KR102634481B1 - System for fast antenna testing in multi-band and method thereof - Google Patents

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Abstract

복수대역 안테나 고속측정시스템 및 그 방법이 개시된다. 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템은 소정의 교차지점에서 서로 교차하는 제1아크와 제2아크를 포함하며 상기 제1아크와 상기 제2아크의 내측으로 스피어 공간이 형성되도록 하는 아크 구조물, 상기 스피어 공간 상에서 테스트 대상인 대상 안테나를 고정하기 위한 고정부, 상기 고정부를 제어하여 상기 대상 안테나의 회전을 제어하기 위한 포지셔너, 제1대역의 신호를 수신하기 위해 상기 제1아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치되는 복수의 제1프로브들을 포함하는 제1프로브 세트, 및 제2대역의 신호를 수신하기 위해 상기 제2아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치되는 복수의 제2프로브들을 포함하는 제2프로브 세트를 포함한다.A multi-band antenna high-speed measurement system and method are disclosed. The multi-band antenna high-speed measurement system includes a first arc and a second arc that intersect each other at a predetermined intersection point, an arc structure such that a sphere space is formed inside the first arc and the second arc, and the sphere space. A fixing part for fixing the target antenna that is to be tested on the fixed part, a positioner for controlling the rotation of the target antenna by controlling the fixing part, and a predetermined interval on the sphere space side of the first arc to receive the signal of the first band. A first probe set including a plurality of first probes spaced apart from each other, and a plurality of second probes spaced apart from each other at predetermined intervals on the sphere space side of the second arc to receive signals of a second band. It includes a second probe set including:

Description

복수대역 안테나 고속측정시스템 및 그 방법{System for fast antenna testing in multi-band and method thereof}{System for fast antenna testing in multi-band and method thereof}

본 발명은 복수대역 안테나 고속측정시스템 및 그 방법에 관한 것이다. The present invention relates to a multi-band antenna high-speed measurement system and method.

보다 상세하게는 복수대역에 대해 안테나의 성능을 고속으로 측정할 수 있는 시스템 및 그 방법에 관한 것이다. More specifically, it relates to a system and method that can measure antenna performance in multiple bands at high speed.

무선 트래픽 증가, 대용량 데이터 전송 등 전파자원의 수요가 급증함에 따라 빠른 시간 내에 안테나의 성능을 고속으로 측정할 수 있는 기술의 필요성이 증대되고 있다.As the demand for radio resources increases rapidly, such as increased wireless traffic and large-capacity data transmission, the need for technology that can measure antenna performance at high speed in a short period of time is increasing.

특히 최근 5G 등의 통신환경에서 신기술 안테나들은 다수의 안테나 소자를 기반으로 다중 빔포밍을 수행하는 특성을 가지고 있다. In particular, in recent communication environments such as 5G, new technology antennas have the characteristic of performing multiple beamforming based on multiple antenna elements.

하지만, 이러한 안테나 측정(테스트)을 위해서는 기존의 방식과 같이 하나 또는 소수의 프로브를 이동하면서 안테나의 신호 방사성능을 측정하는 방식은 상당한 시간과 자원이 소요될 수 밖에 없다. However, for such antenna measurement (testing), measuring the signal radiation performance of the antenna while moving one or a few probes, as in the existing method, inevitably takes a considerable amount of time and resources.

도 1은 종래의 안테나 측정방식의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.1 is a diagram for explaining an example of a conventional antenna measurement method.

도 1은 최근의 고주파수 대역에서의 안테나 측정을 위해 널리 사용되고 있는 NFTF(Near Field to Far Field Transform) 방식의 안테나 성능 측정 방식을 설명하고 있다.Figure 1 illustrates the antenna performance measurement method of the NFTF (Near Field to Far Field Transform) method, which has recently been widely used for antenna measurement in high frequency bands.

도 1에 도시된 바와 같이 NFTF 안테나 측정 방식은 평면형(planar), 실린더형(Cylindrical), 스피어형(Spherical) 성능 측정 방식이 존재한다.As shown in Figure 1, NFTF antenna measurement methods exist in planar, cylindrical, and spherical performance measurement methods.

이러한 방식은 안테나의 지향성이나 방사패턴에 따라 선택적으로 이용될 수 있다.This method can be selectively used depending on the antenna's directivity or radiation pattern.

종래의 방식은 통상적으로 테스트 대상 안테나(AUT)가 출력하는 신호를 수신하기 위한 프로브를 미리 정해진 그리드 포인트마다 이동해가면서 테스트 대상 안테나(AUT)가 출력하는 신호를 수신하고 이를 분석하여 방사성능(방사패턴, 신호세기 등)를 측정하는 방식이 이용되고 있다. The conventional method generally moves the probe for receiving the signal output from the antenna under test (AUT) to each predetermined grid point, receives the signal output from the antenna under test (AUT), analyzes it, and determines the radiation performance (radiation pattern). , signal strength, etc.) are being used.

또한 실린더형 또는 스피어형 측정 방식의 경우 프로브의 이동과 함께 테스트 대상 안테나(AUT)를 회전해가면서 측정을 수행하기도 하며, 필요에 따라서 구형 측정 방식의 경우 스피어의 일 외주에 해당하는 아크에 복수의 프로브를 설치하여 전체 스피어에 해당하는 그리드 포인트별 신호수신을 수행하기도 한다.In addition, in the case of a cylindrical or sphere-type measurement method, measurements are performed by rotating the antenna under test (AUT) along with the movement of the probe. If necessary, in the case of a spherical measurement method, a plurality of devices are applied to the arc corresponding to one outer circumference of the sphere. By installing a probe, signal reception is performed for each grid point corresponding to the entire sphere.

하지만 이러한 종래의 방식만으로는 전술한 바와 같이 상당한 시간과 자원이 소요될 수밖에 없으며, 하나의 주파수 대역에 상응하는 안테나만 테스트가 가능하고 다른 대역의 안테나에 대한 테스트를 수행하기 위해서는 다른 대역을 측정할 수 있는 별개의 측정시스템에서 테스트를 수행해야 하는 문제가 있다.However, this conventional method alone inevitably takes a considerable amount of time and resources as described above, and only antennas corresponding to one frequency band can be tested, and in order to perform tests on antennas in other bands, other bands must be measured. There is the problem of having to perform tests in separate measurement systems.

한국공개특허 1020200093759호 "안테나 성능 측정 방법 및 이를 위한 챔버"Korean Patent Publication No. 1020200093759 “Method for measuring antenna performance and chamber for the same”

본 발명은 상기 종래 기술의 제문제를 해결하고자 안출된 발명으로써, 복수의 주파수 대역에 대해서 안테나 성능의 고속 측정이 가능한 복수대역 안테나 고속측정시스템 및 그 방법을 제공하는 것이다. The present invention is an invention made to solve the problems of the prior art, and provides a multi-band antenna high-speed measurement system and method capable of high-speed measurement of antenna performance for multiple frequency bands.

본 발명의 일 측면에 따른 복수대역 안테나 고속측정시스템은 소정의 교차지점에서 서로 교차하는 제1아크와 제2아크를 포함하며 상기 제1아크와 상기 제2아크의 내측으로 스피어 공간이 형성되도록 하는 아크 구조물, 상기 스피어 공간 상에서 테스트 대상인 대상 안테나를 고정하기 위한 고정부, 상기 고정부를 제어하여 상기 대상 안테나의 회전을 제어하기 위한 포지셔너, 제1대역의 신호를 수신하기 위해 상기 제1아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치되는 복수의 제1프로브들을 포함하는 제1프로브 세트, 및 제2대역의 신호를 수신하기 위해 상기 제2아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치되는 복수의 제2프로브들을 포함하는 제2프로브 세트를 포함한다.The multi-band antenna high-speed measurement system according to one aspect of the present invention includes a first arc and a second arc that intersect each other at a predetermined intersection point, and a sphere space is formed inside the first arc and the second arc. An arc structure, a fixing part for fixing a target antenna to be tested in the sphere space, a positioner for controlling the rotation of the target antenna by controlling the fixing part, and the first arc for receiving a signal of a first band. A first probe set including a plurality of first probes arranged at predetermined intervals on the sphere space side, and disposed at predetermined intervals on the sphere space side of the second arc to receive signals of a second band. and a second probe set including a plurality of second probes.

상기 복수대역 안테나 고속측정시스템은, 상기 제1프로브 세트 또는 상기 제2프로브 세트 중 어느 하나를 선택하기 위한 대역선택 스위치, 상기 대역선택 스위치에 의해 선택한 프로브 세트에 포함되는 프로브들 중 어느 하나를 선택하기 위한 프로브 선택 스위치, 및 상기 대역선택 스위치와 상기 프로브 선택 스위치를 제어하여 선택된 프로브로부터 신호처리장치를 통해 입력신호에 상응하는 신호 데이터를 전달받아 상기 대상 안테나의 방사성능을 도출하기 위한 제어유닛을 더 포함할 수 있다.The multi-band antenna high-speed measurement system includes a band selection switch for selecting either the first probe set or the second probe set, and one of the probes included in the probe set selected by the band selection switch. a probe selection switch for controlling the band selection switch and the probe selection switch, and receiving signal data corresponding to the input signal from the selected probe through a signal processing device to derive the radiation performance of the target antenna. More may be included.

