KR102427146B1 - Touch sensor substrate, touch panel, display device, and method for manufacturing touch sensor substrate - Google Patents

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Abstract

제1 면의 일례인 제1 전극 배치면을 갖는 기재와, 상기 제1 면에 위치하는 복수의 전극의 일례인 제1 전극을 구비하고, 복수의 상기 제1 전극의 각각은, 상기 제1 면과 접촉하는 저면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 대향하는 정상면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 상기 정상면을 연결하는 측면을 구비하고, 상기 저면 및 상기 정상면 중 적어도 하나와 상기 측면이, 흑화층 BL이다.A base material having a first electrode arrangement surface that is an example of a first surface, and a first electrode that is an example of a plurality of electrodes positioned on the first surface, wherein each of the plurality of first electrodes is the first surface a bottom surface in contact with, a top surface exposed from the first surface and opposite to the bottom surface, a surface exposed from the first surface and a side surface connecting the bottom surface and the top surface, the bottom surface and the top surface At least one and the said side surface are blackening layer BL.

Description

터치 센서 기판, 터치 패널, 표시 장치 및 터치 센서 기판의 제조 방법{TOUCH SENSOR SUBSTRATE, TOUCH PANEL, DISPLAY DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING TOUCH SENSOR SUBSTRATE}A touch sensor substrate, a touch panel, a display device, and a manufacturing method of a touch sensor substrate {TOUCH SENSOR SUBSTRATE, TOUCH PANEL, DISPLAY DEVICE, AND METHOD FOR MANUFACTURING TOUCH SENSOR SUBSTRATE}

본 발명은 전극을 구비하는 터치 센서 기판, 터치 패널, 표시 장치 및 터치 센서 기판의 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a touch sensor substrate having an electrode, a touch panel, a display device, and a method of manufacturing the touch sensor substrate.

최근 들어, 휴대 전화기, 휴대 정보 단말기, ATM, 카 내비게이션 시스템을 비롯한 여러 가지 전자 기기의 조작부에는 터치 센서가 채용되고 있다. 터치 센서는, 손끝이나 펜 끝의 접촉 위치를 검출하는 입력 장치로서, 액정 표시 장치 등의 화상 표시용 패널의 표시면 상에 접합되어 있다. 터치 센서는, 터치 센서의 구조 및 검출 방식의 차이에 따라, 저항막형, 정전 용량형, 광학식, 초음파식 등의 여러 가지 타입으로 분류되고, 전자 기기에 있어서의 용도에 따라서 구분지어 사용되고 있다. 이들 중에서도, 내구성, 투과율, 감도, 안정성 및 위치 분해능이 우수하다는 관점에서, 전극끼리가 접촉하지 않는 정전 용형이 터치 센서의 주류이다.BACKGROUND ART In recent years, touch sensors have been employed in operation units of various electronic devices including cellular phones, portable information terminals, ATMs, and car navigation systems. A touch sensor is an input device which detects the contact position of a fingertip or a pen tip, and is bonded on the display surface of image display panels, such as a liquid crystal display device. A touch sensor is classified into various types, such as a resistive film type, a capacitive type, an optical type, an ultrasonic type, according to the difference of the structure and detection method of a touch sensor, and is divided and used according to the use in an electronic device. Among them, from the viewpoint of excellent durability, transmittance, sensitivity, stability, and positional resolution, the electrostatic capacitive type in which electrodes do not contact each other is the mainstream of touch sensors.

정전 용량형 터치 센서에는, 표면형과 투영형이 포함되지만, 어느 형식이든 손가락과 같이 정전적인 도전성을 갖는 것이 터치 센서의 표면에 가까워짐으로써 정전 용량 결합이 발생하는 것을 응용한 기술이며, 전극과 손끝 사이의 정전 용량 결합을 터치 센서가 파악해서 위치를 검출한다(예를 들어, 특허문헌 1을 참조).Capacitive touch sensors include a surface type and a projection type, but in either type, it is a technology applied to the fact that capacitive coupling occurs when something with electrostatic conductivity, such as a finger, approaches the surface of the touch sensor, electrodes and fingertips. A touch sensor grasps the capacitive coupling between them, and detects a position (refer patent document 1, for example).

표면형 터치 센서는, 투명 기재 상에 평면 형상으로 확산되는 투명 도전막을 위치 검출용 전극으로서 구비하고, 도전막의 네 코너에 구동 회로에 접속되는 전극을 구비하고 있다.A surface-type touch sensor is provided with the transparent conductive film which spreads planarly on a transparent base material as an electrode for position detection, and is equipped with the electrode connected to a drive circuit at four corners of the conductive film.

투영형 터치 센서는, 하나의 방향인 X 방향을 따라서 연장되는 복수의 센서용 도전막과, X 방향과 직교하는 Y 방향을 따라서 연장되는 복수의 제1용 도전막을 위치 검출용 전극으로서 구비하고 있다. 이러한 위치 검출용 전극은, 평면에서 보아 예를 들어 메쉬 형상을 갖고, 센서용 도전막의 배치 피치나 제1용 도전막의 배치 피치가 작을수록 위치의 검출 정밀도는 높다.A projection type touch sensor is provided with a plurality of sensor conductive films extending along one direction, an X direction, and a plurality of first conductive films extending along a Y direction orthogonal to the X direction as electrodes for position detection. . Such an electrode for a position detection has a mesh shape in planar view, for example, and the detection precision of a position is high, so that the arrangement pitch of the conductive film for sensors and the arrangement pitch of the conductive film for 1st use are small.

한편, 상술한 터치 센서는 화상 표시용 패널의 표시면에 설치되는 경우가 많기 때문에, 어느 형식의 터치 센서에 있어서도 광투과성은 요구된다. 이러한 광투과성의 관점에서는, 위치 검출용 전극의 형성 재료가, 예를 들어 ITO나 ZnO 등의 투명성이 높은 투명 도전 재료인 것이 바람직한데, 터치 센서의 대형화가 진행될수록, 투명 도전 재료로 형성되는 전극의 길이는 크고, 결과적으로, 전극 자체의 저항이 높고, 위치의 검출 감도가 낮다. 그로 인해, 최근에는, 광을 차광하는 한편 도전성이 높은 금속이, 위치 검출용 전극의 형성 재료에 사용되고, 전극 자체의 형상을 세선으로 해서 터치 센서의 개구율을 높이는 제안이 이루어져 있다.On the other hand, since the touch sensor mentioned above is provided in the display surface of the panel for image display in many cases, light transmittance is calculated|required also in any type of touch sensor. From the viewpoint of such light transmittance, the material for forming the electrode for position detection is preferably a transparent conductive material with high transparency such as ITO or ZnO, but the electrode formed of the transparent conductive material as the size of the touch sensor progresses The length is large, and as a result, the resistance of the electrode itself is high, and the detection sensitivity of the position is low. Therefore, in recent years, a metal with high conductivity while blocking light is used for the forming material of the electrode for position detection, and the shape of the electrode itself is made into a thin wire, and the proposal which raises the aperture ratio of a touch sensor is made.

또한, 전극의 단부인 접속 단자는, 구동용 반도체 소자가 탑재된 플렉시블 기판의 접속용 단자부에, ACF(Anisotropic conductive film) 등을 개재해서 접합된다. 이때, 전극의 형성 재료가 ITO 등의 투명 도전 재료여도, 전극에 접속되는 접속 단자는, 통상 접촉 저항을 낮추기 위해서 금속으로 형성되거나 또는 금속에 의해 덮인다. 이 점에 있어서, 전극의 형성 재료가 금속인 구성라면, 전극과 접속 단자를 동시에 형성하는 것이 가능하기도 하다.Further, the connection terminal, which is an end portion of the electrode, is bonded to the connection terminal portion of the flexible substrate on which the driving semiconductor element is mounted via an ACF (Anisotropic conductive film) or the like. At this time, even if the forming material of the electrode is a transparent conductive material such as ITO, the connection terminal connected to the electrode is usually formed of or covered with a metal in order to lower the contact resistance. In this regard, it is also possible to form the electrode and the connection terminal at the same time as long as the material for forming the electrode is a metal.

그런데, 전극의 형성 재료가 차광성을 가진 금속이며, 복수의 전극이 갖는 형상이 평면으로 보아 예를 들어 메쉬 형상일 때, 전극이 시인되지 않을 정도까지, 예를 들어 10㎛ 이하까지, 전극의 선 폭을 작게 할 필요가 있다. 그리고, 세선인 전극이 시인되는 것을 억제하기 위해서, 금속 특유의 반사 광택을 억제할 필요가 있다(예를 들어, 특허문헌 2 내지 4를 참조).By the way, when the forming material of the electrode is a metal having light-shielding property, and the shape of the plurality of electrodes is, for example, a mesh shape in a plan view, the electrode is not visible until, for example, 10 μm or less, the thickness of the electrode is It is necessary to make the line width small. And in order to suppress that the electrode which is a thin wire is visually recognized, it is necessary to suppress the reflective luster peculiar to a metal (for example, refer patent documents 2 - 4).

일본 특허 4610416호Japanese Patent No. 4610416 일본 특허 공개 제2014-16944호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2014-16944 일본 특허 공개 제2014-19947호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2014-19947 일본 특허 공개 제2013-129183호 공보Japanese Patent Laid-Open No. 2013-129183

그러나, 금속 특유의 반사 광택을 억제하는 처리란, 전극의 저항값을 높이는 처리이기 때문에, 이러한 처리가 전극 전체에 실시되게 된다면, 터치 센서로서 허용되지 않는 범위까지 전극의 저항값이 상승해버린다.However, since the process of suppressing the reflective luster peculiar to a metal is a process which raises the resistance value of an electrode, if such a process is performed to the whole electrode, the resistance value of an electrode will rise to the range which is not permissible as a touch sensor.

본 발명은 전극의 저항값이 상승하는 것을 경감해서 전극의 시인성을 억제하는 것이 가능한 터치 센서 기판, 터치 패널, 표시 장치 및 터치 센서 기판의 제조 방법의 제공을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a touch sensor substrate, a touch panel, a display device, and a touch sensor substrate capable of suppressing the visibility of the electrode by reducing the increase in the resistance value of the electrode.

상기 과제를 해결하는 터치 센서 기판은, 제1 면을 갖는 기재와, 상기 제1 면에 위치하는 복수의 전극을 구비한다. 그리고, 복수의 상기 전극의 각각은, 상기 제1 면과 접촉하는 저면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 대향하는 정상면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 상기 정상면을 연결하는 측면과, 표층인 흑화층이며, 상기 저면 및 상기 정상면 중 적어도 하나와 상기 측면이, 상기 흑화층의 표면을 구성하고 있는 상기 흑화층을 구비한다.A touch sensor substrate for solving the above problems includes a substrate having a first surface and a plurality of electrodes positioned on the first surface. And, each of the plurality of electrodes has a bottom surface in contact with the first surface, a top surface exposed from the first surface and opposite to the bottom surface, a surface exposed from the first surface, the bottom surface and the It is a blackening layer which is a surface layer and the side surface which connects a top surface, At least one of the said bottom surface and the said top surface, and the said side surface are provided with the said blackening layer which comprises the surface of the said blackening layer.

상기 터치 센서 기판에 있어서, 상기 흑화층의 표면 저항률은 1Ω/□ 미만인 것이 바람직하다.In the touch sensor substrate, the surface resistivity of the blackening layer is preferably less than 1Ω/□.

상기 터치 센서 기판에 있어서, 상기 흑화층의 두께는, 0.2㎛ 이하인 것이 바람직하다.The said touch sensor board|substrate WHEREIN: It is preferable that the thickness of the said blackening layer is 0.2 micrometer or less.

상기 터치 센서 기판에 있어서, 상기 흑화층의 반사율은, 400㎚ 이상 780㎚ 이하의 가시 영역에 있어서 20% 미만인 것이 바람직하다.The said touch sensor board|substrate WHEREIN: It is preferable that the reflectance of the said blackening layer is less than 20% in the visible region of 400 nm or more and 780 nm or less.

상기 과제를 해결하는 터치 패널은, 복수의 제1 전극과, 복수의 제2 전극과, 복수의 상기 제1 전극과 복수의 상기 제2 전극 사이에 끼워지는 투명 유전체층을 구비하는 센서 기체와, 상기 센서 기체를 덮는 커버층과, 상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이의 정전 용량을 측정하는 주변 회로를 구비한다. 그리고, 터치 패널이, 상술한 터치 센서 기판을 포함하고, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극 중 적어도 하나는, 상술한 터치 센서 기판이 구비하는 상기 전극이다.A touch panel for solving the above problems includes: a sensor base including a plurality of first electrodes, a plurality of second electrodes, and a transparent dielectric layer sandwiched between the plurality of first electrodes and a plurality of the second electrodes; A cover layer covering the sensor body, and a peripheral circuit for measuring an electrostatic capacitance between the first electrode and the second electrode are provided. The touch panel includes the above-described touch sensor substrate, and at least one of the first electrode and the second electrode is the electrode included in the above-described touch sensor substrate.

상기 과제를 해결하는 표시 패널은, 정보를 표시하는 표시 패널과, 상기 표시 패널이 표시하는 상기 정보를 투과하는 터치 패널과, 상기 터치 패널을 구동하는 구동 회로를 구비한다. 그리고, 상기 터치 패널은, 상술한 터치 패널이다.A display panel that solves the above problem includes a display panel that displays information, a touch panel that transmits the information displayed by the display panel, and a driving circuit that drives the touch panel. In addition, the said touch panel is the above-mentioned touch panel.

상기 과제를 해결하는 터치 센서 기판의 제조 방법은, 제1 면을 갖는 기재에 금속제의 복수의 전극 패턴을 형성하는 공정이며, 복수의 상기 전극 패턴의 각각이, 상기 제1 면과 접촉하는 저면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 대향하는 정상면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 상기 정상면을 연결하는 측면을 구비하는 상기 공정을 포함한다. 또한, 복수의 상기 전극 패턴의 각각에, 황화 흑화 처리와 치환 흑화 처리 중 어느 한쪽의 흑화 처리를 실시하고, 상기 저면 및 상기 정상면 중 적어도 하나와 상기 측면을, 표층인 흑화층으로 바꾸는 공정을 포함한다.A method of manufacturing a touch sensor substrate for solving the above problems is a step of forming a plurality of metal electrode patterns on a substrate having a first surface, wherein each of the plurality of electrode patterns includes a bottom surface in contact with the first surface and and a top surface exposed from the first surface and facing the bottom surface, and a surface exposed from the first surface and provided with a side surface connecting the bottom surface and the top surface. Further, each of the plurality of electrode patterns is subjected to a blackening treatment of any one of a sulfurization blackening treatment and a substitution blackening treatment, and at least one of the bottom surface and the top surface and the side surface are replaced with a blackening layer which is a surface layer. do.

상기 터치 센서 기판의 제조 방법에 있어서, 상기 흑화 처리는, Pd 이온을 포함하는 용액인 흑화 처리액에 상기 전극 패턴을 침지하고, 상기 전극 패턴을 구성하는 금속과 상기 Pd 이온과의 치환 반응에 의해 상기 전극 패턴에 흑화층을 형성하는 치환 흑화 처리이며, 상기 흑화 처리액의 온도가, 55℃ 이하이고, 상기 흑화 처리액에 상기 전극 패턴이 침지되는 시간이 120초 이하이며, 또한 상기 흑화층의 두께가 0.2㎛ 이하인 길이로 설정되어 있는 것이 바람직하다.In the method of manufacturing the touch sensor substrate, the blackening treatment is performed by immersing the electrode pattern in a blackening treatment liquid, which is a solution containing Pd ions, by a substitution reaction between a metal constituting the electrode pattern and the Pd ions. It is a substitution blackening treatment of forming a blackening layer in the electrode pattern, the temperature of the blackening treatment liquid is 55° C. or less, the time the electrode pattern is immersed in the blackening treatment liquid is 120 seconds or less, and the blackening layer is It is preferable that the thickness is set to a length of 0.2 µm or less.

상기 터치 센서 기판의 제조 방법에 있어서, 상기 흑화 처리액의 온도가, 35℃ 이상 55℃ 이하이고, 상기 흑화 처리액에 있어서의 Pd 농도가, 100ppm 이상 500ppm 이하이고, 상기 흑화 처리액에 있어서의 pH가, 1.5 이상 2.5 이하이고, 상기 흑화 처리액에 상기 전극 패턴이 침지되는 시간은 10초 이상 120초 이하이며, 또한 상기 흑화층의 두께가 0.2㎛ 이하인 길이로 설정되어 있는 것이 바람직하다.In the manufacturing method of the said touch sensor board|substrate, the temperature of the said blackening process liquid is 35 degreeC or more and 55 degrees C or less, Pd concentration in the said blackening process liquid is 100 ppm or more and 500 ppm or less, and in the blackening process liquid It is preferable that pH is 1.5 or more and 2.5 or less, the time for which the electrode pattern is immersed in the blackening treatment liquid is 10 seconds or more and 120 seconds or less, and the thickness of the blackening layer is set to a length of 0.2 µm or less.

상기 터치 센서 기판의 제조 방법에 있어서, 상기 흑화 처리액에 상기 전극 패턴이 침지되는 시간은, 상기 흑화 처리 전후에 있어서의 상기 전극 패턴의 선 폭의 변화가 0.3㎛ 이하인 길이로 설정되어 있는 것이 바람직하다.In the method of manufacturing the touch sensor substrate, the time period for which the electrode pattern is immersed in the blackening treatment liquid is preferably set to a length such that the change in the line width of the electrode pattern before and after the blackening treatment is 0.3 μm or less. do.

본 발명에 있어서의 터치 센서 기판, 터치 패널 및 표시 장치에 의하면, 전극의 저항값이 높아지는 것을 경감해서 터치 센서 기판이 구비하는 전극의 시인성을 억제할 수 있다.ADVANTAGE OF THE INVENTION According to the touch sensor board|substrate in this invention, a touch panel, and a display device, it can reduce that the resistance value of an electrode becomes high, and the visibility of the electrode with which a touch sensor board|substrate is equipped can be suppressed.

