로서 별도의 테스트 시스템없이 번인 룸(room)내의 래크(rack)상에서 자체 프로그램(펌웨어)으로 수행된다. 이러한 번인공정은 소비자가 HDD를 정상적으로 사용할 수 있도록 하기 위해 디스크상에 존재하는 결함(defect)부분을 미리 찾아내어 드라이브를 사용할 때 결함부분을 피해갈 수 있도록 선조치하는 공정을 말한다. 제조공정의 제5단계(Ⅵ)인 최종 테스트(final test)공정은 번인공정에서 통과한 HDD세트(set)가 정상적으로 결함처리 되었는가를 확인하기 위한 공정이다. 최종 테스트공정을 마친 HDD 세트는 제조공정의 제6단계인 출하검사공정, 포장 및 출하공정을 거쳐 하나의 완성된 제품으로 출하된다.1 is a flowchart illustrating a manufacturing process for explaining a series of manufacturing process steps of a general HDD, which is divided into six stages. Referring to FIG. 1, the first assembly (I) of the manufacturing process is a process of assembling a head disk assembly (HDA), which is a mechanical part of a HDD, in a clean room. The servo write process, which is the second stage (II) of the manufacturing process, is a process of recording a servo recording pattern for servo control of an actuator on a disk surface by a servo writer. The third step (III) of the manufacturing process, the function test, is the first test performed by combining the HDA made in the HDA assembly process and the PCBA made in the PCBA assembly process (usually performed after the HDA assembly process). Test that and PCBA work correctly. A basic test of about 20 to 25 minutes is then performed in combination with a specific test system. The burn-in process, which is the fourth stage (IV) of the manufacturing process, takes the longest time (normally 8 to 16 hours) of the HDD manufacturing process. It is a burn-in room without a separate test system. It runs in its own program (firmware) on the rack in. This burn-in process refers to a process of finding defects on a disk in advance so that a consumer can use the HDD normally, and preemptively avoiding the defects when using the drive. The final test process, which is the fifth step (VI) of the manufacturing process, is a process for checking whether the HDD set passed in the burn-in process is normally defectively processed. After the final test process, the HDD set is shipped as a finished product through the shipment inspection process, packaging and shipment process, which is the sixth step of the manufacturing process.

상술한 바와 같은 일련의 HDD 제조공정중 번인공정에서 실시하는 디펙섹터(defect sector) 검출 테스트 방법을 설명하기로 한다. 디스크면의 디펙섹터를 찾기 위하여 HDD의 전반적인 동작을 제어하는 마이크로 프로세서는 액츄에이터의 자기 헤드를 오프트랙(off track)시키거나, 또는 리드/라이트 채널 파라미터(read/write channel parameter)값을 변경하는 등 리드/라이트 채널등에 스트레스(stress)를 가해 가면서 디스크면의 전 영역에 대해 라이트/리드 테스트를 수행한다. 이러한 라이트/리드 테스트 과정에서 라이트/리드의 에러가 발생한 부분(디펙이 발생한 부분)의 섹터(sector)가 검출된다. 디펙이 발생한 섹터의 주소는 디스크 면 특정영역(메인터넌스 영역)의 디펙리스트(defect list)에 기록되고, 이후 사용자 환경에서 디펙섹터의 주소를 액세스 하지 않음으로써 실제 사용자에게 무 디펙상태의 HDD를 제공하게 된다.A defect sector detection test method performed in a burn-in process of a series of HDD manufacturing processes as described above will be described. The microprocessor, which controls the overall operation of the HDD to find the defect sectors on the disk surface, turns off the magnetic head of the actuator or changes the read / write channel parameter values. Light / lead tests are performed on the entire area of the disk surface by applying stress to the lead / light channels. In this write / read test process, a sector of a portion where an error of a write / read (defect occurs) is detected. The address of the sector where the defect has occurred is recorded in the defect list of the disk plane specific area (maintenance area), and then the HDD is provided to the real user without accessing the address of the defect sector in the user environment. do.