상기 제어유닛은 상기 포지셔너를 제어하여, 상기 대상 안테나를 엘리베이션 방향으로 일정 각도 회전시킨 후 방위각 방향으로 회전시키면서 테스트를 수행하는 것을 특징으로 할 수 있다.The control unit may control the positioner to perform a test while rotating the target antenna at a certain angle in the elevation direction and then rotating it in the azimuth direction.

상기 아크 구조물은, 상기 교차지점에는 상기 제1대역에 상응하는 제1프로브 또는 상기 제2대역에 상응하는 제2프로브가 선택적으로 교체될 수 있도록 형성되는 것을 특징으로 할 수 있다.The arc structure may be formed at the intersection point so that a first probe corresponding to the first band or a second probe corresponding to the second band can be selectively replaced.

상기 교차지점에는 상기 제1대역 및 상기 제2대역에 모두 상응하는 광대역 프로브가 배치되는 것을 특징으로 할 수 있다.Broadband probes corresponding to both the first band and the second band may be disposed at the intersection point.

상기 제1프로브들 및 상기 제2프로브들은, 각각 미리 정해진 간격으로 이격되어 배치되되, 상기 교차지점에는 프로브가 배치되지 않는 것을 특징으로 할 수 있다.The first probes and the second probes may be disposed to be spaced apart from each other at a predetermined interval, but the probe may not be disposed at the intersection point.

상기 고정부는 상기 대상 안테나의 방향을 상기 교차지점과 직교방향으로 배치하는 것을 특징으로 할 수 있다.The fixing unit may be characterized in that the direction of the target antenna is arranged in a direction perpendicular to the intersection point.

상기 복수대역 안테나 고속측정시스템은 상기 아크 구조물의 외곽에 설치되며, 상기 대상 안테나가 발생시키는 신호를 수신하여 신호처리장치로 전달하는 위상 레퍼런스 프로부를 적어도 하나 더 포함하며, 상기 제어유닛은 상기 위상 레퍼런스 프로브로부터 수신되는 신호의 위상정보를 레퍼런스 위상으로 활용할 수 있다.The multi-band antenna high-speed measurement system is installed on the outside of the arc structure and further includes at least one phase reference pro unit that receives a signal generated by the target antenna and transmits it to a signal processing device, and the control unit receives the signal generated by the target antenna and transmits it to a signal processing device. The phase information of the signal received from the probe can be used as a reference phase.

상기 복수대역 안테나 고속측정시스템은, 복수의 위상 레퍼런스 프로브들을 포함하며, 상기 제어유닛은 상기 복수의 위상 레퍼런스 프로브들이 각각 수신한 신호 중 전력이 보다 센 신호의 위상을 레퍼런스 위상으로 활용할 수 있다.The multi-band antenna high-speed measurement system includes a plurality of phase reference probes, and the control unit may utilize the phase of a signal with higher power among signals received by each of the plurality of phase reference probes as a reference phase.

상기 제어유닛은 적어도 하나의 위상 레퍼런스 프로브를 상기 대상 안테나의 회전과 동일한 회전을 수행하도록 제어하는 것을 특징으로 할 수 있다.The control unit may control at least one phase reference probe to perform the same rotation as the rotation of the target antenna.

본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 복수대역 안테나 고속측정방법은 복수대역 안테나 고속측정시스템이, 소정의 교차지점에서 서로 교차하는 제1아크와 제2아크를 포함하며 상기 제1아크와 상기 제2아크의 내측으로 형성되는 스피어 공간에 배치되는 상기 대상 안테나를 테스트하기 위해, 상기 제1아크 또는 상기 제2아크 중 어느 하나를 선택하는 단계, 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템이 선택한 프로브 세트에 포함되는 프로브들을 순차적으로 선택하여 선택된 프로브로부터 전달되는 입력신호를 수신하는 단계, 및 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템이 수신한 입력신호에 기초하여 상기 대상 안테나의 성능을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.A multi-band antenna high-speed measurement method for implementing the technical idea of the present invention is a multi-band antenna high-speed measurement system that includes a first arc and a second arc that intersect each other at a predetermined intersection point, and the first arc and the second arc intersect each other at a predetermined intersection point. In order to test the target antenna disposed in the sphere space formed inside the arc, selecting either the first arc or the second arc, included in the probe set selected by the multi-band antenna high-speed measurement system It may include sequentially selecting probes and receiving an input signal transmitted from the selected probe, and measuring performance of the target antenna based on the input signal received by the multi-band antenna high-speed measurement system.

상기의 방법들은 컴퓨터 판독가능한 기록매체에 저장된 컴퓨터 프로그램에 의해 구현될 수 있다.The above methods can be implemented by a computer program stored in a computer-readable recording medium.

본 발명의 일 실시예에 따르면, 특정 신호대역의 성능 측정에 적합하도록 설치되는 아크(Arc)를 복수개 구비하고, 복수 개의 아크들 각각에 복수 개의 프로브들을 배치함으로써 복수 대역의 안테나들 또는 광대역 안테나에 대해 고속의 성능 측정(테스트)가 가능한 효과가 있다. According to an embodiment of the present invention, a plurality of arcs are installed to be suitable for measuring the performance of a specific signal band, and a plurality of probes are placed on each of the plurality of arcs to connect to multiple band antennas or broadband antennas. This has the effect of enabling high-speed performance measurement (testing).

본 발명의 상세한 설명에서 인용되는 도면을 보다 충분히 이해하기 위하여 각 도면의 간단한 설명이 제공된다.
도 1은 종래의 안테나 측정 방식을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 복수대역 안테나 고속측정시스템의 개략적인 구조물을 나타내기 위한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 복수대역 안테나 고속측정시스템의 구성도를 설명하기 위한 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 아크 구조물을 설명하기 위한 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 아크 구조물의 교차지점의 실시 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 고정부의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 포지셔너의 이 예를 설명하기 위한 도면이다.
In order to more fully understand the drawings cited in the detailed description of the present invention, a brief description of each drawing is provided.
1 is a diagram for explaining a conventional antenna measurement method.
Figure 2 is a diagram showing the schematic structure of a multi-band antenna high-speed measurement system according to an embodiment of the present invention.
Figure 3 is a diagram illustrating the configuration of a multi-band antenna high-speed measurement system according to an embodiment of the present invention.
Figure 4 is a diagram for explaining an arc structure according to an embodiment of the present invention.
Figure 5 is a diagram for explaining an example of an intersection point of an arc structure according to an embodiment of the present invention.
Figure 6 is a diagram for explaining an example of a fixing unit according to an embodiment of the present invention.
7 is a diagram for explaining this example of a positioner according to an embodiment of the present invention.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Since the present invention can be modified in various ways and can have various embodiments, specific embodiments will be illustrated in the drawings and described in detail in the detailed description. However, this is not intended to limit the present invention to specific embodiments, and should be understood to include all transformations, equivalents, and substitutes included in the spirit and technical scope of the present invention. In describing the present invention, if it is determined that a detailed description of related known technologies may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.Terms such as first, second, etc. may be used to describe various components, but the components should not be limited by the terms. The above terms are used only for the purpose of distinguishing one component from another.

본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. The terms used in this application are only used to describe specific embodiments and are not intended to limit the invention. Singular expressions include plural expressions unless the context clearly dictates otherwise.

본 명세서에 있어서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.In this specification, terms such as “comprise” or “have” are intended to designate the presence of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof described in the specification, but are intended to indicate the presence of one or more other It should be understood that this does not exclude in advance the presence or addition of features, numbers, steps, operations, components, parts, or combinations thereof.

또한, 본 명세서에 있어서는 어느 하나의 구성요소가 다른 구성요소로 데이터를 '전송'하는 경우에는 상기 구성요소는 상기 다른 구성요소로 직접 상기 데이터를 전송할 수도 있고, 적어도 하나의 또 다른 구성요소를 통하여 상기 데이터를 상기 다른 구성요소로 전송할 수도 있는 것을 의미한다. 반대로 어느 하나의 구성요소가 다른 구성요소로 데이터를 '직접 전송'하는 경우에는 상기 구성요소에서 다른 구성요소를 통하지 않고 상기 다른 구성요소로 상기 데이터가 전송되는 것을 의미한다.Additionally, in this specification, when one component 'transmits' data to another component, the component may transmit the data directly to the other component, or through at least one other component. This means that the data can be transmitted to the other components. Conversely, when one component 'directly transmits' data to another component, it means that the data is transmitted from the component to the other component without going through the other component.

이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예들을 중심으로 본 발명을 상세히 설명한다. 각 도면에 제시된 동일한 참조부호는 동일한 부재를 나타낸다.Hereinafter, the present invention will be described in detail focusing on embodiments of the present invention with reference to the attached drawings. The same reference numerals in each drawing indicate the same member.