도 1은 일 실시 형태에 있어서의 표시 장치의 평면 구조의 일례를 도시하는 평면도.
도 2는 일 실시 형태에 있어서의 표시 장치의 단면 구조의 일례를 도시하는 단면도.
도 3은 일 실시 형태에 있어서의 표시 장치의 단면 구조의 다른 예를 도시하는 단면도.
도 4는 일 실시 형태에 있어서의 표시 장치의 단면 구조의 다른 예를 도시하는 단면도.
도 5는 일 실시 형태에 있어서의 터치 패널의 전기적 구성의 일례를 도시하는 블록도.
도 6은 일 실시 형태에 있어서의 터치 패널의 전기적 구성의 다른 예를 도시하는 회로도.
도 7은 일 실시 형태에 있어서의 센서 기체의 단면 구조의 일례를 도시하는 단면도.
도 8은 일 실시 형태에 있어서의 센서 기체의 단면 구조의 다른 예를 도시하는 단면도.
도 9는 일 실시 형태에 있어서의 센서 기체의 단면 구조의 다른 예를 도시하는 단면도.
도 10은 일 실시 형태에 있어서의 센서 기체의 단면 구조의 다른 예를 도시하는 단면도.
도 11은 일 실시 형태에 있어서의 전극선의 단면 구조의 일례를 도시하는 단면도.
도 12의 (a) 내지 (e)는 일 실시 형태에 있어서의 터치 센서 기판의 제조 방법을 설명하는 단면으로 본 공정도.
도 13은 일 실시예의 전극 패턴에 있어서의 반사율과 파장의 관계를 나타내는 그래프이며, 흑화 처리 전의 반사율과 흑화 처리 후의 반사율을 나타내는 그래프.
1 is a plan view showing an example of a planar structure of a display device according to an embodiment;
Fig. 2 is a cross-sectional view showing an example of a cross-sectional structure of a display device according to an embodiment;
Fig. 3 is a cross-sectional view showing another example of the cross-sectional structure of the display device according to the embodiment;
Fig. 4 is a cross-sectional view showing another example of the cross-sectional structure of the display device according to the embodiment;
Fig. 5 is a block diagram showing an example of the electrical configuration of the touch panel according to the embodiment;
Fig. 6 is a circuit diagram showing another example of the electrical configuration of the touch panel according to the embodiment;
It is sectional drawing which shows an example of the cross-sectional structure of the sensor base|substrate in one Embodiment.
Fig. 8 is a cross-sectional view showing another example of the cross-sectional structure of the sensor body according to the embodiment;
Fig. 9 is a cross-sectional view showing another example of the cross-sectional structure of the sensor body according to the embodiment;
Fig. 10 is a cross-sectional view showing another example of the cross-sectional structure of the sensor body in the embodiment;
It is sectional drawing which shows an example of the cross-sectional structure of the electrode wire in one Embodiment.
12A to 12E are process diagrams viewed in cross section for explaining a method for manufacturing a touch sensor substrate according to an embodiment.
Fig. 13 is a graph showing the relationship between reflectance and wavelength in an electrode pattern according to an embodiment, and is a graph showing reflectance before blackening treatment and reflectance after blackening treatment;

도 1 내지 도 13을 참조하여 터치 센서 기판, 터치 패널, 표시 장치 및 터치 센서 기판의 제조 방법의 일 실시 형태를 설명한다.An embodiment of a method of manufacturing a touch sensor substrate, a touch panel, a display device, and a touch sensor substrate will be described with reference to FIGS. 1 to 13 .

[표시 장치의 평면 구조][Flat structure of display device]

도 1을 참조하여 표시 장치의 구성을 설명한다. 또한, 도 1에 있어서는, 표시 장치가 구비하는 제1 전극 및 제2 전극의 구성을 설명하는 편의상, 전극군을 구성하는 복수의 제1 전극 및 전극군을 구성하는 복수의 제2 전극이 과장되어 있다. 또한, 제1 전극을 구성하는 전극의 일례인 제1 전극선과, 제2 전극을 구성하는 전극의 일례인 제2 전극선이 모식적으로 도시되어 있다.A configuration of the display device will be described with reference to FIG. 1 . In addition, in FIG. 1, for convenience of explaining the configuration of the first electrode and the second electrode included in the display device, the plurality of first electrodes constituting the electrode group and the plurality of second electrodes constituting the electrode group are exaggerated. have. Moreover, the 1st electrode line which is an example of the electrode which comprises a 1st electrode, and the 2nd electrode line which is an example of the electrode which comprises a 2nd electrode are shown typically.

도 1이 나타내는 바와 같이, 표시 장치는, 예를 들어 액정 패널인 표시 패널(10)과 센서 기체(20)가, 하나의 투명 접착층에 의해 접합된 적층체이며, 센서 기체(20)를 구동하기 위한 구동 회로를 구비하고 있다. 표시 패널(10)의 표면에는 표시면(10S)이 구획되고, 표시면(10S)에는, 외부로부터의 화상 데이터에 기초하는 화상 등의 정보가 표시된다. 또한, 표시 패널(10)과 센서 기체(20)의 상대적인 위치가 하우징 등의 다른 구성에 의해 고정되는 전제라면, 투명 접착층이 생략되어도 된다.As shown in FIG. 1 , the display device is a laminate in which, for example, a display panel 10 , which is a liquid crystal panel, and a sensor body 20 are joined together by a single transparent adhesive layer, and to drive the sensor body 20 . A driving circuit is provided for A display surface 10S is partitioned on the surface of the display panel 10, and information such as an image based on external image data is displayed on the display surface 10S. In addition, as long as the relative positions of the display panel 10 and the sensor body 20 are fixed by other structures such as a housing, the transparent adhesive layer may be omitted.

센서 기체(20)는, 정전 용량형 터치 패널을 구성한다. 센서 기체(20)는, 전극 기판(21)과 커버층(22)이 투명 접착층(23)에 의해 접합된 적층체이며, 표시 패널(10)이 표시하는 정보를 투과하는 광투과성을 갖고 있다. 커버층(22)은, 유리 기판이나 수지 필름 등에 의해 구성되고, 커버층(22)에 있어서 투명 접착층(23)이 접합된 면과는 반대측의 면은, 센서 기체(20)에 있어서의 표면이며, 또한 센서 기체(20)에 있어서의 조작면(20S)으로서 기능한다. 투명 접착층(23)은, 표시면(10S)에 표시되는 화상을 투과하는 광투과성을 갖고, 투명 접착층(23)에는, 예를 들어 폴리에테르계 접착제나 아크릴계 접착제가 사용된다.The sensor body 20 constitutes a capacitive touch panel. The sensor base 20 is a laminate in which the electrode substrate 21 and the cover layer 22 are joined by a transparent adhesive layer 23 , and has light transmittance through which information displayed by the display panel 10 is transmitted. The cover layer 22 is made of a glass substrate or a resin film, and the surface of the cover layer 22 opposite to the surface to which the transparent adhesive layer 23 is bonded is the surface of the sensor base 20 . , further functions as the operation surface 20S of the sensor body 20 . The transparent adhesive layer 23 has light transmittance which transmits the image displayed on the display surface 10S, and a polyether adhesive or an acrylic adhesive is used for the transparent adhesive layer 23, for example.

전극 기판(21)을 구성하는 구성 요소 중에서 표시 패널(10)에 가까운 구성 요소부터 차례로, 투명 지지 기판(31), 제1 전극(31DP), 투명 접착층(32), 투명 유전체 기판(33), 제2 전극(33SP)이 위치해 있다.Among the components constituting the electrode substrate 21, the transparent support substrate 31, the first electrode 31DP, the transparent adhesive layer 32, the transparent dielectric substrate 33, The second electrode 33SP is positioned.

전극 기판(21)을 구성하는 투명 지지 기판(31)은, 표시 패널(10)에 형성된 표시면(10S) 전체에 중첩되어, 표시면(10S)이 표시하는 화상 등의 정보를 투과하는 광투과성을 갖고 있다. 투명 지지 기판(31)은, 예를 들어 투명 유리 기판이나 투명 수지 필름 등의 기재로 구성되어, 하나의 기재로 구성되는 단층 구조체여도 되고, 2개 이상의 기재가 중첩된 다층 구조체여도 된다.The transparent support substrate 31 constituting the electrode substrate 21 is superimposed on the entire display surface 10S formed on the display panel 10 and transmits information such as an image displayed by the display surface 10S. has a The transparent support substrate 31 is composed of, for example, a substrate such as a transparent glass substrate or a transparent resin film, and may be a single-layered structure composed of one substrate, or a multilayered structure in which two or more substrates are superimposed.

투명 지지 기판(31)에 있어서의 표시 패널(10)과 대향하는 면과는 반대측의 면은, 제1 전극(31DP)이 형성되는 제1 전극 배치면(31S)으로서 설정되어 있다. 투명 지지 기판(31)의 제1 전극 배치면(31S)은, 제1 면의 일례이며, 제1 전극 배치면(31S)에 있어서, 복수의 제1 전극(31DP)의 각각은, 하나의 방향인 Y 방향을 따라서 연장되는 띠 형상을 갖고, 또한 Y 방향과 직교하는 X 방향을 따라서 간격을 두고 나열되어 있다. 또한, 기재의 일례인 투명 지지 기판(31)이 투명 기재와 접착층으로 구성되고, 제1 전극 배치면(31S)은, 제1 전극(31DP)이 접착되는 접착층의 표면이어도 된다. 이들 투명 지지 기판(31)과 제1 전극(31DP)에 의해 하나의 터치 센서 기판이 구성되어 있다.A surface of the transparent support substrate 31 opposite to the surface facing the display panel 10 is set as the first electrode arrangement surface 31S on which the first electrode 31DP is formed. The first electrode arrangement surface 31S of the transparent support substrate 31 is an example of the first surface, and in the first electrode arrangement surface 31S, each of the plurality of first electrodes 31DP has one direction. It has a band shape extending along the Y direction, and is arranged at intervals along the X direction orthogonal to the Y direction. In addition, the transparent support substrate 31 which is an example of a base material is comprised from a transparent base material and an adhesive layer, and the 1st electrode mounting surface 31S may be the surface of the adhesive layer to which the 1st electrode 31DP is adhere|attached. One touch sensor substrate is constituted by the transparent support substrate 31 and the first electrode 31DP.

복수의 제1 전극(31DP)의 각각은, 복수의 제1 전극선(31L)의 집합이며, 복수의 제1 전극선(31L)의 각각은, 하나의 방향을 따라서 연장되는 선 형상을 갖고 있다. 복수의 제1 전극(31DP)의 각각은, 제1 패드(31P)를 거쳐서 개별로 선택 회로에 접속되고, 선택 회로가 출력하는 구동 신호를 받음으로써 선택 회로에 선택된다.Each of the plurality of first electrodes 31DP is a set of the plurality of first electrode lines 31L, and each of the plurality of first electrode lines 31L has a linear shape extending along one direction. Each of the plurality of first electrodes 31DP is individually connected to the selection circuit via the first pad 31P, and is selected by the selection circuit by receiving a drive signal output by the selection circuit.

제1 전극(31DP)의 형성 재료에는, 저항이 낮은 금속인 구리, 알루미늄, 은 나노 와이어가 사용되지만, 바람직하게는 구리이다. 또한, 제1 전극(31DP)의 형성 재료가 ITO와 같은 투명 도전 재료라면, 제1 전극선(31L)이 갖는 저항이 소정의 범위라는 전제에서, 제1 전극선(31L)의 선 폭은 굵게 할 수 있다. 이에 비해, 제1 전극(31DP)의 형성 재료가 금속과 같이 차광성을 갖는 재료라면, 제1 전극(31DP)의 투과율을 높이기 위해서, 제1 전극선(31L)의 형성 재료가 투명 도전 재료인 구성과 비교하여, 제1 전극선(31L)의 선 폭은 가늘고, 또한 제1 전극선(31L)의 수는 적은 편이 바람직하다. 또한, 서로 인접하는 제1 전극선(31L)의 간극은, 원하는 위치 분해능이 얻어지도록 적절히 설정된다.Copper, aluminum, and silver nanowires, which are metals with low resistance, are used as the material for forming the first electrode 31DP, but copper is preferable. In addition, if the forming material of the first electrode 31DP is a transparent conductive material such as ITO, on the premise that the resistance of the first electrode line 31L is within a predetermined range, the line width of the first electrode line 31L can be thickened. have. On the other hand, if the material for forming the first electrode 31DP is a material having light-shielding properties such as metal, in order to increase the transmittance of the first electrode 31DP, the material for forming the first electrode line 31L is a transparent conductive material. Compared with , it is preferable that the line width of the first electrode line 31L is thin and the number of the first electrode line 31L is small. In addition, the space|interval of 31 L of 1st electrode lines adjacent to each other is suitably set so that a desired position resolution may be acquired.

제1 전극 배치면(31S)에 있어서 복수의 제1 전극(31DP)의 외측에 위치하는 부분인 접속 부분 SD는, 배선이나 단자 등이 형성되는 부분이며, 이러한 배선이나 단자는, 구동용 반도체가 탑재된 플렉시블 기판의 접속용 단자를 제1 전극(31DP)과 접속한다. 또한, 제1 전극(31DP)의 형성 재료가 ITO 등의 투명 도전 재료인 경우에도, 접속 부분 SD에 형성되는 배선이나 단자의 형성 재료에 대해서는, 접속용 단자와의 밀착성이 높다는 관점에서 금속을 채용하거나 또는 금속으로 이루어지는 부분을 병설시키는 일이 많다. 그러므로, 상술한 제1 전극(31DP)으로 이루어지는 구성이면, 이러한 접속 부분 SD에 형성되는 배선이나 단자를 제1 전극(31DP)과 동일한 타이밍에 형성하는 것이 가능하기 때문에, 접속 부분 SD에 있어서의 패턴의 형성과 제1 전극(31DP)의 형성이 각각 별도로 진행되는 제조 방법과 비교하여, 제조 공정이 간략해진다는 이점이 있다.The connection portion SD, which is a portion located outside the plurality of first electrodes 31DP in the first electrode arrangement surface 31S, is a portion where wirings, terminals, etc. are formed, and these wirings and terminals include a driving semiconductor A connection terminal of the mounted flexible substrate is connected to the first electrode 31DP. Further, even when the material for forming the first electrode 31DP is a transparent conductive material such as ITO, for the material for forming the wiring or terminal formed in the connecting portion SD, a metal is employed from the viewpoint of high adhesion to the connecting terminal. Or, there are many cases where parts made of metal are placed side by side. Therefore, with the configuration comprising the above-described first electrode 31DP, it is possible to form wirings and terminals formed on the connection portion SD at the same timing as that of the first electrode 31DP, so that the pattern in the connection portion SD Compared to a manufacturing method in which the formation of , and the formation of the first electrode 31DP are performed separately, there is an advantage in that the manufacturing process is simplified.

복수의 제1 전극(31DP)과, 제1 전극 배치면(31S)에 있어서 제1 전극(31DP)이 위치되지 않는 부분은, 하나의 투명 접착층(32)에 의해 투명 유전체 기판(33)에 접합되어 있다. 투명 접착층(32)은, 표시면(10S)에 표시되는 화상 등의 정보를 투과하는 광투과성을 갖고, 제1 전극 배치면(31S) 및 복수의 제1 전극(31DP)과, 투명 유전체 기판(33)을 접착한다. 투명 접착층(32)에는, 예를 들어 폴리에테르계 접착제나 아크릴계 접착제 등이 사용된다. 투명 유전체 기판(33)에 있어서의 투명 지지 기판(31)과 대향하는 면인 이면에, 복수의 제1 전극(31DP)이 나열되어 있다.The plurality of first electrodes 31DP and the portion where the first electrode 31DP is not located in the first electrode arrangement surface 31S is bonded to the transparent dielectric substrate 33 by a single transparent adhesive layer 32 . has been The transparent adhesive layer 32 has light transmittance for transmitting information such as an image displayed on the display surface 10S, and includes a first electrode arrangement surface 31S, a plurality of first electrodes 31DP, and a transparent dielectric substrate ( 33) is attached. For the transparent adhesive layer 32, for example, a polyether-based adhesive, an acrylic adhesive, or the like is used. A plurality of first electrodes 31DP are arranged on the back surface of the transparent dielectric substrate 33 which is the surface opposite to the transparent support substrate 31 .

투명 유전체 기판(33)은, 예를 들어 폴리에틸렌테레프탈레이트 등의 투명 수지 필름이나 투명 유리 기판 등의 기재로 구성되어, 하나의 기재로 구성되는 단층 구조여도 되고, 2개 이상의 기재가 중첩된 다층 구조여도 된다. 투명 유전체 기판(33)은, 표시면(10S)에 표시되는 화상 등의 정보를 투과하는 광투과성과, 전극간에 있어서의 정전 용량의 검출에 적합한 비유전율을 갖는다.The transparent dielectric substrate 33 is composed of, for example, a transparent resin film such as polyethylene terephthalate or a substrate such as a transparent glass substrate, and may have a single-layer structure composed of one substrate, or a multilayer structure in which two or more substrates are superimposed on each other. may be The transparent dielectric substrate 33 has light transmittance for transmitting information such as an image displayed on the display surface 10S, and a relative permittivity suitable for detecting an electrostatic capacitance between electrodes.

투명 유전체 기판(33)에 있어서의 투명 접착층(32)과는 반대측의 면인 표면은, 제2 전극(33SP)이 형성되는 제2 전극 배치면(33S)으로서 설정되어 있다. 투명 유전체 기판(33)의 제2 전극 배치면(33S)은 제1 면의 일례이며, 제2 전극 배치면(33S)에 있어서, 복수의 제2 전극(33SP)의 각각은, X 방향을 따라서 연장되는 띠 형상을 갖고, 또한 X 방향과 직교하는 Y 방향을 따라서 간극을 두고 나열되어 있다. 또한, 기재의 일례인 투명 유전체 기판(33)이 투명 기재와 접착층으로 구성되고, 제2 전극 배치면(33S)은, 제2 전극(33SP)이 접착되는 접착층의 표면이어도 된다. 이들 투명 유전체 기판(33)과 제2 전극(33SP)에 의해 하나의 터치 센서 기판이 구성되어 있다.The surface of the transparent dielectric substrate 33 opposite to the transparent adhesive layer 32 is set as the second electrode arrangement surface 33S on which the second electrode 33SP is formed. The second electrode arrangement surface 33S of the transparent dielectric substrate 33 is an example of the first surface, and in the second electrode arrangement surface 33S, each of the plurality of second electrodes 33SP extends along the X direction. It has an extended strip|belt shape, and is lined up with a space|interval along the Y direction orthogonal to an X direction. In addition, the transparent dielectric substrate 33 which is an example of a base material is comprised with a transparent base material and an adhesive layer, and the 2nd electrode arrangement surface 33S may be the surface of the adhesive layer to which the 2nd electrode 33SP is adhere|attached. One touch sensor substrate is constituted by the transparent dielectric substrate 33 and the second electrode 33SP.

복수의 제2 전극(33SP)의 각각은, 복수의 제2 전극선의 집합이며, 복수의 제2 전극선(33L)의 각각은, 제1 전극선(31L)과 직교하는 방향을 따라서 연장되는 선 형상을 갖고 있다. 복수의 제2 전극(33SP)의 각각은, 제2 패드(33P)를 거쳐서 개별로 검출 회로에 접속되고, 검출 회로에 의해 전류값이 측정된다.Each of the plurality of second electrodes 33SP is a set of a plurality of second electrode lines, and each of the plurality of second electrode lines 33L has a linear shape extending along a direction orthogonal to the first electrode line 31L. have it Each of the plurality of second electrodes 33SP is individually connected to a detection circuit via the second pad 33P, and a current value is measured by the detection circuit.

제2 전극(33SP)의 형성 재료에는, 저항이 낮은 금속인 구리, 알루미늄, 은 나노 와이어가 사용되지만, 바람직하게는 구리이다. 또한, 제2 전극(33SP)의 형성 재료가 ITO와 같은 투명 도전 재료라면, 제2 전극선(33L)이 갖는 저항이 소정의 범위라는 전제에서, 제2 전극선(33L)의 선 폭은 굵게 할 수 있다. 이에 비해, 제2 전극(33SP)의 형성 재료가 금속과 같이 차광성을 갖는 재료라면, 제2 전극(33SP)의 투과율을 높이기 위해서, 제2 전극선(33L)의 형성 재료가 투명 도전 재료인 구성과 비교하여, 제2 전극선(33L)의 선 폭은 가늘고, 또한 제2 전극선(33L)의 수는 적은 편이 바람직하다. 또한, 서로 인접하는 제2 전극선(33L)의 간극은, 원하는 위치 분해능이 얻어지도록 적절히 설정된다.Although copper, aluminum, and silver nanowire which are metals with low resistance are used for the forming material of the 2nd electrode 33SP, copper is preferable. In addition, if the forming material of the second electrode 33SP is a transparent conductive material such as ITO, on the premise that the resistance of the second electrode line 33L is within a predetermined range, the line width of the second electrode line 33L can be thickened. have. On the other hand, if the material for forming the second electrode 33SP is a material having light-shielding properties such as metal, in order to increase the transmittance of the second electrode 33SP, the material for forming the second electrode line 33L is a transparent conductive material. Compared with , it is preferable that the line width of the second electrode line 33L is thin and the number of the second electrode line 33L is small. In addition, the gap|interval of 33L of 2nd electrode lines adjacent to each other is suitably set so that a desired position resolution may be acquired.