그러나 상술한 바와 같은 종래의 디펙섹터 검출 테스트 과정에서는 디펙정도가 작아서 라이트/리드 에러를 잘 발생시키지 않는 디펙(micro defect)들은 쉽게 검출되지 않는다. 이러한 디펙들은 HDD가 오래 사용되어 열화되면 에러를 발생할 확률이 많아지는 문제점이 있었다. 또한 이러한 디펙을 완벽하게 검출하기 위해 리드/라이트 채널등에 종래 라이트/리드 테스트 과정보다 더많은 스트레스를 주어 전영역을 테스트한다면 너무 많은 시간이 소요되는 등 생산수율이 낮아 생산단가가 크게 높아지는 문제점이 있었다.However, in the conventional defect sector detection test procedure described above, micro defects that have a small degree of defect and do not easily cause light / lead errors are not easily detected. These defects had a problem that the probability of generating an error if the HDD is degraded due to long use. In addition, in order to detect such defects completely, if the lead / light channel is subjected to more stress than the conventional light / lead test process, the entire area is tested, so much time is required, and thus the production cost is greatly increased.

따라서 본 발명의 목적은 자기 디스크 기억장치의 제조공정중 디펙섹터들 뿐만 아니라 디펙 가능성이 있는 섹터를 미리 검출하므로 해서 사용자 환경에서 디펙섹터에 의한 에러를 예방할 수 있는 방법을 제공함에 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a method for preventing an error caused by a defect sector in a user environment by detecting the defect sectors as well as the defect sectors in the manufacturing process of the magnetic disk storage device.

본 발명의 목적은 한정된 짧은 시간내에 디스크상의 디펙섹터들 및 디펙의 가능성이 있는 섹터들을 검출할 수 있는 방법을 제공함에 있다.It is an object of the present invention to provide a method capable of detecting defect sectors and potentially sectors on a disc within a limited short time.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 디스크 면의 디펙섹터 검출 과정에 있어서, 디펙섹터의 부근의 섹터들에서 디펙이 발생할 확률이 높다는 것에 착안하여 디펙섹터 검출 테스트에서 찾은 디펙섹터의 부근의 섹터들도 디펙리스트에 기록함을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention focuses on the fact that there is a high probability that defects occur in the sectors near the defect sector in the process of detecting the defect sector on the disk surface. It is also characterized by recording on the defect list.

도 1은 일반적인 하드 디스크 드라이브의 일련의 제조공정단계를 설명하기 위한 제조공정 흐름도1 is a manufacturing process flow chart for explaining a series of manufacturing process steps of a typical hard disk drive

도 2는 일반적인 정보 기록용 디스크의 구성 및 포맷의 일 예를 도시한 디스크의 부분도2 is a partial view of a disc showing an example of a configuration and format of a general information recording disc;

도 3은 본 발명의 일 실시예가 적용되는 하드 디스크 드라이브의 개략적인 전체 블록 구성도3 is a schematic overall block diagram of a hard disk drive to which an embodiment of the present invention is applied;

도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디펙 처리 과정의 마이크로프로세서의 제어 흐름도4 is a control flowchart of a microprocessor in a defect processing process according to an embodiment of the present invention.

이하 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 하기 설명에서는 구체적인 구성 소자 등과 같은 특정 사항들이 나타나고 있는데 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐 이러한 특정 사항들이 본 발명의 범위 내에서 소정의 변형이나 혹은 변경이 이루어질 수 있음은 이 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게는 자명하다 할 것이다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description, specific details such as specific components are shown, which are provided to help a more general understanding of the present invention, and it is understood that these specific details may be changed or changed within the scope of the present invention. It is self-evident to those of ordinary knowledge in Esau.

