KR19980083488A - Radiography Imaging Method and System - Google Patents

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도시로 미하라
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히라다 기로구
가부시기가이샤 휴텍
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Abstract

소정위치에서 수속(收束)하는 X-선 다발을 포함한 X-선을 발생하는 수속(收束)형(convergence type) X-선 발생부와, 이 수속형 X-선 발생부와 대향하고 또한, 상기 피사체를 끼도록 배치된 X-선 검출부와, 상기 피사체와 상기 X-선 검출부의 사이에 배치된 핀홀부재와, 상기 X-선 검출부로부터의 출력신호를 신호 처리하는 신호처리부를 구비하는 피사체를 X-선 촬상하기 위한 시스템.A convergence type X-ray generator that generates an X-ray including an X-ray bundle that converges at a predetermined position, and faces the convergence type X-ray generator; A subject having an X-ray detector arranged to sandwich the subject, a pinhole member disposed between the subject and the X-ray detector, and a signal processor configured to signal-process an output signal from the X-ray detector; System for X-ray imaging.

Description

방사선 화상 촬상 방법 및 시스템Radiography Imaging Method and System

본 발명은 생물체나 비생물체들의 피사체를 방사선 화상 촬상하기 위한 방법 및 그 시스템에 관한 것이며, 특히, 단층 촬영시스템(Tomographic System)에 바람직스럽게 적용될 수 있는 방사선 화상 촬상 방법 및 그 시스템에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method and system for radiographic imaging of a subject of a living or non-living organism, and more particularly, to a radiographic imaging method and system that can be preferably applied to a tomographic system.

방사선 화상 촬상 방법 및 시스템의 전형적인 방법으로서 X-선 화상 촬상 방법 및 시스템은 X-선 발생원으로부터 피사체에 의하여 X-선을 조사하며, 그 피사체를 투과한 X-선을 X-선 필름, X-선 TV유닛 등으로 화상한다. X-선 필름, X-선 TV유닛등으로 화상화된 X-선 화상은 X-선 필름이나 TV모니터에 의해 나타나는 투과 X-선 화상(단순투과 X-선화상)이나 TV모니터에 의해 나타나는 단층화상이 있다.As a typical method of a radiographic image capturing method and system, an X-ray image capturing method and system irradiates X-rays from an X-ray source by a subject, and transmits X-rays passing through the subject to X-ray film, X- It burns with a line TV unit or the like. An X-ray image imaged by an X-ray film, an X-ray TV unit, or the like is a transmissive X-ray image (simple transmission X-ray image) displayed by an X-ray film or a TV monitor or a single layer shown by a TV monitor. There is a burn.

여기에 단층화상은 CAT(Computed-Assisted Tomography) 방식에 의해 촬영되는 단층화상과 직접 단층 촬영 방식에 의해 촬영되는 단층화상이 있다. 전자의 방식은 X-ray CAT Scanner System에 의해 실현되고 있으며, 후장의 방식은 직접 단층 촬영방식이라고 일컬어지며, 종래에는 Laminagraphy 나 Planigraphy등으로 알려져 있다.Here, the tomographic images include tomographic images photographed by a CAT (Computed-Assisted Tomography) method and tomographic images photographed by a direct tomography method. The former method is realized by the X-ray CAT Scanner System, and the latter method is called direct tomography, and is known as Laminagraphy or Planigraphy.

본 발명에 있어 투과 X-선 화상을 취득하기 위한 방사선 화상 촬상 방법 및 시스템에서의 해결해야 할 과제를 순차적으로 설명하면 다음과 같다.In the present invention, the problems to be solved in the radiographic image capturing method and system for acquiring a transmission X-ray image will be described sequentially.

첫째, 선명한 X-선 화상을 얻기 위해서는 X-선관의 초점치수가 작은 것이 필요하다. 그러나, X-선관의 양극의 타겟부의 열부하에 한계가 있으므로 초점치수의 하한은 저절로 규정된다. 즉, 초점치수를 작게하면 타겟의 열적(熱的)인 저열화를 피할 수 없으며, 결국 선명한 X-선 화상을 얻기 위한 소망 초점치수는 얻을 수가 없게 된다. 또한, 커다란 피사체에 대해서는 X-선 검출기도 큰면적으로 하지 않으면 커다란 피사체 전체를 한 번에 촬영할 수가 없다. 큰면적의 X-선 검출기로서는 사진필름이 있는데, 그것도 한계가 있으며, 전자식으로는 반도체식으로 수 cm, 진공관식으로는 수 10cm가 실용 한계이다. 그러므로, 커다란 피사체를 한 번에 촬영할 수 있는 촬영방법이 소망된다.First, in order to obtain a clear X-ray image, it is necessary that the focal dimension of the X-ray tube is small. However, since the thermal load of the target portion of the anode of the X-ray tube is limited, the lower limit of the focal length is defined by itself. In other words, if the focal dimension is made small, thermal degradation of the target cannot be avoided, and eventually, the desired focal dimension for obtaining a clear X-ray image cannot be obtained. In addition, for a large subject, even if the X-ray detector does not have a large area, the entire large subject cannot be photographed at once. Large area X-ray detectors include photographic films, which also have limitations, and are practically limited to several centimeters in electronic form and several centimeters in vacuum form. Therefore, a photographing method that can photograph a large subject at a time is desired.

둘째, X-선관으로부터 멀어질수록 큰 시야가 얻어지며, 커다란 피사체가 촬영 가능하게 된다. 단, X-선관으로부터 멀어질수록 X-선 강도는 약해짐으로 X-선 검출기의 실용감도 이상으로 멀어지게 할 수는 없다. 복수의 X-선관과 X-선 검출기의 쌍을 복수로 서로 대면해 놓으면 즉, 병치(竝置)하면 전체 시야는 커지나, 촬영시야의 죽은 공간인 데드 스페이스(dead space)가 생겨서 적합하지 않다. 이와 같이 종래의 방법으로는 큰 시야를 얻기는 곤란하다.Secondly, the farther away from the X-ray tube, the larger the field of view is obtained, and the larger subject can be photographed. However, the further away from the X-ray tube, the weaker the X-ray intensity, so that the X-ray detector cannot be moved beyond the practicality of the X-ray detector. When a plurality of pairs of X-ray tubes and X-ray detectors face each other, that is, juxtaposed, the overall field of view becomes large, but dead space, which is a dead space of the photographing field, is not suitable. As described above, it is difficult to obtain a large field of view by the conventional method.

셋째, 유해한 산란 X-선 이 X-선 필름, X-선 검출기, X-선 비디콘판(vidicon plate), CCD 화상 센서, 화상 인텐시파이어(intensifier) 등의 검출기에 찍히는 현상이 알려져 있다. 이 현상은 화상의 선명성을 손상시킬 요인인 것이다.Third, there is a known phenomenon in which harmful scattering X-rays are applied to detectors such as X-ray films, X-ray detectors, X-ray vidicon plates, CCD image sensors, image intensifiers, and the like. This phenomenon is a factor that impairs the sharpness of the image.

넷째, 피사체가 인체인 경우에는 피폭량(被曝量)을 줄이는데는 X-선관의 출력을 줄이는데에 효과적인 수단이 없는데, X-선 화상을 얻는데 필요한 출력이하로는 출력을 줄일수가 없다. X-선은 인체에 유해함으로 극력 피폭량을 줄이는 것이 바람직스럽다.Fourth, if the subject is a human body, there is no effective means for reducing the output of the X-ray tube to reduce the exposure, but the output is not reduced to less than the output required to obtain the X-ray image. Since X-rays are harmful to humans, it is desirable to reduce the maximum exposure.

다음에 단층화상을 취득하기 위한 방사선 촬영 방법 및 시스템에서 해결하기 위한 과제를 순차적으로 설명하면 다음과 같다.Next, the problems to be solved by the radiographic method and system for acquiring tomographic images will be described sequentially.

첫째, 단층 촬상시간의 단축을 도모하는 것이 요구된다. 즉, 단층화상의 촬상에 있어서, 가장 촬상의 고속성이 요구되는 것은 체내에서 가장 빠른 움직임을 나타내는 심장이며, 인간의 심장의 신축주기는 약1초이며, 연속적인 단층화상이 필요한 경우에는 화상 표시 속도를 심장 고동의 1초의 1/10 정도로 단축함이 소망된다. 또한, 공업용에 단층화상을 촬상할 경우에는 더욱 빠른 1/100초 정도나, 바람직하기는 완전히 리얼타임, 즉, 재생을 위한 계산시간은 제로인 것이 바람직하다. 이는 공업용 제품은 인체와는 달라 고속으로 이송되며, 또한, 쉴새없이 연속으로 이송되기 때문이다.First, it is required to shorten the tomographic imaging time. That is, in imaging a tomography image, the highest speed of imaging is required for the heart showing the fastest movement in the body, and the stretching period of the human heart is about 1 second, and the image display when the continuous tomography image is required. It is desirable to reduce the speed to about one tenth of a second of heartbeat. In addition, when imaging a tomographic image for industrial purposes, it is preferable that it is about 1/100 second faster, but it is fully real time, ie, the calculation time for reproducing is zero. This is because industrial products are transported at high speed, unlike the human body, and continuously and continuously.

둘째, 선명하고 또한 불필요한 분산된 광선이 없으며, 또한 위화상(僞畵象)(아치팩트)가 없는 단층 화상을 얻는 것이 요구된다. 즉, X-ray CAT Scanner System에 의한 단층 화상 촬상은 원리적으로 위화상(아치팩트)및 불완전화상이 나타날 가능성이 있어 고정밀도 검사를 손상시킬 염려가 있다.Secondly, it is required to obtain a tomographic image that is clear and has no unnecessary scattered light and that is free of false images. In other words, tomographic imaging by the X-ray CAT Scanner System may in principle cause false images and incomplete images, which may damage the high-precision inspection.

셋째, 고속으로 동시에 복수의 단층화상을 얻는 것이 요구된다.Third, it is required to obtain a plurality of tomographic images simultaneously at high speed.

넷째, 입체감이 있는 단층화상을 얻는 것이 요구된다.Fourth, to obtain a three-dimensional tomographic image is required.

다섯째, 연속 피사체 또는 준연속 피사체의 단층화상 및 단층검사가 가능한 촬상 방법 및 시스템을 제공하는 것이 요구된다.Fifth, there is a need to provide an imaging method and system capable of tomographic imaging and tomographic inspection of a continuous subject or a semi-continuous subject.

여섯째, 피사체의 피폭량이 적은 촬상 방법 및 시스템을 제공하는 것이 요구된다.Sixth, it is required to provide an imaging method and system with a small exposure amount of a subject.

제1도는 본 발명의 방사선 화상 촬상 시스템의 블록도.1 is a block diagram of a radiographic imaging system of the present invention.

제2A도 - 제2C도는 직접 단층화상 촬영의 원리를 표시한 도면.2A-C show the principle of direct tomography.

제3A도 - 제3E도는 X-선 발생장치를 표시한 도면.3A-3E show an X-ray generator.

제4도는 본 발명의 수속형(convergence type) 2차원 X-선 발생장치를 표시한 도면.4 is a view showing a convergence type two-dimensional X-ray generator of the present invention.

제5도는 제4도에서의 V-V선 단면도.5 is a cross-sectional view taken along the line V-V in FIG.

제6도 및 제7도는 본 발명의 수속형 2차원 X-선 발생장치의 다른 예를 표시한 단면도.6 and 7 are cross-sectional views showing another example of the converging two-dimensional X-ray generator of the present invention.

제8도는 본 발명의 수속형 2차원 X-선 발생장치의 또다른 예를 표시한 도면.8 is a view showing another example of the converging two-dimensional X-ray generator of the present invention.

제9도는 본 발명의 수속형 2차원 X-선 발생장치와 X-선 검출기와 핀홀부재와의 관계를 표시한 도면.9 is a view showing the relationship between the converging two-dimensional X-ray generator, the X-ray detector and the pinhole member of the present invention.

