KR19990024277A - Subscriber line and subscriber circuit tester of analog line - Google Patents
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Abstract
가입자까지의 선로뿐만 아니라 교환기의 가입자 보드까지도 시험할 수 있는 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치가 제공된다. 시험장치는 인워드 테스팅을 위한 인워드 테스트 인터페이스부와, 아웃워드 테스팅을 위한 아웃워드 테스트 인터페이스부와, PCM 하이웨이와의 연결을 위한 PCM 인터페이스부와, 인워드 테스트 인터페이스부와 아웃워드 테스트 인터페이스부에 각각 연결된 A/D 및 D/A 변환기와, 상기 PCM 인터페이스부에 연결되어 디지털 신호의 처리를 담당하는 디지털 시그널 프로세서와, 메모리, 제어로직, CPU을 구비하고 장치내의 각종 디바이스 제어를 담당하는 제어부와, 상기 제어부와 TD 버스 혹은 L-BUS, RS-232C 등의 데이터 통신 인터페이스와의 접속을 위한 데이터통신 접속부를 구비한다.Subscriber line tester of analog line is provided that can test not only the line to subscriber but also the subscriber board of exchange. The test apparatus includes an inward test interface for inward testing, an outward test interface for outward testing, a PCM interface for connecting to a PCM highway, an inward test interface and an outward test interface. A / D and D / A converter connected to the PCM interface unit, a digital signal processor connected to the PCM interface unit for processing digital signals, and a memory, control logic and CPU, and a control unit for controlling various devices in the device. And a data communication connection unit for connecting the control unit to a data communication interface such as a TD bus or an L-BUS or RS-232C.
Description
본 발명은 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치에 관한 것으로서, 특히 가입자까지의 선로뿐만 아니라 교환기의 가입자 보드까지도 시험할 수 있는 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치에 관한 것이다.The present invention relates to a subscriber line test apparatus for an analog line, and more particularly, to a subscriber line test apparatus for an analog line that can test not only the line to the subscriber but also the subscriber board of the exchange.
전화국의 교환기에는 가입자와의 연결을 위한 가입자 보드가 설치되고, 각 가입자 보드내의 가입자 인터페이스 회로에서는 선로를 통해 각 가입자에게로 연결되어 있다. 따라서, 전화와 관련된 기능 테스트를 위해서는 가입자 보드 내의 각 가입자 인터페이스 회로와 가입자 선로에 대한 시험이 모두 행해져야 한다.The switchboard of the telephone station is provided with subscriber boards for connection with subscribers, and subscriber interface circuits within each subscriber board are connected to each subscriber via lines. Therefore, for the functional test associated with the telephone, all the subscriber interface circuits in the subscriber board and the subscriber line must be tested.
가입자 선로에 대한 시험은 아웃워드(outward) 테스트라고 불리우며, 교류전압, 직류전압, 루프저항, 절연저항, 정전용량 등을 측정하여 선로의 단락, 선로의 개방, 접지와의 단락 등 외부로부터 교환기에 불필요한 영향을 미치는 것이 있는지를 시험하게 된다.The test on the subscriber line is called an outward test, and it measures the AC voltage, DC voltage, loop resistance, insulation resistance, capacitance, etc. to short-circuit the line, open the line, short to the ground, etc. It will test if there are any unnecessary effects.
가입자 보드에 대한 시험은 인워드(inward) 테스트라고 불리우며, 루프전류 측정, 다이알 톤 측정 및 다이알후에 다이알 톤이 중지되는지 여부 시험, 극성 반전 검출, 링 전압 측정 및 링 트립 검출, 전송 손실 측정 등의 시험을 행하게 된다.The test on the subscriber board is called an inward test, and it can measure loop current, dial tone measurement and test whether dial tone stops after dialing, polarity reversal detection, ring voltage measurement and ring trip detection, transmission loss measurement, etc. You will be tested.
시험장치는 전술한 기능 이외에도, 가입자 모니터링 시험, 피측정 가입자와의 통화시험, MDF의 이상유무를 판단하기 위하여 MDF와 통화하는 시험, 가입자측에서 전화선을 연결할 때 올바른 전화선을 찾는데 도움이 되도록 테스트톤을 송출하는 기능 등의 특수시험기능을 가져야 한다.In addition to the above-described functions, the test apparatus can be used to monitor subscriber monitoring, call test with the subscriber under test, test talking with the MDF to determine whether there is an abnormality of the MDF, and test tone to help the subscriber find the correct telephone line when connecting the telephone line It should have a special test function such as the function to send out the
본 발명의 목적은 아날로그 회선의 가입자 선로 및 가입자 회로를 모두 테스트할 수 있는 장치를 제공하는 것이다.It is an object of the present invention to provide an apparatus capable of testing both subscriber lines and subscriber circuits of analog lines.