도 2는 본 발명의 일 실시 예에 복수대역 안테나 고속측정시스템의 개략적인 구조물을 나타내기 위한 도면이다.Figure 2 is a diagram showing the schematic structure of a multi-band antenna high-speed measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 기술적 사상에 따른 복수대역에서의 안테나 고속측정방법을 구현하기 위해서는 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)이 구비될 수 있다.Referring to FIG. 2, in order to implement a high-speed antenna measurement method in multiple bands according to the technical idea of the present invention, a multi-band antenna high-speed measurement system 1000 may be provided.

상기 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)은 소정의 챔버 안에 구비될 수 있으며, 도 2에 도시된 바와 같이 챔버의 내측 벽에는 전파흡수체(예컨대, 피라미드형 전파흡수체)가 다수 설치되어 테스트 대상 안테나(AUT, 10)가 방사하는 신호가 챔버 내에서 반사되지 않도록 할 수 있다.The multi-band antenna high-speed measurement system 1000 can be installed in a predetermined chamber, and as shown in FIG. 2, a number of radio wave absorbers (e.g., pyramid-shaped radio wave absorbers) are installed on the inner wall of the chamber to form a test target antenna ( It is possible to prevent signals emitted by AUT, 10) from being reflected within the chamber.

상기 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)은 아크 구조물(100)이 포함된다.The multi-band antenna high-speed measurement system 1000 includes an arc structure 100.

상기 아크 구조물(100)은 복수 개의 아크를 형성할 수 있고, 복수 개의 아크들에 의해 내측에 스피어 공간이 형성될 수 있다.The arc structure 100 may form a plurality of arcs, and a sphere space may be formed on the inside by the plurality of arcs.

본 발명의 일 실시 예에서는, 설명의 편의를 위해 상기 아크 구조물(100)이 두 개의 아크를 포함하는 경우를 예시적으로 설명하지만 본 발명의 기술적 사상은 3 개 이상의 아크를 갖는 경우에도 용이하게 적용될 수 있음을 본 발명의 기술분야의 평균적 전문가는 용이하게 추론할 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 권리범위는 본 실시 예에 국한되지는 않는다.In one embodiment of the present invention, for convenience of explanation, the case where the arc structure 100 includes two arcs is exemplarily described, but the technical idea of the present invention can be easily applied even when it has three or more arcs. An average expert in the technical field of the present invention can easily infer that this is possible. Therefore, the scope of the present invention is not limited to this embodiment.

아크 구조물(100)의 외벽에도 마찬가지로 전파흡수체가 설치되어 테스트 대상 안테나(10)로부터 출력된 신호의 반사를 억제하도록 구현될 수 있다.Likewise, a radio wave absorber may be installed on the outer wall of the arc structure 100 to suppress reflection of the signal output from the test target antenna 10.

아크 구조물(100)에 구비되는 아크들 각각은 아크 구조물(100)이 내측으로 형성하는 스피어 공간의 외주에 해당할 수 있으며, 아크들 각각은 어느 하나의 주파수 대역에 상응하도록 구비될 수 있다. Each of the arcs provided in the arc structure 100 may correspond to the outer periphery of the sphere space formed inside the arc structure 100, and each of the arcs may be provided to correspond to one frequency band.

아크들 각각이 어느 하나의 주파수 대역에 상응한다고 함은, 어느 하나의 아크는 특정 주파수 대역의 테스트에 이용될 수 있고, 다른 아크는 다른 주파수 대역의 테스트에 이용됨을 의미할 수 있다. The fact that each of the arcs corresponds to a certain frequency band may mean that one arc can be used for testing a specific frequency band, and the other arc can be used for testing a different frequency band.

이를 위해 각각의 아크들에는 상응하는 주파수 대역의 신호를 효과적으로 수신할 수 있도록 설계된 프로브들(400, 500)이 복수 개 배치될 수 있다. To this end, a plurality of probes 400 and 500 designed to effectively receive signals of corresponding frequency bands may be disposed in each arc.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 아크 구조물을 설명하기 위한 도면인데, 도 3 및 도 4를 참조하면, 아크 구조물(100)은 제1아크(110) 및 제2아크(120)를 적어도 포함할 수 있다. Figure 4 is a diagram for explaining an arc structure according to an embodiment of the present invention. Referring to Figures 3 and 4, the arc structure 100 includes at least a first arc 110 and a second arc 120. can do.

본 발명의 실시 예에서, 상기 아크 구조물(100)은 2 개의 아크를 포함하는 경우를 예시하고 있지만 본 발명의 권리범위가 이에 국한되지는 않음은 전술한 바와 같다.In an embodiment of the present invention, the arc structure 100 includes two arcs, but as described above, the scope of the present invention is not limited thereto.

상기 제1아크(110)와 상기 제2아크(120)는 소정의 교차지점(130)에서 교차하도록 형성될 수 있다.The first arc 110 and the second arc 120 may be formed to intersect at a predetermined intersection point 130.

또한 상기 제1아크(100)와 상기 제2아크(120)를 지지하기 위한 지지체가 도 3에 도시된 바와 같이 구비될 수 있다. Additionally, a supporter for supporting the first arc 100 and the second arc 120 may be provided as shown in FIG. 3 .

제1아크의 내측에는 복수 개의 제1프로브들(400)을 포함하는 제1프로브 세트가 배치될 수 있다.A first probe set including a plurality of first probes 400 may be disposed inside the first arc.

또한 제2아크의 내측에는 복수 개의 제2프로브들(500)을 포함하는 제2프로브 세트가 배치될 수 있다.Additionally, a second probe set including a plurality of second probes 500 may be disposed inside the second arc.

도 4에 도시된 바와 같은 아크 구조물(100)의 외측에는 전파흡수체가 부착되어 도 2에 도시된 바와 같은 형상을 가질 수 있다.A radio wave absorber may be attached to the outside of the arc structure 100 as shown in FIG. 4 to have a shape as shown in FIG. 2.

각각의 아크에는 프로브들 배치될 수 있는 위치들이 미리 정해져 있을 수 있다. 각각의 위치에는 신호를 수신하는 전면 측이 스피어 공간측으로 배치되고, 스피어 공간 외측으로는 프로브에 입력되는 신호들이 전달되는 신호라인이 설치될 수 있도록 프로브 결합구조가 형성되어 있을 수 있다.In each arc, positions where probes can be placed may be predetermined. At each position, the front side that receives the signal is placed toward the sphere space, and a probe coupling structure may be formed outside the sphere space so that a signal line through which signals input to the probe can be transmitted can be installed.

상기 결합구조는 프로브가 삽입될 수 있거나, 소정의 방식으로 거치 또는 체결될 수 있는 방식 등 다양한 실시 예가 가능할 수 있다.The coupling structure may have various embodiments, such as a probe into which a probe can be inserted, or a method where it can be mounted or fastened in a predetermined manner.

상기 프로브 결합구조의 위치는 고정되어 있을 수도 있다. 그리고 아크들(110, 120) 각각에서 프로브가 결합되는 위치는 미리 정해진 고정된 간격을 가지도록 결정될 수도 있다.The position of the probe coupling structure may be fixed. Additionally, the position where the probe is coupled in each of the arcs 110 and 120 may be determined to have a fixed, predetermined interval.

다른 실시 예에 의하면, 프로브들의 결합위치가 가변되도록 구현될 수도 있다. 예컨대, 아크들(110, 120) 각각의 내측으로 아크의 길이 방향으로 소정의 홈이 형성되고, 상기 홈에 프로브들 각각의 일부가 체결된 채 홈을 따라 슬라이딩하는 방식 등으로 아크에 결합되는 위치가 가변적으로 선택되도록 구현될 수도 있다. 또는 기타 다양한 방식으로 프로브들의 위치가 이동되도록 구현될 수도 있다.According to another embodiment, the binding positions of the probes may be implemented to be variable. For example, a predetermined groove is formed inside each of the arcs 110 and 120 in the longitudinal direction of the arc, and a portion of each probe is fastened to the groove and slides along the groove, so as to be coupled to the arc. may be implemented to be variably selected. Alternatively, the positions of the probes may be moved in various other ways.

한편, 테스트 대상 안테나(10)는 상기 아크 구조물(100)이 형성하는 스피어 공간 내부에 위치하며, 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)의 제어에 따라 또는 자발적으로 신호를 방사할 수 있다. Meanwhile, the test target antenna 10 is located inside the sphere space formed by the arc structure 100, and can radiate signals under the control of the multi-band antenna high-speed measurement system 1000 or spontaneously.

테스트 대상 안테나(10)에 의해 방사되는 신호는 아크들 각각에 배치되는 프로브들에 의해 수신되며, 수신된 입력신호는 후술할 바와 같은 신호처리장치를 통해 제어유닛으로 전송될 수 있다. The signal radiated by the test target antenna 10 is received by probes disposed in each of the arcs, and the received input signal can be transmitted to the control unit through a signal processing device as will be described later.

그러면 제어유닛에 의해 방사성능(방사패턴 및 신호세기 등)이 측정되는 안테나의 테스트가 수행될 수 있다.Then, a test of the antenna in which radiation performance (radiation pattern and signal strength, etc.) is measured can be performed by the control unit.

상기 테스트 대상 안테나(10)는 소정의 고정부(200)에 의해 고정되며, 상기 고정부(200)는 포지셔너(300)에 의해 회전될 수 있다.The test target antenna 10 is fixed by a predetermined fixing part 200, and the fixing part 200 can be rotated by the positioner 300.