제10도는 본 발명의 수속형 2차원 X-선 발생장치의 또다른 예를 표시한 도면.10 is a view showing another example of the converging two-dimensional X-ray generator of the present invention.

제11A도 - 제11C도는 본 발명에서의 X-선 발생장치와, X-선 검출기와, 핀홀부재와, 피사체와의 관계를 표시한 도면.11A to 11C are diagrams showing the relationship between the X-ray generator, the X-ray detector, the pinhole member, and the subject in the present invention.

제12도는 본 발명에서의 X-선 발생장치와 X-선 검출기와 핀홀부재와 피사체와의 관계를 표시한 도면.12 is a view showing the relationship between the X-ray generator, the X-ray detector, the pinhole member and the subject in the present invention.

제13A - 제13C도는 본 발명에서의 에리어형(area type) CCD촬영 센서의 구동방법을 표시한 도면.13A to 13C show a method of driving an area type CCD image sensor in the present invention.

제14도 및 제15도는 본 발명에서의 X-선 발생방치와 X-선 검출기와 스릿판(slit plate)을 포함한 핀홀부재와 피사체와의 관계를 표시한 도면,14 and 15 are views showing the relationship between the X-ray generation and the pinhole member including the X-ray detector and the slit plate and the subject in the present invention;

제16도는 본 발명에서의 복수의 X-선 발생장치를 배치한 실시 예를 표시한 도면.FIG. 16 is a view showing an embodiment in which a plurality of X-ray generators are arranged in the present invention. FIG.

제17도 및 제18도는 본 발명에서의 복수의 단층화상을 촬상하는 방법을 표시한 도면.17 and 18 show a method of capturing a plurality of tomographic images in the present invention.

제19도는 본 발명에서의 단층화상을 촬상하는 방법을 표시한 도면.Fig. 19 is a diagram showing a method for imaging a tomographic image in the present invention.

제20도는 본 발명에서의 신호처리계의 구체적인 예를 표시한 블록도,20 is a block diagram showing a specific example of a signal processing system according to the present invention;

제21도 및 제22도는 본 발명에서의 어라인먼트(alignment) 부재의 기능을 설명하는 도면.21 and 22 illustrate the function of an alignment member in the present invention.

제23도는 본 발명에서의 alignment 부재의 평면도.23 is a plan view of an alignment member in the present invention.

제24도, 제25도, 제26도, 제27도는 본 발명에서의 alignment 부재의 기능을 설명하는 도면.24, 25, 26 and 27 illustrate the function of the alignment member in the present invention.

제28도는 본 발명에서의 하이 패스 필터(high pass filter)의 기능을 설명하는 도면.FIG. 28 illustrates the function of a high pass filter in the present invention. FIG.

제29도는 본 발명에서의 생체단층 촬상장치의 한 예를 표시한 도면.Fig. 29 is a diagram showing an example of a bio-monoscopic imaging device of the present invention.

제30도는 제29도의 X-선 센서유닛의 상세한 예를 표시한 도면.30 shows a detailed example of the X-ray sensor unit of FIG.

제31도는 본 발명에서의 철강슬라브의 결함 검사 시스템을 표시한 도면.31 is a view showing a defect inspection system of the steel slab in the present invention.

제32도는 제31도에서의 철강 슬라브를 표시한 도면.FIG. 32 shows the steel slab in FIG. 31. FIG.

제33도는 제31도에서의 X-선 발생장치와 X-선 검출기와 스릿판을 포함한 핀홀부재와 피사체와의 관계를 표시한 도면.FIG. 33 is a view showing the relationship between the subject and the pinhole member including the X-ray generator, the X-ray detector and the slit plate in FIG.

제31도는 제31도에서의 결함의 판정수법을 표시한 특성도.FIG. 31 is a characteristic diagram showing a method for determining a defect in FIG.

제35도는 본 발명에서의 다이케스트(die-cost) 주물의 결함 검사 시스템을 표시한 도면.FIG. 35 shows a defect inspection system for die-cast castings in the present invention. FIG.

본 발명은 상기 과제를 해결하기 위하여 다음과 같이 구성 되어진다.The present invention is configured as follows to solve the above problems.

즉, 본 발명의 시스템은 소정위치에서 수속(收束)하는 방사선 다발을 포함한 방사선을 발생하는 수속형(convergence type) 방사선 발생부와, 이 수속형 방사선 발생부와 대향하고 또한, 상기 피사체를 끼듯이 배치된 방사선 검출부와 상기 피사체와 상기 방사선 검출부와의 사이에 배치된 핀홀부재와 상기 방사선 검출부로부터의 출력신호를 신호 처리하는 신호처리부를 구비한다.That is, the system of the present invention opposes a convergence type radiation generating unit for generating radiation including a bundle of radiation converging at a predetermined position, and confronts the subject with the convergence type radiation generating unit. And a pinhole member disposed between the arranged radiation detector, the subject, and the radiation detector, and a signal processor for signal processing an output signal from the radiation detector.

상기 시스템은 상기 수속형 방사선 발생부와 상기 핀홀부재와 상기 방사선 검출부의 쌍과 상기 피사체를 상대적으로 이동시키는 이동수단을 또한 구비한다. 상기 시스템의 상기 방사선 검출부는 축적형 2차원 방사선 검출기를 구비하며, 당해 축적형 2차원 방사선 검출기는 축적전하(蓄積電荷)를 상기 피사체와 상기 방사선 검출부와의 상대적인 이동속도에 대응하는 이동속도로 이동시키는 수단을 구비한다.The system further includes a pair of the converging radiation generating unit, the pinhole member and the radiation detecting unit, and moving means for relatively moving the subject. The radiation detection unit of the system includes an accumulation type two-dimensional radiation detector, wherein the accumulation type two-dimensional radiation detector moves the accumulated charge at a moving speed corresponding to a relative moving speed between the subject and the radiation detection unit. It has a means for making it.

상기 시스템의 상기 수속형 방사선 발생부는 병열로 배치한 복수의 수속형 방사선 발생기를 구비한다.The converging radiation generator of the system includes a plurality of converging radiation generators arranged in parallel.

상기 시스템의 상기 방사선 검출부는 축적전하를 이동하고 또한 가산하는 이동가산 CCD와 이 이동가산 CCD의 축적전하를 상기 피사체내의 특정단층면과 상기 방사선 검출부와의 상대적인 이동속도에 대응하는 이동속도로 이동시키는 수단을 구비한다.Means for shifting the accumulating charge CCD and the accumulating charge of the movable adding CCD to move and add accumulated charges at a moving speed corresponding to a relative moving speed of a specific tomographic plane in the subject and the radiation detecting part of the system; It is provided.

상기 시스템의 상기 신호처리계는 하이 패스 필터(high pass filter)를 구비하게 된다.The signal processing system of the system is provided with a high pass filter.

상기 시스템의 상기 핀홀부재는 방사선의 수속(收束) 및 발산각도가 50℃ 이상으로 되는 기능을 구비한다. 상기 시스템의 상기 핀홀부재와 상기 방사선 검출부와는 근접하여 배치되어 있다. 상기 시스템의 상기 핀홀부재는 핀홀판(pinhole plate)과 스릿판(silt plate)을 구비한다.The pinhole member of the system has a function that the convergence and divergence angle of the radiation is 50 ° C or more. The pinhole member and the radiation detector of the system are disposed in close proximity. The pinhole member of the system includes a pinhole plate and a silt plate.

상기 시스템의 상기 수속형 방사선 발생부와 상기 피사체와의 사이에 상기 방사선 검출부에 입사하지 않는 방사선이 상기 피사체에 조사하는 량을 억제하기 위한 어라인먼트(alignment)부재를 또한 구비한다. 상기 시스템의 상기 어라인먼트(alignment)부재는 평행으로 배치된 제 1, 제 2 어라인먼트(alignment)판을 구비하며, 이들 판에는 다수의 구멍이 형성되며, 제 2 어라인먼트(alignment)판의 구멍의 중심좌표는 제 1 어라인먼트(alignment)판의 구멍의 중심좌표를 비례축소 또는 비례확대한 것에 설정되어 있다.An alignment member is further provided between the converging radiation generating unit of the system and the subject to suppress an amount of radiation that does not enter the radiation detecting unit from irradiating the subject. The alignment member of the system has first and second alignment plates arranged in parallel, the plates having a plurality of holes formed therein, and a second alignment. The center coordinate of the hole of the plate is set to proportionally reduce or proportionately enlarge the center coordinate of the hole of the first alignment plate.

또한, 상기 과제를 해결하기 위하여 본 발명의 방법은 소정위치에서 수속하도록 방사선을 발생하는 스텝과, 이 발생된 방사선을 피사체에 조사하고, 피사체를 투과한 투과방사선을 핀홀부재를 통하여 검출하는 스텝과, 그 검출신호를 신호처리하는 스텝을 구비한다.In addition, in order to solve the above problems, the method of the present invention includes the steps of generating radiation to converge at a predetermined position, the step of irradiating the generated radiation to the subject, and detecting the transmitted radiation through the subject through the pinhole member; And signal processing the detected signal.

이하 본 발명의 작용 및 효과를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter will be described the operation and effect of the present invention.

본 발명은 제1도시와 같이 피사체(100)를 끼는 것 같이 X-선 발생부(101)와 X-선 검출부(102)를 대향하여 배치하며, 피사체(100)와 X-선 검출부(102)와의 사이에 공간결합기인 핀홀부재(104)를 게재시킨 화상 촬상 시스템이다. 이 시스템에서 직접 단층화상 촬영을 하기 위하여 피사체(100)와 X-선 검출부(102)와를 상대운동시킨다. 이 상대운동은 피사체(100) 및 X-선 검출부(102)를 실제로 움직임으로서 또한 X-선 검출부(102)의 전기적 제어에 의해 달성된다.According to the present invention, the X-ray generating unit 101 and the X-ray detecting unit 102 are disposed to face each other, as shown in FIG. 1, and the object 100 and the X-ray detecting unit 102 are disposed. An image pickup system in which a pinhole member 104 serving as a space coupler is placed between and. In this system, the subject 100 and the X-ray detector 102 are moved relative to each other to directly perform tomographic imaging. This relative motion is achieved by actually moving the subject 100 and the X-ray detector 102 and also by the electrical control of the X-ray detector 102.

시스템 제어부(105)는 피사체(100)가 놓여지는 침대등의 이동제어, X-선 발생부(101)의 제어, X-선 검출부(102)의 이동제어 및 검출제어, 검출부(102)로부터의 출력을 신호처리하는 신호처리부(106)의 제어 등을 관리한다. 신호처리부(106)의 출력화상은 표시부(107)에 표시된다.The system control unit 105 controls the movement of the bed or the like on which the subject 100 is placed, the control of the X-ray generating unit 101, the movement control and the detection control of the X-ray detecting unit 102, and the detection unit 102. Control of the signal processing unit 106 for signal processing the output and the like. The output image of the signal processing unit 106 is displayed on the display unit 107.

이하 본 발명의 실시예의 설명에 앞서, 제2도의 A-C를 참조하여 촬영 시스템을 사용한 X-선 직접 단층 화상 촬상 방식의 원리를 설명한다.Prior to the description of the embodiments of the present invention, the principle of the X-ray direct tomography imaging method using the imaging system will be described with reference to A-C in FIG.

제2A도 - 제2C도에 있어서, X-선관(101)으로부터 방사되는 X-선관(103)은 피사체(100)를 투과하여 축적형화상 센서인 검출부(102) 위의 S점에 도달한다. 피사체(100)의 특정단층 SL1의 이동속도와 검출부(102)의 이동속도를 동등하게 하면, X-선관(101)과 피사체(100)와 검출부(102)의 위치관계는 시계방향과 같이 제2A도→제2B도→제2C도와 같이 진행한다.2A to 2C, the X-ray tube 103 radiated from the X-ray tube 101 penetrates the subject 100 and reaches the S point on the detection unit 102 which is an accumulation image sensor. When the moving speed of the specific tomography layer SL 1 of the subject 100 is equal to the moving speed of the detector 102, the positional relationship between the X-ray tube 101, the subject 100, and the detector 102 is equal to the clockwise direction. Proceed with FIG. 2A-FIG. 2B-FIG. 2C.