본 발명의 다른 목적은 가입자 선로 및 가입자 회로의 테스트 이외에도 특수 시험을 하기 위한 기능을 가진 시험장치를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide a test apparatus having a function for performing a special test in addition to the test of the subscriber line and the subscriber circuit.
도 1은 본 발명의 시험장치가 교환기와 선로 사이에서 연결되는 모습을 보여주는 개략도,1 is a schematic view showing a state in which a test apparatus of the present invention is connected between an exchanger and a line;
도 2는 교환기의 가입자 보드내에서 가입자선 인터페이스 회로로부터 시험선로로의 연결 모습을 보여주는 블록도,2 is a block diagram showing the connection from the subscriber line interface circuit to the test line in the subscriber board of the exchange;
도 3은 본 발명의 시험장치의 내부 구성을 보여주는 블록도이다.3 is a block diagram showing the internal configuration of the test apparatus of the present invention.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 시험장치는 인워드 테스팅을 위한 인워드 테스트 인터페이스부와, 아웃워드 테스팅을 위한 아웃워드 테스트 인터페이스부와, PCM 하이웨이와의 연결을 위한 PCM 인터페이스부와, 인워드 테스트 인터페이스부와 아웃워드 테스트 인터페이스부에 각각 연결된 A/D 및 D/A 변환기와, 상기 PCM 인터페이스부에 연결되어 디지털 신호의 처리를 담당하는 디지털 시그널 프로세서와, 메모리, 제어로직, CPU을 구비하고 장치내의 각종 디바이스 제어를 담당하는 제어부와, 상기 제어부와 TD 버스 혹은 L-BUS, RS-232C 등의 데이터 통신 인터페이스와의 접속을 위한 데이터 통신 접속부를 구비한다.In order to achieve the above object, the test apparatus of the present invention includes an inward test interface unit for inward testing, an outward test interface unit for outward testing, a PCM interface unit for connection with a PCM highway, and an inward A / D and D / A converters connected to a test interface unit and an outward test interface unit, respectively, and a digital signal processor connected to the PCM interface unit for processing digital signals, memory, control logic, and CPU, And a control unit for controlling various devices in the apparatus, and a data communication connection unit for connecting the control unit with a data communication interface such as a TD bus or L-BUS or RS-232C.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한다. 도 1은 본 발명의 시험장치가 교환기와 선로 사이에서 연결되는 모습을 보여주는 개략도이고, 도 2는 교환기의 가입자 보드내에서 가입자선 인터페이스 회로로부터 시험선로로의 연결 모습을 보여주는 블록도이다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings. Figure 1 is a schematic diagram showing the connection between the test device of the present invention between the switch and the line, Figure 2 is a block diagram showing the connection from the subscriber line interface circuit to the test line in the subscriber board of the exchange.
도 1을 참조하면, 교환기에는 다수의 가입자 보드(200)가 설치되어 있다. 이들 가입자 보드 내의 가입자선 인터페이스 회로는 각 가입자에 대해서 일대일로 연결되게 된다. 또한, 이 회로들은 도 2에 도시된 것처럼 가입자 보드내에서 릴레이를 거쳐서 병렬로 테스트 선에 연결되어 있다. 이 테스트 선의 팁(T)과 링(R)은 별도의 릴레이 보드(300)에서 본 발명의 시험장치(100)와 MDF(400)에 연결될 수 있도록 되어 있다. 또한, 가입자의 전화기(500)는 선로를 통해 MDF(400)에 연결되어 있다. 편의상 도면에서는 릴레이 보드(300)에 하나의 선로에 대한 릴레이만을 도시하였지만, 실제로는 다수의 선로에 대한 릴레이가 마련된다.1, a plurality of subscriber boards 200 are installed in the exchange. The subscriber line interface circuits in these subscriber boards are connected one to one for each subscriber. In addition, these circuits are connected to the test lines in parallel via relays in the subscriber board as shown in FIG. The tip T and the ring R of the test line are connected to the test apparatus 100 and the MDF 400 of the present invention in a separate relay board 300. In addition, subscriber's telephone 500 is connected to MDF 400 via a line. For convenience, the relay board 300 shows only one relay for one line, but in practice, relays for a plurality of lines are provided.