상기 고정부(200)는 테스트 대상 안테나(10)를 거치, 부착, 또는 체결하여 고정할 수 있도록 구현되면 족하며, 상기 고정부(200) 역시 가급적 전파흡수체가 외측에 부착되거나 또는 전파의 반사특성이 낮은 재질로 구현될 수 있다.It is sufficient for the fixing part 200 to be implemented so that it can be fixed by mounting, attaching, or fastening the antenna to be tested 10, and the fixing part 200 also preferably has a radio wave absorber attached to the outside or has reflection characteristics of radio waves. This can be implemented with low-quality materials.

상기 고정부(200)는 포지셔너(300)에 의해 움직임이 제어될 수 있다.The movement of the fixing part 200 may be controlled by the positioner 300.

상기 포지셔너(300)는 후술할 바와 같이, 고정부(200)를 제어하여 테스트 대상 안테나(10)가 방위각 방향(Azimuth) 방향(예컨대, 아크 구조물(100)의 수평 방향)으로 회전하도록 하거나 또는 엘리베이션(elevation) 방향(예컨대, 아크 구조물(100)의 수직방향)으로 회전하도록 할 수 있다. As will be described later, the positioner 300 controls the fixing unit 200 to rotate the antenna under test 10 in the azimuth direction (e.g., the horizontal direction of the arc structure 100) or performs elevation. It can be rotated in the (elevation) direction (for example, the vertical direction of the arc structure 100).

상기 포지셔너(300)는 제어유닛의 제어 하에 상기 테스트 대상 안테나(10)를 방위각 방향으로 회전시키면서 테스트를 수행할 수 있고, 스피어 상에서 샘플링 간격이 넓은 경우에 상기 포지셔너(300)를 통해 엘리베이션 방향으로 테스트 대상 안테나(10)를 일정 각도 회전시켜서 테스트 대상 안테나(10)를 기울인 후 상기 방위각 방향으로 회전시킴으로써 공간 상에서 보다 좁은 샘플링 간격을 갖는 위치들에서 입력신호를 획득할 수 있는 효과를 가질 수도 있다.The positioner 300 can perform the test while rotating the test target antenna 10 in the azimuth direction under the control of the control unit, and when the sampling interval on the sphere is wide, the test is performed in the elevation direction through the positioner 300. By rotating the target antenna 10 at a certain angle, tilting the test antenna 10, and then rotating it in the azimuth direction, it is possible to obtain an input signal at locations with narrower sampling intervals in space.

한편 챔버 내에는 도 2에 도시된 바와 같이 사람의 이동경로를 위한 워크웨이(20)가 배치되어야 하며, 이러한 워크웨이(20) 역시 전파흡수체로 구현되는 것이 바람직하다.Meanwhile, as shown in FIG. 2, a walkway 20 for a person's movement path must be placed within the chamber, and it is preferable that the walkway 20 is also implemented as a radio wave absorber.

이때 상기 워크웨이(20)는 도 2에 도시된 바와 같이 아크 구조물(100)의 사이에 웨지(wedge) 형상을 가지도록 설계될 수 있으며, 이를 통해 아크 구조물(100)의 중앙까지의 접근성을 향상시킬 수 있다.At this time, the walkway 20 may be designed to have a wedge shape between the arc structures 100 as shown in FIG. 2, thereby improving accessibility to the center of the arc structure 100. You can.

도 2에 도시된 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)은 챔버 내의 구조물을 위주로 설명하였으며, 성능 측정을 위한 데이터처리 관점의 구성은 도 3과 같을 수 있다.The multi-band antenna high-speed measurement system 1000 shown in FIG. 2 is explained mainly on the structure within the chamber, and the configuration in terms of data processing for performance measurement may be the same as FIG. 3.

도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 복수대역 안테나 고속측정시스템의 구성도를 설명하기 위한 도면이다.Figure 3 is a diagram illustrating the configuration of a multi-band antenna high-speed measurement system according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 기술적 사상에 따른 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)은 도 2에서 설명한 아크 구조물(100), 고정부(200), 및 포지셔너(300)에 더하여 제어유닛(800)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the multi-band antenna high-speed measurement system 1000 according to the technical idea of the present invention includes a control unit 800 in addition to the arc structure 100, fixture 200, and positioner 300 described in FIG. 2. ) may include.

또한, 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)은 신호분석기(700)를 더 포함할 수도 있다.Additionally, the multi-band antenna high-speed measurement system 1000 may further include a signal analyzer 700.

상기 제어유닛(800)은 본 발명의 기술적 사상에 따른 복수대역 안테나 고속측정방법을 구현하기 위해 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)에 구비된 다른 구성들(예컨대, 포지셔너(300), 신호분석기(700), 대역선택 스위치(600), 및/또는 프로브 선택 스위치(610, 620) 등)을 제어할 수 있다.The control unit 800 includes other components (e.g., positioner 300, signal analyzer) provided in the multi-band antenna high-speed measurement system 1000 to implement the multi-band antenna high-speed measurement method according to the technical idea of the present invention. 700, band selection switch 600, and/or probe selection switches 610, 620, etc.) can be controlled.

이를 위해 상기 제어유닛(800)은 본 명세서에서 정의되는 기능을 구현하기 위한 프로세서 및 저장매체를 포함할 수 있다. 상기 프로세서는 소정의 프로그램(소프트웨어 코드)을 실행할 수 있는 연산장치를 의미할 수 있으며 상기 데이터 처리장치의 구현 예 또는 벤더(Vendor) 모바일 프로세서, 마이크로 프로세서, CPU, 싱글 프로세서, 멀티 프로세서 등 다양한 명칭으로 명명될 수 있다. To this end, the control unit 800 may include a processor and a storage medium to implement the functions defined in this specification. The processor may refer to a computing device capable of executing a predetermined program (software code), and may be referred to as an implementation example of the data processing device or by various names such as vendor mobile processor, microprocessor, CPU, single processor, and multiprocessor. can be named

상기 프로세서는 상기 프로그램을 구동하여 본 발명의 기술적 사상에 필요한 데이터 처리(예컨대, 다른 구성의 제어, 방사성능의 도출 등)를 수행할 수 있음을 본 발명의 기술분야의 평균적 전문가는 요이하게 추론할 수 있을 것이다.An average expert in the field of the present invention will clearly infer that the processor can drive the program to perform data processing (e.g., control of other configurations, derivation of radiation performance, etc.) necessary for the technical idea of the present invention. You will be able to.

상기 저장매체는 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위한 프로그램이 저장/설치되는 장치를 의미할 수 있다. 구현 예에 따라 상기 저장매체는 복수의 서로 다른 물리적 장치로 분할되어 있을 수 있으며, 구현 예에 따라 상기 저장매체의 일부는 상기 프로세서의 내부에 존재할 수도 있다. 상기 저장매체는 구현 예에 따라 하드 디스크, SSD(Solid State Disk), 광 디스크, RAM(Random Access Memory), 및/또는 기타 다양한 종류의 기억매체로 구현될 수 있으며, 필요에 따라서는 상기 제어유닛(800)에 착탈식으로 구현될 수도 있다. The storage medium may refer to a device in which a program for implementing the technical idea of the present invention is stored/installed. Depending on the implementation, the storage medium may be divided into a plurality of different physical devices, and a portion of the storage medium may exist inside the processor. Depending on the implementation example, the storage medium may be implemented as a hard disk, solid state disk (SSD), optical disk, random access memory (RAM), and/or other various types of storage media, and if necessary, the control unit It may also be implemented in a detachable manner in (800).

상기 제어유닛(800)은 컴퓨터, 노트북, 서버 등의 데이터 처리장치로 구현될 수 있지만, 이에 국한되지는 않으며 상기 프로그램을 실행할 데이터 처리능력이 있는 어떠한 데이터 처리장치(예컨대, 모바일 단말 등)로도 구현될 수 있다. The control unit 800 may be implemented as a data processing device such as a computer, laptop, or server, but is not limited thereto and may be implemented as any data processing device (e.g., mobile terminal, etc.) capable of executing the program. It can be.

또한, 상기 제어유닛(800)은 상기 프로세서, 상기 저장매체, 및 상기 제어유닛(800)에 구비되는 다양한 주변장치들(예컨대, 입출력장치, 디스플레이 장치, 오디오 장치 등)과 이러한 장치들을 연결하기 위한 통신 인터페이스(예컨대, 통신 버스 등)가 구비될 수도 있음은 본 발명의 기술분야의 평균적 전문가는 용이하게 추론할 수 있을 것이다.In addition, the control unit 800 is configured to connect the processor, the storage medium, and various peripheral devices (e.g., input/output devices, display devices, audio devices, etc.) provided in the control unit 800 with these devices. An average expert in the technical field of the present invention can easily deduce that a communication interface (eg, a communication bus, etc.) may be provided.

상기 제어유닛(800)은 소정의 관리자 단말기(900)와 통신을 수행하면서 본 발명의 기술적 사상에 따른 복수대역 안테나 고속측정방법을 수행할 수 있다. The control unit 800 can perform a multi-band antenna high-speed measurement method according to the technical idea of the present invention while communicating with a predetermined manager terminal 900.