제2A -제2C도에 있어서 특정의 단층 SL1위의 임의의 점을 A로 한다. 제2A도에서 A점을 투과하는 X-선의 강도가 검출부(102)위의 S점에 축적된다. 이것을 X1로 한다. 모식적으로 단순화하면, X-선(103)에 관한 대표점을 B,E,A로 하면, X1=B+A+E이다. 똑같이 제2도 B에 있어서는 X2=C+A+F로 된다. 똑같이 제2도C에 있어서는 X3=D+A+G로 된다. 검출부(102)는 축적형 화상센서임으로 축적된 X-선 강도는 (X-선강도)=(X1)+(X2)+(X3)으로 된다. 따라서, (X-선 강도) = (B+A+E)+(C+A+F)+(D+A+G) = (A+A+A)+(B+C+D)+(E+F+G) = (3A)+(B+C+D)+(E+F+G) 이다.No. 2A - is a specific single-walled any point on the SL 1 in Fig. 2C to the A. In FIG. 2A, the intensity of X-rays passing through the point A is accumulated at the point S on the detection unit 102. FIG. Let this be X 1 . For simplicity, if the representative point of the X-ray 103 is B, E, A, then X 1 = B + A + E. Equally the second is a X 2 = C + A + F B in the FIG. Similarly, in FIG. 2C, X 3 = D + A + G. The detection unit 102 is an accumulation type image sensor, and the accumulated X-ray intensity is (X-ray intensity) = (X 1 ) + (X 2 ) + (X 3 ). Thus, (X-ray intensity) = (B + A + E) + (C + A + F) + (D + A + G) = (A + A + A) + (B + C + D) + ( E + F + G) = (3A) + (B + C + D) + (E + F + G).

상기의 수식은 직접 단층 화상 촬영 방식의 원리적인 개념을 얻기 위해서는 충분한 것이긴 하나, 수학적인 엄밀성은 부족하다. 엄밀하게는 A,B,C,D... 각 점의 물질의 흡수계수 U를 X-선 흡수의 수식 I-I0·EXP(-UT)에 적용한다. 여기에 I 는 투과후의 X-선 강도, I0은 투과적인 X-선 강도, T 는 피사체(100)의 두께이다.The above equation is sufficient to obtain the principle concept of the direct tomography imaging method, but lacks mathematical rigor. Strictly apply the absorption coefficient of the material of each point U in the formula II 0 · EXP (-UT) of X- ray absorption A, B, C, D ... . Where I is the X-ray intensity after transmission, I 0 is the transmissive X-ray intensity, and T is the thickness of the subject 100.

상기 X-선강도 = (3A)+(B+C+D)+(E+F+G)에 있어서, A는 강조되고, (B+C+D)는 평균화된 배경(백그라운드치)로 볼 수 있다면, (X-선강도) = (3A강조)+(평균화된 배경)으로 된다. 여기서 (평균화된 배경)이 (완전히 평균화된 배경)이라면 사람의 시각으로서는 (X-선강도) = (3A강조) = (A+A+A)로 된다. 이것이 직접 단층화상 촬영 방식의 원리이다.In the X-ray intensity = (3A) + (B + C + D) + (E + F + G), A is highlighted and (B + C + D) is viewed as the averaged background (background value). If possible, then (X-ray intensity) = (3A emphasis) + (averaged background). If (averaged background) is (completely averaged background), the human vision is (X-ray intensity) = (3A emphasis) = (A + A + A). This is the principle of direct tomography.

다음에 본 발명의 각 요소를 설명한다. 본 발명에서 사용하는 검출부인 축적형 화상 센서란 X-선 검출기의 일종으로서, 그 센서에 작용한 X-선 에너지의 흔적이 적극적으로 사라지거나 또는 적극적으로 전송하지 않는한 흔적이 축적 가산되는 형식의 센서이다. 축적형 화상 센서의 구체적예는 사진용 필름, CCD 화상 센서, 광휘진형(光輝盡型) 화상 촬상 프레이트 등이다.Next, each element of the present invention will be described. The accumulation type image sensor, which is a detection unit used in the present invention, is a kind of X-ray detector, in which a trace is accumulated and added unless the trace of X-ray energy acting on the sensor is actively disappeared or not actively transmitted. Sensor. Specific examples of the accumulation type image sensor include a photographic film, a CCD image sensor, an optical image pickup plate, and the like.

X-선 발생부에는 종래의 기술인 X-선을 주위에 발산시키는 형식의 발산형 X-선 원과, 본원발명에 있어서의 어떤 특정위치에서 수속하는 것과 같은 X-선 다발을 포함한 X-선을 발생하는 형식의 수속형 X-선원이 있다.The X-ray generating unit includes an X-ray including a divergent X-ray source in the form of emitting conventional X-rays around and X-ray bundles that converge at certain specific positions in the present invention. There is a converging type X-ray source.

제3A도 - 제3E도에 각종 X-선 발생원을 표시한다.Figures 3A-3E show various sources of X-rays.

제3A도는 종래 기술인 제로차원(점)의 X-선 발생체(1101)를 갖는 제로차원 X-선원이며, 발산형(發散型) X-선원이다.Part 3A turn and zero dimensional X- crew having a X- ray generating body (110 1) of the conventional technology, zero-dimensional (point), a diverging (發散型) X- crew.

제3B도는 1차원의 X-선 발생체(선)(1102)를 보유하는 1차원 X-선원이며, 제3C도는 2차원 X-선 발생체(평면)(1103)을 보유하는 2차원 X-선원이며, 제3D도는 3차원 X-선 발생체(곡면)(1104)을 보유하는 3차원 X-선원이며, 제3E도는 3차원 X-선 발생체(환상체環狀體)(1105)을 보유하는 3차원 X-선원이며, 이것들은 수속형(convergence type) X-선원이다. 본 발명에 있어서는 수속형 X-선원이 X-선 발생부로서 사용될 수 있다.FIG. 3B is a one-dimensional X-ray source holding a one-dimensional X-ray generator (line) 110 2 , and FIG. 3C is a two-dimensional holding a two-dimensional X-ray generator (plane) 110 3 . X-ray source, 3D diagram is a three-dimensional X-ray source having a three-dimensional X-ray generator (curve) (110 4 ), and 3E is a three-dimensional X-ray generator (circular body) ( 110 5 ) are three-dimensional X-ray sources, which are convergence type X-ray sources. In the present invention, a convergent X-ray source can be used as the X-ray generator.

제4도 및 제5도는 본 발명에서 사용될 수 있는 수속형 X-선 발생장치의 모식(模式)도이다. 이 X-선 발생장치는 반사형 X선 발생장치이며, 진공용기(120) 내에 수납된 두 개의 음극(121)은 음극전원(122)으로부터 전기배선을 통하여 공급되는 전력이 적열 가열되어 열전자를 발생한다. 열전자는 양극전원(123)으로부터 양극(124)으로 공급되는 고전압에 의한 전계(電界)에 의하여 가속되어 양극(124)에 충돌하여 신선을 발생한다. 제4도에서는 양극(124)은 타겟을 겸한다. 발생한 X-선의 일부는 X-선 투과창(125)과 핀홀부재(126)를 통과한다.4 and 5 are schematic diagrams of a converging X-ray generator that can be used in the present invention. The X-ray generator is a reflective X-ray generator, and the two cathodes 121 housed in the vacuum vessel 120 generate heat electrons by heating the power supplied from the cathode power source 122 through the electrical wiring. do. The hot electrons are accelerated by an electric field caused by a high voltage supplied from the positive electrode power source 123 to the positive electrode 124 and collide with the positive electrode 124 to generate fresh wire. In FIG. 4, the anode 124 also serves as a target. Some of the generated X-rays pass through the X-ray transmission window 125 and the pinhole member 126.

제6도는 3개의 음극(121)과 양극(124)의 위치관계가 제5도의 반사형과는 반대인 투과형 X-선 발생장치이다. 제7도는 양극(124)를 X-선 투과창(125)의 외측에 배치한 투과형 X-선 발생장치이다.6 is a transmissive X-ray generator in which the positional relationship between the three cathodes 121 and the anodes 124 is opposite to that of FIG. 7 is a transmission X-ray generator in which the anode 124 is disposed outside the X-ray transmission window 125.

제8도시와 같이 제4도-제7도의 예에 의한 X-선 발생장치(130)와 X-선 검출부(102)와의 사이에 핀홀부재를 게재시킴으로서 X-선 검출부(102)의 시야 면적은 적어도 피사체(100)를 큰 시야에서 X-선 촬상할 수가 있다.As shown in FIG. 8, by placing a pinhole member between the X-ray generator 130 and the X-ray detector 102 according to the example of FIGS. 4-7, the viewing area of the X-ray detector 102 is At least the subject 100 can be imaged X-ray in a large field of view.

또한, 제9도시와 같이 복수개의 핀홀부재(104)와 X-선 검출부(102)의 쌍을 복수로 해서 나란히 놓고, 또한, 큰 시야의 촬영을 할 수가 있다. 또한, 제8도 및 제9도의 예에서는 촬영시야에서의 데드스페이스(dead space)를 없앨수가 있다.In addition, as shown in FIG. 9, a plurality of pairs of the pinhole members 104 and the X-ray detection unit 102 can be arranged side by side, and imaging of a large field of view can be performed. In addition, in the examples of FIGS. 8 and 9, dead space in the photographing field can be eliminated.

제10도에서 진공용기(120) 내의 음극(121)으로부터 방출된 열전자류는 양극방향에 가속되어 양극(124A)에 충돌한다. 충돌 에너지는 X-선 에너지로 변환되어 X-선을 발생한다. 양극(124A)의 표면형상이 핀홀부재(104)를 초점으로 하는 포물면(放物面)의 경우에 발생한 X-선 핀홀부재(104)를 통과하는 비율이 양극(124A)이 다른 형상에 비하여 크다. 포물면은 평행 광선을 그 초점에 반사 수속시키는 성질이 있다. 열전자류의 충돌각도와 발생 X-선의 주요각도와의 관계는 광선의 반사와 등가인 것이 알려져 있으며, 제10도시와 같이 핀홀부재(104)를 통과하는 X-선의 비율이 많다.In FIG. 10, the hot electrons emitted from the cathode 121 in the vacuum vessel 120 are accelerated toward the anode and collide with the anode 124A. The collision energy is converted into X-ray energy to generate X-rays. The rate at which the surface shape of the anode 124A passes through the X-ray pinhole member 104 generated in the case of a parabolic surface having the pinhole member 104 as a focal point is larger than that of the other shape of the anode 124A. . Parabola has the property of reflecting parallel rays to its focal point. It is known that the relationship between the collision angle of the hot electrons and the main angle of the generated X-rays is equivalent to the reflection of light rays, and as shown in FIG. 10, the ratio of X-rays passing through the pinhole member 104 is large.

여기에서 주요각도란 발생하는 X-선의 대부분이 이루는 각도를 뜻한다. 실제로는 포물면(抛物面)을 연마하여 성형하는 코스트가 고가임으로 성형 용이한 구면으로 대용한다. 이 구면은 될 수 있는대로 포물면에 가까운 구면인 것이 필요한 것은 당연하며, 본 발명에서는 근사(近似) 포물면이라고 부른다. 근사 포물면으로 성형된 양극의 한예는 재질이 유리로서 표면에 텅스텐을 스파터링으로 또는 용사(溶射) 등으로 성모(成模)한 것이다. 또한, 다른 한 예는 재질은 알루미늄으로서 표면에 탄탈늄(tantalum) 증착 또는 텅스텐(tungsten) 증착한 것이다.Here, the main angle refers to the angle formed by most of the generated X-rays. In reality, the cost of grinding and molding the parabolic surface is expensive, and is substituted into a spherical surface that is easy to mold. It is natural that this spherical surface should be as close to a paraboloid as possible, and is called an approximate parabolic surface in the present invention. One example of an anode formed of an approximate parabolic surface is that the material is glass, and the surface is formed by tungsten spattering or spraying on the surface. In another example, the material is aluminum, which is tantalum deposition or tungsten deposition on the surface.