제2 전극 배치면(33S)에 있어서 복수의 제2 전극(33SP)의 외측에 위치하는 부분인 접속 부분 SS는, 배선이나 단자 등이 형성되는 부분이며, 이러한 배선이나 단자는, 구동용 반도체가 탑재된 플렉시블 기판의 접속용 단자를 제2 전극(33SP)과 접속한다. 또한, 제2 전극(33SP)의 형성 재료가 ITO 등의 투명 도전 재료인 경우에도, 접속 부분 SS에 형성되는 배선이나 단자의 형성 재료에 대해서는, 접속용 단자와의 밀착성이 높다는 관점에서 금속을 채용하거나 또는 금속으로 이루어지는 부분을 병설시키는 일이 많다. 그러므로, 상술한 제2 전극(33SP)으로 이루어지는 구성이면, 이러한 접속 부분 SS에 형성되는 배선이나 단자를 제2 전극(33SP)과 동일한 타이밍에 형성하는 것이 가능하기 때문에, 접속 부분 SS에 있어서의 패턴의 형성과 제2 전극(33SP)의 형성이 각각 별도로 진행되는 제조 방법과 비교하여, 제조 공정이 간략해진다는 이점이 있다.The connection portion SS, which is a portion located outside the plurality of second electrodes 33SP in the second electrode arrangement surface 33S, is a portion in which wirings, terminals, etc. are formed, and these wirings and terminals include a driving semiconductor A connection terminal of the mounted flexible substrate is connected to the second electrode 33SP. In addition, even when the forming material of the second electrode 33SP is a transparent conductive material such as ITO, for the forming material of the wiring and the terminal formed in the connecting portion SS, a metal is employed from the viewpoint of high adhesion to the connecting terminal. Or, there are many cases where parts made of metal are placed side by side. Therefore, if it is the structure of the above-mentioned second electrode 33SP, since it is possible to form the wiring and the terminal formed in this connection part SS at the same timing as the second electrode 33SP, the pattern in the connection part SS Compared with a manufacturing method in which the formation of , and the formation of the second electrode 33SP are performed separately, there is an advantage in that the manufacturing process is simplified.

제2 전극 배치면(33S)과 대향하는 평면에서 보아, 복수의 제1 전극(31DP)의 각각은, 복수의 제2 전극(33SP)의 각각과 입체적으로 교차된다. 이에 의해, 복수의 제1 전극(31DP)의 각각이 구비하는 복수의 제1 전극선(31L)과, 복수의 제2 전극(33SP)의 각각이 구비하는 복수의 제2 전극선(33L)은, 제2 전극 배치면(33S)과 대향하는 평면에서 보아, 직사각형 형상을 갖는 단위 격자가 나열되는 격자 형상을 가진 격자 패턴을 형성하고 있다.In a plan view opposite to the second electrode arrangement surface 33S, each of the plurality of first electrodes 31DP three-dimensionally intersects each of the plurality of second electrodes 33SP. Thereby, the some 1st electrode line 31L with which each of the some 1st electrode 31DP is equipped, and the some 2nd electrode line 33L which each of the some 2nd electrode 33SP are equipped with are, A lattice pattern having a lattice shape in which unit lattices having a rectangular shape are aligned in a plan view opposite to the two electrode arrangement surface 33S is formed.

복수의 제2 전극(33SP)과, 제2 전극 배치면(33S)에 있어서 제2 전극(33SP)이 위치되지 않는 부분은, 상술한 투명 접착층(23)에 의해 커버층(22)에 접합되어 있다.The plurality of second electrodes 33SP and the portion where the second electrode 33SP is not located in the second electrode arrangement surface 33S is bonded to the cover layer 22 by the transparent adhesive layer 23 described above. have.

[표시 장치의 단면 구조][Cross-section structure of display device]

도 2가 나타내는 바와 같이, 센서 기체(20)를 구성하는 구성 요소 중에서 표시 패널(10)에 가까운 구성 요소부터 차례로, 투명 지지 기판(31), 제1 전극(31DP), 투명 접착층(32), 투명 유전체 기판(33), 제2 전극(33SP), 투명 접착층(23), 커버층(22)이 위치해 있다. 이 중, 투명 유전체 기판(33)은, 복수의 제1 전극(31DP)과, 복수의 제2 전극(33SP) 사이에 끼워져 있다. 센서 기체(20), 상기 선택 회로 및 상기 검출 회로가, 터치 패널의 일례를 구성하고 있다.As shown in FIG. 2 , among the components constituting the sensor body 20 , the transparent support substrate 31 , the first electrode 31DP, the transparent adhesive layer 32 , A transparent dielectric substrate 33 , a second electrode 33SP, a transparent adhesive layer 23 , and a cover layer 22 are positioned. Among them, the transparent dielectric substrate 33 is sandwiched between the plurality of first electrodes 31DP and the plurality of second electrodes 33SP. The sensor body 20, the selection circuit, and the detection circuit constitute an example of a touch panel.

또한, 투명 접착층(32)은 제1 전극(31DP)을 구성하는 각 제1 전극선(31L)의 둘레를 덮고, 또한 서로 인접하는 제1 전극선(31L) 사이를 매워, 제1 전극(31DP)과 투명 유전체 기판(33) 사이에 위치해 있다. 또한, 투명 접착층(23)은 제2 전극(33SP)을 구성하는 각 제2 전극선(33L)의 둘레를 덮고, 또한 서로 인접하는 제2 전극선(33L) 사이를 매워, 제2 전극(33SP)과 커버층(22) 사이에 위치해 있다. 이들 구성 요소에 있어서, 투명 접착층(23) 및 투명 지지 기판(31) 중 적어도 한쪽은 생략되어도 된다.In addition, the transparent adhesive layer 32 covers the periphery of each of the first electrode lines 31L constituting the first electrode 31DP, and fills the spaces between the first electrode lines 31L adjacent to each other, the first electrode 31DP and It is located between the transparent dielectric substrates (33). In addition, the transparent adhesive layer 23 covers the periphery of each second electrode line 33L constituting the second electrode 33SP, and fills the spaces between the second electrode lines 33L adjacent to each other, the second electrode 33SP and It is located between the cover layers 22 . These components WHEREIN: At least one of the transparent adhesive layer 23 and the transparent support substrate 31 may be abbreviate|omitted.

또한, 표시 패널(10)을 구성하는 구성 요소 중에서 센서 기체(20)로부터 먼 구성 요소부터 차례로, 표시 패널(10)을 구성하는 복수의 구성 요소는 이하와 같이 나열되어 있다. 즉, 센서 기체(20)로부터 먼 구성 요소부터 차례로, 하측 편광판(11), 박막 트랜지스터(이하, TFT) 기판(12), TFT층(13), 액정층(14), 컬러 필터층(15), 컬러 필터 기판(16), 상측 편광판(17)이 위치해 있다.In addition, among the components constituting the display panel 10 , a plurality of components constituting the display panel 10 are sequentially arranged from the component distant from the sensor body 20 as follows. That is, from the component distant from the sensor body 20, the lower polarizing plate 11, the thin film transistor (hereinafter, TFT) substrate 12, the TFT layer 13, the liquid crystal layer 14, the color filter layer 15, A color filter substrate 16 and an upper polarizing plate 17 are located.

또한, 상술한 표시 장치는, 이하에 도시되는 바와 같이, 구성 요소의 일부가 생략되어도 되고, 구성 요소가 위치하는 순서가 변경되어도 된다.In addition, in the above-described display device, as shown below, some of the components may be omitted, and the order in which the components are positioned may be changed.

즉, 도 3이 나타내는 바와 같이, 센서 기체(20)를 구성하는 전극 기판(21)에 있어서, 투명 지지 기판(31) 및 투명 접착층(32)이 생략되어도 된다. 이러한 구성에서는, 투명 유전체 기판(33)의 면 중에서, 표시 패널(10)과 대향하는 하나의 면이 제1 전극 배치면(31S)으로서 설정되고, 제1 전극 배치면(31S)에는, 제1 전극(31DP)이 위치한다. 그리고, 투명 유전체 기판(33)에 있어서의, 제1 전극 배치면(31S)과 대향하는 면에 제2 전극(33SP)이 위치한다. 이러한 제1 전극(31DP)은, 예를 들어 제1 전극 배치면(31S)에 형성되는 하나의 박막의 패터닝에 의해 형성되고, 제2 전극(33SP)도 또한, 예를 들어 제2 전극(33SP)이 위치하는 면에 형성되는 하나의 박막의 패터닝에 의해 형성된다.That is, as FIG. 3 shows, in the electrode substrate 21 which comprises the sensor base|substrate 20, the transparent support substrate 31 and the transparent adhesive layer 32 may be abbreviate|omitted. In this configuration, among the surfaces of the transparent dielectric substrate 33 , one surface facing the display panel 10 is set as the first electrode placement surface 31S, and the first electrode placement surface 31S is provided with the first An electrode 31DP is positioned. Then, the second electrode 33SP is positioned on the surface of the transparent dielectric substrate 33 opposite to the first electrode arrangement surface 31S. This first electrode 31DP is formed by, for example, patterning of one thin film formed on the first electrode arrangement surface 31S, and the second electrode 33SP is also, for example, the second electrode 33SP. ) is formed by patterning a single thin film formed on the surface where it is located.

또는, 도 4가 나타내는 바와 같이, 센서 기체(20)에 있어서, 표시 패널(10)에 가까운 구성 요소부터 차례로, 제1 전극(31DP), 투명 지지 기판(31), 투명 접착층(32), 투명 유전체 기판(33), 제2 전극(33SP), 투명 접착층(23), 커버층(22)이 위치해 있다. 이러한 구성에 있어서, 예를 들어 제1 전극(31DP)은 투명 지지 기판(31)의 하나의 면인 제1 전극 배치면(31S)에 형성되고, 제2 전극(33SP)은 투명 유전체 기판(33)의 하나의 면인 제2 전극 배치면(33S)에 형성된다. 그리고, 투명 지지 기판(31)에 있어서 제1 전극 배치면(31S)과 대향하는 면과, 투명 유전체 기판(33)에 있어서 제2 전극 배치면(33S)과 대향하는 면이, 투명 접착층(32)에 의해 접착된다. 또한, 투명 지지 기판(31), 투명 접착층(32) 및 투명 유전체 기판(33)에 의해 투명 유전체층이 구성되어 있다.Alternatively, as shown in FIG. 4 , in the sensor base 20 , the first electrode 31DP, the transparent support substrate 31, the transparent adhesive layer 32, and the transparent A dielectric substrate 33 , a second electrode 33SP, a transparent adhesive layer 23 , and a cover layer 22 are positioned. In this configuration, for example, the first electrode 31DP is formed on the first electrode arrangement surface 31S, which is one surface of the transparent support substrate 31 , and the second electrode 33SP is formed on the transparent dielectric substrate 33 . It is formed on one surface of the second electrode arrangement surface 33S. A surface of the transparent support substrate 31 opposite to the first electrode placement surface 31S and a surface of the transparent dielectric substrate 33 opposite to the second electrode placement surface 33S are the transparent adhesive layer 32 . ) is attached by Further, a transparent dielectric layer is constituted by the transparent support substrate 31 , the transparent adhesive layer 32 , and the transparent dielectric substrate 33 .

[터치 센서의 전기적 구성][Electrical configuration of touch sensor]

도 5를 참조하여, 터치 센서의 전기적 구성을 설명한다. 또한, 이하에서는, 정전 용량식 터치 센서의 일례로서, 상호 용량 방식의 터치 센서에 있어서의 전기적 구성을 설명한다.Referring to FIG. 5 , an electrical configuration of the touch sensor will be described. In addition, below, as an example of a capacitive touch sensor, the electrical structure in a mutual capacitive touch sensor is demonstrated.

도 5가 나타내는 바와 같이, 터치 센서는, 센서 기체(20), 선택 회로(34), 검출 회로(35) 및 제어부(36)를 구비하고 있다. 선택 회로(34)는 복수의 제1 전극(31DP)에 접속되고, 검출 회로(35)는 복수의 제2 전극(33SP)에 접속되고, 제어부(36)는 선택 회로(34)와 검출 회로(35)에 접속되어 있다.As FIG. 5 shows, the touch sensor is equipped with the sensor body 20, the selection circuit 34, the detection circuit 35, and the control part 36. As shown in FIG. The selection circuit 34 is connected to the plurality of first electrodes 31DP, the detection circuit 35 is connected to the plurality of second electrodes 33SP, and the control unit 36 includes the selection circuit 34 and the detection circuit ( 35) is connected.

제어부(36)는 각 제1 전극(31DP)에 대한 구동 신호의 생성을 선택 회로(34)에 개시시키기 위한 개시 타이밍 신호를 생성해서 출력한다. 제어부(36)는, 구동 신호가 공급되는 대상을 1번째의 제1 전극(31DP)으로부터 n번째의 제1 전극(31DP)을 향해서 선택 회로(34)에 순차 주사시키기 위한 주사 타이밍 신호를 생성해서 출력한다.The control unit 36 generates and outputs a start timing signal for starting the generation of the driving signal for each first electrode 31DP to the selection circuit 34 . The control unit 36 generates a scan timing signal for sequentially scanning the target to which the drive signal is supplied from the first first electrode 31DP toward the n-th first electrode 31DP by the selection circuit 34 , print out

제어부(36)는 각 제2 전극(33SP)을 흐르는 전류의 검출을 검출 회로(35)에 개시시키기 위한 개시 타이밍 신호를 생성해서 출력한다. 제어부(36)는 검출 대상을 1번째의 제2 전극(33SP)으로부터 n번째의 제2 전극(33SP)을 향해서 검출 회로(35)에 순차 주사시키기 위한 주사 타이밍 신호를 생성해서 출력한다.The control unit 36 generates and outputs a start timing signal for initiating the detection circuit 35 to detect the current flowing through each second electrode 33SP. The control unit 36 generates and outputs a scanning timing signal for sequentially scanning the detection circuit 35 from the first second electrode 33SP toward the n-th second electrode 33SP.

선택 회로(34)는, 제어부(36)가 출력한 개시 타이밍 신호에 기초하여, 구동 신호의 생성을 개시하고, 제어부(36)가 출력한 주사 타이밍 신호에 기초하여, 구동 신호의 출력처를 1번째의 제1 전극(31DP1)으로부터 n번째의 제1 전극(31DPn)을 향해서 주사한다.The selection circuit 34 starts generation of the drive signal based on the start timing signal output from the control unit 36 , and sets the output destination of the drive signal to 1 based on the scan timing signal output from the control unit 36 . Scanning is performed from the first electrode 31DP1 at the n-th to the first electrode 31DPn at the n-th.

검출 회로(35)는 신호 취득부(35a)와 신호 처리부(35b)를 구비하고 있다. 신호 취득부(35a)는, 제어부(36)가 출력한 개시 타이밍 신호에 기초하여, 각 제2 전극(33SP)에 생성된 아날로그 신호인 전류 신호의 취득을 개시한다. 그리고, 신호 취득부(35a)는, 제어부(36)가 출력한 주사 타이밍 신호에 기초하여, 전류 신호의 취득원을 1번째의 제2 전극(33SP1)으로부터 n번째의 제2 전극(33SPn)을 향해서 주사한다.The detection circuit 35 includes a signal acquisition unit 35a and a signal processing unit 35b. The signal acquisition unit 35a starts acquisition of a current signal that is an analog signal generated in each of the second electrodes 33SP based on the start timing signal output by the control unit 36 . Then, the signal acquisition unit 35a selects the current signal acquisition source from the first second electrode 33SP1 to the n-th second electrode 33SPn based on the scan timing signal output by the control unit 36 . inject towards

신호 처리부(35b)는, 신호 취득부(35a)가 취득한 각 전류 신호를 처리하여, 디지털값인 전압 신호를 생성하고, 생성된 전압 신호를 제어부(36)를 향해서 출력한다. 이와 같이, 선택 회로(34)와 검출 회로(35)는, 정전 용량의 변화에 따라서 바뀌는 전류 신호로부터 전압 신호를 생성함으로써, 제1 전극(31DP)과 제2 전극(33SP) 사이의 정전 용량 변화를 측정한다. 선택 회로(34) 및 검출 회로(35)는 주변 회로의 일례이다.The signal processing unit 35b processes each current signal acquired by the signal acquisition unit 35a to generate a voltage signal that is a digital value, and outputs the generated voltage signal to the control unit 36 . In this way, the selection circuit 34 and the detection circuit 35 generate a voltage signal from a current signal that changes according to a change in the capacitance, thereby changing the capacitance between the first electrode 31DP and the second electrode 33SP. measure The selection circuit 34 and the detection circuit 35 are examples of peripheral circuits.

제어부(36)는, 신호 처리부(35b)가 출력한 전압 신호에 기초하여, 센서 기체(20)에 있어서 사용자의 손끝 등이 닿은 위치를 검출한다. 이때, 제1 전극(31DP)과 제2 전극(33SP)의 배치가 메쉬(매트릭스) 배치이기 때문에, X 방향에 있어서의 손끝 등의 위치와, Y 방향에 있어서의 손끝 등의 위치가, 각 방향에 있어서 독립적으로 감지된다.The control part 36 detects the position where a user's fingertip etc. touched in the sensor body 20 based on the voltage signal outputted by the signal processing part 35b. At this time, since the arrangement of the first electrode 31DP and the second electrode 33SP is a mesh (matrix) arrangement, the position of the fingertip in the X direction and the position of the fingertip etc. in the Y direction are in each direction. independently detected in

또한, 정전 용량식 터치 센서의 하나의 예로서 상호 용량 방식의 터치 센서의 전기적 구성을 설명했지만, 상술한 터치 센서의 전기적 구성은, 자기 용량 방식의 터치 센서로 구체화하는 것도 가능하다. 이하에, 자기 용량 방식의 터치 센서에 있어서의 전기적 구성을 설명한다. 또한, 자기 용량 방식의 터치 센서에 있어서는, 제1 전극(31DP)에 있어서의 검출의 범위와, 제2 전극(33SP)에 있어서의 검출 범위가 서로 상이한 한편, 제1 전극(31DP)에 있어서의 검출 방식과, 제2 전극(33SP)에 있어서의 검출 방식이 서로 마찬가지이기 때문에, 제2 전극(33SP)을 예시해서 그 검출 방식을 설명한다.In addition, although the electrical configuration of the mutual capacitive touch sensor has been described as an example of the capacitive touch sensor, the above-described electrical configuration of the touch sensor can also be embodied as a self-capacitive touch sensor. Hereinafter, the electrical configuration of the self-capacitance type touch sensor will be described. Further, in the self-capacitance touch sensor, the detection range of the first electrode 31DP and the detection range of the second electrode 33SP are different from each other, while the detection range of the first electrode 31DP is different from each other. Since the detection method and the detection method in the second electrode 33SP are the same as each other, the detection method will be described by exemplifying the second electrode 33SP.

각 제2 전극(33SP)의 양측에는 접속 단자를 거쳐서 구동용 반도체 소자(전원)가 접속된다. 이 모습을 모식적으로 도시하는 것이 도 6이다.A driving semiconductor element (power supply) is connected to both sides of each second electrode 33SP via a connection terminal. Fig. 6 schematically shows this state.