도 3에서는 상기 제어유닛(800)과 상기 관리자 단말기(900)가 별도의 장치로 구현되는 일 예를 도시하였지만, 필요 예에 따라 상기 관리자 단말기(900)와 상기 제어유닛(800)은 하나의 물리적 장치로 구현될 수 있음을 본 발명의 기술분야의 평균적 전문가는 용이하게 추론할 수 있을 것이다.Although FIG. 3 shows an example in which the control unit 800 and the manager terminal 900 are implemented as separate devices, depending on the case, the manager terminal 900 and the control unit 800 may be implemented as one physical device. An average expert in the technical field of the present invention can easily deduce that it can be implemented as a device.

상기 제어유닛(800)은 상기 대역선택 스위치(600)를 제어하여 테스트할 주파수 대역 즉, 아크를 선택할 수 있다. 예컨대, 제1아크(110) 및 제2아크(120) 중 어느 하나는 제1대역(예컨대 3.5GHz)에 상응하고, 다른 하나는 제2대역(28GHz)에 상응할 수 있다. The control unit 800 controls the band selection switch 600 to select a frequency band to be tested, that is, an arc. For example, one of the first arc 110 and the second arc 120 may correspond to the first band (eg, 3.5 GHz), and the other may correspond to the second band (28 GHz).

상기 제어유닛(800)은 테스트 대상 안테나(10)에 상응하는 주파수 대역을 상기 대역선택 스위치(600)를 통해 선택할 수 있다. 그러면 선택된 주파수 대역(예컨대, 제1대역)에 상응하는 제1아크(110)가 선택될 수 있다.The control unit 800 can select the frequency band corresponding to the antenna 10 under test through the band selection switch 600. Then, the first arc 110 corresponding to the selected frequency band (eg, first band) may be selected.

그러면 상기 제어유닛(800)은 선택한 아크(예컨대, 제1아크(110))에 상응하는 제1프로브 세트(400)에 포함된 프로브들로부터 순차적으로 입력신호를 상기 신호분석기(700)를 통해 수신할 수 있다. Then, the control unit 800 sequentially receives input signals from the probes included in the first probe set 400 corresponding to the selected arc (e.g., the first arc 110) through the signal analyzer 700. can do.

제어유닛(800)은 프로브들을 순차적으로 선택하기 위해 프로브 선택 스위치들(610, 620)을 제어할 수 있다. The control unit 800 may control the probe selection switches 610 and 620 to sequentially select probes.

제1프로브 선택 스위치(610)는 제1프로브 세트(400)에서 어느 하나의 프로브를 선택하기 위한 구성일 수 있으며, 제2프로브 선택 스위치(620)는 제2프로브 세트(500)에서 어느 하나의 프로브를 선택하기 위한 구성일 수 있다.The first probe selection switch 610 may be configured to select one probe from the first probe set 400, and the second probe selection switch 620 may be configured to select one probe from the second probe set 500. This may be a configuration for selecting a probe.

프로브들 각각에 의해 수신되는 입력신호는 프로브 선택 스위치(610, 620)들을 통해 신호분석기(700)로 전달될 수 있다. 프로브들 각각은 두 개의 채널(H-pol, V-pol)에 해당하는 입력신호를 각각 전달할 수 있음은 물론이다. The input signal received by each of the probes may be transmitted to the signal analyzer 700 through the probe selection switches 610 and 620. Of course, each of the probes can transmit input signals corresponding to two channels (H-pol, V-pol).

또한, 전달되는 입력신호는 필요에 따라 저잡음증폭기(640, 650)을 거쳐 증폭되어 신호분석기(700)로 전달될 수 있다. Additionally, the transmitted input signal may be amplified through low-noise amplifiers 640 and 650 and transmitted to the signal analyzer 700, if necessary.

상기 신호분석기(700)는 프로브들로부터 수신되는 입력신호를 처리하여 방사성능을 측정하기 위한 데이터들을 추출하고 이를 제어유닛(800)으로 전달할 수 있다. The signal analyzer 700 can process input signals received from probes to extract data for measuring radiation performance and transmit it to the control unit 800.

그러면 제어유닛(800)은 상기 신호분석기(700)로부터 수신되는 데이터에 기초하여 테스트 대상 안테나(10)의 방사성능(예컨대, 방사패턴, 세기 등)을 도출할 수 있다.Then, the control unit 800 can derive the radiation performance (eg, radiation pattern, intensity, etc.) of the antenna under test 10 based on the data received from the signal analyzer 700.

복수의 프로브들로부터 수신되는 입력신호로부터 필요한 데이터를 추출하기 위한 신호분석기(700)의 기능이나 동작, 그리고 이러한 데이터로부터 방사성능을 도출하기 위한 알고리즘은 널리 공지되어 있으므로 본 명세서에서는 상세한 설명은 생략하도록 한다.The function or operation of the signal analyzer 700 for extracting necessary data from input signals received from a plurality of probes, and the algorithm for deriving radiation performance from such data are widely known, so detailed descriptions will be omitted in this specification. do.

한편, 상기 제어유닛(800)은 테스트 대상 안테나(10)가 출력하는 출력신호를 상기 신호분석기(700)를 제어하여 전달할 수 있다. 이러한 경우에도 상기 신호분석기(700)와 상기 테스트 대상 안테나(10) 사이에는 소정의 저잡음증폭기가 구비될 수 있다.Meanwhile, the control unit 800 can control the signal analyzer 700 to transmit the output signal output from the antenna under test 10. Even in this case, a low noise amplifier may be provided between the signal analyzer 700 and the test target antenna 10.

그리고 이러한 방식의 경우 상기 제어유닛(800)은 자신이 전달한 출력신호의 위상을 알 수 있으므로 별도로 레퍼런스 위상이 필요하지 않게 된다. 하지만, OTA(Over The Air) 방식으로 자주적으로 신호를 출력하는 안테나를 위해서는 방사성능의 측정을 위해 정확한 레퍼런스 위상이 필요할 수 있다. 그리고 레퍼런스 위상에 기초하여 각각의 프로브들로부터 수신된 입력신호의 위상정보를 추정할 수 있다.And in the case of this method, the control unit 800 can know the phase of the output signal it transmits, so a separate reference phase is not needed. However, for an antenna that independently outputs signals in an OTA (Over The Air) manner, an accurate reference phase may be required to measure radiation performance. And based on the reference phase, the phase information of the input signal received from each probe can be estimated.

이를 위해 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)에는 적어도 하나의 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)가 더 구비될 수 있다.For this purpose, the multi-band antenna high-speed measurement system 1000 may be further equipped with at least one phase reference probe (510, 510-1).

상기 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)는 챔버 내에 그리고 상기 아크 구조물(100)의 외부의 소정의 위치에 설치될 수 있다. The phase reference probes 510 and 510-1 may be installed at a predetermined location within the chamber and outside the arc structure 100.

상기 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1) 역시 상기 테스트 대상 안테나(10)가 발생시키는 신호를 수신하여 신호분석기(700)로 전달할 수 있으며, 상기 신호분석기(700)는 위상정보를 측정하여 상기 제어유닛(800)으로 전달할 수 있다.The phase reference probes 510 and 510-1 can also receive signals generated by the test target antenna 10 and transmit them to the signal analyzer 700, and the signal analyzer 700 measures phase information and performs the control. It can be transmitted to unit 800.

일 실시 예에 의하면, 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템(1000)에는 복수의 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)들이 구비될 수 있으며, 각각의 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)들은 서로 일정 거리 이상 떨어져서 배치될 수 있다. According to one embodiment, the multi-band antenna high-speed measurement system 1000 may be equipped with a plurality of phase reference probes 510 and 510-1, and each of the phase reference probes 510 and 510-1 is constant to each other. It can be placed more than a distance away.

그리고 이때에는 상기 제어유닛(800)은 상기 복수의 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)들 각각이 수신한 신호 중 전력이 보다 센 신호의 위상을 레퍼런스 위상정보로 활용할 수 있다. 복수의 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)들이 구비되는 경우에는 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)가 널 방향/ 위치에 존재할 리스크를 방지할 수 있는 효과가 있다.And at this time, the control unit 800 may use the phase of a signal with higher power among the signals received by each of the plurality of phase reference probes 510 and 510-1 as reference phase information. When a plurality of phase reference probes 510 and 510-1 are provided, there is an effect of preventing the risk of the phase reference probes 510 and 510-1 being in a null direction/position.

또한 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)들 각각 역시 소정의 회전운동을 할 수 있는 구동장치(미도시)와 연결될 수 있다. Additionally, each of the phase reference probes 510 and 510-1 may also be connected to a driving device (not shown) capable of performing a predetermined rotational movement.

제어유닛(800)은 상기 구동장치(미도시)를 제어하여 상기 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)들의 회전을 제어할 수 있다. The control unit 800 may control the rotation of the phase reference probes 510 and 510-1 by controlling the driving device (not shown).

예컨대, 상기 제어유닛(800)은 상기 테스트 대상 안테나(10)의 회전과 동일한 회전을 수행하도록 상기 구동장치(미도시)를 제어할 수 있으며, 이러한 경우 테스트 대상 안테나(10)가 회전하는 경우에도 위상 레퍼런스 프로브(510, 510-1)들이 테스트 대상 안테나(10)의 방사패턴에서 동일한 지점에 위치하게 제어할 수 있다.For example, the control unit 800 may control the driving device (not shown) to perform the same rotation as the rotation of the test target antenna 10. In this case, even when the test target antenna 10 rotates The phase reference probes 510 and 510-1 can be controlled to be located at the same point in the radiation pattern of the antenna 10 under test.

상기 제어유닛(800)이 테스트 대상 안테나(10)의 성능을 측정하기 위해, 우선 테스트 대상 안테나(10)에 상응하는 아크를 대역선택 스위치(600)를 통해 선택할 수 있다.In order for the control unit 800 to measure the performance of the antenna under test 10, the arc corresponding to the antenna under test 10 may be selected through the band selection switch 600.

예컨대, 제1아크(110)를 선택한 경우, 상기 제어유닛(800)은 제1프로브 선택 스위치(610)를 이용해 순차적으로 제1프로브 세트(400)에 포함된 프로브들을 선택하여, 상기 신호분석기(700)로부터 입력 데이터를 수신할 수 있다. For example, when the first arc 110 is selected, the control unit 800 sequentially selects probes included in the first probe set 400 using the first probe selection switch 610, and the signal analyzer ( Input data can be received from 700).

1프로브 세트(400)에 포함된 프로브들 모두로부터 입력 데이터가 수신되면, 상기 제어유닛(800)은 포지셔너(300)를 제어해 상기 테스트 대상 안테나(10)를 엘리베이션 방향으로 일정 각도 회전시킬 수 있다. 그리고 방위각 방향으로 테스트 대상 안테나(10)를 일정 각도 회전시킬 수 있다. 엘리베이션 방향의 회전과 방위각 방향의 회전의 순서는 변경될 수도 있다. 그리고 다시 제1프로브 세트(400)에 포함된 프로브들을 순차적으로 선택하여, 상기 신호분석기(700)로부터 입력 데이터를 수신할 수 있다. When input data is received from all probes included in 1 probe set 400, the control unit 800 controls the positioner 300 to rotate the test target antenna 10 at a certain angle in the elevation direction. . Additionally, the test target antenna 10 can be rotated at a certain angle in the azimuth direction. The order of rotation in the elevation direction and rotation in the azimuth direction may be changed. Then, the probes included in the first probe set 400 can be sequentially selected to receive input data from the signal analyzer 700.

이러한 방식으로 대상 안테나의 엘리베이션 방향 및/또는 방위각 방향의 회전 수행 후 입력 데이터들의 수신을 반복 수행하면서, 스피어 공간 상에서 충분한 그리드 포인트들에 대한 입력 데이터들이 수집되면 상기 제어유닛(800)은 방사성능을 도출하여 테스트를 완료할 수 있다.In this way, while repeatedly receiving input data after performing rotation in the elevation direction and/or azimuth direction of the target antenna, when input data for sufficient grid points in the sphere space are collected, the control unit 800 determines the radiation performance. The test can be completed by deriving the

이 후 동일한 안테나 또는 다른 안테나의 테스트를 수행할 때, 제2대역에 대한 테스트가 필요한 경우 상기 제어유닛(800)은 단순히 제2대역을 선택함으로써 제2대역에 대한 테스트 역시 수행할 수 있다.Afterwards, when performing a test of the same antenna or a different antenna, if a test of the second band is necessary, the control unit 800 can also perform a test of the second band by simply selecting the second band.

다시 도 3을 참조하면, 상기 아크 구조물(100)은 상기 교차지점(130)에서 제1아크(110)와 제2아크(120)가 교차하게 되고, 이때 상기 교차지점(130)에 소정의 프로브가 설치되는 경우에는 상기 프로브는 제1대역 및 제2대역 모두에 상응하는 것이 바람직하다.Referring again to FIG. 3, the arc structure 100 has a first arc 110 and a second arc 120 intersecting at the intersection point 130, and at this time, a predetermined probe is applied to the intersection point 130. When installed, the probe preferably corresponds to both the first band and the second band.

이를 위해 상기 교차지점(130)에 배치되는 프로브는 제1대역 및 제2대역 모두에 해당하는 신호를 수신할 수 있는 광대역 프로브일 수 있다.For this purpose, the probe placed at the intersection point 130 may be a wideband probe capable of receiving signals corresponding to both the first band and the second band.

한편, 상기 제1대역 및 상기 제2대역의 주파수 대역 차이가 커서, 모두를 커버하는 프로브의 구현이 용이하지 않을 수도 있다. 기타 다양한 이유로 광대역 프로브를 상기 교차지점(130)에 배치하는 것이 바람직하지 않거나 용이하지 않을 수 있다.Meanwhile, since the difference in frequency bands between the first band and the second band is large, it may not be easy to implement a probe that covers both. For various other reasons, it may not be desirable or easy to place a broadband probe at the intersection point 130.

이러한 경우, 상기 아크 구조물(100)은 상기 교차지점(130)에 상응하는 프로브 결합구조는 프로브를 용이하게 교체할 수 있도록 구현될 수도 있다. 예컨대, 프로브를 선택적으로 그리고 용이하게 교체하기 위해 상기 교차지점(130)에 상응하는 프로브 결합구조는 프로브를 끼웠다가 뺄 수 있는 홈을 가지거나, 탈부착이 용이한 거치구조, 기타 다양한 방식으로 프로브의 교체가 용이하게 구현될 수 있다.In this case, the arc structure 100 may be implemented with a probe coupling structure corresponding to the intersection point 130 so that the probes can be easily replaced. For example, in order to selectively and easily replace the probe, the probe coupling structure corresponding to the intersection point 130 has a groove for inserting and removing the probe, a mounting structure for easy attachment and detachment, or a variety of other ways to attach the probe. Replacement can be easily implemented.

이처럼 상기 교차지점(130)에 프로브의 교체가 용이한 결합구조가 채택되는 경우, 제1대역에 상응하는 안테나의 테스트시에는 상기 교차지점(130)에는 제1대역에 상응하는 프로브가 배치되고, 제2대역에 상응하는 안테나의 테스트시에는 제2대역에 상응하는 프로브가 배치됨으로써 상기 교차지점(130)에 상응하는 위치의 프로브 교체만으로 복수 대역의 안테나에 대한 테스트가 신속히 이루어질 수 있는 효과가 있다.In this way, when a coupling structure that facilitates replacement of the probe is adopted at the intersection point 130, when testing an antenna corresponding to the first band, a probe corresponding to the first band is placed at the intersection point 130, When testing an antenna corresponding to the second band, a probe corresponding to the second band is placed, which has the effect of allowing multiple band antennas to be tested quickly by simply replacing the probe at the position corresponding to the intersection point 130. .

또 다른 실시 예에 의하면, 제1아크(110)에 배치되는 제1프로브들(400) 및 제2아크(120)에 배치되는 제2프로브들(500)은 각각 미리 정해진 간격으로 이격되어 배치될 수 있다. 물론 제1프로브들(400)의 간격과 제2프로브들(500)의 간격은 상이할 수 있다. According to another embodiment, the first probes 400 disposed on the first arc 110 and the second probes 500 disposed on the second arc 120 may be spaced apart from each other at a predetermined interval. You can. Of course, the spacing between the first probes 400 and the spacing between the second probes 500 may be different.

그리고 이때 상기 간격에 대한 프로브들의 배치를 통해 상기 교차지점(130)에는 아예 어떤 프로브도 배치되지 않을 수도 있다. 이는 아크의 교차지점(130)은 다른 위치에 비해 구조물의 교차로 인한 물리적/공간적 특성의 차이가 있고, 이러한 문제점으로 인해 가급적 상기 교차지점(130)에 상응하는 위치에서는 신호를 측정하지 않는 것이 더 바람직할 수도 있기 때문이다.And at this time, no probe may be placed at all at the intersection point 130 due to the arrangement of the probes for the gap. This is because the intersection point 130 of the arc has different physical/spatial characteristics compared to other locations due to the intersection of the structure, and due to this problem, it is preferable not to measure the signal at the location corresponding to the intersection point 130 if possible. Because you can.

또한, 테스트 대상 안테나(10)의 테스트시에, 테스트 대상 안테나(10)의 주빔의 방향 역시 상기 교차지점(130)을 향하지 않도록 하는 것이 바람직할 수 있다. Additionally, when testing the antenna under test 10, it may be desirable to ensure that the direction of the main beam of the antenna under test 10 is not directed toward the intersection point 130.

이를 위해 고정부(200)는 테스트 대상 안테나(10)의 방향(즉, 주빔 방향)을 교차지점(130)과 직교방향이 되도록 배치될 수 있다. 예컨대, 도 2에서 테스트 대상 안테나(10)는, 교차지점(130)이 도면상에서 테스트 대상 안테나(10)의 수직 상부에 위치하는 경우, 상기 교차지점(130)과 상기 안테나를 잇는 선과는 직교하는 방향(예컨대, 수평면상에 소정 방향)으로 설치될 수 있다.To this end, the fixing unit 200 may be arranged so that the direction (i.e., main beam direction) of the antenna under test 10 is perpendicular to the intersection point 130. For example, in FIG. 2, when the intersection point 130 is located vertically above the antenna under test 10 in the drawing, the antenna under test 10 is perpendicular to the line connecting the intersection point 130 and the antenna. It may be installed in a direction (eg, a predetermined direction on a horizontal plane).

한편 교차지점(130)의 일 실시 예는 도 5에 도시된다.Meanwhile, an example of the intersection point 130 is shown in FIG. 5.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 아크 구조물의 교차지점의 실시 예를 설명하기 위한 도면이다. Figure 5 is a diagram for explaining an example of an intersection point of an arc structure according to an embodiment of the present invention.

도 5는 제1아크(110)와 제2아크(120) 및 상기 제1아크(110)와 상기 제2아크(120)의 교차지점(130)을 확대한 사진을 도시하고 있는데, 도 5에 도시된 바와 같이 제1아크(110)에 제1프로브들이 일정 간격으로 배치되어 있고, 제2아크(120)에도 제2프로브들이 일정 간격으로 배치되어 있되, 상기 교차지점(130)에는 어떠한 프로브도 배치되지 않을 수 있다.Figure 5 shows an enlarged photograph of the first arc 110 and the second arc 120 and the intersection point 130 of the first arc 110 and the second arc 120. As shown, first probes are arranged at regular intervals in the first arc 110, and second probes are arranged at regular intervals in the second arc 120, but there are no probes at the intersection point 130. It may not be placed.

이를 통해 프로브의 교체의 번거로움 또는 광대역 프로브를 이용하더라도 해당 위치에서의 물리적/공간적 특이성으로 인한 오차 발생이 문제점이 줄어들 수 있는 효과가 있다.This has the effect of reducing the inconvenience of replacing probes or problems caused by errors due to physical/spatial specificity at the location even if a broadband probe is used.

도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 고정부의 일 예를 설명하기 위한 도면이다.Figure 6 is a diagram for explaining an example of a fixing unit according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 상기 고정부(200)는 도 6에 도시된 바와 같이 테스트 대상 안테나(10)를 추가할 수 있는 부착구조(예컨대, 도6의 원판 형상의 구조물), 상기 부착구조를 수직으로 지지하는 수직지지체를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 6, the fixing part 200 has an attachment structure (for example, a disk-shaped structure in FIG. 6) to which the antenna to be tested 10 can be added as shown in FIG. 6, and the attachment structure is vertically attached. It may include a vertical support supported by.

이러한 수직지지체는 전방향 안테나의 경우에 전파의 방사에 영향을 미칠 수 있으므로 가급적 좁은 폭을 가질 수 있도록 구현되는 것이 바람직할 수 있다.Since this vertical support may affect the radiation of radio waves in the case of an omnidirectional antenna, it may be desirable to implement it to have as narrow a width as possible.

또한 상기 수직지지체가 포지셔너(300)의 회전운동의 축과 나란할 경우에 테스트 대상 안테나(10)의 회전이 지나치게 제한된 범위에서만 일어나는 문제점이 있으므로, 도 6에 도시된 바와 같이 회전 반경의 확대를 위해 수평지지체가 더 구비되고, 이러한 수평지지체의 일단은 포지셔너(300)의 회전축과 연결되고 타단은 수직지지체와 연결되는 구조를 가질 수 있다.In addition, when the vertical support is parallel to the axis of rotation of the positioner 300, there is a problem in that the rotation of the antenna under test 10 occurs only in an overly limited range. Therefore, as shown in FIG. 6, in order to expand the rotation radius, A horizontal supporter may be further provided, and one end of the horizontal supporter may be connected to the rotation axis of the positioner 300 and the other end may be connected to the vertical supporter.

기타 상기 고정부(200)의 실시 예는 다양할 수 있음은 물론이다.Of course, other embodiments of the fixing unit 200 may vary.

도 7은 본 발명의 실시 예에 따른 포지셔너의 이 예를 설명하기 위한 도면이다. Figure 7 is a diagram for explaining this example of a positioner according to an embodiment of the present invention.

도 7을 참조하면, 상기 포지셔너(300)는 제어유닛(800)의 제어에 따라 고정부(200)의 회전을 제어하는 기계적 장치일 수 있다. Referring to FIG. 7 , the positioner 300 may be a mechanical device that controls the rotation of the fixing unit 200 under the control of the control unit 800.

즉, 테스트 대상 안테나(10)의 회전을 제어하며, 방위각 방향(AZ Axis)으로 테스트 대상 안테나(10)를 회전시킬 수 있으며, 또한 엘리베이션 방향(Tilt Axis)으로 테스트 대상 안테나(10)를 회전시킬 수 있는 장치이면 족하다.That is, the rotation of the test target antenna 10 can be controlled, the test target antenna 10 can be rotated in the azimuth direction (AZ Axis), and the test target antenna 10 can be rotated in the elevation direction (Tilt Axis). Any device that can do this is sufficient.

일 실시 예에 의하면, 상기 포지셔너(300)는 상기 고정부(200)가 결합되는 상부 포지셔너(310)와 상기 상부 포지셔너(310)의 회전을 구동하는 하부 포지셔너(320)가 구비될 수 있다.According to one embodiment, the positioner 300 may be provided with an upper positioner 310 to which the fixing part 200 is coupled and a lower positioner 320 that drives rotation of the upper positioner 310.

상기 상부 포지셔너(310)는 테스트를 진행할 경우, 방위각 방향으로 테스트 대상 안테나(10)를 회전시키도록 구현될 수 있으며 하부 포지셔너(320)와 별개로 회전이 가능하도록 구현될 수 있다.When performing a test, the upper positioner 310 may be implemented to rotate the test target antenna 10 in the azimuth direction and may be implemented to be able to rotate independently from the lower positioner 320.

또한 상기 하부 포지셔너(320)는 아크의 선택 시에 해당하는 아크에 적합한 위치로 상부 포지셔너(310)를 회전시킬 수 있도록 구현되며, 상기 상부 포지셔너(310)를 수직방향 즉, 엘리베이션 방향(Tilt Axis)으로 일정 각도 회전시킬 수도 있다.In addition, the lower positioner 320 is implemented to rotate the upper positioner 310 to a position suitable for the arc when selecting an arc, and moves the upper positioner 310 in the vertical direction, that is, in the elevation direction (Tilt Axis). It can also be rotated at a certain angle.

또한, 도 7에 도시된 바와 같이 상기 하부 포지셔너(320)의 외측에는 소정의 전파흡수체가 구비될 수 있다. Additionally, as shown in FIG. 7, a radio wave absorber may be provided on the outside of the lower positioner 320.

결국, 본 발명의 기술적 사상에 따르면 복수 대역에 대해서 각각 아크를 구비하고, 각각의 아크에 복수의 프로브들을 배치하여 이들을 통해 고속으로 서로 다른 대역에 대한 안테나 성능 측정이 가능한 효과가 있다.Ultimately, according to the technical idea of the present invention, each arc is provided for a plurality of bands, and a plurality of probes are placed in each arc, so that antenna performance for different bands can be measured at high speed through these.

한편, 본 발명의 실시예에 따른 복수대역 안테나 고속측정방법은 컴퓨터가 읽을 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체에 저장될 수 있으며, 본 발명의 실시예에 따른 제어 프로그램 및 대상 프로그램도 컴퓨터로 판독 가능한 기록 매체에 저장될 수 있다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록 매체는 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록 장치를 포함한다.Meanwhile, the multi-band antenna high-speed measurement method according to an embodiment of the present invention can be implemented in the form of computer-readable program instructions and stored in a computer-readable recording medium, and the control program and The target program may also be stored in a computer-readable recording medium. Computer-readable recording media include all types of recording devices that store data that can be read by a computer system.

기록 매체에 기록되는 프로그램 명령은 본 발명을 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 소프트웨어 분야 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다.Program instructions recorded on the recording medium may be those specifically designed and configured for the present invention, or may be known and available to those skilled in the software field.

컴퓨터로 읽을 수 있는 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media) 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 또한 컴퓨터가 읽을 수 있는 기록매체는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템에 분산되어, 분산방식으로 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드가 저장되고 실행될 수 있다.Examples of computer-readable recording media include magnetic media such as hard disks, floppy disks, and magnetic tapes, optical media such as CD-ROMs and DVDs, and floptical disks. Includes magneto-optical media such as ROM, RAM, flash memory, and other hardware devices specifically configured to store and execute program instructions. Additionally, computer-readable recording media can be distributed across computer systems connected to a network, so that computer-readable code can be stored and executed in a distributed manner.

프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 전자적으로 정보를 처리하는 장치, 예를 들어, 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다.Examples of program instructions include not only machine language code such as that created by a compiler, but also high-level language code that can be executed by a device that electronically processes information using an interpreter, for example, a computer.

상술한 하드웨어 장치는 본 발명의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.The hardware devices described above may be configured to operate as one or more software modules to perform the operations of the present invention, and vice versa.

전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시 예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.The description of the present invention described above is for illustrative purposes, and those skilled in the art will understand that the present invention can be easily modified into other specific forms without changing the technical idea or essential features of the present invention. will be. Therefore, the embodiments described above should be understood in all respects as illustrative and not restrictive. For example, each component described as unitary may be implemented in a distributed manner, and similarly, components described as distributed may also be implemented in a combined form.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타나며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.The scope of the present invention is indicated by the claims described below rather than the detailed description above, and all changes or modified forms derived from the meaning and scope of the claims and their equivalent concepts should be construed as being included in the scope of the present invention. .

Claims (12)

소정의 교차지점-상기 교차지점은 제1아크와 제2아크가 만나서 공통으로 포함하는 영역임-에서 서로 교차하는 상기 제1아크와 상기 제2아크를 포함하며 상기 제1아크와 상기 제2아크의 내측으로 스피어 공간이 형성되도록 하는 아크 구조물;
상기 스피어 공간 상에서 테스트 대상인 대상 안테나를 고정하기 위한 고정부;
상기 고정부를 제어하여 상기 대상 안테나의 회전을 제어하기 위한 포지셔너;
제1대역의 신호를 수신하기 위해 상기 제1아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치되는 복수의 제1프로브들을 포함하는 제1프로브 세트; 및
제2대역의 신호를 수신하기 위해 상기 제2아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치되는 복수의 제2프로브들을 포함하는 제2프로브 세트를 포함하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
It includes the first arc and the second arc that intersect each other at a predetermined intersection point - the intersection point is a common area where the first arc and the second arc meet. an arc structure that allows a sphere space to be formed inside;
a fixing unit for fixing a target antenna to be tested in the sphere space;
a positioner for controlling the rotation of the target antenna by controlling the fixing part;
a first probe set including a plurality of first probes disposed at predetermined intervals on the sphere space side of the first arc to receive a signal of a first band; and
A multi-band antenna high-speed measurement system comprising a second probe set including a plurality of second probes disposed at predetermined intervals on the sphere space side of the second arc to receive signals of the second band.
제1항에 있어서, 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템은,
상기 제1프로브 세트 또는 상기 제2프로브 세트 중 어느 하나를 선택하기 위한 대역선택 스위치;
상기 대역선택 스위치에 의해 선택한 프로브 세트에 포함되는 프로브들 중 어느 하나를 선택하기 위한 프로브 선택 스위치; 및
상기 대역선택 스위치와 상기 프로브 선택 스위치를 제어하여 선택된 프로브로부터 신호분석기를 통해 입력신호에 상응하는 신호 데이터를 전달받아 상기 대상 안테나의 방사성능을 도출하기 위한 제어유닛을 더 포함하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 1, wherein the multi-band antenna high-speed measurement system,
a band selection switch for selecting either the first probe set or the second probe set;
a probe selection switch for selecting one of probes included in the probe set selected by the band selection switch; and
High-speed measurement of a multi-band antenna further comprising a control unit for controlling the band selection switch and the probe selection switch to receive signal data corresponding to an input signal from the selected probe through a signal analyzer and deriving the radiation performance of the target antenna. system.
제2항에서, 상기 제어유닛은,
상기 포지셔너를 제어하여,
상기 대상 안테나를 엘리베이션 방향으로 일정 각도 회전시킨 후 방위각 방향으로 회전시키면서 테스트를 수행하는 것을 특징으로 하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
In claim 2, the control unit is:
By controlling the positioner,
A multi-band antenna high-speed measurement system characterized in that the test is performed by rotating the target antenna at a certain angle in the elevation direction and then rotating it in the azimuth direction.
제1항에 있어서, 상기 아크 구조물은,
상기 교차지점에는 상기 제1대역에 상응하는 제1프로브 또는 상기 제2대역에 상응하는 제2프로브가 선택적으로 교체될 수 있도록 형성되는 것을 특징으로 하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 1, wherein the arc structure:
A high-speed measurement system for a multi-band antenna, wherein a first probe corresponding to the first band or a second probe corresponding to the second band can be selectively replaced at the intersection point.
제1항에 있어서, 상기 교차지점에는,
상기 제1대역 및 상기 제2대역에 모두 상응하는 광대역 프로브가 배치되는 것을 특징으로 하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 1, wherein at the intersection point,
A multi-band antenna high-speed measurement system, characterized in that broadband probes corresponding to both the first band and the second band are disposed.
제1항에 있어서, 상기 제1프로브들 및 상기 제2프로브들은,
각각 미리 정해진 간격으로 이격되어 배치되되,
상기 교차지점에는 프로브가 배치되지 않는 것을 특징으로 하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 1, wherein the first probes and the second probes are:
Each is spaced apart at predetermined intervals,
A multi-band antenna high-speed measurement system, characterized in that no probe is placed at the intersection point.
제1항에 있어서, 상기 고정부는,
상기 대상 안테나의 방향을 상기 교차지점과 직교방향으로 배치하는 것을 특징으로 하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 1, wherein the fixing unit,
A multi-band antenna high-speed measurement system, characterized in that the direction of the target antenna is arranged in a direction perpendicular to the intersection point.
제2항에 있어서, 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템은,
상기 아크 구조물의 외곽에 설치되며, 상기 대상 안테나가 발생시키는 신호를 수신하여 신호처리장치로 전달하는 위상 레퍼런스 프로부를 적어도 하나 더 포함하며,
상기 제어유닛은,
상기 위상 레퍼런스 프로브로부터 수신되는 신호의 위상정보를 레퍼런스 위상으로 활용하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 2, wherein the multi-band antenna high-speed measurement system,
It is installed outside the arc structure and further includes at least one phase reference pro unit that receives a signal generated by the target antenna and transmits it to a signal processing device,
The control unit is,
A multi-band antenna high-speed measurement system that uses the phase information of the signal received from the phase reference probe as a reference phase.
제8항에 있어서, 상기 복수대역 안테나 고속측정시스템은,
복수의 위상 레퍼런스 프로브들을 포함하며,
상기 제어유닛은,
상기 복수의 위상 레퍼런스 프로브들이 각각 수신한 신호 중 전력이 보다 센 신호의 위상을 레퍼런스 위상으로 활용하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 8, wherein the multi-band antenna high-speed measurement system,
Contains a plurality of phase reference probes,
The control unit is,
A multi-band antenna high-speed measurement system that uses the phase of a signal with higher power among the signals received by each of the plurality of phase reference probes as a reference phase.
제8항에 있어서, 상기 제어유닛은,
적어도 하나의 위상 레퍼런스 프로브를 상기 대상 안테나의 회전과 동일한 회전을 수행하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 복수대역 안테나 고속측정시스템.
The method of claim 8, wherein the control unit:
A multi-band antenna high-speed measurement system, characterized in that at least one phase reference probe is controlled to perform the same rotation as the rotation of the target antenna.
대상 안테나를 테스트하는 방법에 있어서,
복수대역 안테나 고속측정시스템이, 소정의 교차지점-상기 교차지점은 제1아크와 제2아크가 만나서 공통으로 포함하는 영역임-에서 서로 교차하는 상기 제1아크와 상기 제2아크를 포함하며 상기 제1아크와 상기 제2아크의 내측으로 형성되는 스피어 공간에 배치되는 상기 대상 안테나를 테스트하기 위해, 상기 제1아크 또는 상기 제2아크 중 어느 하나를 선택하는 단계-상기 제1아크에는 제1대역의 신호를 수신하기 위해 복수의 제1프로브들을 포함하는 제1프로브 세트가 상기 제1아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치되며, 상기 제2아크에는 제2대역의 신호를 수신하기 위해 복수의 제2프로브들을 포함하는 제2프로브 세트가 상기 제2아크의 상기 스피어 공간측에 소정 간격으로 이격되어 배치됨-;
상기 복수대역 안테나 고속측정시스템이 선택한 아크에 상응하는 프로브들을 순차적으로 선택하여 선택된 프로브로부터 전달되는 입력신호를 수신하는 단계; 및
상기 복수대역 안테나 고속측정시스템이 수신한 입력신호에 기초하여 상기 대상 안테나의 성능을 측정하는 단계를 포함하는 복수대역 안테나 고속측정방법.
In a method of testing a target antenna,
The multi-band antenna high-speed measurement system includes the first arc and the second arc that intersect each other at a predetermined intersection point - the intersection point is a common area where the first arc and the second arc meet. Selecting either the first arc or the second arc to test the target antenna disposed in the sphere space formed inside the first arc and the second arc - the first arc includes a first arc In order to receive signals in a band, a first probe set including a plurality of first probes is disposed at a predetermined interval on the sphere space side of the first arc, and receives signals in a second band in the second arc. To do so, a second probe set including a plurality of second probes is disposed at a predetermined interval on the sphere space side of the second arc;
sequentially selecting probes corresponding to an arc selected by the multi-band antenna high-speed measurement system and receiving an input signal transmitted from the selected probe; and
A multi-band antenna high-speed measurement method comprising measuring the performance of the target antenna based on the input signal received by the multi-band antenna high-speed measurement system.
데이터 처리장치에 설치되며 제11항에 기재된 방법을 수행하기 위한 매체에 저장된 컴퓨터 프로그램.
A computer program installed in a data processing device and stored on a medium for performing the method described in claim 11.
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