제11A도 - 제11C도 및 제12도에 있어서, X-선 검출부(102)는 피사체(100)와 동속도로 진행하는 것으로 한다. 제11A도→제11B도→제11C도에 이르듯이 X-선 발생부(103)에서 조사된 X-선에 의해 X-선 검출부(102) 위에는 피사체(100)의 단순투과 화상이 형성된다. 제11A도 - 제11C도의 X-선 검출부(102)는 2차원 검출기이며, 그 구체적 예는 사진필름이다. 선명한 X-선 화상을 얻기 위해서는 초점치수가 작은 것이 필요한데, 제11A도 - 제11C도에서 핀홀부재(104)의 구멍지름을 임의로 작게하면, 선명한 X-선 화상을 얻을 수가 있다. 왜냐하면, 핀홀부재가 X-선관의 초점치수의 크기에 상당하기 때문이다.11A to 11C and 12, the X-ray detector 102 is assumed to travel at the same speed as the subject 100. FIG. As shown in FIGS. 11A to 11B to 11C, a simple transmission image of the subject 100 is formed on the X-ray detector 102 by the X-rays irradiated from the X-ray generator 103. FIG. The X-ray detection unit 102 of FIGS. 11A-11C is a two-dimensional detector, a specific example of which is a photographic film. In order to obtain a clear X-ray image, it is necessary to have a small focal dimension. If the hole diameter of the pinhole member 104 is arbitrarily reduced in FIGS. 11A to 11C, a clear X-ray image can be obtained. This is because the pinhole member corresponds to the size of the focal dimension of the X-ray tube.

제11A도 - 제11C도 에 있어서는 X-선 발생부(130)와 핀홀부재(104)와는 정지되고 있으며, 피사체(100)과 X-선 검출부(102)가 이동하고 있었는데 예컨대, 피사체(100)와 X-선 검출부(102)을 정지시켜 X-선 발생부(130)와 핀홀부재(104)를 이동시켜도 화상을 얻는 작용은 똑같다. 또한, 모두가 움직이고 있어도 좋다.11A to 11C, the X-ray generating unit 130 and the pinhole member 104 are stopped, and the subject 100 and the X-ray detecting unit 102 are moving. For example, the subject 100 And the X-ray detector 102 and the X-ray generator 130 and the pinhole member 104 are moved to obtain an image. Moreover, everyone may be moving.

제11A도 - 제11C에 있어서, X-선 검출부(102)가 에리어형 CCD 화상 센서로도 좋다. 또한, 단층 화상 촬영이 아니고, 단순투과 화상 촬영에 있어서, X-선 검출부로서 에리어형 CCD 촬상센서(200)로 소정량의 X-선을 증가시키기 위하여 핀홀부재(104)에 다수의 핀홀을 뚫고, 스릿판을 다수 병치하여도 좋다. 즉, 보다 작은 등가점인 초점치수를 얻기 위하여 핀홀부재의 구멍지름을 작게 하면 X-선의 통과량이 감소함으로 핀홀부재와 스릿의 쌍을 다수 병치한 다층 스릿형 핀홀부재를 사용한다.11A to 11C, the X-ray detection unit 102 may be an area CCD image sensor. In addition, instead of tomographic imaging, in a simple transmission image imaging, a plurality of pinholes are drilled in the pinhole member 104 to increase a predetermined amount of X-rays by the area type CCD imaging sensor 200 as the X-ray detection unit. You may juxtapose many slit boards. In other words, if the hole diameter of the pinhole member is reduced to obtain a smaller focal point, which is a smaller equivalent point, the amount of X-ray passage decreases, so that a multi-layered split-hole pinhole member in which multiple pairs of pinhole members and slit are juxtaposed is used.

다음에 제12도를 참조하여 직접 단층 화상 촬영를 하기 위한 X-선 검출부(102)의 전기적 제어, 상세히는 피사체의 단층면과 CCD 디바이스(에리어형 CCD 촬상센서)와의 관계를 설명한다.Next, with reference to FIG. 12, the electrical control of the X-ray detection unit 102 for direct tomographic imaging, and in detail, the relationship between the tomographic plane of the subject and the CCD device (area type CCD image sensor) will be described.

제12도에 있어서는 X-선 발생부(도시않음), 핀홀, CCD 디바이스(device)가 마련되며, 피사체가 도시 화살표 방향으로 이동하는 것으로 한다. 화상 촬상 대상은 피사체의 단층 SL1-SL4이다.In FIG. 12, an X-ray generating unit (not shown), a pinhole, and a CCD device are provided, and the subject moves in the direction of the arrow shown. The image pickup target is the tomographic layer SL 1 -SL 4 of the subject.

제12도에 있어서, 핀홀을 중심으로 각단층 SL1-SL4에 관해서 같은 면적의 시야를 볼 경우, 단층 SL1-SL4의 CCD 디바이스에 대한 상대적인 이동각도(상대속도)는 최하층의 단층 SL4에 대한 시야각도 R'가 가장 크고, 최상층의 단층 SL1에 대한 시야각 R1이 가장 작다. 즉, 핀홀에서 볼 경우 단층 SL의 속도는 단층 SL4이 가장 빠르고, 단층 SL1이 가장 느리다. 따라서, CCD 디바이스 위의 상의 이동속도는 단층 SL4의 상이 가장 빠르고, 단층 SL1이 가장 느리다. 여기서 CCD 디바이스 위의 상이란 단층 SL이 핀홀을 통하여 CCD 디바이스 위에 투영되는 상인 것이다.In FIG. 12, when the field of view of the same area with respect to the single-layer SL 1 -SL 4 is viewed around the pinhole, the relative moving angle (relative velocity) with respect to the CCD device of the single layer SL 1 -SL 4 is the lowest single layer SL. 4 viewing angle R 'is the largest, the viewing angle for a single layer of the uppermost layer SL 1 R 1 is the smallest on. In other words, in the pinhole, the monolayer SL has the fastest velocity in the monolayer SL 4 and the slowest in the monolayer SL 1 . Therefore, the moving speed of the phase on the CCD device is the fastest in the single layer SL 4 , and the slowest in the single layer SL 1 . Here, the image on the CCD device is an image in which the monolayer SL is projected onto the CCD device through the pinhole.

이상에서 X-선 발생부로부터 피사체에 대하여 X선을 조사하며, 단층 SL1의 외견상의 이동속도(q에서 p로의 이동속도)와 단층 SL1에 대응하는 CCD 디바이스의 주사속도(q에서 p로의 이동속도)를 외견상 일치시켜도 CCD 디바이스를 주사함으로서 피사체의 단층 SL1을 촬영할 수가 있다.The X-ray generator irradiates the X-rays to the subject, and the apparent moving speed of the tomography layer SL 1 (moving from q to p) and the scanning speed of the CCD device corresponding to the tomography layer SL 1 (from q to p) You can take a single-layer SL 1 of the apparent match even by scanning the CCD device subjects the moving speed).

똑같이 단층 SL2의 외견상의 이동속도와 이 단층 SL2에 대응하는 CCD 디바이스의 주사 속도를 외견상 일치시킴으로서 단층 SL2를 촬영할 수가 있으며, 단층 SL3의 외견상의 이동속도와 이 단층 SL3에 대응하는 CCD 디바이스의 주사속도와를 외견상 일치시킴으로써 단층 SL3를 촬영할 수가 있으며, 단층 SL4의 외견상의 이동속도(Q'에서 P'로의 이동속도)와 이 단층 SL4에 대응하는 CCD 디바이스의 주사속도(q'에서 p'로의 이동속도)와를 외견상 일치시켜서 이 CCD 디바이스의 주사에 의해 단층 SL4를 촬영할 수가 있다.The same and the number of shooting the scanning speed of the CCD device apparently consistent sikimeuroseo single layer SL 2 corresponding to the moving speed and the single-layer SL 2 the apparent single-layer SL 2, corresponding to the movement speed and the single-layer SL 3 the apparent single-layer SL 3 A single layer SL 3 can be photographed by apparently matching the scanning speed of the CCD device to be measured, and the apparent moving speed of the single layer SL 4 (speed moving from Q 'to P') and the scanning of the CCD device corresponding to the single layer SL 4 are obtained. A single layer SL 4 can be photographed by scanning of this CCD device by apparently matching the speed (moving speed from q 'to p').

이 예는 하나의 CCD 디바이스를 사용하며, 그 CCD 디바이스의 주사속도에 의해 임의적으로 정해지는 단층을 촬영하는 방법이다. 그러나, CCD 디바이스와 핀홀의 복수의 쌍을 피사체의 이동방향에 따라 병설하며, 각 CCD 디바이스의 주사속도를 달리함으로서 복수의 CCD 디바이스의 다른 주사속도 각각에 대응한 복수의 단층상을 일괄하여 촬영할 수가 있다.This example uses a single CCD device and is a method of photographing a tomography that is arbitrarily determined by the scanning speed of the CCD device. However, a plurality of pairs of CCD devices and pinholes are arranged in accordance with the moving direction of the subject, and by varying the scanning speed of each CCD device, a plurality of tomographic images corresponding to different scanning speeds of the plurality of CCD devices can be collectively taken. have.

후술하는 제17도의 예, 제29도의 예, 제31도의 예, 제33도의 예, 제35도의 예는 이와 같은 복수의 단층을 일괄하여 촬영하는 방법을 명시하고 있다.Examples of FIG. 17, FIG. 29, FIG. 31, FIG. 33, and FIG. 35 described later specify a method of collectively photographing such a plurality of tomography.

다음에 제13A도-제13C도를 참조하여 에리어형 CCD 화상센서(200)의 한 구동방법을 설명한다.Next, a driving method of the area CCD image sensor 200 will be described with reference to FIGS. 13A to 13C.

즉, 본 구동방법은 제13A도- 제13C도에 표시하듯이 CCD의 NxM개의 화소(畵素)에 발생하는 전하(電荷)를 VD방향(수직 구동방향 내지 도면의 N방향)에 전자이동시키며, 또한, 전하를 VD 방향으로 축적 가산하는 구동방법이다.That is, the present driving method moves electrons generated in the NxM pixels of the CCD to the VD direction (the vertical driving direction to the N direction in the drawing) as shown in FIGS. 13A to 13C. In addition, it is a driving method for accumulating and adding charges in the VD direction.

본 명세서에서는 이 구동방법을 적용한 에리어 CCD를 축적전하 이동 가산형 CCD를 생략하여 이동가산 CCD(300)라고 생략 기재한다. 제11A도 - 제11C도 및 제14도에 있어서의 단순투과 화상 촬영에서는 에리어형 CCD 화상센서(200)은 피사체와 같은 속도로 이동시키는 예이다. 또한, 이동가산 CCD(300)을 적용하면 제15도와 같이 이동가산 CCD(300)을 정지시킬 수가 있다. 즉, CCD가 이동하는 대신 축적전하가 이동하기 때문이다.In the present specification, the area CCD to which the driving method is applied is omitted as the charge-adding CCD 300 by omitting the accumulated charge transfer addition-type CCD. In the simple transmission image photographing in FIGS. 11A to 11C and 14, the area CCD image sensor 200 is an example of moving at the same speed as the subject. In addition, when the mobile addition CCD 300 is applied, the mobile addition CCD 300 can be stopped as shown in FIG. In other words, the accumulated charge moves instead of the CCD.