먼저, 인워드(inward) 테스트시의 릴레이 접속에 대해서 설명하면, 인워드 테스트시에는 RL1과 RL2가 B 단자에 연결된다. 또한, 피측정 가입자선 인터페이스 회로를 선택하기 위하여 도 2의 릴레이중에서 해당 가입자선 인터페이스 회로에 연결되는 릴레이가 접속되고, 나머지 릴레이들은 개방된 상태를 유지한다. 그러면, 시험장치(100)의 InTip 단자 및 InRing 단자는 릴레이 RL1 및 RL2를 통해 가입자 보드(200)의 T 및 R 단자에 연결되고, 다시 가입자 보드(200)내의 접속되어 있는 릴레이를 거쳐서 해당 가입자선 인터페이스 회로에 연결되어, 시험장치(100)의 InTip 단자와 InRing 단자가 피측정 가입자선 인터페이스 회로에 연결되게 된다. 따라서, 이 상태에서 시험장치는 InTip 단자와 InRing 단자를 통해서 해당 피측정 가입자선 인터페이스 회로에 대한 시험을 행할 수 있게 된다.First, the relay connection during the inward test will be described. In the inward test, RL1 and RL2 are connected to the B terminal. In addition, among the relays of FIG. 2, a relay connected to a corresponding subscriber line interface circuit is connected to select a subscriber line interface circuit under test, and the other relays remain open. Then, the InTip terminal and the InRing terminal of the test apparatus 100 are connected to the T and R terminals of the subscriber board 200 through the relays RL1 and RL2, and then again connected to the corresponding subscriber line via a relay connected in the subscriber board 200. Connected to the interface circuit, the InTip terminal and InRing terminal of the test apparatus 100 is connected to the subscriber line interface circuit under test. Therefore, in this state, the test apparatus can test the corresponding subscriber line interface circuit through the InTip terminal and the InRing terminal.
다음으로, 아웃워드(Outward) 테스트시의 릴레이 접속에 대해서 설명한다. 아웃워드 테스트시에는 RL3과 RL4가 B 단자에 연결된다. 그러면, 시험장치(100)의 OutTip 단자와 OutRing 단자가 RL3과 RL4를 거쳐서 MDF(400)에 연결되고, MDF(400)에서 다시 가입자 선로를 거쳐서 가입자의 전화기(500)에 연결되게 된다. 따라서, 이 상태에서 시험장치는 OutTip 단자와 OutRing 단자를 통해서 해당 전화기로의 가입자 선로에 대한 시험을 행할 수 있게 된다.Next, the relay connection at the time of an outward test is demonstrated. In the outward test, RL3 and RL4 are connected to the B terminal. Then, the OutTip terminal and the OutRing terminal of the test apparatus 100 are connected to the MDF 400 via RL3 and RL4 and connected to the subscriber's telephone 500 via the subscriber line again in the MDF 400. Therefore, in this state, the test apparatus can test the subscriber line to the corresponding telephone through the OutTip terminal and the OutRing terminal.
다음으로, 도 3을 참조하여 본 발명의 시험장치(100)의 구성에 대해서 설명한다. 도 3은 본 발명의 시험장치(100)의 내부 구성을 보여주는 블록도이다.Next, with reference to FIG. 3, the structure of the test apparatus 100 of this invention is demonstrated. 3 is a block diagram showing the internal configuration of the test apparatus 100 of the present invention.