도 6에 나타내는 바와 같이, 제2 전극(33SP)의 양측에 동일한 위상이고 동일한 전압의 교류 신호(24)가 인가된다. 양단의 전압이 동일하기 때문에, 통상은, 제2 전극(33SP)에는 전류는 흐르지 않는다. 이 상태로부터, 도전성과 용량성을 갖는 손가락이 제2 전극(33SP) 상에 접근하면, 제2 전극(33SP)과 손가락 사이에 용량 결합(23B)이 발생한다. 용량 결합(23B)이 발생하면, 사람을 통한 폐회로가 형성되어 교류 전류가 제2 전극(33SP)을 흐르게 된다. 이때, 제2 전극(33SP)에 전류가 흐르기 때문에, 제2 전극(33SP)의 저항은 낮은 것이 바람직하다.As shown in FIG. 6 , the AC signal 24 of the same phase and the same voltage is applied to both sides of the second electrode 33SP. Since the voltages at both ends are the same, normally, no current flows through the second electrode 33SP. From this state, when a finger having conductivity and capacitance approaches the second electrode 33SP, a capacitive coupling 23B occurs between the second electrode 33SP and the finger. When the capacitive coupling 23B occurs, a closed circuit is formed through a person so that an alternating current flows through the second electrode 33SP. At this time, since a current flows through the second electrode 33SP, the resistance of the second electrode 33SP is preferably low.

제2 전극(33SP)에 흐르는 전류는, 반도체 소자를 통해서 제2 전극(33SP)의 양측으로부터 용량 결합(23B)을 향해서 유입되는데, 양측 중 어느 한쪽으로부터 얼마나 전류가 유입되는지는 제2 전극(33SP) 상에 있어서 용량 결합이 발생한 위치에 따라 바뀐다. 그리고, 양측 중 어느 한쪽으로부터 얼마나 전류가 유입되는지는, 제2 전극(33SP)에 접근 또는 접촉한 것에 있어서의 임피던스에 좌우되지 않는다는 특징이 있다. 제2 전극(33SP)에 유입되는 전류는, 제2 전극(33SP)의 양단에 저항 소자(도시하지 않음)를 넣어 두면 전압으로부터 예측할 수 있기 때문에, 그 정보로부터 용량 결합(23B)의 제2 전극(33SP) 상의 위치가 산출된다.The current flowing through the second electrode 33SP flows toward the capacitive coupling 23B from both sides of the second electrode 33SP through the semiconductor element, and how much current flows from either side of the second electrode 33SP ), depending on the location where the capacitive coupling occurred. In addition, there is a feature that how much current flows from either side does not depend on the impedance at which the second electrode 33SP is approached or contacted. Since the current flowing into the second electrode 33SP can be predicted from the voltage by putting resistance elements (not shown) at both ends of the second electrode 33SP, from that information, the second electrode of the capacitive coupling 23B The position on (33SP) is calculated.

이러한 제2 전극(33SP)을 Y 방향을 따라서 나열하고, 또한 제2 전극(33SP)과 마찬가지로 위치를 검출할 수 있는 제1 전극(31DP)을 X 방향을 따라서 나열함으로써, 이차원 방향에 있어서 위치를 검출할 수 있는 위치 센서로서 기능한다. 이 원리에서는, 복수의 접촉이 동시에 일어나도 각각의 접촉하는 위치의 특정이 가능하게 된다.By arranging these second electrodes 33SP along the Y direction, and arranging the first electrodes 31DP whose position can be detected similarly to the second electrode 33SP along the X direction, the position in the two-dimensional direction is determined. It functions as a position sensor that can detect it. In this principle, even if a plurality of contacts occur at the same time, it is possible to specify the respective contact positions.

또한, 상호 용량 방식을 채용한 터치 센서든, 자기 용량 방식을 채용한 터치 센서든, 메쉬를 가늘게 함으로써 위치 분해능은 높아진다. 한편, 서로 인접하는 제1 전극선(31L)과, 서로 인접하는 제2 전극선(33L)으로 구성되는 격자를 통해서 조작면(20S)의 화상이 시인되기 때문에, 메쉬를 성기게 함으로써 화상의 시인성은 높아진다. 또한, 센서로서의 기능은, 하나의 제1 전극(31DP)과 하나의 제2 전극(33SP)으로 이루어지는 구성에 의해 논할 수 있다. 제1 전극선(31L)이나 제2 전극선(33L)은, 통상 직선 형상이지만, 예를 들어 꺾은선 형상, 사인파 형상, 구형파 형상과 같이, 지그재그로 구부러져 있어도 상관없다.In addition, whether a touch sensor employing a mutual capacitive method or a touch sensor employing a self-capacitance method increases the positional resolution by making the mesh thinner. On the other hand, since the image of the operation surface 20S is visually recognized through the grid|lattice comprised by the 1st electrode line 31L adjacent to each other, and the 2nd electrode wire 33L adjacent to each other, the visibility of an image is improved by making a mesh coarse. . In addition, the function as a sensor can be discussed in terms of a configuration comprising one first electrode 31DP and one second electrode 33SP. Although 31 L of 1st electrode lines and 33 L of 2nd electrode lines are linear normally, you may bend in zigzag like a broken line shape, a sine wave shape, and a square wave shape, for example.

[센서 기체(20)의 단면 구조][Cross-sectional structure of the sensor body 20]

이하, 도 2 내지 도 4가 나타내는 단면 구조를 포함시켜, 센서 기체(20)가 갖는 단면 구조의 예에 대해서 상세하게 설명한다.Hereinafter, examples of the cross-sectional structure of the sensor body 20 including the cross-sectional structure shown in FIGS. 2 to 4 will be described in detail.

도 7이 나타내는 바와 같이, 센서 기체(20)가 갖는 단면 구조의 하나의 예에 있어서, 투명 지지 기판(31)에 제1 전극선(31L)이 배치되고, 투명 유전체 기판(33)에 제2 전극선(33L)이 배치되어 있다. 이때, 투명 지지 기판(31)에 있어서 제1 전극선(31L)이 형성되는 면은, 제1 전극 배치면(31S)이며, 투명 유전체 기판(33)에 있어서 제2 전극선(33L)이 형성되는 면은, 제2 전극 배치면(33S)이다. 그리고, 제1 전극선(31L) 및 제2 전극선(33L)의 투명 유전체 기판(33)에 대한 배치로서, 투명 유전체 기판(33)의 표면에 제2 전극선(33L)이 배치되고, 투명 유전체 기판(33)의 이면에 제1 전극선(31L)이 배치되어 있다. 즉, 관찰자 측에서 보아 배부 쪽을 제2 전극선(33L)으로 하고, 등부 쪽을 제1 전극선(31L)으로 한다. 또한, 이러한 단면 구조를 갖는 센서 기체(20)는, 도 2에 있어서 설명된 표시 장치의 단면 구조에 포함되고, 예를 들어 제1 전극선(31L)이 형성된 투명 지지 기판(31)과 제2 전극선(33L)이 형성된 투명 유전체 기판(33)이, 기판간의 접착층을 개재해서 접합됨으로써 형성된다. 또한, 기재의 일례인 투명 지지 기판(31)이 투명 기재와 접착층으로 구성되고, 제1 전극 배치면(31S)은, 제1 전극(31DP)이 접착되는 접착층의 표면이어도 된다. 또한, 기재의 일례인 투명 유전체 기판(33)이 투명 기재와 접착층으로 구성되고, 제2 전극선(33L)이 형성된 면이, 제2 전극선(33L)이 접착되는 접착층의 표면이어도 된다.As shown in FIG. 7 , in one example of the cross-sectional structure of the sensor base 20 , the first electrode line 31L is disposed on the transparent support substrate 31 , and the second electrode line is disposed on the transparent dielectric substrate 33 . (33L) is arranged. At this time, the surface on which the first electrode line 31L is formed in the transparent support substrate 31 is the first electrode arrangement surface 31S, and the surface on which the second electrode line 33L is formed in the transparent dielectric substrate 33 . Silver is the 2nd electrode arrangement surface 33S. Then, as the arrangement of the first electrode line 31L and the second electrode line 33L with respect to the transparent dielectric substrate 33, the second electrode line 33L is arranged on the surface of the transparent dielectric substrate 33, and the transparent dielectric substrate ( 33), the first electrode line 31L is arranged. That is, when viewed from the observer side, the back side is the second electrode line 33L, and the back side is the first electrode line 31L. In addition, the sensor base|substrate 20 which has such a cross-sectional structure is included in the cross-sectional structure of the display apparatus demonstrated in FIG. 2, for example, the transparent support substrate 31 in which the 1st electrode line 31L was formed, and the 2nd electrode wire. The transparent dielectric substrate 33 on which 33L is formed is formed by bonding through an adhesive layer between the substrates. In addition, the transparent support substrate 31 which is an example of a base material is comprised from a transparent base material and an adhesive layer, and the 1st electrode mounting surface 31S may be the surface of the adhesive layer to which the 1st electrode 31DP is adhere|attached. In addition, the transparent dielectric substrate 33 which is an example of a base material is comprised from a transparent base material and an adhesive layer, and the surface on which the 2nd electrode line 33L was formed may be the surface of the adhesive layer to which the 2nd electrode wire 33L is adhere|attached.

도 8이 나타내는 바와 같이, 센서 기체(20)가 갖는 단면 구조의 다른 예에 있어서, 투명 유전체 기판(33)은, 제1 투명 유전체 기판(33A)과 제2 투명 유전체 기판(33B)을 구비하고 있다. 제1 투명 유전체 기판(33A)에 제1 전극선(31L)이 배치되고, 제2 투명 유전체 기판(33B)에 제2 전극선(33L)이 배치되어 있다. 이때, 제1 투명 유전체 기판(33A)에 있어서 제1 전극선(31L)이 형성되는 면은, 제1 전극 배치면(31S)이며, 제2 투명 유전체 기판(33B)에 있어서 제2 전극선(33L)이 형성되는 면은, 제2 전극 배치면(33S)이다. 그리고, 제1 전극선(31L) 및 제2 전극선(33L)의 투명 유전체 기판(33)에 대한 배치로서, 투명 유전체 기판(33)의 표면에 제2 전극선(33L)이 배치되고, 투명 유전체 기판(33)의 이면에 제1 전극선(31L)이 배치되어 있다. 즉, 관찰자 측에서 보아, 제2 전극선(33L)이 형성된 제2 투명 유전체 기판(33B)과, 제1 전극선(31L)이 형성된 제1 투명 유전체 기판(33A)이 표리 관계로 적층되어 있다. 또한, 이러한 단면 구조를 갖는 센서 기체(20)는, 도 4에 있어서 설명된 표시 장치의 단면 구조에 포함되고, 예를 들어 제1 전극선(31L)이 형성된 제1 투명 유전체 기판(33A)과, 제2 전극선(33L)이 형성된 제2 투명 유전체 기판(33B)이, 기판간의 접착층을 개재하여 접합됨으로써 형성된다. 또한, 기재의 일례인 제1 투명 유전체 기판(33A)이 투명 기재와 접착층으로 구성되고, 제1 전극 배치면(31S)은, 제1 전극선(31L)이 접착되는 접착층의 표면이어도 된다. 또한, 기재의 일례인 제2 투명 유전체 기판(33B)이 투명 기재와 접착층으로 구성되고, 제2 전극 배치면(33S)이 제2 전극선(33L)이 접착되는 접착층의 표면이어도 된다.As shown in Fig. 8, in another example of the cross-sectional structure of the sensor body 20, the transparent dielectric substrate 33 includes a first transparent dielectric substrate 33A and a second transparent dielectric substrate 33B, have. The first electrode line 31L is disposed on the first transparent dielectric substrate 33A, and the second electrode line 33L is disposed on the second transparent dielectric substrate 33B. At this time, in the first transparent dielectric substrate 33A, the surface on which the first electrode line 31L is formed is the first electrode arrangement surface 31S, and in the second transparent dielectric substrate 33B, the second electrode line 33L This formed surface is the second electrode arrangement surface 33S. Then, as the arrangement of the first electrode line 31L and the second electrode line 33L with respect to the transparent dielectric substrate 33, the second electrode line 33L is arranged on the surface of the transparent dielectric substrate 33, and the transparent dielectric substrate ( 33), the first electrode line 31L is arranged. That is, when viewed from the observer side, the second transparent dielectric substrate 33B on which the second electrode line 33L is formed and the first transparent dielectric substrate 33A on which the first electrode line 31L is formed are stacked in a front-to-back relationship. In addition, the sensor base 20 having such a cross-sectional structure includes a first transparent dielectric substrate 33A included in the cross-sectional structure of the display device described in FIG. 4, for example, on which the first electrode lines 31L are formed; The second transparent dielectric substrate 33B on which the second electrode line 33L is formed is formed by bonding through an adhesive layer between the substrates. Moreover, the 1st transparent dielectric substrate 33A which is an example of a base material is comprised from a transparent base material and an adhesive layer, and the 1st electrode arrangement surface 31S may be the surface of the adhesive layer to which the 1st electrode line 31L is adhere|attached. In addition, the second transparent dielectric substrate 33B, which is an example of the substrate, is composed of a transparent substrate and an adhesive layer, and the second electrode arrangement surface 33S may be the surface of the adhesive layer to which the second electrode wire 33L is adhered.

도 9가 나타내는 바와 같이, 센서 기체(20)가 갖는 단면 구조의 다른 예에 있어서, 투명 지지 기판(31)에 제1 전극선(31L)이 배치되고, 또한 투명 유전체 기판(33)에 제2 전극선(33L)이 배치되어 있다. 이때, 투명 지지 기판(31)에 있어서 제1 전극선(31L)이 형성되는 면은, 제1 전극 배치면(31S)이며, 투명 유전체 기판(33)에 있어서 제2 전극선(33L)이 형성되는 면은, 제2 전극 배치면(33S)이다. 그리고, 제1 전극선(31L) 및 제2 전극선(33L)의 투명 유전체 기판(33)에 대한 배치로서, 투명 유전체 기판(33)의 표면에 제2 전극선(33L)이 배치되고, 투명 유전체 기판(33)의 이면에 제1 전극선(31L)이 배치되어 있다. 또한, 이러한 단면 구조를 갖는 센서 기체(20)는 도 2에 있어서 설명된 표시 장치의 단면 구조에 포함되어 있다.As shown in FIG. 9 , in another example of the cross-sectional structure of the sensor base 20 , the first electrode line 31L is disposed on the transparent support substrate 31 , and the second electrode line is provided on the transparent dielectric substrate 33 . (33L) is arranged. At this time, the surface on which the first electrode line 31L is formed in the transparent support substrate 31 is the first electrode arrangement surface 31S, and the surface on which the second electrode line 33L is formed in the transparent dielectric substrate 33 . Silver is the 2nd electrode arrangement surface 33S. Then, as the arrangement of the first electrode line 31L and the second electrode line 33L with respect to the transparent dielectric substrate 33, the second electrode line 33L is arranged on the surface of the transparent dielectric substrate 33, and the transparent dielectric substrate ( 33), the first electrode line 31L is arranged. In addition, the sensor body 20 having such a cross-sectional structure is included in the cross-sectional structure of the display device described in FIG. 2 .

도 10이 나타내는 바와 같이, 센서 기체(20)가 갖는 단면 구조의 다른 예에 있어서, 투명 지지 기판(31)에 제1 전극선(31L)이 배치되고, 제1 전극선(31L)을 덮는 절연성 수지층(31I)에 제2 전극선(33L)이 배치되어 있다. 이때, 투명 지지 기판(31)에 있어서 제1 전극선(31L)이 형성되는 면은, 제1 전극 배치면(31S)이며, 절연성 수지층(31I)에 있어서 제2 전극선(33L)이 형성되는 면은, 제2 전극 배치면(33S)이다. 그리고, 제1 전극선(31L) 및 제2 전극선(33L)의 절연성 수지층(31I)에 대한 배치로서, 절연성 수지층(31I)의 표면에 제2 전극선(33L)이 배치되고, 절연성 수지층(31I)의 이면에 제1 전극선(31L)이 배치되어 있다. 이러한 구성이면, 터치 센서의 기재가 얇기 때문에, 터치 센서의 경량화가 도모된다. 또한, 도 7 내지 도 9까지의 각 예가 나타내는 바와 같이, 제1 전극선(31L)과 제2 전극선(33L)이 기판 표리에 따로따로 형성되는 구성이면, 기판 자체가 절연성이기 때문에, 이러한 절연성 수지층(31I)은 불필요하다.As FIG. 10 shows, in another example of the cross-sectional structure of the sensor base 20, 31 L of 1st electrode lines are arrange|positioned on the transparent support substrate 31, and the insulating resin layer which covers the 1st electrode lines 31L. A second electrode line 33L is disposed at 31I. At this time, in the transparent support substrate 31, the surface on which the 1st electrode line 31L is formed is the 1st electrode arrangement surface 31S, The surface on which the 2nd electrode line 33L is formed in the insulating resin layer 31I. Silver is the 2nd electrode arrangement surface 33S. Then, as the arrangement of the first electrode line 31L and the second electrode line 33L with respect to the insulating resin layer 31I, the second electrode line 33L is arranged on the surface of the insulating resin layer 31I, and the insulating resin layer ( 31L), the 1st electrode line 31L is arrange|positioned. If it is such a structure, since the base material of a touch sensor is thin, weight reduction of a touch sensor is achieved. In addition, as each example to FIGS. 7-9 shows, if the 1st electrode line 31L and the 2nd electrode line 33L are the structure which are separately formed in the front and back of a board|substrate, since the board|substrate itself is insulating, such an insulating resin layer (31I) is unnecessary.

그런데, 금속 재료로 형성된 전극은 투명 도전 재료로 형성된 전극과는 달리 표면에 금속 광택을 나타내기 때문에, 전극으로부터의 반사광선은 투명 전극으로부터의 반사광선보다도 많고, 또한 전극은 표시 화상의 콘트라스트를 투명 전극보다도 저하시킴과 동시에, 전극 자체가 시인되기 쉽다.By the way, since an electrode formed of a metallic material exhibits metallic luster on the surface, unlike an electrode formed of a transparent conductive material, the reflected light from the electrode is greater than the reflected light from the transparent electrode, and the electrode provides a transparent contrast of the displayed image. While lowering than the electrode, the electrode itself is easily visually recognized.

이러한 점에서, 상술한 제1 전극(31DP) 및 제2 전극(33SP) 중 적어도 한쪽은, 전극의 표층으로서 흑화층 BL을 구비하고 있다. 흑화층 BL은, 그것을 구비하는 전극이 갖는 면 중에서 전극이 형성되는 면으로부터 노출된 표면에 구비되어 있다. 흑화층 BL은, 금속 광택을 나타내지 않는 층이며, 특히 그것을 구비하는 전극이 갖는 면 중에서 경사 방향으로 보이는 측면 부분에 위치해 있다. 도 11은, 제1 전극(31DP)에 흑화층 BL이 구비되는 예를 나타낸다.In this regard, at least one of the first electrode 31DP and the second electrode 33SP described above includes the blackening layer BL as a surface layer of the electrode. The blackening layer BL is provided in the surface exposed from the surface in which an electrode is formed among the surfaces which the electrode provided with it has. Blackening layer BL is a layer which does not show metallic luster, and is especially located in the side surface part which is obliquely seen among the surfaces which the electrode provided with it has. 11 shows an example in which the blackening layer BL is provided in the first electrode 31DP.

도 11이 나타내는 바와 같이, 제1 전극(31DP)은, 제1 전극(31DP)이 갖는 면 중에서 제1 전극 배치면(31S)으로부터 노출된 표면에 흑화층 BL을 구비하고 있다. 흑화층 BL은, 금속 광택이 억제된 표층이며, 제1 전극(31DP)이 갖는 면 중에서 경사 방향으로 보이는 제1 전극(31DP)의 측면(31SW)에 위치해 있다. 흑화층 BL의 위치는, 측면(31SW) 외에, 제1 전극(31DP)이 갖는 면 중에서 측면(31SW) 이외의 부위에 이르러 있다.As FIG. 11 shows, the 1st electrode 31DP is equipped with the blackening layer BL on the surface exposed from the 1st electrode arrangement surface 31S among the surfaces which the 1st electrode 31DP has. The blackening layer BL is a surface layer in which metallic luster is suppressed, and is located on the side surface 31SW of the first electrode 31DP viewed in the oblique direction among the surfaces of the first electrode 31DP. The position of the blackening layer BL reaches a site|part other than the side surface 31SW among the surfaces which the 1st electrode 31DP has other than the side surface 31SW.

예를 들어, 제1 전극(31DP)에 있어서의 단면 형상이 직사각형이면, 흑화층 BL은, 측면(31SW) 외에, 제1 전극 배치면(31S)과 접촉하는 부분인 저면(31TS) 및 제1 전극(31DP) 중에서 저면(31TS)과 대향하는 정상면(31KS) 중 적어도 하나에 구비되어 있다.For example, if the cross-sectional shape of the first electrode 31DP is a rectangle, the blackening layer BL has a bottom surface 31TS and a first portion in contact with the first electrode arrangement surface 31S other than the side surface 31SW. The electrode 31DP is provided on at least one of the top surface 31KS opposite to the bottom surface 31TS.

흑화층 BL은, 제1 전극(31DP)을 구성하는 도전막(31B)의 표면에 대하여, 표면 반사를 저감하는 처리인 흑화 처리가 실시됨으로써 형성되어 있다. 흑화층 BL을 포함하는 제1 전극(31DP)의 선 폭이 전극 폭 W31이며, 제1 전극(31DP) 중에서 도전막(31B)의 조성을 흑화 처리 후에도 유지하고 있는 벌크 부분의 선 폭이 벌크 폭 W31B이며, 전극 폭 W31에서 벌크 폭 W31B를 공제한 폭이 흑화 폭이다. 흑화층 BL의 형성에 의한 고저항화를 억제함에 있어서는, 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛ 이하인 것이 바람직하고, 또한 흑화 처리 전후에 있어서의 선 폭의 변화가 0.3㎛ 이하인 것이 바람직하다.The blackening layer BL is formed by performing the blackening process which is a process which reduces surface reflection with respect to the surface of the conductive film 31B which comprises the 1st electrode 31DP. The line width of the first electrode 31DP including the blackening layer BL is the electrode width W31, and the line width of the bulk portion of the first electrode 31DP that maintains the composition of the conductive film 31B even after the blackening treatment is the bulk width W31B , and the width obtained by subtracting the bulk width W31B from the electrode width W31 is the blackening width. In suppressing the high resistance by formation of blackening layer BL, it is preferable that the thickness of blackening layer BL is 0.2 micrometer or less, and it is preferable that the change of the line|wire width in before and behind blackening process is 0.3 micrometer or less.

또한, 흑화층 BL이 측면(31SW) 외에 저면(31TS)에 위치하는 구조체는, 미리 흑화 처리가 실시된 제1 전극(31DP)이, 제1 전극 배치면(31S)에 전사됨으로써 형성된다. 또한, 흑화층 BL이 측면(31SW) 외에 정상면(31KS)에 위치하는 구성은, 제1 전극 배치면(31S)에 형성된 제1 전극(31DP)에 흑화 처리가 실시됨으로써 형성된다.In addition, the structure in which the blackening layer BL is located on the bottom surface 31TS other than the side surface 31SW is formed by transferring the 1st electrode 31DP to which the blackening process was previously performed to the 1st electrode arrangement surface 31S. In addition, the configuration in which the blackening layer BL is located on the top surface 31KS other than the side surface 31SW is formed by subjecting the first electrode 31DP formed on the first electrode arrangement surface 31S to the blackening treatment.

또한, 흑화층 BL이, 측면(31SW) 외에 저면(31TS) 및 정상면(31KS)의 양쪽에 위치하는 구조체는, 미리 흑화 처리가 실시된 제1 전극(31DP)이 제1 전극 배치면(31S)에 전사되고, 또한 전사된 제1 전극(31DP)에 있어서의 정상면(31KS)에 흑화 처리가 실시됨으로써 형성된다. 이들 구조체 중에서, 도 11이 나타내는 구조체는, 측면(31SW) 및 정상면(31KS)에 흑화층 BL을 구비하고 있는 예이다. 즉, 제1 전극(31DP) 중에서 제1 전극 배치면(31S)과 접촉하고 있는 부분 이외의 표면 전부를 흑화층 BL로 피복하고 착색시키는 구성을 채용한 것이다.In the structure in which the blackening layer BL is located on both the bottom surface 31TS and the top surface 31KS other than the side surface 31SW, the first electrode 31DP subjected to the blackening treatment in advance is the first electrode arrangement surface 31S. It is formed by performing a blackening treatment on the top surface 31KS of the transferred first electrode 31DP. Among these structures, the structure shown in FIG. 11 is an example in which the blackening layer BL is provided on the side surface 31SW and the top surface 31KS. That is, the structure which coat|covers all the surfaces of the 1st electrode 31DP except the part which is in contact with the 1st electrode arrangement surface 31S with the blackening layer BL is employ|adopted.

또한, 이와 같이 저면(31TS)에 흑화층 BL이 구비되지 않은 구성에 있어서, 저면(31TS)이 관찰자와 대향하는 구성에서는, 저면(31TS)에 흑화층 BL이 구비되는 구성보다도 제1 전극(31DP)에 있어서 반사율이 높기 때문에, 전극의 시인성도 높아진다. 이때, 예를 들어 도 7이 나타내는 바와 같이, 등부-배부에서 접합함으로써 반사율의 증대는 억제되지만, 전극의 단차에 수반하는 계면 반사가 적지 않게 발생한다. 그러므로, 저면(31TS)에 흑화층 BL이 구비되지 않은 구성에 있어서는, 도 10이 나타내는 바와 같이, 정상면(31KS)이 관찰자와 대향하는 구성이 바람직하다.In this way, in the configuration in which the blackening layer BL is not provided on the bottom surface 31TS, in the configuration in which the bottom surface 31TS faces the viewer, the first electrode 31DP is compared to the configuration in which the blackening layer BL is provided on the bottom surface 31TS. ), since the reflectance is high, the visibility of the electrode is also increased. At this time, for example, as shown in FIG. 7 , an increase in reflectance is suppressed by bonding at the back-distal portion, but interfacial reflection accompanying the step difference of the electrode occurs not to a small extent. Therefore, in a configuration in which the blackening layer BL is not provided on the bottom surface 31TS, a configuration in which the top surface 31KS faces the observer is preferable as shown in FIG. 10 .

또한, 정상면(31KS)에 흑화층 BL이 구비되지 않은 구성에 있어서, 정상면(31KS)이 관찰자와 대향하도록 위치하는 구성에서는, 정상면(31KS)에 흑화층 BL이 구비되는 구성보다도 제1 전극(31DP)에 있어서 반사율이 높기 때문에, 전극의 시인성도 높아진다. 그러므로, 정상면(31KS)에 흑화층 BL이 구비되지 않은 구성에 있어서는, 도 8이 나타내는 바와 같이, 저면(31TS)이 관찰자와 대향하도록, 등부끼리 접합하는 구성이 바람직하다.In addition, in the configuration in which the blackening layer BL is not provided on the top surface 31KS, in the configuration in which the top surface 31KS is positioned to face the observer, the first electrode 31DP is compared to the configuration in which the blackening layer BL is provided on the top surface 31KS. ), since the reflectance is high, the visibility of the electrode is also increased. Therefore, in the configuration in which the blackening layer BL is not provided on the top surface 31KS, as shown in FIG. 8 , a configuration in which the back portions are joined so that the bottom surface 31TS faces the observer is preferable.

상술한 바와 같이, 전극에 있어서의 정상면 및 저면 중 적어도 하나와 측면이 흑화층 BL의 표면인 구성에 의하면, 전극이 갖는 면 중에서 경사 방향으로 보이는 면에 있어서 금속 광택이 억제된다. 그리고, 이러한 흑화층 BL이 전극의 표층이기 때문에, 전극의 벌크에 있어서는, 금속이 갖는 낮은 저항값이 유지되고, 결과적으로, 전극의 저항값이 높아지는 것을 경감해서 전극의 시인성을 억제하는 것이 가능하다.As described above, according to the configuration in which at least one of the top surface and the bottom surface and the side surface of the electrode are the surface of the blackening layer BL, metallic luster is suppressed in the surface that is seen in the oblique direction among the surfaces of the electrode. And since this blackening layer BL is the surface layer of an electrode, in the bulk of an electrode, the low resistance value which a metal has is maintained, As a result, it is possible to reduce the resistance value of an electrode from becoming high, and to suppress the visibility of an electrode. .

[센서 기체(20)의 제조 방법][Method for manufacturing the sensor body 20]

이하, 센서 기체(20)의 제조 방법에 대해서 설명한다.Hereinafter, the manufacturing method of the sensor body 20 is demonstrated.

먼저, 제1 전극(31DP)을 형성하기 위한 도전막이 기재의 표면에 형성된다. 계속해서, 기재의 표면에 형성된 도전막이, 복수의 제1 전극(31DP)의 형상에 따른 전극 패터닝으로 가공된다. 그리고, 흑화층 BL이 형성되는 대상이 되는 전극 패턴에 흑화 처리가 실시됨으로써, 제1 전극(31DP)을 구비하는 터치 센서 기판이 형성된다.First, a conductive film for forming the first electrode 31DP is formed on the surface of the substrate. Then, the conductive film formed on the surface of the substrate is processed by electrode patterning according to the shape of the plurality of first electrodes 31DP. And the blackening process is performed to the electrode pattern used as the object in which the blackening layer BL is formed, and the touch sensor board|substrate provided with the 1st electrode 31DP is formed.

또한, 제2 전극(33SP)을 형성하기 위한 도전막이 기재의 표면에 형성된다. 계속해서, 기재의 표면에 형성된 도전막이, 복수의 제2 전극(33SP)의 형상에 따른 전극 패턴으로 가공된다. 그리고, 흑화층 BL이 형성되는 대상이 되는 전극 패턴에 흑화 처리가 실시됨으로써, 제2 전극(33SP)을 구비하는 터치 센서 기판이 형성된다.In addition, a conductive film for forming the second electrode 33SP is formed on the surface of the substrate. Then, the conductive film formed on the surface of the base material is processed into an electrode pattern corresponding to the shape of the plurality of second electrodes 33SP. And the touch sensor board|substrate provided with the 2nd electrode 33SP is formed by blackening process being given to the electrode pattern used as the object in which blackening layer BL is formed.

계속해서, 제1 전극(31DP)과 제2 전극(33SP) 사이에 투명 유전체 기판(33)이 위치하도록, 제1 전극(31DP) 및 제2 전극(33SP)이 배치되고, 상술한 센서 기체(20)가 제조된다.Subsequently, the first electrode 31DP and the second electrode 33SP are disposed so that the transparent dielectric substrate 33 is positioned between the first electrode 31DP and the second electrode 33SP, and the above-described sensor base ( 20) is prepared.

예를 들어, 흑화 처리 후의 기재의 등부와, 흑화 처리 후의 기재의 배부가 예를 들어 접착층을 개재해서 접합됨으로써, 도 7에 도시되는 터치 센서 기판이 얻어진다. 또한, 흑화 처리 후의 기재가 예를 들어 접착층을 개재하여 표리 관계로 접합됨으로써, 도 8에 도시되는 터치 센서 기판이 얻어진다. 나아가서는, 하나의 기재의 배부에 제1 전극(31DP)이 형성되고, 그 기재의 등부에 제2 전극(33SP)이 형성됨으로써, 도 9에 도시되는 터치 센서 기판이 얻어진다. 또한, 흑색 처리 후의 제1 전극(31DP)에 절연층이 적층되고, 이것을 기재로 해서 제2 전극(33SP)을 형성하기 위한 구리박 등의 도전막이 절연층에 적층된다. 그리고, 절연층에 형성된 도전막이 복수의 제2 전극(33SP)에 패터닝되고, 패터닝 후의 제2 전극(33SP)에 흑색 처리가 실시됨으로써, 도 10에 도시되는 터치 센서 기판이 얻어진다.For example, the touch sensor board|substrate shown in FIG. 7 is obtained by bonding the back part of the base material after blackening process, and the distribution part of the base material after blackening process via an adhesive layer, for example. Moreover, the touch sensor board|substrate shown in FIG. 8 is obtained by bonding the base material after blackening process in front-back relationship via an adhesive layer, for example. Furthermore, the 1st electrode 31DP is formed in the back part of one base material, and the touch sensor board|substrate shown in FIG. 9 is obtained by forming the 2nd electrode 33SP in the back part of the base material. Moreover, an insulating layer is laminated|stacked on the 1st electrode 31DP after black processing, and a conductive film, such as copper foil for forming the 2nd electrode 33SP using this as a base material, is laminated|stacked on the insulating layer. Then, the conductive film formed on the insulating layer is patterned on the plurality of second electrodes 33SP, and the second electrode 33SP after the patterning is subjected to black processing, whereby the touch sensor substrate shown in FIG. 10 is obtained.

이때, 제1 전극(31DP)이 형성되는 기재는, 상술한 센서 기체(20)의 단면 구조에 따라서 적절히 선택되는 것이고, 투명 지지 기판(31)이어도 되고, 투명 유전체 기판(33)이어도 되고, 투명 지지 기판(31)이나 투명 유전체 기판(33)에 전극을 전사하기 위한 기재인 전사 기재여도 된다. 제2 전극(33SP)이 형성되는 기재도 또한, 상술한 센서 기체(20)의 단면 구조에 따라서 적절히 선택되는 것이고, 투명 지지 기판(31)이어도 되고, 투명 유전체 기판(33)이어도 되고, 전사 기재여도 된다. 또한, 기재는, 투명 기재만으로 구성되어도 되고, 투명 기재와 접착층으로 구성되어도 되고, 제1 전극(31DP)이나 제2 전극(33SP)은 투명 기재에 형성되어도 되고, 접착층에 형성되어도 된다.At this time, the base material on which the first electrode 31DP is formed is appropriately selected according to the cross-sectional structure of the sensor base 20 described above, and may be the transparent support substrate 31 , the transparent dielectric substrate 33 , or may be transparent. A transfer substrate which is a substrate for transferring an electrode to the support substrate 31 or the transparent dielectric substrate 33 may be used. The substrate on which the second electrode 33SP is formed is also appropriately selected according to the cross-sectional structure of the sensor substrate 20 described above, and may be the transparent support substrate 31 , the transparent dielectric substrate 33 , or the transfer substrate. may be In addition, the base material may be comprised only with a transparent base material, may be comprised from a transparent base material and an adhesive layer, and the 1st electrode 31DP and the 2nd electrode 33SP may be formed in a transparent base material, and may be formed in an adhesive layer.

전극이 형성되는 기재에는, 예를 들어 유리 기판, 수지 기판 또는 필름 기재가 사용된다. 이들 유리 기판, 수지 기판, 필름 기재 중에서도 비용이 낮고, 또한 중량이 가볍다는 관점에서 필름 기재가 바람직하다. 필름 기재로서는, 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리카르보네이트(PC), 시클로올레핀 중합체(COP), 환상 올레핀 공중합체(COC) 등이 사용된다. 필름 기재의 두께는, 예를 들어 20μ 이상 200㎛ 이하의 범위 중에서 적절히 설정된다.A glass substrate, a resin substrate, or a film base material is used for the base material with which an electrode is formed, for example. Among these glass substrates, resin substrates, and film substrates, a film substrate is preferable from the viewpoint of low cost and light weight. As a film base material, polyethylene terephthalate (PET), polycarbonate (PC), a cycloolefin polymer (COP), a cyclic olefin copolymer (COC), etc. are used. The thickness of a film base material is suitably set in the range of 20 micrometers or more and 200 micrometers or less, for example.

전극 패턴으로 가공되는 도전막에는, 구리나 알루미늄(Al) 등의 금속의 단체로 구성되는 단층막이나, Mo(몰리브덴)/Al/Mo 등의 적층막을 사용할 수 있다. 전극의 저항이 낮고, 전극의 제조가 용이하다는 관점에서, 전극의 형성 재료는 구리인 것이 가장 바람직하다. Mo/Al/Mo 등의 적층막은 ITO의 병설 전극으로서 사용되는 것이 바람직하다. 이러한 도전막을 기재 상에 형성하는 방법에는, 증착법이나 스퍼터법 등에 의한 직접 성막, 전해법, 압연 금속박의 접합 등 중 어느 하나가 적용된다.As the conductive film processed into the electrode pattern, a single layer film composed of a single metal such as copper or aluminum (Al), or a laminate film such as Mo (molybdenum)/Al/Mo can be used. From the viewpoints of low resistance of the electrode and easy manufacture of the electrode, the electrode forming material is most preferably copper. It is preferable that the laminated|multilayer film of Mo/Al/Mo etc. be used as an ITO side electrode. As a method of forming such a conductive film on a substrate, any one of direct film formation by a vapor deposition method, a sputtering method, etc., an electrolytic method, bonding of rolled metal foil, etc. is applied.

증착법은, 투명 기재를 수용하는 진공 용기 중에서, 구리나 알루미늄 등의 금속 또는 금속 산화물 등의 재료를 기화 또는 승화시키고, 증착원이 되는 재료로부터 이격된 투명 기재의 표면에, 기화 또는 승화된 재료를 부착시킴으로써 박막을 형성한다. 스퍼터법은, 투명 기재를 수용하는 진공 용기 중에 타깃을 설치하고, 희가스, 질소, 산소 등의 스퍼터 가스를 진공 용기 중에서 이온화시키고, 고전압이 인가된 타깃에 이온화된 입자를 충돌시킨다. 그리고, 타깃의 표면으로부터 방출되는 원자를 투명 기재의 표면에 부착시킴으로써 박막을 형성한다. 전해법은, 금속 이온이 용해된 용액 중에서 투명 기재의 표면에 금속 이온을 전착시킨다. 투명 기재의 표면에 전극을 형성하는 방법에는, 이들 방법 중의 어느 공법도 채용할 수 있다. 전극이 갖는 두께는, 전극에 요구되는 도전율과, 전극에 요구되는 선 폭에 기초하여 적절히 설정되고, 예를 들어 0.1㎛ 이상 20㎛ 이하로 설정된다.In the vapor deposition method, a material such as a metal such as copper or aluminum or a metal oxide is vaporized or sublimed in a vacuum container for accommodating a transparent substrate, and the vaporized or sublimated material is applied to the surface of the transparent substrate spaced apart from the material serving as the vapor deposition source. A thin film is formed by attaching it. In the sputtering method, a target is installed in a vacuum container accommodating a transparent substrate, sputtering gases such as rare gas, nitrogen, and oxygen are ionized in the vacuum container, and the ionized particles collide with a target to which a high voltage is applied. Then, a thin film is formed by attaching atoms emitted from the surface of the target to the surface of the transparent substrate. In the electrolytic method, metal ions are electrodeposited on the surface of a transparent substrate in a solution in which metal ions are dissolved. As a method of forming an electrode on the surface of a transparent base material, any of these methods can be employ|adopted. The thickness which an electrode has is suitably set based on the electrical conductivity requested|required of an electrode, and the line|wire width requested|required of an electrode, and is set to 0.1 micrometer or more and 20 micrometers or less, for example.

흑화 처리에는, 크롬 도금이나 니켈 도금 등의 금속 도금, 황화 흑화 처리, 산화 흑화 처리, 치환 흑화 처리 및 조화(粗化) 흑화 처리 중 적어도 하나가 사용되고, 이들 처리 중에서, 전극에 있어서의 저항값의 상승을 억제한다는 관점과, 전극의 반사율을 낮춘다는 관점에서, 바람직한 방법이 선택된다.At least one of metal plating such as chrome plating and nickel plating, sulfurization blackening treatment, oxidation blackening treatment, substitution blackening treatment, and roughening blackening treatment is used for the blackening treatment, and among these treatments, the resistance value of the electrode is A preferable method is selected from the viewpoint of suppressing the rise and from the viewpoint of lowering the reflectance of the electrode.

황화 흑화 처리는, 예를 들어 난백에 포함되는 아미노산인 시스틴이나 메티오닌에 포함되는 황분의 가열에 의한 분해 생성물인 황화수소와, 난황에 포함되는 철분이 반응해서 청색 또는 흑색을 나타내는 황화철을 생성하는 것이다. 이러한 흑화는, 난황에 포함되는 철분 대신에, 구리나 아연 등의 금속 원소에 있어서도 보여지는 반응이며, 전극 패턴을 흑화하는 적절한 황화액에 전극 패턴을 침지함으로써, 전극 패턴의 표면이 띠는 색도 청색 또는 흑색으로 변한다.In the sulfiding blackening treatment, for example, hydrogen sulfide, which is a decomposition product by heating of sulfur contained in cystine and methionine, which are amino acids contained in egg white, and iron contained in egg yolk react to produce iron sulfide exhibiting blue or black color. This blackening is a reaction seen also in metal elements such as copper and zinc instead of iron contained in egg yolk, and by immersing the electrode pattern in an appropriate sulfiding solution for blackening the electrode pattern, the color of the surface of the electrode pattern is blue. or turn black.

산화 흑화 처리는, 전극 패턴의 표면을 산화시키고, 전극 패턴의 표면에 금속 산화물을 생성함으로써, 전극 패턴의 표면이 나타내는 색을 흑색으로 바꾼다.Oxidation blackening changes the color which the surface of an electrode pattern shows to black by oxidizing the surface of an electrode pattern and producing|generating a metal oxide on the surface of an electrode pattern.

치환 흑화 처리는, 전극 패턴의 표면을 구성하는 금속 원자를 다른 금속 원자로 치환하는 것이다. 이러한 치환은, 전극 패턴의 표면을 구성하는 금속 원자와 다른 금속 원자 사이의 전극 이온화 경향의 차를 이용한 반응이다. 즉, 이온화 경향이 작은 금속 이온을 포함하는 수용액에 이온화 경향이 큰 금속이 침지됨으로써, 이온화 경향이 큰 금속이 용해되어 금속 이온이 되고 전자를 방출한다. 이 전자가 이온화 경향이 작은 금속을 환원함으로써, 이온화 경향이 작은 금속이 석출된다. 예를 들어, 전극 패턴을 형성하는 재료가 구리일 때, 이온화 경향이 큰 금속은 구리이며, 구리보다도 이온화 경향이 작은 금속 이온이 선택됨으로써 치환 반응이 발생한다.The substitution blackening process is to substitute another metal atom for the metal atom which comprises the surface of an electrode pattern. This substitution is a reaction utilizing the difference in electrode ionization tendency between the metal atoms constituting the surface of the electrode pattern and other metal atoms. That is, when a metal having a large ionization tendency is immersed in an aqueous solution containing a metal ion having a small ionization tendency, the metal having a large ionization tendency is dissolved to become a metal ion and release electrons. When this electron reduces a metal with a small ionization tendency, a metal with a small ionization tendency is precipitated. For example, when the material forming the electrode pattern is copper, the metal having a large ionization tendency is copper, and a metal ion having a smaller ionization tendency than copper is selected, whereby a substitution reaction occurs.

조화 흑화 처리는, 경면 형상의 금속 표면에 미소한 요철을 형성해서 금속 표면의 반사율을 저감시키는 처리이며, 소프트 에칭이라고도 불린다. 조화 흑화 처리의 일례로서, 산성 용액 등의 약액에 전극 패턴을 침지하는 화학적 처리 또는 전극 패턴의 표면을 스퍼터링하는 물리적 처리를 들 수 있다.A roughening blackening process is a process which forms minute unevenness|corrugation on the mirror-shaped metal surface, and reduces the reflectance of a metal surface, and is also called soft etching. As an example of a roughening blackening process, the chemical process of immersing an electrode pattern in chemical liquids, such as an acidic solution, or the physical process of sputtering the surface of an electrode pattern is mentioned.

[실시예 1][Example 1]

도 12의 (a) 내지 (e)를 참조하여, 터치 센서 기판의 제조 방법의 일 실시예를 설명한다. 또한, 제1 전극(31DP)을 형성하는 방법과, 제2 전극(33SP)을 형성하는 방법이 거의 마찬가지이기 때문에, 이하에서는, 제2 전극(33SP)이 형성되는 기재에 제2 전극(33SP)을 형성함으로써 터치 센서 기판을 얻는 예에 대해서 설명한다. 또한, 도 12에 있어서는, 편면에 전해 구리박이 접합된 PET를 사용하여, 스트라이프 형상으로 배치되는 전극군이 포토리소그래피법의 적용에 의해 PET로 제조되는 예에 대해서 설명하지만, 전극군을 구성하는 전극 패턴의 제막 방법은, 박의 접합에 한정되는 것은 아니다.An embodiment of a method of manufacturing a touch sensor substrate will be described with reference to FIGS. 12A to 12E . In addition, since the method of forming the first electrode 31DP and the method of forming the second electrode 33SP are almost the same, hereinafter, the second electrode 33SP is formed on the substrate on which the second electrode 33SP is formed. An example of obtaining a touch sensor substrate by forming will be described. In Fig. 12, an example in which an electrode group arranged in a stripe shape is made of PET by applying a photolithography method using PET with an electrolytic copper foil bonded to one side is described, but the electrodes constituting the electrode group The film forming method of a pattern is not limited to bonding of foil.

도 12의 (a)가 나타내는 바와 같이, 기재로서 두께가 50㎛인 PET 시트를 사용하였다.As shown in Fig. 12(a) , a PET sheet having a thickness of 50 µm was used as the substrate.

도 12의 (b)가 나타내는 바와 같이, PET 시트 상에, 두께가 3㎛인 전해 구리박(33R)을 라미네이트 접착시켰다. 계속해서, 구리박 표면을 세정한 후에, 전해 구리박(33R) 상에 아크릴계 네가티브형 레지스트층을 라미네이트하였다. 그 후, 스트라이프 패턴을 갖는 마스크를 거쳐서, 노광 강도가 100mJ인 자외선을 아크릴계 네가티브형 레지스트층에 노광하였다. 그리고, 탄산나트륨(Na2CO3)과 탄산수소나트륨(NaHCO3)의 혼합 알칼리 수용액에 의해 아크릴계 네가티브형 레지스트층을 현상하고, 불필요한 레지스트를 제거함으로써 하지의 구리박의 일부를 노출시켰다.As Fig. 12(b) shows, on the PET sheet, an electrolytic copper foil 33R having a thickness of 3 µm was laminated and adhered. Then, after wash|cleaning the copper foil surface, the acrylic negative resist layer was laminated on the electrolytic copper foil 33R. Thereafter, the acrylic negative resist layer was exposed to ultraviolet rays having an exposure intensity of 100 mJ through a mask having a stripe pattern. Then, the acrylic negative resist layer was developed with a mixed aqueous alkali solution of sodium carbonate (Na 2 CO 3 ) and sodium hydrogencarbonate (NaHCO 3 ), and a part of the underlying copper foil was exposed by removing unnecessary resist.

도 12의 (c)가 나타내는 바와 같이, 아크릴계 네가티브형 레지스트층에 의해 일부가 덮인 구리박을, 액온이 60℃인 염화 제2철 용액에 침지하고, 구리박 중에서 노출된 부분을 에칭에 의해 제거하였다. 그리고, 잔존한 레지스트층을 알칼리 용액에 의해 박리함으로써, 스트라이프 형상으로 배치된 전극 패턴인 제2 전극(33SP)을 얻었다.As FIG.12(c) shows, the copper foil partly covered with the acrylic negative resist layer is immersed in the ferric chloride solution whose liquid temperature is 60 degreeC, and the exposed part in copper foil is removed by etching. did. And the 2nd electrode 33SP which is an electrode pattern arrange|positioned in stripe shape was obtained by peeling the remaining resist layer with an alkali solution.

도 12의 (d)가 나타내는 바와 같이, 흑화 처리의 하나인 황화 흑화 처리를 전극 패턴에 실시하였다. 이때, 황화 성분으로서, 황화나트륨(Na2S) 및 염화칼륨(K2S)을 농도 0.02 이상 1% 이하의 범위로 포함하는 용액을, 착색액(염화암모늄 용액)으로서 사용하였다. 그리고, 전극 패턴이 형성된 PET 시트를, 염화암모늄 용액에 반복해서 침지하였다. 이에 의해, 제2 전극(33SP)의 표면에 황화구리(CuS)를 석출시키고, 전극 패턴의 표면이 푸른 빛에서 검은 빛을 띠게 점차 변색시켰다. 그리고, 가시 영역(400㎚ 이상 780㎚ 이하)에 있어서의 반사율이 20% 미만이고, 또한 색감으로서 청색을 띠는 전극을 얻었다. 이러한 구리박의 패터닝 및 흑화 처리에 의해, 0.2㎛의 두께를 갖는 흑화층 BL이 얻어졌다. 이러한 흑화층 BL을 갖는 제2 전극(33SP)에 있어서의 표면 저항률, 즉, 흑화층 BL의 표면 저항률은, 1Ω/□ 미만이었다.As FIG.12(d) shows, the sulfiding blackening process which is one of blackening processes was implemented to the electrode pattern. At this time, a solution containing sodium sulfide (Na 2 S) and potassium chloride (K 2 S) in a concentration of 0.02 or more and 1% or less was used as a coloring liquid (ammonium chloride solution) as sulfidation components. And the PET sheet on which the electrode pattern was formed was repeatedly immersed in the ammonium chloride solution. Accordingly, copper sulfide (CuS) was deposited on the surface of the second electrode 33SP, and the surface of the electrode pattern was gradually discolored from blue light to black light. Then, an electrode having a reflectance of less than 20% in the visible region (400 nm or more and 780 nm or less) and having a blue color as a color was obtained. The blackening layer BL which has a thickness of 0.2 micrometer by this patterning and blackening process of copper foil was obtained. The surface resistivity of the 2nd electrode 33SP which has such blackening layer BL, ie, the surface resistivity of blackening layer BL, was less than 1 ohm/square.

한편, 황화 반응의 수렴을 나타내는 흑색을 전극의 표면이 나타낸 상태에 있어서는, 전극에 있어서의 표면 저항률이 수 10Ω/□이라는 높은 값이었다. 이 경우의 흑화층 BL의 두께는 0.25㎛ 정도 이상이었다. 이러한 결과로부터, 전극에 있어서의 저항값이 높아지는 것을 경감함에 있어서, 황화 처리가 실시되는 처리 시간은, 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛ 이하인 범위가 바람직하고, 또한 전극 패턴의 표면이 청색을 띠는 범위가 바람직하다.On the other hand, in the state in which the surface of the electrode showed black indicating convergence of the sulfurization reaction, the surface resistivity of the electrode was a high value of several 10 Ω/square. The thickness of the blackening layer BL in this case was about 0.25 micrometer or more. From these results, in reducing the increase in the resistance value in the electrode, the treatment time for the sulfurization treatment is preferably in the range where the thickness of the blackening layer BL is 0.2 μm or less, and the surface of the electrode pattern is blue. range is preferred.

또한, 도 12의 (d)가 나타내는 흑화층 BL의 피복 상태는 모식적인 것이고, 제2 전극(33SP)의 선 폭이 가늘수록, 제2 전극(33SP)의 형상은, 라운딩 처리된 어묵 형상을 나타내고, 제2 전극(33SP)에 있어서는, 측면과 정상면의 구별이 어려워진다.In addition, the covering state of the blackening layer BL shown in FIG.12(d) is typical, so that the line width of the 2nd electrode 33SP is narrow, the shape of the 2nd electrode 33SP is the rounding-processed fish paste shape. As shown, in the second electrode 33SP, it becomes difficult to distinguish between the side surface and the top surface.

도 12의 (e)가 나타내는 바와 같이, 제2 전극(33SP)을 보호하기 위한 보호층 PL을, 흑화층 BL을 포함하는 제2 전극(33SP)의 표면에 피막해서 터치 센서 기판을 얻었다. 기재 상에 전극군을 형성한 후, 접촉에 의한 전극 또는 흑화층 BL의 오염 탈락을 방지하기 위해서, 전극을 보호층 PL에 의해 피복하는 것이 바람직하다. 보호층 PL의 형성 시에는 예를 들어 아크릴계 UV 경화성의 점착 시트를, 전극을 보호할 수 있는 크기로 잘라내서 라미네이트하였다. 그 후, 1000mJ 정도의 UV 광을 UV 경화성의 점착 시트에 조사하고, UV 경화성의 점착 시트를 경화시켰다. 이에 의해 전극을 포함하고 접속 단자를 제외한 센서 상부가 보호층 PL에 의해 피복되었다.As FIG.12(e) shows, the protective layer PL for protecting the 2nd electrode 33SP was coated on the surface of the 2nd electrode 33SP containing blackening layer BL, and the touch sensor board|substrate was obtained. After forming the electrode group on the base material, it is preferable to cover the electrode with the protective layer PL in order to prevent contamination of the electrode or the blackening layer BL by contact. When forming the protective layer PL, for example, an acrylic UV-curable pressure-sensitive adhesive sheet was cut out to a size capable of protecting the electrode and laminated. Then, about 1000 mJ of UV light was irradiated to the UV curable adhesive sheet, and the UV curable adhesive sheet was hardened. Thereby, the upper part of the sensor including the electrode and excluding the connection terminal was covered with the protective layer PL.

[실시예 2][Example 2]

실시예 1의 흑화 처리를 치환 흑화 처리로 변경하고, 그 이외의 조건을 실시예 1과 마찬가지로 해서, 실시예 2의 흑화층 BL을 갖는 전극을 얻었다. 구체적으로는, 구리 전극 표면의 구리를 팔라듐(Pd)으로 치환해서 부착시켰다. 이때, Pd를 100ppm 이상 500ppm 이하의 범위에서 포함하는 염산 용액에 상술한 전극 패턴이 형성된 PET 시트를 침지하였다. 그리고, 전극 패턴의 색감을 청색으로까지 바꾸면, 반사율이 가시 영역(400㎚ 이상 780㎚ 이하)에서 20% 미만이고 표면 저항률을 1Ω/□ 이하로 억제할 수 있었다. 이 경우에도, 흑화층 BL의 두께는, 0.2㎛ 정도였다. 이러한 결과로부터도, 전극에 있어서의 저항값이 높아지는 것을 경감함에 있어서, 황화 처리가 실시되는 처리 시간은, 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛ 이하인 범위가 바람직하고, 또한 전극 패턴의 표면이 청색을 나타내는 범위가 바람직하다.The blackening process of Example 1 was changed into the substitution blackening process, the conditions other than that were carried out similarly to Example 1, and the electrode which has blackening layer BL of Example 2 was obtained. Specifically, copper on the surface of the copper electrode was substituted for palladium (Pd) and attached thereto. At this time, the PET sheet having the electrode pattern described above was immersed in a hydrochloric acid solution containing Pd in a range of 100 ppm or more and 500 ppm or less. And, when the color of the electrode pattern was changed to blue, the reflectance was less than 20% in the visible region (400 nm or more and 780 nm or less), and the surface resistivity could be suppressed to 1 Ω/□ or less. Also in this case, the thickness of blackening layer BL was about 0.2 micrometer. Also from these results, in reducing the increase in the resistance value in the electrode, the treatment time for the sulfurization treatment is preferably in the range where the thickness of the blackening layer BL is 0.2 µm or less, and the surface of the electrode pattern shows blue. range is preferred.

또한, 상술한 바와 같이, 전극 패턴의 선 폭이 가늘수록, 전극 패턴의 형상은, 라운딩 처리된 어묵 형상을 나타내고, 전극 패턴에 있어서는, 측면과 정상면의 구별이 어려워진다. 그로 인해, 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛인 상태란, 전극 패턴에 있어서 저면 이외의 표면이 0.2㎛ 정도의 두께로 덮여 있는 상태를 나타낸다.In addition, as described above, as the line width of the electrode pattern decreases, the shape of the electrode pattern exhibits a rounded fish cake shape, and in the electrode pattern, it becomes difficult to distinguish between the side surface and the top surface. Therefore, the state in which the thickness of blackening layer BL is 0.2 micrometer shows the state in which the surface other than a bottom surface is covered with thickness of about 0.2 micrometer in an electrode pattern.

표 1에 흑화 처리를 실시하지 않은 미처리의 스트라이프 형상을 갖는 전극의 반사율, 실시예 1의 흑화 처리 후의 전극 반사율 및 실시예 3의 흑화 처리 후의 전극 반사율의 측정 결과를 대표적인 파장에 대해서 나타낸다.Table 1 shows the measurement results of the reflectance of an untreated stripe-shaped electrode that has not been subjected to blackening treatment, the electrode reflectance after the blackening treatment of Example 1, and the electrode reflectance after the blackening treatment of Example 3 for representative wavelengths.

Figure 112017006501868-pct00001
Figure 112017006501868-pct00001

표 1이 나타내는 바와 같이, 미처리 기판의 반사율은, 550㎚ 이상에서 증대하지만, 이것은 구리의 금속적 성질을 반영한 것이며, 구리의 광택면으로부터의 반사가 상당 정도인 것을 나타내고 있다. 이 부분의 반사율은, 황화 흑화 처리 및 치환 흑화 처리에 의해 대폭적인 저감이 보여지고, 황화 흑화 처리 및 치환 흑화 처리에 있어서는, 15% 이하로 억제되어 있다. 또한, 이러한 반사율은, 일반적으로는, 20% 미만이면 충분하다. 또한, 황화 흑화 처리 및 치환 흑화 처리에 의하면, 단파장측에서도 반사율이 크게 저하되는 것이 실증되었다.As Table 1 shows, the reflectance of the untreated substrate increases at 550 nm or more, but this reflects the metallic properties of copper, indicating that the reflection from the glossy surface of copper is significant. The reflectance of this part is significantly reduced by the sulfidation blackening process and the substitution blackening process, and in the sulfidation blackening process and the substitution blackening process, it is suppressed to 15 % or less. In addition, generally, it is sufficient that such a reflectance is less than 20 %. Moreover, according to the sulfurization blackening process and the substitution blackening process, it was demonstrated that the reflectance falls large also on the short wavelength side.

[실시예 3][Example 3]

실시예 1의 흑화 처리를 금속 도금(Ni, Cr) 처리로 변경하고, 그 이외의 조건을 실시예 1과 마찬가지로 해서, 실시예 3의 흑화층 BL을 갖는 전극을 얻었다. 금속 도금(Ni, Cr) 처리에 의해 얻어진 전극에 의하면, 흑화 처리가 실시되지 않은 전극보다도 가시 영역(400㎚ 이상 780㎚ 이하)에 있어서의 반사율이 억제되지만, 반사율이 20% 미만인 것, 및 표면 저항률이 1Ω/□ 이하인 것의 양쪽을 실시예 1 및 실시예 2와 같이 만족시키는 것이 어렵다는 것이 확인되었다.The blackening process of Example 1 was changed to the metal plating (Ni, Cr) process, the conditions other than that were carried out similarly to Example 1, and the electrode which has blackening layer BL of Example 3 was obtained. According to the electrode obtained by the metal plating (Ni, Cr) treatment, the reflectance in the visible region (400 nm or more and 780 nm or less) is suppressed compared to the electrode to which blackening treatment is not given, but the reflectance is less than 20%, and the surface It was confirmed that it was difficult to satisfy both of those having a resistivity of 1 Ω/square or less as in Examples 1 and 2.

[실시예 4][Example 4]

실시예 1의 흑화 처리를 조화 흑화 처리로 변경하고, 그 이외의 조건을 실시예 1과 마찬가지로 해서, 실시예 3의 흑화층 BL을 갖는 전극을 얻었다. 조화 흑화 처리에 의해 얻어진 전극에 의하면, 흑화 처리가 실시되지 않은 전극보다도 가시 영역(400㎚ 이상 780㎚ 이하)에 있어서의 반사율이 억제되지만, 반사율이 20% 미만인 것, 및 표면 저항률이 1Ω/□ 이하인 것의 양쪽을 실시예 1 및 실시예 2처럼 만족시키는 것이 어렵다는 것이 확인되었다.The blackening process of Example 1 was changed into the roughening blackening process, the conditions other than that were carried out similarly to Example 1, and the electrode which has blackening layer BL of Example 3 was obtained. According to the electrode obtained by the roughening blackening process, although the reflectance in a visible region (400 nm or more and 780 nm or less) is suppressed compared with the electrode to which blackening process is not given, a thing of less than 20% of reflectance, and a surface resistivity of 1 ohm/square It was confirmed that it is difficult to satisfy both of the following as in Example 1 and Example 2.

또한, 반사율이 20% 미만인 것, 및 표면 저항률이 1Ω/□ 이하인 것의 양쪽을 만족하는 황화 흑화 처리나 치환 흑화 처리에 있어서는, 구리 표면의 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛ 이하의 범위에 들어 있었다. 그리고, 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛보다도 커지는 구성에 있어서는, 반사율이 20% 미만인 것, 및 표면 저항률이 1Ω/□ 이하인 것 중 어느 하나가 만족되지 않은 것도 확인되었다.In addition, in the blackening treatment or substitution blackening treatment that satisfies both of a reflectance of less than 20% and a surface resistivity of 1 Ω/□ or less, the thickness of the blackening layer BL on the copper surface was in the range of 0.2 μm or less. And in the structure in which the thickness of blackening layer BL became larger than 0.2 micrometer, it was also confirmed that either a reflectance of less than 20 % and a surface resistivity of 1 ohm/square or less were not satisfied.

이에 비해, 금속 도금이나 조화 흑화 처리에 있어서는, 반사율이 가시 영역(400㎚ 이상 780㎚ 이하) 전체에서 20% 이하이기 위해서는, 흑화층 BL의 막 두께를 황화 흑화 처리나 치환 흑화 처리와 비교해서 두껍게 하지 않을 수 없어, 결국, 표면 저항률이 높아져 버리는 것이 확인되었다. 또한, 흑화층 BL이 두꺼울수록, 흑화층 BL이 취약하여 탈락하기 쉬워지는 경향이 확인되었다. 탈락한 흑화층 BL은 이물로서 시인되거나 쇼트의 원인이 되거나 할 우려가 있기 때문에, 이러한 관점에 있어서 바람직하지 않다. 또한, 황화 흑화 처리나 치환 흑화 처리에 대해서는, 이러한 탈락은 확인되지 않았다.On the other hand, in metal plating or roughening blackening process, in order for reflectance to be 20% or less in the whole visible region (400 nm or more and 780 nm or less), the film thickness of blackening layer BL is thickened compared with sulfurization blackening process or substitution blackening process. It was unavoidable, and it was confirmed that the surface resistivity eventually became high. Moreover, the tendency for blackening layer BL to become weak and to fall off easily was confirmed, so that blackening layer BL was thick. Since there is a possibility that the blackening layer BL which fell off may be visually recognized as a foreign material or it may cause a short circuit, it is unpreferable from such a viewpoint. In addition, such drop-off|omission was not confirmed about the sulfurization blackening process or substitution blackening process.

[실시예 5][Example 5]

도 10에 있어서의 절연성 수지층(31I)의 형성에 있어서의 일 실시예를 설명한다.An example of the formation of the insulating resin layer 31I in FIG. 10 will be described.

1방향으로 연장되는 전극군을 형성한 후의 절연성 수지층(31I)의 형성은, 이하와 같이 해서 행하였다. 절연성 재료로서는, 유전율이 2 이상 4 이하의 광투과성이 높은 아크릴계 UV 경화성의 점착 시트를 사용하였다.After forming the electrode group extending in one direction, the insulating resin layer 31I was formed as follows. As the insulating material, an acrylic UV curable pressure-sensitive adhesive sheet having a dielectric constant of 2 or more and 4 or less and high light transmittance was used.

아크릴계의 UV 경화성의 점착 시트를, 전극군을 보호할 수 있는 크기로 잘라내서 라미네이트하였다. 그 후, 1000mJ 정도의 UV 광을 UV 경화성의 점착 시트에 조사하고, UV 경화성의 점착 시트를 경화시켰다. 이에 의해, 전극군 중의 소정 부분에 절연성 수지층(31I)을 형성하였다.An acrylic UV curable adhesive sheet was cut out to a size capable of protecting the electrode group and laminated. Then, about 1000 mJ of UV light was irradiated to the UV curable adhesive sheet, and the UV curable adhesive sheet was hardened. As a result, the insulating resin layer 31I was formed in a predetermined portion of the electrode group.

이 절연성 수지층(31I)의 위에서부터 기재 전체를 덮도록 동일한 두께의 구리박을 부착하고 나서 다시 에칭을 행하고, 절연성 수지층(31I)의 하층인 전극군과 직교하는 다른 전극군을 형성하였다. 그 후에, 절연성 수지층(31I)의 하층인 전극군과, 절연성 수지층(31I)의 상층인 전극군의 각각에 대하여, 평면에서 보았을 때 시인되는 부위에, 흑화 처리를 일괄해서 행하였다. 흑화 처리는, 하나의 전극군마다 2회로 나누어 행해도 상관없다.After attaching a copper foil of the same thickness so as to cover the entire base material from above the insulating resin layer 31I, etching was performed again to form another electrode group orthogonal to the electrode group as the lower layer of the insulating resin layer 31I. After that, for each of the electrode group that is the lower layer of the insulating resin layer 31I and the electrode group that is the upper layer of the insulating resin layer 31I, blackening treatment was collectively performed at a portion visually recognized in a plan view. The blackening process may be divided into two times for every one electrode group, and you may perform it.

[치환 흑화 처리][Substitution blackening treatment]

계속해서, 흑화 처리 중에서 바람직한 처리인 Pd 치환 처리에 대해서 이하에 설명한다.Then, the Pd substitution process which is a preferable process among blackening processes is demonstrated below.

상술한 바와 같이, 전극 패턴의 표면에 흑색을 정착시키는 처리인 흑화 처리에는, 황화 흑화 처리, 치환 흑화 처리, 산화 흑화 처리, 도금 흑화 처리, 조화 흑화 처리를 들 수 있다. 이들 중에서 도금 흑화 처리나 조화 흑화 처리는, 황화 흑화 처리나 치환 흑화 처리에 비하여, 흑화층 BL의 저항값이 높아지는 경향을 갖고 있다. 또한, 도금 흑화 처리에서는, 도금액에 요구되는 온도가 80℃ 이상이기 때문에, 이러한 도금액에 침지되는 기재에 대한 대미지는 다른 처리와 비교해서 크다.As mentioned above, sulfurization blackening process, substitution blackening process, oxidation blackening process, plating blackening process, and roughening blackening process are mentioned to the blackening process which is a process for fixing black to the surface of an electrode pattern. Among these, plating blackening process and roughening blackening process have the tendency for the resistance value of blackening layer BL to become high compared with sulfurization blackening process and substitution blackening process. Further, in the plating blackening treatment, since the temperature required for the plating solution is 80° C. or higher, the damage to the substrate immersed in the plating solution is large compared with other treatments.

또한, 산화 흑화 처리에서는, 센서 기체(20)의 외부와 전극을 접속하는 패드 등의 단자에까지 흑화층 BL의 형성이 진행되기 때문에, 센서 기체(20)의 외부와 전극의 접촉 저항값이 높아지는 경향을 갖고 있다. 또한, 황화 흑화 처리에서는, 흑화층 BL의 형상이 바늘 형상으로 되는 경향을 갖고, 도금 흑화 처리나 조화 흑화 처리보다도 경도이기는 하지만, 흑화층 BL이 박리되거나, 흑화층 BL을 갖는 전극의 선 폭이 커지거나 할 우려가 있다.Moreover, in the oxidation blackening process, since formation of blackening layer BL advances to terminals, such as a pad, which connect the exterior of the sensor body 20 and an electrode, the contact resistance value of the exterior of the sensor body 20 and an electrode tends to become high. has a In addition, in the blackening treatment, the blackening layer BL tends to have a needle-like shape, and although it is harder than the plating blackening treatment or the roughening blackening treatment, the blackening layer BL is peeled off or the line width of the electrode having the blackening layer BL is There is a fear that it becomes large.

이러한 점에서, 전극 표면의 금속 원자를 다른 원자로 치환하거나, 또는 전극 표면의 금속 원소를 다른 원소의 화합물로 치환하는 치환 흑화 처리이면, 상술한 전극의 시인성이 억제되는 것 외에, 전극 표면에 있어서의 저저항화를 도모하는 것도 가능하다.In this regard, the substitution blackening treatment in which a metal atom on the surface of the electrode is replaced with another atom or a metal element on the surface of the electrode is replaced with a compound of another element not only suppresses the visibility of the electrode described above, but also It is also possible to achieve low resistance.

전극 표면의 금속 원자로 바뀌는 원자는, 금속 원자보다도 이온화 경향이 낮은 원자이며, 전극 표면에 있어서 흑색을 나타내는 원자이면 된다. 예를 들어, 전극 표면의 금속 원자가 Cu인 구성이면, 전극 표면의 금속 원자로 바뀌는 원자로서, Pd, Hg, Ag, Ir, Pt, Au로 이루어지는 군에서 선택되는 하나의 원소를 들 수 있다. 또한, 전극 표면의 금속 원소로 바뀌는 다른 원소의 화합물로서, Pd, Hg, Ag, Ir, Pt, Au로 이루어지는 군에서 선택되는 하나의 원소의 화합물을 들 수 있다. 이러한 원소를 포함하는 흑화 처리액의 온도는 55℃ 이하이고, 전극 패턴이 형성된 기재가 흑화 처리액에 침지되는 시간은, 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛ 이하가 되는 시간이며, 또한 120sec 이하이다. 또한, 전극 패턴이 형성된 기재가 흑화 처리액에 침지되는 시간은, 흑화 처리 후에 있어서의 전극 패턴의 폭 변화가 0.3㎛ 이하인 것이 바람직하다.The atom to be replaced by the metal atom on the electrode surface is an atom having a lower ionization tendency than the metal atom, and may be an atom showing black on the electrode surface. For example, if the metal atom on the electrode surface has a configuration in which Cu is an atom, one element selected from the group consisting of Pd, Hg, Ag, Ir, Pt, and Au can be mentioned as an atom to be changed into a metal atom on the electrode surface. In addition, as a compound of another element that is changed to a metal element on the electrode surface, a compound of one element selected from the group consisting of Pd, Hg, Ag, Ir, Pt, and Au is exemplified. The temperature of the blackening treatment liquid containing such an element is 55° C. or less, and the time during which the substrate on which the electrode pattern is formed is immersed in the blackening treatment liquid is the time for the thickness of the blackening layer BL to be 0.2 μm or less, and is 120 sec or less. Moreover, it is preferable that the width change of the electrode pattern after blackening process is 0.3 micrometer or less for time during which the base material with an electrode pattern is immersed in blackening process liquid.

특히, 전극 표면의 금속 원자로 바뀌는 원자는 Pd인 것이 바람직하다. Pd는, Au나 Pt보다도 일반적으로 저렴하고, Au나 Pt와 비교해서 이온화가 용이하며, 이온화된 상태도 안정되어 있다. 예를 들어, Pt를 왕수에 용해시키거나, 또는 염화 Pt를 희염산에 용해시켜서 Pt를 이온화시키는 것은 가능하지만, 이렇게 해서 이온화된 상태를 안정시키는 것은, Pd와 비교해서 매우 어렵다. 또한, Pd는, Ir과 비교해도 이온화가 용이하며, 이온화된 상태도 안정되어 있다. 또한, Pd의 이온화 경향과 Cu의 이온화 경향의 차는, Ag의 이온화 경향과 Cu의 이온화 경향의 차보다도 크기 때문에, 이러한 점에 있어서도, 전극 표면의 금속 원자로 바뀌는 원자는 Ag보다도 Pd인 것이 바람직하다.In particular, it is preferable that the atom to be converted into a metal atom on the electrode surface is Pd. Pd is generally cheaper than Au or Pt, ionization is easy compared with Au or Pt, and the ionized state is also stable. For example, it is possible to ionize Pt by dissolving Pt in aqua regia or by dissolving Pt chloride in dilute hydrochloric acid, but stabilizing the ionized state in this way is very difficult compared with Pd. In addition, Pd is easily ionized compared to Ir, and the ionized state is also stable. Further, the difference between the ionization tendency of Pd and the ionization tendency of Cu is larger than the difference between the ionization tendency of Ag and the ionization tendency of Cu.

전극 표면의 금속 원자로 바뀌는 원자가 Pd일 때, 흑화 처리액인 Pd 용액에 있어서의 Pd 농도는 100ppm 이상 500ppm 이하가 바람직하고, 보다 바람직하게는 200ppm 이상 300ppm이다. Pd 농도가 100ppm 이상 500ppm 이하이면, Pd 농도가 낮은 것에 의한 치환 반응의 정체가 억제되고, 또한 Pd 농도가 높은 것에 의한 치환 반응의 과도한 진행이 억제된다. 또한, Pd 용액에 있어서의 pH는, 1.5 이상 2.5 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 1.8 이상 2.1 이하이다. 흑화 처리액의 pH가 1.5 이상 2.5 이하이면, Pd에 있어서의 이온화 상태를 흑화 처리액에 있어서 안정적으로 유지하는 것이 가능하다. 또한, Pd 용액의 온도는 상온 이상 55℃ 이하이고, 바람직하게는 35℃ 이상 55℃ 이하이다. 흑화 처리액의 온도가 상온 이상 55℃ 이하이면, 이것도 또한 Pd에 있어서의 이온화 상태를 흑화 처리액에 있어서 안정적으로 유지하는 것이 가능하다. 그리고, 전극 패턴이 형성된 기재가 Pd 용액에 침지되는 시간은 120초 이하이고, 바람직하게는 10초 이상 120초 이하이고, 보다 바람직하게는 45초 이상 60초 이하이다.When the atom to be converted into a metal atom on the electrode surface is Pd, the Pd concentration in the Pd solution serving as the blackening treatment liquid is preferably 100 ppm or more and 500 ppm or less, more preferably 200 ppm or more and 300 ppm. When the Pd concentration is 100 ppm or more and 500 ppm or less, the stagnation of the substitution reaction due to the low Pd concentration is suppressed, and the excessive progress of the substitution reaction due to the high Pd concentration is suppressed. Moreover, it is preferable that the pH in a Pd solution is 1.5 or more and 2.5 or less, More preferably, it is 1.8 or more and 2.1 or less. If the pH of the blackening treatment liquid is 1.5 or more and 2.5 or less, it is possible to stably maintain the ionization state in Pd in the blackening treatment liquid. Moreover, the temperature of the Pd solution is room temperature or more and 55 degrees C or less, Preferably it is 35 degrees C or more and 55 degrees C or less. If the temperature of the blackening treatment liquid is at least normal temperature and 55°C or less, it is also possible to stably maintain the ionized state of Pd in the blackening treatment liquid. And, the time for which the substrate on which the electrode pattern is formed is immersed in the Pd solution is 120 seconds or less, preferably 10 seconds or more and 120 seconds or less, and more preferably 45 seconds or more and 60 seconds or less.

[실시예 6][Example 6]

상술한 치환 흑화 처리의 일례인 Pd 치환 처리에 대해서 이하에 설명한다.The Pd substitution process which is an example of the substitution blackening process mentioned above is demonstrated below.

Pd 치환 처리는, 전처리, 전처리 수세, 흑화 처리, 흑화 수세, 건조를 이 순서로 포함한다. 전처리, 전처리 수세, 흑화 처리, 흑화 수세 및 건조에 있어서의 조건의 일례를 표 2에 나타낸다.Pd substitution treatment includes pretreatment, pretreatment water washing, blackening treatment, blackening water washing, and drying in this order. Table 2 shows an example of the conditions in pretreatment, pretreatment water washing, blackening treatment, blackening water washing, and drying.

Figure 112017006501868-pct00002
Figure 112017006501868-pct00002

전처리에 있어서는, 전극 패턴이 형성된 기재가 딥 방식에 의해 약 2%의 황산에 침지된다. 전처리에 있어서의 처리 온도는 상온이며, 전극 패턴이 황산에 침지되는 시간은 20초 이상 60초 이하이다. 전처리 수세에 있어서는, 전처리 후의 전극 패턴이 스프레이 방식에 의해 수세된다. 전처리 수세에 있어서의 처리 온도는 상온이며, 수세되는 시간은 20초 이상 40초 이하이다.In the pretreatment, the substrate on which the electrode pattern is formed is immersed in about 2% sulfuric acid by a dip method. The treatment temperature in the pretreatment is room temperature, and the time for the electrode pattern to be immersed in sulfuric acid is 20 seconds or more and 60 seconds or less. In the pretreatment water washing, the electrode pattern after the pretreatment is washed with water by a spray method. The treatment temperature in the pretreatment water washing is normal temperature, and the time washed with water is 20 seconds or more and 40 seconds or less.

흑화 처리에 있어서는, 전처리 수세 후의 전극 패턴이 딥 방식에 의해 조합액인 흑화 처리액에 침지된다. 흑화 처리액은, 염산과 염화팔라듐을 포함하고, 이들 이외의 성분으로서 무기 화합물 및 질소계 유기 화합물을 포함한다. 흑화 처리액에 있어서의 pH는, 1.99이며, 흑화 처리액에 있어서의 팔라듐 농도는, 250ppm이다. 또한, 흑화 처리액의 온도는, 45℃이고, 이러한 흑화 처리액에 전극 패턴이 침지되는 시간은 45초 이상 60초 이하이다.In the blackening process, the electrode pattern after pretreatment water washing is immersed in the blackening process liquid which is a preparation liquid by a dip method. The blackening treatment liquid contains hydrochloric acid and palladium chloride, and contains an inorganic compound and a nitrogen-based organic compound as components other than these. The pH in the blackening treatment liquid is 1.99, and the palladium concentration in the blackening treatment liquid is 250 ppm. In addition, the temperature of the blackening treatment liquid is 45 degreeC, and the time for which an electrode pattern is immersed in this blackening treatment liquid is 45 second or more and 60 second or less.

흑화 수세에 있어서는, 흑화 처리 후의 전극 패턴이 스프레이 방식에 의해 수세된다. 전처리 수세에 있어서의 처리 온도는 상온이며, 수세되는 시간은 20초 이상 40초 이하이다.In blackening water washing, the electrode pattern after a blackening process is washed with water by a spray system. The treatment temperature in the pretreatment water washing is normal temperature, and the time washed with water is 20 seconds or more and 40 seconds or less.

건조에 있어서는, 흑화 수세 후의 전극 패턴에 70℃의 열풍이 에어 나이프로서 20초간 분사된다.In drying, 70 degreeC hot air is sprayed to the electrode pattern after blackening water washing as an air knife for 20 second.

그리고, 선 폭이 서로 상이한 3개의 전극 패턴의 각각에 대하여, 상술한 Pd 치환 처리를 실시하였다. 결과로서, 어떠한 전극 패턴에 있어서도, 흑화층 BL의 위치는, 전극 패턴이 갖는 면 중에서 기재와 대향하는 면 이외의 모든 부분인 것이 확인되었다. 즉, 전극 패턴이 갖는 면 중에서 기재와 대향하는 면이 저면일 때, 전극 패턴에 있어서의 측면이나 정상면에 흑화층 BL이 형성되어 있는 것이 확인되었다.Then, each of the three electrode patterns having different line widths was subjected to the Pd substitution treatment described above. As a result, in any electrode pattern, it was confirmed that the position of blackening layer BL was all parts other than the surface which opposes a base material among the surfaces which an electrode pattern has. That is, it was confirmed that the blackening layer BL was formed in the side surface or the top surface in an electrode pattern when the surface which opposes a base material among the surfaces which an electrode pattern has is a bottom surface.

Pd 치환 처리 전의 전극 패턴에 있어서의 저항값과, Pd 치환 처리 후의 전극 패턴에 있어서의 저항값의 차이를 표 3에 나타낸다. 또한, Pd 치환 처리 전의 전극 패턴에 있어서의 선 폭과, Pd 치환 처리 후의 전극 패턴에 있어서의 선 폭의 차이를 표 4에 나타낸다. 또한, 센서 기체의 외부와 전극 패턴 사이의 접촉 저항값에 대해서, Pd 치환 처리 전의 전극 패턴의 접촉 저항값과, Pd 치환 처리 후의 전극 패턴의 접촉 저항값의 차이를 표 5에 나타낸다. 또한, Pd 치환 처리 전의 전극 패턴에 있어서의 반사율과, Pd 치환 처리 후의 전극 패턴에 있어서의 반사율의 차이를 표 6 및 도 13에 나타낸다. 또한, 패턴 A에 있어서의 Pd 치환 처리 전의 선 폭은 4.35㎛이며, 패턴 B에 있어서의 Pd 치환 처리 전의 선 폭은 3.95㎛이며, 패턴 C에 있어서의 Pd 치환 처리 전의 선 폭은 3.56㎛이다.Table 3 shows the difference between the resistance value in the electrode pattern before the Pd replacement treatment and the resistance value in the electrode pattern after the Pd replacement treatment. Table 4 shows the difference between the line width in the electrode pattern before the Pd replacement treatment and the line width in the electrode pattern after the Pd replacement treatment. Table 5 shows the difference between the contact resistance value of the electrode pattern before the Pd replacement treatment and the contact resistance value of the electrode pattern after the Pd replacement treatment with respect to the contact resistance value between the outside of the sensor body and the electrode pattern. In addition, the difference between the reflectance in the electrode pattern before Pd substitution process and the reflectance in the electrode pattern after Pd substitution process is shown in Table 6 and FIG. The line width before Pd substitution treatment in pattern A is 4.35 μm, the line width before Pd substitution treatment in pattern B is 3.95 μm, and the line width before Pd substitution treatment in pattern C is 3.56 μm.

Figure 112017006501868-pct00003
Figure 112017006501868-pct00003

Figure 112017006501868-pct00004
Figure 112017006501868-pct00004

Figure 112017006501868-pct00005
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Figure 112017006501868-pct00006
Figure 112017006501868-pct00006

표 3이 나타내는 바와 같이, 패턴 A로부터 패턴 C까지의 어느 패턴에 있어서도, 제1 전극에 있어서의 저항값의 상승률은 4.0% 이상 9.1% 이하이고, 또한 제2 전극에 있어서의 저항값의 상승률은 5.9% 이상 14.8% 이하인 것이 확인되었다. 즉, 상술한 Pd 치환 처리에 의하면, Pd 치환 처리 전후에 있어서의 저항값의 상승률이 20% 이하인 것이 확인되었다.As Table 3 shows, in any pattern from pattern A to pattern C, the rate of increase of the resistance value in the first electrode is 4.0% or more and 9.1% or less, and the rate of increase in the resistance value in the second electrode is It was confirmed that they were 5.9% or more and 14.8% or less. That is, according to the Pd substitution process mentioned above, it was confirmed that the increase rate of the resistance value in before and behind a Pd substitution process was 20 % or less.

표 4가 나타내는 바와 같이, 상술한 Pd 치환 처리에 의한 선 폭의 변화량ΔW는, 0.18㎛, 0.07㎛ 및 0.12㎛이며, 모두 0.3㎛ 이하인 것이 확인되었다.As Table 4 shows, the amount of change ΔW of the line width by the Pd substitution treatment described above was 0.18 µm, 0.07 µm, and 0.12 µm, and it was confirmed that all of them were 0.3 µm or less.

표 5가 나타내는 바와 같이, 상술한 Pd 치환 처리 후의 접촉 저항값 RA는, Pd 치환 처리 전의 저항값보다도 높을 때와 낮을 때가 확인되고, 어느 쪽에 있어서도 0.1Ω 이하의 저저항값인 것이 확인되었다.As Table 5 shows, the contact resistance value RA after the Pd substitution treatment described above was confirmed when it was higher and lower than the resistance value before the Pd substitution treatment, and it was confirmed that it was a low resistance value of 0.1 Ω or less in either case.

표 6이 나타내는 바와 같이, 상술한 Pd 치환 처리 후의 반사율은, 400㎚ 이상 600㎚ 이하의 파장 영역에 있어서, 거의 일정값이며, 600㎚ 이상 780㎚ 이하의 파장 영역에 있어서, 파장이 길수록 높은 경향을 나타냈다. 이러한 Pd 치환 처리 후의 반사율은, 400㎚ 이상 780㎚ 이하의 파장 영역에 있어서, Pd 치환 처리 전보다도 큰 억제가 확인되었다. 그리고, 도 13의 실선이 나타내는 바와 같이, Pd 치환 처리 후의 반사율은, 400㎚ 이상 780㎚ 이하의 파장 영역에 있어서, 어떠한 파장에 있어서도 반사율이 20% 이하인 것이 확인되었다. 도 13의 파선이 나타내는 바와 같이, Pd 치환 처리 전의 반사율과 비교하여, Pd 치환 처리 후의 반사율은, 600㎚ 이상 780㎚ 이하의 파장 영역에 있어서 큰 저하가 확인되었다. 또한, 400㎚ 이상 600㎚ 이하의 파장 영역에 있어서는, 반사율이 10% 이하이며, 흑화 처리 후의 전극 패턴의 색이 청색으로부터 흑색을 강하게 띠고 있는 것이 확인되었다.As Table 6 shows, the reflectance after the Pd substitution treatment described above is a substantially constant value in the wavelength region of 400 nm or more and 600 nm or less, and in the wavelength region of 600 nm or more and 780 nm or less, the longer the wavelength, the higher the tendency. showed In the wavelength region of 400 nm or more and 780 nm or less, suppression of the reflectance after such Pd substitution treatment was larger than that before Pd substitution treatment. And, as the solid line in Fig. 13 shows, the reflectance after the Pd substitution treatment was confirmed to be 20% or less at any wavelength in the wavelength region of 400 nm or more and 780 nm or less. As the broken line in Fig. 13 shows, compared with the reflectance before the Pd substitution treatment, a large decrease was confirmed in the reflectance after the Pd substitution treatment in the wavelength region of 600 nm or more and 780 nm or less. Moreover, in the wavelength region of 400 nm or more and 600 nm or less, the reflectance was 10 % or less, and it was confirmed that the color of the electrode pattern after a blackening process was tinged strongly from blue to black.

이상, 상기 실시 형태에 따르면 이하에 열거하는 효과가 얻어진다.As mentioned above, according to the said embodiment, the effect enumerated below is acquired.

(1) 전극이 갖는 면 중에서 경사 방향으로 보이는 측면에 흑화층 BL이 위치해 있다. 또한, 흑화층 BL의 위치는, 전극이 갖는 면 중에서 측면 이외의 부위에도 이르러 있다. 그러므로, 금속 특유의 반사 광택을 전극의 측면에 있어서 억제하는 것이 가능하며, 또한 이 표층 이외에는, 금속이 갖는 낮은 저항값을 보유시키는 것도 가능하다. 결과로서, 전극의 저항값이 높아지는 것을 경감해서 전극의 시인성을 억제하는 것이 가능하다.(1) The blackening layer BL is located on the side seen in the oblique direction among the surfaces of the electrode. Moreover, the position of the blackening layer BL also reaches the site|part other than a side surface among the surfaces which an electrode has. Therefore, it is possible to suppress the reflective luster peculiar to the metal on the side surface of the electrode, and it is also possible to retain the low resistance value of the metal other than the surface layer. As a result, it is possible to reduce the increase in the resistance value of the electrode and suppress the visibility of the electrode.

(2) 흑화층 BL의 표면 저항률이 1Ω/□ 미만이기 때문에, 측면에 흑화층 BL을 갖는 전극에 있어서도, 흑화층 BL의 형성에 의해 전극의 저항값이 높아지는 것이 억제된다.(2) Since the surface resistivity of blackening layer BL is less than 1 ohm/square, also in the electrode which has blackening layer BL on a side surface, it is suppressed that the resistance value of an electrode becomes high by formation of blackening layer BL.

(3) 흑화층 BL의 반사율이 400㎚ 이상 780㎚ 이하인 가시 영역에 있어서 20% 미만이기 때문에, 상기 (1)에 기재된 효과가 더욱 현저해진다.(3) Since the reflectance of blackening layer BL is less than 20 % in the visible region which is 400 nm or more and 780 nm or less, the effect described in said (1) becomes more remarkable.

(4) 흑화층 BL의 두께가 0.2㎛ 이하이기 때문에, 서로 인접하는 전극간의 간극이 1㎛ 이상이면, 서로 인접하는 전극간의 간극이 흑화층 BL에 의해 메워지는 것 또는 서로 인접하는 전극간이 흑화층 BL을 통해서 단락되는 것이 충분히 억제된다.(4) Since the thickness of the blackening layer BL is 0.2 µm or less, if the gap between adjacent electrodes is 1 µm or more, the gap between adjacent electrodes is filled by the blackening layer BL or the blackening layer between adjacent electrodes Shorting through BL is sufficiently suppressed.

(5) 흑화층 BL이 치환 흑화 처리에 의해 형성되기 때문에, 도금 흑화 처리나 조화 흑화 처리와 비교하여, 전극의 저항값이 향상되는 것을 억제할 수 있다. 또한, 황화 흑화 처리와 비교하여, 전극으로부터 흑화층 BL이 박리되어 떨어지는 것도 억제된다.(5) Since blackening layer BL is formed by substitution blackening process, compared with plating blackening process or roughening blackening process, it can suppress that the resistance value of an electrode improves. Moreover, compared with a sulfurization blackening process, it is also suppressed that blackening layer BL peels off from an electrode.

또한, 상기 실시 형태는, 이하와 같이 적절히 변경해서 실시할 수도 있다.In addition, the said embodiment can also be changed suitably as follows and can also be implemented.

·흑화층 BL의 두께는 0.2㎛보다도 커도 되고, 전극에 요구되는 저항값, 나아가서는, 터치 패널에 요구되는 검출 정밀도가 얻어지는 범위이면 된다.- Thickness of blackening layer BL may be larger than 0.2 micrometer, and what is necessary is just the range from which the detection precision calculated|required of the resistance value requested|required of an electrode, and a touchscreen by extension is obtained.

·흑화층 BL의 반사율은 400㎚ 이상 780㎚ 이하의 가시 영역에 있어서 20% 이상이어도 되고, 요는, 흑화층 BL이 형성되기 이전의 도전막 반사율보다도 낮은 반사율이면 된다.- The reflectance of the blackening layer BL may be 20 % or more in the visible region of 400 nm or more and 780 nm or less, and it is sufficient that the reflectance is lower than the reflectance of the conductive film before blackening layer BL is formed.

·흑화층 BL의 표면 저항률은 1Ω/□ 이상이어도 되고, 흑화층 BL의 두께와 마찬가지로, 전극에 요구되는 저항값, 나아가서는, 터치 패널에 요구되는 검출 정밀도가 얻어지는 범위이면 된다.- The surface resistivity of blackening layer BL may be 1 ohm/square or more, and similarly to the thickness of blackening layer BL, the resistance value calculated|required of an electrode, by extension, the detection precision calculated|required of a touchscreen should just be a range obtained.

BL : 흑화층
W31 : 전극 폭
W31B : 벌크 폭
10 : 표시 패널
20 : 센서 기체
22 : 커버층
31DP : 제1 전극
31KS : 정상면
33SP : 제2 전극
BL: blackening layer
W31 : electrode width
W31B : Bulk Width
10: display panel
20: sensor body
22: cover layer
31DP: first electrode
31KS : Top
33SP: second electrode

Claims (9)

제1 면을 갖는 기재와,
상기 제1 면에 위치하는 복수의 전극을 구비하고,
복수의 상기 전극의 각각은,
상기 제1 면과 접촉하는 저면과,
상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 대향하는 정상면과,
상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 상기 정상면을 연결하는 측면과,
표층인 흑화층이며, 상기 저면 및 상기 정상면 중 적어도 하나와 상기 측면이, 상기 흑화층의 표면을 구성하고 있는 상기 흑화층을 구비하고,
상기 흑화층의 표면 저항률은 1Ω/□ 미만인 터치 센서 기판.
a substrate having a first surface;
A plurality of electrodes positioned on the first surface,
Each of the plurality of electrodes,
a bottom surface in contact with the first surface;
a top surface exposed from the first surface and facing the bottom surface;
a side surface exposed from the first surface and connecting the bottom surface and the top surface;
It is a blackening layer which is a surface layer, and at least one of the said bottom surface and the said top surface, and the said side surface are provided with the said blackening layer which comprises the surface of the said blackening layer,
The surface resistivity of the blackening layer is less than 1Ω / □ of the touch sensor substrate.
제1항에 있어서,
상기 흑화층의 두께는, 0.2㎛ 이하인 터치 센서 기판.
According to claim 1,
The thickness of the blackening layer is 0.2 μm or less of the touch sensor substrate.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 흑화층의 반사율은, 400㎚ 이상 780㎚ 이하의 가시 영역에 있어서 20% 미만인 터치 센서 기판.
3. The method of claim 1 or 2,
The reflectance of the blackening layer is less than 20% in the visible region of 400 nm or more and 780 nm or less.
복수의 제1 전극과, 복수의 제2 전극과, 복수의 상기 제1 전극과 복수의 상기 제2 전극 사이에 끼워지는 투명 유전체층을 구비하는 센서 기체와,
상기 센서 기체를 덮는 커버층과,
상기 제1 전극과 상기 제2 전극 사이의 정전 용량을 측정하는 주변 회로를 구비하는 터치 패널이며,
상기 터치 패널이, 제1항 또는 제2항에 기재된 터치 센서 기판을 포함하고, 상기 복수의 제1 전극 및 상기 복수의 제2 전극 중 적어도 하나는, 상기 터치 센서 기판이 구비하는 상기 제1 면에 위치하는 복수의 전극인 것을 특징으로 하는 터치 패널.
a sensor base including a plurality of first electrodes, a plurality of second electrodes, and a transparent dielectric layer sandwiched between the plurality of first electrodes and the plurality of second electrodes;
a cover layer covering the sensor body;
It is a touch panel having a peripheral circuit for measuring the capacitance between the first electrode and the second electrode,
The touch panel includes the touch sensor substrate according to claim 1 or 2, and at least one of the plurality of first electrodes and the plurality of second electrodes is the first surface of the touch sensor substrate. A touch panel, characterized in that the plurality of electrodes located in the.
정보를 표시하는 표시 패널과,
상기 표시 패널이 표시하는 상기 정보를 투과하는 터치 패널과,
상기 터치 패널을 구동하는 구동 회로를 구비하고,
상기 터치 패널은, 제4항에 기재된 터치 패널인 표시 장치.
a display panel for displaying information;
a touch panel that transmits the information displayed by the display panel;
and a driving circuit for driving the touch panel;
The said touch panel is a display apparatus which is the touch panel of Claim 4.
제1 면을 갖는 기재에 금속제의 복수의 전극 패턴을 형성하는 공정이며, 복수의 상기 전극 패턴의 각각이, 상기 제1 면과 접촉하는 저면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 대향하는 정상면과, 상기 제1 면으로부터 노출된 면이며 상기 저면과 상기 정상면을 연결하는 측면을 구비하는 상기 공정과,
복수의 상기 전극 패턴의 각각에, 황화 흑화 처리와 치환 흑화 처리 중 어느 한쪽인 흑화 처리를 실시하여, 상기 저면 및 상기 정상면 중 적어도 하나와 상기 측면을, 표층인 흑화층으로 바꾸는 공정을 포함하는 터치 센서 기판의 제조 방법.
A step of forming a plurality of metal electrode patterns on a substrate having a first surface, wherein each of the plurality of electrode patterns includes a bottom surface in contact with the first surface, a surface exposed from the first surface, and the bottom surface; The process comprising: an opposed top surface; and a side surface exposed from the first surface and connecting the bottom surface and the top surface;
A touch comprising a step of subjecting each of the plurality of electrode patterns to a blackening treatment, either of a sulfurization blackening treatment and a substitution blackening treatment, to change at least one of the bottom surface and the top surface and the side surface to a blackening layer which is a surface layer A method for manufacturing a sensor substrate.
제6항에 있어서,
상기 흑화 처리는, Pd 이온을 포함하는 용액인 흑화 처리액에 상기 전극 패턴을 침지하고, 상기 전극 패턴을 구성하는 금속과 상기 Pd 이온과의 치환 반응에 의해 상기 전극 패턴에 흑화층을 형성하는 치환 흑화 처리이며,
상기 흑화 처리액의 온도가, 55℃ 이하이고,
상기 흑화 처리액에 상기 전극 패턴이 침지되는 시간이, 120초 이하이며, 또한 상기 흑화층의 두께가 0.2㎛ 이하인 길이로 설정되어 있는 터치 센서 기판의 제조 방법.
7. The method of claim 6,
In the blackening treatment, the electrode pattern is immersed in a blackening treatment liquid, which is a solution containing Pd ions, and a substitution reaction between a metal constituting the electrode pattern and the Pd ion is performed to form a blackening layer in the electrode pattern. blackening treatment,
The temperature of the blackening treatment liquid is 55 ° C. or less,
The time for immersing the electrode pattern in the blackening treatment liquid is 120 seconds or less, and the thickness of the blackening layer is set to a length of 0.2 µm or less.
제7항에 있어서,
상기 흑화 처리액의 온도가, 35℃ 이상 55℃ 이하이고,
상기 흑화 처리액에 있어서의 Pd 농도가, 100ppm 이상 500ppm 이하이고,
상기 흑화 처리액에 있어서의 pH가, 1.5 이상 2.5 이하이고,
상기 흑화 처리액에 상기 전극 패턴이 침지되는 시간은 10초 이상 120초 이하이며, 또한 상기 흑화층의 두께가 0.2㎛ 이하인 길이로 설정되어 있는 터치 센서 기판의 제조 방법.
8. The method of claim 7,
The temperature of the blackening treatment liquid is 35 ° C or more and 55 ° C or less,
Pd concentration in the blackening treatment liquid is 100 ppm or more and 500 ppm or less,
pH in the said blackening treatment liquid is 1.5 or more and 2.5 or less,
The time for which the electrode pattern is immersed in the blackening treatment liquid is 10 seconds or more and 120 seconds or less, and the thickness of the blackening layer is set to a length of 0.2 µm or less.
제8항에 있어서,
상기 흑화 처리액에 상기 전극 패턴이 침지되는 시간은, 상기 흑화 처리 전후에 있어서의 상기 전극 패턴의 선 폭의 변화가 0.3㎛ 이하인 길이로 설정되어 있는 터치 센서 기판의 제조 방법.
9. The method of claim 8,
The time during which the electrode pattern is immersed in the blackening treatment liquid is a method of manufacturing a touch sensor substrate in which a change in the line width of the electrode pattern before and after the blackening treatment is set to a length of 0.3 μm or less.
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