본 발명의 촬상방법 및 장치는 핀홀부재(104)에 의해 산란선(散亂線)의 영향을 받지 않는다. 즉, 산란선은 핀홀부재(104)에 의해 제거된다. 또한, 초점치수를 작게 하는 것은 핀홀부재의 구멍지름을 작게 하면 달성할 수가 있다. 핀홀부재(104)의 구멍지름이 작아짐으로서 X-선 검출부에 입사하는 X-선량이 감소하며, X-선 화상을 얻기 위하여 고감도의 X-선 검출기가 필요하게 되는 일이 있다. 이 경우에는 고감도 검출기인 이동가산 CCD를 사용한다. 방사선 감도 배증소자(倍增素子)인 화상 인텐시파이어(intensifier)를 CCD에 짜맞춤하면 더욱 고감도로 되며, 즉 핀홀부재의 구멍지름을 작게 할 수가 있다.The imaging method and apparatus of the present invention are not affected by scattering lines by the pinhole member 104. That is, the scattering line is removed by the pinhole member 104. In addition, the reduction in the focus dimension can be achieved by reducing the hole diameter of the pinhole member. As the hole diameter of the pinhole member 104 decreases, the amount of X-rays incident on the X-ray detector decreases, and a high-sensitivity X-ray detector may be required to obtain an X-ray image. In this case, a moving addition CCD which is a high sensitivity detector is used. When an image intensifier, which is a radiation sensitivity doubling element, is incorporated into a CCD, it becomes more sensitive, that is, the hole diameter of the pinhole member can be reduced.

직접 단층화상 촬상방식에서는 화상의 선명성은 제2도A에 표시한 각도 ANG를 크게 하면 향상한다. 제16도시와 같이 복수의 X선발생부(101)를 예컨대 원호상으로 나란히 놓으면, 핀홀부재(104)에 관한 유효한 수속(收束), 발산각도(각도 ANG에 상당한.)를 크게 하는 것이 가능하다. 실험의 결과 각도를 50°이상으로 하면 양호한 단층화상이 얻어졌다. 또한, 도시 화살표는 피사체(100)의 이동방향을 표시한다.In the direct tomography imaging system, the sharpness of the image is improved by increasing the angle ANG shown in FIG. As shown in FIG. 16, when the plurality of X-ray generating units 101 are arranged side by side in an arc shape, for example, it is possible to increase the effective procedure and the divergence angle (corresponding to the angle ANG) with respect to the pinhole member 104. . When the angle was 50 degrees or more as a result of the experiment, a good tomographic image was obtained. In addition, the illustrated arrow indicates the moving direction of the subject 100.

제17도는 동시에 상상해야 할 단층 SL1-SL5을 화상 촬상하는 상황을 표시하고 있다. 다섯 개의 핀홀부재(1041-1045)와 다섯 개의 축적형 X-선 검출기(3001-3005)을 나란히 놓아 축적형 X-선 검출기(3001-3005)의 등가적(等價的)인 이동속도를 피사체(100)의 각 단층의 등가적인 이동속도에 같게 한다. 예컨대, 축적형 X-선 검출기(3001)의 등가적인 이동속도를 단층 SL1의 등가적인 이동속도에 똑같게 하고, 축적형 X-선 검출기(3002)의 등가적인 이동속도를 단층 SL2의 등가적인 이동속도에 똑같게 한다. 이와 같이 하면, 각 단층 SL1-SL5의 화상이 동시에 촬상 가능하게 된다. 또한 도시한 화살표는 피사체(100)의 이동방향을 표시한다.FIG. 17 shows a situation where an image is taken of tomographic layer SL 1 -SL 5 to be imagined at the same time. Equivalent (等價of five pinhole member (104 1 -104 5) and five storage type X- ray detector (300 1 -300 5) placed side by side to a storage type X- ray detector (300 1 -300 5)的) Is made equal to the equivalent moving speed of each tomography of the subject 100. For example, the equivalent moving speed of the stacked type X-ray detector 300 1 is made equal to the equivalent moving speed of the single layer SL 1, and the equivalent moving speed of the stacked type X-ray detector 300 2 is set to the single layer SL 2 . Equal to the equivalent movement speed. In this way, the image of each single layer SL 1 -SL 5 is made possible at the same time image capture. In addition, the arrow shown indicates the moving direction of the subject 100.

제18도에 축적형 X-선 검출기가 이동가산 CCD(300)의 경우를 표시한다. 한쌍의 핀홀부재(104)와 이동가산 CCD(300)의 한 예가 제18도에 표시된다. 제18도에서 축적전하의 등가적인 이동속도는 단층 SLA, SLB, SLC의 순으로 늦어진다. 축적전하의 등가적인 이동속도를 예컨대 단층 SLB의 이동속도와 똑같게 하면 단층 SLB의 단층화상이 얻어진다. 고속으로 동시에 복수의 단층화상을 얻는데는 예컨대 피사체(100)를 고속으로 이동시키거나, 또는 핀홀부재(104)와 축적형 X-선 검출기(200)(300)와의 쌍을 고속으로 이동시키면 좋다. 또한, 도시한 화살표는 피사체(100)의 이동방향을 표시한다.18, the accumulation type X-ray detector shows the case of the moving addition CCD 300. As shown in FIG. An example of the pair of pinhole members 104 and the moving addition CCD 300 is shown in FIG. In FIG. 18, the equivalent moving speed of the accumulated charges is delayed in order of faults SL A , SL B , SL C. When the equivalent moving speed of the accumulated charge for example, equalize the moving speed of the single-layer SL B it is obtained tomographic image of the single-layer SL B. To obtain a plurality of tomographic images simultaneously at a high speed, for example, the subject 100 may be moved at high speed, or the pair of the pinhole member 104 and the accumulated X-ray detectors 200 and 300 may be moved at high speed. In addition, the arrow shown indicates the moving direction of the subject 100.

제19도에서 축적형 X-선 검출기(200)의 이동방향은 피사체(100)가 정지된 경우, 지면에 대하여 상,하방향 또는 지면에 대하여 직각방향의 어느것도 좋다. 또한, 피사체(100)가 이동하고 있을 경우 축적형 X-선 검출기가 이동가산 CCD(300)이면 X-선 검출기(102)는 정지되어 있어도 좋다.In FIG. 19, the moving direction of the accumulation type X-ray detector 200 may be any one of up, down, or right angle to the ground when the subject 100 is stationary. In addition, when the subject 100 is moving, if the accumulation type X-ray detector is the moving addition CCD 300, the X-ray detector 102 may be stopped.

본 발명에서의 피사체에 관하여 설명한다. 즉, 공업제품에서는 동일형상의 것이 다수 생산되며, 생산공정 라인을 따라 연속적으로 이송되어 오는 경우가 많다. 한 예로서 다이케스트 주물제품이 거론된다. 제품의 불량 판정에는 단층검사를 필요로 하는 것이 많다. 본 발명에서는 CT방식과 같이 단층화상을 생성하기 위한 계산시간을 불필요함으로 리얼타임에 단층이 촬상된다. 주행 시이트재와 같이 쉴새없이 연속적으로 이송되어 오는 것 또는 상술한 다이케스트 주물제품과 같이 틈은 있으나, 연속적(준연속이라 약기함)으로 이송되어 오는 것에 대해서는 리얼타임한 단층 검사가 가능하게 된다. 단층검사에 있어서는 정상적인 제품의 정상적인 단층 화상을 기준으로하여 검사되어야 할 제품의 단층화상과 비교하여 정상인지 이상인지를 판단한다.The subject in this invention is demonstrated. That is, in industrial products, many of the same shape are produced and are often conveyed continuously along the production process line. As an example, diecast castings are mentioned. In many cases, tomographic inspection requires tomographic inspection. In the present invention, since the calculation time for generating the tomographic image is unnecessary like the CT method, the tomography is imaged in real time. Real-time tomography inspection is possible for continuous conveyance such as traveling sheet material or continuously conveyed continuously (abbreviated as semi-continuous), although there is a gap like the die-cast casting product described above. In the tomography inspection, it is determined whether it is normal or abnormal compared with the tomographic image of the product to be inspected based on the normal tomographic image of the normal product.

제20도와 같이 검출기로부터의 화상데이터를 도입하는 피사체 화상 메모리(401)와 기준화상 메모리(402)와 화상비교회로(403)와 이상부 추출회로(404)로부터 형성된 신호처리계에 의해 상술한 판정을 할 수가 있다. X-선에 조사되는 피사체의 단층화상에 있어서, 피사체에 불필요한 X-선이 조사되지 않도록 배려할 필요가 있는 피사체가 있다. 피사체가 인체인 경우가 그 한 예이며, 방사선 장애의 영향을 최소로 하기 위해서는 불필요한 X-선의 조사를 최소로 하는 것이 요구된다.The above-described determination is made by the signal processing system formed from the subject image memory 401, the reference image memory 402, the image comparison section 403, and the abnormal part extraction circuit 404, which introduce the image data from the detector as shown in FIG. You can do In a tomographic image of a subject irradiated with X-rays, there is a subject that needs to be considered so that unnecessary X-rays are not irradiated on the subject. One example is when the subject is a human body, and in order to minimize the effects of radiation disturbances, it is required to minimize unnecessary X-ray irradiation.

제21도에서 2차원 또는 3차원의 방사선 발생원(101)으로부터 조사되는 방사선중 실선으로 도시된 것은 필요 방사선(103A)이며, 피사체(100), 핀홀부재(104)를 통과하여 축적형 화상센서(200)에 도달하는 것이며, 단층화상을 얻기 위하여 필요하다. 한편, 파선으로 도시된 것은 불필요한 X-선(103B)이며, 단층화상을 얻기 위해서는 불필요하다.In FIG. 21, a solid line of radiation irradiated from the two- or three-dimensional radiation source 101 is a necessary radiation 103A, and passes through the object 100 and the pinhole member 104 to store the accumulated image sensor ( 200) and is necessary to obtain a tomographic image. On the other hand, what is shown by the broken line is unnecessary X-ray 103B, and it is unnecessary to obtain a tomographic image.

제22도에서 X-선 어라인먼트 맴버(X-ray alignment member)(500)를 2차원 또는 3차원의 X-선 발생원(101)과 피사체(100) 사이에 설치한다. X-ray alignment member(500)는 필요방사선(103A)을 핀홀부재(104)를 통과하여 축적형 화상센서(200)에 도달시켜 불필요한 X-선(103B)을 차단한다.In FIG. 22, an X-ray alignment member 500 is provided between the two-dimensional or three-dimensional X-ray generating source 101 and the subject 100. FIG. The X-ray alignment member 500 passes the necessary radiation 103A through the pinhole member 104 to reach the accumulation type image sensor 200 to block unnecessary X-ray 103B.

제23도는 X-ray alignment member(500)의 평면도이며, 구멍(500A)이 다수 설치되어 있다.23 is a plan view of the X-ray alignment member 500, and a plurality of holes 500A are provided.

제24도는 제23도의 XXIV-XXIV에 따른 단면도이며, X-ray alignment member)(500)는 상부X-ray alignment판(5001), 하부X-ray alignment판(5002)으로 구성되어 있다. 상부X-ray alignment판(5001), 하부X-ray alignment판(5002)의 구멍의 위치관계는 X-선(103)이 핀홀부재(104)를 통과하여 축적형 화상센서(200)에 도달하도록 배치되어 있다. 각각의 구멍은 상부X-ray alignment판(5001)에 대해서 하부 X-ray alignment판(5002)에 대해서 각각 별도로 가공할 수가 있으며, 또한, 그 구멍가공은 X-ray alignment member가 박판 임으로 판에 대하여 수직이 좋으므로 가공이 용이하다.24 is a cross-sectional view taken along line XXIV-XXIV in FIG. 23, and the X-ray alignment member 500 is composed of an upper X-ray alignment plate 500 1 and a lower X-ray alignment plate 500 2 . The positional relationship between the holes of the upper X-ray alignment plate 500 1 and the lower X-ray alignment plate 500 2 is determined by the X-ray 103 passing through the pinhole member 104 to the accumulation type image sensor 200. It is arranged to reach. Each hole can be machined separately for the upper X-ray alignment plate 500 1 , and for the lower X-ray alignment plate 500 2 , and the hole processing is performed because the X-ray alignment member is thin. Since the vertical is good with respect to, it is easy to process.