본 발명의 시험장치(100)는 전체 제어를 담당하는 CPU(101)와, CPU의 동작에 필요한 프로그램 및 데이터의 저장을 담당하는 ROM, RAM 등의 메모리(130)와, CPU의 명령에 따라서 각종 주변장치의 제어에 필요한 신호를 발생하는 제어로직(140)으로 이루어지는 제어부를 구비하고 있다. 제어로직(140)은 또한 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)로부터의 데이터를 DSP(Digital Signal Processor)(170)로 전달하거나, DSP(170)로부터의 디지털 데이터를 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)로 전달하는 역할을 한다. DSP(170)와 CPU(101)와의 통신은 듀얼포트램(111)을 통해 이루어진다.The test apparatus 100 according to the present invention includes a CPU 101 which is in charge of overall control, a memory 130 such as ROM and RAM which is in charge of storing programs and data necessary for the operation of the CPU, and various kinds of instructions according to the CPU instructions. The control unit includes a control logic 140 for generating a signal for controlling the peripheral device. The control logic 140 may also pass data from the A / D and D / A converters 160 and 180 to the digital signal processor (DSP) 170, or transmit digital data from the DSP 170 to the A / D and D / A converters. It serves to deliver to the D / A converter (160, 180). Communication between the DSP 170 and the CPU 101 is performed through the dual port RAM 111.
시험장치(100)에는 TD 버스 혹은 L-BUS, RS-232C 등의 데이터 통신 인터페이스와의 접속을 위한 데이터통신 접속부(120)와 듀얼포트램(110)이 마련되어 있어서, 듀얼포트램(110)과 데이터통신 접속부(120)를 통해 CPU(101)가 TD 버스와 연결되어 테스트 커맨드와 시험 결과 등을 주고 받는다.The test apparatus 100 is provided with a data communication connection unit 120 and a dual port RAM 110 for connecting to a TD bus or a data communication interface such as L-BUS or RS-232C. The CPU 101 is connected to the TD bus through the data communication connection unit 120 to exchange test commands and test results.
시험장치(100)는 인워드 테스트를 위하여 InTip 및 InRing에 연결하기 위한 인워드 테스트 인터페이스(190)를 구비하고 있다. 인워드 테스트 인터페이스(190)는 제어로직(140)의 제어에 따라 동작되는 릴레이 컨트롤(150)의 제어를 받는다. 또한 인워드 테스트 인터페이스(190)는 A/D(Analog to Digital) 및 D/A(Digital to Analog) 변환기(160)에 연결되어 있다. A/D 및 D/A 변환기(160)는 제어부로부터의 디지털 데이터를 아날로그 신호로 변환하여 인워드 테스트 인터페이스(190)에 전달하거나 인워드 테스트 인터페이스(190)로부터의 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 제어부에 전달하거나 하는 역할을 한다. 이렇게 제어부에 전달된 신호는 DSP(170)로 전달되고, DSP(170)에서 필터링 등의 처리를 거쳐서 측정이 이루어져서 그 결과가 다시 듀얼포트램(111)을 거쳐서 CPU(101)에 전해진다.The test apparatus 100 has an inward test interface 190 for connecting to InTip and InRing for inward testing. The inward test interface 190 is controlled by the relay control 150 operated under the control of the control logic 140. Inward test interface 190 is also connected to Analog to Digital (A / D) and Digital to Analog (D / A) converter 160. The A / D and D / A converter 160 converts the digital data from the control unit into an analog signal and transmits it to the inward test interface 190 or converts the analog signal from the inward test interface 190 into a digital signal. It serves to deliver to the control unit. The signal transmitted to the control unit is transferred to the DSP 170, the measurement is performed through the processing such as filtering in the DSP 170, and the result is transmitted back to the CPU 101 via the dual port RAM 111.
시험장치(100)는 또한, 아웃워드 테스트를 위하여 OutTip 및 OutRing에 연결하기 위한 아웃워드 테스트 인터페이스(192)를 구비하고 있다. 아웃워드 테스트 인터페이스(192)는 제어로직(140)의 제어에 따라 동작되는 릴레이 컨트롤(150)의 제어를 받는다. 또한 아웃워드 테스트 인터페이스(192)는 A/D 및 D/A 변환기(180)에 연결되어 있다. A/D 및 D/A 변환기(180)는 제어부로부터의 디지털 데이터를 아날로그 신호로 변환하여 아웃워드 테스트 인터페이스(192)에 전달하거나 아웃워드 테스트 인터페이스(192)로부터의 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 제어부에 전달하거나 하는 역할을 한다. 이렇게 제어부에 전달된 신호는 DSP(170)로 전달되고, DSP(170)에서 필터링 등의 처리를 거쳐서 측정이 이루어져서 그 결과가 다시 듀얼포트램(111)을 거쳐서 CPU(101)에 전해진다.The test apparatus 100 also includes an outward test interface 192 for connecting to OutTip and OutRing for outward testing. The outward test interface 192 is controlled by the relay control 150 operated under the control of the control logic 140. The outward test interface 192 is also connected to the A / D and D / A converter 180. The A / D and D / A converter 180 converts digital data from the control unit into an analog signal and transmits it to the outward test interface 192 or converts the analog signal from the outward test interface 192 into a digital signal. It serves to deliver to the control unit. The signal transmitted to the control unit is transferred to the DSP 170, the measurement is performed through the processing such as filtering in the DSP 170, and the result is transmitted back to the CPU 101 via the dual port RAM 111.