먼저 본 발명이 적용되는 하드 디스크 드라이브에 대해 설명하기로 한다. 도 1은 본 발명이 적용되는 하드 디스크 드라이브의 개략적인 블록 구성도이다. 도 1을 참조하면, 마이크로프로세서 10은 상기 마이크로프로세서 10의 소정 제어 프로그램 및 데이터를 저장하고 있는 프로그래머블 롬(Programmable Read Only Memory: 이하 PROM이라 함) 12와, 스태틱 램(Static Random Access Memory: 이하 SRAM이라 함) 14에 접속되어 드라이브의 전반적인 동작을 제어한다.First, a hard disk drive to which the present invention is applied will be described. 1 is a schematic block diagram of a hard disk drive to which the present invention is applied. Referring to FIG. 1, the microprocessor 10 may include a programmable read only memory (PROM) 12 storing a predetermined control program and data of the microprocessor 10, and a static random access memory (SRAM). 14) to control the overall operation of the drive.

헤드 16은 액츄에이터의 일단에 부착되어 기록매체인 회전하는 디스크 18상에서 소정 높이로 부상하여 상기 디스크 18의 내측과 외측으로 구동되어 상기 디스크 18 면에 데이터를 기록하거나 디스크 18 면으로부터 데이터를 독출한다. 일단에 헤드 16이 부착된 액츄에이터의 타단에 위치하는 VCM(Voice Coil Motor) 20은 인가되는 전류 레벨 및 방향에 대응하여 상기 헤드 16을 구동한다.The head 16 is attached to one end of the actuator to rise to a predetermined height on the rotating disk 18, which is a recording medium, and is driven into and out of the disk 18 to write data to or read data from the disk 18 surface. The voice coil motor (VCM) 20 located at the other end of the actuator having the head 16 attached to one end drives the head 16 in response to the applied current level and direction.

스핀들모터 22는 모터구동기 24로부터 입력되는 제어신호에 따라 구동축에 장착된 디스크 18을 통상 회전시킨다. VCM구동기 26은 상기 VCM 20에 연결되어 상기 VCM 20의 구동을 제어한다. DAC(Digital-To-Analog Converter) 28은 상기 마이크로프로세서 10과 상기 VCM구동기 26에 연결되어 마이크로프로세서 10으로부터 디지털 제어신호를 입력받아 이를 아날로그신호로 변환하여 VCM구동기 26으로 출력한다.The spindle motor 22 normally rotates the disk 18 mounted on the drive shaft in accordance with a control signal input from the motor driver 24. The VCM driver 26 is connected to the VCM 20 to control the driving of the VCM 20. The digital-to-analog converter (DAC) 28 is connected to the microprocessor 10 and the VCM driver 26, receives a digital control signal from the microprocessor 10, and converts the digital control signal into an analog signal and outputs the analog signal to the VCM driver 26.

한편 모터구동기 24는 스핀들모터 22와 마이크로프로세서 10에 연결되며 상기 마이크로프로세서 10의 제어를 받아 스핀들모터 22의 구동을 제어한다. 전치증폭기(Pre-Amplifier) 30은 헤드 16에 연결되어 재생된 신호를 증폭하여 출력하고 기록할 신호를 상기 헤드 16으로 출력한다.The motor driver 24 is connected to the spindle motor 22 and the microprocessor 10 and controls the driving of the spindle motor 22 under the control of the microprocessor 10. The pre-amplifier 30 is connected to the head 16 to amplify and output the reproduced signal and output a signal to be recorded to the head 16.

리드/라이트 채널회로 32는 마이크로프로세서 10, 전치증폭기 30 및 DDC(Disk Data Controller) 34에 연결되며 상기 마이크로프로세서 10의 제어하에 상기 DDC 34로부터 기록할 데이터를 입력받아 이를 인코딩하여 전치증폭기 30으로 출력한다. 또한 리드/라이트 채널회로 32는 전치증폭기 30으로부터 입력되는 아날로그 재생신호를 디지털 변환하여 엔코디드 리드 데이터(Encoded Read Data: ERD)로 출력한다.The read / write channel circuit 32 is connected to the microprocessor 10, the preamplifier 30, and the disk data controller (DDC) 34, and receives the data to be recorded from the DDC 34 under the control of the microprocessor 10, encodes the data, and outputs the preamplifier 30 to the preamplifier 30. do. In addition, the read / write channel circuit 32 digitally converts the analog reproduction signal input from the preamplifier 30 and outputs the encoded read data (ERD).

ADC(Analog-To-Digital Converter) 36은 상기 리드/라이트 채널회로 32에 연결되어 아날로그 서보재생신호를 입력받으며 이를 PES로 디지털 변환하여 상기 마이크로프로세서 10으로 출력한다. 게이트어레이(Gate Array) 38은 상기 리드/라이트 채널회로 32에 연결되어 ERD신호를 입력받으며 상기 디스크 18의 서보영역 내 그레이코드 등의 각 서보 정보를 검출하여 출력한다.An analog-to-digital converter (ADC) 36 is connected to the read / write channel circuit 32 to receive an analog servo reproduction signal, digitally converts it to PES, and outputs it to the microprocessor 10. The gate array 38 is connected to the read / write channel circuit 32 to receive an ERD signal and detects and outputs servo information such as gray codes in the servo region of the disc 18.

DDC 34는 마이크로프로세서 10으로부터 다운로드되는 마이크로프로그램에 따른 동작을 수행하는 시퀀서를 구비하며 외부 데이터 입력장치(예를 들면 호스트컴퓨터)로부터 수신되는 데이터를 리드/라이트 채널회로 32와 전치증폭기 30을 통해 디스크 18 상에 기록하거나 디스크 18 상으로부터 데이터를 독출하여 외부 데이터 입력장치로 송신한다. 또한 DDC 34는 호스트컴퓨터와 마이크로프로세서 10간 통신을 인터페이스 한다. 또한 DDC 34는 호스트컴퓨터와, 마이크로프로세서 10과, 리드/라이트 채널회로 32 사이에 전송되는 데이터를 버퍼램 35에 일시 저장한다.The DDC 34 has a sequencer that performs operations according to the microprograms downloaded from the microprocessor 10. The DDC 34 stores data received from an external data input device (e.g., a host computer) via a read / write channel circuit 32 and a preamplifier 30. Record on 18 or read data from disk 18 and send it to an external data input device. The DDC 34 also interfaces the host computer with the microprocessor 10. The DDC 34 also temporarily stores data transmitted between the host computer, the microprocessor 10 and the read / write channel circuit 32 in the buffer RAM 35.

드라이브의 전반적인 동작을 제어하는 마이크로프로세서 10은 호스트컴퓨터로부터 수신되는 리드 또는 라이트 명령에 응답하여 DDC 34를 제어하며 트랙 탐색 및 트랙 추종을 제어한다. PROM 12는 마이크로프로세서 10의 상기한 동작 수행 프로그램 및 각종 설정값들을 저장한다.The microprocessor 10, which controls the overall operation of the drive, controls the DDC 34 in response to read or write commands received from the host computer and controls track search and track following. The PROM 12 stores the above-described operating program of the microprocessor 10 and various setting values.

상기한 바와 같은 구성을 가진 하드 디스크 드라이브에서 마이크로프로세서 10은 본 발명의 특징에 따라 디스크 면의 디펙섹터 검출 과정에 있어서, 디펙섹터 검출 테스트에서 찾은 디펙섹터의 부근의 섹터들도 디펙리스트에 기록하는 동작을 수행하는데 이하 이를 첨부한 도면을 참조하여 보다 상세히 설명한다.In the hard disk drive having the above-described configuration, the microprocessor 10 records the sectors in the vicinity of the defect sector found in the defect sector detection test in the defect list during the defect sector detection process of the disk surface according to the characteristics of the present invention. The operation will be described below in more detail with reference to the accompanying drawings.

도 3은 일반적인 정보 기록용 디스크의 구성 및 포맷의 일 예를 도시한 디스크의 부분도이며 정확한 스케일은 아니다. 도 3을 참조하여 디스크의 개략적인 구성을 설명하기로 한다. 디스크 18은 크게 시스템영역 ①과, 사용자데이터영역 ②, 파킹(parking)영역 ③으로 나누어질 수 있다.3 is a partial view of a disc showing an example of a configuration and format of a general information recording disc, and not on an accurate scale. Referring to Figure 3 will be described a schematic configuration of the disk. The disk 18 can be roughly divided into a system area ①, a user data area ②, and a parking area ③.

시스템영역 ①은 메인터넌스영역이라고도 불리며, 각종 시스템 정보들과 하드 디스크 드라이브의 유지 보수를 위한 정보들이 저장되며, 일반 사용자에게는 접근이 허용되지 않는 영역이다. 사용자데이터영역 ②는 사용자 데이터를 저장하는 영역이다. 파킹영역 ③은 디스크에 헤드 16의 파킹시 사용되는 영역이다.The system area ① is also called a maintenance area, and stores various system information and information for maintenance of the hard disk drive, and is an area where general users are not allowed to access. User data area ② is an area for storing user data. The parking area ③ is an area used for parking the head 16 on the disk.

상기 시스템영역(이하 메인터넌스영역이라 함) ①을 보다 상세히 설명하면, 하드 디스크 드라이브를 제조하는 제조자는 제조공정 도중에서 그 드라이브의 고유번호, 제조공정 중의 관련 정보, 디펙섹터의 테스트로 얻어진 디펙섹터에 대한 주소가 기록되는 디펙 리스트, 혹은 SMART(Self Monitoring Analysis Reporting Technology) 정보 등 다양한 시스템에 관련된 정보를 메인터넌스영역 ①에 기록한다. 이러한 메인터넌스영역 ①을 위해 4개 정도의 트랙이 제공된다.In more detail, the system area (hereinafter referred to as the maintenance area) is described in detail below. A manufacturer who manufactures a hard disk drive includes a unique number of the drive, related information during the manufacturing process, and a defect sector obtained by a defect sector test. Record information related to various systems, such as a list of defects in which the IP address is recorded, or SMART (Self Monitoring Analysis Reporting Technology) information, in the maintenance area ①. About four tracks are provided for this maintenance area.

사용자데이터영역 ②는 디스크면의 대부분을 차지하며, 데이터는 디스크의 트랙에 섹터단위로 기록된다. 트랙당 섹터의 수는 72개 정도이며, 각 트랙은 디스크상에서의 위치 정보 즉 어드레스를 갖는다. 도 3에는 어느 한 트랙 m을 일예로 들어 섹터포맷을 나타내었는데, 도 3에 표시된 섹터1, 섹터2 등에서의 숫자 1, 2 등은 섹터의 논리상의 어드레스 순서를 나타낸 것이 아니라 물리적인 순서를 나타낸다.The user data area ② occupies most of the disk surface, and data is recorded sector by sector on the track of the disk. The number of sectors per track is about 72, and each track has positional information or address on the disk. In FIG. 3, the sector format is shown by taking one track m as an example. The numbers 1, 2, etc. in sectors 1, 2, and the like shown in FIG. 3 do not indicate logical address order of sectors, but physical order.

한편 디펙섹터가 발생하는 것은 통상 디스크상의 긁힘 등에 의한 물리적인 원인으로 인한 것이 많으며, 그러한 원인에 의해 디펙섹터 검출 테스트시 도 3에 도시된 바와 같이 섹터3이 디펙섹터로 검출되면, 섹터3의 인접섹터 즉 섹터2와 섹터 4는 비록 디펙섹터로 검출되지 않을 수는 있어도, 후에 디펙섹터로 될 가능성이 크다. 따라서 본 발명은 상기 디펙섹터 검출 테스트를 통해 검출된 디펙섹터의 인접 섹터를 마찬가지로 디펙섹터로 처리함으로 데이터의 기록/재생의 안정성을 기하고자 한다.On the other hand, the occurrence of defect sectors is usually due to physical causes such as scratches on the disk. When such defects are detected as the defect sectors as shown in FIG. Sectors Sector 2 and Sector 4 are likely to become Defect Sectors later, although they may not be detected as Defect Sectors. Accordingly, the present invention seeks to ensure the stability of recording / reproducing of data by treating adjacent sectors of the defect sector detected through the defect sector detection test as the defect sector as well.

이하 상기한 바와 같은 디스크 상의 디펙섹터의 본 발명의 일 실시예에 따른 처리 과정을 첨부한 도면을 참조하여 설명한다. 도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디펙 처리 과정의 마이크로프로세서 10의 제어 흐름도이다. 먼저 마이크로프로세서 10은 40단계에서 디펙섹터 검출 테스트를 수행한다. 이러한 40단계에서의 디펙섹터 검출 테스트는 종래와 마찬가지의 방식으로 수행될 수 있다. 예를 들어, 디펙섹터의 검출 테스트시 마이크로프로세서 10은 헤드 12를 오프트랙 서보제어하며 리드/라이트 채널회로 32를 통해 결함 테스트용 특정 데이터 패턴을 디스크 18 상의 섹터에 기록한다. 이후 마이크로프로세서 10은 기록한 특정 데이터 패턴을 다시 읽어들여서 읽어들인 데이터와 기록한 데이터를 비교하여 에러가 발생하면 해당 섹터를 디펙섹터로 간주한다.Hereinafter, a process according to an embodiment of the present invention for a defect sector on a disk as described above will be described with reference to the accompanying drawings. 4 is a control flowchart of the microprocessor 10 of the defect processing process according to an embodiment of the present invention. First, the microprocessor 10 performs a defect sector detection test in step 40. The defect sector detection test in step 40 may be performed in the same manner as in the prior art. For example, in the detection test of the defect sector, the microprocessor 10 off-track servo-controls the head 12 and writes a specific data pattern for defect testing to a sector on the disk 18 through the read / write channel circuit 32. Then, the microprocessor 10 reads the recorded data pattern again, compares the read data with the recorded data, and considers the sector as a defect sector when an error occurs.

디펙섹터가 검출되면, 마이크로프로세서 10은 이를 42단계에서 판단하여 이후 44단계로 진행한다. 44단계에서는 상기 검출된 디펙섹터 뿐만 아니라 디펙섹터의 물리적으로 인접한 좌우 섹터를 디펙섹터로 도 3에 도시된 바와 같은 메인터넌스영역 ①의 디펙 리스트에 기록한다. 이후 46단계로 진행하여 디스크 상의 모든 섹터의 검사를 수행하였는가를 확인하여 모든 섹터의 검사를 수행하지 않았으면 상기 40단계로 되돌아가서 상기의 과정을 반복 수행하여 모든 섹터의 디펙 검사를 수행하게 된다.If the defect sector is detected, the microprocessor 10 determines that in step 42 and proceeds to step 44. In step 44, not only the detected defect sector but also the physically adjacent left and right sectors of the defect sector are recorded in the defect list of the maintenance area? As shown in FIG. Thereafter, the process proceeds to step 46 to check whether all sectors on the disk have been checked. If not all sectors have been checked, the process returns to step 40 and the process is repeated to perform the defect check on all sectors.

상기 도 4에 도시된 바와 같은 과정은 디스크 18의 일 데이터 기록면에서만 수행되는 것으로 나타나 있으나. 드라이브 내의 모든 디스크의 데이터 기록면에 수행될 수 있다.Although the process as shown in FIG. 4 is shown to be performed only on one data recording surface of the disc 18. It can be performed on the data recording surface of all disks in the drive.

또한 상기한 본 발명의 일 실시예에서는 디펙섹터의 검출 테스트시 하나의 디펙섹터를 검출하였을 경우 그러한 디펙섹터의 디펙 리스트에 기록시 인접 섹터도 디펙 리스트에 기록하는 것으로 설명하였으나, 이 외에도 본 발명은 종래의 디펙섹터 검출 테스트가 완료된 후 기록된 디펙 리스트만 참조하여 디펙 리스트에 기록된 디펙섹터의 인접 섹터를 추가로 더 기록할 수도 있는 등 여러 가지 변경 혹은 전환이 본 발명의 범위에서 벗어나지 않고 실시될 수 있다.In addition, in the above-described exemplary embodiment, when one defect sector is detected during the detection test of the defect sector, the neighbor sector is also recorded in the defect list when the defect sector is recorded in the defect list of the defect sector. Various changes or conversions may be made without departing from the scope of the present invention, such that the adjacent sectors of the defect sector recorded in the defect list may be further recorded by referring to only the defect list recorded after the conventional defect sector detection test is completed. Can be.

따라서 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 의해서 정하여질 것이 아니라 본 발명의 청구의 범위와 청구범위의 동등한 것에 의하여 정하여져야 할 것이다.Therefore, the scope of the present invention should not be defined by the described embodiments, but should be defined by the equivalents of the claims of the present invention.

상기한 바와 같이 본 발명은 디스크 면의 디펙섹터 검출 과정에 있어서, 디펙섹터의 부근의 섹터들에서 디펙이 발생할 확률이 높다는 것에 착안하여 디펙섹터 검출 테스트에서 찾은 디펙섹터의 부근의 섹터들도 디펙리스트에 기록함으로, 자기 디스크 기억장치의 제조공정중 디펙섹터들 뿐만 아니라 디펙 가능성이 있는 섹터를 미리 검출하므로 해서 사용자 환경에서 디펙섹터에 의한 에러를 예방하고, 한정된 짧은 시간내에 디스크상의 디펙섹터들 및 디펙의 가능성이 있는 섹터들을 검출할 수 있는 장점이 있다.As described above, the present invention is focused on the fact that the defects are generated in the sectors near the defect sector in the process of detecting the defect sector on the disk surface, and the sectors near the defect sector found in the defect sector detection test are also determined by the defect list. Detecting defects in the manufacturing environment of the magnetic disk storage device as well as possible defects in the manufacturing process of the magnetic disk storage device, thereby preventing errors caused by the defect sectors in the user environment, and defect sectors and defects on the disk within a limited short time. There is an advantage in that it is possible to detect possible sectors.

Claims (3)

하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 방법에 있어서,In the defect sector detection method of a hard disk drive, 디펙섹터검출테스트를 수행하여 상기 디펙섹터를 검출하는 과정과,Performing a defect sector detection test to detect the defect sector; 디펙섹터의 검출시 검출된 디펙섹터의 위치정보를 상기 디펙 리스트에 기록하는 과정과,Recording position information of the detected defect sector in the defect list when detecting a defect sector; 상기 검출된 디펙섹터의 동일 트랙상 인접 섹터의 위치정보를 상기 디펙 리스트에 기록하는 과정을 포함함을 특징으로 하는 디펙섹터 검출 방법.And recording position information of adjacent sectors on the same track of the detected defect sector in the defect list. 제1항에 있어서, 상기 디펙섹터의 인접 섹터는 상기 디펙섹터의 물리적으로 좌우 하나씩 인접한 섹터임을 특징으로 하는 디펙섹터 검출 방법.2. The method of claim 1, wherein adjacent sectors of the defect sectors are adjacent sectors one by one left and right of the defect sector. 디펙섹터를 검출하여 상기 디펙섹터의 위치정보를 디스크 상의 시스템영역 내에 디펙 리스트로 기록하는 하드디스크 드라이브의 디펙섹터 검출 방법에 있어서,A method for detecting a defect sector of a hard disk drive in which a defect sector is detected and the position information of the defect sector is recorded as a defect list in a system area on a disk. 상기 디펙 리스트에 상기 디펙 섹터의 위치 정보의 기록시 상기 디펙 섹터의 물리적으로 인접한 트랙의 위치 정보도 기록함을 특징으로 하는 디펙섹터 검출 방법.And recording position information of physically adjacent tracks of the defect sector when recording the position information of the defect sector in the defect list.
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