한편, 제22도시와 같이 X-ray alignment member(500)를 한 장의 판상으로 하면 구멍은 판에 대하여 비스듬이 가공할 필요가 있으며, 또한, 그 구멍의 경사각은 일정한 각도에서 변함으로 제작이 곤란하다. 또한, 구멍의 형상도 제23도에서는 원으로 예시되어 있으나, 정방형, 육각형등 임의의 형상으로 하기에는 X-ray alignment member가 박판인 것이 유리하다.On the other hand, when the X-ray alignment member 500 is formed as a single plate as shown in FIG. 22, the hole needs to be obliquely processed with respect to the plate, and the inclination angle of the hole changes at a constant angle, making it difficult to manufacture. . In addition, although the shape of the hole is also illustrated as a circle in FIG. 23, it is advantageous that the X-ray alignment member is thin to have any shape such as square or hexagon.

제25도는 X-ray alignment member의 구멍과 핀홀부재의 위치관계를 표시한 약도이다. 도시되지 않은 2차원 또는 3차원의 방사선 발생원으로부터 방사되는 방사선은 상부X-ray alignment판(5001), 하부X-ray alignment판(5002)의 구멍이 각각 같은 피치이며, 각각의 구멍의 중심좌표가 비례관계(즉, 비례확대 또는 비례축소)에 있으면, 두 장의 X-ray alignment판(5001)(5002)을 통과한 X-선(103)은 한점에 집속(集束)하는 방사선 속군으로 된다. 상술한 X-선 속군이 한점에 집속하는 것은 제26도, 제27도를 참조하여 기하학적으로 증명된다.25 is a schematic diagram showing the positional relationship between the holes of the X-ray alignment member and the pinhole member. The radiation radiated from a two-dimensional or three-dimensional radiation source (not shown ) has the same pitch in the holes of the upper X-ray alignment plate 500 1 and the lower X-ray alignment plate 500 2 , respectively, and the center of each hole is the same. If the coordinates are in proportional relationship (i.e., proportional enlargement or reduction), the X-rays 103 passing through the two X-ray alignment plates 500 1 and 500 2 are focused on radiation at one point. Becomes The focusing of the above-mentioned X-ray speed group at one point is geometrically demonstrated with reference to FIGS. 26 and 27.

제26도는 제25도의 부분개략도이다. 우선 방사선 AB와 DE의 연장이 교차하는 점을 C로 한다. 제25도에서 EG의 연장선은 C를 통과하는 것을 증명한다. ADF와 BEG는 평행이며, AD=DF, BE=EG이다. 가령 F점과 C점을 잇는 선이 하부X-ray alignment판(5002)에 교차하는 점을 G'라고 G'는 G에 일치하는 것을 증명한다. 삼각형 CDF는 삼각형 CEG'와 상사(相似)이다. 또한, 삼각형 CAD는 삼각형 CBE와 상사이다. 따라서, AD=DF임으로 BE=EG'이다. 등피치가정에서 BE=EG이다. 따라서, EG=BE=EG'이며, 즉, G와 G'는 일치하는 것이 증명되었다.FIG. 26 is a partial schematic view of FIG. First, let C be the point where the extension of the radiation AB and DE intersects. In Figure 25, the extension of the EG proves to pass through C. ADF and BEG are parallel, AD = DF and BE = EG. For example, G 'and G' correspond to G at the point where the line connecting F and C intersects the lower X-ray alignment plate 500 2 . Triangular CDF is analogous to triangular CEG '. In addition, triangle CAD is similar to triangle CBE. Therefore, BE = EG 'because AD = DF. BE = EG for equi pitch family. Thus, EG = BE = EG ', that is, G and G' proved to match.

또한, 제25도는 평면적인 도면인데 상기 증명은 입체적인 경우에도 똑같이 성립됨으로 실제는 상부X-ray alignment member는 평면상, 하부X-ray alignment member도 평면상이 되며, 한점에 집속(集束)하는 X-선 속군(束群)도 평면상에 다수 분포한다.In addition, Fig. 25 is a plan view, but the above proof is equally true even in the three-dimensional case, so the upper X-ray alignment member is planar, and the lower X-ray alignment member is also planar, and X-converging at one point is focused. Line speed groups are also largely distributed on the plane.

제28도는 제2A도 - 제2C도의 부분확대도이다. 제28도에서 X선, X1은 B1, B2, B3...., A, ....E4, E3, E2, E1를 각각의 부분에서 흡수를 받으면서 투과하여 축적형 화상센서에 도달한다. 이 과정에서 대단히 흡수가 강한 부분(가령 B3로 한다.)이 있을 경우에 피사체(100)의 특정 단층면 SL1의 B3점부근의 단층 화상치에 영향을 준다.28 is a partial enlarged view of FIGS. 2A-2C. In FIG. 28, the X-ray, X 1 is transmitted through B 1 , B 2 , B 3 ...., A, .... E 4 , E 3 , E 2 , E 1 while being absorbed in each part The accumulating image sensor is reached. In this process, when there is a very strong absorption portion (for example, B 3 ), the tomographic image value near the B 3 point of the specific tomographic surface SL 1 of the subject 100 is affected.

제28도에서 가로축에 피사체의 진행방향의 좌표, 세로축에 화상신호치(흡수소를 신호대의 방향으로 흡수대를 신호소의 방향으로 취한다)를 취하여 B3의 영향을 모식적(模式的)으로 표현하고 있다. 즉, X선, X1, X2, X3, X4, X5....... XN(N은 큰숫자) 모두를 합계 A점의 화상신호치를 구해도 B3의 영향이 남는 경우가 있다. B3의 영향은 B3부근의 모든 부분에 영향을 끼친다. 그 이유는 B3를 통과하는 X-선은 적어도 50°이상에 걸쳐서 존재하기 때문이다. 따라서, 그 영향은 전자파형의 성분으로서는 저주파(즉, 충분히 평균화되지 않기 때문의 저주파) 성분이다. 전자회로 기술에서의 하이 패스 필터(즉, 고주파 성분을 통과시키고 저주파 성분을 통과시키지 않는다)라고 불리우는 전자처리를 하면 제28도시 저주파 성분을 제거한 화상신호라고 기재되어 있는 것과 같은 신호파형으로 되어 B3점의 영향이 경감되도록 작용한다.In FIG. 28, the effect of B3 is schematically represented by taking the coordinates of the subject's direction on the horizontal axis and the image signal value (the absorption band is taken in the direction of the signal station) on the vertical axis. have. That is, even if all X-rays, X 1 , X 2 , X 3 , X 4 , X 5 ....... X N (where N is a large number), the image signal value of the total A point remains, the effect of B 3 remains. There is a case. B 3 of influence affects every part of the vicinity of B 3. The reason is that the X-rays passing through B 3 are present over at least 50 °. Therefore, the influence is a low frequency (that is, a low frequency because it is not sufficiently averaged) as a component of the electromagnetic waveform. When the electronic processing called a high-pass filter in an electronic circuit technology (i.e., does not pass a high-frequency component and passes a low frequency component) is a signal waveform such as that described as the image signal to remove 28 showing the low frequency component B 3 The effect of the point is to be alleviated.

한 예로서, 피사체가 인체일 경우 단층화상을 관찰하여 병변부(病變部)의 특정 및 병변증상(病變症狀)의 판단 등을 할 경우에 있어서, 단층화상이 시각적으로 입체적으로 보이는 것이 바람직스러운 경우가 있다. 예컨대, 특정한 장기(臟器)의 화상진단에 있어서, 그 장기의 안 길이 방향의 전후의 영화상이 엷게 겹쳐서 입체적으로 보이는 쪽이 특정한 장기와 주변과의 관련관계를 판단하기 쉬우며, 눈으로 확인하기가 좋게 된다.As an example, when the subject is a human body, when the tomographic image is observed to determine the lesion part and to determine the lesion symptom, it is preferable that the tomographic image is visually seen in three dimensions. There is. For example, in the diagnosis of an image of a particular organ, it is easy to judge the relation between a particular organ and its surroundings in which the film images before and after the inner and longitudinal directions of the organ are thinly overlapped and three-dimensionally visible. Will be good.

한편, CT방식은 원리적으로 어떤 단층만의 촬상이며, 안길이 방향의 정보는 없다. 따라서, 입체적인 화상을 생성하는데는 복수매의 단층화상으로부터 생성해야 하며, 생성시간을 필요로 한다. 또한, 단층간의 거리가 있으므로 완전한 입체화상 생성이 관란하다. 단층화상 촬영법에 있어서, CT방식은 원리적으로 위화상(僞畵象)(아치팩트)이 생길 가능성이 있다. 그러나, 본 발명은 직접 단층화상방식임으로 단층화상 생성을 위한 계산을 필요로 하지 않아 본질적으로 위화상(僞畵象)은 발생하지 않는다.On the other hand, the CT method is, in principle, imaging of only one tomography, and there is no information in the depth direction. Therefore, in order to generate a three-dimensional image, it is necessary to generate from a plurality of tomographic images, which requires generation time. In addition, since there is a distance between tomography, the generation of complete stereoscopic image is disturbed. In the tomography imaging method, in the CT method, there is a possibility of generating a false image (arch fact) in principle. However, since the present invention is a direct tomographic method, no calculation for generating tomographic images is required and essentially no false image occurs.

아래에 본 발명의 실시예에 대해 도면을 참조하여 설명한다. 제29도는 의료용에서의 본 발명의 한 실시예이다. 제29도시와 같이 바닥(10)에 침대(11)가 설치되어 있다. 이 침대(11) 위에 생체인 피검체(12)가 올려 놓여져 있다. 피검체(12)를 가운데 끼듯이, 침대(11) 안에는 프레임 장치(13)에 설치된 X-선 센서 유닛(14)이 놓이며, 또한, 침대(11)의 상방에는 도시않는 지지체에 의해 지지된 X-선원(15)이 배치되어 있다.EMBODIMENT OF THE INVENTION Below, the Example of this invention is described with reference to drawings. 29 is an embodiment of the present invention in medical use. As illustrated in FIG. 29, a bed 11 is installed on the floor 10. The living subject 12 is placed on the bed 11. In the bed 11, the X-ray sensor unit 14 installed in the frame device 13 is placed inside the bed 11, and the upper part of the bed 11 is supported by a support (not shown). The X-ray source 15 is arranged.

프레임장치(13)는 바닥(10)에 설치된 프레임 구동장치(16)와 이 프레임 구동장치(16)에 연결된 X-선 센서 유닛(14)을 부착하기 위한 부착 부재(17)와 프레임(18)과 같은 피치(pitch)로 구멍이 뚫린 X-ray alignment member(500)를 보유하는 X-선 시일드체(19)를 구비한다.The frame device 13 includes an attachment member 17 and a frame 18 for attaching the frame drive device 16 installed on the bottom 10 and the X-ray sensor unit 14 connected to the frame drive device 16. And an X-ray shield body 19 having an X-ray alignment member 500 punched at the same pitch.

프레임 구동장치(16)는 부착부재(17), 프레임(18) 및 X-선 시일드체(19)를 일체로 도시(40)의 방향으로 되풀이 이동시킨다. X-선 발생원(15)에는 고전압 공급장치(20) 및 음극용전원 공급장치(21)이 접속되어 X-선 발생원(15)으로부터 소정의 X-선(31)을 방사하기 위해 X-선 발생원(15)에 필요한 고전압 및 음극용 전원을 공급한다. 2차원 또한 3차원의 방사선 발생원(15)은 본 실시예에서는 X-선관이며, 도면과 같이 다수개를 나란히 부착한 형태로 되어 있다. 이와 같이 다수개를 나란히 부착한 형태를 취한 이유는 전방사각을 크게 하기 위한 것이다.The frame drive device 16 repeatedly moves the attachment member 17, the frame 18, and the X-ray shield body 19 in the direction of the drawing 40 integrally. An X-ray generator 15 is connected to a high voltage supply device 20 and a cathode power supply 21 for radiating a predetermined X-ray 31 from the X-ray generator 15. Supply power for high voltage and negative electrode required in (15). Two-dimensional and three-dimensional radiation source 15 is an X-ray tube in this embodiment, and has a form in which a plurality of radiation sources 15 are attached side by side as shown in the drawing. The reason for taking the form of attaching a large number side by side in this way is to increase the forward angle.

X-선관에는 고압전원 공급장치(20)으로부터 고전압전력이 부가되며, 또한, 음극용전원 공급장치(21)으로부터 발생한 X-선(31)은 일부는 X-선 시일드(19) 및 X-ray alignment member(500)로 차단되며, 기타는 X-ray alignment member(500)를 통과 하며, 피사체(12)인 인체를 투과하여 X-선 센서유닛(14)에 들어간다. X-선 센서유닛(14)은 X선 반도체 검출기인 CCD를 주요소로 하는 것이여서, CCD 드라이브 회로(22)에 의해 구동된다. X-선 센서유닛(14)로부터의 출력은 신호처리계(30)에 도입된다. 신호처리계(30)는 화상메모리(31)와 단층화상 변환회로(32)와 디스프레이(33)와 화상필터(34)와 하이 패스 필터(high pass filter)(35) 등으로 된다. 하이 패스 필터(35)는 필요에 따라 화상메모리(31)와 디스프레이(33)와의 사이에 단층 화상 변환회로(32)와 병열로 게재된다. 또한, 화상메모리(31)와 디스프레이(33)와는 필요에 따라 직접 접속될 수 있다.The X-ray tube is supplied with high voltage power from the high voltage power supply 20, and the X-ray 31 generated from the negative power supply 21 is partially provided with the X-ray shield 19 and X-. It is blocked by the ray alignment member 500, and the other passes through the X-ray alignment member 500, and passes through the human body that is the subject 12 to enter the X-ray sensor unit 14. The X-ray sensor unit 14 is mainly composed of a CCD which is an X-ray semiconductor detector, and is driven by the CCD drive circuit 22. The output from the X-ray sensor unit 14 is introduced into the signal processing system 30. The signal processing system 30 includes an image memory 31, a tomographic image conversion circuit 32, a display 33, an image filter 34, a high pass filter 35, and the like. The high pass filter 35 is placed in parallel with the tomographic image conversion circuit 32 between the image memory 31 and the display 33 as necessary. In addition, the image memory 31 and the display 33 can be directly connected as necessary.

X-선 센서유닛(14)의 상세한 것은 제30도에 표시되어 있으며, 세 개의 X-선 센서 에레멘트(14A),(14B),(14C)를 보유한다. 이들 X-선 센서 에레멘트(14A)(14B)(14C) 각각은 공간결합인 핀홀부재(40)와 검출기(41)와를 보유한다. X-선 센서 에레멘트(14A)(14B)(14C)의 각각의 검출기(41)는 신치레이터(scintillator)(41A), 이메지 인텐시파이어(Image intensitier)(I. I.)(41B)와 광학계(optical system)(41C)와 축적형 화상센서인 에리어형 CCD 촬영센서(41D)로 형성된다.The details of the X-ray sensor unit 14 are shown in FIG. 30 and hold three X-ray sensor elements 14A, 14B, 14C. Each of these X-ray sensor elements 14A, 14B, 14C holds a pinhole member 40 and a detector 41 which are spatially coupled. Each detector 41 of the X-ray sensor elements 14A, 14B, 14C is composed of a scintillator 41A, an image intensitier (II) 41B, and an optical system. system) 41C and an area CCD photographing sensor 41D which is an accumulation type image sensor.

여기에서 피사체(12)는 정지되고 있으며, 프레임(18)에 의해 시일드, X-ray alignment판(500), 공간결합기(40), 축적형 화상센서(41D)를 포함한 검출기(41)는 고정되어 있다. 프레임(18)는 프레임 구동장치(16)에 의해 제29도시와 같이 고속으로 왕복이동된다. 제30도에서 3개의 축적형 화상센서가 도시되어 있는데 프레임의 이동방향에 직각으로 3열의 축적형 촬화상 센서가 병치되어 있다고 한다면, 프레임의 일회 왕복으로 3×3×2=18층의 단층화상이 얻어진다. 프레임(18)의 왕복운동을 1초간에 10회 왕복으로 친다면 단층화상은 1초간에 3×3×2×10=180층이 화상이 얻어진다.Here, the subject 12 is stationary, and the detector 41 including the shield, the X-ray alignment plate 500, the space combiner 40, and the accumulation type image sensor 41D is fixed by the frame 18. It is. The frame 18 is reciprocated at a high speed by the frame driving device 16 as shown in FIG. If three accumulated image sensors are shown in FIG. 30, and three rows of accumulated image sensors are juxtaposed at right angles to the direction of movement of the frame, a single image of 3x3x2 = 18 layers in one round trip of the frame. Is obtained. If the reciprocating motion of the frame 18 is reciprocated 10 times in one second, a tomographic image is obtained with 3x3x2x10 = 180 layers in one second.

축적형 화상센서인 에리어형 CCD 촬영센서(41D)에서의 CCD의 축적전하의 이동은 기술하였는데 그 축적전하의 이동속도는 등가적으로 피사체의 각 단층의 각각의 이동속도에 같이 되도록 CCD 드라이브 회로(22)로부터 구동신호가 공급된다. 에리어형 CCD 촬영센서(41D)에로부터 출력되는 신호는 단층화상 원화(原畵) 메모리(31)로 보내져서 메모리된다. 단층각도 변환이 불필요한 경우에는 도시되어 있는 하이 패스 필터 회로(35)를 경유하여 또는 경유하지 않고, 직접 도시되어 있는 디스프레이(33)와 화상파일(34)에 전송되어 단층화상의 표시 및 기록보존이 이루어진다. 피사체의 등가적인 이동방향과 평행이 아닌 각도의 단층화상이 필요한 경우에는 제29도의 단층화상 변환 발생회로(32)에서 소요각도의 단층화상으로 변환되어 디스프레이(33)와 화상파일(34)로 전송된다. 여기에서 단층화상 변환 발생회로(32)는 이 경우 필요하다면 하이 패스 필터 회로(35)를 포함한 것으로 한다.The movement of the accumulated charge of the CCD in the area-type CCD photographing sensor 41D, which is an accumulation type image sensor, has been described, and the movement of the accumulated charge is equivalent to the movement speed of each tomogram of the subject. 22, a drive signal is supplied. The signal output from the area-type CCD photographing sensor 41D is sent to the tomographic image original memory 31 for storage. When the tomographic angle conversion is unnecessary, it is directly transmitted to the display 33 and the image file 34 shown through the high pass filter circuit 35 shown in the figure, and the display and recording retention of the tomographic image is performed. Is done. If a tomographic image of an angle that is not parallel to the equivalent moving direction of the subject is required, the tomographic image conversion generating circuit 32 of FIG. 29 is converted into a tomographic image of the required angle and transmitted to the display 33 and the image file 34. do. Here, the tomographic image conversion generation circuit 32 includes a high pass filter circuit 35 if necessary in this case.

본 발명의 다른 실시예를 제31도-제35도를 참조하여 설명한다.Another embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 31-35.

제31도에서 피사체(100)은 연속주조기로 생산되는 철강슬라브이며, 고온적열상태이며, 진행방향이라고 화살표로 도시되어 있는 방향으로 이동한다. 철강슬라브의 전형적인 외관은 제32도에 도시한 형상이며, 두께 150mm 정도, 폭 1m에서 3m정도, 전길이 100m 정도의 것이 많으며, 초속 0.1m정도로 도면중에 진행방향이라고 표시한 방향으로 진행한다.In FIG. 31, the object 100 is a steel slab produced by a continuous casting machine, has a high temperature heating state, and moves in a direction indicated by an arrow as a traveling direction. The typical appearance of the steel slab is the shape shown in FIG. 32, which is about 150 mm thick, about 1 m to about 3 m wide, and about 100 m in total length, and progresses in the direction indicated in the drawing at about 0.1 m per second.

제32도에서 도시한 철강슬라브의 단면형상은 구형(軀形)이다. 상기 철강슬라브의 단층화상 촬영의 목적은 주로 제품의 우량, 불량을 판정하는데 있다. 제품의 불량항목으로서는 이물질의 혼입, 표층의 틈새, 표층부근의 틈새, 표층부근의 공간층 등이다. 이들 제품의 불량중 주목해야 할 것은 표층 부근의 결함이다. 예컨대, 표층부근의 틈새등은 유해하며, 다음공정의 압연공정에서도 잔류하거나 혹은 확대할 우려가 있으나, 표층에서 먼 내부에 존재할 경우에는 다음공정의 압면공정에서 압착되어서 무해화한다. 한편, 이물질의 혼입등은 표층, 심층의 구별없이 유해하다.The cross-sectional shape of the steel slab shown in FIG. 32 is spherical. The purpose of the tomographic imaging of the steel slab is mainly to determine the good quality, poor quality of the product. The defective items of the product include the mixing of foreign matter, the gap between the surface layer, the gap near the surface layer, and the spatial layer near the surface layer. Among the defects of these products, one should pay attention to defects near the surface layer. For example, gaps near the surface layer are harmful, and may remain or expand in the rolling process of the next step, but when present in the interior far from the surface layer, they are compressed and harmless in the pressing step of the next step. On the other hand, mixing of foreign matters is harmful without distinguishing between the surface layer and the deep layer.

이상 설명하듯이 철강슬라브의 인라인 제품검사에 있어서는 두께 방향 전체의 일괄 검사로는 불충분하며, 두께 방향의 단층별 검사가 필요하며, 단층화상이 필요하게 된다.As described above, in-line product inspection of steel slabs is insufficient for the entire batch inspection in the thickness direction, and inspection of each layer in the thickness direction is required, and a tomographic image is required.

제31도에서 고전압전원 공급장치(20)은 방사선 발생원인 2차원 또는 3차원 발생원을 보유하는 X-선관(15)에 고전압을 부가한다. 음극용전원 공급장치(21)로부터 공급되는 전력으로 X-선관(15)의 음극은 가열된다. X-선관(15)은 X-선관 수납상자(39A)에 수납되어 주위의 고온분위기로부터 보호된다. 그러므로 수냉배관(39B)을 배설하여 냉각수에 의해 냉각된다. 또한, X-선 출사측에는 얇은 철판에 반사율이 좋은 니켈코팅 등을 하여 적열철판 슬라브로부터의 열선을 반사한 방열반사판(15A)이 배설된다.In FIG. 31, the high voltage power supply 20 adds a high voltage to the X-ray tube 15 having a two-dimensional or three-dimensional source which is a radiation source. The cathode of the X-ray tube 15 is heated by the electric power supplied from the cathode power supply 21. The X-ray tube 15 is accommodated in the X-ray tube storage box 39A and protected from the surrounding high temperature atmosphere. Therefore, the water cooling pipe 39B is disposed and cooled by the cooling water. In addition, on the X-ray emission side, a heat radiation reflecting plate 15A reflecting the heat rays from the red iron plate slab is disposed on a thin iron plate with good reflecting nickel coating or the like.

X-선관(15)으로부터 방사된 X-선은 피사체(100)인 철강슬라브를 투과하여 제30도시와 같이 X-선 센서유닛(14)에 들어간다. X-선 센서유닛(14)로 핀홀(40)를 통과하여 축적형 화상센서인 에리어형 CCD 촬영센서(41D)로 입사한다. 에리어형 CCD 촬영센서(41D)는 피사체(100)의 이동방향에는 적어도 3개, 피사체(100)의 폭방향에는 폭치수에 따라서, 제33도시와 같은 수개-100수개 정도 배설된다. 피사체(100)의 이동방향에는 적어도 3개의 축적형 화상센서가 배설됨으로 적어도 3층 이상, 예컨대, 상층표층, 중앙층, 하측표층과 같이 그 단층이 촬상된다.X-rays radiated from the X-ray tube 15 pass through the steel slab that is the object 100 and enter the X-ray sensor unit 14 as shown in FIG. It passes through the pinhole 40 to the X-ray sensor unit 14 and enters into the area type CCD photographing sensor 41D which is an accumulation type image sensor. The area CCD photographing sensor 41D is disposed at least three in the moving direction of the subject 100 and in the width direction of the subject 100 in the range of several to several hundreds as shown in FIG. At least three accumulation type image sensors are disposed in the moving direction of the subject 100 so that at least three layers, for example, an upper surface layer, a center layer, and a lower surface layer, are imaged.

촬상된 층의 신호는 제34도와 같이 처리된다. 제34도에서는 세로축에 CCD 출력, 가로축에 폭방향 좌표를 취하고 있다. 틈새등이 있으면 그 부분에 대해서는 X선 투과율이 좋아짐으로 신호가 증대한다. 이것을 검사 레벨과의 비교로 결함인지 여부를 판정한다. 에리어형 CCD 촬영센서(41D)의 출력신호는 단층화상 메모리(31), 하이 패스 필터 회로(35), 단층화상이상 검사회로(37)를 처리되어 경보출력장치(38)에 그 판정결과가 출력된다. 한편, 이(異) 상부의 화상은 이(異) 상부 화상용 메모리(36)에 축적되어 CRT 등의 디스프레이(33)에 출력된다. 또한, 여기에서 에리어형 CCD 촬영센서(41D)은 방열 때문에 X-선관과 똑같이 수냉각의 화상센서 상자에 수납된다.The signal of the imaged layer is processed as shown in FIG. In FIG. 34, the CCD output is taken on the vertical axis, and the width direction coordinate is taken on the horizontal axis. If there is a gap or the like, the signal increases because the X-ray transmittance is improved. This is compared with the inspection level to determine whether there is a defect. The output signal of the area CCD photographing sensor 41D is processed by the tomographic image memory 31, the high pass filter circuit 35, and the tomographic image abnormality inspection circuit 37, and the determination result is output to the alarm output device 38. do. On the other hand, the image of the upper part of the tooth is accumulated in the upper image memory 36 and output to the display 33 such as a CRT. Also, the area CCD photographing sensor 41D is housed in a water-cooled image sensor box in the same manner as the X-ray tube because of heat dissipation.

또한, 제31도에서는 3층의 단층검사가 도시되어 있는데 검사층수를 불리는데는 화상센서 수를 피사체의 진행방향으로 증설하거나 또는 제31도의 구성을 1블록으로 하여 복수의 블록을 피사체의 진행방향에 설치하여 검사층수를 증가시키는 것도 가능하다.In addition, in FIG. 31, the three-layer tomographic inspection is shown, which is called the number of inspection floors. The number of image sensors is increased in the direction of travel of the subject, or a plurality of blocks in the direction of travel of the subject are shown in FIG. It is also possible to increase the number of inspection floors by installing.

본 발명의 다른 실시예를 제35도를 참조하여 설명한다. 제35도에서 피사체(100)는 공업제품인 다이케스트 주물제품(62)이다. 이 다이케스트 주물제품은 동일한 금형으로 제조됨으로 그 치수, 형상은 아주 동일하다. 그런데 다이케스트 주물 내에 불량, 결함 등의 치수이상 등이 발생하여 품질관리상 검사를 필요로 한다. 한편, 결함이 있어도 그 존재하는 부분에 따라서는 품질상, 기능상 문제가 되지 않는 경우가 있다. 따라서, 검사는 특정한 단층별로 행하는 것이 바람직스럽다. 제35도시와 같이 피사체(100)는 벨트 콘베너의 벨트(61)에 놓여져서 이산적(離散的) 또는 연속적으로 이송되어 온다. 벨트(61)는 로울러(60)로 이송된다. 로울러(60)는 모우터 드라이브 회로(64)에 의해 구동되는 모우터(63)에 의해 구동된다.Another embodiment of the present invention will be described with reference to FIG. In FIG. 35, the object 100 is a die cast product 62 which is an industrial product. The die cast products are made from the same mold, so their dimensions and shapes are the same. However, quality problems such as defects, defects, etc. occur in the die cast castings and require inspection in quality control. On the other hand, even if there is a defect, there is a case where it does not become a problem in terms of quality and function depending on the existing part. Therefore, it is desirable to perform the inspection for each specific fault. As shown in FIG. 35, the subject 100 is placed on the belt 61 of the belt conveyor and is transferred discretely or continuously. The belt 61 is transferred to the roller 60. The roller 60 is driven by the motor 63 driven by the motor drive circuit 64.

제35도에서 에리어형 CCD 촬영센서(41D)는 두 개 배설되어 있으며, 2층의 단층검사를 할 경우를 도시하고 있는데 에리어형 CCD 촬영센서(41D)의 출력신호는 화상메모리(51A),(51B)에 기억되며, 우량품인 피사체의 기준화상 파일(53)로부터 기준화상 메모리(52A),(52B)를 통한 신호와 화상 비교회로(54A)(54B)로 비교된다. 비교의 결과 이상이라고 판정되면, 그 화상을 디스프레이(33)에 표시하며, 경보처리회로(55)는 이상 판정 결과를 게이트 구동회로(56)로 송신한다. 게이트 구동회로(56)는 이상판정신호를 받아서 게이트(57)를 열어 이상품(異常品)을 구분 선별한다.In FIG. 35, two area CCD photographing sensors 41D are disposed, and a case of performing a two-layer tomographic inspection is shown. The output signal of the area CCD photographing sensor 41D is an image memory 51A, ( It is stored in 51B, and is compared with a signal from the reference image file 53 of a subject of good quality through the reference image memories 52A and 52B to the image comparison circuits 54A and 54B. If it is determined that the result of the comparison is abnormal, the image is displayed on the display 33, and the alarm processing circuit 55 transmits the abnormality determination result to the gate driving circuit 56. The gate driving circuit 56 receives the abnormal determination signal, opens the gate 57, and classifies the product.

본 발명의 목적은 이하 설명하는 본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제에서 언급한 바와 같이 선명한 X-선 화상을 얻으며, 단시간에 단층화상을 얻을 수 있으며, 또한, 입체적인 단층화상을 얻을 수 있으며, 적은 피복량으로 생물체나 비생물체의 피사체의 투과 X-선 화상 및 이에 대한 단층화상을 취득하기 위한 방사선 화상 촬상 방법 및 그 시스템을 제공하는데 있다.The object of the present invention is to obtain a clear X-ray image, tomographic images in a short time, and to obtain a three-dimensional tomographic image, as mentioned in the technical problem to be achieved by the present invention to be described below, a small amount of coating The present invention provides a radiographic imaging method and system for acquiring a transmission X-ray image of a living subject or a non-living subject and a tomography image thereof.

Claims (12)

소정위치에서 수속(收束)하는 X-선 다발을 포함한 X-선을 발생하는 수속형(convergence type) X-선 발생부와, 이 수속형 X-선 발생부와 대향하고 또한, 상기 피사체를 끼도록 배치된 X-선 검출부와 상기 피사체와 상기 X-선 검출부와의 사이에 배치된 핀홀부재와, 상기 X-선 검출부로부터의 출력신호를 신호 처리하는 신호처리부와를 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.A convergence type X-ray generating unit for generating an X-ray including an X-ray bundle that converges at a predetermined position, and the convergence type X-ray generating unit to face the subject; And a pinhole member disposed between the object and the X-ray detector, and a signal processor for signal-processing an output signal from the X-ray detector. Radiographic imaging system. 제1항에 있어서, 상기 수속형 X-선 발생부와, 상기 핀홀부재와, 상기 X-선 검출부와의 쌍과, 상기 피사체와를 상대적으로 이동시키는 이동수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The radiographic image according to claim 1, further comprising: a pair of the converging X-ray generating unit, the pinhole member, the X-ray detecting unit, and moving means for relatively moving the subject. Imaging system. 제1항에 있어서, 상기 X-선 검출부는 축적형 2차원 X-선 검출기를 구비하며, 당해 축적형 2차원 X-선 검출기는 축적전하(蓄積電荷)를 상기 피사체와 상기 X-선 검출부와의 상대적인 이동속도에 대응하는 이동속도로 이동시키는 수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The X-ray detector of claim 1, wherein the X-ray detector includes an accumulation type two-dimensional X-ray detector, and the accumulation type two-dimensional X-ray detector is configured to store accumulated charges with the subject and the X-ray detection unit. And means for moving at a movement speed corresponding to the relative movement speed of the apparatus. 제1항에 있어서, 상기 수속형 X-선 발생부는 병열로 배치한 복수의 수속형 X-선 발생기를 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The radiographic imaging system according to claim 1, wherein the converging X-ray generator includes a plurality of converging X-ray generators arranged in parallel. 제1항에 있어서, 상기 X-선 검출부는 축적전하를 이동하고, 또한, 가산하는 이동가산 CCD와 이 이동가산 CCD의 축적전하를 상기 피사체 내의 특정 단층면과 상기 X-선 검출부와의 상대적인 이동속도에 대응하는 이동속도로 이동시키는 이동수단을 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The X-ray detector according to claim 1, wherein the X-ray detector moves accumulated charges, and the moving charge CCD that adds and accumulates charges of the mobile add CCD are moved relative to a specific tomographic plane in the subject and the X-ray detector. And moving means for moving at a movement speed corresponding to the radiation image pickup system. 제1항에 있어서, 상기 신호처리계는 하이 패스 필터를 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The radiographic imaging system according to claim 1, wherein said signal processing system includes a high pass filter. 제1항에 있어서, 상기 핀홀부재는 X-선의 수속 및 발산각도가 50℃ 이상으로 되는 기능을 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The radiographic image capturing system according to claim 1, wherein the pinhole member has a function that the convergence and divergence angle of the X-ray is 50 ° C or more. 제1항에 있어서, 상기 핀홀부재와 상기 X-선 검출부와는 근접하여 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The radiographic image capturing system according to claim 1, wherein the pinhole member and the X-ray detector are disposed in close proximity to each other. 제1항에 있어서, 상기 핀홀부재는 핀홀판과 스릿판과를 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The radiographic imaging system according to claim 1, wherein the pinhole member includes a pinhole plate and a slit plate. 제1항에 있어서, 상기 수속형 X-선 발생부와 상기 피사체와의 사이에 상기 X-선 검출부에 입사하지 않는 X-선이 상기 피사체에 조사하는 양을 억제하기 위한 alignment 부재를 구비하는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.The apparatus of claim 1, further comprising an alignment member for suppressing the amount of X-rays not incident on the X-ray detector between the converging type X-ray generator and the subject to irradiate the subject. A radiographic imaging system. 제1항에 있어서, 상기 alignment 부재는 평행으로 배치된 제1, 제2 alignment 판을 구비하며, 이들 판에는 다수의 구멍이 형성되며, 제2 alignment판의 구멍의 중심좌표를 비례축소 또는 비례확대한 것에 설정되어 있는 것을 특징으로 하는 방사선 화상 촬상 시스템.According to claim 1, wherein the alignment member has a first alignment plate and a second alignment plate arranged in parallel, these plates are formed with a plurality of holes, proportional reduction or proportional enlargement of the center coordinates of the holes of the second alignment plate It is set to one thing, The radiographic image imaging system characterized by the above-mentioned. 소정위치에서 수속하도록 X-선 발생하는 스텝과, 이 발생된 X-선을 피사체에 조사하며, 피사체를 투과한 투과 X-선을 핀홀부재를 통하여 검출하는 스텝과, 그 검출신호를 신호처리하는 스텝을 구비하는 피사체를 X-선 화상 촬상하기 위한 방법.A step of generating X-rays to converge at a predetermined position, irradiating the generated X-rays to the subject, detecting the transmitted X-rays passing through the subject through the pinhole member, and signal processing the detected signals A method for imaging an X-ray image of a subject having a step.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR20190017110A (en) * 2017-08-10 2019-02-20 김기경 Radiation shield filter, and filter assembly for radiographic devices including the same

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KR20190017110A (en) * 2017-08-10 2019-02-20 김기경 Radiation shield filter, and filter assembly for radiographic devices including the same

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