시험장치(100)는 PCM 인터페이스(191)를 통해 교환기의 PCM 하이웨이에 연결되어 있다. PCM 인터페이스(191)는 DSP(170)의 제어에 의해 PCM 하이웨이중의 임의의 채널에 PCM 데이터를 보내거나 임의의 채널로부터의 PCM 데이터를 가져올 수 있다.The test apparatus 100 is connected to the PCM highway of the exchange via the PCM interface 191. The PCM interface 191 may send PCM data to any channel in the PCM highway or may import PCM data from any channel under the control of the DSP 170.
PCM 인터페이스(191)는 DSP(170)에 연결되어 있다. DSP(170)는 PCM 인터페이스(191)로부터 PCM 데이터를 받아서 필터링 등의 처리를 하여 전송손실 측정, 다이알 톤 검출 등 각종 측정을 위해 필요한 처리를 행하고, 그 결과를 제어부에 보낸다. 또한, DSP(170)는 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)로부터의 디지털 신호를 처리하여 교류전압측정, 루프전류 측정 등 인워드 테스트 및 아웃워드 테스트를 행하고 그 결과를 제어부에 보낸다. DSP(170)는 또한 특정 주파수의 톤에 대한 디지털 데이터를 발생하며, 이 데이터는 PCM 인터페이스(191)를 통해 송출되거나 A/D 및 D/A 변환기(160, 180)를 통해 아날로그 신호로 변환되어 InTip/InRing 또는 OutTip/OutRing으로 송출된다.The PCM interface 191 is connected to the DSP 170. The DSP 170 receives the PCM data from the PCM interface 191 and performs processing such as filtering to perform various processing such as transmission loss measurement and dial tone detection, and sends the result to the controller. In addition, the DSP 170 processes digital signals from the A / D and D / A converters 160 and 180 to perform inward and outward tests such as AC voltage measurement and loop current measurement, and sends the results to the controller. . The DSP 170 also generates digital data for tones of a particular frequency, which data can be sent through the PCM interface 191 or converted into analog signals via the A / D and D / A converters 160 and 180. It is sent as InTip / InRing or OutTip / OutRing.
이상 본 발명을 바람직한 실시예를 사용하여 상세히 설명하였지만, 본 발명의 범위는 특정 실시예에 한정되는 것은 아니며, 첨부된 특허청구범위에 의해서 해석되어야 할 것이다.Although the present invention has been described in detail with reference to preferred embodiments, the scope of the present invention is not limited to the specific embodiments, and should be interpreted by the appended claims.
본 발명에 따르면, 가입자까지의 선로뿐만 아니라 교환기의 가입자 보드까지도 시험할 수 있는 아날로그 회선의 가입자 선로 시험장치가 제공되어, 하나의 장치로 다양한 시험을 행할 수 있어서 시험 능률을 높일 수 있다는 효과가 있다.According to the present invention, the subscriber line test apparatus of the analog line that can test not only the line to the subscriber but also the subscriber board of the exchanger is provided, and it is possible to increase the test efficiency by performing various tests with one device. .
Claims (1)
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| KR100831826B1 (en) * | 2002-12-18 | 2008-05-28 | 엘지노텔 주식회사 | Audi0 signal damping compensation apparatus at a switching system |
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1998
- 1998-12-31 KR KR1019980063122A patent/KR100315643B1/en not_active IP Right Cessation
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| KR100831826B1 (en) * | 2002-12-18 | 2008-05-28 | 엘지노텔 주식회사 | Audi0 signal damping compensation apparatus at a switching system |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| G15R | Request for early opening | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20121107 Year of fee payment: 12 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20131112 Year of fee payment: 13 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141111 Year of fee payment: 14 |
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| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20151111 Year of fee payment: 15 |
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| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161110 Year of fee payment: 16 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171102 Year of fee payment: 17 |
|
| LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |